DE19757183A1

DE19757183A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Testen der Qualität eines Bildplattenmediums und Bildplattenmedium

Info

Publication number: DE19757183A1
Application number: DE19757183A
Authority: DE
Inventors: Woon-Seong Yeo; Hyung-Kyu Kim
Original assignee: LG Electronics Inc
Current assignee: LG Electronics Inc
Priority date: 1996-12-19
Filing date: 1997-12-19
Publication date: 1998-07-16
Also published as: KR100215745B1; TW445448B; KR19980049555A; CN1188314A; US6205096B1; JPH10188366A; CN1114923C

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG 1. Bereich der Erfindung

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Testen der Qualität eines Bildplattenmediums und ein Bildplattenmedium; und insbesondere ein derartiges Verfahren und eine derartige Vorrichtung mit verbesserter Genauigkeit und Zuverlässigkeit.

2. Beschreibung des Standes der Technik

Plattenmedien werden in zwei Gruppen unterteilt, Magnetplatten und Bildplatte wie Kompaktdisks (CD).

Aufgrund ihrer großen Speicherkapazität hat die Nachfrage nach Bildplatten rasch zugenommen.

Fig. 1A und 1B zeigen herkömmliche Bildplatten. Der Radius L1 dieser Platten beträgt 60 mm, während der Durchmesser L2 der mittleren Öffnung 15 mm beträgt. Fig. 1A zeigt eine herkömmliche bespielte Bildplatte. Wie in Fig. 1A dargestellt, enthält eine Aufzeichnungsfläche der Bildplatte einen Einlaufstartpunkt BLI, einen Hauptspeicherflächenstartpunkt BPL und einen Auslaufstartpunkt BLO. Information wird in die Hauptspeicherfläche MSA zwischen dem Hauptspeicherflächenstartpunkt BPL und dem Auslaufstartpunkt BLO geschrieben.

Fig. 1B zeigt eine herkömmliche, einmal beschreibbare Bildplatte, auf der keine Information aufgezeichnet wurde. Wie bei der Bildplatte von Fig. 1A hat die Bildplatte von Fig. 1B eine Aufzeichnungsfläche und wenn auf dieser Information aufgezeichnet wird, wird diese Information in einer Hauptspeicherfläche MSA aufgezeichnet. Wie sowohl in Fig. 1A als auch 1B dargestellt ist, wird eine äußere Fläche der Aufzeichnungsfläche nicht zum Speichern von Information verwendet. Dies stellt eine Fehlertoleranzgrenze in bezug auf Herstellungsmängel dar, da Fehler in der Aufzeichnungsfläche aufgrund der verwendeten Herstellungstechniken häufiger in der äußeren Fläche der Aufzeichnungsfläche auftreten.

Bei Magnet- und Magnetbildplatten umfaßten herkömmliche Qualitätstestverfahren die Aufzeichnung von Signalen in der Einlauffläche oder Hauptspeicherfläche der Platten, die Wiedergabe dieser Testsignale und den Vergleich der Testsignale mit Referenzsignalen zur Bestimmung der Qualität.

Diese Verfahren wurden bei der Qualitätstestung von Bildplatten angewendet. Leider können diese Verfahren jedoch nicht bei jeder hergestellten Bildplatte angewendet werden. Sobald zum Beispiel Testdaten in eine einmal beschreibbare Bildplatte geschrieben werden, verliert diese Platte ihren Wert als Handelsware, da sie unbrauchbar wird. Daher werden Proben aus einer Mehrzahl hergestellter Bildplatten genommen und nach der zuvor beschriebenen Methodologie getestet.

Außer daß die Probenplatten unbrauchbar werden, haben sich diese Qualitätstesttechniken auch als ungenau und unzuverlässig erwiesen. Nur weil die als Proben genommenen Platten eine ausreichende Qualität aufweisen, bedeutet dies nicht unbedingt, daß die anderen Platten, die nicht getestet wurden, eine ausreichend hohe Qualität besitzen. Daher neigen diese Tests dazu, ungenau und unzuverlässig zu sein.

Diese Bildplattenmedien werden auch zusätzlichen Qualitätstests unterzogen. Zum Beispiel wird die gesamte Oberfläche der Bildplatte durch Aufzeichnung der Abtastung der Bildplattenoberfläche mit einem Laserstrahl unter Verwendung einer CCD-Kamera dargestellt. Die Oberfläche wird dann anhand der Darstellung visuell geprüft.

Andere Tests umfassen Gegentakt, Kreuzkoppelung und Prüfen der Position des Einlaufstartpunkts BLI, des Hauptspeicherflächenstartpunkts BPL und des Auslaufstartpunkts BLO.

Während des zuvor beschriebenen Testverfahrens werden charakteristische mechanische Abmessungen wie der Einlaufstartpunkt BLI, der Hauptspeicherflächenstartpunkt BPL, der Auslaufstartpunkt BLO, ein Spur- und Indexstartpunkt, eine Testgeschwindigkeit, eine Spurteilung, eine Durchbiegung, eine Wölbung, eine Dicke der Bildplatte, eine winkelige Krümmung, eine vertikale Krümmung, der Radius der Bildplatte und der Durchmesser der mittleren Öffnung der Bildplatte geprüft. Zusätzlich werden Signaleigenschaften wie ein radiales Rauschen, fokales Rauschen, Gegentakt eines Nachlaufsignals, analoger Datenträger und digitaler Träger geprüft.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG

Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zum Testen der Qualität einer Bildplatte, welche die zuvor besprochenen Mängel und Nachteile nicht aufweisen.

Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zum Testen der Qualität einer Bildplatte, die eine verbesserte Zuverlässigkeit und Genauigkeit aufweisen.

Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zum Testen der Qualität einer Bildplatte, die sowohl eine Qualitätstestung der Bildplatte als auch deren anschließende Verwendung ermöglichen.

Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Schaffung eines Bildplattenmediums, das die zuvor besprochenen Mängel und Nachteile nicht aufweist.

Diese und andere Aufgaben werden durch Bereitstellung eines Verfahrens zum Testen der Qualität einer Bildplatte gelöst, umfassend: die Wiedergabe von Testdaten in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums zur Erzeugung eines Testsignals, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist; und Beurteilung der Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des wiedergegebenen Testsignals.

Diese und andere Aufgaben werden ferner durch Bereitstellung einer Vorrichtung zum Testen der Qualität eines Bildplattenmediums gelöst, umfassend: einen optischen Abtaster, der die Testdaten in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums zur Erzeugung eines Testsignals wiedergibt, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist; und ein Beurteilungsmittel zur Beurteilung der Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des wiedergegebenen Testsignals.

Die Aufgaben der vorliegenden Erfindung werden auch durch Bereitstellung eines Bildplattenmediums gelöst, umfassend: eine Hauptinformationsspeicherfläche; und eine äußere Fläche, die am Umfang außerhalb der Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist und ein Testsignal speichert.

Die Aufgaben der vorliegenden Erfindung werden ferner durch Bereitstellung eines Verfahrens zur Aufzeichnung eines Testsignals in einem Bildplattenmedium gelöst, umfassend: Anordnen eines optischen Abtasters in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums zur Erzeugung eines Testsignals, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist; und Aufzeichnen der Testdaten in der äußeren Fläche.

Die Aufgaben der vorliegenden Erfindung werden zusätzlich durch Bereitstellung einer Vorrichtung zur Aufzeichnung eines Testsignals in einem Bildplattenmedium gelöst, umfassend: einen optischen Abtaster; Steuermittel zum Anordnen des optischen Abtasters in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist, und zur Aufzeichnung von Testdaten in der äußeren Fläche unter Verwendung des optischen Abtasters.

Andere Aufgaben, Merkmale und Kennzeichen der vorliegenden Erfindung; Verfahren, Betrieb und Funktionen der zugehörigen Elemente der Konstruktion; Kombination von Teilen; und Sparmaßnahmen in der Herstellung gehen aus der folgenden ausführlichen Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele und den beiliegenden Zeichnungen hervor, die alle Teil dieser Beschreibung sind, wobei gleiche Bezugszeichen entsprechende Teile in den verschiedenen Figuren bezeichnen.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Die vorliegende Erfindung wird durch die folgende ausführliche Beschreibung und die beiliegenden Zeichnungen verständlicher, die nur der Veranschaulichung dienen und somit die vorliegende Erfindung nicht einschränken, wobei:

Fig. 1A und 1B herkömmliche Bildplatten zeigen;

Fig. 2A und 2B Bildplatten gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen;

Fig. 3A und 3B ein Verfahren zur Wiedergabe von Testdaten gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen;

Fig. 4A und 4B ein weiteres Verfahren zur Wiedergabe von Testdaten gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen;

Fig. 5A und 5B ein weiteres Verfahren zur Wiedergabe von Testdaten gemäß der vorliegenden Erfindung zeigen;

Fig. 6 ein Blockdiagramm einer Vorrichtung zur Aufzeichnung von Testdaten in einer Bildplatte und zum Testen der Qualität einer Bildplatte ist;

Fig. 7 ein Fließdiagramm des Verfahrens zur Aufzeichnung von Testdaten in einer Bildplatte gemäß der vorliegenden Erfindung ist;

Fig. 8A und 8B einen Informationszustand der Bildplatten zeigen, wenn Testdaten gemäß der vorliegenden Erfindung eingeschrieben sind;

Fig. 9 ein Fließdiagramm des Verfahrens zur Testung der Qualität einer Bildplatte gemäß der vorliegenden Erfindung zeigt;

Fig. 10A das Verhältnis zwischen einem Vertiefungsmuster auf einer Bildplatte und einem wiedergegebenen Vertiefungsmustersignal zeigt; und

Fig. 10B eine Abtastung eines wiedergegebenen analogen Signals zeigt.

AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE

Fig. 6 zeigt die Vorrichtung zur Aufzeichnung von Testdaten auf einer Bildplatte und zum Testen der Qualität einer Bildplatte gemäß der vorliegenden Erfindung (in der Folge "Bildplattenqualitätstestvorrichtung" genannt). Wie dargestellt, enthält die Bildplattenqualitätstestvorrichtung eine Antriebseinheit 31 und eine Abtasteinheit 32. Die Antriebseinheit 31 enthält ein Magazin 31-2 zum Halten einer zu spielenden Bildplatte 31-1, eine Klemme 31-3 zum Festklemmen der Bildplatte 31-1 und einen Spindelmotor 31-4 zum Drehen der Bildplatte 31-1. Die Abtasteinheit 32 enthält einen Abtaster 32-2 zum Schreiben von Information auf und zum Lesen von Information von der Bildplatte 31-1. Ein Schiebemotor 32-1 bewegt den Abtaster 32-2 radial in bezug auf die Bildplatte 31-1.

Eine Steuerung 36 steuert den Betrieb des Spindelmotors 31-4 und des Schiebemotors 32-1 über einen Servomechanismus 37 auf der Basis einer Benutzereingabe und von Fokusfehler- und Spurfehlersignalen von der Abtasteinheit 32. Wenn von einem Benutzer die Aufzeichnung von Testdaten auf der Bildplatte 31-1 befohlen wird, liefert die Steuerung 36 die Testdaten, die auf die Bildplatte 31-1 zu schreiben sind, an die Abtasteinheit 32 und steuert die Aufzeichnung der Testdaten.

Wenn von einem Benutzer die Durchführung eines Qualitätstests an der Bildplatte 31-1 befohlen wird, steuert die Steuerung 36 die Abtasteinheit 32 zur Wiedergabe der Testdaten, die auf der Bildplatte 31-1 aufgezeichnet sind. Der von der Abtasteinheit 32 wiedergegebene Signalausgang wird zu einem HF-Verstärker 33 und der Steuerung 36 geleitet, während die Fokusfehler- und Spurfehlersignale zu der Steuerung 36 geleitet werden. Aufgrund der Fokusfehler- und Spurfehlersignale und des wiedergegebenen Signals steuert die Steuerung 36 den Schiebemotor 32-1 und den Spindelmotor 31-4 über den Servomechanismus 37. Der HF-Verstärker 33 verarbeitet das wiedergegebene Signal von der Abtasteinheit 32 und gibt das verarbeitete wiedergegebene Signal zur MPEG-Verarbeitung aus. Das verarbeitete wiedergegebene Signal wird auch zu einem Komparator 35 geleitet.

Der Komparator 35 vergleicht das verarbeitete wiedergegebene Signal mit vorbestimmten Daten, die in einem Speicher 34 gespeichert sind. Die Ergebnisse des Vergleichs werden an die Steuerung 36 ausgegeben, die aufgrund der Vergleichsergebnisse bestimmt, ob die Bildplatte 31-1 eine gute oder schlechte Qualität aufweist. Wenn die Steuerung 36 bestimmt, daß die Bildplatte 31-1 eine schlechte Qualität aufweist, treibt die Steuerung 36 eine Anzeigevorrichtung 38 an, um dem Benutzer die schlechte Qualität der Bildplatte 31-1 anzuzeigen.

Der Betrieb der Bildplattenqualitätstestvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung wird ausführlich mit Bezugnahme auf Fig. 2A-9 beschrieben. Wie in Fig. 2A und 2B dargestellt, zeichnet die Bildplattenqualitätstestvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung Testdaten STP in der äußeren Fläche einer Bildplatte auf; sowohl auf einer bespielten (Fig. 2A) als auch auf einer einmal beschreibbaren (Fig. 2B) Bildplatte. Dieser Aufzeichnungsvorgang wird in der Folge mit Bezugnahme auf Fig. 6-8B ausführlicher beschrieben.

Fig. 7 zeigt ein Fließdiagramm des Verfahrens zur Aufzeichnung von Testdaten in einer Bildplatte gemäß der vorliegenden Erfindung. Wie dargestellt, veranlaßt in Schritt S10 die optische Abtasteinheit 32, die Daten des Inhaltsverzeichnisses IV aus der Bildplatte zu lesen. Die IV-Daten, die nahe der Mitte von Bildplatten aufgezeichnet sind, zeigen die Position zum Beispiel des Einlaufstartpunkts für die Hauptspeicherfläche, der Hauptspeicherfläche und des Auslaufstartpunkts für die Hauptspeicherfläche in einer bespielten Bildplatte an. Das Verfahren zur Aufzeichnung von Testdaten in einer Bildplatte wird nur zum Zwecke der Erörterung mit Bezugnahme auf eine bespielte Bildplatte beschrieben. Für den Fachmann ist jedoch die Anwendung dieses Verfahrens bei einer zum Beispiel einmal beschreibbaren Bildplatte offensichtlich.

Nach dem Empfang der IV-Daten von der Abtasteinheit 32 bestimmt die Steuerung 36, ob ein Benutzer einen Testdaten-Aufzeichnungsmodus in Schritt S20 gewählt hat. Wenn der Testdaten-Aufzeichnungsmodus nicht gewählt wurde, endet die Verarbeitung. Andernfalls bestimmt die Steuerung 36 in Schritt S30, ob ein Benutzer einen von innen nach außen laufenden Aufzeichnungsmodus gewählt hat.

Wenn in Schritt S30 der von innen nach außen laufende Aufzeichnungsmodus gewählt wurde, bestimmt die Steuerung 36 in Schritt S40 die augenblickliche Position des Abtasters 32-2 in einer allgemein bekannten Weise und bestimmt die Position des Auslaufstartpunkts BLO für die Hauptspeicherfläche aufgrund der IV-Daten. Dann bewegt die Steuerung 36 in Schritt S50 aufgrund der erfaßten augenblicklichen Position des Abtasters 32-2 und der bestimmten Position des Auslaufstartpunkts BLO der Hauptspeicherfläche den Abtaster 32-2 zu dem Auslauf der Hauptspeicherfläche.

In Schritt S60 veranlaßt die Steuerung 36 die Abtasteinheit 32, Testdaten STP in der Bildplatte 31-1 in einer von innen nach außen laufenden Weise, wie in Fig. 8A dargestellt ist, aufzuzeichnen. Die Testdaten können von einem Benutzer geliefert werden oder können vorgegebene Daten sein, die von der Steuerung 36 gespeichert werden. Die Testdaten können ein vorbestimmtes Vertiefungsmuster, ein vorbestimmtes Bitmuster oder ein vorbestimmtes Signal wie eine bekannte musikalische Komposition sein. Die Testdaten werden in der Folge ausführlich mit Bezugnahme auf die Testung der Qualität einer Bildplatte beschrieben.

Die Steuerung 36, wie in Fig. 8A dargestellt, steuert den Abtaster 32-2 zur Aufzeichnung eines Einlaufs zu den Testdaten und der Testdaten, während er die Bildplatte abspielt und sich von einer radial innenliegenden Position zu einer radial außenliegenden Position bewegt. Mit anderen Worten, die Steuerung 36 bewegt den Abtaster 32-2 durch den Schiebemotor 32-1 und den Servomechanismus 37 während der Aufzeichnung der Testdaten in eine radial nach außen gerichtete Richtung der Bildplatte. Zusätzlich, wie in Fig. 8A dargestellt, veranlaßt die Steuerung 36 die Abtasteinheit 32, mit der Aufzeichnung der Einlauffläche für die Testdaten STP bei einem vorbestimmten radialen Abstand nach der Auslauffläche der Hauptspeicherfläche zu beginnen, um eine Dämpfungsfläche zwischen dem Auslauf der Hauptspeicherfläche und dem Einlauf der Testdaten STP zu erzeugen.

Nach Beendigung der Aufzeichnung von Testdaten aktualisiert die Steuerung 36 in Schritt S70 die IV-Daten in der Bildplatte, um die Position der Testdaten und den Einlauf für diese anzuzeigen.

Wenn in Schritt S30 der von innen nach außen laufende Aufzeichnungsmodus nicht gewählt wird, bestimmt die Steuerung 36 in Schritt S80, ob der von außen nach innen laufende Aufzeichnungsmodus von einem Benutzer gewählt wurde. Wenn der von außen nach innen laufende Aufzeichnungsmodus nicht gewählt wurde, kehrt die Verarbeitung zu Schritt S30 zurück. Andernfalls fährt die Verarbeitung mit Schritt S90 fort. In Schritt S90 erfaßt die Steuerung 36 die augenblickliche Position des Abtasters 32-2 in allgemein bekannter Weise und bestimmt die Position des Endes der Aufzeichnungsfläche der IV-Daten. Dann bewegt die Steuerung 36 in Schritt S100 den Abtaster 32-2 zu dem Ende der Aufzeichnungsfläche.

Danach veranlaßt die Steuerung 36 in Schritt S110 die Abtasteinheit 32, Testdaten in der Bildplatte in einer von außen nach innen laufende Weise aufzuzeichnen, wie in Fig. 8B dargestellt ist. Wie in Fig. 8B dargestellt ist, werden die Testdaten STP beginnend bei dem Ende der Aufzeichnungsfläche und radial nach innen zu der Mitte der Bildplatte aufgezeichnet. Insbesondere, wie in Fig. 8B dargestellt ist, wird eine Einlauffläche zu den Testdaten STP aufgezeichnet, dann werden die Testdaten STP aufgezeichnet, und schließlich wird ein Auslauf für die Testdaten STP aufgezeichnet. Der Auslauf für die Testdaten STP wird in ausreichendem Maße vor cm Beginn des Auslaufes für die Hauptspeicherfläche aufgezeichnet, um eine Dämpfungsfläche zwischen dem Auslauf für die Hauptspeicherfläche und dem Auslauf für die Testdaten STP zu erhalten. Wenn die Testdaten von außen nach innen aufgezeichnet werden, bewegt die Steuerung 36 den Abtaster 32-2 radial nach innen zu der Mitte der Bildplatte, während die Bildplatte abgespielt wird.

Nach der Aufzeichnung der Testdaten in Schritt S110 fährt die Verarbeitung mit Schritt S70 fort. In Schritt S70 aktualisiert die Steuerung 36 die IV-Daten für die Bildplatte, um die Position der Testdaten und den Einlauf und Auslauf der Testdaten anzuzeigen.

Die Qualitätstestoperation der Bildplattenqualitätstestvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung wird nun mit Bezugnahme auf Fig. 3A-6 und 9 beschrieben. Fig. 9 zeigt das Verfahren zum Testen der Qualität einer Bildplatte gemäß der vorliegenden Erfindung. Wie in Fig. 9 dargestellt, steuert in Schritt S200 die Steuerung 36 die Abtasteinheit 32 zur Wiedergabe und Ausgabe der IV-Daten für die Bildplatte 31-1. Danach bestimmt die Steuerung 36 in Schritt S220, ob der Benutzer eine Qualitätstestanfrage eingegeben hat. Wenn keine Qualitätstestanfrage eingegeben wurde, endet die Verarbeitung. Wenn eine Qualitätstestanfrage eingegeben wurde, erfaßt die Steuerung 36 in Schritt S230 die augenblickliche Position des Abtasters 32-2 in einer allgemein bekannten Weise.

Auf der Basis der Position des Einlaufs für die Testdaten, die in den IV-Daten angezeigt wird, und der augenblicklichen Position des Abtasters 32-2 bewegt die Steuerung 36 in Schritt S240 den Abtaster 32-2 zu dem Einlauf der Testdaten. Neben der Anzeige der Position des Einlaufs für die Testdaten zeigen die IV-Daten auch über diese Positionsdaten, ob die Testdaten radial von innen nach außen oder radial von außen nach innen aufgezeichnet wurden. Gemäß dieser Bestimmung veranlaßt die Steuerung 36 den Abtaster 32-2, die Testdaten in Schritt S250 wiederzugeben.

Die Testdaten können sequentiell wiedergegeben werden, wie in Fig. 3A für eine bespielte Bildplatte dargestellt ist oder wie in Fig. 3B für eine einmal beschreibbare Bildplatte dargestellt ist, oder die Testdaten können in vorbestimmten Intervallen wiedergegeben werden, wie in Fig. 4A für eine bespielte Bildplatte dargestellt ist oder wie in Fig. 4B für eine einmal beschreibbare Bildplatte dargestellt ist. Zusätzlich können vorbestimmte gewählte Teile der Testdaten wiedergegeben werden, wie in Fig. 5A für eine bespielte Bildplatte dargestellt ist oder wie in Fig. 5B für eine einmal beschreibbare Bildplatte dargestellt ist.

In Schritt S260 werden die wiedergegebenen Testdaten von dem HF-Verstärker 33 verarbeitet und an den Komparator 35 ausgegeben. Unter Steuerung der Steuerung 36 führt der Komparator 35 einen Vergleich der Testdaten mit vorbestimmten Daten durch, die in Speicher 34 gespeichert sind, und die Steuerung 36 beurteilt die Qualität der Bildplatte 31-1 aufgrund der Vergleichsergebnisse. Von dem Komparator 35 und der Steuerung 36 kann eine oder eine Kombination von mehreren Qualitätstestoperationen ausgeführt werden. Diese Qualitätstestverfahren umfassen einen Vertiefungsmustertest, einen Bitmustertest und einen Analogsignaltest.

In einer CD und digitalen Videoplatte (oder digitalen versatilen Platte) DVD ist das kleinste Bitmuster 3T, während das größte Bitmuster für eine CD 11T und für eine DVD 14T ist. Die Bezeichnung 3T, 4T usw. ist ein Maß der Vertiefungslänge, die einem vorbestimmten Bitmuster entspricht. Fig. 10A zeigt das Verhältnis zwischen dem Signalausgang von dem HF-Verstärker 33 und den Vertiefungen, welche die Testdaten in der Bildplatte 31-1 darstellen. Wie in Fig. 10A dargestellt, geht der Signalausgang von dem HF-Verstärker 33 zu Beginn einer Vertiefung zum Beispiel von einem niederen zu einem hohen Zustand über, bleibt über die Länge der Vertiefung hoch und geht am Ende der Vertiefung von einem hohen zu einem niederen Zustand über. Der Übergang des Signalausgangs von dem HF-Verstärker 33 stellt einen Bitwert von 1 dar, während die Länge der Zeit, in welcher der Signalausgang von dem HF-Verstärker 33 hoch bleibt, eine Zahl aus mehreren Nullen darstellt. Eine 3T-Vertiefung stellt den Bitstrom 1001 dar. Eine 4T-Vertiefung, die länger als eine 3T-Vertiefung ist, stellt das Bitmuster 10001 dar. Während das Vertiefungsmuster der Reihe nach von 3T bis 11T oder 14T zunimmt, nimmt auch die Zahl der Nullen zu.

Wenn die Qualität unter Verwendung des Vertiefungsmusterverfahrens getestet wird, wird dasselbe Vertiefungsmuster immer wieder als Testdaten aufgezeichnet. In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist das aufgezeichnete Vertiefungsmuster das 3T-Vertiefungsmuster. Da das 3T-Vertiefungsmuster das kleinste Vertiefungsmuster ist, werden Fehler mit größerer Wahrscheinlichkeit erfaßt.

Der Komparator 35 vergleicht den Vertiefungsmuster- Signalausgang von dem HF-Verstärker 33, wie zum Beispiel in Fig. 10A dargestellt, mit einem Referenzsignal, das in Speicher 34 gespeichert ist. Das Referenzsignal stellt das Vertiefungsmuster dar, das auf der Bildplatte aufgezeichnet ist. Jeder Teil des Vertiefungsmustersignals, der eine Vertiefung darstellt und mit dem Referenzsignal übereinstimmt, entspricht erfaßten Daten. Wenn zum Beispiel das 3T-Vertiefungsmuster verwendet wird, stellt jede erfaßte Vertiefung vier Bit erfaßter Daten dar. Der Komparator 35 bestimmt die Gesamtmenge erfaßter Testdaten und vergleicht dann die Gesamtmenge erfaßter Testdaten mit einem vorbestimmten Schwellenwert für erfaßte Daten, der in Speicher 34 gespeichert ist. Der Speicher 34 speichert einen Schwellenwert für erfaßte Daten, der jedem Wiedergabeverfahren zugeordnet ist, wie in Fig. 3A-3B, 4A-4 und 5A-5B dargestellt ist (d. h., sequentiell, periodisch und ausgewählte Teile) . Daher wird abhängig von der Art der Wiedergabe (sequentiell, periodisch und ausgewählte Teile) ein anderer Schwellenwert für erfaßte Daten gewählt und von dem Komparator 35 verwendet. Der Komparator 35 gibt die Ergebnisse des Vergleichs an die Steuerung 36 aus.

Wenn die Menge der erfaßten Daten größer als der Schwellenwert für erfaßte Daten ist, bestimmt die Steuerung 36 in Schritt S260, daß die Bildplatte eine gute Qualität aufweist. Andernfalls bestimmt die Steuerung 36 in Schritt S260, daß die Bildplatte eine schlechte Qualität aufweist.

Anstelle von oder zusätzlich zu dem Vertiefungsmustertest kann ein Bitmustertest durchgeführt werden, um die Qualität der Bildplatte 31-1 zu beurteilen. In dem Bitmustertest wird das Bitmustersignal in einen Bitstrom umgewandelt. Das heißt, jede Vertiefung wird in ihre entsprechenden Bits umgewandelt. Das erhaltene Bitmuster wird von dem Komparator 35 mit einer Referenzversion des Bitmusters verglichen, die in Speicher 34 gespeichert ist. Im Gegensatz zu dem Vertiefungsmustertest erfordert der Bitmustertest nicht, daß dasselbe Vertiefungsmuster immer wieder in der Bildplatte 31-1 als Testdaten aufgezeichnet wird. Jede vorgegebene Vertiefungsanordnung kann in der Bildplatte 31-1 als Testdaten aufgezeichnet sein. Das Referenzbitmuster, das in Speicher 34 gespeichert ist, entspricht dem Vertiefungsmuster, das in der Bildplatte 31-1 aufgezeichnet ist.

Der Komparator 35 vergleicht das Bitmuster, das von dem Vertiefungsmustersignal abgeleitet wurde, mit dem Referenzbitmuster von Vertiefung zu Vertiefung. Mit anderen Worten, jede Bitgruppe, die einer Vertiefung entspricht, wird mit einer entsprechenden Bitgruppe in dem Referenzbitmuster verglichen. Wenn eine Übereinstimmung besteht, werden die übereinstimmenden Bits als erfaßt angesehen. Der Komparator 35 summiert die Gesamtmenge erfaßter Daten und vergleicht die Gesamtmenge erfaßter Daten mit einem vorbestimmten Schwellenwert für erfaßte Daten, der in Speicher 34 gespeichert ist. Das Ergebnis des Vergleichs wird an die Steuerung 36 ausgegeben. Wie bei dem Vertiefungsmustertest speichert der Speicher 34 Schwellenwerte für erfaßte Daten, die den Moden für sequentielle, periodische Wiedergabe und Wiedergabe gewählter Teile zugeordnet sind. Daher hängt der Schwellenwert für erfaßte Daten von dem Wiedergabemodus ab (sequentiell, periodisch oder Teile).

Die Steuerung 36 bestimmt, daß die Bildplatte 31-1 eine gute Qualität aufweist, wenn die Gesamtmenge der erfaßten Daten den Schwellenwert für erfaßte Daten übersteigt; andernfalls bestimmt die Steuerung 36, daß die Bildplatte 31-1 eine schlechte Qualität aufweist.

Anstelle von oder zusätzlich zu beiden oder einem von Vertiefungsmustertest und Bitmustertest kann ein Analogsignaltest ausgeführt werden, um die Qualität der Bildplatte 31-1 zu bestimmen. In diesem Analogsignaltest wird das Bitmuster, das von dem Vertiefungsmustersignal abgeleitet wird, von dem Komparator 35 von digital zu analog umgewandelt, um ein analoges Signal zu erhalten, wie in Fig. 10B dargestellt ist. Der Komparator 35 führt dann entweder einen Amplituden- oder Frequenztest oder beide an dem analogen Signal aus. In dem Amplitudentest vergleicht der Komparator 35 die Amplitude des analogen Signals mit einem Amplituden-Schwellenwertbereich, der mit A_SW und -A_SW in Fig. 10B dargestellt ist.

Im Frequenztest vergleicht der Komparator 35 die Nulldurchgangspunkte wie t1 und t2, die in Fig. 10B dargestellt sind, mit vorbestimmten Zeitschwellenwertbereichen, die jedem Durchgangspunkt entsprechen. Da die auf der Bildplatte 31-1 aufgezeichneten Testdaten vorbestimmt sind, ist insbesondere das erhaltene analoge Signal auch bekannt; und daher sind die Nulldurchgangspunkte bekannt. Die Zusammenfassung dieser Nulldurchgangspunkte innerhalb empirisch bestimmter Fehlertoleranzgrenzen führt zu einem Zeitschwellenwertbereich für jeden der Nulldurchgangspunkte des wiedergegebenen analogen Signals. Der Zeitschwellenwertbereich für jeden Nulldurchgangspunkt wird dann in Speicher 34 gespeichert.

Natürlich hängen die gespeicherten Zeitschwellenwertbereiche wie bei den anderen Testverfahren von dem Wiedergabemodus ab (sequentiell, periodisch oder gewählte Teile).

Die Qualität der Bildplatte 31-1 kann auf der Basis des Amplitudentests, des Frequenztests oder sowohl des Amplitudentests als auch des Frequenztests beurteilt werden. Wenn die Amplitude des analogen Signals den Amplitudenschwellenwertbereich übersteigt, bestimmt die Steuerung 36, daß die Bildplatte 31-1 eine schlechte Qualität aufweist. Auch wenn ein Nulldurchgangspunkt des analogen Signals außerhalb des entsprechenden Zeitschwellenwertbereichs liegt, bestimmt die Steuerung 36, daß die Bildplatte 31-1 eine schlechte Qualität aufweist. Wenn die Steuerung 36 aufgrund des Amplitudentests, des Frequenztests oder sowohl des Amplitudentests als auch des Frequenztests zu keiner Beurteilung einer schlechten Qualität kommt, bestimmt die Steuerung 36, daß die Bildplatte 31-1 eine gute Qualität aufweist.

Wenn die Steuerung 36 in Schritt S270 beurteilt, daß die Bildplatte 31-1 eine schlechte Qualität aufweist, fährt die Verarbeitung dann mit Schritt S280 fort, und die Steuerung 36 treibt die Anzeigevorrichtung 38 an, und die Verarbeitung wird beendet. Auf diese Weise wird ein Benutzer darauf hingewiesen, daß die getestete Bildplatte eine Bildplatte mit schlechter Qualität ist. Wenn in Schritt S270 eine gute Qualität der Bildplatte 31-1 festgestellt wird, endet die Verarbeitung.

Wie zuvor besprochen können der Vertiefungsmustertest, der Bitmustertest, der Amplitudentest und der Frequenztest einzeln oder in Verbindung miteinander zur Bestimmung der Qualität der Bildplatte verwendet werden.

Ebenso kann zusätzlich zu der zuvor beschriebenen Qualitätstestung die Bildplatte weiteren mechanischen und Signal-Qualitätstests unterzogen werden. Zum Beispiel wird die gesamte Oberfläche der Bildplatte durch Aufzeichnung der Abtastung der Bildplattenoberfläche mit einem Laserstrahl unter Verwendung einer CCD-Kamera dargestellt werden. Die Oberfläche wird dann unter Verwendung der Darstellung visuell geprüft.

In dem zuvor beschriebenen Testverfahren werden charakteristische mechanische Abmessungen wie der Einlaufstartpunkt BLI, der Hauptspeicherflächenstartpunkt BPL und der Auslaufstartpunkt BLO, ein Spur- und Indexstartpunkt, eine Testgeschwindigkeit, eine Spurteilung, eine Durchbiegung, eine Wölbung, eine Dicke der Bildplatte, eine winkelige Krümmung, eine vertikale Krümmung, der Radius der Bildplatte und der Durchmesser der mittleren Öffnung der Bildplatte geprüft.

In dem Verfahren und der Vorrichtung zum Testen der Qualität einer Bildplatte gemäß der vorliegenden Erfindung werden Testdaten von einer äußeren Fläche der Bildplatte aufgezeichnet und wiedergegeben. Diese Fläche wird weder bei bespielten Bildplatten noch bei einmal beschreibbaren Bildplatten verwendet. Daher kann bei jeder hergestellten Platte ein Qualitätstest gemäß der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden, ohne diese Bildplatte als Handelsware unbrauchbar zu machen. Daher ist die Qualitätstestung gemäß der vorliegenden Erfindung viel genauer und zuverlässiger.

Claims

1. Verfahren zum Testen der Qualität eines Bildplattenmediums, umfassend:
die Wiedergabe von Testdaten in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums zur Erzeugung eines Testsignals, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist; und die Beurteilung der Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des wiedergegebenen Testsignals.

2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums von einem äußersten Punkt des Bildplattenmediums zu einem vorbestimmten Punkt auf dem Bildplattenmedium reicht.

3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei der vorbestimmte Punkt am Umfang außerhalb einer Auslauffläche der Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist.

4. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Wiedergabeschritt die Testdaten in der äußeren Fläche zur Erzeugung des Testsignals sequentiell wiedergibt.

5. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Wiedergabeschritt die Testdaten von einem inneren Teil der äußeren Fläche zu einem äußeren Teil der äußeren Fläche wiedergibt, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

6. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Wiedergabeschritt die Testdaten von einem äußeren Teil der äußeren Fläche zu einem inneren Teil der äußeren Fläche wiedergibt, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

7. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Wiedergabeschritt die Testdaten in periodischen Intervallen entlang der äußeren Fläche wiedergibt.

8. Verfahren nach Anspruch 1, wobei der Wiedergabeschritt die Testdaten von Teilen der äußeren Fläche wiedergibt.

9. Verfahren nach Anspruch 1, ferner umfassend:
die Ausgabe einer Warnung an einen Bediener, wenn in dem Beurteilungsschritt beurteilt wird, daß das Bildplattenmedium eine schlechte Qualität aufweist.

10. Verfahren nach Anspruch 1, wobei in dem Wiedergabeschritt ein Vertiefungsmustersignal als Testsignal wiedergegeben wird, wobei das Vertiefungsmustersignal ein vorbestimmtes Vertiefungsmuster in der äußeren Fläche des Bildplattenmediums darstellt; und in dem Beurteilungsschritt die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des Vertiefungsmustersignals und eines Referenzsignals, welches das vorbestimmte Vertiefungsmuster darstellt, bestimmt wird.

11. Verfahren nach Anspruch 10, wobei in dem Beurteilungsschritt das Vertiefungsmustersignal mit dem Referenzsignal verglichen wird, eine Informationsmenge in dem Vertiefungsmustersignal bestimmt wird, die mit dem Referenzsignal übereinstimmt, und bestimmt wird, daß das Bildplattenmedium eine gute Qualität aufweist, wenn die Informationsmenge größer als ein vorbestimmter Schwellenwert ist.

12. Verfahren nach Anspruch 10, wobei das vorbestimmte Muster ein 3T-Vertiefungsmuster ist.

13. Verfahren nach Anspruch 1, wobei
in dem Wiedergabeschritt das Testsignal wiedergegeben wird und darauf ein Bitmuster erzeugt wird;
in dem Beurteilungsschritt die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des Bitmusters und eines vorbestimmten Bitmusters bestimmt wird.

14. Verfahren nach Anspruch 13, wobei in dem Beurteilungsschritt das Bitmuster mit dem vorbestimmten Bitmuster verglichen wird, eine Informationsmenge in dem Bitmustersignal bestimmt wird, die mit dem vorbestimmten Bitmuster übereinstimmt, und bestimmt wird, daß das Bildplattenmedium eine gute Qualität aufweist, wenn die Informationsmenge größer als ein vorbestimmter Schwellenwert ist.

15. Verfahren nach Anspruch 14, wobei in dem Beurteilungsschritt das Bitmuster mit dem vorbestimmten Bitmuster in Bitgruppen verglichen wird, die einem vorbestimmten Vertiefungsmuster auf der äußeren Fläche des Bildplattenmediums entsprechen.

16. Verfahren nach Anspruch 1, wobei in dem Beurteilungsschritt erstens eine Amplitude des Testsignals mit einem vorbestimmten Schwellenwertbereich verglichen und die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des ersten Vergleichs bestimmt wird.

17. Verfahren nach Anspruch 16, wobei in dem Beurteilungsschritt zweitens die Frequenz des Testsignals mit einer vorbestimmten Signalfrequenz verglichen und die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des ersten und zweiten Vergleichs bestimmt wird.

18. Verfahren nach Anspruch 1, wobei in dem Beurteilungsschritt die Frequenz des Testsignals mit einer vorbestimmten Signalfrequenz verglichen und die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis dieses Vergleichs bestimmt wird.

19. Vorrichtung zum Testen der Qualität eines Bildplattenmediums gelöst, umfassend:
einen optischen Abtaster, der Testdaten in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums zur Erzeugung eines Testsignals wiedergibt, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist; und
ein Beurteilungsmittel zur Beurteilung der Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des wiedergegebenen Testsignals.

20. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums von einem äußersten Punkt des Bildplattenmediums zu einem vorbestimmten Punkt auf dem Bildplattenmedium reicht.

21. Vorrichtung nach Anspruch 20, wobei der vorbestimmte Punkt am Umfang außerhalb einer Auslauffläche der Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist.

22. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei der optische Abtaster die Testdaten in der äußeren Fläche zur Erzeugung des Testsignals sequentiell wiedergibt.

23. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei der optische Abtaster die Testdaten von einem inneren Teil der äußeren Fläche zu einem äußeren Teil der äußeren Fläche wiedergibt, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

24. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei der optische Abtaster die Testdaten von einem äußeren Teil der äußeren Fläche zu einem inneren Teil der äußeren Fläche wiedergibt, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

25. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei der optische Abtaster die Testdaten in periodischen Intervallen entlang der äußeren Fläche wiedergibt.

26. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei der optische Abtaster die Testdaten in Teilen der äußeren Fläche wiedergibt.

27. Vorrichtung nach Anspruch 19, ferner umfassend:
eine Anzeigevorrichtung; und wobei das Beurteilungsmittel die Anzeigevorrichtung zur Ausgabe einer Warnung an einen Bediener veranlaßt, wenn beurteilt wird, daß die Bildplatte eine schlechte Qualität aufweist.

28. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei der optische Abtaster ein Vertiefungsmustersignal als Testsignal wiedergibt, wobei das Vertiefungsmustersignal ein vorbestimmtes Vertiefungsmuster in der äußeren Fläche des Bildplattenmediums darstellt; und das Beurteilungsmittel die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des Vertiefungsmustersignals und eines Referenzsignals, welches das vorbestimmte Vertiefungsmuster darstellt, bestimmt.

29. Vorrichtung nach Anspruch 28, wobei das Beurteilungsmittel das Vertiefungsmustersignal mit dem Referenzsignal vergleicht, eine Informationsmenge in dem Vertiefungsmustersignal bestimmt, die mit dem Referenzsignal übereinstimmt, und bestimmt, daß das Bildplattenmedium eine gute Qualität aufweist, wenn die Informationsmenge größer als ein vorbestimmter Schwellenwert ist.

30. Vorrichtung nach Anspruch 28, wobei das vorbestimmte Muster ein 3T-Vertiefungsmuster ist.

31. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei
der optische Abtaster das Testsignal wiedergibt und darauf ein Bitmuster erzeugt;
das Beurteilungsmittel die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des Bitmusters und eines vorbestimmten Bitmusters beurteilt.

32. Vorrichtung nach Anspruch 31, wobei das Beurteilungsmittel das Bitmustersignal mit dem vorbestimmten Bitmuster vergleicht, eine Informationsmenge in dem Bitmustersignal bestimmt, die mit dem vorbestimmten Bitmuster übereinstimmt, und bestimmt, daß das Bildplattenmedium eine gute Qualität aufweist, wenn die Informationsmenge größer als ein vorbestimmter Schwellenwert ist.

33. Vorrichtung nach Anspruch 32, wobei das Beurteilungsmittel das Bitmuster mit dem vorbestimmten Bitmuster in Bitgruppen vergleicht, die einem vorbestimmten Vertiefungsmuster auf der äußeren Fläche des Bildplattenmediums entsprechen.

34. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei das Beurteilungsmittel erstens eine Amplitude des Testsignals mit einem vorbestimmten Schwellenwertbereich vergleicht und die Qualität des Bildplattenmediums auf der Basis des ersten Vergleichs bestimmt.

35. Vorrichtung nach Anspruch 34, wobei das Beurteilungsmittel zweitens die Frequenz des Testsignals mit einer vorbestimmten Signalfrequenz vergleicht und die Qualität der Bildplatte auf der Basis des ersten und zweiten Vergleichs bestimmt.

36. Vorrichtung nach Anspruch 19, wobei das Beurteilungsmittel die Frequenz des Testsignals mit einer vorbestimmten Signalfrequenz vergleicht und die Qualität der Bildplatte auf der Basis dieses Vergleichs bestimmt.

37. Bildplattenmedium, umfassend:
eine Hauptinformationsspeicherfläche; und
eine äußere Fläche, die am Umfang außerhalb der Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist und ein Testsignal speichert.

38. Bildplattenmedium nach Anspruch 37, wobei die äußere Fläche von einem äußersten Punkt des Bildplattenmediums zu einem vorbestimmten Punkt auf dem Bildplattenmedium reicht.

39. Bildplattenmedium nach Anspruch 38, wobei der vorbestimmte Punkt am Umfang außerhalb einer Auslauffläche der Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist.

40. Bildplattenmedium nach Anspruch 37, ferner umfassend:
eine Dämpfungsfläche um den Umfang zwischen der Hauptinformationsspeicherfläche und der äußeren Fläche.

41. Bildplattenmedium nach Anspruch 37, ferner umfassend:
eine Einlauffläche zu der äußeren Fläche; und
eine Auslauffläche von der äußeren Fläche, wobei die Einlauffläche näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als die äußere Fläche.

42. Bildplattenmedium nach Anspruch 37, ferner umfassend:
eine Einlauffläche zu der äußeren Fläche; und
eine Auslauffläche von der äußeren Fläche, wobei die Auslauffläche näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als die Einlauffläche.

43. Verfahren zur Aufzeichnung eines Testsignals in einem Bildplattenmedium, umfassend:
Anordnen eines optischen Abtasters in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums zur Erzeugung eines Testsignals, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist; und
Aufzeichnen von Testdaten in der äußeren Fläche.

44. Verfahren nach Anspruch 43, wobei der Positionierschritt folgendes umfaßt:
Erfassen einer Position des optischen Abtasters;
Erfassen einer Position der Auslauffläche für die Hauptinformationsspeicherfläche;
Positionieren des optischen Abtasters an einem Ende der Auslauffläche für die Hauptinformationsspeicherfläche.

45. Verfahren nach Anspruch 44, wobei der Aufzeichnungsschritt Testdaten von einem inneren Teil der äußeren Fläche zu einem äußeren Teil der äußeren Fläche aufzeichnet, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

46. Verfahren nach Anspruch 43, wobei der Aufzeichnungsschritt Testdaten von einem inneren Teil der äußeren Fläche zu einem äußeren Teil der äußeren Fläche aufzeichnet, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

47. Verfahren nach Anspruch 43, wobei der Positionierschritt folgendes umfaßt:
Erfassen einer Position des optischen Abtasters;
Erfassen eines Endes einer Aufzeichnungsfläche des Bildplattenmediums;
Positionieren des optischen Abtasters an dem Ende der Aufzeichnungsfläche.

48. Verfahren nach Anspruch 47, wobei in dem Aufzeichnungsschritt die Testdaten von einem äußeren Teil der äußeren Fläche zu einem inneren Teil der äußeren Fläche aufgezeichnet werden, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

49. Verfahren nach Anspruch 43, wobei in dem Aufzeichnungsschritt die Testdaten von einem äußeren Teil der äußeren Fläche zu einem inneren Teil der äußeren Fläche aufgezeichnet werden, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

50. Vorrichtung zum Aufzeichnen eines Testsignals in einem Bildplattenmedium, umfassend:
einen optischen Abtaster;
Steuermittel zum Positionieren des optischen Abtasters in einer äußeren Fläche des Bildplattenmediums, wobei die äußere Fläche des Bildplattenmediums am Umfang außerhalb einer Hauptinformationsspeicherfläche angeordnet ist, und zum Aufzeichnen von Testdaten in der äußeren Fläche unter Verwendung des optischen Abtasters.

51. Vorrichtung nach Anspruch 50, wobei das Steuermittel eine Position des optischen Abtasters erfaßt, eine Position einer Auslauffläche für die Hauptinformationsspeicherfläche erfaßt und den optischen Abtaster an einem Ende der Auslauffläche für die Hauptinformationsspeicherfläche positioniert.

52. Vorrichtung nach Anspruch 51, wobei das Steuermittel Testdaten von einem inneren Teil der äußeren Fläche zu einem äußeren Teil der äußeren Fläche aufzeichnet, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

53. Vorrichtung nach Anspruch 50, wobei das Steuermittel Testdaten von einem inneren Teil der äußeren Fläche zu einem äußeren Teil der äußeren Fläche aufzeichnet, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

54. Vorrichtung nach Anspruch 50, wobei das Steuermittel eine Position des optischen Abtasters erfaßt, ein Ende einer Aufzeichnungsfläche des Bildplattenmediums erfaßt und den optischen Abtaster an dem Ende der Aufzeichnungsfläche positioniert.

55. Vorrichtung nach Anspruch 54, wobei das Steuermittel die Testdaten von einem äußeren Teil der äußeren Fläche zu einem inneren Teil der äußeren Fläche aufzeichnet, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.

56. Vorrichtung nach Anspruch 50, wobei das Steuermittel die Testdaten von einem äußeren Teil der äußeren Fläche zu einem inneren Teil der äußeren Fläche aufzeichnet, wobei der innere Teil näher bei einem Mittelpunkt des Bildplattenmediums angeordnet ist als der äußere Teil.