JPH11316952A - 光ディスクの品質検査装置及びその品質検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 製造工程上に取り付けられ、ディスクの品質
を効果的に検査し得る光ディスクの品質検査装置及びそ
の方法を提供しようとする。 【解決手段】 第１、第２及び第３スピンドル122 ，12
3 及び124 と、光ディスクを移動させるディスク移動手
段121 と、光ピックアップ121bと、テスト信号を算出す
るために光ディスクのメイン情報貯蔵領域の外方側に位
置する外郭領域でテストデータを再生するように前記光
ピックアップ121bを制御し、再生されたテスト信号によ
り前記光ディスクの品質を判断し、判断された品質によ
り前記第１、第２及び第３スピンドル122 ，123 及び12
4 中のいずれか一つに前記光ディスクを移動させるよう
に前記ディスク移動手段を制御するコントローラ120a
と、を備えて光ディスクの品質検査装置を構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ディスクの品質検
査装置に係るもので、詳しくは、製造工程上に取り付け
られて、ディスクの品質を効果的に検査し得る光ディス
ク（光ディスクを「光ディスク媒体」とよぶこともあ
る）の品質検査装置及びその方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】現在、記録媒体は、マグネチックディス
クと、該マグネチックディスクに比べて膨大な量の情報
を貯蔵し得る光ディスクに大別され、該光ディスクとし
ては、CDのようなプリレコード(Pre−recorded) 形のデ
ィスク、及びCD−R （CD-Recordable ）、 DVD−R のよ
うな１回だけ書き込み可能なライト・ワンス（ Write−
Once）形のディスク、並びにCD−RW、 DVD−RAM のよう
な再書き込み可能な（Rewritable）ディスク媒体に区別
することができる。

【０００３】このような従来のプリデコード形の光ディ
スクの一例として、図22の（Ａ）は、半径L1が60mmで、
中心ホールL2の直径が15mmの光ディスクを示している。
図中、貯蔵領域（Recording area）は、プログラム領域
であるMSA と外郭領域（Outer area）により構成され、
更に、前記貯蔵領域は、リードイン（Lead−in）開始点
BLI 、メイン貯蔵領域開始点BPL 及びリードアウト（Le
ad−out ）開始点BLO を包含している。

【０００４】そして、ライト・ワンス形のディスクであ
るCD−R ディスクにおいては、図22（Ｂ）に示したよう
に、メイン貯蔵領域MSA 及び外郭領域により貯蔵領域が
構成され、更に、前記メイン貯蔵領域MSA 内にリードイ
ン領域及びリードアウト領域が包含されている。このよ
うに構成された従来CD−R ディスクの製造過程において
は、図23の（Ａ）、（Ｂ）に示したように、先ず、スタ
ンパ（Stamper ）により射出及び成形してプリーグルー
ブ（Pre-groove）されたポリカーボネート（Polycarbon
ate ）基板を形成し、該プリーグルーブされたポリカー
ボネート基板にスピンコーティング工程（Spin Coatin
g Process ）を施してCD−R ディスクを製造する。この
とき、前記スピンコーディング工程は、図23（Ａ）に示
したように、プリーグルーブされたポリカーボネート基
板を約3000rpm で回転させながらディスクをコーティン
グする工程であって、ディスクの内側面に塗布液を滴下
させ、該塗布液が遠心力により外方側に広がっていく原
理を利用している。

【０００５】従って、前記スピンコーティング工程を施
してポリビニルにより先ず記録層を形成し、その上面に
アルミニウムAlにより反射層を形成した後、UV樹脂（紫
外線硬化樹脂）により保護層を形成し、最後に印刷層
（Labeling layer）を形成する。その結果、図23の
（Ｂ）に示したような断面を有するCD−R ディスクが製
造され、保護層の形成が終了したCD−R ディスクはスピ
ンドルに積層されて品質検査装置に移動されるようにな
っていた。

【０００６】しかし、図23の（Ａ）に示したように、ス
ピンコーティング工程により光ディスクを製造する場
合、各層の厚さは外方側に行くほど薄くなるため、記録
層に情報を記録／再生するとき、記録層の非均質性（No
nuniformity ）により発生されるエラー確率も外方側に
行くほど高くなる。従って、従来の光ディスクにおいて
は、記録層の全体直径120mm の内、メイン貯蔵領域MSA
（118mm ）までに情報を貯蔵しており、その外方側の外
郭領域（118mm 以後）には情報を記録しなかった。

【０００７】そして、従来ディスクの品質検査方法とし
ては、視覚（Visual）検査方法及び反射率検査方法が行
われ、それらの検査方法について説明すると、以下のよ
うであった。先ず、前記視覚検査装置の一例としてKoch
社製の視覚検査装置においては、図24に示したように、
全般的制御動作を行うコントローラ10と、メイン貯蔵領
域またはリードイン領域に（または、リードイン領域か
ら）テスト信号を記録（または再生）する複数個のドラ
イブ11−14と、それらドライブ11−14から再生されたテ
スト信号の特性を分析するテスト信号処理部15と、該テ
スト信号処理部15により分析された各種特性と基準信号
とを比較してディスクの品質を判断する測定システム16
と、を備えて構成されている。このとき、ディスクは同
じスタンパ（Stamper ）により同様の条件で射出成形さ
れて製造されたものと仮定し、前記各ドライブ11−14
は、測定器製造社毎にやや相異するが、通常４台からな
るものと仮定する。

【０００８】そして、前記テスト信号処理部15は、中央
処理装置（CPU ）15a 及び前記各ドライブ11−14にそれ
ぞれ対応するディジタル信号処理器（以下、DSP と略称
する）15ｂ−15e により構成され、それらDSP1−4 （15
ｂ−15e ）は再生された各テスト信号からそれぞれ所定
特性だけを分析し、例えば、DSP1（15b ）は高周波信号
HF及びジッタ（Jitter）を分析し、DSP2（15c ）はサー
ボ信号及びフォーカシング信号を分析し、DSP3（15d ）
は機械的（Mechanical）特性を分析し、DSP4（15e ）は
光学（Optical ）特性を分析する。

【０００９】このように構成された従来ディスクの視覚
検査装置の動作は以下のようであった。先ず、ディスク
の製造工程が終了すると、サンプリングされたディスク
はコントローラ10の制御により各ドライブ11−14に装着
され、それらドライブ11−14は前記コントローラ10の制
御によりディスクのリードイン領域またはメイン貯蔵領
域にテスト信号を記録または再生する。

【００１０】次いで、DSP1−4 （15b −15e ）は前記各
ドライブ11−14により再生されたテスト信号の入力をそ
れぞれ受け、CPU15aの制御により高周波信号HF、ジッ
タ、サーボ信号、フォーカシング信号、機械的特性及び
光学特性を分析する。このとき、ディスクを評価するた
めに使用される各測定要素としては、複屈折、反射率及
び透過率などの光学特性、ブロック当たり発生するエラ
ー率及びラジカル（Radical)ノイズ、ジッタ等が包含さ
れている。

【００１１】次いで、測定システム16は前記各DSP1−4
（15ｂ−15e ）により分析された高周波信号HF、サーボ
信号、ジッタ、フォーカシング信号、機械的特性及び光
学特性と、既に貯蔵された基準信号と、を比較してディ
スクの品質を判断する。以上のように、従来ディスクの
視覚検査方法は、ディスクのリードイン領域またはメイ
ン貯蔵領域にテスト信号を記録する過程と、該記録され
たテスト信号を再生する過程と、再生されたテスト信号
を基準信号と比較して品質を決定する過程と、を順次行
うようになっていた。このとき、サンプリングされたデ
ィスクの枚数とディスクの品質検査の正確性とは比例関
係であった。

【００１２】また、従来ディスクの反射率検査方法は、
レーザーダイオードLDから放出される光を複数本に分け
てディスクに透過させ、該ディスクの反射層から反射さ
れる複数本の光を複数個の光検出器により検出して欠点
を見つける。このとき、欠点の発生要因としては、成形
不良、製造過程上の異物質付着、スパッタリング（Sput
tering）工程及びスピンコーティング工程時に発生する
層の不均一性などがある。

【００１３】更に、光ディスク媒体に行われる他の品質
検査として、例えば、光ディスクの全体表面をレーザー
ビームによりスキャニング（Scanning）した後、CCD カ
メラによりモニターリングしてディスプレーし、ディス
プレー装置を利用して光ディスクの表面を視覚的に検査
する方法がある。また、その他の検査としては、プッシ
ュプル（push／pull）、クロストーク、リードイン開始
点（BLI ）、メイン貯蔵領域開始点BPL 及びリードアウ
ト開始点BLO の位置を検査することである。それらの検
査により、リードイン開始点BLI、メイン貯蔵領域開始
点BPL 、リードアウト開始点BLO 、トラック及びインデ
ックス開始点、検査速度、トラックピッチ、バウ（bow
）屈折、ワープ（Warp）反射、光ディスクの厚さ、角
反射、垂直反射、光ディスクの半径及び光ディスクの中
央ホールの直径などのような機械的特性がチェックされ
る。付加的に、ラジアル（radial）ノイズ、フォーカル
（focal ）ノイズ、トラッキング信号のプッシュプル、
データキャリアアナログ及びデータキャリアディジタル
等のような信号特性もチェックされる。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】然るに、このような従
来ディスクの品質検査、特に、視覚（Visual）検査方法
においては、製造された全てのディスクを検査すること
ができず、例えば、CD−R ディスクのようなライト・ワ
ンス形のディスクは、特性上、一旦テスト信号が記録さ
れると再使用が不可能になるため製品としての価値を失
ってしまい、製造者は製造コストを低減するために所定
量のディスクをサンプリングして検査を行うようになっ
ていた。

【００１５】ところが、サンプリングされた光ディスク
の品質をテストした結果が優良であったからといって、
サンプリングされてない光ディスク全体の品質も優良で
あるとは断言できない。従って、従来の視覚検査は全て
のCD−R ディスクに適用することができないため、ディ
スク品質検査の正確性及び信頼性が低下し、更に、CD−
R ディスクの場合は、品質検査の後、廃棄処分されるた
め、廃棄された分量だけ製造費用の損失が発生するとい
う不都合な点があった。

【００１６】且つ、従来のディスクの反射率検査方法に
おいては、検査の正確性は分割された光の数、即ち、光
検出器の数に依存しており、光検出器の数を増やすこと
は光検出器のサイズを縮小させることを意味するが、現
在の技術では光検出器のサイズを縮小させるには限界が
ある。従って、従来の反射率検査ではディスクの大きな
欠点だけを見つけることが可能で、微細な欠点を検出す
ることはできないという不都合な点があった。

【００１７】本発明は、このような従来の課題に鑑みて
なされたもので、光ディスクの品質検査の信頼性を高
め、製造費用を低減し得る光ディスクの品質検査装置及
びその方法を提供することを目的とする。本発明の他の
目的は、光ディスクの製造工程に取り付けられ、自動的
にディスクの品質検査を遂行し得る光ディスクの品質検
査装置及びその方法を提供することである。

【００１８】本発明のその他の目的は、短時間内に光デ
ィスクの外郭領域にテストデータを記録及び再生して、
ディスクの品質判断を行い、更に判断されたディスクを
分類し得る光ディスクの品質検査装置及びその方法を提
供することである。

【００１９】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るため、本発明に係る光ディスク媒体の品質検査方法に
おいては、テスト信号を出力するために、光ディスクの
メイン情報貯蔵領域の外方側に位置する外郭領域でテス
トデータを再生する段階と、再生されたテスト信号によ
り上記光ディスクの品質を判断する段階と、判断された
品質により、各品質等級に対応する少なくとも２つのス
ピンドル中のいずれか一つに光ディスクを移動させる段
階と、を順次行うようになっている。

【００２０】そして、上記のような目的を達成するた
め、本発明に係る光ディスク媒体の品質検査装置におい
ては、少なくとも第１，第２スピンドルと、光ディスク
を移動させるディスク移動手段と、光ピックアップと、
テスト信号を算出するために光ディスクのメイン情報貯
蔵領域の外方側に位置する外郭領域でテストデータを再
生するように前記光ピックアップを制御し、再生された
テスト信号により前記光ディスクの品質を判断し、判断
された品質により前記第１及び第２スピンドル中のいず
れか一つに光ディスクを移動させるようにディスク移動
手段を制御する制御手段と、を備えて構成されている。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に対
し、図面を用いて説明する。光ディスクの品質検査装置の第１実施例 本発明に係る光ディスクの品質検査装置の１実施形態に
おいては、図４に示したように、光ディスク31−1 を支
持するトレー31−2 と、前記光ディスク31−1をクラン
ピングするクランプ31−3 と、前記光ディスク31−1 を
回転させるスピンドルモータ31−4 と、からなる駆動部
31と；スライドモータ32−1 と、前記光ディスク31−1
に情報を記録／判読するピックアップ32−2 と、からな
るピックアップ部32と；を備えて構成され、ここで、前
記スライドモータ32−1 は光ディスク31−1 の中心方向
に前記ピックアップ32−2 を移動させる。そして、コン
トローラ36は使用者入力信号及び前記ピックアップ部32
からのフォーカスエラー及びトラッキングエラー信号に
より、サーボ37を経由してスピンドルモータ31−4及び
スライドモータ32−1 の動作を制御する。

【００２２】即ち、使用者がテストデータを光ディスク
31−1 に記録するように指示すると、前記コントローラ
36は前記光ディスクに記録するべきテストデータを前記
ピックアップ部32に提供し、テストデータの記録を制御
する。また、使用者が光ディスク31−1 の品質テストを
行うように指示すると、前記コントローラ36は前記光デ
ィスク31−1 に記録されたテストデータを再生するため
に前記ピックアップ部32を制御し、その結果、該ピック
アップ部32から出力された再生信号はRF増幅器（高周波
増幅器）33及び前記コントローラ36に提供され、前記ピ
ックアップ部32から出力されたフォーカスエラー及びト
ラッキングエラー信号は前記コントローラ36に提供され
る。それらフォーカスエラー、トラッキングエラー信号
及び再生信号により、前記コントローラ36はサーボ37を
介してスライドモータ32−1 及びスピンドルモータ31−
4 を制御する。

【００２３】次いで、前記RF増幅器33は、前記ピックア
ップ部32から出力された再生信号を処理して比較器35に
出力すると共に、MPEG処理のために外部にも出力する。
前記比較器35は、処理された再生信号と、メモリ34に既
に貯蔵された所定データと、を比較し、その比較結果を
前記コントローラ36に出力する。よって、前記コントロ
ーラ36は該比較結果により光ディスク31−1 の品質を判
断し、もし、光ディスク31−1 が不良である場合は、表
示器38を駆動させて該光ディスク31−1 の品質状態を使
用者に表示させる。

【００２４】光ディスクの品質検査装置の第１実施形態
の動作 以下、上記のように構成された本発明に係る光ディスク
の品質検査装置の第１実施形態の動作に対し、図１〜図
７に基づいて説明する。図１の（Ａ）、（Ｂ）に示した
ように、本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第１
実施形態は、テストデータSTP を光ディスク、例えば、
プリレコード形の光ディスク（図１の（Ａ））及びライ
ト・ワンス形の光ディスク（図１の（Ｂ））の外郭領域
に記録する。更に、該テストデータの記録動作について
図５〜図７に基づいて説明する。

【００２５】テストデータの記録方法 図５は、光ディスク、例えば、プリレコード形の光ディ
スクにテストデータSTP を記録する方法を示したフロー
チャートである。先ず、光ピックアップ部32はコントロ
ーラ36の制御により光ディスクからTOC（table of cont
ents ）データをリードする（S10 ）。ここで、光ディ
スクの中心付近に記録された前記TOC データは、例え
ば、プリレコード形の光ディスクにおけるメイン貯蔵領
域のリードイン開始点、メイン貯蔵領域及びメイン貯蔵
領域のリードアウト開始点の位置を表示する。

【００２６】次いで、前記ピックアップ部32からTOC デ
ータを受けて前記コントローラ36は使用者がテストデー
タ記録モードを選択したかを判断する（S20 ）。もし、
テストデータ記録モードが選択されてないと、前記コン
トローラ36は処理動作を終了するが、一方、テストデー
タ記録モードが選択されていると、更に、使用者が内方
側から外方側への（in−to−out ）記録モードを選択し
たかをチェックし（S30 ）、この内方側から外方側への
記録モードが選択されていると、前記コントローラ36は
公知された方法によりピックアップ32−2 の現在位置を
決定し、TOC データによりメイン貯蔵領域のリードアウ
ト開始点BLO の位置を決定する（S40 ）。

【００２７】次いで、前記コントローラ36は検出された
前記ピックアップ32−2 の現在の位置及び決定されたメ
イン貯蔵領域のリードアウト開始点BLO に基づいて前記
ピックアップ32−2 をメイン貯蔵領域のリードアウトに
移動させる（S50 ）。よって、図６（Ａ）に示したよう
に、前記ピックアップ部32は前記コントローラ36の制御
により、テストデータSTP を、内方側から外方側への記
録モードのタイプに従って前記光ディスク31−1 に記録
する。

【００２８】このとき、前記テストデータSTP は、所定
のピット（Pit ）パターン、所定のビット（bit ）パタ
ーン及び良く知られている音楽のような所定信号であっ
て、使用者により提供されたものであるか、または前記
コントローラ36により貯蔵された所定データである。次
いで、図６の（Ａ）に示したように、前記コントローラ
36は光ディスク31−1 をトラッキングすると共に、半径
の内方側から外方側に移動しながらリードイン領域にテ
ストデータを記録するように前記ピックアップ32−2 を
制御する。即ち、前記コントローラ36はテストデータを
記録する間、スライドモータ32−1 及びサーボ37を介し
て光ディスクの半径の外方側に前記ピックアップ32−3
を移動させる。

【００２９】また、図６の（Ａ）に示したように、前記
コントローラ36の制御により、前記ピックアップ部32は
メイン貯蔵領域のリードアウトとテストデータSTP のリ
ードイン間にダンパ（damper）領域を形成するために、
前記メイン貯蔵領域のリードアウトから所定距離離れた
リードイン領域にてテストデータの記録動作が開始され
るように前記ピックアップ32−2 を制御する。

【００３０】次いで、前記テストデータの記録が終了さ
れると、前記コントローラ36はテストデータ及びリード
インの位置を表示するために、光ディスクにあるTOC デ
ータを更新する（S70 ）。反面、前記段階（S30 ）で、
内方側から外方側への記録モードが選択されてないと、
コントローラ36は使用者が外方側から内方側への（ out
−to−in）記録モードを選択したかをチェックし（S80
）、外方側から内方側への記録モードが選択されてな
いと、前記段階（S30 ）に復帰する。

【００３１】しかし、外方側から内方側への記録モード
が選択されていると、前記コントローラ36は前記ピック
アップ32−2 の現在位置を検出し、TOC データから記録
領域の最終位置を検出した後、前記ピックアップ32−2
を記録領域の最終位置に移動させる（S90 ，S100）。次
いで、前記ピックアップ部32は前記コントローラ36の制
御により、図６の（Ｂ）に示したような外方側から内方
側への記録方式により光ディスクにテストデータを記録
する。即ち、図６の（Ｂ）に示したように、テストデー
タSTP は記録領域の最終位置から半径方向に光ディスク
の中心側に向かって記録されるので、前記テストデータ
STP のためのリードイン領域が記録された後、前記テス
トデータSTP が記録され、最後にテストデータSTP のた
めのリードアウトが記録される（S110）。

【００３２】このとき、前記テストデータSTP のリード
アウトはメイン貯蔵領域のリードアウトが開始される前
に充分に記録され、例えば、メイン貯蔵領域のリードア
ウトとテストデータSTP のリードアウト間にダンパ領域
を残留させるように記録される。光ディスクの外郭から
中心側に向かってテストデータを記録する場合、前記コ
ントローラ36は光ディスクをトラッキングさせながら前
記ピックアップ32−2の中心に向かって半径に光ディス
クを移動させる。

【００３３】次いで、テストデータの記録動作が終了す
ると、前記コントローラ36はテストデータの位置、テス
トデータのリードイン及びリードアウトを表示するため
に、光ディスクのTOC データを更新させる（S70 ）。品質検査方法 以下、本発明に係る光ディスクの品質検査装置の品質検
査方法について、図面を用いて説明する。

【００３４】先ず、図４のコントローラ36はピックアッ
プ部32を制御して光ディスク31−1のTOC データを再生
及び出力し（S200）、使用者が品質検査を要請している
かを判断する（S220）。この判断結果として、使用者か
ら品質検査の要請が入力されてないと、前記コントロー
ラ36は処理過程を終了するが、一方、使用者から品質検
査の要請が入力されていると、公知された方法によりピ
ックアップ32−2 の現在の位置を検出する（S230）。

【００３５】次いで、前記コントローラ36はTOC データ
に表れたテストデータのリードイン位置と、前記検出さ
れたピックアップ32−2 の現在位置と、により、前記ピ
ックアップ32−2 をテストデータのリードインに移動さ
せる（S240）。このとき、前記TOC データは、前記テス
トデータのリードイン位置を表すだけではなく、テスト
データが半径方向に内方側から外方側への記録方式にて
記録されたか、または半径方向に外方側から内方側への
記録方式にて記録されたかを表す。このような決定によ
り、前記コントローラ36は前記ピックアップ32−2 がテ
ストデータを再生できるように制御する（S250）。

【００３６】ここで、前記テストデータは、図２の
（Ａ）に示したように、プリレコード形の光ディスクの
ために順次再生されるか、または、図２の（Ｂ）に示し
たように、ライト・ワンス形の光ディスクのために順次
再生されることができる。且つ、前記テストデータは、
図２の（Ｃ）に示したように、プリレコード形の光ディ
スクのために所定間隔に再生されるか、または、図２の
（Ｄ）に示したように、ライト・ワンス形の光ディスク
のために所定間隔に再生されることができる。付加的
に、前記テストデータの所定選択部分は、図３の（Ａ）
に示したように、プリレコード形の光ディスクのために
再生されるか、または、図３の（Ｂ）に示したように、
ライト・ワンス形の光ディスクのために再生されること
ができる。

【００３７】次いで、上記のように再生されたテストデ
ータはRF増幅器33により処理されて比較器35に出力さ
れ、該比較器35は前記コントローラ36の制御により、テ
ストデータをメモリ34に貯蔵された所定データと比較す
る。よって、前記コントローラ36は前記比較器35の比較
結果により光ディスク31−1 の品質を判断し（S260）、
該光ディスク31−1 が不良であるときは、表示器38を駆
動させて該光ディスク31−1 の不良を使用者に知らせる
（S270，S280）。このとき、前記比較器35及びコントロ
ーラ36により一つまたは幾つかの品質検査動作が結合さ
れ、このような検査としては、ピットパターン検査、ビ
ットパターン検査及びアナログ信号検査等が包含されて
おり、以下、それらの検査方法について説明する。

【００３８】 ピットパターン検査 CD及びDVD （Digital Video Disk or Digital Versatil
e Disk）の最小のビットパターンは3Tで、CDの最大ビッ
トパターンは11T で、DVD の最大ビットパターンは14T
である。ここで、3T、11T 、14T 等は、所定のビットパ
ターンに対応するピット長さである。

【００３９】図８の（Ａ）は、RF増幅器33の出力信号と
光ディスク31−1 におけるテストデータを表すピットと
の関係を示した図で、図示されたように、RF増幅器33の
出力信号は、例えば、ピットの開始点ではロー状態から
ハイ状態に遷移し、ピットの長さ間はハイ状態を維持し
て、ピットの終了点ではハイ状態からロー状態に遷移す
る。前記RF増幅器33の出力信号の遷移は“１”のビット
値を表すが、前記RF増幅器33の出力信号がハイ状態を維
持する時間の長さは、多数の“０”ビット値を表す。3T
ピットはビットストリーム1001を示し、3Tピットよりも
長い4Tピットはビットパターン10001 を示している。よ
って、ビットパターンが3Tから順次的に11T または14T
に増加すると、０の個数も増加する。

【００４０】前記ピットパターン方法を利用して品質検
査を遂行するとき、テストデータとしては同様のピット
パターンが反復して記録される。好ましい実施例とし
て、前記記録されたピットパターンは3Tピットパターン
を使用し、その理由は、3Tピットパターンは最も小さい
パターンであるため、エラーが一層多く検出されるから
である。

【００４１】前記比較器35は、図８の（Ａ）に示された
RF増幅器33のピットパターン信号とメモリ34に既貯蔵さ
れた基準信号とを比較する。ここで、前記基準信号は、
光ディスクに記録されたピットパターンを表し、該基準
信号とマッチングされる一つのピットを表すピットパタ
ーン信号の各位置（portion ）は認識データに該当す
る。例えば、3Tピットパターンが使用される場合、各認
識されたピットは認識されたデータの４ビットを表す。
前記比較器35は認識されたテストデータの全体量を決定
した後、該認識された全体テストデータを前記メモリ34
に貯蔵された所定の認識されたデータ臨界値（threshol
d ）と比較する。前記メモリ34は、図２及び図３に示さ
れた各再生方法と関連する認識データ臨界値を貯蔵する
（例えば、順次的に、周期的に、或いは選択位置に）。
従って、再生モード（順次、周期及び選択位置）により
相異する認識データ臨界値が選択される。よって、前記
比較器35は前記選択された臨界値を使用して比較動作を
行い、比較結果をコントローラ36に出力する。このと
き、もし、認識されたデータの量が認識された臨界値よ
りも大きいと、前記コントローラ36は光ディスクが優良
であると判断するが（S260）、大きくないと、前記コン
トローラ36は光ディスクが不良であると判断する（S26
0）。

【００４２】 ビットパターン検査 ピットパターン検査の代わりに、或いはピットパターン
検査に付加して、ビットパターン検査を光ディスク31−
1 の品質判断に使用することもできる。ビットパターン
検査において、ピットパターン信号はビットストリーム
に変換される。即ち、各ピットはそれ自体の典型的ビッ
トに変換され、該ビットパターンは前記比較器35により
メモリ34に既に貯蔵されたビットパターンの基準値（re
ferenceversion ）と比較される。

【００４３】しかし、前記ピットパターン検査とは異な
って、ビットパターン検査においてはテストデータとし
て同様のピットパターンを光ディスク31−1 に反復して
記録する必要がなく、所定のピット配列であってもテス
トデータとして光ディスク31−1 に記録することができ
る。尚、前記メモリ34に貯蔵された基準ビットパターン
は光ディスク31−1 に記録されたピットパターンに対応
する。

【００４４】次いで、前記比較器35は、ピットパターン
信号から検出されたビットパターンを１ピットずつ（ P
it−by−Pit ）基準ビットパターンと比較する。即ち、
１つのピットに対応する各ビットグループは、基準ビッ
トパターンの該当のビットグループと比較される。も
し、両グループがマッチングされると、そのマッチング
ビットは認識されたものとみなされる。

【００４５】次いで、前記比較器35は認識されたデータ
の全体量を加算した後、該加算された全体データを前記
メモリ34に既に貯蔵された所定の認識されたデータ臨界
値（threshold ）と比較し、その比較結果をコントロー
ラ36に出力する。このとき、前記ピットパターン検査と
同様に、前記メモリ34は、再生の順次、周期及び選択さ
れた位置モードに関連する認識データ臨界値を貯蔵す
る。従って、認識されたデータ臨界値は再生モード（順
次、周期及び選択位置）に依存する。

【００４６】次いで、前記コントローラ36は認識された
データの全体量が認識された臨界値よりも大きいと、光
ディスクが優良であると判断するが、大きくないと、光
ディスクが不良であると判断する。 アナログ信号検査 前記ピットパターン検査及びビットパターン検査の両方
に加えて、またはそのいずれか一つの代わりに、アナロ
グ信号テストを光ディスク31−1 の品質検査に使用する
こともできる。このアナログ信号検査において、前記ピ
ットパターン信号から抽出されたビットパターンは、図
８の（Ｂ）に示されたようなアナログ信号を得るため
に、比較器35によりディジタル信号からアナログ信号に
変換される。且つ、前記比較器35は変換されたアナログ
信号に対して、大きさ（amplitude）及び／または周波
数検査を行う。

【００４７】先ず、前記大きさ検査により、前記比較器
35はアナログ信号の大きさを、図８の（Ｂ）のATH 及び
−ATH と表示された大きさ臨界値範囲と比較し、一方、
前記周波数検査により、前記比較器35は同図のt1，t2の
ようなゼロクロスオーバーポイントを各ゼロクロスオー
バーポイントに対応する所定時間の臨界値と比較する。
具体的には、前記光ディスク31−1 に記録されたテスト
データは既に決定されたものであるため、それらに対応
するアナログ信号が分かるから、ゼロクロスオーバーポ
イントが分かる。それらゼロクロスオーバーポイントの
実験的に決められたエラーマージンを考慮すると、再生
された各アナログ信号の各ゼロクロスオーバーポイント
に対する時間臨界値範囲が得られ、それらゼロクロスオ
ーバーポイントの時間臨界値範囲はメモリ34に貯蔵され
る。勿論、他の検査方法と同様に、使用される貯蔵時間
臨界値範囲は再生モード（順次、周期及び選択位置）に
依存する。

【００４８】以上のように、光ディスク31−1 の品質
は、大きさ検査、周波数検査、または大きさ及び周波数
検査に基づいて判断される。もし、アナログ信号の大き
さが臨界値範囲を超過すると、前記コントローラ36は前
記光ディスク31−1 が不良であると判断する。且つ、ア
ナログ信号のゼロクロスオーバーポイントが対応する時
間臨界値範囲外にあると、前記コントローラ36は前記光
ディスク31−1 が不良であると判断する。もし、前記コ
ントローラ36が大きさ検査、周波数検査、または大きさ
及び周波数検査に基づいて不良判断をしないと、前記コ
ントローラ36は光ディスク31−1 が優良であると判断す
る。

【００４９】次いで、図７の段階（S270）で、前記コン
トローラ36が前記光ディスク31−1を不良と判断する
と、処理工程は次の段階（S280）に移り、前記コントロ
ーラ36は表示器38を駆動させた後処理工程を終了する。
このような方式により、使用者は検査中の光ディスクが
不良光ディスクであることを認識する。もし、前記段階
（S270）で光ディスクが優良であると判断されると、処
理工程が終了される。

【００５０】上述したように、ピットパターン検査、ビ
ットパターン検査、大きさ検査及び周波数検査は、個別
的に、或いは、互いに関連して光ディスクの品質を決定
する。また、それらの検査に追加して、別途の機械的な
品質検査及び信号品質検査を実施することもできる。例
えば、光ディスクの全体表面はCCD カメラを利用して、
レーザービームにより表面をスキャニングしたものをモ
ニターリングすることによってディスプレーし、前記表
示装置を利用して視覚的に検査される。

【００５１】また、その他の検査として、プッシュプル
（push／pull）、クロストーク（crosstalk ）及びリー
ドイン開始点（BLI ）、メイン貯蔵領域開始点（BPL ）
及びリードアウト開始点（BLO ）のような位置検査など
が包含される。以上のような検査過程により、リードイ
ン開始点（BLI ）、メイン貯蔵領域開始点（BPL ）、リ
ードアウト開始点（BLO ）、トラック及びインデックス
開始点、検査速度、トラックピッチ、バウ（bow ）反
射、ワープ（warp）反射、光ディスクの厚さ、角反射、
垂直反射、ディスクの半径及び光ディスクの中心ホール
の直径などのような機械的特性数値がチェックされる。

【００５２】光ディスクの品質検査装置の第２実施例 本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第２実施形態
においては、図９に示したように、ドライブ装着部120
、ディスク移動手段121 及び第１〜第３スピンドル 12
2−124 を包含して構成されている。そして、前記ドラ
イブ装着部120 は、制御動作及び光ディスクの品質判別
動作を遂行するコントローラ120aと、光ディスクの外郭
領域にテストデータSTP を記録／再生する複数個のドラ
イブａ−ｈと、から構成されている。ここで、前記コン
トローラ120aは別途に外部に設置することが可能で、前
記各ドライブａ−ｄとドライブｅ−ｈは互いに対向して
設置される。表示器120bは前記コントローラ120aに選択
的に接続するか、或いは外部に設置されずに前記各ドラ
イブａ−ｈの一部として形成することもできる。

【００５３】且つ、前記ディスク移動手段121 は、モー
タM1（図11参照）により回転される円形シャフト121a
と、該円形シャフト121aに付着されて上下移動可能なピ
ックアップ121bと、により構成され、該ピックアップ12
1bはディスクを運搬するために少なくとも１つの吸着ホ
ール 121−５（図13参照）を包含して構成されている。
また、前記ピックアップ121bの下部にはディスクとの接
触を感知するタッチセンサー 121−８が設けられ（図11
参照）、更に、制御ホール121cが穿孔形成されている。

【００５４】また、前記第１−第３スピンドル 122−12
4 は、円周を沿って前記円形シャフト121aから同一距離
に設けられ、前記ピックアップ121bが前記第１−第３ス
ピンドル 122−124 に対して垂直下方に移動するとき、
それら第１−第３スピンドル122−124 は前記制御ホー
ル121cを介して延長される。ここで、前記第１スピンド
ル122 上には検査しようとする複数枚のディスクが積層
され、前記第２スピンドル123 には“優良”と判断され
た複数枚のディスクが積層され、前記第３スピンドル12
4 には“不良”と判断された複数枚のディスクが積層さ
れる。このとき、前記第１スピンドル122 に積層された
ディスクは保護層の処理が終了されたディスクである。
本発明では、少なくとも一つの第１スピンドル122 が提
供されるべきで、前記各スピンドルにはほぼ 150〜200
枚のディスクを積層することができる。

【００５５】更に、前記ドライブａにおいては、図10に
示したように、トレーに安着された光ディスクを回転さ
せるスピンドルモータ130 と、光ディスクの外郭領域に
STPデータを記録／再生する光ピックアップ131 と、該
光ピックアップ131 をウオッブリング（Wobbling）され
たプリーグルーブ（Pre-groove）を沿って移動させるそ
り（Sled）モータ132 と、システムのローディング動作
を遂行するローディングモータ133 と、前記スピンドル
モータ130 、Sledモータ132 及びローディングモータ13
3 をそれぞれ制御するサーボ制御装置134 と、外部コン
トローラ120aからテストデータSTP の入力を受けて駆動
信号を出力するライト制御ロジック135と、該ライト制
御ロジック135 から出力された駆動信号により、前記光
ピックアップ131 のレーザーダイオード（未図示）を駆
動させるレーザーダイオードドライバ136 と、前記光ピ
ックアップ131 により再生された信号を増幅させるRF増
幅器137 と、該RF増幅器137 の出力を復調及びエラー訂
正するディジタル信号処理部（Digital Signal Process
or：DSP ）138 と、該ディジタル信号処理部138 から出
力された再生テストデータを前記外部のコントローラ12
0aに出力するマイクロプロセッサ139 と、入力データを
エンコーディングまたはデコーディングし、ドライブの
内部と外部のコントローラ120aまたは周辺機器間のデー
タ送受信を遂行するインタフェース140 と、該インタフ
ェース140 に入出力されるデータを一時貯蔵するバッフ
ァ141 と、を備えて構成され、その他のドライブｂ−ｈ
も同様に構成されている。尚、前記各ドライブａ−ｈは
選択的に前記マイクロプロセッサ139 に連結された表示
器120bを包含して構成されている。

【００５６】光ディスクの品質検査装置の第２実施形態
の動作 このように構成された本発明に係る光ディスクの品質検
査装置の第２実施形態（第２実施例）の動作に対し、図
面を用いて説明する。先ず、光ディスクの製造工程を経
て保護層のコーティングが終了された光ディスクは、第
１スピンドル122 に順次積層される。その後、使用者イ
ンタフェース（未図示）を介して運用者から品質検査命
令が出ると、ディスク移動手段121 はドライブ装着部12
0 のコントローラ120aの制御により、前記第１スピンド
ル122に積層された光ディスクを取って前記ドライブ装
着部120 中の各ドライブａ−ｈの一つに装着させる。

【００５７】より詳細には、運用者から品質検査命令が
出ると、ディスク移動手段121 の円形シャフト121aはコ
ントローラ121aの制御により回転し、ピックアップ121b
の制御ホール121c（図11参照）の中央は第１スピンドル
122 の中央と対応する位置で停止する。即ち、前記第１
スピンドル122 に対するピックアップ121bの回転角は円
形シャフト121aの回転により制御される。

【００５８】そして、前記ピックアップ121bを回転させ
るためのディスク移動手段121 の一実施例においては、
図11に示したように、円形シャフト121aの中央シャフト
121−１は伝送ギヤ 121−２により駆動モータM1に接続
される。そして、該駆動モータM1の回転力は中央シャフ
ト 121−１に移動されるため、前記ピックアップ121bの
回転角は前記円形シャフト121aの回転力により制御さ
れ、このとき、該円形シャフト121aは前記中央シャフト
121−１により回転可能にベースボディー（basebody）
支持体（未図示）に支持される。

【００５９】ここで、前記円形シャフト121aの回転角の
制御は駆動モータM1の回転数の制御により行われ、該駆
動モータM1の回転数はエンコーダのような回転数検出装
置（未図示）の出力により制御される。前記ピックアッ
プ121bの回転角は前記円形シャフト121aにより制御さ
れ、前記ピックアップ121bは第１−第３スピンドル 122
−124 のいずれか一つのスピンドル上に位置する。

【００６０】且つ、前記ピックアップ121bを回転させる
ためのディスク移動手段121 の他の実施例においては、
前記駆動モータM1の駆動力が前記円形シャフト121aまた
は中央シャフト 121−１の外周面に直接伝送され、前記
駆動モータM1はベルトにより接続されるようになってい
る。次いで、前記第１スピンドル122 に対する前記ピッ
クアップ121bの位置制御が終了すると、該ピックアップ
121bは前記コントローラ121aの制御により前記第１スピ
ンドル122 が制御ホール121cを通過できるように下方側
に移動して、前記ピックアップ121bが光ディスクに接触
すると、前記ピックアップ121bの下部に装着されたタッ
チセンサー（未図示）は該ピックアップ121bと光ディス
クとの接触を検出して前記コントローラ121aに出力す
る。

【００６１】また、前記ピックアップ121bを垂直移動さ
せるためのディスク移動手段121 の１実施例において
は、図12に示したように、モータM2の制御により回転す
るウオーム（worm）ギヤ 121−３は円形シャフト121aの
内方側に装着され、歯型（tooth molding ）は前記ピッ
クアップ121bに接続されたアーム（Arm ） 121−４の一
側部に形成され、該アーム 121−４の歯型は前記ウオー
ムギヤ 121−３の外周面に形成された歯型に歯合されて
いる。 更に、前記ピックアップ121bを垂直移動させる
ためのディスク移動手段121 の他の実施例においては、
前記ピックアップ121bをラック（Rack）上に設置し、該
ラックを駆動させるピニオンをモータに連結させる構造
がある。よって、前記ピニオンの回転運動が前記ラック
の垂直運動に変換して前記ピックアップ121bが垂直移動
する。

【００６２】そして、前記ピックアップ121bを垂直移動
させるためのディスク移動手段121のその他の実施例に
おいては、円形シャフト121aの内部上端部及び下端部に
提供されたエンドレス（endless ）ベルトを包含して構
成されている。このとき、前記ピックアップ121bは前記
エンドレスベルトの中間部分に付着され、モータの回転
力が前記エンドレスベルトの駆動プーリ（pully ）に伝
達されて前記ピックアップ121bの垂直移動が可能にな
る。ここで、該ピックアップ121bの下面には吸着ホール
121−５が形成され（図13参照）、パイプ部材 121−６
を介して真空ポンプＰに連結される。

【００６３】よって、前記ピックアップ121bが光ディス
クと接触すると、コントローラ120aはタッチセンサー
（未図示）の感知信号により真空ポンプＰを駆動させ、
該真空ポンプＰが駆動されると、前記パイプ部材 121−
６に連結された吸着ホール 121−５に吸入力が発生して
目標の光ディスクが前記ピックアップ121bに吸着され
る。

【００６４】次いで、光ディスクが前記ピックアップ12
1bにより吸着されると、該ピックアップ121bは上述した
垂直運動により各ドライブａ−ｈに移動し、このとき、
前記ピックアップ121bが前記各ドライブａ−ｄ側に移動
するためには左側に回転した後垂直に移動し、前記各ド
ライブｅ−ｈ側に移動するためには右側に回転した後垂
直に移動する。

【００６５】次いで、前記ピックアップ121bが垂直運動
により前記各ドライブａ−ｈ中の該当のドライブに到達
すると、それらドライブａ−ｈの各トレーはコントロー
ラ120aの制御により開放される。このとき、前記コント
ローラ120aは真空ポンプＰの動作を停止させて前記ピッ
クアップ121bの吸着力を除去するため、光ディスクが前
記ピックアップ121bが位置するドライブのトレー上に装
着する。

【００６６】また、前記ピックアップ121bは垂直運動を
行った後、回転運動を行ってディスクを前記各ディスク
ドライブａ−ｈ上に位置させることも可能で、このと
き、それらディスクドライブａ−ｈの各トレーはディス
クの移動前に開放される。次いで、光ディスクが前記各
ドライブａ−ｈのいずれか一つに装着されると、それら
ドライブａ−ｈは前記コントローラ120aの制御により光
ディスクの外郭領域にテストデータを記録／再生し、前
記コントローラ120aは再生データと基準データとを比較
してディスクの品質を判別する。

【００６７】次いで、前記コントローラ120aの制御によ
りコントローラ120aまたはマイクロプロセッサ139 は図
４の比較器35及びコントローラ36の機能を行う。且つ、
メモリ141 またはコントローラ120aと関連したメモリ
（未図示）は、図４のメモリ34と同様の機能を行う。即
ち、前記コントローラ120aは上述したディスクの品質検
査方法によりディスクの良、不良を判断する。

【００６８】次いで、ディスクの品質が判別されると、
前記コントローラ121aの制御により、ディスク移動手段
121 は前記各ドライブａ−ｈにローディングされた光デ
ィスクを取り、優良（good）と判断されたディスクは第
２スピンドル123 に積層し、不良（bad ）と判断された
ディスクは第３スピンドル124 にそれぞれ積層する。次
いで、優良と判別された光ディスクには最終工程として
ラベリング（leveling）工程を施して完成品とするが、
不良と判別された光ディスクは廃棄処分する。上記のよ
うな過程は製造された全ての光ディスクに対して自動的
に行われるようになっている。

【００６９】光ディスクの品質検査装置の第３実施例 本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第３実施例に
おいては、図14に示したように、SCSIバスにより外部の
コンピュータ126 に接続されているため、該コンピュー
タ126 はテストデータSTP を品質検査装置に装着された
コントローラ120aに送信し、ディスクの品質決定のため
にSCSIバスを経由して再生されたテストデータの入力を
受ける。本実施例においては、前記コンピュータ126 は
コントローラ120aとは反対にディスクの品質を判断し、
前述した方法によりディスクの良、不良を決定すること
ができる。また、運用者は前記コンピュータ126 を利用
して品質検査装置の動作を制御することができる。従っ
て、光ディスクの品質判別動作は品質検査装置に装着さ
れたマイクロプロセッサ139 及び／またはコントローラ
120aにより遂行されるか、または外部のコンピュータ12
6 により選択的に行われる。

【００７０】光ディスクの品質検査装置の第２及び第３
実施例の他の動作方法 光ディスクの品質検査装置の第２及び第３実施例の他の
動作方法を説明する前に、図６の（Ａ）に示された光デ
ィスクの情報状態を図15に基づいて説明すると以下のよ
うである。図６の（Ａ）に示されたリードイン領域は、
図15のダンパ領域150 またはSTP領域151 の一部を形成
する。説明の便宜上、図15に示された光ディスクは74分
長さのCD−R ディスクであると仮定する。

【００７１】前記光ディスクの品質を検査するためのテ
ストデータSTP の記録領域は、記録層の全体直径（120m
m ）の中で外郭領域（直径118mm 以後の領域）となる。
一般に、74分型CD−R ディスクにおいて、リードアウト
領域はATIP（Absolute Timein Pre−Groove）75：30：0
0（75分30秒00）で終了する。従って、本発明で外郭領
域は下記の表１に示したように、リードアウト領域が終
了するATIP 75：30：00の118mm （ψ118 ）からATIP
75：47：00の118. 1763mm （ψ118. 1763 ）までとな
る。この方法で、ATIPはディスク上における光ピックア
ップ31の位置情報を意味する。

【００７２】 表１ 従来 本発明 総貯蔵領域 Max. ψ118 Max. ψ118. 1763 絶対時間 75：30：00（75分30秒00） 75：47：00（75分47秒00） 且つ、前記外郭領域はSTP （Standard Test Program ）
領域151 と該STP 領域151 の前後にそれぞれ位置する第
１，第２ダンパ領域150 ，152 を包含している。前記外
郭領域の総トラック数は約55トラックで、２倍速ドライ
ブにおいて光ピックアップ131 がトレース（Trace ）す
るときに約12秒が必要となる。ここで、前記第１ダンパ
領域150 は、前記光ピックアップ131 が光ディスクの内
周から外周に移動するとき、正確にSTP 領域151 上に位
置するように備えられた6.5 トラックほどの余裕領域で
あって、ATIP 75：30：00、直径ψ118. 0208 までの領
域である。

【００７３】そして、前記STP 領域151 は、テストデー
タSTP が記録される32.4トラックほどの領域であって、
ATIP 75：42：00，直径ψ118. 1245 までの領域であ
る。このとき、前記STP 領域151 のトラックの数は一定
に固定されず、使用者の有する装備の容量によって決定
されるが、通常４倍速ドライブで光ピックアップ131 が
トレース（Trace ）するとき、タックタイム（Tack Tim
e ）が約６〜７秒程度が所要されるように可変すること
ができる。このとき、トラック数はテストデータSTP の
量を決定するため、トラックの数が増加するほどディス
ク品質検査の正確度が高くなる。

【００７４】且つ、前記第２ダンパ領域152 は前記光ピ
ックアップ31が前記STP 領域151 上に正確に位置するよ
うに備えられた16.2トラックほどの余裕領域であって、
ATIP75：47：00（75分47秒00）、直径ψ118. 1763 まで
となる。また、本発明で使用されるテストデータSTP と
しては、図16に示したように、0 〜1155（10進数）まで
の全てのASC IIコードや、オーディオデータや、空のデ
ータ（Null Data ) を使用することができる。本発明で
はASC IIコード（好ましくは、ASC IIコード242 ）をテ
ストデータSTP の一例として使用しており、選択された
ASC IIコードは順番に２進変換及びEFM 変換されて記録
される。前記変換過程において、テストデータSTP は3T
〜11T の多様なサイズのピットに変化されるが、上述し
たように3T信号は最小のピットパターンであるためエラ
ーの検出が一層容易である。一方、前記テストデータST
P がEFM 変換されるとき、ASC IIコード242 は他のコー
ドに比べて相対的に3Tを多く含有しているため、再生時
のエラー検出が容易である。本発明はテストデータSTP
としてASC IIコード242 を一層有効に使用する。

【００７５】以下、上記の方法による記録／再生動作及
びディスクの品質判断動作に対し、図17〜図21に基づい
て説明する。先ず、保護層の形成された光ディスクは第
１スピンドル122 から各ドライブａ−ｈ中のいずれか一
つに移動される（S300）。より詳細には、図18に示した
ように、保護層の形成された光ディスクは第１スピンド
ル122 上に積層される（S301）。ここで、該段階（S30
1）は隣接する処理装備により選択的に行われ、このと
き、前記第１スピンドル122 はディスク装着部120 に装
着されないので、前記第１スピンドル122 がディスク装
着部120 に移動して装着される（S303）。しかし、前記
段階（S301）でディスクは既にディスク装着部120 上に
装着された第１スピンドル122 上に装着されることもで
きる。

【００７６】次いで、前記コントローラ120aは前記各ド
ライブａ−ｈから１つを制御してトレーを開放させた後
（S305）、ピックアップ121bを利用して前記第１スピン
ドル122 上でディスクをピックアップするようにディス
ク移動手段121 を制御する（S307）。次いで、該ディス
ク移動手段121 は前記段階（S307）でピックアップされ
た光ディスクを前記段階（S305）で開放されたトレーの
上部に移動させ（S309）、移動が終了されると、ディス
クの吸着を弛緩させて開放されたトレーにディスクをロ
ードし（S311）、該ディスクのロードが終了されると、
開放トレーは閉鎖される（S313）。また、前記各段階
（S305，S307，S309，S311）は各段階（S307，S309，S3
05，S311）の順にも行うことができる。

【００７７】以上のように各ドライブａ−ｈに光ディス
クがローディングされると、該ローディングされた光デ
ィスクにテストデータSTP が記録される（S320）。より
詳細には、図19に示したように、マイクロプロセッサ13
9 はコントローラ120aの制御によりサーボ制御装置134
を制御し、光ピックアップ131 のフォーカシング動作を
遂行すると共に前記光ピックアップ31を光ディスクの最
内周に移動させ（S321）、該光ピックアップ31が最内周
に到達された状態は、リミットスイッチ（未図示）との
接触により認識される。即ち、前記段階（S323）に示さ
れたように、マイクロプロセッサ139 はリミットスイッ
チがターンオン状態であるかを判断することにより前記
光ピックアップ131 が最内周に到達したかを判断する。
もし、リミットスイッチがターンオン状態でないと、前
記マイクロプロセッサ139 は光ピックアップ131 を光デ
ィスクの最内周側に移動させるための命令を継続して出
力する。しかし、リミットスイッチのターンオン状態が
検出されると、前記マイクロプロセッサ139 は前記コン
トローラ120aの制御により光ピックアップ131 を光ディ
スクの外郭領域、より詳細にはATIP 75：32：00（75分
32秒00）に移動させる（S325）。

【００７８】従って、図15に示されたように、前記光ピ
ックアップ131 はSTP 領域151 の開始点に位置され、前
記マイクロプロセッサ139 は前記コントローラ120aの制
御によりテストデータSTP を光ディスクのSTP 領域151
に記録させる。即ち、ASC IIコード242 が繰り返して光
ディスクのSTP 領域151 に記録される。そして、該テス
トデータSTP が記録される間、ATIPが検出され、前記マ
イクロプロセッサ139は検出されたATIPが75：42：00（7
5分42秒00）を超過するかを判断する（S329）。このと
き、前記マイクロプロセッサ139 はATIPが75：42：00を
超過してないとテストデータSTP の記録動作を継続行う
が、ATIPが75：42：00を超過すると前記テストデータST
P の記録動作を終了する。

【００７９】このようにテストデータSTP の記録動作が
終了すると、前記マイクロプロセッサ139 はテストデー
タSTP の再生段階（S340）及び光ディスクの品質判別段
階（S360）を順次行う。より詳細には、図20に示したよ
うに、前記マイクロプロセッサ139 は光ディスクをATIP
75：32：00に移動させた後、テストデータSTP を再生
する（S341，S343）。前記段階（S343）で再生されたテ
ストデータSTP はRF増幅器137 により増幅され、DSP138
により復調及びエラー訂正された後、インタフェース14
0 を介して前記コントローラ120aに伝送される。このよ
うな再生過程を経てATIPが検出され、該検出されたATIP
と75：42：00とが同様であるかを判断する（S345）。こ
のとき、前記検出されたATIPが75：42：00と同様でない
とテストデータSTP の再生動作は継続されるが、ATIPが
75：42：00と同様であるとテストデータSTP の再生動作
は中止される。

【００８０】次いで、前記コントローラ120aは再生され
たテストデータSTP により光ディスクの品質を判断する
（S361）。該品質判断は、コントローラ120aの他にマイ
クロプロセッサ139 またはコンピュータ126 により遂行
することもできる。なお、このような品質判断は、図７
の段階（S260）に対して記述されたのと同様な方法によ
り行われるため、詳細な説明は省略する。よって、品質
が判断されると、コントローラ120aは光ディスクの品質
がどのように判断されたかをチェックし（S363，S365，
S369）、その結果を表示器120bにディスプレーする（S3
67）。

【００８１】以上のようにディスクの品質検査段階（S3
60）を行った後、光ディスクの分類段階（S380）を行
う。より詳細には、図21に示したように、コントローラ
120aはディスクが優良と判断されたかを確認し（S38
1）、この確認結果として、ディスクが優良であると、
前記コントローラ120aは光ディスクを貯蔵するドライブ
を制御してトレーを開放させ（S383）、ディスク移動手
段121 は前記コントローラ120aの制御により開放トレー
にローディングされた光ディスクをピックアップして第
２スピンドル123上に移動させる（S385，S387）。ま
た、前記ディスク移動手段121 は前記コントローラ120a
の制御により光ディスクへの吸着を解除して光ディスク
を第２スピンドル123 に積層させる（S389）。

【００８２】一方、前記段階（S381）で光ディスクが不
良であると判断されると、前記コントローラ120aは光デ
ィスクを貯蔵する各ドライブａ−ｈのトレーを開放させ
（S391）、ディスク移動手段121 は前記コントローラ12
0aの制御により開放トレーにローディングされた光ディ
スクをピックアップして第３スピンドル124 上に移動さ
せる（S393，S395）。よって、該第３スピンドル124 上
に位置するディスク移動手段121 は前記コントローラ12
0aの制御により光ディスクの吸着を解除するので、光デ
ィスクは前記第３スピンドル124 上に積層される（S39
7）。

【００８３】次いで、前記コントローラ120aは前記ディ
スク移動手段121 を第１スピンドル122 に復帰させ（S3
99）、この時点で前記第１スピンドル122 にディスクが
存在するかを判断する（S401）。即ち、前記段階（S39
9）で、ピックアップ121bは前記コントローラ120aの制
御により第１スピンドル121 上から垂直下方に移動され
る。よって、前記コントローラ120aは、タッチセンサー
121cがトリガー（Trigger ）される前にピックアップ12
1bが最小の垂直位置に到達すると、前記第１スピンドル
122 上に光ディスクが存在しないと判断するが、前記ピ
ックアップ121bが最小の垂直位置に到達する前にタッチ
センサー121cがトリガーされると前記第１スピンドル12
2 上に光ディスクが存在すると判断する。もし、ディス
クが前記第１スピンドル122 上に存在すると、前記コン
トローラ120aは、前記段階（S305）に復帰するが、前記
第１スピンドル122 上にディスクが存在しないと前記段
階（S301）に復帰して、光ディスクの分類作業を終了す
るようになっている。

【００８４】本発明に係る光ディスクの品質検査装置及
びその方法は、光ディスクの外郭領域にテストデータを
記録／再生するようになっている。前記外郭領域はプリ
レコード形の光ディスクまたはライト・ワンス形の光デ
ィスクでは利用されない部分であるので、製造された各
光ディスクの商品価値を維持しながらも品質検査を行う
ことができる。結果的に、本発明に係る光ディスクの品
質検査方法は従来の品質検査方法よりも一層正確で信頼
できる方法である。即ち、本発明は全てのディスクに対
して品質検査を行うことが可能で、或いは選択的にディ
スクのサンプルだけを検査することもできる。

【００８５】且つ、本発明に係るディスクの品質検査方
法は、保護層の形成されたディスクに限定されず、記録
層、反射層またはラベル層の形成まで工程処理されたデ
ィスクにも適用することができる。更に、本発明は従来
のサンプリング検査または視覚検査を行った後でも品質
検査を行うことができる。

【００８６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る光デ
ィスクの品質検査装置及びその方法においては、ディス
クの製造工程とディスクの自動品質検査との結合を可能
にするという効果がある。且つ、本発明に係る光ディス
クの品質検査装置及びその方法においては、光ディスク
の外郭領域でテストデータSTP を短時間に記録／再生す
ることができるので、ライト・ワンス形のディスクの生
産費用を低減し得るという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に用いられる光ディスクを示した正面図
である。

【図２】本発明に係るテストデータの再生方法を示した
図で、（Ａ）、（Ｂ）は一実施例を示した図、（Ｃ）、
（Ｄ）は他の実施例を示した図である。

【図３】本発明に係るテストデータの再生方法のその他
の実施例を示した図である。

【図４】本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第１
実施例を示したブロック図である。

【図５】本発明において、光ディスクにテストデータを
記録する方法を示すフローチャートである。

【図６】テストデータが記録されるときの光ディスクの
情報状態を示す図である。

【図７】本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第１
実施例の品質検査方法を示すフローチャートである。

【図８】（Ａ）は光ディスク上のピットパターンと再生
されたピットパターン間の関係を示す図で、（Ｂ）は再
生されたアナログ信号のサンプルを示す図である。

【図９】本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第２
実施例を示す斜視図である。

【図１０】図９のドライブを示すブロック図である。

【図１１】図９において、ピックアップを回転させるデ
ィスク移動手段を示した平面図である。

【図１２】図９において、ピックアップを垂直移動させ
るディスク移動手段を示した断面図である。

【図１３】図９のピックアップの一実施例を示した断面
図である。

【図１４】本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第
３実施例を包含する全体システムを示したシステム図で
ある。

【図１５】本発明に係る光ディスクの外郭領域上のデー
タフォーマットを示す図である。

【図１６】ASC IIコードシステムのテーブルを示す図で
ある。

【図１７】本発明に係る光ディスクの品質検査装置の第
１及び第３実施例の品質検査方法を示すフローチャート
である。

【図１８】図17において、移動及びローディング段階を
示したフローチャートである。

【図１９】図17において、テストデータの記録段階を示
したフローチャートである。

【図２０】図17において、テストデータの再生段階を示
したフローチャートである。

【図２１】図17において、光ディスクの分類段階を示し
たフローチャートである。

【図２２】従来の光ディスクを示した正面図である。

【図２３】（Ａ）はスピンコーティング工程によるCD−
R ディスクの製造過程を示した図、（Ｂ）はスピンコー
ティング工程により製造されたCD−R ディスクを示した
部分断面斜視図である。

【図２４】従来ディスクの視覚検査装置の一例としてKo
ch社製の視覚検査装置を示したブロック図である。

【符号の説明】

31…駆動部 31−１…光ディスク 31−２…トレー 31−３…クランプ 32…ピックアップ部 33…RF増幅器 32−１…スライドモータ 32−２，121b…ピックアップ 35…比較器 36，120a…コントローラ 37…サーボ 120 …ドライブ装着部 121 …ディスク移動手段 121a…円形シャフト 121 −１…中心シャフト 121 −２…伝達ギヤ 121 −３…ウオーム 121 −４…アーム 121 −５…吸着ホール 121 −６…パイプ部材 122 −124 …第１−第３スピンドル 125 …支持面 126 …外部コンピュータ 139 …マイクロプロセッサ ａ−ｈ…ドライブ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 キム ヒュン−キュ 大韓民国，チョーンチェオンブク−ド，チ ェオンジュ，サンダン−ク，ヨンガン−ド ン 132，テサン アパート 103−1303 (72)発明者 ベ ドン−ソク 大韓民国，キュンキ−ド，ブチョン，ウォ ンミ−ク，ドダン−ドン，57−９

Claims (24)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 テスト信号を出力するために、光ディス
   クのメイン情報貯蔵領域の外方側に位置する外郭領域で
   テストデータを再生する段階と、 再生されたテスト信号により前記光ディスクの品質を判
   断する段階と、 判断された品質により、各品質等級に対応する少なくと
   も２つのスピンドル中のいずれか一つに前記光ディスク
   を移動させる段階と、を順次行うことを特徴とする光デ
   ィスクの品質検査方法。
2. 【請求項２】 前記再生段階は、 前記光ディスクからデータを再生する光ピックアップが
   位置する地点のATIP（Absolute Time in Pre−Groove）
   を検出する段階と、 検出されたATIPが所定のATIPと同様であるかを判断する
   段階と、 前記検出されたATIPが前記所定のATIPと同様でないとき
   に、前記光ピックアップを前記所定のATIP側に移動させ
   る段階と、 前記検出されたATIPが前記所定のATIPと同様であるとき
   に、テストデータの再生を開始する段階と、を順次行う
   ことを特徴とする請求項１記載の光ディスクの品質検査
   方法。
3. 【請求項３】 前記再生段階は、 所定の第1ATIP でテストデータの再生を開始する段階
   と、 テストデータを再生する光ピックアップが位置する地点
   のATIPを前記光ディスクから検出する段階と、 前記検出されたATIPが所定の第2ATIP と同様であるかを
   判断する段階と、 前記検出されたATIPが前記第2ATIP と同様であるとき
   に、前記テストデータの再生を中止する段階と、を順次
   行うことを特徴とする請求項１記載の光ディスクの品質
   検査方法。
4. 【請求項４】 前記移動段階は、 判断された品質が優良であると、前記光ディスクを第１
   スピンドルに移動させる段階と、 判断された品質が不良であると、前記光ディスクを第２
   スピンドルに移動させる段階と、からなることを特徴と
   する請求項１記載の光ディスク媒体の品質検査方法。
5. 【請求項５】 前記テストデータは、ASC IIコード、オ
   ーディオデータ及び空のデータ(Null Data) 中の少なく
   とも一つを包含することを特徴とする請求項１記載の光
   ディスクの品質検査方法。
6. 【請求項６】 前記テストデータは、ASC IIコード242
   であることを特徴とする請求項５記載の光ディスクの品
   質検査方法。
7. 【請求項７】 前記光ディスク媒体の品質検査方法は、
   判断された品質を表示装置にディスプレーする段階を追
   加包含することを特徴とする請求項１記載の光ディスク
   の品質検査方法。
8. 【請求項８】 光ディスクをデータ記録位置に配置させ
   る段階と、 前記光ディスクのメイン情報貯蔵領域の外方側に位置す
   る外郭領域に光ピックアップを位置させる段階と、 前記光ピックアップを利用して前記外郭領域にテストデ
   ータを記録する段階と、を順次行うことを特徴とする光
   ディスクの品質検査方法。
9. 【請求項９】 前記配置段階は、 前記光ディスクの製造工程中、前記光ディスクをスピン
   ドルにローディングする段階と、 前記光ディスクを前記スピンドルから前記データ記録位
   置に移動させる段階と、からなることを特徴とする請求
   項８記載の光ディスクの品質検査方法。
10. 【請求項１０】 前記位置指定段階は、 前記光ピックアップが位置する地点のATIPを検出する段
    階と、 検出されたATIPが所定のATIPと同様であるかを判断する
    段階と、 前記検出されたATIPが前記所定のATIPと同様でないとき
    に、前記光ピックアップを前記所定のATIP側に移動させ
    る段階と、を順次行うことを特徴とする請求項８記載の
    光ディスクの品質検査方法。
11. 【請求項１１】 前記記録段階は、 所定の第1ATIP でテストデータの記録を開始する段階
    と、 前記光ピックアップが位置する地点のATIPを検出する段
    階と、 検出されたATIPが所定の第2ATIP と同様であるかを判断
    する段階と、 前記検出されたATIPが前記第2ATIP と同様であるとき
    に、テストデータの記録を中止する段階と、を順次行う
    ことを特徴とする請求項８記載の光ディスクの品質検査
    方法。
12. 【請求項１２】 前記テストデータは、ASC IIコード、
    オーディオデータ及び空のデータ中の少なくとも一つを
    包含することを特徴とする請求項８記載の光ディスクの
    品質検査方法。
13. 【請求項１３】 前記テストデータは、ASC IIコードで
    あることを特徴とする請求項12記載の光ディスクの品質
    検査方法。
14. 【請求項１４】 少なくとも第１及び第２スピンドル
    と、 光ディスクを移動させるディスク移動手段と、 光ピックアップと、 テスト信号を算出するために前記光ディスクのメイン情
    報貯蔵領域の外方側に位置する外郭領域でテストデータ
    を再生するように前記光ピックアップを制御し、再生さ
    れたテスト信号により前記光ディスクの品質を判断し、
    判断された品質により前記第１及び第２スピンドル中の
    いずれか一つに前記光ディスクを移動させるように前記
    ディスク移動手段を制御する制御手段と、を備えて構成
    されたことを特徴とする光ディスクの品質検査装置。
15. 【請求項１５】 前記制御手段は、前記光ピックアップ
    が自分の位置する地点のATIPを検出すると、該検出され
    たATIPが所定のATIPと同様であるかを判断して、同様で
    ないときに前記光ピックアップを前記所定のATIP側に移
    動させ、一方、同様であるときに前記光ピックアップに
    よりテストデータの再生を開始することを特徴とする請
    求項14記載の光ディスクの品質検査装置。
16. 【請求項１６】 前記制御手段は、前記光ピックアップ
    により所定の第1ATIP でテストデータの再生を開始し、
    前記光ピックアップが自分の位置する地点のATIPを検出
    すると、該検出されたATIPが所定の第2ATIP と同様であ
    るかを判断して、同様であるときに、テストデータの再
    生を中止させることを特徴とする請求項14記載の光ディ
    スクの品質検査装置。
17. 【請求項１７】 前記ディスク移動手段は、前記制御手
    段の制御により、判断されたディスクの品質が優良であ
    ると前記光ディスクを前記第１スピンドルに移動させ、
    判断されたディスクの品質が不良であると前記光ディス
    クを前記第２スピンドルに移動させることを特徴とする
    請求項14記載の光ディスクの品質検査装置。
18. 【請求項１８】 前記テストデータは、ASC IIコード、
    オーディオデータ及び空のデータ中の少なくとも一つを
    包含することを特徴とする請求項14記載の光ディスクの
    品質検査装置。
19. 【請求項１９】 前記判断された品質を表示する表示装
    置を追加包含することを特徴とする請求項14記載の光デ
    ィスクの品質検査装置。
20. 【請求項２０】 光ディスクを移動させるディスク移動
    手段と、 光ピックアップと、 前記光ディスクがデータ記録位置に配置するように前記
    ディスク移動手段を制御し、メイン情報貯蔵領域の外方
    側に位置する外郭領域に前記光ピックアップを位置さ
    せ、該光ピックアップを利用して前記外郭領域にテスト
    データを記録させる制御手段と、を備えて構成されたこ
    とを特徴とする光ディスクの品質検査装置。
21. 【請求項２１】 前記光ディスクの製造工程は、該光デ
    ィスクを受容するスピンドルを追加包含して構成され、
    前記制御手段は、前記光ディスクを前記スピンドルから
    前記データ記録位置に移動させるように前記ディスク移
    動手段を制御することを特徴とする請求項20記載の光デ
    ィスクの品質検査装置。
22. 【請求項２２】 前記制御手段は、前記光ピックアップ
    が自分の位置する地点のATIPを検出すると、検出された
    ATIPが所定のATIPと同様であるかを判断して、同様でな
    いときに、前記光ピックアップを前記所定のATIP側に移
    動させることを特徴とする請求項20記載の光ディスクの
    品質検査装置。
23. 【請求項２３】 テストデータを記録する際、前記制御
    手段は、所定の第1ATIP でテストデータの記録を開始す
    るように前記光ピックアップを制御し、該光ピックアッ
    プが自分の位置する地点のATIPを検出すると、該検出さ
    れたATIPが所定の第2ATIP と同様であるかを判断して、
    同様であるときに、テストデータの記録を中止させるこ
    とを特徴とする請求項１記載の光ディスクの品質検査装
    置。
24. 【請求項２４】 前記テストデータは、ASC IIコード24
    2 、オーディオデータ及び空のデータ中の少なくとも一
    つを包含することを特徴とする請求項20記載の光ディス
    クの品質検査装置。