JPH10188366A - 光ディスク媒体の品質をテストするための方法、装置および光ディスク媒体 - Google Patents
光ディスク媒体の品質をテストするための方法、装置および光ディスク媒体Info
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- JPH10188366A JPH10188366A JP9349548A JP34954897A JPH10188366A JP H10188366 A JPH10188366 A JP H10188366A JP 9349548 A JP9349548 A JP 9349548A JP 34954897 A JP34954897 A JP 34954897A JP H10188366 A JPH10188366 A JP H10188366A
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- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/002—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
- G11B7/0037—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
- G11B7/00375—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
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- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
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- Signal Processing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスク媒体の品質をテストするための方
法および装置を得る。 【解決手段】 光ディスクの外側領域にテストデータを
記録する。光ディスクのこの外側領域は記録済み光ディ
スクを製造する場合にも使用されず、また追記型ディス
クの場合もユーザーによって使用されない領域である。
光ディスクの品質は、光ディスクのこの外側領域中のテ
ストデータを再生して得られたテスト信号に基づいて判
定される。
法および装置を得る。 【解決手段】 光ディスクの外側領域にテストデータを
記録する。光ディスクのこの外側領域は記録済み光ディ
スクを製造する場合にも使用されず、また追記型ディス
クの場合もユーザーによって使用されない領域である。
光ディスクの品質は、光ディスクのこの外側領域中のテ
ストデータを再生して得られたテスト信号に基づいて判
定される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク媒体の
品質をテストするための方法および装置と光ディスク媒
体に関するものであり、さらに特定すると、正確性およ
び信頼性を向上したこのような方法および装置に関す
る。
品質をテストするための方法および装置と光ディスク媒
体に関するものであり、さらに特定すると、正確性およ
び信頼性を向上したこのような方法および装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】ディスク媒体は２個のグループ、即ち磁
気ディスクと例えばコンパクトディスク（ＣＤ）のよう
な光ディスクとに分けられる。光ディスクは記憶容量の
大きさの故に、その要求が急速に増加している。図１
（Ａ）および１（Ｂ）は、従来の光ディスクを示してい
る。これらのディスクの半径Ｌ１は６０mmであり、一方
その中心ホールの直径Ｌ２は１５mmである。図１（Ａ）
は、従来の、記録済み光ディスク(prerecorded optical
disk)を示すものである。図１（Ａ）に示すように、こ
の光ディスクの記録領域は、リードイン(lead-in) 開始
ポイントＢＬＩ、主記憶領域開始ポイントＢＰＬ、およ
びリードアウト(lead-out)開始ポイントＢＬＯを含んで
いる。情報は、主記憶領域開始ポイントＢＰＬとリード
アウト開始ポイントＢＬＯ間の主記憶領域ＭＳＡ中に書
き込まれる。
気ディスクと例えばコンパクトディスク（ＣＤ）のよう
な光ディスクとに分けられる。光ディスクは記憶容量の
大きさの故に、その要求が急速に増加している。図１
（Ａ）および１（Ｂ）は、従来の光ディスクを示してい
る。これらのディスクの半径Ｌ１は６０mmであり、一方
その中心ホールの直径Ｌ２は１５mmである。図１（Ａ）
は、従来の、記録済み光ディスク(prerecorded optical
disk)を示すものである。図１（Ａ）に示すように、こ
の光ディスクの記録領域は、リードイン(lead-in) 開始
ポイントＢＬＩ、主記憶領域開始ポイントＢＰＬ、およ
びリードアウト(lead-out)開始ポイントＢＬＯを含んで
いる。情報は、主記憶領域開始ポイントＢＰＬとリード
アウト開始ポイントＢＬＯ間の主記憶領域ＭＳＡ中に書
き込まれる。
【０００３】図１（Ｂ）は従来の、その上に情報が書き
込まれていない追記型光ディスク(write-once optical
disk) を示すものである。図１（Ａ）の光ディスクと同
様に、図１（Ｂ）の光ディスクは記録領域を有してお
り、情報がその上に書き込まれた場合、この情報は主記
憶領域ＭＳＡ内に記録される。図１（Ａ）および１
（Ｂ）に示すように、記録領域の外側領域は情報の記録
のために使用されない。記憶領域における欠陥は、使用
された製造技術によって記録領域の外側領域において生
じやすいので、外側領域を記録のために使用しないこと
で製造上の欠陥に対するエラーマージンを提供してい
る。
込まれていない追記型光ディスク(write-once optical
disk) を示すものである。図１（Ａ）の光ディスクと同
様に、図１（Ｂ）の光ディスクは記録領域を有してお
り、情報がその上に書き込まれた場合、この情報は主記
憶領域ＭＳＡ内に記録される。図１（Ａ）および１
（Ｂ）に示すように、記録領域の外側領域は情報の記録
のために使用されない。記憶領域における欠陥は、使用
された製造技術によって記録領域の外側領域において生
じやすいので、外側領域を記録のために使用しないこと
で製造上の欠陥に対するエラーマージンを提供してい
る。
【０００４】磁気および磁気光ディスクにおいて、従来
の品質テスト方法は、ディスクのリードイン領域または
主記憶領域中に信号を記録し、これらのテスト信号を再
生し、さらにこれらのテスト信号を基準信号と比較して
品質を決定する、各ステップを含んでいる。
の品質テスト方法は、ディスクのリードイン領域または
主記憶領域中に信号を記録し、これらのテスト信号を再
生し、さらにこれらのテスト信号を基準信号と比較して
品質を決定する、各ステップを含んでいる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】これらの方法は、光デ
ィスクの品質をテストするために適用されている。しか
しながら不幸にも、これらの方法は製造された全ての光
ディスクに適用することはできない。例えば、一旦テス
トデータが追記型光ディスク内に書き込まれると、その
ディスクは使用不能となるため商品としての価値を失
う。従って、製造された複数の光ディスクからサンプル
を取り、これらを上述した方法に従ってテストする。
ィスクの品質をテストするために適用されている。しか
しながら不幸にも、これらの方法は製造された全ての光
ディスクに適用することはできない。例えば、一旦テス
トデータが追記型光ディスク内に書き込まれると、その
ディスクは使用不能となるため商品としての価値を失
う。従って、製造された複数の光ディスクからサンプル
を取り、これらを上述した方法に従ってテストする。
【０００６】サンプルしたディスクを使用不能とするの
に加えて、これらの品質テスト技術は不正確で信頼性に
乏しいものであることが証明されている。サンプルされ
たディスクが十分な品質を持っていると言う理由だけ
で、他のサンプルされていないディスクが十分に高い品
質を持っているとは限らない。従って、これらのテスト
は不正確でかつ信頼性に乏しいものに成りやすい。
に加えて、これらの品質テスト技術は不正確で信頼性に
乏しいものであることが証明されている。サンプルされ
たディスクが十分な品質を持っていると言う理由だけ
で、他のサンプルされていないディスクが十分に高い品
質を持っているとは限らない。従って、これらのテスト
は不正確でかつ信頼性に乏しいものに成りやすい。
【０００７】これらの光ディスク媒体はまたその他の品
質テストを受ける。例えば、光ディスクの全表面は、レ
ーザビームによる光ディスク表面の走査をＣＣＤカメラ
を用いてモニタすることによって、ディスプレイされ
る。その表面は、従ってこのディスプレイを用いて視覚
によってチェックされる。その他のテストとして、プッ
シュ／プル、漏話、およびリードイン開始ポイントＢＬ
Ｉ、主記憶領域開始ポイントＢＰＬおよびリードアウト
開始ポイントＢＬＯの位置のチェックが含まれる。
質テストを受ける。例えば、光ディスクの全表面は、レ
ーザビームによる光ディスク表面の走査をＣＣＤカメラ
を用いてモニタすることによって、ディスプレイされ
る。その表面は、従ってこのディスプレイを用いて視覚
によってチェックされる。その他のテストとして、プッ
シュ／プル、漏話、およびリードイン開始ポイントＢＬ
Ｉ、主記憶領域開始ポイントＢＰＬおよびリードアウト
開始ポイントＢＬＯの位置のチェックが含まれる。
【０００８】上述のテストプロセスによって、例えばリ
ードイン開始ポイントＢＬＩ、主記憶領域開始ポイント
ＢＰＬ、リードアウト開始ポイントＢＬＯ、トラックお
よびインデックス開始ポイント、テスト速度、トラック
ピッチ、反り撓み(bow deflection)，捩じれ撓み(warp
deflection)、光ディスクの厚さ、角度撓み、垂直撓
み、光ディスクの半径、および光ディスクの中心ホール
の直径などの機械的特性の測定値がチェックされる。さ
らに、例えばラジアルノイズ(radial noize)、フォーカ
ルノイズ(focal noise) 、データキャリアのアナログ特
性、およびキャリアのデジタル特性等がチェックされ
る。
ードイン開始ポイントＢＬＩ、主記憶領域開始ポイント
ＢＰＬ、リードアウト開始ポイントＢＬＯ、トラックお
よびインデックス開始ポイント、テスト速度、トラック
ピッチ、反り撓み(bow deflection)，捩じれ撓み(warp
deflection)、光ディスクの厚さ、角度撓み、垂直撓
み、光ディスクの半径、および光ディスクの中心ホール
の直径などの機械的特性の測定値がチェックされる。さ
らに、例えばラジアルノイズ(radial noize)、フォーカ
ルノイズ(focal noise) 、データキャリアのアナログ特
性、およびキャリアのデジタル特性等がチェックされ
る。
【０００９】本発明の目的は、上述した欠点および不利
益を克服することができる、光ディスクの品質をテスト
するための方法および装置を提供することである。本発
明のその他の目的は、高い信頼性と正確性を持った、光
ディスクの品質をテストするための方法および装置を提
供する事である。本発明のさらにその他の目的は、光デ
ィスクの品質テストおよびその後の使用の両者を可能と
する、光ディスクの品質をテストするための方法および
装置を提供することである。
益を克服することができる、光ディスクの品質をテスト
するための方法および装置を提供することである。本発
明のその他の目的は、高い信頼性と正確性を持った、光
ディスクの品質をテストするための方法および装置を提
供する事である。本発明のさらにその他の目的は、光デ
ィスクの品質テストおよびその後の使用の両者を可能と
する、光ディスクの品質をテストするための方法および
装置を提供することである。
【００１０】本発明のさらにその他の目的は、上述した
欠点および不利益を克服することができる、光ディスク
媒体を提供することである。
欠点および不利益を克服することができる、光ディスク
媒体を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】これらおよびその他の目
的は、光ディスク媒体の品質をテストするための以下の
方法を提供することによって達成される。すなわちこの
方法は：テスト信号を形成するために光ディスク媒体の
主情報記憶領域の外側周辺である前記光ディスク媒体の
外側領域内のテストデータを再生し；さらに前記再生さ
れたテスト信号に基づいて前記光ディスク媒体の品質を
判定する；各ステップからなる。
的は、光ディスク媒体の品質をテストするための以下の
方法を提供することによって達成される。すなわちこの
方法は：テスト信号を形成するために光ディスク媒体の
主情報記憶領域の外側周辺である前記光ディスク媒体の
外側領域内のテストデータを再生し；さらに前記再生さ
れたテスト信号に基づいて前記光ディスク媒体の品質を
判定する；各ステップからなる。
【００１２】これらおよびその他の目的は、光ディスク
媒体の品質をテストするための以下の装置を提供するこ
とによってさらに達成される。すなわちこの装置は：テ
スト信号を形成するために前記光ディスク媒体の主情報
記憶領域の外側周辺に配置された前記光ディスク媒体の
外側領域のテストデータを再生するための光学ピックア
ップと；および前記再生されたテスト信号に基づいて前
記光ディスク媒体の品質を判定する判定手段；とを具備
している。
媒体の品質をテストするための以下の装置を提供するこ
とによってさらに達成される。すなわちこの装置は：テ
スト信号を形成するために前記光ディスク媒体の主情報
記憶領域の外側周辺に配置された前記光ディスク媒体の
外側領域のテストデータを再生するための光学ピックア
ップと；および前記再生されたテスト信号に基づいて前
記光ディスク媒体の品質を判定する判定手段；とを具備
している。
【００１３】これらおよびその他の目的は、以下の構成
の光ディスク媒体を提供することによって同様に達成さ
れる。即ちこの装置は：主情報記憶領域と；および外側
領域であって、該領域は前記主情報記憶領域の外側周辺
であり、かつテスト信号を記憶する領域；とを具備して
いる。これらおよびその他の目的は、光ディスク媒体中
にテスト信号を記録する以下の方法を提供することによ
ってさらに達成される。すなわちこの方法は：テスト信
号を形成するために光学ピックアップを前記光ディスク
媒体の主情報記憶領域の外側周辺に配置された前記光デ
ィスク媒体の外側領域に位置決めし；さらに前記外側領
域にテストデータを記録する；各ステップを具備する。
の光ディスク媒体を提供することによって同様に達成さ
れる。即ちこの装置は：主情報記憶領域と；および外側
領域であって、該領域は前記主情報記憶領域の外側周辺
であり、かつテスト信号を記憶する領域；とを具備して
いる。これらおよびその他の目的は、光ディスク媒体中
にテスト信号を記録する以下の方法を提供することによ
ってさらに達成される。すなわちこの方法は：テスト信
号を形成するために光学ピックアップを前記光ディスク
媒体の主情報記憶領域の外側周辺に配置された前記光デ
ィスク媒体の外側領域に位置決めし；さらに前記外側領
域にテストデータを記録する；各ステップを具備する。
【００１４】これらおよびその他の目的は、さらに、光
ディスク媒体中にテスト信号を記録するための以下の装
置を提供する事によって達成される。即ちこの装置は：
光学ピックアップと；前記光学ピックアップを前記光デ
ィスク媒体の前記主情報記憶領域の外側周辺に配置され
た前記光ディスク媒体の外側領域に位置決めし、さらに
前記光学ピックアップを用いて前記外側領域にテストデ
ータを記録するための制御手段；とを具備している。
ディスク媒体中にテスト信号を記録するための以下の装
置を提供する事によって達成される。即ちこの装置は：
光学ピックアップと；前記光学ピックアップを前記光デ
ィスク媒体の前記主情報記憶領域の外側周辺に配置され
た前記光ディスク媒体の外側領域に位置決めし、さらに
前記光学ピックアップを用いて前記外側領域にテストデ
ータを記録するための制御手段；とを具備している。
【００１５】本発明のその他の目的、特徴および特性；
方法、動作およびその構造に関係する素子の機能；各部
分の組み合わせ；および製造時の経済性は、以下の本発
明の好ましい実施例の詳細な説明と添付の図面から明白
である。なお、これらの実施例の詳細な説明および添付
の図面は全て本明細書の一部分を構成し、同じ参照符号
は各図において対応する部分を示すものである。
方法、動作およびその構造に関係する素子の機能；各部
分の組み合わせ；および製造時の経済性は、以下の本発
明の好ましい実施例の詳細な説明と添付の図面から明白
である。なお、これらの実施例の詳細な説明および添付
の図面は全て本明細書の一部分を構成し、同じ参照符号
は各図において対応する部分を示すものである。
【００１６】
【発明の実施の形態】図６は、光ディスク上にテストデ
ータを記録し、さらに本発明に従って光ディスクの品質
をテストするための装置（以下、“光ディスク品質テス
ト装置”と言う）を示している。図示するように、光デ
ィスク品質テスト装置は、駆動ユニット３１とピックア
ップユニット３２を含んでいる。駆動ユニット３１は、
駆動すべき光ディスク３１−１を支持するためのトレイ
３１−２、光ディスク３１−１をクランプするためのク
ランプ３１−３、およびこの光ディスク３１−１を回転
させるためのスピンドルモータ３１−４を含んでいる。
ピックアップユニット３２は、光ディスク３１−１上へ
情報を書き込み、ここから情報を読みだすためのピック
アップ３２−２を含んでいる。スライドモータ３２−１
はピックアップ３２−２を、光ディスク３１−１に対し
て放射状に移動させる。
ータを記録し、さらに本発明に従って光ディスクの品質
をテストするための装置（以下、“光ディスク品質テス
ト装置”と言う）を示している。図示するように、光デ
ィスク品質テスト装置は、駆動ユニット３１とピックア
ップユニット３２を含んでいる。駆動ユニット３１は、
駆動すべき光ディスク３１−１を支持するためのトレイ
３１−２、光ディスク３１−１をクランプするためのク
ランプ３１−３、およびこの光ディスク３１−１を回転
させるためのスピンドルモータ３１−４を含んでいる。
ピックアップユニット３２は、光ディスク３１−１上へ
情報を書き込み、ここから情報を読みだすためのピック
アップ３２−２を含んでいる。スライドモータ３２−１
はピックアップ３２−２を、光ディスク３１−１に対し
て放射状に移動させる。
【００１７】制御器３６はスピンドルモータ３１−４と
スライドモータ３２−１の動作を、ユーザー入力とピッ
クアップユニット３２からのフォーカスエラーおよびト
ラッキングエラー信号に基づくサーボ３７を介して制御
する。ユーザーによってテストデータを光ディスク３１
−１上に記録するように指令された場合、制御器３６は
光ディスク３１−１上に書き込まれるべきテストデータ
をピックアップユニット３２に供給し、テストデータの
記録を制御する。
スライドモータ３２−１の動作を、ユーザー入力とピッ
クアップユニット３２からのフォーカスエラーおよびト
ラッキングエラー信号に基づくサーボ３７を介して制御
する。ユーザーによってテストデータを光ディスク３１
−１上に記録するように指令された場合、制御器３６は
光ディスク３１−１上に書き込まれるべきテストデータ
をピックアップユニット３２に供給し、テストデータの
記録を制御する。
【００１８】ユーザーによって光ディスク３１−１上で
品質テストを実施するように指令された場合、制御器３
６はピックアップユニット３２を制御して光ディスク３
１−１上に記録されたテストデータを再生する。ピック
アップユニット３２によって再生された信号出力は、Ｒ
Ｆ増幅器３３および制御器３６に供給され、一方フォー
カスエラーおよびトラッキングエラー信号は制御器３６
に供給される。フォーカスエラーおよびトラッキングエ
ラー信号と再生信号に基づいて、制御器３６はスライド
モータ３２−１とスピンドルモータ３１−４をサーボ３
７を介して制御する。ＲＦ増幅器３３はピックアップユ
ニット３２からの再生信号を処理し、処理された再生信
号をＭＰＥＧ処理のために出力する。処理された再生信
号はさらに比較器３５に供給される。
品質テストを実施するように指令された場合、制御器３
６はピックアップユニット３２を制御して光ディスク３
１−１上に記録されたテストデータを再生する。ピック
アップユニット３２によって再生された信号出力は、Ｒ
Ｆ増幅器３３および制御器３６に供給され、一方フォー
カスエラーおよびトラッキングエラー信号は制御器３６
に供給される。フォーカスエラーおよびトラッキングエ
ラー信号と再生信号に基づいて、制御器３６はスライド
モータ３２−１とスピンドルモータ３１−４をサーボ３
７を介して制御する。ＲＦ増幅器３３はピックアップユ
ニット３２からの再生信号を処理し、処理された再生信
号をＭＰＥＧ処理のために出力する。処理された再生信
号はさらに比較器３５に供給される。
【００１９】比較器３５は処理された再生信号をメモリ
３４に記憶された予め決められたデータと比較する。比
較の結果は制御器３６に出力され、制御器３６はこの比
較結果に基づいて光ディスク３１−１の品質が優れてい
るかあるいは不十分かを決定する。もし制御器３６が、
光ディスク３１−１の品質が不十分であると決定する
と、制御器３６はインジケータ３８を駆動してユーザー
に光ディスクの品質が不十分であることを示す。
３４に記憶された予め決められたデータと比較する。比
較の結果は制御器３６に出力され、制御器３６はこの比
較結果に基づいて光ディスク３１−１の品質が優れてい
るかあるいは不十分かを決定する。もし制御器３６が、
光ディスク３１−１の品質が不十分であると決定する
と、制御器３６はインジケータ３８を駆動してユーザー
に光ディスクの品質が不十分であることを示す。
【００２０】本発明にかかる光ディスク品質テスト装置
の動作を、図２（Ａ）〜図９を参照して詳細に述べる。
図２（Ａ）および２（Ｂ）に示すように、本発明による
光ディスク品質テスト装置は、テストデータＳＴＰを光
ディスクの外側領域内に記録する。この光ディスクは記
録済み（図２（Ａ））および追記型（図２（Ｂ））の両
光ディスクである。この記録操作を、図６〜図８（Ｂ）
を参照して以下に詳細に述べる。
の動作を、図２（Ａ）〜図９を参照して詳細に述べる。
図２（Ａ）および２（Ｂ）に示すように、本発明による
光ディスク品質テスト装置は、テストデータＳＴＰを光
ディスクの外側領域内に記録する。この光ディスクは記
録済み（図２（Ａ））および追記型（図２（Ｂ））の両
光ディスクである。この記録操作を、図６〜図８（Ｂ）
を参照して以下に詳細に述べる。
【００２１】図７は、本発明に従って光ディスク中にテ
ストデータを記録するための方法のフローチャートを示
す。図示するように、ステップＳ１０において、制御器
３６はピックアップユニット３２に光ディスクからテー
ブル内容ＴＯＣデータを読みださせる。光ディスクの中
心付近に記録されたＴＯＣデータは、記録済みの光ディ
スクの、例えば主記憶領域に対するリードイン開始ポイ
ント、主記憶領域、および主記憶領域のリードアウト開
始ポイントの位置を示す。議論の目的の為だけに、記録
済み光ディスクに関して、光ディスクにテストデータを
記録するための方法について説明する。しかしながら当
業者にとって、この方法を例えば追記型の光ディスクに
適用することは容易である。
ストデータを記録するための方法のフローチャートを示
す。図示するように、ステップＳ１０において、制御器
３６はピックアップユニット３２に光ディスクからテー
ブル内容ＴＯＣデータを読みださせる。光ディスクの中
心付近に記録されたＴＯＣデータは、記録済みの光ディ
スクの、例えば主記憶領域に対するリードイン開始ポイ
ント、主記憶領域、および主記憶領域のリードアウト開
始ポイントの位置を示す。議論の目的の為だけに、記録
済み光ディスクに関して、光ディスクにテストデータを
記録するための方法について説明する。しかしながら当
業者にとって、この方法を例えば追記型の光ディスクに
適用することは容易である。
【００２２】ＴＯＣデータをピックアップユニット３２
から受信したのち、制御器３６はユーザーがテストデー
タ記録モードを選択したか否かをステップＳ２０におい
て決定する。もしテストデータ記録モードが選択されて
いないと、処理は終了する。それ以外の場合、ステップ
Ｓ３０において、制御器３６はユーザーが、内側から外
側への記録モードを選択したか否かを決定する。
から受信したのち、制御器３６はユーザーがテストデー
タ記録モードを選択したか否かをステップＳ２０におい
て決定する。もしテストデータ記録モードが選択されて
いないと、処理は終了する。それ以外の場合、ステップ
Ｓ３０において、制御器３６はユーザーが、内側から外
側への記録モードを選択したか否かを決定する。
【００２３】もし、内側から外側への記録モードがステ
ップＳ３０において選択されると、次にステップＳ４０
において、制御器３６は、周知の何れかの方法で、ピッ
クアップ３２−２の現在位置を決定し、さらにＴＯＣデ
ータに基づいて主記憶領域に対するリードアウト開始ポ
イントＢＬＯの位置を決定する。その後、ステップＳ５
０において、制御器３６はピックアップ３２−２を、こ
のピックアップ３２−２の検出された現在位置と主記憶
領域のリードアウト開始ポイントＢＬＯの決定された位
置とに基づいて、主記憶領域のリードアウトまで移動さ
せる。
ップＳ３０において選択されると、次にステップＳ４０
において、制御器３６は、周知の何れかの方法で、ピッ
クアップ３２−２の現在位置を決定し、さらにＴＯＣデ
ータに基づいて主記憶領域に対するリードアウト開始ポ
イントＢＬＯの位置を決定する。その後、ステップＳ５
０において、制御器３６はピックアップ３２−２を、こ
のピックアップ３２−２の検出された現在位置と主記憶
領域のリードアウト開始ポイントＢＬＯの決定された位
置とに基づいて、主記憶領域のリードアウトまで移動さ
せる。
【００２４】ステップＳ６０において、制御器３６は、
ピックアップユニット３２にテストデータＳＴＰを、図
８（Ａ）に示すように、内側から外側への方法で光ディ
スク３１−１中に記憶させる。テストデータはユーザー
によって供給されても良く、または制御器３６によって
記憶された予め決められたデータであっても良い。テス
トデータは予め決められたピットパターン、予め決めら
れたビットパターン、または既知の音楽作品のような予
め決められた信号であっても良い。テストデータについ
て、光ディスクの品質テストに関連して以下にさらに詳
細に記載する。
ピックアップユニット３２にテストデータＳＴＰを、図
８（Ａ）に示すように、内側から外側への方法で光ディ
スク３１−１中に記憶させる。テストデータはユーザー
によって供給されても良く、または制御器３６によって
記憶された予め決められたデータであっても良い。テス
トデータは予め決められたピットパターン、予め決めら
れたビットパターン、または既知の音楽作品のような予
め決められた信号であっても良い。テストデータについ
て、光ディスクの品質テストに関連して以下にさらに詳
細に記載する。
【００２５】制御器３６は、図８（Ａ）に示すように、
ピックアップ３２−２を光ディスクをトラッキングしか
つ放射方向の内側部分から放射方向の外側部分へ移動さ
せながら、このピックアップを制御してテストデータへ
のリードインとテストデータとを記録する。言い換える
と、制御器３６は、テストデータの記録の間、ピックア
ップ３２−２をスライドモータ３２−１とサーボ３７を
介して光ディスクの外側放射方向に向かって移動させ
る。さらに図８（Ａ）に示すように、主記憶領域のリー
ドアウトとテストデータＳＴＰのリードイン間にダンパ
領域を形成するために、制御器３６は、主記憶領域のリ
ードアウト領域の後ろの予め決められた放射方向の距離
において、ピックアップユニット３２にテストデータＳ
ＴＰのためのリードイン領域の記録を開始させる。
ピックアップ３２−２を光ディスクをトラッキングしか
つ放射方向の内側部分から放射方向の外側部分へ移動さ
せながら、このピックアップを制御してテストデータへ
のリードインとテストデータとを記録する。言い換える
と、制御器３６は、テストデータの記録の間、ピックア
ップ３２−２をスライドモータ３２−１とサーボ３７を
介して光ディスクの外側放射方向に向かって移動させ
る。さらに図８（Ａ）に示すように、主記憶領域のリー
ドアウトとテストデータＳＴＰのリードイン間にダンパ
領域を形成するために、制御器３６は、主記憶領域のリ
ードアウト領域の後ろの予め決められた放射方向の距離
において、ピックアップユニット３２にテストデータＳ
ＴＰのためのリードイン領域の記録を開始させる。
【００２６】テストデータの記録が完了すると、制御器
３６はステップＳ７０において、光ディスク内のＴＯＣ
データを更新し、テストデータの位置およびそれのリー
ドイン位置を表示する。ステップＳ３０において内側か
ら外側への記録モードが選択されない場合、制御器３６
は次にステップＳ８０においてユーザーによって外から
中への書き込みモードが選択されたか否かを決定する。
もし外から中への記録モードが選択されていないと、処
理はステップＳ３０に帰還する。それ以外は、処理はス
テップＳ９０に進む。ステップＳ９０において、制御器
３６は周知の何らかの方法で、ピックアップ３２−２の
現在位置を検出し、さらにＴＯＣデータから記録領域の
終端の位置を決定する。次にステップ１００において、
制御器３６はピックアップ３２−２を記録領域の終端ま
で移動させる。次にステップＳ１１０において、制御器
３６はピックアップユニット３２に、図８（Ｂ）に示す
ように外側から内側への方法で光ディスク中にテストデ
ータを記録させる。図８（Ｂ）に示すように、テストデ
ータＳＴＰは記録領域の終端から始まって光ディスクの
中心に向かって放射状に内部方向へ記録される。特に、
図８（Ｂ）に示すように、テストデータＳＴＰへのリー
ドイン領域が記録され、次にテストデータＳＴＰが記録
され、最後にテストデータＳＴＰのためのリードアウト
が記録される。テスト領域ＳＴＰに対するリードアウト
は、主記憶領域に対するリードアウトの開始の充分前
に、主記憶領域のリードアウトとテストデータＳＴＰの
リードアウト間にダンパ領域が残るようにして記録され
る。テストデータを外側から内側へ記録する場合、制御
器３６はピックアップ３２−２を、光ディスクをトラッ
キングしながら、光ディスクの中心に向かって放射状に
移動させる。
３６はステップＳ７０において、光ディスク内のＴＯＣ
データを更新し、テストデータの位置およびそれのリー
ドイン位置を表示する。ステップＳ３０において内側か
ら外側への記録モードが選択されない場合、制御器３６
は次にステップＳ８０においてユーザーによって外から
中への書き込みモードが選択されたか否かを決定する。
もし外から中への記録モードが選択されていないと、処
理はステップＳ３０に帰還する。それ以外は、処理はス
テップＳ９０に進む。ステップＳ９０において、制御器
３６は周知の何らかの方法で、ピックアップ３２−２の
現在位置を検出し、さらにＴＯＣデータから記録領域の
終端の位置を決定する。次にステップ１００において、
制御器３６はピックアップ３２−２を記録領域の終端ま
で移動させる。次にステップＳ１１０において、制御器
３６はピックアップユニット３２に、図８（Ｂ）に示す
ように外側から内側への方法で光ディスク中にテストデ
ータを記録させる。図８（Ｂ）に示すように、テストデ
ータＳＴＰは記録領域の終端から始まって光ディスクの
中心に向かって放射状に内部方向へ記録される。特に、
図８（Ｂ）に示すように、テストデータＳＴＰへのリー
ドイン領域が記録され、次にテストデータＳＴＰが記録
され、最後にテストデータＳＴＰのためのリードアウト
が記録される。テスト領域ＳＴＰに対するリードアウト
は、主記憶領域に対するリードアウトの開始の充分前
に、主記憶領域のリードアウトとテストデータＳＴＰの
リードアウト間にダンパ領域が残るようにして記録され
る。テストデータを外側から内側へ記録する場合、制御
器３６はピックアップ３２−２を、光ディスクをトラッ
キングしながら、光ディスクの中心に向かって放射状に
移動させる。
【００２７】ステップＳ１１０において、テストデータ
を記録したのち、処理はステップＳ７０に移動する。ス
テップＳ７０において、制御器３６は光ディスクに対す
るＴＯＣデータを更新してテストデータとテストデータ
のリードインおよびリードアウトの位置を指示する。本
発明にかかる光ディスク品質テスト装置の、品質テスト
動作について、以下に図３（Ａ）および図９を参照して
説明する。図９は、本発明に基づいて光ディスクの品質
をテストするための方法を示す。図９に示すように、ス
テップＳ２００において、制御器３６は、ピックアップ
ユニット３２を制御して光ディスク３１−１のためのＴ
ＯＣデータを再生しかつ出力する。次にステップＳ２２
０において、制御器３６はユーザーが品質テスト要求を
入力したかどうかを決定する。もし、品質テスト要求が
入力されていないと、処理は終了する。品質テスト要求
が入力されている場合は、次にステップＳ２３０におい
て、制御器３６は、周知の何れかの方法で、ピックアッ
プ３２−２の現在位置を検出する。
を記録したのち、処理はステップＳ７０に移動する。ス
テップＳ７０において、制御器３６は光ディスクに対す
るＴＯＣデータを更新してテストデータとテストデータ
のリードインおよびリードアウトの位置を指示する。本
発明にかかる光ディスク品質テスト装置の、品質テスト
動作について、以下に図３（Ａ）および図９を参照して
説明する。図９は、本発明に基づいて光ディスクの品質
をテストするための方法を示す。図９に示すように、ス
テップＳ２００において、制御器３６は、ピックアップ
ユニット３２を制御して光ディスク３１−１のためのＴ
ＯＣデータを再生しかつ出力する。次にステップＳ２２
０において、制御器３６はユーザーが品質テスト要求を
入力したかどうかを決定する。もし、品質テスト要求が
入力されていないと、処理は終了する。品質テスト要求
が入力されている場合は、次にステップＳ２３０におい
て、制御器３６は、周知の何れかの方法で、ピックアッ
プ３２−２の現在位置を検出する。
【００２８】ＴＯＣデータ中に示されたテストデータに
対するリードイン位置とピックアップ３２−２の現在位
置とに基づいて、制御器３６はピックアップ３２−２
を、ステップＳ２４０においてテストデータのリードイ
ンに移動させる。テストデータに対するリードインの位
置表示のほかに、ＴＯＣデータは同様にこの位置データ
を介して、テストデータが内側から外側へ放射状に、あ
るいは外側から内側へ放射状に記録されているかを示
す。この決定に基づいて、制御器３６はステップＳ２５
０においてピックアップ３２−２にテストデータを再生
させる。
対するリードイン位置とピックアップ３２−２の現在位
置とに基づいて、制御器３６はピックアップ３２−２
を、ステップＳ２４０においてテストデータのリードイ
ンに移動させる。テストデータに対するリードインの位
置表示のほかに、ＴＯＣデータは同様にこの位置データ
を介して、テストデータが内側から外側へ放射状に、あ
るいは外側から内側へ放射状に記録されているかを示
す。この決定に基づいて、制御器３６はステップＳ２５
０においてピックアップ３２−２にテストデータを再生
させる。
【００２９】記録済みの光ディスクに対して図３（Ａ）
に示すように、あるいは追記型光ディスクに対して図３
（Ｂ）に示すように、テストデータは順次再生され、あ
るいはこのテストデータは記録済みのディスク対して図
４（Ａ）に示し、追記型光ディスクに対して図４（Ｂ）
に示すように、予め決められた間隔で再生することがで
きる。その上、テストデータの予め決められた選択部分
を、記録済みのディスクに対して図５（Ａ）に示し、か
つ追記型光ディスクに対して図５（Ｂ）に示すようにし
て、再生することができる。
に示すように、あるいは追記型光ディスクに対して図３
（Ｂ）に示すように、テストデータは順次再生され、あ
るいはこのテストデータは記録済みのディスク対して図
４（Ａ）に示し、追記型光ディスクに対して図４（Ｂ）
に示すように、予め決められた間隔で再生することがで
きる。その上、テストデータの予め決められた選択部分
を、記録済みのディスクに対して図５（Ａ）に示し、か
つ追記型光ディスクに対して図５（Ｂ）に示すようにし
て、再生することができる。
【００３０】ステップＳ２６０において、再生されたテ
ストデータは、ＲＦ増幅器３３によって処理され、比較
器３５に出力される。制御器３６の制御下で、比較器３
５はテストデータのメモリ３４中に記憶された予め決め
られたデータとの比較を実行し、この比較結果に基づい
て光学データの品質を判定する。比較器３５と制御器３
６とによって、一回または数回の品質テスト操作の組み
合わせが実行される。これらの品質テスト方法として
は、ピットパターンテスト、ビットパターンテストおよ
びアナログ信号テストが含まれる。
ストデータは、ＲＦ増幅器３３によって処理され、比較
器３５に出力される。制御器３６の制御下で、比較器３
５はテストデータのメモリ３４中に記憶された予め決め
られたデータとの比較を実行し、この比較結果に基づい
て光学データの品質を判定する。比較器３５と制御器３
６とによって、一回または数回の品質テスト操作の組み
合わせが実行される。これらの品質テスト方法として
は、ピットパターンテスト、ビットパターンテストおよ
びアナログ信号テストが含まれる。
【００３１】ＣＤおよびデジタルビデオディスク（また
は多用途デジタルディスク）ＤＶＤにおいて、最も小さ
いビットパターンは３Ｔであり、一方最も大きなビット
パターンはＣＤに対して１１Ｔであり、ＤＶＤに対して
１４Ｔである。３Ｔ、４Ｔ等は、予め決められたビット
パターンに対応するピッチ長さを指定するものである。
図１０（Ａ）は、ＲＦ増幅器３３からの信号出力と光デ
ィスク３１−１におけるテストデータを表すピットとの
関係を示すものである。この図１０（Ａ）に示すよう
に、ＲＦ増幅器３３からの信号出力は、例えば、ピット
の始まりの時点において、ロウ状態からハイ状態に遷移
し、ピットの長さにわたってハイを維持し、さらにピッ
トの終わりの時点でハイからロウへ遷移する。ＲＦ増幅
器３３からの信号出力の遷移は、ビット値１を表し、一
方ＲＦ増幅器３３からの信号出力がハイを維持する長さ
は、０の数を表している。３Ｔピットはビット流１００
１を表す。３Ｔピットよりも長い４Ｔピットはビットパ
ターン１０００１を表す。ピットパターンが３Ｔから１
１Ｔまたは１４Ｔに順次増加するに伴って、０の数も増
加する。
は多用途デジタルディスク）ＤＶＤにおいて、最も小さ
いビットパターンは３Ｔであり、一方最も大きなビット
パターンはＣＤに対して１１Ｔであり、ＤＶＤに対して
１４Ｔである。３Ｔ、４Ｔ等は、予め決められたビット
パターンに対応するピッチ長さを指定するものである。
図１０（Ａ）は、ＲＦ増幅器３３からの信号出力と光デ
ィスク３１−１におけるテストデータを表すピットとの
関係を示すものである。この図１０（Ａ）に示すよう
に、ＲＦ増幅器３３からの信号出力は、例えば、ピット
の始まりの時点において、ロウ状態からハイ状態に遷移
し、ピットの長さにわたってハイを維持し、さらにピッ
トの終わりの時点でハイからロウへ遷移する。ＲＦ増幅
器３３からの信号出力の遷移は、ビット値１を表し、一
方ＲＦ増幅器３３からの信号出力がハイを維持する長さ
は、０の数を表している。３Ｔピットはビット流１００
１を表す。３Ｔピットよりも長い４Ｔピットはビットパ
ターン１０００１を表す。ピットパターンが３Ｔから１
１Ｔまたは１４Ｔに順次増加するに伴って、０の数も増
加する。
【００３２】ピットパターン方法を用いて品質をテスト
する場合、同じピットパターンがテストデータとして繰
り返し記録される。好ましい実施例では、記録されたピ
ットパターンは３Ｔピットパターンである。３Ｔピット
パターンは最も小さいピットパターンであり、エラーが
最も検出されやすい。比較器３５は、例えば図１０
（Ａ）に示すようにＲＦ増幅器３３によって出力された
ピットパターン信号を、メモリ３４に記憶された基準信
号と比較する。基準信号は光ディスク上に記録されたピ
ットパターンを表す。基準信号に一致する１個のピット
を表すピットパターン信号の各部分は、認識されたデー
タに対応する。例えば、３Ｔピットパターンが使用され
た場合、認識された各ピットは認識されたデータの４ビ
ットを表す。比較器３５は認識されたテストデータの全
量を決定し、その後この認識されたテストデータの全量
をメモリ３４中に記憶された予め決められた認識データ
のしきい値と比較する。メモリ３４は、図３（Ａ）と
（Ｂ）、図４（Ａ）と（Ｂ）および図５（Ａ）と（Ｂ）
に示される各再生方法（即ち、順次、周期的、および部
分選択）に関連した、認識データのしきい値を記憶して
いる。従って、再生のタイプ（順次、周期的、または部
分選択）に依存して、異なった認識データのしきい値が
選択され比較器３５によって使用される。比較器３５は
比較結果を制御器３６に出力する。
する場合、同じピットパターンがテストデータとして繰
り返し記録される。好ましい実施例では、記録されたピ
ットパターンは３Ｔピットパターンである。３Ｔピット
パターンは最も小さいピットパターンであり、エラーが
最も検出されやすい。比較器３５は、例えば図１０
（Ａ）に示すようにＲＦ増幅器３３によって出力された
ピットパターン信号を、メモリ３４に記憶された基準信
号と比較する。基準信号は光ディスク上に記録されたピ
ットパターンを表す。基準信号に一致する１個のピット
を表すピットパターン信号の各部分は、認識されたデー
タに対応する。例えば、３Ｔピットパターンが使用され
た場合、認識された各ピットは認識されたデータの４ビ
ットを表す。比較器３５は認識されたテストデータの全
量を決定し、その後この認識されたテストデータの全量
をメモリ３４中に記憶された予め決められた認識データ
のしきい値と比較する。メモリ３４は、図３（Ａ）と
（Ｂ）、図４（Ａ）と（Ｂ）および図５（Ａ）と（Ｂ）
に示される各再生方法（即ち、順次、周期的、および部
分選択）に関連した、認識データのしきい値を記憶して
いる。従って、再生のタイプ（順次、周期的、または部
分選択）に依存して、異なった認識データのしきい値が
選択され比較器３５によって使用される。比較器３５は
比較結果を制御器３６に出力する。
【００３３】認識されたデータ量が認識データのしきい
値よりも大きい場合、制御器３６はステップＳ２６０で
光ディスクが優れた品質を有していると決定する。その
他の場合、制御器３６はステップＳ２６０において光デ
ィスクが不十分な品質を有していると決定する。ピット
パターンテストの代わりに、あるいはこれに加えて、ビ
ットパターンテストを実施し光ディスク３１−１の品質
を判定することも可能である。ビットパターンテストで
は、ピットパターン信号はビット流に変換される。即
ち、各ピットはそれを代表するビットに変換される。こ
の結果生じたビットパターンは比較器３５によって、メ
モリ３４中に記憶されたビットパターンの基準バージョ
ンと比較される。ピットパターンテストと異なって、ビ
ットパターンテストは、同じピットパターンを光ディス
ク中にテストデータとして繰り返して記録することを必
要としない。何らかの予め決められたピット配置をテス
トデータとして光ディスク３１−１中に記録して置くこ
とが可能である。メモリ３４中に記憶された基準ビット
パターンは光ディスク３１−１中に記録されたピットパ
ターンに対応している。
値よりも大きい場合、制御器３６はステップＳ２６０で
光ディスクが優れた品質を有していると決定する。その
他の場合、制御器３６はステップＳ２６０において光デ
ィスクが不十分な品質を有していると決定する。ピット
パターンテストの代わりに、あるいはこれに加えて、ビ
ットパターンテストを実施し光ディスク３１−１の品質
を判定することも可能である。ビットパターンテストで
は、ピットパターン信号はビット流に変換される。即
ち、各ピットはそれを代表するビットに変換される。こ
の結果生じたビットパターンは比較器３５によって、メ
モリ３４中に記憶されたビットパターンの基準バージョ
ンと比較される。ピットパターンテストと異なって、ビ
ットパターンテストは、同じピットパターンを光ディス
ク中にテストデータとして繰り返して記録することを必
要としない。何らかの予め決められたピット配置をテス
トデータとして光ディスク３１−１中に記録して置くこ
とが可能である。メモリ３４中に記憶された基準ビット
パターンは光ディスク３１−１中に記録されたピットパ
ターンに対応している。
【００３４】比較器３５は、ピットパターン信号から導
出されたビットパターンを、ピット対ピットを基本とし
て基準ビットパターンと比較する。言い換えると、ピッ
トに対応する各ビットグループは、基準ビットパターン
中の対応するビットグループと比較される。もし一致す
れば、一致するビットは認識されたものと見なされる。
比較器３５は、認識されたデータの全量を合計し、さら
にこのデータの全認識量をメモリ３４中に記憶された予
め決められた認識データのしきい値と比較する。比較結
果は制御器３６に出力される。ピットパターンテストと
同様に、メモリ３４は、順次、周期的、および部分選択
の各再生モードに関する認識データのしきい値を記憶す
る。従って、認識データのしきい値は、（順次、周期的
または部分的）再生モードに依存する。
出されたビットパターンを、ピット対ピットを基本とし
て基準ビットパターンと比較する。言い換えると、ピッ
トに対応する各ビットグループは、基準ビットパターン
中の対応するビットグループと比較される。もし一致す
れば、一致するビットは認識されたものと見なされる。
比較器３５は、認識されたデータの全量を合計し、さら
にこのデータの全認識量をメモリ３４中に記憶された予
め決められた認識データのしきい値と比較する。比較結
果は制御器３６に出力される。ピットパターンテストと
同様に、メモリ３４は、順次、周期的、および部分選択
の各再生モードに関する認識データのしきい値を記憶す
る。従って、認識データのしきい値は、（順次、周期的
または部分的）再生モードに依存する。
【００３５】制御器３６は、認識データの全量が認識デ
ータしきい値を越えた場合、光ディスク３１−１は優れ
た品質を有していると決定し、それ以外では制御器３６
は光ディスク３１−１が不十分な品質を有していると決
定する。ピットパターンテストとビットパターンテスト
の代わりに、またはこの両方あるいは何れか一方に加え
て、アナログ信号テストを実施して光ディスク３１−１
の品質を決定することも可能である。このアナログ信号
テストにおいて、ピットパターン信号から導出されたビ
ットパターンは、比較器３５によってデジタルからアナ
ログへ変換され、図１０（Ｂ）に示すようなアナログ信
号を得る。比較器３５は次に、このアナログ信号に対し
て、振幅および周波数テストの何れか一方または両方を
実行する。振幅テストにおいて、比較器３５はアナログ
信号の振幅を、図１０（Ｂ）にＡTHおよび−ＡTHとして
示す振幅しきい値範囲と比較する。
ータしきい値を越えた場合、光ディスク３１−１は優れ
た品質を有していると決定し、それ以外では制御器３６
は光ディスク３１−１が不十分な品質を有していると決
定する。ピットパターンテストとビットパターンテスト
の代わりに、またはこの両方あるいは何れか一方に加え
て、アナログ信号テストを実施して光ディスク３１−１
の品質を決定することも可能である。このアナログ信号
テストにおいて、ピットパターン信号から導出されたビ
ットパターンは、比較器３５によってデジタルからアナ
ログへ変換され、図１０（Ｂ）に示すようなアナログ信
号を得る。比較器３５は次に、このアナログ信号に対し
て、振幅および周波数テストの何れか一方または両方を
実行する。振幅テストにおいて、比較器３５はアナログ
信号の振幅を、図１０（Ｂ）にＡTHおよび−ＡTHとして
示す振幅しきい値範囲と比較する。
【００３６】周波数テストにおいて、比較器３５は、図
１０（Ｂ）に示す例えばｔ１およびｔ２のようなゼロと
の交点を各交点に対応する予め決められた時間しきい値
範囲と比較する。さらに特定すると、光ディスク３１−
１上に記録されたテストデータは予め決められているの
で、結果として生じるアナログ信号は同様に既知であ
り；従ってゼロとの交点も既知となる。これらのゼロと
の交点に対して経験的に決められたエラーマージンの要
素を入れる事によって、再生アナログ信号の各ゼロ交点
の時間しきい値範囲が結果として得られる。各ゼロ交点
に対する時間しきい値範囲は次にメモリ３４に記憶され
る。
１０（Ｂ）に示す例えばｔ１およびｔ２のようなゼロと
の交点を各交点に対応する予め決められた時間しきい値
範囲と比較する。さらに特定すると、光ディスク３１−
１上に記録されたテストデータは予め決められているの
で、結果として生じるアナログ信号は同様に既知であ
り；従ってゼロとの交点も既知となる。これらのゼロと
の交点に対して経験的に決められたエラーマージンの要
素を入れる事によって、再生アナログ信号の各ゼロ交点
の時間しきい値範囲が結果として得られる。各ゼロ交点
に対する時間しきい値範囲は次にメモリ３４に記憶され
る。
【００３７】勿論、他のテスト方法と同様に、使用され
た記憶時間しきい値範囲は再生モード（順次、周期、ま
たは部分選択）に依存している。光ディスク３１−１の
品質は振幅テスト、周波数テストまたは振幅および周波
数テストの両者に基づいて判定される。もし、アナログ
信号の振幅が振幅しきい値範囲を越えると、制御器３６
はこの光ディスク３１−１の品質が不十分であると決定
する。同様に、もしアナログ信号のゼロ交点が対応する
時間しきい値範囲の外側にある場合、制御器３６はこの
光ディスク３１−１の品質が充分でないと決定する。も
しこの制御器３６が、振幅テスト、周波数テスト、また
は振幅および周波数テストの両者に基づいて、品質が不
十分であるとの判定に達しないと、制御器３６はこの光
ディスク３１−１が優れた品質を有していると判定す
る。
た記憶時間しきい値範囲は再生モード（順次、周期、ま
たは部分選択）に依存している。光ディスク３１−１の
品質は振幅テスト、周波数テストまたは振幅および周波
数テストの両者に基づいて判定される。もし、アナログ
信号の振幅が振幅しきい値範囲を越えると、制御器３６
はこの光ディスク３１−１の品質が不十分であると決定
する。同様に、もしアナログ信号のゼロ交点が対応する
時間しきい値範囲の外側にある場合、制御器３６はこの
光ディスク３１−１の品質が充分でないと決定する。も
しこの制御器３６が、振幅テスト、周波数テスト、また
は振幅および周波数テストの両者に基づいて、品質が不
十分であるとの判定に達しないと、制御器３６はこの光
ディスク３１−１が優れた品質を有していると判定す
る。
【００３８】次に、ステップＳ２７０において、もし制
御器３６がこの光ディスク３１−１が不十分な品質を有
していると判定すると、次に処理はステップＳ２８０に
進み、制御器３６はインジケータ３８を駆動し処理を終
了する。この様にして、ユーザーは、テストした光ディ
スクが不十分な品質を有する光ディスクであるとの警告
を受ける。もしステップＳ２７０で、光ディスクが優れ
た品質を有すると判定された場合、処理は終了する。
御器３６がこの光ディスク３１−１が不十分な品質を有
していると判定すると、次に処理はステップＳ２８０に
進み、制御器３６はインジケータ３８を駆動し処理を終
了する。この様にして、ユーザーは、テストした光ディ
スクが不十分な品質を有する光ディスクであるとの警告
を受ける。もしステップＳ２７０で、光ディスクが優れ
た品質を有すると判定された場合、処理は終了する。
【００３９】以上議論したように、ピットパターンテス
ト、ビットパターンテスト、振幅テストおよび周波数テ
ストは、光ディスクの品質を決定するためにそれぞれ別
個に使用されあるいは他のものと組み合わせて使用され
る。さらに、前述の品質テストに加え、光ディスクは別
の、機械的および信号品質テストを受ける事が可能であ
る。例えば、レーザビームによって光ディスク表面を走
査しこれをＣＣＤカメラを用いてモニタすることによっ
て、光ディスクの全表面をディスプレイすることができ
る。この表面は次にディスプレイを使用して視覚的にチ
ェックされる。
ト、ビットパターンテスト、振幅テストおよび周波数テ
ストは、光ディスクの品質を決定するためにそれぞれ別
個に使用されあるいは他のものと組み合わせて使用され
る。さらに、前述の品質テストに加え、光ディスクは別
の、機械的および信号品質テストを受ける事が可能であ
る。例えば、レーザビームによって光ディスク表面を走
査しこれをＣＣＤカメラを用いてモニタすることによっ
て、光ディスクの全表面をディスプレイすることができ
る。この表面は次にディスプレイを使用して視覚的にチ
ェックされる。
【００４０】その他のテストとして、プッシュ／プル、
クロストーク、およびリードイン開始ポイントＢＬＩ、
主記憶領域開始ポイントＢＰＬ、およびリードアウト開
始ポイントＢＬＯが含まれる。前述のテストプロセスを
介して、リードイン開始ポイントＢＬＩ、主記憶領域開
始ポイントＢＰＬ、リードアウト開始ポイントＢＬＯ、
トラックおよびインデックス開始ポイント、テスト速
度、トラックピッチ、反り撓み、捩じれ撓み、光ディス
クの厚さ、角度撓み、垂直撓み、光ディスクの半径およ
び光ディスクの中心ホールの直径などの機械的特性測定
値がチェックされる。
クロストーク、およびリードイン開始ポイントＢＬＩ、
主記憶領域開始ポイントＢＰＬ、およびリードアウト開
始ポイントＢＬＯが含まれる。前述のテストプロセスを
介して、リードイン開始ポイントＢＬＩ、主記憶領域開
始ポイントＢＰＬ、リードアウト開始ポイントＢＬＯ、
トラックおよびインデックス開始ポイント、テスト速
度、トラックピッチ、反り撓み、捩じれ撓み、光ディス
クの厚さ、角度撓み、垂直撓み、光ディスクの半径およ
び光ディスクの中心ホールの直径などの機械的特性測定
値がチェックされる。
【００４１】本発明に基づく光ディスクの品質テストの
ための方法および装置は、光ディスクの外側領域にテス
トデータを記録し、ここからテストデータを再生する。
この領域は、記録済み光ディスクまたは追記型光ディス
クの両者において使用されない。従って、製造された各
ディスクは、その商品としての価値を失うことなく、品
質テストを実施することが出来る。その結果、本発明に
基づく品質テストは非常に正確でかつ信頼性が高い物と
なる。
ための方法および装置は、光ディスクの外側領域にテス
トデータを記録し、ここからテストデータを再生する。
この領域は、記録済み光ディスクまたは追記型光ディス
クの両者において使用されない。従って、製造された各
ディスクは、その商品としての価値を失うことなく、品
質テストを実施することが出来る。その結果、本発明に
基づく品質テストは非常に正確でかつ信頼性が高い物と
なる。
【００４２】以上に説明した本発明を、種々の方法で変
更することが可能であることは明らかである。このよう
な変更は、本発明の精神および範囲から逸脱するもので
はなく、この技術の当業者にとって明らかなようにこの
ような修正は、特許請求の範囲内に含まれるものである
とみなされる。
更することが可能であることは明らかである。このよう
な変更は、本発明の精神および範囲から逸脱するもので
はなく、この技術の当業者にとって明らかなようにこの
ような修正は、特許請求の範囲内に含まれるものである
とみなされる。
【図１】従来の光ディスクを示す図。
【図２】本発明にかかる光ディスクを示す図。
【図３】本発明によるテストデータの再生方法を示す
図。
図。
【図４】本発明によるテストデータの他の再生方法を示
す図。
す図。
【図５】本発明によるテストデータのさらに他の再生方
法を示す図。
法を示す図。
【図６】テストデータを光ディスク中に記録しさらに光
ディスクの品質をテストするための装置のブロック図。
ディスクの品質をテストするための装置のブロック図。
【図７】本発明によって光ディスク中にテストデータを
記録するための方法のフローチャート。
記録するための方法のフローチャート。
【図８】本発明によってテストデータを書き込んだ光学
データの情報状態を示す図。
データの情報状態を示す図。
【図９】本発明によって光学データの品質をテストする
ための方法のフローチャートを示す図。
ための方法のフローチャートを示す図。
【図１０】図１０Ａは光ディスク上のピットパターンと
再生されたピットパターン信号の関係を示し、図１０Ｂ
は再生されたアナログ信号のサンプルを示す。
再生されたピットパターン信号の関係を示し、図１０Ｂ
は再生されたアナログ信号のサンプルを示す。
ＭＳＡ…主記憶領域 ＳＴＰ…テストデータ ３１…駆動ユニット ３１−１…光ディスク ３１−２…ピックアップ ３１−３…クランプ ３１−４…スピンドルモータ ３２−１…スライドモータ ３３…ＲＦ増幅器 ３４…メモリ ３５…比較器 ３６…制御器 ３７…サーボ ３８…インジケータ
Claims (56)
- 【請求項１】 光ディスク媒体の品質をテストするため
の方法であって、該方法は：テスト信号を形成するため
に前記光ディスク媒体の主情報記憶領域の周辺外側に位
置する前記光ディスク媒体の外側領域のテストデータを
再生し；さらに前記再生されたテスト信号に基づいて前
記光ディスク媒体の品質を判定する；各ステップからな
る、光ディスク媒体の品質をテストするための方法。 - 【請求項２】 前記光ディスク媒体の前記外側領域は前
記光ディスク媒体の最も外側の点から該光ディスク媒体
上の予め決められた点までの範囲である事を特徴とす
る、請求項１に記載の光ディスク媒体の品質をテストす
るための方法。 - 【請求項３】 前記予め決められた点は、前記主情報記
憶領域のリードアウト領域の周辺外側に位置する事を特
徴とする、請求項２に記載の光ディスク媒体の品質をテ
ストするための方法。 - 【請求項４】 前記再生ステップは、前記テスト信号を
形成するために前記外側領域における前記テストデータ
を順次再生する事を特徴とする、請求項１に記載の光デ
ィスク媒体の品質をテストするための方法。 - 【請求項５】 前記再生ステップは、前記テストデータ
を、前記外側領域の内側部分から該外側領域の外側部分
に向かって再生し、前記内側部分は前記外側部分よりも
前記光ディスク媒体の中心近くに位置している事を特徴
とする、請求項１に記載の光ディスク媒体の品質をテス
トするための方法。 - 【請求項６】 前記再生ステップは、前記テストデータ
を、前記外側領域の外側部分から該外側領域の内側部分
に向かって再生し、前記内側部分は前記外側部分よりも
前記光ディスク媒体の中心近くに位置している事を特徴
とする、請求項１に記載の光ディスク媒体の品質をテス
トするための方法。 - 【請求項７】 前記再生ステップは、前記テストデータ
を前記外側領域に沿って周期的間隔で再生する事を特徴
とする、請求項１に記載の光ディスク媒体の品質をテス
トするための方法。 - 【請求項８】 前記再生ステップは前記テストデータを
前記外側領域の複数の部分から再生することを特徴とす
る、請求項１に記載の光ディスク媒体の品質をテストす
るための方法。 - 【請求項９】 さらに、前記判定ステップにおいて前記
光ディスク媒体の品質が不十分であると判定した場合、
警告をオペレータに出力するステップを含む、請求項１
に記載の光ディスク媒体の品質をテストするための方
法。 - 【請求項１０】 前記再生ステップは前記テスト信号と
してピットパターン信号を再生し、前記ピットパターン
信号は前記光ディスク媒体の前記外側領域における予め
決められたピットパターンを表すものであり；さらに前
記判定ステップは、前記ピットパターン信号と前記予め
決められたピットパターンを表す基準信号とに基づいて
前記光ディスク媒体の品質を判定するものである；請求
項１に記載の光ディスク媒体の品質をテストするための
方法。 - 【請求項１１】 前記判定ステップは、前記ピットパタ
ーン信号を前記基準信号と比較し、前記基準信号に一致
する前記ピットパターン信号中の情報量を決定し、さら
に前記情報量が予め決められたしきい値よりも大きい場
合前記光ディスク媒体が優れた品質を有していると決定
するものである、請求項１０に記載の光ディスク媒体の
品質をテストするための方法。 - 【請求項１２】 前記予め決められたパターンは３Ｔピ
ットパターンである事を特徴とする、請求項１０に記載
の光ディスク媒体の品質をテストするための方法。 - 【請求項１３】 前記再生ステップは前記テスト信号を
再生しさらにその上にビットパターンを生成し；前記判
定ステップは前記光ディスク媒体の品質を前記ビットパ
ターンおよび予め決められたビットパターンに基づいて
判定するものである；請求項１に記載の光ディスク媒体
の品質をテストするための方法。 - 【請求項１４】 前記判定ステップは前記ビットパター
ンを前記予め決められたビットパターンと比較し、前記
予め決められたビットパターンと一致する前記ビットパ
ターン信号中の情報量を決定し、さらに前記情報量が予
め決められたしきい値よりも大きい場合前記光ディスク
媒体が優れた品質を有していると決定するものである、
請求項１３に記載の光ディスク媒体の品質をテストする
ための方法。 - 【請求項１５】 前記判定ステップは前記ビットパター
ンを、前記光ディスク媒体の前記外側領域上の予め決め
られたピットパターンに対応するビットグループ中の前
記予め決められたビットパターンと比較するものであ
る、請求項１４に記載の光ディスク媒体の品質をテスト
するための方法。 - 【請求項１６】 前記判定ステップは第１に前記テスト
信号の振幅を予め決められたしきい値範囲と比較し、さ
らに前記第１の比較に基づいて前記光ディスク媒体の品
質を決定するものである、請求項１に記載の光ディスク
媒体の品質をテストするための方法。 - 【請求項１７】 前記判定ステップは第２に前記テスト
信号の周波数を予め決められた信号の周波数と比較し、
さらに前記第１および第２の比較に基づいて前記光ディ
スク媒体の品質を決定するものである、請求項１６に記
載の光ディスクの品質をテストするための方法。 - 【請求項１８】 前記判定ステップは前記テスト信号の
周波数を予め決められた信号の周波数と比較し、さらに
前記比較に基づいて前記光ディスクの品質を決定するも
のである、請求項１に記載の光ディスク媒体の品質をテ
ストするための方法。 - 【請求項１９】 光ディスク媒体の品質をテストするた
めの装置であって、該装置は：テスト信号を形成するた
めに前記光ディスク媒体の主情報記憶領域の周辺外側に
位置する前記光ディスク媒体の外側領域のテストデータ
を再生する光学ピックアップと；および前記再生された
テスト信号に基づいて前記光ディスク媒体の品質を判定
するための判定手段；とを具備する光ディスク媒体の品
質をテストするための装置。 - 【請求項２０】 前記光ディスク媒体の前記外側領域は
前記光ディスク媒体の最も外側の点から前記光ディスク
媒体上の予め決められた点までの範囲であることを特徴
とする、請求項１９に記載の光ディスク媒体の品質をテ
ストするための装置。 - 【請求項２１】 前記予め決められた点は、前記主情報
記憶領域のリードアウト領域の周辺外側に位置する事を
特徴とする、請求項２０に記載の光ディスク媒体の品質
をテストするための装置。 - 【請求項２２】 前記光学ピックアップは、前記テスト
信号を形成するために前記外側領域内のテストデータを
順次再生するものである、請求項１９に記載の光ディス
ク媒体の品質をテストするための装置。 - 【請求項２３】 前記光学ピックアップは、前記テスト
データを前記外側領域の内側部分から前記外側領域の外
側部分に向かって再生し、前記内側部分は前記外側部分
よりも前記光ディスク媒体の中心近くに位置しているこ
とを特徴とする、請求項１９に記載の光ディスク媒体の
品質をテストするための装置。 - 【請求項２４】 前記光学ピックアップは、前記テスト
データを前記外側領域の外側部分から前記外側領域の内
側部分に向かって再生し、前記内側部分は前記外側部分
よりも前記光ディスク媒体の中心近くに位置しているこ
とを特徴とする、請求項１９に記載の光ディスク媒体の
品質をテストするための装置。 - 【請求項２５】 前記光学ピックアップは前記テストデ
ータを前記外側領域に沿って周期的間隔で再生する事を
特徴とする、請求項１９に記載の光ディスク媒体の品質
をテストするための装置。 - 【請求項２６】 前記光学ピックアップは、前記外側領
域の複数の部分における前記テストデータを再生する事
を特徴とする、請求項１９に記載の光ディスク媒体の品
質をテストするための装置。 - 【請求項２７】 さらにインジケータを具備し、前記判
定手段は、前記光ディスクが十分でない品質を有するも
のと判定した場合、前記インジケータにオペレータへの
警告を出力させるものである、請求項１９に記載の光デ
ィスク媒体の品質をテストするための装置。 - 【請求項２８】 前記光学ピックアップは前記テスト信
号としてピットパターン信号を再生し、前記ピットパタ
ーン信号は前記光ディスク媒体の前記外側領域における
予め決められたピットパターンを表すものであり；さら
に前記判定手段は、前記ピットパターン信号と前記予め
決められたピットパターンを表す基準信号に基づいて前
記光ディスク媒体の品質を判定するものである；請求項
１９に記載の光ディスク媒体の品質をテストするための
装置。 - 【請求項２９】 前記判定手段は、前記ピットパターン
信号を前記基準信号と比較し、前記基準信号に一致する
前記ピットパターン信号中の情報量を決定し、さらに前
記情報量が予め決められたしきい値よりも大きい場合前
記光ディスク媒体が優れた品質を有していると決定する
ものである、請求項１９に記載の光ディスク媒体の品質
をテストするための装置。 - 【請求項３０】 前記予め決められたパターンは３Ｔピ
ットパターンであることを特徴とする、請求項２８に記
載の光ディスク媒体の品質をテストするための装置。 - 【請求項３１】 前記光学ピックアップは前記テスト信
号を再生しかつその上にビットパターンを生成し；前記
判定手段は前記ビットパターンおよび予め決められたビ
ットパターンに基づいて前記光ディスク媒体の品質を判
定するものである；請求項１９に記載の光ディスク媒体
の品質をテストするための装置。 - 【請求項３２】 前記判定手段は、前記ビットパターン
信号を前記予め決められたビットパターンと比較し、前
記予め決められたビットパターンと一致する前記ビット
パターン信号中の情報量を決定し、さらに前記情報量が
予め決められたしきい値よりも大きい場合前記光ディス
ク媒体が優れた品質を有していると決定するものであ
る、請求項３１に記載の光ディスク媒体の品質をテスト
するための装置。 - 【請求項３３】 前記判定手段は前記ビットパターン
を、前記光ディスク媒体の前記外側領域上の予め決めら
れたピットパターンに対応するビットグループにおける
前記予め決められたビットパターンと比較する事を特徴
とする、請求項３２に記載の光ディスク媒体の品質をテ
ストするための装置。 - 【請求項３４】 前記判定手段は第１に前記テスト信号
の振幅を予め決められたしきい値範囲と比較し、さらに
前記第１の比較に基づいて前記光ディスク媒体の品質を
決定することを特徴とする、請求項１９に記載の光ディ
スク媒体の品質をテストするための装置。 - 【請求項３５】 前記判定手段は第２に前記テスト信号
の周波数を予め決められた信号周波数と比較し、さらに
前記第１および第２の比較に基づいて前記光ディスクの
品質を決定するものである、請求項３４に記載の光ディ
スク媒体の品質をテストするための装置。 - 【請求項３６】 前記判定手段は前記テスト信号の周波
数を予め決められた信号周波数と比較し、さらに前記比
較に基づいて前記光ディスクの品質を決定するものであ
る、請求項１９に記載の光ディスク媒体の品質をテスト
するための装置。 - 【請求項３７】 主情報記憶領域と；さらにテスト信号
を記憶する、前記主情報記憶領域の周辺外側の、外側領
域；とを具備する光ディスク媒体。 - 【請求項３８】 前記外側領域は前記光ディスク媒体の
最も外側の点から該光ディスク媒体上の予め決められた
点までの範囲である事を特徴とする、請求項３７に記載
の光ディスク媒体。 - 【請求項３９】 前記予め決められた点は、前記主情報
記憶領域のリードアウト領域の周辺外側である事を特徴
とする、請求項３８に記載の光ディスク媒体。 - 【請求項４０】 さらに、前記主情報記憶領域と前記外
側領域の周辺間に位置するダンパ領域を具備する、請求
項３７に記載の光ディスク媒体。 - 【請求項４１】 さらに、前記外側領域へのリードイン
領域と；および前記外側領域からのリードアウト領域；
とを具備し、前記リードイン領域は前記リードアウト領
域よりも前記光ディスクの中心により近く配置されてい
る事を特徴とする、請求項３７に記載の光ディスク媒
体。 - 【請求項４２】 さらに、前記外側領域へのリードイン
領域と；および前記外側領域からのリードアウト領域；
とを具備し、前記リードアウト領域は前記リードイン領
域よりも前記光ディスクの中心により近く配置されてい
る事を特徴とする、請求項３７に記載の光ディスク媒
体。 - 【請求項４３】 テスト信号を光ディスク媒体中に記録
するための方法であって、該方法は：テスト信号を形成
するために光学ピックアップを前記光ディスク媒体の主
情報記憶領域の外側周辺に位置する前記光ディスク媒体
の外側領域に位置決めし；さらに前記外側領域にテスト
データを記録する；各ステップを具備する、テスト信号
を光ディスク媒体中に記録するための方法。 - 【請求項４４】 前記位置決めステップは：前記光学ピ
ックアップの位置を検出し；前記主情報記憶領域のため
のリードアウト領域の位置を決定し；前記光学ピックア
ップを前記主情報記憶領域のための前記リードアウト領
域の終端に位置決めする；各ステップを具備する、請求
項４３に記載のテスト信号を光ディスク媒体中に記録す
るための方法。 - 【請求項４５】 前記記録ステップは、テストデータを
前記外側領域の内側部分から前記外側領域の外側部分へ
と記録し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光デ
ィスク媒体の中心により近く位置しているものである、
請求項４４に記載のテスト信号を光ディスク媒体中に記
録するための方法。 - 【請求項４６】 前記記録ステップは、テストデータを
前記外側領域の内側部分から前記外側領域の外側部分へ
と記録し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光デ
ィスク媒体の中心により近く位置しているものである、
請求項４３に記載のテスト信号を光ディスク媒体中に記
録するための方法。 - 【請求項４７】 前記位置決めステップは：前記光学ピ
ックアップの位置を検出し；前記光ディスク媒体の記録
領域の終端を検出し；前記記録領域の前記終端に前記光
学ピックアップを位置決めする；各ステップを具備す
る、請求項４３に記載のテスト信号を光ディスク媒体中
に記録するための方法。 - 【請求項４８】 前記記録ステップは、前記テストデー
タを前記外側領域の外側部分から前記外側領域の内側部
分へ記録し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光
ディスク媒体の中心により近く配置されているものであ
る、請求項４７に記載のテスト信号を光ディスク媒体中
に記録するための方法。 - 【請求項４９】 前記記録ステップは、前記テストデー
タを前記外側領域の外側部分から前記外側領域の内側部
分へ記録し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光
ディスク媒体の中心により近く配置されているものであ
る、請求項４３に記載のテスト信号を光ディスク媒体中
に記録するための方法。 - 【請求項５０】 テスト信号を光ディスク媒体中に記録
するための装置であって、該装置は：光学ピックアップ
と；前記光学ピックアップを前記光ディスク媒体の主情
報記録領域の周辺外側に配置された前記光ディスク媒体
の外側領域に位置決めし、さらに前記テストデータを前
記光学ピックアップを使用して前記外側領域に記録する
ための制御手段；とを具備するテスト信号を光ディスク
媒体中に記録するための装置。 - 【請求項５１】 前記制御手段は前記光学ピックアップ
の位置を検出し、前記主情報記録領域のためのリードア
ウト領域の位置を検出し、さらに前記光学ピックアップ
を前記主情報記憶領域のための前記リードアウト領域の
終端に位置決めするものである、請求項５０に記載のテ
スト信号を光ディスク媒体中に記録するための装置。 - 【請求項５２】 前記制御手段は、テストデータを前記
外側領域の内側部分から前記外側領域の外側部分へ記録
し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光ディスク
媒体の中心により近く配置されているものである、請求
項５１に記載のテスト信号を光ディスク媒体中に記録す
るための装置。 - 【請求項５３】 前記制御手段は、テストデータを前記
外側領域の内側部分から前記外側領域の外側部分へ記録
し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光ディスク
媒体の中心により近く配置されているものである、請求
項５０に記載のテスト信号を光ディスク媒体中に記録す
るための装置。 - 【請求項５４】 前記制御手段は前記光学ピックアップ
の位置を検出し、前記光ディスク媒体の記録領域の終端
を検出し、さらに前記光学ピックアップを前記記録領域
の終端に位置決めするものである、請求項５０に記載の
テスト信号を光ディスク媒体中に記録するための装置。 - 【請求項５５】 前記制御手段は、前記テストデータを
前記外側領域の外側部分から前記外側領域の内側部分へ
記録し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光ディ
スク媒体の中心により近く配置されているものである、
請求項５４に記載のテスト信号を光ディスク媒体中に記
録するための装置。 - 【請求項５６】 前記制御手段は、前記テストデータを
前記外側領域の外側部分から前記外側領域の内側部分へ
記録し、前記内側部分は前記外側部分よりも前記光ディ
スク媒体の中心により近く配置されているものである、
請求項５０に記載のテスト信号を光ディスク媒体中に記
録するための装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960068282A KR100215745B1 (ko) | 1996-12-19 | 1996-12-19 | 씨디 품질 검사방법 |
| KR68282/1996 | 1996-12-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10188366A true JPH10188366A (ja) | 1998-07-21 |
Family
ID=19489442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9349548A Pending JPH10188366A (ja) | 1996-12-19 | 1997-12-18 | 光ディスク媒体の品質をテストするための方法、装置および光ディスク媒体 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6205096B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10188366A (ja) |
| KR (1) | KR100215745B1 (ja) |
| CN (1) | CN1114923C (ja) |
| DE (1) | DE19757183A1 (ja) |
| TW (1) | TW445448B (ja) |
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| US5485444A (en) * | 1991-06-07 | 1996-01-16 | Deustsche Thomson-Brandt Gmbh | Signalization of types of defects of an optical information carrier |
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-
1996
- 1996-12-19 KR KR1019960068282A patent/KR100215745B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1997
- 1997-12-10 TW TW086118643A patent/TW445448B/zh not_active IP Right Cessation
- 1997-12-12 US US08/989,660 patent/US6205096B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-12-18 CN CN97125806A patent/CN1114923C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1997-12-18 JP JP9349548A patent/JPH10188366A/ja active Pending
- 1997-12-19 DE DE19757183A patent/DE19757183A1/de not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100215745B1 (ko) | 1999-08-16 |
| TW445448B (en) | 2001-07-11 |
| KR19980049555A (ko) | 1998-09-15 |
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