JP2021053064A - 検眼装置及び検眼プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 被検眼の眼位に関する他覚的な検査の精度を向上させることができる検眼装置及び検眼プログラムを提供する。【解決手段】 被検眼における少なくとも眼位量を測定可能な検眼装置であって、被検眼の角膜曲率半径を取得する角膜曲率半径取得手段と、被検眼の前房深度を取得する前房深度取得手段と、角膜曲率半径と前房深度とに基づいて算出される第１パラメータに基づいて、被検眼の眼位量を取得する眼位量取得手段と、を備える。【選択図】 図１

Description

本開示は、被検眼における少なくとも眼位量を測定可能な検眼装置及び検眼プログラムに関する。

被検眼に対する検眼では、被検眼の眼位を他覚的に検査することがある。一例としては、被検眼の眼位の変化に基づいて、被検眼が斜位であるか否か、等が検査される（特許文献１参照）。

特開２０１７−９９５３２号公報

従来、被検眼の眼位の変化は、被検眼の回旋中心の位置を推定することで他覚的に求められてきた。しかし、発明者らは、このような場合に、眼位の検査精度が必ずしも適切であるとは限らないことに気が付いた。

本開示は、上記従来技術に鑑み、被検眼の眼位に関する他覚的な検査の精度を向上させることができる検眼装置及び検眼プログラムを提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下の構成を備えることを特徴とする。

本開示の第１態様に係る検眼装置は、被検眼における少なくとも眼位量を測定可能な検眼装置であって、前記被検眼の角膜曲率半径を取得する角膜曲率半径取得手段と、前記被検眼の前房深度を取得する前房深度取得手段と、前記角膜曲率半径と、前記前房深度と、に基づいて算出される第１パラメータに基づいて、前記被検眼の眼位量を取得する眼位量取得手段と、を備えることを特徴とする。

本開示の第２態様に係る検眼プログラムは、被検眼における少なくとも眼位量を測定可能な検眼装置にて用いる検眼プログラムであって、前記検眼装置のプロセッサに実行されることで、前記被検眼の角膜曲率半径を取得する角膜曲率半径取得ステップと、前記被検眼の前房深度を取得する前房深度取得ステップと、前記角膜曲率半径と、前記前房深度と、に基づいて算出される第１パラメータに基づいて、前記被検眼の眼位量を取得する眼位量取得ステップと、を前記検眼装置に実行させることを特徴とする。

検眼装置の外観図である。 検眼装置の測定部を示す図である。 検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。 検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。 検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。 検眼装置の制御系を示す図である。 斜位眼における前眼部画像を示す図である。 正位眼における前眼部画像を示す図である。

＜実施例＞
本実施形態に係る検眼装置の一実施例について説明する。

図１は、検眼装置１の外観図である。例えば、検眼装置１は、筐体２、呈示窓３、額当て４、顎台５、コントローラ６、撮像部９０、等を備える。

筐体２は、その内部に、後述の測定部７、偏向ミラー８１、反射ミラー８４、凹面ミラー８５、等を有する。呈示窓３は、被検眼Ｅに視標を呈示するために用いる。額当て４は、被検眼Ｅと検眼装置１との距離を一定に保つために用いる。顎台５は、被検眼Ｅと検眼装置１との距離を一定に保つために用いる。

コントローラ６は、モニタ６ａ、スイッチ部６ｂ、等を備える。モニタ６ａは、各種の情報（例えば、被検眼Ｅの測定結果、等）を表示する。モニタ６ａは、タッチパネルであり、モニタ６ａがスイッチ部６ｂの機能を兼ねている。スイッチ部６ｂは、各種の設定（例えば、開始信号の入力、等）を行うために用いる。コントローラ６からの操作指示に応じた信号は、図示なきケーブルを介した有線通信により、制御部７０へ出力される。なお、コントローラ６からの操作指示に応じた信号は、赤外線等を介した無線通信により、制御部７０へ出力されてもよい。

撮像部９０は、図示なき撮像光学系を備える。例えば、撮像光学系は、被検者の顔を撮像するために用いられる。例えば、撮像光学系は、撮像素子とレンズにより構成されてもよい。

＜測定部＞
測定部７は、左眼用測定部７Ｌと右眼用測定部７Ｒを備える。本実施例において、左眼用測定部７Ｌと、右眼用測定部７Ｒと、は同一の部材で構成される。もちろん、左眼用測定部７Ｌと、右眼用測定部７Ｒと、はその少なくとも一部が異なる部材で構成されてもよい。測定部７は、左右一対の後述する自覚式測定部と、左右一対の後述する他覚式測定部と、を有する。測定部７からの視標光束及び測定光束は、呈示窓３を介して被検眼Ｅに導光される。

図２は、測定部７を示す図である。図２では、測定部７として、左眼用測定部７Ｌを例に挙げる。右眼用測定部７Ｒは、左眼用測定部７Ｌと同様の構成であるため省略する。例えば、左眼用測定部７Ｌは、他覚式測定光学系１０、自覚式測定光学系２５、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、正面投影光学系４０、観察光学系５０、等を備える。

＜他覚式測定光学系＞
他覚式測定光学系１０は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定部の構成の一部として用いられる。本実施例では、被検眼Ｅの光学特性として、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する他覚式測定部を例に挙げて説明する。なお、被検眼Ｅの光学特性は、眼屈折力の他、眼軸長、角膜形状、等であってもよい。例えば、他覚式測定光学系１０は、投影光学系１０ａと、受光光学系１０ｂと、で構成される。

投影光学系１０ａは、被検眼Ｅの瞳孔中心部を介して、被検眼Ｅの眼底にスポット状の測定指標を投影する。例えば、投影光学系１０ａは、光源１１、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、対物レンズ９３、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、等を備える。

受光光学系１０ｂは、被検眼Ｅの眼底で反射された眼底反射光束を、被検眼Ｅの瞳孔周辺部を介してリング状に取り出す。例えば、受光光学系１０ｂは、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、対物レンズ９３、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７、受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２、等を備える。

なお、本実施例では、投影光学系１０ａと受光光学系１０ｂとの説明を省略する。これらの詳細については、例えば、特開２０１８−４７０４９号公報を参考されたい。

＜自覚式測定光学系＞
自覚式測定光学系２５は、被検眼Ｅの光学特性を自覚的に測定する自覚式測定部の構成の一部として用いられる。本実施例では、被検眼Ｅの光学特性として、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する自覚式測定部を例に挙げる。なお、被検眼Ｅの光学特性は、眼屈折力の他、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能、等）、等であってもよい。例えば、自覚式測定光学系２５は、投光光学系３０と、矯正光学系６０と、で構成される。

＜投光光学系＞
投光光学系３０は、被検眼Ｅに向けて視標光束を投光する。例えば、投光光学系３０は、ディスプレイ３１、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、対物レンズ９２、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、等を備える。

ディスプレイ３１には、視標（固視標、検査視標、等）が表示される。ディスプレイ３１から出射した視標光束は、投光レンズ３３からダイクロイックミラー２９までの光学部材を順に経由して、被検眼Ｅに投影される。ダイクロイックミラー３５は、他覚式測定光学系１０の光路と、自覚式測定光学系２５の光路と、を共通光路にする。すなわち、ダイクロイックミラー３５は、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１と、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と、を同軸にする。ダイクロイックミラー２９は、光路分岐部材である。ダイクロイックミラー２９は、投光光学系３０による視標光束と、後述の投影光学系１０ａによる測定光束と、を反射して被検眼Ｅに導く。

＜矯正光学系＞
矯正光学系６０は、投光光学系３０の光路内に配置される。また、矯正光学系６０は、ディスプレイ３１から出射した視標光束の光学特性を変化させる。例えば、矯正光学系６０は、乱視矯正光学系６３、後述の駆動機構３９、等を備える。

乱視矯正光学系６３は、被検眼Ｅの円柱度数や乱視軸角度を矯正するために用いる。乱視矯正光学系６３は、投光レンズ３３と投光レンズ３４との間に配置される。乱視矯正光学系６３は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂで構成される。円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂは、回転機構６２ａと回転機構６２ｂの駆動によって、光軸Ｌ２を中心として、各々が独立に回転する。

なお、本実施例では、乱視矯正光学系６３として、円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。乱視矯正光学系６３は、円柱度数、乱視軸角度、等を矯正できる構成であればよい。一例としては、投光光学系３０の光路に、矯正レンズを出し入れしてもよい。

＜駆動ユニット＞
本実施例において、投影光学系１０ａが備える光源１１及びリレーレンズ１２と、受光光学系１０ｂが備える受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、及び撮像素子２２と、投光光学系３０が備えるディスプレイ３１と、は駆動機構３９によって光軸方向へ一体的に移動可能となっている。つまり、ディスプレイ３１、光源１１、リレーレンズ１２、受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、及び撮像素子２２、が駆動ユニット９５として同期し、駆動機構３９によって、これらが一体的に移動される。駆動機構３９は、モータ及びスライド機構からなる。駆動機構３９が移動した移動位置は、図示なきポテンショメータによって検出される。

駆動機構３９は、駆動ユニット９５を光軸方向へ移動させることで、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向へ移動させる。これによって、他覚式測定では、被検眼Ｅに雲霧をかけることができる。自覚式測定では、被検眼Ｅに対する視標の呈示距離を光学的に変更し、被検眼Ｅの球面度数を矯正することができる。すなわち、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向へ移動させる構成が、被検眼Ｅの球面度数を矯正する球面矯正光学系として用いられ、ディスプレイ３１の位置を変更することによって、被検眼Ｅの球面度数が矯正される。なお、球面矯正光学系の構成は、本実施例とは異なっていてもよい。例えば、多数の光学素子を光路内に配置することで、球面度数を矯正してもよい。また、例えば、レンズを光路内に配置し、レンズを光軸方向に移動させることで、球面度数を矯正してもよい。

また、駆動機構３９は、駆動ユニット９５を光軸方向へ移動させることで、光源１１とリレーレンズ１２、及び、受光絞り１８から撮像素子２２、を光軸Ｌ１方向へ移動させる。これによって、被検眼Ｅの眼底に対し、光源１１、受光絞り１８、及び撮像素子２２が光学的に共役となるように配置される。なお、駆動ユニット９５の移動にかかわらず、ホールミラー１３とリングレンズ２０は、被検眼Ｅの瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。このため、投影光学系１０ａの測定光束が反射された眼底反射光束は、常に平行光束として受光光学系１０ｂのリングレンズ２０に入射し、被検眼Ｅの眼屈折力に関わらず、リングレンズ２０と同一の大きさのリング状光束が、ピントの合った状態で、撮像素子２２に撮像される。

＜第１指標投影光学系及び第２指標投影光学系＞
第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６は、ダイクロイックミラー２９と、後述の偏向ミラー８１と、の間に配置される。第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜に無限遠のアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。第２指標投影光学系４６は、第１指標投影光学系４５とは異なる位置に配置され、被検眼の角膜に有限遠のアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。第２指標投影光学系４６から出射される近赤外光（アライメント光）は、観察光学系５０によって被検眼の前眼部を撮影するための前眼部撮影光としても用いられる。

＜正面投影光学系＞
正面投影光学系４０は、光源４１、投光レンズ４２、ハーフミラー４３、等を備える。光源４１は、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。投光レンズ４２は、光源４１からの近赤外光を平行光束にする。ハーフミラー４３は、光源４１からの近赤外光を反射し、被検眼Ｅへと導く。

＜観察光学系＞
観察光学系（撮像光学系）５０は、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ９４、撮像レンズ５１、撮像素子５２、等を備える。ダイクロイックミラー２９は、前眼部観察光及びアライメント光を透過する。撮像素子５２は、被検眼Ｅの前眼部と共役な位置に配置された撮像面をもつ。撮像素子５２からの出力は、制御部７０に入力される。これによって、被検眼Ｅの前眼部画像は撮像素子５２により撮像され、モニタ６ａ上に表示される。なお、観察光学系５０は、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６により被検眼Ｅの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系と、正面投影光学系４０により被検眼Ｅの角膜に形成されるアライメント指標像（以下、プルキンエ像）を検出する光学系と、を兼ねている。制御部７０により、これらのアライメント指標像及びプルキンエ像の位置が検出される。

＜情報解析装置の内部構成＞
検眼装置１の内部構成について説明する。図３は、検眼装置１の内部を正面方向から見た概略構成図である。図４は、検眼装置１の内部を側面方向から見た概略構成図である。図５は、検眼装置１の内部を上面方向から見た概略構成図である。なお、図４及び図５では、説明の便宜上、左眼用測定部７Ｌの光軸のみを示している。

検眼装置１は、自覚式測定部を備える。例えば、自覚式測定部は、測定部７、偏向ミラー８１、駆動機構８２、駆動部８３、反射ミラー８４、凹面ミラー８５、等で構成される。なお、自覚式測定部はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束が、偏向ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。

検眼装置１は、左眼用駆動部９Ｌと、右眼用駆動部９Ｒと、を有し、左眼用測定部７Ｌと、右眼用測定部７Ｒと、をそれぞれＸ方向に移動させることができる。例えば、左眼用測定部７Ｌ及び右眼用測定部７Ｒを移動させることによって、測定部７と、後述の偏向ミラー８１と、の間の距離が変化し、測定部７からの視標光束のＺ方向における呈示位置が変更される。これによって、被検眼Ｅに、矯正光学系６０で矯正された視標光束を導光し、被検眼Ｅの眼底に矯正光学系６０で矯正された視標光束の像が形成されるように、測定部７がＺ方向に調整される。

例えば、偏向ミラー８１は、左右一対にそれぞれ設けられた右眼用偏向ミラー８１Ｒと左眼用偏向ミラー８１Ｌとを有する。例えば、偏向ミラー８１は、矯正光学系６０と被検眼Ｅとの間に配置される。すなわち、本実施例における矯正光学系６０は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系とを有しており、左眼用偏向ミラー８１Ｌは左眼用矯正光学系と左眼ＥＬの間に配置され、右眼用偏向ミラー８１Ｒは右眼用矯正光学系と右眼ＥＲの間に配置される。例えば、偏向ミラー８１は、瞳共役位置に配置されることが好ましい。

例えば、左眼用偏向ミラー８１Ｌは、左眼用測定部７Ｌから投影される光束を反射して、左眼ＥＬに導光する。また、例えば、左眼用偏向ミラー８１Ｌは、左眼ＥＬからの眼底反射光束を反射して、左眼用測定部７Ｌに導光する。例えば、右眼用偏向ミラー８１Ｒは、右眼用測定部７Ｒから投影される光束を反射して、右眼ＥＲに導光する。また、例えば、右眼用偏向ミラー８１Ｒは、右眼ＥＲからの眼底反射光束を反射して、右眼用測定部７Ｒに導光する。なお、本実施例では、被検眼Ｅに測定部７から投影された光束を反射させて導光する偏向部材として、偏向ミラー８１を用いる構成を例に挙げて説明しているが、これに限定されない。偏向部材は、被検眼Ｅに測定部７から投影された光束を反射して導光することができればよく、例えば、プリズム、レンズ、等であってもよい。

例えば、駆動機構８２は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動機構８２は、左眼用偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動機構８２Ｌと、右眼用偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動機構８２Ｒと、を有する。例えば、駆動機構８２の駆動によって、偏向ミラー８１は回転移動する。例えば、駆動機構８２は、水平方向（Ｘ方向）の回転軸、及び鉛直方向（Ｙ方向）の回転軸に対して偏向ミラー８１を回転させる。すなわち、駆動機構８２は偏向ミラー８１をＸＹ方向に回転させる。なお、偏向ミラー８１の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。

例えば、駆動部８３は、モータ等からなる。例えば、駆動部８３は、左眼用偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動部８３Ｌと、右眼用偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動部８３Ｒと、を有する。例えば、駆動部８３の駆動によって、偏向ミラー８１はＸ方向に移動する。例えば、左眼用偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用偏向ミラー８１Ｒが移動されることによって、左眼用偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用偏向ミラー８１Ｒとの間の距離が変更され、被検眼Ｅの瞳孔間距離にあわせて、左眼用光路と右眼用光路との間のＸ方向における距離を変更することができる。

なお、例えば、偏向ミラー８１は、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて複数設けられてもよい。例えば、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれに、２つの偏向ミラーを設ける構成（例えば、左眼用光路に２つの偏向ミラーを設ける構成、等）が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがＸ方向に回転され、他方の偏向ミラーがＹ方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー８１が回転移動されることによって、視標光束の像を被検眼の眼前に形成するためのみかけの光束を偏向させ、視標光束の像の形成位置を光学的に補正することができる。

例えば、凹面ミラー８５は、左眼用測定部７Ｌと、右眼用測定部７Ｒと、で共有される。例えば、凹面ミラー８５は、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー８５は、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、を共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー８５は、左眼用光路と右眼用光路とで共有される構成でなくてもよい。すなわち、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、のそれぞれに凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー８５は、被検眼Ｅに矯正光学系６０を通過した視標光束を導光し、被検眼Ｅの眼前に矯正光学系６０を通過した視標光束の像を形成する。

＜自覚式測定部の光路＞
自覚式測定部の光路について、左眼用光路を例に挙げて説明する。なお、右眼用光路は、左眼用光路と同様の構成である。例えば、左眼用の自覚式測定部において、自覚式測定光学系２５におけるディスプレイ３１から出射した視標光束は、投光レンズ３３を介して乱視矯正光学系６３へと入射し、乱視矯正光学系６３を通過すると、投光レンズ３４、反射ミラー３６、対物レンズ９２、ダイクロイックミラー３５、及びダイクロイックミラー２９、を経由して、左眼用測定部７Ｌから左眼用偏向ミラー８１Ｌに向けて導光される。左眼用偏向ミラー８１Ｌで反射された視標光束は、反射ミラー８４により凹面ミラー８５に向けて反射される。ディスプレイ３１とから出射した視標光束は、このように各光学部材を経由して、左眼ＥＬに到達する。

これにより、左眼ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、左眼ＥＬの眼底上に、矯正光学系６０で矯正された視標光束の像が形成される。従って、球面度数の矯正光学系（本実施例では、駆動機構３９の駆動）による球面度数の調整が眼前で行われたことと、乱視矯正光学系６３があたかも眼前に配置されたことと、が等価になっている。被検者は、自然な状態で、凹面ミラー８５を介して光学的に所定の検査距離で眼前に形成された視標光束の像を視準することができる。

＜制御部＞
図６は、検眼装置１の制御系を示す図である。例えば、制御部７０には、モニタ６ａ、不揮発性メモリ７５（以下、メモリ７５）、測定部７が備える光源１１、撮像素子２２、ディスプレイ３１、光源４１、撮像素子５２、等の各種部材が電気的に接続されている。また、例えば、制御部７０には、駆動部９、駆動機構３９、駆動部８３、等がそれぞれ備える図示なき駆動部が電気的に接続されている。

例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等を備える。例えば、ＣＰＵは、検眼装置１における各部材の制御を司る。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、検眼装置１の動作を制御するための各種プログラム、視標、初期値、等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

例えば、メモリ７５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、メモリ７５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、ＵＳＢメモリ、等を使用することができる。例えば、メモリ７５には、他覚式測定部及び自覚式測定部を制御するための制御プログラムが記憶されている。

＜制御動作＞
検眼装置１の制御動作について説明する。

本実施例では、被検眼Ｅに対して、斜位の検査の１つであるカバーアンカバーテストを他覚的に実施し、被検眼Ｅの眼位量を取得する場合を例に挙げる。

＜被検眼の角膜曲率半径の取得＞
検者は、スイッチ部６ｂを操作して、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒを入力する。例えば、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒは、被検眼Ｅの角膜頂点Ｋの位置から角膜曲率中心Ｃまでの長さとして表される（図８参照）。例えば、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒは、被検眼Ｅの角膜に向けて指標を投影し、指標の角膜反射光を含む前眼部画像を取得する角膜形状測定装置（例えば、特開２０１２−１３５５３６号公報参照）により、予め取得しておくことができる。もちろん、例えば、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒは、このような角膜形状測定装置から送信される測定結果を、検眼装置１の制御部７０が受信することで、取得されてもよい。制御部７０は、角膜曲率半径Ｒをメモリ７５に記憶させる。

なお、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒは、上記の角膜形状測定装置とは異なる装置を用いて取得されてもよい。一例としては、トポグラフィ装置、ＯＣＴ装置、眼寸法測定装置、シャインプルークカメラ、等の少なくともいずれかを用いることができる。

＜被検眼の前房深度の取得＞
また、検者は、スイッチ部６ｂを操作して、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤを入力する。被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤは、被検眼Ｅの角膜頂点Ｋから水晶体前面までの長さである。なお、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤとしては、被検眼Ｅの水晶体前面と、被検眼Ｅの瞳孔と、の深さ方向の位置を略同一の位置とみなし、被検眼Ｅの角膜頂点Ｋから被検眼Ｅの瞳孔中心Ｐまでの長さを用いることも可能である。本実施例では、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤを、被検眼Ｅの角膜頂点Ｋから瞳孔中心Ｐまでの長さとして説明する（図８参照）。

例えば、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤは、被検眼Ｅの前眼部における断面画像を取得するＯＣＴ装置（例えば、特開２０１８−１７３３０１号公報参照）により、予め取得しておくことができる。もちろん、例えば、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤは、このようなＯＣＴ装置から送信される測定結果を、検眼装置１の制御部７０が受信することで、取得されてもよい。制御部７０は、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤをメモリ７５に記憶させる。

なお、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤは、上記のＯＣＴ装置とは異なる装置を用いて取得されてもよい。一例としては、眼寸法測定装置等を用いることができる。

＜第１パラメータの算出＞
制御部７０は、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒ及び前房深度ＡＣＤを取得すると、これらに基づく第１パラメータを算出する。例えば、第１パラメータは、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒと、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤと、の差分αとして算出される。なお、制御部７０は、第１パラメータ（以下、第１パラメータα）の算出を、角膜曲率半径Ｒ及び前房深度ＡＣＤを取得したタイミングで実行してもよい。また、制御部７０は、第１パラメータαの算出を、後述の第２パラメータを算出するタイミングで実行してもよい。制御部７０は、被検眼Ｅの第１パラメータαをメモリ７５に記憶させる。

＜被検眼に対する測定部のアライメント＞
検者は、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒ及び前房深度ＡＣＤを入力すると、スイッチ部６ｂを操作し、被検眼Ｅを固視させるための固視標を選択する。制御部７０は、スイッチ部６ｂからの入力信号に応じ、ディスプレイ３１に固視標を表示させる。被検眼Ｅには、ディスプレイ３１からの視標光束が投影されることで、その眼前に固視標が呈示される。検者は、被検者に、固視標を固視するように指示を出す。

続いて、検者は、スイッチ部６ｂを操作し、被検眼Ｅと測定部７とのアライメントを開始するためのスイッチを選択する。制御部７０は、スイッチ部６ｂからの入力信号に応じて、被検眼Ｅの角膜に第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６によるアライメント指標像を投影する。また、制御部７０は、アライメント指標像を用いて、被検眼Ｅに対する測定部７のＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向のずれを検出し、このずれに基づいて、測定部７を移動させる。これによって、アライメントが完了される。

＜被検眼の斜位の測定＞
本実施例では、被検眼Ｅを遮蔽状態及び非遮蔽状態とし、各々の状態における前眼部画像を得ることによって、斜位の検査が行われる。例えば、被検眼Ｅに対し、斜位の検査の１つとして、カバーアンカバーテストが実施されてもよい。カバーアンカバーテストは、片眼の視界を覆うカバーを取り外し、その際の眼の動きを確認する検査方法である。以下では、左眼ＥＬを測定眼、右眼ＥＲを非測定眼として説明する。

検者は、被検眼Ｅに対するアライメントが完了すると、スイッチ部６ｂを操作し、被検眼Ｅの斜位の測定を開始するためのスイッチを選択する。制御部７０は、スイッチ部６ｂからの入力信号に応じて、正面投影光学系４０における光源４１を点灯させる。これによって、被検眼Ｅの角膜には、光源４１から出射したアライメント指標の角膜反射光に基づくプルキンエ像が投影されるようになる。

また、制御部７０は、スイッチ部６ｂからの入力信号に応じて、左眼用測定部７Ｌが備えるディスプレイ３１（以下、ディスプレイ３１Ｌ）に左眼用の固視標を表示させ、右眼用測定部７Ｒが備えるディスプレイ３１に右眼用の固視標を表示させる。例えば、このとき、左眼ＥＬと右眼ＥＲとの視線は、いずれも各々の光軸Ｌ１に一致する。

続いて、検者は、スイッチ部６ｂを操作し、測定眼である左眼ＥＬに対する固視標の呈示を止め、左眼ＥＬを遮蔽状態にする。制御部７０は、スイッチ部６ｂからの入力信号に応じて、ディスプレイ３１Ｌを非表示に切り換える。例えば、左眼ＥＬに斜位がある場合、左眼ＥＬの瞳孔は斜位がある方向へと移動する。このため、左眼ＥＬの視線は、光軸Ｌ１に一致しなくなる。

＜被検眼の前眼部画像の取得＞
被検眼Ｅに対する斜位の測定では、被検眼Ｅの前眼部画像が取得される。図７及び図８は、被検眼Ｅの前眼部画像１００の一例である。図７は、左眼ＥＬが斜位眼である場合を示す。図８は、左眼ＥＬが正位眼（非斜位眼）である場合を示す。なお、図７（ａ）及び図８（ａ）は、被検眼Ｅを上部からみた模式図であり、図７（ｂ）及び図８（ｂ）は、被検眼Ｅを正面からみた前眼部画像１００である。例えば、前眼部画像１００には、被検眼Ｅの瞳孔情報としての瞳孔中心Ｐと、正面投影光学系４０により形成されるプルキンエ像Ｓと、が含まれる。

例えば、図７のように、左眼ＥＬが斜位眼であると、ディスプレイ３１Ｌを非表示に切り換えた際、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐが所定の方向（本実施例では、被検眼Ｅの左方向）へ移動する。左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐが移動すると、これにともなって、プルキンエ像Ｓの形成位置が変化する。例えば、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐの移動量が多いほど、プルキンエ像Ｓの形成位置は光軸Ｌ１から離れ、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐの移動量が少ないほど、プルキンエ像Ｓの形成位置は光軸Ｌ１に近づく。このため、前眼部画像１００において、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐとプルキンエ像Ｓとは異なる位置に現れる。一方、例えば、図８のように、左眼ＥＬが正位眼であると、ディスプレイ３１Ｌを非表示に切り換えた際、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐは移動しない。このため、前眼部画像１００において、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐと、プルキンエ像Ｓと、は略同一の位置に現れる。

＜第２パラメータの算出＞
制御部７０は、前眼部画像１００を解析処理し、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐの位置座標と、左眼ＥＬのプルキンエ像Ｓの位置座標と、を検出する。例えば、制御部７０は、前眼部画像１００における輝度の立ち上がりや立ち下がりから瞳孔を検出し、さらに、瞳孔の中心を計算することで、瞳孔中心Ｐの位置座標を検出してもよい。また、例えば、制御部７０は、前眼部画像１００における輝度の立ち上がりや立ち下がりからプルキンエ像Ｓの位置座標を検出してもよい。

また、制御部７０は、前眼部画像１００における、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐの位置座標と、左眼ＥＬのプルキンエ像Ｓの位置座標と、の距離に基づいて、第２パラメータを算出する。例えば、制御部７０は、基準となる位置座標（例えば、Ｘ座標とＹ座標がともに０である位置、等）から瞳孔中心Ｐの位置座標までの距離と、基準となる位置座標からプルキンエ像Ｓの位置座標までの距離と、の差分δを求め、これを実距離δ’に換算することで、第２パラメータを算出する。例えば、差分δの距離と、実距離と、は予め対応付けられていてもよい。制御部７０は、被検眼Ｅの第２パラメータ（以下、第２パラメータδ’）をメモリ７５に記憶させる。

なお、例えば、制御部７０は、瞳孔中心Ｐの位置座標からプルキンエ像Ｓの位置座標までの距離を直接的に求めてもよい。例えば、制御部７０は、瞳孔中心Ｐ及びプルキンエ像Ｓの位置座標間の画素数を求め、画素数に基づいて実距離δ’を取得してもよい。例えば、この場合、前眼部画像１００の画素と、実距離と、が予め対応付けられていてもよい。

＜被検眼の眼位量の取得＞
制御部７０は、左眼ＥＬの角膜曲率半径Ｒ及び前房深度ＡＣＤに基づく第１パラメータαと、左眼ＥＬの瞳孔中心Ｐの位置及びプルキンエ像Ｓの位置に基づく第２パラメータδ’と、をそれぞれ取得すると、これらに基づいて、左眼ＥＬの眼位量を取得する。例えば、本実施例では、以下に示す数式を用いることで、左眼ＥＬの眼位量として、左眼ＥＬの回旋中心Ｑを基準とした回旋角度θが求められる。

例えば、制御部７０は、第１パラメータα及び第２パラメータδ’を用いた三角関数により、左眼ＥＬの回旋角度θを算出することができる。制御部７０は、左眼ＥＬの回旋角度θをメモリ７５に記憶させる。

なお、制御部７０は、左眼ＥＬの回旋角度θに基づいて、左眼ＥＬのプリズム量Δを取得してもよい。この場合には、以下に示す数式を用いることで、左眼ＥＬのプリズム量Δが求められる。

例えば、制御部７０は、左眼ＥＬの回旋角度θを用いた三角関数により、左眼ＥＬのプリズム量Δを算出することができる。制御部７０は、左眼ＥＬのプリズム量Δをメモリ７５に記憶させる。

例えば、本実施例において、検者は、左眼ＥＬと右眼ＥＲに対し、このような斜位の測定と、回旋角度θの算出（及びプリズム量Δの算出）と、を順に実施する。制御部７０は、左眼ＥＬと右眼ＥＲとのそれぞれについて、回旋角度θ（及びプリズム量Δ）をモニタ６ａに表示させてもよい。

＜被検眼Ｅに対する自覚式測定の実施＞
例えば、検者は、左眼ＥＬ及び右眼ＥＲに対して自覚式測定を順に実施し、左眼ＥＬの自覚値と、右眼ＥＲの自覚値と、をそれぞれ取得してもよい。検者は、スイッチ部６ｂを操作し、所定の検査視標（例えば、ランドルト環視標）を選択する。制御部７０は、スイッチ部６ｂからの入力信号に応じ、ディスプレイ３１に検査視標を表示させる。

続いて、検者は、スイッチ部６ｂを操作して、所望の矯正度数を設定する。例えば、所望の球面度数、所望の円柱度数、所望の乱視軸角度、所望のプリズム度数、等を設定する。制御部７０は、スイッチ部６ｂからの入力信号に応じ、投光光学系３０と、矯正光学系６０と、の少なくともいずれかを制御する。

例えば、制御部７０は、駆動機構３９を駆動させ、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向へ移動させることによって、被検眼Ｅの球面度数を矯正してもよい。また、例えば、制御部７０は、回転機構６２ａと回転機構６２ｂを駆動させ、円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂを光軸Ｌ２ｂの軸周りに回転させることによって、被検眼Ｅの円柱度数と乱視軸角度との少なくともいずれかを矯正してもよい。これによって、被検眼Ｅの眼屈折度が所定のディオプタ値（例えば、０Ｄ等）で矯正される。

さらに、例えば、制御部７０は、ディスプレイ３１の表示を制御して、検査視標の位置を変更させてもよい。例えば、制御部７０は、ディスプレイ３１において、検査視標を回旋角度θ（あるいは、プリズム量Δ）に対応する表示位置に表示させる。一例として、被検眼Ｅの回旋角度θが０度であれば、ディスプレイ３１の中央の位置に検査視標を表示させ、被検眼Ｅの回旋角度θが０度とは異なる角度であれば、ディスプレイ３１の所定の位置に検査視標を表示させてもよい。なお、ディスプレイ３１の画素と、回旋角度θ（あるいは、プリズム量Δ）と、は予め対応付けられていてもよい。これによって、被検眼Ｅのプリズム度数が所定のプリズム度数値（例えば、０Δ等）で矯正される。

検者は、スイッチ部６ｂを操作して、被検眼Ｅに呈示する検査視標の視力値を切り換えながら、被検眼Ｅを矯正する矯正度数が適切であるかを確認する。被検眼Ｅを矯正する矯正度数が不適切であった場合等には、被検眼Ｅの眼屈折度及びプリズム度数の少なくともいずれかを、所定の値とは異なる値で矯正し、再度、矯正度数が適切であるかを確認してもよい。例えば、これによって、被検眼Ｅの適切な自覚値を取得し、被検眼Ｅに対して良好に処方を行うことができる。

以上、説明したように、例えば、本実施例における検眼装置は、被検眼の角膜曲率半径と、被検眼の前房深度と、に基づいて算出される第１パラメータに基づいて、被検眼の眼位量を取得する。例えば、これによって、従来のように、被検眼における角膜頂点の位置から回旋中心位置までの長さ等を平均的な値として眼位量を求めるのではなく、実際の値（実測値）に基づいたパラメータから眼位量を求めることができる。このため、被検眼の眼位量を精度よく取得することができる。また、このような被検眼の眼位量を用いることで、被検眼に対するプリズム度数等の矯正や処方を適切に行うことができる。

また、例えば、本実施例における検眼装置は、前述の第１パラメータ、及び、被検眼の瞳孔の位置と、被検眼のプルキンエ像の位置と、に基づいて算出される第２パラメータ、に基づいて、被検眼の眼位量を取得する。例えば、これによって、被検眼の実測値に基づくパラメータから、眼位量を容易に求めることができる。

また、例えば、本実施例における検眼装置は、被検眼に向けて視標を呈示する視標呈示部から出射された視標光束を投影する投影光学系と、投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、を有し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。例えば、これにより、被検眼に対するプリズム度数等の矯正を、求めた眼位量に基づいて容易に行うことができる。

＜変容例＞
なお、本実施例では、被検眼Ｅの瞳孔情報として、被検眼Ｅの瞳孔の位置（ここでは、瞳孔中心Ｐの位置）を取得する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、被検眼Ｅの瞳孔情報として、被検眼Ｅの瞳孔周辺における虹彩の位置（例えば、虹彩中心の位置）を取得する構成としてもよい。この場合、被検眼Ｅの虹彩の位置と、プルキンエ像Ｓの位置と、に基づいて第２パラメータδ’を算出し、第１パラメータα及び第２パラメータδ’から被検眼Ｅの眼位量を取得してもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒを入力し、これを取得する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。本実施例では、被検眼Ｅの角膜に関する情報を取得し、これに基づいて、角膜曲率半径Ｒを取得する構成としてもよい。例えば、この場合、被検眼Ｅの角膜に関する情報は、角膜形状等であってもよい。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの角膜に関するこれらの情報から、角膜曲率半径Ｒを算出することによって、角膜曲率半径Ｒを取得してもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤを入力し、これを取得する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。本実施例では、被検眼Ｅの角膜に関する情報と、水晶体に関する情報と、を取得し、これに基づいて、前房深度ＡＣＤを取得する構成としてもよい。例えば、この場合、被検眼Ｅの水晶体に関する情報は、水晶体の深さ方向の位置等であってもよい。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの角膜及び水晶体に関するこれらの情報から、前房深度ＡＣＤを算出することによって、前房深度ＡＣＤを取得してもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤとして、被検眼Ｅの角膜頂点Ｋから被検眼Ｅの瞳孔中心Ｐまでの長さを用いる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、本実施例では、被検眼Ｅの前房深度ＡＣＤとして、被検眼Ｅの水晶体前面と、被検眼Ｅの虹彩と、の深さ方向の位置を略同一の位置とみなし、被検眼Ｅの角膜頂点Ｋから被検眼Ｅの虹彩中心までの長さを用いることも可能である。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒと前房深度ＡＣＤとを、いずれも実測値として取得する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒと前房深度ＡＣＤと、の一方を実測値として取得し、他方を仮定値（一例としては、平均値、眼屈折力毎の文献値、等）として取得してもよい。例えば、このような構成であっても、被検眼Ｅの眼位量を一定の精度で得ることができる。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒ及び前房深度ＡＣＤに基づく第１パラメータαを予め算出しておくことで、被検眼Ｅの回旋角度θを取得する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒ及び前房深度ＡＣＤを取得し、これらの値を直接的に用いて、被検眼Ｅの回旋角度θを取得する構成としてもよい。

同様に、本実施例では、被検眼Ｅの瞳孔中心Ｐの位置及びプルキンエ像Ｓの位置に基づく第２パラメータδ’を予め算出しておくことで、被検眼Ｅの回旋角度θを取得する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、本実施例では、被検眼Ｅの瞳孔中心Ｐの位置及びプルキンエ像Ｓの位置を取得し、これらの位置情報を直接的に用いて、被検眼Ｅの回旋角度θを取得する構成としてもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅが固視標を固視した際、被検眼Ｅの瞳孔中心Ｐの位置と光軸Ｌ１とが一致し、前眼部画像１００上における瞳孔中心Ｐとプルキンエ像Ｓが略同一の位置に現れる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。被検眼Ｅが固視標を固視した際、被検眼Ｅの瞳孔中心Ｐの位置と光軸Ｌ１とは必ずしも一致しないため、前眼部画像１００上における瞳孔中心Ｐとプルキンエ像Ｓが異なる位置に現れることがある。例えば、この場合、被検眼Ｅが固視標を固視した状態における瞳孔中心Ｐとプルキンエ像Ｓとのずれ量を予め取得しておいてもよい。また、例えば、被検眼Ｅに対する斜位の測定において、ディスプレイ３１を非表示に切り換えたときの瞳孔中心Ｐとプルキンエ像Ｓとのずれ量を取得してもよい。例えば、これらのずれ量の変化に基づいて、第２パラメータδ’を求め、被検眼Ｅの回旋角度θを取得する構成としてもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒが方向性をもたない場合を例に挙げて説明したが、これに限定されない。被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒは、方向性をもつ場合がある。一例として、被検眼Ｅが乱視眼である場合には、角膜曲率半径Ｒが大きな（すなわち、眼屈折力が弱い）軸と、角膜曲率半径Ｒが小さな（すなわち、眼屈折力が強い）軸と、が存在し、方向性をもっている。このとき、制御部７０は、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒにおける適切な方向の値を用いて、第１パラメータαを算出してもよい。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの乱視軸のうち、被検眼Ｅの斜位の方向と一致する軸の角膜曲率半径Ｒを選択し、この値を用いて、第１パラメータαを算出してもよい。これによって、被検眼Ｅのより正確な眼位量を取得することができる。

また、例えば、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒによっては、その屈折力が異なるために瞳孔のみかけのサイズが変化し、被検眼Ｅが回旋した際に、前眼部画像１００上の瞳孔中心Ｐの位置がわずかに変化することがある。このとき、前眼部画像１００上の瞳孔中心Ｐの位置が、実際の瞳孔中心Ｐの位置からずれることで、第２パラメータδ’の値も、実際の値からずれてしまうことになる。そこで、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒに応じて、第２パラメータδ’のずれを補正する構成としてもよい。例えば、この場合には、角膜曲率半径Ｒと、前眼部画像１００上の瞳孔中心Ｐの位置座標と、を予め対応付けたテーブルや演算式を用いて、第２パラメータδ’のずれを補正してもよい。もちろん、本実施例では、被検眼Ｅの角膜曲率半径Ｒに応じて、瞳孔の見かけのサイズを変更することで、パラメータδ'を補正してもよい。例えば、パラメータδ'を補正することで、被検眼Ｅのより正確な眼位量を取得することができる。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの回旋角度θ（あるいは、プリズム量Δ）に基づいて、被検眼Ｅのプリズム度数を矯正する際に、ディスプレイ３１の表示を制御する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。本実施例では、被検眼Ｅの回旋角度θに基づいて、被検眼Ｅのプリズム度数を矯正する際に、偏向ミラー８１の回転を制御する構成としてもよい。この場合、この場合、制御部７０は、回旋角度θ（あるいは、プリズム量Δ）に応じて、駆動機構８２の駆動を制御し、偏向ミラー８１を回転移動させる。なお、偏向ミラー８１の回転角度と、被検眼Ｅの回旋角度θ（あるいは、プリズム量Δ）と、は予め対応付けられていてもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの前眼部画像１００を、観察光学系５０を用いた撮像により取得する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、本実施例では、検眼装置１とは異なる装置にて撮像された被検眼Ｅの前眼部画像１００を、制御部７０が受信することによって、取得されてもよい。この場合、検眼装置１とは異なる装置において、被検眼Ｅの角膜に向けて投影された指標の角膜反射光に基づくプルキンエ像を含む前眼部画像が撮像され、検眼装置１に向けて送信される。検眼装置１の制御部７０は、この前眼部画像を受信することで取得し、被検眼Ｅの瞳孔中心Ｐの位置、及び、被検眼Ｅのプルキンエ像の位置、を検出してもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅに、正面投影光学系４０の光源４１からアライメント指標を投影し、これによって形成されるプルキンエ像Ｓの位置に基づいて、第２パラメータδ’を算出する構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、本実施例では、被検眼Ｅの前眼部を照明するための照明部を筐体２に別途設け、照明部からアライメント指標を投影し、これによって形成されるプルキンエ像の位置に基づいて、第２パラメータδ’を算出する構成とすることもできる。例えば、このような照明部は、少なくとも光源を備えていてもよい。

なお、本開示は、本実施形態に記載する装置に限定されない。例えば、上記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

１ 検眼装置
７ 測定部
１０ 他覚式測定光学系
２５ 自覚式測定光学系
７０ 制御部
７５ メモリ
８１ 偏向ミラー
８４ 反射ミラー
８５ 凹面ミラー

Claims (4)

1. 被検眼における少なくとも眼位量を測定可能な検眼装置であって、
   前記被検眼の角膜曲率半径を取得する角膜曲率半径取得手段と、
   前記被検眼の前房深度を取得する前房深度取得手段と、
   前記角膜曲率半径と、前記前房深度と、に基づいて算出される第１パラメータに基づいて、前記被検眼の眼位量を取得する眼位量取得手段と、
   を備えることを特徴とする検眼装置。
2. 請求項１の検眼装置において、
   前記被検眼の瞳孔情報を取得する瞳孔情報取得手段と、
   前記被検眼のプルキンエ像の位置を取得するプルキンエ像位置取得手段と、
   を備え、
   前記眼位量取得手段は、前記第１パラメータ、及び、前記瞳孔情報と、前記プルキンエ像の位置と、に基づいて算出される第２パラメータ、に基づいて、前記被検眼の前記眼位量を取得することを特徴とする検眼装置。
3. 請求項１または２の検眼装置において、
   前記被検眼に向けて前記視標を呈示する視標呈示部から出射された視標光束を投影する投影光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式測定手段と、
   前記被検眼の前記眼位量に基づいて、前記矯正光学系を制御する制御手段と、
   を備えることを特徴とする検眼装置。
4. 被検眼における少なくとも眼位量を測定可能な検眼装置にて用いる検眼プログラムであって、
   前記検眼装置のプロセッサに実行されることで、
   前記被検眼の角膜曲率半径を取得する角膜曲率半径取得ステップと、
   前記被検眼の前房深度を取得する前房深度取得ステップと、
   前記角膜曲率半径と、前記前房深度と、に基づいて算出される第１パラメータに基づいて、前記被検眼の眼位量を取得する眼位量取得ステップと、
   を前記検眼装置に実行させることを特徴とする検眼プログラム。

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