KR20070039875A

KR20070039875A - 광 데이터 캐리어의 품질 테스트 방법

Info

Publication number: KR20070039875A
Application number: KR1020067024002A
Authority: KR
Inventors: 마틴 넥마
Original assignee: 오디오뎁 악티에보락
Priority date: 2004-05-24
Filing date: 2005-05-20
Publication date: 2007-04-13
Also published as: WO2005114659A1; SE0401318D0; TW200540815A; JP2008500674A; CN1957401A; CN100437764C; EP1751748A1; SE528486C2; SE0401318L; US20080089200A1

Abstract

다수의 동심 트랙을 형성하는 나선형 또는 고리형 패턴의 형식으로 광학적으로 판독 가능한 정보를 기억하는 타입의 광 디스크의 전체 품질을 테스트하는 방법이 개시된다. 디스크 플레이어의 레이저 픽업으로부터의 신호가 소정의 임계치 미만이고, 픽업이 트랙에 고정됨을 나타내면, Tracked 동작 모드에서 측정이 실행된다. 통계적으로 충분한 데이터가 Tracked 모드에서 수신될 시에 디스크의 라디얼 방향에서 립이 실행된다. 립 중에, 디스크의 품질은 Off-Track 모드에서 평가된다. 이들 단계를 반복함으로써, 전체 디스크의 품질은 디스크의 편심과 무관하게 통상의 방법 또는 장치를 이용하는 것보다 더 고속으로 평가된다.

광 디스크, 디스크 플레이어, 판독 장치, 트랙

Description

광 데이터 캐리어의 품질 테스트 방법{A QUALITY TESTING METHOD FOR OPTICAL DATA CARRIERS}

본 발명은 일반적으로 광 데이터 캐리어의 품질 테스트 장치 및 품질 테스트 방법의 분야에 관한 것으로서, 특히, 디스크 형상의 광 데이터 캐리어의 품질 테스트 방법에 관한 것이며, 특히, 다수의 동심 트랙을 형성하는 나선형 또는 고리형 패턴의 형식으로 광학적으로 판독 가능한 정보를 기억하는 타입의 광 디스크의 전체 품질을 제어하는 방법에 관한 것이다.

광 데이터 캐리어는 상당량의 디지털 정보를 기억하기 위해 사용되며, 이 디지털 정보는, 예컨대, 프로그램 파일 및 데이터 파일과 같이 컴퓨터에 대한 음악, 비디오, 이미지 또는 디지털 데이터를 나타낸다. 가장 일반적인 타입의 광 데이터 캐리어는 콤팩트 디스크(CD) 및 Digital Versatile Disc (DVD)이며, 이들은 수개의 상이한 데이터 포맷으로 이용 가능하며, 이 중에서, CD-Audio, CD-ROM, CD-ROM XA, CD-I, CD-R, CD-RW, DVD Video, DVD-R/+R/-RW/+RW 및 DVD-Audio가 가장 일반적이다. 콤팩트 디스크에 대한 표준은 수십 년 전에 확립된 이래 사용되어 왔다. DVD는 최근에 소개되었고, 더욱 정교한 타입의 광 데이터 캐리어이다. 더욱 최근의 포맷은 Super Audio CD (SACD)이고, 시장에 알려진 최후의 포맷은 Blu-Ray Disc (BD), Small Form Factor Optical Storage Disc (SFFO) 및 High Definition DVD (이전에는 AOD라 불리워지는 HD-DVD)이다.

상술한 광 기억 디스크의 일반적인 특징은, 이 디스크가 작은 영역에 상당한 량의 정보를 기억하는 것이다. 디지털 정보는 레이저 빔에 의해 매우 정확하게 판독되고, 이 정보가 에러 정정 인코딩 방법에 따라 광 디스크 상에 기억될지라도, 이와 같은 광 디스크의 제조자 및 판매자 중에는 광 디스크의 품질을 검사할 수 있도록 하는 많은 요구가 있다. 그것은, 광 기억 디스크 중에서, 주로 이들의 정보 운반 층에서 최소수의 에러 및 결함을 확인하기 위해, CD에 대한 Philips 및 Sony, DVD 및 AOD/HD-DVD에 대한 DVD Forum 및, BD에 대한 Sony로부터 명세서를 충족하도록 하는 절대적인 요구 조건이다.

그래서, 광 기억 디스크의 품질은 디스크의 제조 공정 중에 평가된다. 다양한 파라미터, (예컨대, 뒤틀림, 편심, 혼선 등과 같은) 물리적 파라미터 및 논리적 에러 (각종 비트 에러율, 블록 에러율 및 버스트 에러율)가 측정되어 등록된다. 다른 중요한 파라미터는, 광 디스크의 투명한 플라스틱 층에서의 복굴절의 정도 및 소위 지터(jitter), 즉, 광 디스크를 판독하거나 동작시킬 시에 획득되는 신호에서의 통계적 시간 편차이다. 또한, 광 디스크의 품질에 관련된 매우 중요한 파라미터는 레이저 픽업에 의해 광 디스크를 판독할 시에 획득되는 신호 진폭이다.

일반적으로 공지된 바와 같이, 보통의 광 디스크는, 직경이 8 cm 또는 12 cm이고, 두께가 약 1.2 mm인 플라스틱 디스크를 토대로 한다. CD 포맷은, 라벨측 상에 1.2 mm 마이너스(minus) 보호 래커(lacquer)의 판독 레이저에 대한 기판 두께를 가지고 있다. DVD 및 HD DVD는 서로 접착된 2개의 0.6 mm의 기판으로 구성된다. BD는 1.1 mm의 디스크 상에 접착되거나 스핀 코팅된 0.1 mm의 기판으로 구성되며, 여기서, 0,1 mm 측은 판독측이다. 플라스틱 디스크는 보통 클리어(clear) 폴리 탄산 에스테르 플라스틱의 사출 성형 부분으로서 제조되지만, Blu-ray 디스크의 경우에는 0.1 mm 기판의 스핀 코팅이 일반적인 제조 방법이 된다. 얇은 0.1 mm 기판을 적용하기 위해 사용되는 기술 중 하나는 기판을 막으로서 부착하는 것이다. 제조 중에, CD에 기억되는 정보를 나타내는 단일의 연속적 나선형 패턴으로 배치되는 미세 범프(microscopic bumps)를 이용하여 플라스틱 디스크를 찍는다. 이런 미세 범프의 나선형 패턴을 찍기 위해 스탬퍼를 사용한다. 폴리 탄산 에스테르 디스크의 클리어 부분이 형성되었다면, 얇은 반사 알루미늄 층은 디스크 상으로 스퍼터되어, 범프의 나선형 패턴을 덮는다. 그 후, 얇은 포토폴리머(photopolymer) 층은 이 층을 보호하기 위해 알루미늄으로 도포된다. 최종으로, CD 라벨은 CD의 케이스 내의 포토폴리머 층 상에 인쇄된다. 디스크가 DVD 또는 HD-DVD인 경우, 수개의 정보 층은 실리콘과 같은 반반사(semi reflective) 재료를 사용하여 도포될 수 있다. 그 후, 2개의 0.6 mm 디스크는 서로 접착되어 1.2 mm 두께의 디스크를 형성하며, 측면 중 어느 하나 또는 양자 모두 상의 정보를 포함한다. Blu-ray Disc의 경우, 시험적인 제조 기술은 1.1 mm 디스크를 사출 성형하여, 반사 층을 스퍼터하고 나서, 0.1 mm 막을 스핀 코팅하거나 부착함으로써 0.1 mm 기판을 도포할 수 있다. 최종 단계는 보호 코팅을 추가하는 것이다.

나선형 패턴의 범프는 보통 피트(pit)로서 지칭되는데, 그 이유는 이것이 알 루미늄 층으로부터 바라볼 시에 어떻게 나타나느냐에 달려 있기 때문이다. 인접한 피트 간의 영역은 보통 랜드(land) 또는 평면 영역으로 지칭된다.

연속적인 나선형 패턴의 각 회전 또는 선회에 의해, 본질적으로 원형 트랙이 형성되며, 이는 나선형 패턴의 후속 회전 또는 선회와 동심이다. 그래서, 다수의 원형 트랙이 실제로는 단일의 연속적인 나선형 패턴에서 서로에 결합될지라도, CD는 종종 다수의 원형 트랙을 갖는 것으로 기술된다. CD는 약 22,000 트랙을 갖는 반면에, DVD는 약 47,000 트랙을 가지며, HD-DVD는 약 90,000 트랙을 가지며, BD는 약 110,000 트랙을 갖는다.

도 1은 CD, DVD, HD-DVD 또는 Blu-ray Disc와 같은 광 디스크(1) 및, 프리마스터된(pre-mastered) 디스크의 케이스에 피트 및 평면 영역을 포함하는 단일의 연속적인 나선형 패턴(2)을 도시한 것이다. 상술한 바와 같이, 나선형 패턴(2)은 본질적으로 동심의 다수의 원형 트랙(3)을 형성한다. 광 디스크(1)는 광 디스크(1)를 회전시키도록 구동 스핀들과 맞물리는 중심 개구(5)를 갖는다.

도 2는 정보를 더욱 상세히 디지털식으로 기록한 수개 트랙(3)을 도시한다. 상술한 바와 같이, 이 정보는 (6)으로 표시되는 피트(또는 범프)에 기억되고, 중간 평면 영역(랜드)은 (7)로 표시된다.

상술한 바와 같이, 스탬퍼는 프리마스터되고 기록 가능한 광 매체를 제조할 시에 사용된다. 디스크 마스터는 스탬퍼의 기하학적 원점이고, 유리 디스크 상에 포토레지스트 또는 다른 제거 가능한 재료의 엷은 층을 도포하여 제조될 수 있다. 마스터링 장치는 유리 디스크의 중심으로부터 그의 주변으로 반경 방향으로 연속하 여 이동되어, 피트 및 평면 영역의 원하는 나선형 패턴에 대응하는 패턴으로 최종 생성물, 즉 광 디스크 상에 포토레지스트 층을 노출시킨다. 기록 가능한 디스크 상에는 마스터링 장치가 인코딩된 섹터 정보를 포함하는 연속적인 워블링(wobbling) 패턴으로 포토레지스트 층을 노출시킨다. 명백하게는, 피트는 광 디스크에서 랜드와 명백히 구별할 수 있는 것이 매우 중요하다. 특히, 상이한 사이즈의 피트는 광 디스크를 판독할 시에 정확히 식별될 필요가 있다. 기록 가능한 디스크 상에서, 레코더가 디스크 상에 트랙하여 기록할 수 있도록 하기 위해서는 워블 홈(wobble groove)을 적절히 형성하는 것이 중요하다.

스탬퍼의 피트 또는 워블 홈이 판독을 위해 최적화되지 않으므로, 스탬퍼를 판독할 시에 생성되는 신호는 생성된 디스크로부터의 신호와 상이하다. 더욱이, 광 디스크를 제조할 시에, 각 제작 라인은, 피트 또는 홈 구조가 스탬퍼와 디스크 사에 얼마나 영향을 미치는지에 관한 자신의 특성을 갖는다. 그래서, 디스크 자체 상에서 품질 제어가 실행될 필요가 있다. 또한, 디스크의 제조 공정을 신속히 조절할 수 있도록 하기 위해 제조된 디스크에 관한 고속의 신뢰 가능한 품질 피드백을 갖는 것이 중요하다. 이를 위해, 디스크는 디스크 플레이어에서 판독되고, 디스크의 품질은 평가된다. 물론, 일반적으로, 전체 디스크 및 그의 품질은 평가될 필요가 있어, 지금까지는, 전체 디스크는 전체 광 디스크와 관련된 신호를 측정하기 위해 판독된다.

광 매체에 대한 통상의 테스트 장치는, 프리마스터된 판독 가능 및 재기록 가능 디스크의 전기적 및 물리적 신호를 측정하여 분석하기 위해 설계된다. 공칭 속도(nominal speed)(1×)에서의 완전한 데스트는 한 시간 이상 지속하며, 오늘날 가장 빠른 테스트 장치는, 공칭 속도의 4배(4×)로 테스트할 시에는 대략 20 분 내에서 디스크를 완전히 측정한다. 오늘날, 이것은, 제조 중에 실행되는 광 기억 디스크의 완전한 평가를 갖는 것이 가장 빠른 시간이다. 이 시간 동안, 많은 (통상적으로 약 1000개의) 디스크는, 제조된 디스크의 품질이 품질 제어 동안에 너무 나쁜 것으로 판명할 경우에는, 폐기되어야 하는 제작 라인 상에서 제작될 수 있다. 이것은 특히 시초에 제조 공정을 조정할 시에 불쾌하며, 여기에서, 많은 제작/테스트/조정 사이클이 필요하다. 그래서, 산업계는, 제조 중에 광 기억 디스크의 품질 테스트에 필요한 시간을 상당히 축소할 필요가 있다.

통상의 테스트는 2개의 주요 방법, 즉, Tracked 측정 및 Non-Tracked 측정(또한, Off-Tracked 측정 또는 Open Loop라 함)에 기초로 한다. Tracked 모드에서 측정하면, 레이저 픽업 후에 블랭크(blank) 기록 또는 프리마스터된 트랙이 따르며, 라디얼(radial) 및 포커스 서보(focus servo)는 이 트랙에 고정된다.

종래 기술에 따르면, Off-Tracked 측정에서, 라디얼 서보는 디스에이블(disable)되고, 레이저 픽업은 하나의 라디얼 위치에 고정된다. 광 디스크의 편심 때문에, 수개의 트랙은 픽업 헤드를 통과하고, 오늘날 가장 일반적으로 사분원 광 검출기(quadrant photo detector)인 레이저 픽업으로부터의 신호의 수개의 조합을 측정할 수 있다. 이것은, 많은 위치가 측정될 수 있고, 각 위치가 현재의 기술로 측정하는데 적어도 5초 걸리는 시간 소비(consuming) 방법이다. 그래서, 사실상 지금까지는, Off-Tracked 모드에서 디스크 전체를 완전히 측정하여 평가하는 것이 불가능하다. 예컨대, 10000번의 측정 위치는, 픽업 헤드를 통과하는 약 5개의 트랙에 편심이 생성할 시에 필요하며, 여기서, 각 측정은 약 5 초 걸린다. 따라서, 그것은 Off-Tracked 측정으로 단일의 디스크를 테스트하는데 약 14 시간 걸린다. 편심이 보다 적은 경우에, 모든 트랙이 평가될 필요가 있을 시에 공정이 더 오래 걸린다. 동심의 디스크, 즉, 디스크가 편심이 없거나 매우 적은 경우에는, 하나의 라디얼 위치에 고정되는 픽업 헤드를 트랙이 통과하지 않을 시에는, 통상의 Off-Tracked 측정 시스템에 의해 어떠한 Off-Tracked 측정을 획득할 수 없다. 오늘날, 통상의 테스트 경우에, Off-Tracked 측정에 대한 10 내지 20의 위치가 실행되고, 각각 위치 설정(positioning)을 포함하는데 1 분 이하 걸린다. 그러나, 이 경우에, 전체 디스크의 부분만이 테스트된다.

그래서, 오늘날 실행되는 광 기억 디스크의 품질 테스트는 수개의 결점을 갖고 있다. 첫째로, 품질 평가 프로세스는 신호가 모든 트랙 상이나 트랙을 횡단하여 연속적으로 측정될 시에 많은 시간이 걸린다. 더욱이, 디스크가 어떤 편심을 갖지 않으면, Off-Tracked 모드 (개방 루프)의 신호를 매우 정확하고 반복적으로 측정하는 것이 매우 곤란하다. 따라서, 다수의 동심 트랙을 형성하는 나선형 또는 고리형 패턴의 형식으로 광학적으로 판독 가능한 정보를 기억하는 타입의 광 디스크의 전체 품질을 테스트하는 새로운 보다 고속의 방법이 필요하다. 또한, 디스크 상의 개방 루프 측정을 저 편심으로 실행할 수 있는 것이 필요하다.

본 발명은, 본 기술 분야의 상술한 결함을 극복하여, 첨부한 특허청구범위에 따른 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 매체를 제공함으로써 적어도 상술한 문제를 해결하는 것이다.

본 발명에 따른 일반적인 해결책은, 예컨대, 디스크의 표면상의 스크래치(scratch), 디스크의 클리어 플라스틱 재료의 공기 버블(bubble), 또는 디스크 상에 기억된 특성의 패턴에서 스탬핑 프로세스로부터의 불규칙성과 같은 대부분의 결함이 어떤 최소 측정을 초과하는 범위, 대략 50-100㎛ (사람 머리카락의 두께의 약 10-20%)를 갖는다는 사실에 기초를 둔다. 본 발명의 방법에 관해서는, 이것은 항상 모든 트랙 또는 반경을 측정할 필요가 없다는 것을 의미한다. 하여튼, 다음의 예에서와 같이, 결점이 발견될 것이다. 예컨대, Tracked 모드에서는 100 트랙 마다 판독되고, Off-Track에서는 100 트랙에 걸쳐 립(leap)이 실행되며, DVD에 대해서는 대략 500 회이다. DVD의 100 트랙은 대략 74㎛ 떨어져 있다. 그래서, 상술한 사이즈 50-100㎛의 결점은 Tracked 모드 중, Off-Tracked 모드의 립 중, 또는 립 후의 다음 Tracked 모드 중에 검출된다.

본 발명의 양태에 따르면, 다수의 동심 트랙을 형성하는 나선형 또는 고리형 패턴의 형식으로 광학적으로 판독 가능한 정보를 기억하는 타입의 광 디스크의 전체 품질을 테스트하는 방법 및 컴퓨터 판독 가능한 매체가 개시된다.

본 발명의 한 양태에 따르면, 한 방법이 제공되는데, 이 방법은 다음의 단계를 포함한다. 첫째로, 상기 광 디스크는, 디스크의 판독 장치를 가진 디스크 플레이어에 의해 상이한 동작 모드에서 디스크를 광학적으로 판독하기 위해 회전식으로 설정된다. 후속하여, 다음의 단계가 디스크를 품질 테스트하기 위해 간헐적으로 번갈아 일어난다:

1) 상기 나선형 또는 고리형 패턴의 하나 이상의 제 1 트랙은 Tracked 품질 파라미터를 결정하기 위한 판독 장치의 Tracked 동작 모드에서 적어도 부분적으로 판독되고,

2) 디스크의 라디얼 방향에서 립이 실행됨과 동시에, 디스크는 Off-Track 품질 파마미터를 결정하기 위해 립 중에 Off-Track 측정 동작 모드에서 분석된다.

본 발명의 다른 양태에 따르면, 컴퓨터에 의해 처리하는 컴퓨터 프로그램을 실시한 컴퓨터 판독 가능한 매체가 제공된다. 컴퓨터 프로그램은 본 발명에 따른 방법을 실행하는 코드 세그먼트를 포함하며, 상기 코드 세그먼트는, 디스크의 판독 장치를 가진 디스크 플레이어에 의해 디스크를 상이한 동작 모드에서 광학적으로 판독하기 위해 디스크를 회전식으로 설정하는 제 1 코드 세그먼트이다. 디스크의 품질 테스트를 위해, 제 2 및 3 코드 세그먼트가 간헐적으로 번갈아 생성된다. 특히, 제 2 코드 세그먼트는 Tracked 품질 파라미터를 결정하기 위한 판독 장치의 Tracked 동작 모드에서 나선형 또는 고리형 패턴의 하나 이상의 제 1 트랙을 적어도 부분적으로 판독하고, 제 3 코드 세그먼트는, 디스크의 라디얼 방향으로 립을 실행함과 동시에, Off-Track 품질 파라미터를 결정하기 위해 립 중에 Off-Track 측정 동작 모드에서 디스크를 분석한다.

본 발명은, 종래 기술에 비해, 상술한 타입의 프리마스터된 기록 가능 및 재기록 가능 광 기억 매체의 시간 절약 및 품질 제어를 제공하는 이점을 갖는다. 더욱이, 본 발명은, 예컨대, DVD-5, DVD-9, DVD-10, DVD-14, DVD-18과 같은 단일 또는 다수의 층 구조를 가진 중복된(replicated) 광 기억 매체를 테스트한다. 본 발명에 따른 방법은 실질적으로 판독 속도와는 무관하고, 광 디스크의 "고속 스캐닝" 때문에, 공지된 방법에 비해 적어도 85%만큼 테스트 시간을 줄인다. 그럼에도 불구하고, 본 발명의 방법은, 예컨대, DVD Forum의 기존 및 미래 표준에 따른다. 본 발명에 따른 방법에 의해, 디스크의 품질에 의해 신속한 개요(quick overview)가 주어진다. 결점을 가진 영역은 신속히 식별되어, 다른 품질 테스트 시스템에 의해 더 분석될 수 있다. 따라서, 이와 같은 광 기억 매체의 제조자는 이들의 피드백 횟수를 개선할 수 있고, 제조 중에, 제조 공정을 더욱 신속히 최적화하여, 양품률(yields)을 높이고, 제조 라인의 이용을 더욱 양호하게 한다.

또한, 본 발명에 따른 방법은 평가되는 디스크의 어떤 편심과 무관하다. 상술한 바와 같이, 라디얼 방향으로 트랙이 고정된 픽업 헤드를 통과하지 않는 경우에서와 같이, 보통, Off-Tracked 측정은 완전히 또는 거의 동심의 디스크, 즉 고속 디스크로는 가능하지 않다. 그러나, 본 발명에 의하면, 실행되는 립 중에 라디얼 방향으로 트랙이 판독 장치를 확실히 통과할 시에, 립 중에 Off-Tracked 측정을 완전히 실행할 수 있다.

또한, 그것은, 통상적으로 전체 광 디스크 상의 소수만의 라디얼 포인트와 비교하여, 디스크의 상당한 퍼센티지에 대해 Off-Tracked 측정이 유도되는 다른 이점이다.

본 발명의 다른 목적, 특징 및 이점은 첨부한 도면을 참조로하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 다음의 설명으로부터 명백해질 것이다.

도 1은 광 디스크 및, 다수의 동심 트랙을 형성하는 연속적인 나선형 패턴의 개략도이다.

도 2는 기록된 예시적인 정보를 가진 도 1의 광 디스크 상의 몇몇 트랙의 작은 영역의 개략도이다.

도 3은 본 발명의 실시예가 도 1의 광 디스크의 완전한 품질 테스트 중에 진행하는 라디얼 방향의 개략도이다.

도 4는 측정 프로세스의 상이한 사례(instance) 중에 측정된 신호의 형상을 도시한 것이다.

도 5는 트랙 방향에 관한 사분원 광 검출기의 개략도이다.

도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 품질 테스트 방법에 의해 실행되는 측정에 대한 개략도이다.

도 7은 본 발명에 따른 광 디스크의 품질 테스트 방법을 실행하도록 구성되는 품질 테스트 장치의 개략적인 블록도이다.

도 8은 본 발명의 바람직한 실시예에 관련하여 이용되는 동작 모드 검출 원리를 도시한 것이다.

도 9는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 품질 테스트 방법의 개략적인 흐름도이다.

본 발명의 바람직한 실시예는 도 3 내지 도 9를 참조로 상세히 기술될 것이 다.

기본적으로, 디스크 플레이어는, Tracked 동작 모드와 Non-Tracked 동작 모드 사이에서 번갈아 변화하며, 즉, 디스크 플레이어는 디스크 상에서 라디얼 위치를 변경하기 위해 라디얼 립을 실행하기 위해 간헐적으로 행해진다. 플레이어가 디스크를 트랙 중, 즉 Tracked 동작 모드에 있을 동안에 데이터의 몇몇 샘플이 측정된다. 그 후, 플레이어의 라디얼 위치의 변경, 즉, "Off-Track" 동작 모드에 있을 동안에 데이터도 측정된다. 이것은, 픽업 헤드의 고정된 라디얼 위치에 의한 통상의 Off-Track 측정과는 대조적으로, 본 발명과 관련한 Off-Track 측정은 라디얼 위치에서 "비고정(unlocked)"되는 픽업 헤드로 실행된다. 따라서, 디스크가 상당한 저 편심을 가질 시에도, 픽업 헤드는 광 디스크 상의 트랙에 관해 이동할 것이다.

제한된 시간 동안에 디스크를 트랙하고, 라디얼 위치의 많은 변경을 실행함으로써, 취해진 샘플은 전체 디스크의 완전한 측정을 나타내지만, 통상의 측정보다 상당히 짧은 시간 내에 실행된다. 라디얼 위치 간의 짧은 거리, 예컨대, 75 ㎛를 점프함으로써, 디스크 상에서 모든 주요 결점이 검출될 것이다. 그 결과, 대략 2-3 분 내에서 디스크를 완전히 측정하여 커버할 수 있다.

디스크 플레이어의 레이저 픽업으로부터 직접 유도되는 신호를 감시함으로써, 측정 시스템은, 현재의 판독 동작 모드가 Tracked인지 Off-Track인지를 결정하는 매우 빠른 방법을 갖는다. 이것은, 디스크 플레이어가 또한 이 정보를 그의 라디얼 서보 메카니즘으로부터 유도할 수 있을지라도, 디스크 플레이어로부터 그 타입의 정보를 대기하지 않고 행해진다. 그러나, 라디얼 서보 메카니즘은 디스크 플 레이어의 레이저 픽업으로부터 신호를 직접 분석하는 것에 비해 저속이다. 디스크 플레이어의 라디얼 서보 메카니즘은, 현재의 모드가 트랙됨을 확인하기 전에, 기본적으로 수개의 트랙이 판독될 때까지 대기하기 때문에 저속이다. 그래서, 립 후에 Tracked 동작 모드를 확인하기 위해 디스크 플레이어의 하드웨어를 대기함으로써, Tracked 동작 모드를 확인하기 위해 디스크 플레이어를 대기할 시에 시간 소비로 인해 본 품질 제어 방법이 불필요하게 저속으로 된다.

특히, 본 발명의 실시예에 따르면, 레이저 픽업의 라디얼 에러 신호는, 현재의 트랙 모드, 즉 Tracked 동작 모드 또는 Off-Track 동작 모드를 결정하는데 이용된다. 다른 실시예에서, 현재의 트랙 모드를 직접 결정하는데 적절한 다른 픽업 신호는 또한 라디얼 에러 신호 대신에 이용될 수 있다. 라디얼 에러 신호가 진폭, 즉 피크 대 피크 값, 또는 미리 정해진 임계값 이상의 절대값을 갖는 경우에, 이것은 현재 동작 모드가 Off-Track인지를 나타낸다. 다른 경우에, 즉, 신호 진폭이 미리 정해진 임계값 미만이면, 현재의 동작 모드는 Tracked 동작 모드인 것으로 결정된다. 임계값은 적절히 선택된다. 이것은 도 7을 참조로 더욱 상세히 설명된다. 현재의 동작 모드의 이런 즉각적인 피드백으로 인해, 어떠한 시간 지연 없이 실질적으로 2개의 동작 모드 간에 스위치할 수 있다. 따라서, 본 발명의 방법을 실행하는 측정 시스템은 Tracked 동작 모드 또는 Off-Track 동작 모드를 결정하는 매우 신속한 방법을 가지고 있다. 그래서, 이들 2개의 모드 내에서의 측정은 '백 투 백(back to back)' 실행되어, 전체 측정 시간을 더욱더 감소시킬 수 있다. 그것은 또한, 현재 하드웨어의 라디얼 속도, 가속 및 감속이 일반적으로 공지될 시에 각 립의 시간 이 공지되는 것으로 지적된다. 이것은, 디스크 플레이어의 라디얼 작동기에 제공된 펄스가 Off-Track 측정을 실행하는 규정된 길이를 갖는다는 것을 의미한다. 간략하게는, 펄스가 기울어진 후, Tracked 동작 모드는 개시하는 것으로 예상된다. 따라서, 상술한 신호의 진폭은 또한 규정된 시간 윈도 내에서만 관련되어 이 방법의 신뢰성을 증가시킬 수 있다.

측정 자체를 참조하면, 측정은 Tracked 모드 또는 Off-Track 모드에서 개시될 수 있다. 도 4, 도 6 및 도 9에 도시되는 아래 예에서, 측정은 Tracked 모드에서 개시되는 것으로 추정된다.

1. 디스크 플레이어의 레이저 픽업으로부터 신호(16)를 감시함으로써, (디스크 플레이어의 라디얼 서보가 아닌) 측정 시스템의 트랙 알고리즘은, 도 4의 (17)에 도시된 바와 같이, 트랙 모드를 Tracked로서 결정한다. 측정 시스템이 트랙 모드가 Tracked임을 검출하자마자, Tracked 파라미터의 측정이 개시된다.

2. 트랙(3a)의 Tracked 파라미터의 측정은 t₀에서 개시된다.

3. 통계적으로 충분한 량의 데이터가 Tracked 모드에서 측정되면, 측정 시스템은 디스크 플레이어에 주문하여, t₁에서 라디얼 위치를 변경하며, 즉, 디스크를 횡단하여 라디얼 방향으로 짧은 립을 실행한다.

4. 디스크 플레이어의 레이저 픽업으로부터 신호를 감시함으로써, 측정 시스템의 트랙 알고리즘은, 디스크가 Off-Track 모드에 있을 시, 즉 짧은 립 중에 결정한다.

5. 디스크가 Off-Track 모드에 있을 동안, Off-Track 파라미터의 측정은 t₂까지 실행된다.

6. 포인트 (2. 내지 5.)의 상기 시퀀스는, 평가될 디스크의 일부 또는 전체 디스크의 도처에서 이 일부 또는 전체 디스크의 품질이 평가될 때까지 반복된다.

양방의 동작 모드의 각각에서 측정되는 파라미터의 예들은, 본 명세서의 부분인 부착된 부록에 주어진다. 레이저 픽업의 사분원 광 검출기(14)는 도 5에서 개략적으로 도시된다. 이 검출기는 4개의 검출 부분 A, B, C 및 D를 포함하며, 이들은, 서로와 무관하게, 판독 시에 광 기억 디스크로부터 반사되는 레이저 광을 수신한다. 도 5에 도시된 바와 같이, 사분원 광 검출기(14)는 Tracked 동작 모드에서 트랙(3)에 대해 이동하고, Off-Tracked 동작 모드에서는 이 트랙의 접선 방향에 수직인 방향, 즉, 라디얼 방향(12)으로 이동한다. 다른 광 검출기는 본 실시예와 상이한 실시예에 이용될 수 있다.

도 6에 개략적으로 도시되는 테스트된 DVD의 실제적인 비제한 예에서, 3 내지 4개의 트랙(설명을 위해, 하나의 트랙으로 도시됨)(3a)은, 통계적으로 충분한 데이터가 단계 3에 따라 진행할 t₁에서 존재할 때까지 단계 2에 따른 t₀에서 개시하는 Tracked 모드에서 판독된다. 플레이어는, 라디얼 방향에서 (대시선으로 도시되는) 약 100개의 트랙, 즉, 디스크를 횡단하는 약 50-70 ㎛를 립하도록 명령을 받는다. 적어도 이런 크기의 정도, 예컨대, 디스크 내 또는 디스크 상의 먼지 한 톨(a grain of dust)에 디스크 내 또는 디스크 상의 대부분의 결점이 있다는 것이다. 립 동안, Off-Track 모드에서 품질 파라미터를 평가한다(단계 5). 이것은 약 20 초 걸리거나, 디스크의 1-2 회전에 상당한다. t₂에서 디스크 플레이어의 레이저 픽업으로부터의 신호가 Tracked 모드가 다시 한번 설정됨을 나타내면, 측정 프로세스는 디스크의 끝이 약 500 립 후나 3 분 내에 도달될 때까지 반복된다. 그러나, 이 시간은, 예컨대, 플레이어의 속도 및/또는 픽업 장치의 라디얼 속도를 증가시킴으로써 더 단축될 수 있다. 도 6에서 볼드체 스타일(bold style)로 표시된 화살표는, 픽업 헤드가 디스크에 대해 진행하는 측정 신호를 수집하는 "가상(virtual)" 상대 방향을 나타낸다. 사실상, 디스크는 회전하고, 픽업 헤드는 라디얼 방향(12)으로만 이동한다.

도 7은 상술한 방법을 실행하는 품질 테스트 장치의 개요도이다. 스핀들 모터(9) 및 회전 가능한 스핀들(10)의 형태의 디스크 구동부(9, 10)는, 본 기술 분야에 공지된 방식으로, 도 3, 6 및 7에서 (11)로 표시된 방향으로 광 디스크(1)를 회전하도록 구성된다. 레이저 픽업 유닛(20)은, 광 디스크(1)의 한 표면의 근처에 배치되어, 도 3의 화살표(12)로 표시된 바와 같이, 광 디스크(1)의 라디얼 방향으로 이동 가능하다. 레이저 픽업 유닛(20)은, 레이저 광의 빔으로 광 디스크(1)를 조사(irradiate)하고, 광 디스크로부터의 반사를 검출하여, 이에 응답하여 측정 신호를 발생시켜, 도면에서 P-Pickup-로 라벨된 이 신호를 제공한다. 상술한 품질 테스트 방법의 진행 중에, 광 디스크(1)는 디스크 구동부, 즉, 스핀들 모터(9) 및 스핀들(10)에 의해 회전식으로 유지될 것이다.

상술한 바와 같이, 레이저 픽업 유닛(20)은, 레이저 픽업 유닛(20)의 광 조립체 또는 광 판독 장치(21)가, 상이한 라디얼 위치 사이에서 간헐적으로, 도 3에 표시된 화살표(12)의 방향으로 광 디스크(1)의 표면을 따라 반경 방향으로 이동시키는 기계적 구동 수단(22)을 포함한다. 그러나, 이와 같은 기계적 구동 수단(22)은 본질적으로 본 기술 분야에 공지되어 있고, 당업자는, 실제 응용에 따라, 전기 모터 및 기계적 캐리지 장치와 같은 적절한 기계적 및 전기적 부품을 선택하게 된다. 본질적으로, 레이저 픽업 유닛(20)의 광 부품(21)을 제조할 수 있는 어떠한 장치는 원하는 라디얼 방향으로 매우 정확하게 이동한다. 더욱이, 레이저 소스는 상업적으로 이용 가능한 다양한 부품 중에서 선택될 수 있고, 원하는 파장 범위, 예컨대, CD에 대한 약 800 nm, DVD에 대한 650 nm 또는 BD에 대한 405 nm에서 동작할 수 있다.

레이저 픽업 유닛(20)으로부터의 출력 신호 P는 저주파 필터링 신호를 포함하며, 이 신호는, 광 디스크(1)의 트랙을 횡단하는 표면을 통해 라디얼 방향으로 이동할 시에, 레이저 픽업 유닛(20)에 의해 스폿 캐스트(spot cast)로부터 반사된 빔의 강도 변화에서 생성된다. 이 신호는 도 8에 도시되어 있다. 기록되지 않은 기록 가능한 디스크 상에서 피트(6)의 중심이나 약한 워블 트랙에 스폿이 있으면, 반사된 빔의 강도는 최소이고, 인접한 피트(6) 또는 트랙(3) 간의 중간 플랫 영역의 중심에 스폿이 있으면, 반사된 빔의 강도는 최대일 것이다. 광 유닛(21)의 사분원 광 검출기로부터 유도된 (라디얼) Push Pull 신호 (A+B) - (C+D)는 또한 도 8에 도시되어 있다. 이 신호는 또한 라디얼 에러 신호라 칭하며, 이는 본 실시예에 따라 상이한 동작 모드를 구별하는데 이용된다.

고주파(HF) 정보 신호는, 실제 피트(6) 및 랜드(7) 영역이 트랙(3)에 제공되는 경우에 이들의 흡수 및 반사로부터 생성되고, 또한 이 HF 정보 신호는, 예컨대, 스크래치 또는 다른 결점이 디스크 내 또는 상에 제공될 시를 제외하고는, 얼마간 존재하지 않는다. 그러나, 이 신호는 도시되지 않는다.

도 8은 P-신호를 생성시키는 기초적인 원리의 더욱 상세도이다. 레이저 픽업 유닛(20)의 라디얼 작동 메카니즘이 광 디스크(1)의 표면을 횡단하는 라디얼 방향(12)으로 광 판독 장치(21)를 이동하면, 레이저 픽업 유닛(20)으로부터의 생성된 출력은 (저역 통과 필터된 엔벨로프(envelope) 내에 도시된) 교번 신호(alternating signal) P이다. 이것은 화살표(54a)로 도시된다. Tracked 모드로 전이하면, 화살표(54b)로 도시된 바와 같이, 트랙(3)은 레이저 픽업 헤드를 따라 이동한다.

바람직하게는, 신호 P는 샘플링되어, 더 처리하기 전에 아날로그-디지털 변환기(ADC)(30)에 의해 디지털 형식으로 변환된다. 그렇게 행함으로써, 시스템의 융통성은 증대되는데, 그 이유는, 신호의 후속 처리가 아날로그 카운터파트(analog counterpart)에서보다 디지털 영역 내에서 더욱 쉽게 실행되고, 새로운 함수 및 계산 알고리즘이 하드웨어 수정 없이 디지털 영역 내에서 구현될 수 있기 때문이다.

그 후, 신호 P는 처리 장치(40)에서 수신되며, 이 처리 장치는, 도 7에 도시된 바와 같이, 프로세서(41) 및 메모리(45)를 포함한다. 프로세서(41)는 또한, 키보드(46) 및 마우스(47)와 같은 입력 장치뿐만 아니라, 디스플레이(48)와 같은 출 력 장치에도 접속될 수 있다. 프로세서(41)는, 메모리(45) 내에 기억된 프로그램 명령을 실행함으로써 상술한 품질 테스트 방법을 실행한다. 그래서, 품질 테스트 방법은, 레이저 픽업 유닛(20)에 의해 획득되는 측정 신호 P에 응답하여 파라미터에 대해 광 디스크(1)의 품질에 관한 측정을 결정한다.

프로세서(41)는 상업적으로 이용 가능한 어떤 마이크로프로세서에 의해 구현될 수 있다. 선택적으로, 다른 적당한 타입의 전자 논리 회로, 예컨대, 주문형 반도체(ASIC) 또는 필드 프로그래머블 게이트 어레이(Field Programmable Gate Array)(FPGA)는 제어기(41)에 대체될 수 있다. 이에 대응하여, 메모리, 입력 장치(46, 47) 및 출력 장치(48)는 모두 상업적으로 이용 가능한 부품에 의해 구현될 수 있어, 여기에는 상세히 기술되지 않는다.

명료하게 하기 위해, 상술한 품질 테스트 방법은, 도 9에 도시된 바와 같이 상이한 기능적 블록으로 분할된다. 그러나, 이들 블록은 하드웨어뿐만 아니라 소프트웨어에서도 구현될 수 있음을 강조한다.

정확한 측정을 획득하기 위해, 광 디스크(1)의 회전 속도는 광 판독 장치(21)의 라디얼 위치에 적합해야 한다. 이것은, 광 판독 장치(21)가 디스크(1)의 중심으로부터 외향으로 이동할 시에, 피트는 광 판독 장치를 지나 보다 고속으로 이동하기 때문이다(피트의 접선 속도는 디스크가 회전하는 속도의 반경 시간에 비례한다). 대안으로서, 접선 속도와 라디얼 위치 간의 관계가 알려져 있으므로, 처리 장치(40)는 후속하여 상이한 라디얼 위치에서 판독으로부터 생성된 효과를 보상할 수 있다.

ADC(30)로부터의 신호는 관련 정보 신호 부분이 신호 P로부터 추출되는 선택 블록(42)에 공급된다. 다음 블록, 즉 측정 블록(43)은, 관련 신호부의 신호 레벨을 측정하기 위해 선택 블록(42)으로부터 관련 신호 정보의 시퀀스를 수신한다. 샘플링된 정보 신호의 측정값은 바람직하게는 메모리(45) 내에 기억된다. 처리 장치 내의 식별 블록(44)은, 부록에 기재되어 있는 바와 같이, 신호로부터 신호 성분을 결정한다.

도 7의 프로세서(41)는, 메모리(45) 내에 기억된 프로그램 명령 세트를 판독하여, 프로세서(41) 내에서 프로그램 명령을 순차적으로 실행함으로써, 상술한 품질 테스트 방법을 실행하도록 프로그램된다. 도 9의 흐름도에서, 상술한 방법에 대응하는 단계들이 다음과 같이 설명된다:

단계 60은 측정 절차의 개시이다.

단계 61은 Tracked 파라미터의 측정이다.

단계 62는 Tracked 모드에서 통계적으로 충분한 량의 데이터가 측정되는가(즉, 이 데이터량이 미리 정해진 표준 편차와 같은 통계적 요구 조건을 충분히 충족하는가)?이다. 그렇지 않으면, Tracked 동작 모드는 단계 61에서 계속한다.

단계 64는 충분한 데이터량이 Tracked 모드에서 측정되면, 측정 시스템은 디스크 플레이어에 명령하여 디스크를 횡단하여 짧은 립을 실행한다.

단계 66은 Off-Tracked 파라미터의 측정이 개시되어, 단계 68에서 측정 시스템이 트랙 모드가 Off-Tracked임을 검출하는 한 계속한다.

단계 68은 디스크 플레이어의 레이저 픽업으로부터 신호를 감시함으로써, 측 정 시스템의 트랙 알고리즘은 디스크가 Off-Track 모드에 있을 시에, 즉 짧은 립 동안에 결정할 수 있다. 디스크가 Off-Track 모드에 있을 동안, Off-Track 파라미터의 측정은 실행되어 단계 69의 문의(interrogation)에 의해 확실하게 된다.

단계 62 내지 단계 69로부터의 상기 시퀀스는, 전체 디스크의 품질을 평가하는 속도 주사 루틴이 단계 72로 종료할 때까지 나머지 디스크의 도처에서 연속적으로 반복된다(단계 70에서 단계 61로 루프백된다). 선택적으로, 디스크의 선택된 부분만이 전체 디스크 대신에 측정될 수 있다.

신호가 디스크 제조자에 대한 어떤 품질 요구 조건을 충족하지 않으면, 제어기(40)는 경보를 발생시키거나, 예컨대, 디스플레이(48)를 통해 다른 타입의 출력을 제공할 수 있다. 선택적으로, 제어기(40)는, 예컨대, 하드 디스크 상에서, 나중의 오프라인 사용을 위해 모든 검출된 에러 및 다른 출력 데이터를 간단히 로그할 수 있다.

본 발명에 따른 방법의 상술한 실시예의 응용 및 사용은 다양하며, 프리마스터 또는 블랭크 기록 가능한 광 기억 디스크의 제조와 같은 분야를 포함한다.

본 발명은 특정 실시예에 관련하여 전술되었다. 그러나, 상술한 것과 다른 실시예는 첨부한 청구범위의 범주 내에서 동등하게 가능하다. 예컨대, 상술한 것과 상이한 디스크 포맷, 라디얼 점프 길이 및 방향, 픽업 원리등은 하드웨어 또는 소프트웨어 등에 의해 상기 방법을 실행한다.

상술한 바와 같이, 본 명세서의 프레임 내의 디스크는, 예컨대, CD, DVD, BD 또는 일반적으로 어떤 광 디스크이다. 디스크 플레이어는 결과적으로 이와 같은 디스크를 판독할 수 있는 플레이어이다.

상술한 것이, 피트 및 평면 영역의 단일의 연속적인 나선형 패턴을 가지고, 본질적으로 다수의 동심의 상호 접속된 트랙을 형성하는 광 디스크에 관련되었을지라도, 본 발명은 또한, 다른 광 매체에 적용되고, 단일의 나선형 패턴이 아니라 다수의 비접속된 원형 또는 고리형 정보 트랙을 포함할 수 있음이 관찰되었다.

또한, 본 발명의 품질 테스트 방법은 컴퓨터 프로그램 제품으로서 실시될 수 있음이 관찰되었는데, 이 컴퓨터 프로그램 제품은, (광 또는 자기광 디스크, 자기 하드 디스크, 전자 메모리와 같은) 적당한 기록 매체 상에 컴퓨터 판독 가능 형식으로 기억되고, 및/또는 컴퓨터화된 네트워크를 횡단하는 광, 전기 또는 전자기 신호로서 전송되며, 이는, 컴퓨터에 의해 판독되고 실행될 시에, 본 발명에 따른 방법을 실행하는 다수의 프로그램 명령을 포함한다.

또한, 본 명세서에서 사용되는 용어 "포함한다/포함하는"는 다른 요소 또는 단계를 배제하지 않으며, 용어 "하나의"는 다수의 및 단일의 프로세서 또는 다른 유닛이 청구범위에 인용된 수개의 유닛 또는 회로의 기능을 충족할 수 있음을 배제하지 않는다.

부록

사분원 광 검출기

도 5에 도시된 바와 같이, 4개의 검출 부분의 출력 신호 A, B, C 및 D의 조합의 상이한 종류는, 상기 명세서에 설명된 바와 같이, Tracked 동작 모드 및 Off- tracked 동작 모드의 양방에 대해 아래에 가장 중요한 것이 제공되는 다수의 상이한 파라미터를 생성시킨다.

1) Tracked 모드

HF 파라미터, (A+B+C+D)

R14H

R14H는 I14H와 동일하며(이하, 참조), 퍼센트 반사율로서만 표현된다. R14H는 최저 주파수의 최상위 진폭이다.

I14/R14H

I14 피트/랜드의 피크 대 피크값과 I14H 간의 비율은, 피트 정의의 측정, 즉, 얼마나 많은 간섭이 피트에 유발되는지를 측정한 것이다. 이 파라미터는 때때로 I14 변조로서 지칭된다.

I3/I14

디스크 상에서 가장 짧은 피트/랜드의 피크-피크값(I3)과 가장 긴 피트/랜드(I14)의 피크-피크값 간의 비율은, I3 피트가 I14에 비해 얼마나 잘 형성되는지를 측정한 것이다. I3가 중요한 신호 캐리어를 나타낼 시에는, 큰 I3 신호(모든 피트의 약 30%는 I3이다)를 갖는 것이 매우 중요하다.

ASYM

HF 신호의 비대칭.대칭 측정은, I3 및 I14가 HF 신호에서 상이한 오프셋을 갖는지를 나타낸다. 디스크 플레이어는 디지털 에러가 발생하기 전에 HF 신호에서 소정량의 비대칭을 처리할 수 있다.

DC 지터

지터, 데이터 대 클록은, 기준 클록 에지에 비교되는 모든 데이터 에지(조합된 피트 및 랜드) 간의 시간의 표준 편차의 측정이다. 시스템 비트클록 주기의 퍼센티지로서 제공된다.

Rb

Groove Reflectivity before recording. 광의 량은 기록 전에 홈으로부터 검출기로 반사된다. 저 값은 엷은 반사 층을 나타낼 수 있다.

디지털 에러, 디코더로부터의 출력 결과

PIE

Parity Inner Error. 이것은 내부 패리티 정정 코드를 이용하여 디코더의 제 1 패스에서 행해지는 에러 정정의 수이다. 데이터의 입력 행은 정정된다. PIE는 1 ECC 블록을 통해 측정된다. Max는 행당 하나의 PIE이다

PIF

Parity Inner Fail. 이것은 제 1 패스에서 생성된 에러 정정 불능의 수이다. PIE는 1 ECC 블록을 통해 측정된다. Max는 행당 하나의 PIE이다

Radial Push Pull (A+B)-(C+D)

Rad1b, Rad1a

라디얼 트랙을 위해 기준 서보를 이용하여 측정되는 1.1 kHz 이하의 잔여 에러 신호가 허용된다. 증가된 신호 레벨은 물리적 라디얼 트랙 편차(예컨대, 마스터링 중의 진동, 스탬퍼 범프 또는 낡은 스탬퍼)를 나타낸다. 기록 전후에 파라미터 가 측정된다.

Rad2b, Rad2a

1.1 및 10 kHz 간의 주파수 대역 내에서 잔여 에러 신호의 r.m.s. 노이즈값이 허용된다. 증가된 신호 레벨은 물리적 라디얼 트랙 편차(예컨대, 마스터링 중의 진동, 스탬퍼 범프 또는 낡은 스탬퍼)를 나타낸다. 기록 전후에 파라미터가 측정된다.

WOSNRb, WOSNRa, WOCNRb, WOCNRa,

기록 전후의 워블 캐리어 대 노이즈비. 기록 전의 홈 워블 신호의 캐리어 대 노이즈비. 파라미터는 워블 캐리어 신호가 구동 스핀들 속도를 제어하기에 충분히 세정되는지를 검사하기 위해 측정된다. 이 파라미터는 구동부가 Push Pull 트랙을 이용할 시에 측정된다.

ADERb

기록 전의 ADIP 에러율. ADERb는 지정되지 않지만, Philips 권고에 따라 측정된다. 그것은 8 ECC 블록을 통해 에러를 가진 ADIP 블록의 최대수를 측정한다. 모든 ECC 블록이 4 ADIP 블록으로 구성될 시에, 최대값은 +R/RW에 대해서만 32이다.

WOBeat

Wobble Beat. 최대 및 최소 워블 진폭 간의 비율. 워블 진폭의 변동은 이웃한 트랙 내의 워블 신호와의 포지티브 또는 네가티브 간섭의 효과이다. 값이 너무 높으면, 구동부는 +R/RW 디스크에 대해서만 너무 많이 변화하는 워블 신호(이웃한 홈으로부터의 너무 많은 간섭)를 볼 것이다.

NWO

Normalized Wobble Signal. 표준화된 워블 진폭은 기록 전에 측정되는 홈 워블 진폭(nm)을 측정한 것이다. 파라미터는 워블 진폭을 나타내는 구동 독립 신호를 유도하는데 이용된다.

NWO는 개방 루프 내에서 RPP 진폭으로부터 계산되며, 이 진폭은 측정된 영역의 중간에서 측정된다. PPb가 디스크에 걸쳐 변화하고, 측정된 영역이 크면, NWO는 측정된 영역의 중심으로부터 떨어져 부정확한 값을 표시할 것이다. 그래서, 큰 영역을 측정하는 대신에, 소수의 더욱 작은 영역을 측정하는 것이 바람직하다.

PWP

Phase wobble pre-pit. 랜드 프리피트와 워블 영교차 간의 위상차(도). 이 파라미터는 랜드 프리피트가 워블 신호의 하부에 확실히 위치되도록 하기 위해 측정된다.

LPPb

기록 전의 Land Pre Pit 레벨. 랜드 프리피트는 트랙 사이에 배치되어, 현재의 위치에 관한 정보를 획득한다. LPPb는 프리피트의 진폭이고, 기록 전에 워블 신호의 영교차(즉, 프리피트 신호의 강도)로부터 측정된다. 랜드 프리피트는 레코더에 대한 섹터 위치 및 정보(기록 전략 코드, 최적 기록 전력, 응용 코드 등)를 디코딩하기 위해 사용된다.

BLERb

기록 전의 Block Error Rate. 기록 전의 프리피트 신호의 에러량. 파라미터는 BLER 값을 결정하기 위해 측정된다. 저 BLER 값은, 구동부가 정확한 위치를 찾을 수 있도록 한다. 1000 ECC 블록(대략 24 초)을 통해 실행 윈도로서 측정된다. BLER은 항상 1000 ECC 블록이 존재하는 것처럼 표준화된다. 이것은 값이 제 1의 1000 ECC 블록(첫번째 24 초) 동안에 무효(즉, 너무 낮은 값)인 것을 의미하고, 초기 단계에서 문제를 검출할 수 있게 하는데만 이용 가능하다.

Focus Error,(A+D)-(B+C)

FEb, FEa

Focus Error. 10 kHz 이하의 잔여 수직 에러의 측정. 파라미터는 기록 전후에 측정된다.

Tangential Push Pull,(A+C)-(B+D)

TPP

Tangential Push Pull (플레이의 푸시 풀). (트랙을 따른) 접선 방향의 Push Pull. 광학에 의해 알 수 있는 바와 같이, 앞 및 뒤 피트 에지의 광 선명도의 측정.

2) Off-track 모드에서의 신호 파라미터

HF 파라미터,(A+B+C+D)

TCSb, TCSa

Track Crossing Signal. 10 kHz 이하의 주파수 범위 내에서 트랙을 교차할 시에 전체 강도가 얼마나 많이 변화하는 지를 나타낸다. 파라미터는 기록 전후에 측정된다.

Radial Push Pull (A+B)-(C+D)

PPb, PPa

기록 전후의 Push Pull. RPP 신호의 피크 대 피크값은 기록 전후에 트랙 교차를 통해 측정된다. 파라미터는 트랙 신호가 트랙하기에 충분한 지를 결정한다. 어떤 트랙 특징을 확실하게 하기 위해, 신호는 지정된 한계치 내에 유지되어야 한다.

Differential Phase Detection, phase(A+D)-phase(B+C)

DPD Amp

DPD Amplitude. Differential Phase Detection Amplitude. 기록되거나 프리마스터된 광 디스크의 트랙 특징을 나타내는 30 kHz 이하의 신호. 어떤 트랙 특징을 확실하게 하기 위해, 신호는 지정된 한계치 내에 유지되어야 한다.

DPD Asym

DPD Asymmetry. Differential Phase Detection Asymmetry. 파라미터는 원하지 않는 트랙 오프셋을 유발시키는 DPD 트랙 신호의 비대칭을 나타낸다.

Claims

다수의 동심 트랙(3)을 형성하는 나선형 또는 고리형 패턴(2)의 형식으로 광학적으로 판독 가능한 정보를 기억하는 타입의 광 디스크(1)를 품질 테스트하는 방법에 있어서,

상기 디스크(1)의 판독 장치를 가진 디스크 플레이어에 의해 상이한 동작 모드에서 상기 디스크(1)를 광학적으로 판독하기 위해 회전식으로 상기 디스크(1)를 설정하는 단계를 포함하며,

상기 디스크(1)의 품질 테스트를 위해서는,

1) 상기 나선형 또는 고리형 패턴(2)의 하나 이상의 제 1 트랙을, Tracked 품질 파라미터를 결정하기 위한 상기 판독 장치의 Tracked 동작 모드에서 적어도 부분적으로 판독하는 단계 및,

2) 상기 디스크의 라디얼 방향에서 립(leap)을 실행함과 동시에, Off-Track 품질 파마미터를 결정하기 위해 상기 립 중에 Off-track 측정 동작 모드에서 상기 디스크(1)를 분석하는 단계를 간헐적으로 번갈아 실행시키는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 단계 1) 및 2)는 광 디스크(1)의 전체 품질이 디스크(1)의 가장 내부 트랙에서 디스크(1)의 가장 외부로 개시하거나 그 역으로 개시하여 테스트될 때까 지 반복되는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,

판독 중에 상기 판독 장치(21, 14)로부터 직접 유도된 신호 (P)로부터 현재의 동작 모드를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
제 3 항에 있어서,

상기 현재의 동작 모드를 결정하기 위해 상기 신호 (P)의 신호 진폭을 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
제 4 항에 있어서,

상기 신호 진폭이 상기 신호의 미리 정해진 임계치 미만인 경우에는 현재의 동작 모드가 Tracked 동작 모드임을 결정하는 단계 및,

상기 신호 진폭이 상기 미리 정해진 임계치를 초과하는 경우에는 현재의 동작 모드가 Off-track 동작 모드임을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 신호는 라디얼 에러 신호 (PP)인 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
전술한 항 중 어느 한 항에 있어서,

통계적으로 충분한 량의 데이터가 단계 1)에서 미리 정해진 품질 레벨 동안 Tracked 모드에서 측정될 시에 단계 2)에서 상기 립을 실행하기 위해 디스크 플레이어에 명령하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
제 1 항 내지 제 6 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 립은, 상기 품질 테스트 동안에 검출될 수 있는 상기 디스크(1) 내 또는 상의 최소 결함의 사전 정해진 사이즈를 초과하지 않는 상기 디스크(1)의 라디얼 거리 이상으로 실행되는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
전술한 항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 립은 상기 디스크 상의 상기 제 1 트랙에 인접한 하나 이상의 제 2 트랙을 통해 실행되는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
프로세서(41)와 결합된 내부 메모리(45) 내에 직접 적재 가능한 컴퓨터 프로그램 제품을 실시한 컴퓨터 판독 가능한 매체로서,

상기 프로세서는 광 판독 장치(21) 및, 디스크(1)의 표면의 적어도 일부를 통해 광 판독 장치(21)를 반경 방향으로 이동하도록 구성된 구동 메카니즘(22)에 유기적으로 결합되고, 상기 디스크는, 측정 신호를 발생시키도록, 다수의 동심 트랙(3)을 형성하는 나선형 또는 고리형 패턴(2)의 형식으로 광학적으로 판독 가능한 정보를 기억하는 타입의 디스크이며,

상기 컴퓨터 프로그램은 상기 프로세서에 의해 실행될 시에 제 1 항에 따른 발명을 실행하는 코드 세그먼트를 포함하며, 상기 코드 세그먼트는,

상기 디스크(1)의 판독 장치를 가진 디스크 플레이어에 의해 상이한 동작 모드에서 상기 디스크(1)를 광학적으로 판독하기 위해 회전식으로 상기 디스크(1)를 설정하는 제 1 코드 세그먼트를 포함하며,

상기 디스크(1)의 품질 테스트를 위해서는,

1) 상기 나선형 또는 고리형 패턴(2)의 하나 이상의 제 1 트랙을, Tracked 품질 파라미터를 결정하기 위한 상기 판독 장치의 Tracked 동작 모드에서 적어도 부분적으로 판독하고,

2) 상기 디스크의 라디얼 방향에서 립을 실행함과 동시에, Off-Track 품질 파마미터를 결정하기 위해 상기 립 중에 Off-track 측정 동작 모드에서 상기 디스크(1)를 분석하는 제 2 및 3 코드 세그먼트를 간헐적으로 번갈아 생성시키는 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능한 매체.
다수의 동심 트랙(3)을 형성하는 나선형 또는 고리형 패턴(2)의 형식으로 광학적으로 판독 가능한 정보를 기억하는 타입의 광 디스크(1)를 품질 테스트하는 방 법에 있어서,

상기 광 디스크(1)의 판독 중에 상기 판독 장치로부터 직접 유도된 신호로부터 현재의 동작 모드를 결정하는 단계를 포함하는데,

상기 신호의 진폭이 미리 정해진 임계치 미만인 경우에는 현재의 동작 모드가 Tracked 동작 모드인 것으로 결정되고,

상기 신호 진폭이 상기 미리 정해진 임계치를 초과하는 경우에는 현재의 동작 모드가 Off-track 동작 모드인 것으로 결정되는 것을 특징으로 하는 광 디스크의 품질 테스트 방법.
제 1 항 내지 제 11 항의 방법을 실행하기 위해 본질적으로 공지된 디스크 플레이어의 용도.