JP2009170022A - 光ピックアップ装置の検査方法および光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

【課題】光ピックアップ装置を一定の方法で評価することが出来ず、品質管理が困難であり、また、性能評価に手間取る問題があった。
【解決手段】記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとの少なくとも２種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査するようにする。これにより、再生信号により光ピックアップ装置を検査するようにでき、メーカーによらず一定の評価方法で光ピックアップ装置の品質管理が行えるようにしている。
【選択図】図１

Description

本発明は、光ピックアップ装置の検査方法、およびその検査方法による検査に合格した光ピックアップ装置に関し、特にＨＤ＿ＤＶＤ（High Definition Digital Versatile Disc）の記録/再生に用いる光ピックアップ装置の特性を評価する際に用いて好適な光ピックアップ装置の検査方法である。さらに、その検査方法による検査に合格した光ピックアップ装置に関するものである。

レーザ光を使用して光学的に信号再生及びあるいは信号記録が行われる光ディスクにおいては、青紫色（青色）のレーザ光（例えば４０５ｎｍ）を用いてＤＶＤ（Digital Versatile Disc）より記録密度の向上が図られた光ディスク規格としてＨＤ＿ＤＶＤ規格が知られている。直径１２ｃｍのＨＤ＿ＤＶＤでは、記録層が１層で約１５Gバイトのデータを記録することができ、記録層が２層で約３０Gバイトのデータが記録することができる。これら記録層が１層と２層のディスクではそれぞれ反射率などが異なり、また２層タイプのディスクにおいては記録層の層間分離、層間クロストークといった問題が生じ、このため、これらディスクを再生可能とする光ピックアップ装置では高い光学性能が要求されている。

また、使用するレーザ波長が短くなり、再生される記録マークが小さく、記録密度が高密度化したことから、ディスクのチルトなどの機械特性によって再生/もしくは記録状態が大きく変化する。このため、最適な光ピックアップにおいてはディスクの状態変化が生じても良好な再生性能が得られることが求められている。さらに、使用するレーザ波長が短くなり、2層タイプのメディアにおける層間クロストークなどの影響が大きくなっており、多層タイプのメディアにおいても良好な再生性能が得られる特性が求められている。

このため、さまざまな手法・ディスクを用いて光ピックアップを評価するために、非常に多くの時間や装置が必要となり、コスト的に非常に大きな負担となっていた。

ところで、光ディスクの記録再生を光ディスク装置に用いられる光ピックアップ装置は、例えば光ディスクに検査用データを記録した後に、この検査用データを再生した再生データを評価して検査される（特許文献１参照）。

光ピックアップ装置は、特許文献１に示される如く、例えば光ピックアップ装置により読み取られて波形整形された再生信号の波形形状を計測して判定される再生信号の良否判定、２値化したデジタル再生信号から測定されるジッタ値及びデータ誤り率により評価される。

ところで、ＨＤ＿ＤＶＤ規格においては、再生信号の２値化方式として高密度化技術のＰＲＭＬ（Partial Response and Maximum Likelihood）を採用していることから評価指標として再生信号のジッタを採用することが出来ず、代わりにＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal-to-Noise Ratio）とＳｂＥＲ（Simulated bit Error Rate）が採用されている。

ＰＲＳＮＲ、ＳｂＥＲは、ＨＤ＿ＤＶＤ規格のディスク、光ディスク装置、光ピックアップ装置のいずれを評価するにも採用され、例えばＨＤ＿ＤＶＤ−Ｒディスクを評価するのにもこのＰＲＳＮＲ、ＳｂＥＲの他に記録パワー、反射率、信号変調度などが評価項目となる（非特許文献１参照）。
特開２００４−２８０９７８号公報 東芝レビュー Vol.61 No.11(2006) HD DVD-Rディスク（２４〜２７ページ）

ところで、ＨＤ＿ＤＶＤ規格ディスクに対応するＨＤ＿ＤＶＤ用光ピックアップ装置は、メーカーごとでそれぞれ仕様が異なり、採用されている部品や機能がさまざまである。また、製造工程における部品取り付けや部品自体の製造ばらつきなどによって、光ピックアップの性能が大きく変化していた。そして、光ピックアップ装置は、メーカーごとに独自な方法で品質管理が行われている。そのため、光ピックアップ装置の性能や品質はメーカーごとに大きくばらつき、プレーヤやドライブなどのディスク装置としてユーザが使用する場合に満足な性能を得られないという問題があった。

すなわち、ＨＤ＿ＤＶＤ用等のＤＶＤ規格より高密度ディスクの光ピックアップ装置の性能を評価する手法は、現状ではまだ確立していない。その為、ディスク装置の開発メーカーにとっては光ピックアップ装置を光ピックアップ装置メーカーと同一の方法で評価することが出来ず、品質管理が困難であり、また、性能評価に手間取る問題があった。

本発明は、上記課題を解消するためになされたものであり、光ピックアップ装置の性能をテストディスクを用いた信号再生によって評価する検査方法を提供することを目的とする。さらに本発明は、光ピックアップ装置メーカー以外の者であっても容易に簡便な方法にて、光ピックアップ装置の性能を評価する検査方法を提供することを目的とする。
また、これら検査方法を用いることで、粗悪な光ピックアップを排除し、十分な再生性能を持った光ピックアップ装置を供給することを目的とする。

上記課題に鑑み本発明は、以下の特徴を有する。

請求項１の発明は、光ピックアップ装置の検査方法であって、記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとの少なくとも２種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。これにより、再生信号により光ピックアップ装置を検査するようでき、メーカーによらず一定の評価方法で光ピックアップ装置の品質管理が行える。

請求項２の発明は、請求項１に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
ＮＡが０．６以上の対物レンズを備える光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。

請求項３の発明は、請求項１または２に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記テストディスクのトラックピッチが略０．６８μｍ以下である領域の再生信号評価により光ピックアップ装置を評価することを特徴とする。

請求項４の発明は、請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、波長４５０ｎｍ以下の光学系による再生信号評価により光ピックアップ装置を評価することを特徴とする。

請求項５の発明は、請求項１〜４のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法であって、前記記録層が１層である第１のテストディスクと、前記記録層が２層である第２のテストディスクと、アクチュエータの動作を検証するためのテストディスクとの、
少なくとも３種類のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。これによりアクチュエータの性能を再生信号により評価可能とする。メーカーによらず一定の評価方法で光ピックアップ装置の品質管理が行える。

請求項６の発明は、請求項１〜５のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法であって、前記記録層が１層である第１のテストディスクと、前記記録層が２層である第２のテストディスクと、前記アクチュエータの動作を検証するためのテストディスクとして面ぶれ評価用の面ぶれが発生される形態の第３のテストディスクと、チルト評価用の歪みを有する形態の第４のテストディスクと、偏心評価用の偏心を有する第５のテストディスクとの、少なくとも５種類のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。これによりメーカーによらず一定の評価方法で光ピックアップ装置の品質管理が行える。

請求項７の発明は、請求項１〜６のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第３のテストディスク内に前記面ぶれが略０．４ｍｍｐ−ｐ以上の領域が形成されていることを特徴とする。

請求項８の発明は、請求項１〜７のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第４のテストディスク内にチルトが略０．８°以上の領域が形成されていることを特徴とする。

請求項９の発明は、請求項１〜８のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第５のテストディスク内に略１００μｍの偏心が形成されている領域があることを特徴とする。

請求項１０の発明は、請求項１〜９のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、再生エラーを発生させる欠陥領域を有する第６のテストディスクを用いた再生信号評価を加え、少なくとも６種類のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。

請求項１１の発明は、請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第３のテストディスクの面ぶれが半径５７ｍｍ付近で略０．４ｍｍｐ−ｐとなるように形成しされたことを特徴とする。

請求項１２の発明は、請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第６のテストディスク内に略２００μｍのブラックスポットが形成されていることを特徴とする。

請求項１３の発明は、請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
前記第６のテストディスクの再生信号評価は、欠陥領域におけるＰＩエラー評価により行われることを特徴とする。

請求項１４の発明は、請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記６種類のテストディスクのうち少なくとも１枚を用い、光ピックアップ装置による再生信号のＰＲＳＮＲの評価結果により光ピックアップ装置を評価することを特徴とする。

請求項１５の発明は、請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
前記第６のテストディスクはＦＳＭ変調方式により変調されていることを特徴とする。

請求項１６の発明は、請求項１〜１５のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検
査方法において、前記第２のテストディスクのスパイラル方向がＯＴＰにて形成されていることを特徴とする。

請求項１７の発明は、請求項１〜１６のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第２のテストディスクの中間層の厚さが１４μｍ以上２５μｍ以下に構成されていることを特徴とする。

請求項１８の発明は、請求項１〜１７のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第１もしくは前記第２のテストディスクうち、少なくとも一方にて、同一のテストディスク内に用意されたトラックピッチの異なる領域の再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。

請求項１９の発明は、請求項１〜１８のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第１もしくは前記第２のテストディスクうち、少なくとも一方にて、同一のテストディスク内に用意されたＢＣＡ領域の再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。

請求項２０の発明は、請求項１〜１９のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第１もしくは前記第２のテストディスクうち、少なくとも一方にて、温度環境を変化させて再生信号を評価することにより、光ピックアップ装置を検査することを特徴とする。

請求項２１の発明は、請求項１〜２０までに記載のいずれか１項の光ピックアップ装置の検査方法による検査に合格した光ピックアップ装置である。これにより、提供される光ピックアップ装置がすべて適正な信号再生が可能となる。

本発明に依れば、実用上十分な性能を満たす光ピックアップ装置を評価することが可能な光ピックアップ装置の検査方法が提供できる。これにより、ＤＶＤより高密度ディスクに対応するＨＤ＿ＤＶＤ用等の光ピックアップ装置の粗悪品を排除することが可能となる。

また、本発明に依れば、第１及びもしくは第２のテストディスクを用いた再生信号評価をテストディスクのデータ領域とこのデータ領域より内周側の所定領域とにより行うようにしているので、テストディスクの広範囲の領域を用いて効率的な評価が可能となる。

更に、第３のテストディスクを用いた面ぶれ評価、第４のテストディスクを用いたチルト評価、第５のテストディスクを用いた偏心評価、第６のテストディスクを用いた欠陥評価の少なくとも１つをディスク最外周部により行うようにしているので、再生信号評価に用いられる複数のディスクを用いて、ディスクの内周から外周の全面における特性を評価できる。

特に、第３のテストディスクを用いた面ぶれ評価、第４のテストディスクを用いたチルト評価はディスク外周部での変化量が大きいエリアが評価対象となるので、厳格な評価により面ぶれ、チルトに対する信頼性を検証することが可能である。

また、本発明に依れば、少なくとも６のテストディスクを用いた評価により実用上十分な性能を備えた一定の品質を保持した光ピックアップ装置が提供できる。

ＤＶＤより高密度ディスクに対応する光ピックアップ装置を評価する方法において、で
きる限り少ないディスクを用いて実用上十分な性能を満たす光ピックアップを評価することが可能であり、粗悪な光ピックアップの不足している性能を的確に判定することが可能となる。

図１は本発明にかかる光ピックアップ装置の検査方法を実現する光ピックアップ装置の検査装置の一例を示す回路ブロックであり、この検査装置による検査対象はＤＶＤより高密度ディスクに対応する光ピックアップ装置に好適であり、本実施例においてはＨＤ＿ＤＶＤ規格のＨＤ＿ＤＶＤ用ディスクに対応する光ピックアップ装置である。

図１において、ＨＤ＿ＤＶＤ規格に対応する仕様（例えばレーザ波長４０５ｎｍ、対物レンズのＮＡ（numerical aperture）０．６５）の光ピックアップ装置１は、レーザ制御回路２による制御に応じてレーザ駆動回路３によりレーザ光源が駆動されてれレーザ光をＨＤ＿ＤＶＤ用ディスクＤに照射し、このディスクＤからの反射光を光検出器１ａにより受光する。

光検出器１ａの各受光領域からそれぞれ発生される各受光出力はヘッドアンプ４に供給され、ヘッドアンプ４はこれらの各受光出力を演算してディスクの主信号のＨＦ信号（高周波信号）、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、チルトエラー信号をそれぞれ生成する。

サーボ回路５は前記フォーカスエラー信号に応じてレーザ光をディスクの信号面に合焦させるフォーカス制御、前記トラッキングエラー信号に応じてレーザ光をディスクの信号トラックに追従させるトラッキング制御を行うと共に、光ピックアップ装置１自体をディスクの径方向に送るスレッド送り制御、及び前記チルトエラー信号に応じてレーザ光をディスクの信号面に対して垂直に照射させるチルト制御を行う。

また、サーボ回路５はディスクを回転駆動するスピンドルモータ６をクロック生成回路７により生成されるクロックに応じて所定の線速度一定に駆動させるスピンドル制御を行う。本実施例では特に断らない限り６．６１ｍ/sので駆動するものとする。

ＰＲＭＬ（Partial Response and Maximum Likelihood）復号回路８はヘッドアンプ２から出力されるＨＦ信号を２値化データ信号に復号し、デコーダ９はこの２値化データ信号からＨＤ＿ＤＶＤ規格に採用される変調コードであるＥＴＭ（Eight to Twelve Modulation）に応じたＥＴＭ復調、あるいはＨＤ＿ＤＶＤの中国規格（ＣＨ−ＤＶＤ）のディスクの場合、そのＣＨ−ＤＶＤの変調コードであるＦＳＭ（Four to Six Modulation）に応じたＦＳＭ復調を行い、併せてＨＤ＿ＤＶＤ規格ディスクのデータ構造に応じて各種データを復調する。

評価システム１０は光ピックアップ装置１の品質を検査するのに必要な各種項目を評価するのに用いられる各種計測手段（不図示）により構成され、これら各種計測手段による計測値によって前記各種項目を評価する複数の評価部、すなわち再生信号評価部１１、サーボ信号評価部１２、ＰＲＭＬ評価部１３、ＳｂＥＲ（Simulated bit Error Rate）評価部１４、およびＰＩエラー評価部１５を有する。

以上のように構成される光ピックアップ装置の検査装置は、ＨＤ＿ＤＶＤ規格のディスクに対応するディスク再生装置のデコーダまでの構成に評価システム１０を加えた構成である。

図１の光ピックアップ装置の検査装置により光ピックアップ装置を検査する場合、検査
する光ピックアップ装置を検査装置に取り付けて図２〜図４の各フローチャートに示す検査を実行する。

ここで、ＨＤ＿ＤＶＤ−ＲＯＭの物理規格に準拠する直径１２ｃｍの１層ディスク、いわゆるＳＬ（Single Layer）ディスク、および直径１２ｃｍの２層ディスク、いわゆるＤＬ（Dual Layer）ディスクの領域レイアウトを図５，図６を用いて説明する。

ＳＬテストディスクは図５に示す如く、内周から外周に向かって順に、ＢＣＡ（Burst Cutting Area）、システムリードイン領域、接続領域、データリードイン領域、データ領域、およびデータリードアウト領域となっている。

ＤＬテストディスク（ＯＴＰ（Opposite Track Path）タイプ）は図６に示す如く、光ピックアップ装置に近いＬ０信号層がデータの並び順に沿って内周から外周に向かって順に、システムリードイン領域、接続領域、データリードイン領域、データ領域、およびミドル領域となっており、光ピックアップ装置に遠いＬ１信号層がデータの並び順に沿って外周から内周に向かって順に、ミドル領域、データ領域、データリードアウト領域、接続領域、システムリードアウト領域、およびＢＣＡとなっている。

また、ＨＤ＿ＤＶＤ−ＲＯＭディスクの物理規格のシステムリードイン領域およびデータ領域の主要パラメータは図７に示すとおりであり、システムリードイン領域はデータ領域に比べてビット長、マーク長およびトラックピッチが大きく設定されており、システムリードイン領域の記録密度はデータ領域の記録密度より低くなっている。

図２に示すフローチャートに則した第１の検査は、第１のテストディスクであるＳＬテストディスクを光ピックアップ装置の検査装置にセットして実行される。

ディスクをセットし、ディスク再生を開始すると（ステップａ，ｂ）、光ピックアップ装置１によるトレース位置がシステムリードイン領域に設定され、最初にシステムリードイン領域の再生が開始され、このシステムリードイン領域を用いた検査が実行される（ステップｃ）。このシステムリードイン領域を用いた検査は、ジッター、変調度、アシンメトリおよびＤＰＤ（Differential Phase Detection）法のトラッキングエラー信号のＤＰＤ信号が評価システム１０により評価されて行われる。システムリードインはディスクの内周部分に位置し、この領域を適正に再生できることはディスクの内周部分での再生特性を検証することになる。また、システムリードイン領域のトラックピッチは０．６８μｍであり、２Ｔ＝０．４０８μｍのマークを再生可能であることを検証できる。

システムリードイン領域を用いた検査が終了すると、光ピックアップ装置１によるトレース位置がディスク中心から半径４１ｍｍの地点に駆動され、次にデータ領域を用いた検査が実行される（ステップｄ）。半径４１ｍｍの地点はディスク中周に位置し、この検査によりディスク中周領域での再生性能を検証する。また、データ領域はトラックピッチが０．４μｍであり、２Ｔ＝０．２０４μｍのマークを再生可能であることを検証できる。

このデータ領域を用いた検査は、ＰＲＳＮＲ、ＳｂＥＲ、変調度、アシンメトリおよびＤＰＤ信号が評価システム１０により評価される。さらに、特に指示しない場合、通常は室温（２５°Ｃ）環境で評価を行うが、０°Ｃ、及び６０°Ｃの温度環境下で評価システム１０により少なくともＰＲＳＮＲの評価を行う。これは、レーザの発光波長や使用される光学部品の特性が周囲の環境温度によって変化し、それに伴って再生特性が大きく変化するため、温度変化による特性劣化が生じないことを検証する。このＰＲＳＮＲ評価で問題が生じる場合には別途、ＤＰＤ信号など温度依存性の検査を行うことで、劣化原因の特定が可能となる。この温度環境による検証においては、光ピックアップ装置と光ディスク
を所望の温度環境下に設置し、環境温度を一定に保ち、一定時間放置した後に評価を行うようにする。この際、レーザ点灯による光ピックアップ装置および光学部品の急激な温度変化により、評価結果に誤差が生じないように、レーザを点灯したまま2時間以上放置することが望ましい。少なくとも一定時間環境温度下に設置することで、レーザ発光素子の温度変化による波長シフト・出射パワー変動などを加味した検証が可能となる。

データ領域を用いた検査が終了すると、光ピックアップ装置１によるトレース位置がＢＣＡに設定され、ＢＣＡを用いた検査が実行される（ステップｅ）。このＢＣＡを用いた検査は、変調度が評価システム１０により評価されて行われる。このＢＣＡは通常のピットや溝形状とは異なっており、バーコードのように間欠的に反射率が変化する領域で、光ピックアップ装置１がＢＣＡ領域を再生可能であることを検証する。ＢＣＡ評価の際、ディスクの回転数は２７６０ｒｐｍとした。ディスクの最内周位置に存在し、ディスク最内周で再生可能なことが検証できる。

以上の第１のテストディスクを用いた第１の検査の判定（ステップｆ）の結果、第１の検査を全て合格した光ピックアップ装置１は、次の検査が続行される（ステップｇ）。一方、第１の検査に不合格の光ピックアップ装置１は必要な性能を満たさないとして、この場合はＳＬテストディスクへの対応度が不足として不良品認定される（ステップｈ）。

尚、光ピックアップ装置１によるトレース位置をディスクの所定の半径距離に移動させるために、例えば光ピックアップ装置１の送り機構にポテンショメータを設けてこのポテンショメータにより光ピックアップ装置１の移動位置を検出するようにする。

本実施例では各検査項目を順次記述したが、検査順序はこれに限定されるものではなく、例えばＢＣＡ領域を先に評価してもよい。また、大量生産時など品質管理の観点にて行う検査においてはＳＬテストディスクが再生可能であるがを判定できればよく、一部項目を省略して、例えば、中周のＰＲＳＮＲを評価するのみであってもよい。また評価半径位置なども適宜変更可能であるが、第１のテストディスクを用いた第１の検査の判定によりＳＬテストディスクが再生可能であることを検証できればよい。ただ、後の評価と組み合わせてディスクの全面にて評価可能であることを示すには少なくともＢＣＡ、システムリードイン、ディスク中周位置での評価が行われることが好適である。

図１１に本願実施例で用いるＳＬテストディスクの断面構造を示す。光ピックアップ装置の方から基板１０１、記録層１０２、接着層１０３、基板１０４、印刷層１０５という構造を有している。基板１０１、の厚みを０．６００ｍｍ、基板１０１の屈折率を１．６（波長４０５nmの場合）と設定した。

基板１０１、１０４はポリカーボネートなど、波長４００nm程度のレーザ光を透過しやすい材料にて形成されている。このほか、基板１０１、１０４を形成する材料としてはポリオレフィンやポリ乳酸を主成分とする生分解性材料も用いることが可能である。基板１０１は、トラックパターン（ピット列）を有するスタンパを用いて、射出成型により形成される。基板１０１の表面には、スタンパ上のトラックパターンが転写される。トラックは内周から外周に向かって形成されている。

尚、基板１０１をガラス材料にて形成する方が好適である。これは温度環境を変化させた場合に基板にチルトや面ブレといった機械特性の変化を小さく抑えることができ、再生性能が劣化した場合にディスク起因による劣化を排除することが可能なためである。また、基板がガラスで形成されると保管中や検査の際に光ピックアップ装置がディスクに接触して生じる傷が付きにくく、汚れた場合も簡単にふき取ることが可能となり、ＳＬテストディスクの耐久性・信頼性を高めることができる。

基板をガラスで形成する場合、０．６００のガラス板の上に紫外線効果樹脂を塗布し、その上にトラックパターンを有するスタンパを押し付けて紫外線を照射する。その後、スタンパをガラス板から引き離すことにより、ガラス板の上にトラックパターンが転写される。この場合、ガラス板と紫外線硬化樹脂の層を合わせた厚みが０．６１０ｍｍとなるように調整される。

記録層１０２は形成されたトラックパターン上にアルミニウムや銀、もしくはこれらの合金などの使用するレーザ光の波長に対して高反射率を有する材料によって形成されている。記録層１０２の材料はスパッタもしくは蒸着などの手法によって基板表面もしくは紫外線硬化樹脂上に薄膜形成される。

接着層１０３は、記録層１０２が形成された基板１と基板４を貼り合わせるために形成される。かかる貼り合わせの際は記録層１０２の表面に紫外線硬化樹脂が塗布され、その上に基板４を重ねあわせる。その後、基板１０４側から紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させる。これにより基板１０１と１０４が記録層１０２を中間に形成された状態で貼り合わせられる。なお、ここでは基板１０１、１０４の厚みを０．６００ｍｍ、屈折率を１．６としたがこれに限定されるものではなく、基板１０１、１０４の厚みは０．５８ｍｍから０．６２ｍｍであってもよく、屈折率は１．５〜１．７（波長４００〜４１０の範囲において）であってもよい。

印刷層１０５はなくてもよい。しかしどちらの基板面が光ピックアップ装置１側の光入射面かを容易に判断でき、ディスクの種別判別のため、印刷面１０５を形成した方がよい。

ところで、第１の検査の各検査の具体的な評価方法を以下に示す。

まず、変調度、アシンメトリの各検査に用いられ、ＰＲＭＬ復号回路８により等化された各マーク長のＨＦ信号の信号強度レベルを図８に示すアイパターンを用いて説明する。

図８において、「Zero Level」はディスクが無い状態での信号レベルを示しており、「Ｉ２」は最短マーク長（２Ｔ）のＨＦ信号振幅を示し、「Ｉ２Ｌ」は「Zero Level」を基準とした最短マーク長（２Ｔ）のＨＦ信号のボトム信号レベルを示し、「Ｉ２Ｈ」は「Zero Level」を基準とした最短マーク長（２Ｔ）のＨＦ信号のピーク信号レベルを示している。同様に、「Ｉ３」はマーク長（３Ｔ）のＨＦ信号振幅を示し、「Ｉ３Ｌ」は「Zero Level」を基準とした３Ｔマーク長のＨＦ信号のボトム信号レベルを示し、「Ｉ３Ｈ」は「Zero Level」を基準とした３Ｔマーク長のＨＦ信号のピーク信号レベルを示しており、「Ｉ１１」はマーク長（１１Ｔ）のＨＦ信号振幅を示し、「Ｉ１１Ｌ」は「Zero Level」を基準とした１１Ｔマーク長のＨＦ信号のボトム信号レベルを示し、「Ｉ１１Ｈ」は「Zero
Level」を基準とした１１Ｔマーク長のＨＦ信号のピーク信号レベルを示している。

ジッタの検査は、例えばＰＲＭＬ復号回路８により復号される２値化データ信号の各マーク長の各パルス幅のばらつきを測定して行われ、マーク長及びトラックピッチがデータ領域に比べて大きいシステムリードイン領域のみ評価され、測定されるジッタが８．０％以下であることが合格判断の基準として要求される。

変調度の評価は、データ領域において、Ｉ１１／Ｉ１１Ｈ≧０．４０、かつＩ３／Ｉ１１≧０．３５であるか否かにより行われ、これらの要求を満たすことが合格判断の基準となる。一方、システムリードイン領域において、Ｉ１１／Ｉ１１Ｈ≧０．３０、かつＩ３／Ｉ１１≧０．５であるか否かにより行われ、これらの要求を満たすことが合格判断の基
準となる。

アシンメトリは各ＨＦ信号振幅の中心ずれを示し、データ領域において、アシンメトリの評価は式１＝［（Ｉ１１Ｈ＋Ｉ１１Ｌ）／２−（Ｉ２Ｈ＋Ｉ２Ｌ）／２］／Ｉ１１、式２＝［（Ｉ１１Ｈ＋Ｉ１１Ｌ）／２−（Ｉ３Ｈ＋Ｉ３Ｌ）／２］／Ｉ１１とした場合の式１および式２のいずれもの演算値が−０．１〜０．１であるか否か、及び式３＝［（Ｉ３Ｈ＋Ｉ３Ｌ）／２−（Ｉ２Ｈ＋Ｉ２Ｌ）／２］／Ｉ１１とした場合の式３の演算値が−０．０４〜０．０４であるか否かにより行われ、これら全ての要求を満たすことが合格判断の基準となる。

一方、システムリードイン領域において、アシンメトリの評価は式１＝［（Ｉ１１Ｈ＋Ｉ１１Ｌ）／２−（Ｉ２Ｈ＋Ｉ２Ｌ）／２］／Ｉ１１の演算値が−０．０５〜０．１５であるか否かにより行われ、この要求を満たすことが合格判断の基準となる。

ＤＰＤ信号の評価を説明する前に、図９に示すトラッキングエラー信号生成回路によりＤＰＤ信号の生成方法を説明する。

光ピックアップ装置１のディスクＤからの反射光を受光する光検出器１ａに形成されるメイン受光部２０は互いに直交する分割線により４分割されている。メイン受光部２０の各分割領域からそれぞれ出力される各受光出力をＩａ，Ｉｂ，Ｉｃ，Ｉｄとすると、メイン受光部２０のそれぞれ対角上の分割領域同士を加算した第１加算出力（Ｉａ＋Ｉｃ），第２加算出力（Ｉｂ＋Ｉｄ）はそれぞれアンプ２１，２２を介して増幅された後、それぞれ２値化回路２３，２４により波形等化され、波形整形されて２値化信号に変換される。２値化された第１加算出力（Ｉａ＋Ｉｃ）と２値化された第２加算出力（Ｉｂ＋Ｉｄ）とは位相比較器２５により位相比較され、位相比較器２５から［phase（Ｉａ＋Ｉｃ）−phase（Ｉｂ＋Ｉｄ）］のＤＰＤ信号が発生される。このＤＰＤ信号は、光ピックアップ装置１によるトレース位置のトラッキング方向への移動量を横軸に示し、ＤＰＤ信号の電圧レベルを縦軸に示すと、図１０に示す如く三角波信号となる。

位相比較器２５から発生されるＤＰＤ信号は遮断周波数が３０ｋＨｚの一次ローパスフィルタ２６を介して図１０の三角波信号の角を鈍らせたトラッキングエラー信号として抽出される。

ＤＰＤ信号の評価は、図１０に示すＤＰＤ信号［phase（Ｉａ＋Ｉｃ）−phase（Ｉｂ＋Ｉｄ）］の「0 Level」を基準とした各極性の振幅値をそれぞれＴ１，Ｔ２とした場合のＤＰＤ信号のアシンメトリに相当する（Ｔ１−Ｔ２）／（Ｔ１＋Ｔ２）の絶対値が０．２０maxか否か、および光ピックアップ装置１によるトレース位置がトラッキング方向（図１０の横軸方向）に０．０５μｍ移動する分のＤＰＤ信号の振幅変化量Δｔ／Ｔが０．２〜０．６であるか否かにより行われ、これらの要求を満たすことが合格判断の基準となる。

ＰＲＳＮＲはディスクからの再生信号波形と理想的な信号波形との乖離を数値化したもので、ＰＲＳＮＲの評価は２０測定点を測定し、この２０測定点における平均（prsnr(i)）、標準偏差（prsnr(i)）をそれぞれ算出し、ＰＲＳＮＲ＝平均（prsnr(i)）−２×標準偏差（prsnr(i)）を演算した値が１５以上か否かにより行われ、この要求を満たすことが合格判断の基準となる。これはディスクの評価位置によって、例えばディスク上のマーク形成がばらつくことや反射率が変動するため、そのばらつきによりＰＲＳＮＲ値が変化することも加味した上で評価を行うために行う。

また、ＳｂＥＲはＰＲＭＬ信号処理の誤識別により発生するビット誤り率の推定値であ
り、ＳｂＥＲの評価はＰＲＳＮＲの評価のときと共用される２０測定点の測定、およびこの２０測定点における平均（prsnr(i)）、標準偏差（prsnr(i)）を用いてＳｂＥＲ＝平均（prsnr(i)）＋２×標準偏差（prsnr(i)）が演算され、このＳｂＥＲの値が５×１０^−５以下か否かにより行われ、この要求を満たすことが合格判断の基準となる。これはディスクの評価位置によって、例えばディスク上のマーク形成がばらつくことや反射率が変動するため、そのばらつきによりＳｂＥＲ値が変化することも加味した上で評価を行うために行う。

第１の検査を全て合格した光ピックアップ装置１は続いて第２の検査が行われる。この第２の検査は第２のテストディスクであるＤＬテストディスクを用いて実行され、第１の検査とテストディスクの形態がＳＬテストディスクとＤＬテストディスクと相違するだけで他は図２に示すフローチャートに則した同一の検査が行われる。第２の検査でＤＬテストディスクを用いることにより、システムリードイン、リードアウト領域、データ領域においてＤＬテストディスク特有の層間クロストーク、低反射率の影響を検証できる。加えて、光ピックアップ装置１に近い層であるＬ０層２０２と遠い層であるＬ１層２０４を明確に分離して再生可能かを検証することができる。図１２に本願実施例で用いるＤＬテストディスクの断面構造を示す。光ピックアップ装置１の方から基板２０１、Ｌ０層２０２、中間層２０３、Ｌ１層２０４、基板２０５、印刷層２０６という構造を有している。ここで中間層２０３の厚み（Ｌ０層２０２とＬ１層２０４の間隔）は２０μｍ、基板２０１、２０５の厚みを０．５９０ｍｍ、基板２０１、２０５の屈折率を１．６（波長４０５nmの場合）と設定した。

基板２０１、２０５はポリカーボネートなど、波長４００nm程度のレーザ光を透過しやすい材料にて形成されている。このほか、基板２０１、２０５を形成する材料としてはポリオレフィンやポリ乳酸を主成分とする生分解性材料も用いることが可能である。基板２０１、２０５は、トラックパターン（ピット列）を有するスタンパを用いて、射出成型により形成される。基板２０１、２０５の表面には、スタンパ上のトラックパターンが転写される。

尚、基板２０１、２０５の双方、またはいずれか一方をガラス材料にて形成する方が好適である。これは温度環境を変化させた場合に基板にチルトや面ブレといった機械特性の変化を小さく抑えることができ、再生性能が劣化した場合にディスク起因による劣化を排除することが可能なためである。また、基板がガラスで形成されると保管中や検査の際に光ピックアップ装置１がテストディスクに接触して生じる傷が付きにくく、汚れた場合も簡単にふき取ることが可能となり、ＤＬテストディスクの耐久性・信頼性を高めることができる。

基板をガラスで形成する場合、０．５９０よりもやや薄いガラス板の上に紫外線効果樹脂を塗布し、その上にトラックパターンを有するスタンパを押し付けて紫外線を照射する。その後、スタンパをガラス板から引き離すことにより、ガラス板の上にトラックパターンが転写される。この場合、ガラス板と紫外線硬化樹脂の層を合わせた厚みが０．５９０ｍｍとなるように調整される。トラックのスパイラルパターンはＬ０層２０２では内周から外周に向かい、Ｌ１層では外周から内周に向かうように形成する（ＯＴＰタイプ）。
Ｌ０層２０２は形成されたトラックパターン上に銀合金などの半透過性材料によって形成されている。また、Ｌ１層２０４はアルミニウムや銀、もしくはこれらの合金などの高反射率材料によって形成されている。これらＬ０層２０２、Ｌ１層２０４の材料はスパッタもしくは蒸着などの手法によって基板表面に薄膜形成される。

中間層２０３は、波長４００nm程度の波長に対する吸収率が低い紫外線硬化樹脂によって形成される。中間層２０３は、Ｌ０層２０２に積層された基板２０１とＬ１層２０４が
積層された基板２０５を貼り合わせる際の接着層として機能する。かかる貼り合わせの際はＬ０層２０２の表面に中間層を形成する紫外線硬化樹脂が塗布され、その上にＬ１層２０４を重ねあわせる。その後、基板２０１側から紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させる。これにより基板２０１と２０５がＬ０層２０２とＬ１層２０４の間に中間層２０３が形成された状態で貼り合わせられる。なお、ここでは基板２０１、２０５の厚みを０．５９０ｍｍ、屈折率を１．６としたがこれに限定されるものではなく、基板２０１、２０５の厚みは０．５７から０．６３ｍｍであってもよく、屈折率は１．５〜１．７（波長４００〜４１０の範囲において）であってもよい。

中間層２０３の厚さについては層間クロストークの影響を検証する必要があるため、１４μmから２５μmの範囲であってもよい。図１３は中間層２０３の厚みと層間クロストークの関係をシミュレーションしたものである。図１３からわかるとおり、Ｌ０層２０２とＬ１層２０４の間隔（中間層２０３の厚み）が小さくなるほど増加し、間隔が１４μｍ以下で５０％以上に達する。このことは中間層が１４μｍ以下では理想的な光学ヘッド装置においても層の分離が困難で正しく所望の層を再生できないことを示している。また２５μｍよりも厚い厚さではクロストークの影響が２０％以下と極めて小さくなる。そこで中間層２０３の厚さは層間分離がもっとも難しい１４μｍ以上からクロストークの影響を判断できる２０％のクロストーク量を示す２５μｍ以下の範囲に設定すればよい。

一方、ＤＬテストディスクの構造や検査手法において最内周から外周までのすべてのエリアでクロストークの検証が可能な構造となっている。このため、中間層２０３はディスク全面に渡って均一な厚さが求められるが、全く同じ厚さに制御してテストディスクを作製することは困難である。そこで、テストディスク全面における中間層２０３の変動を±５μｍとし、中間層２０３の厚さを２０μｍとすることが全面でクロストークの影響を評価可能な中間層厚さとしてもっとも好適である。
印刷層２０６はなくてもよい。しかしどちらの基板面が光ピックアップ装置側の光入射面かを容易に判断でき、ディスクの種別判別のため、印刷面２０６を形成した方がよい。

また、本願実施例ではＯＴＰタイプのディスクを用いた。これは、Ｌ０層２０２とＬ１層２０４でトラックのスパイラル方向が逆になっているため、トラッキングした層がＬ０層２０２かＬ１層２０４かがトラックスチル状態のトラックのジャンプ方向で瞬時に判別できるとの効果があるためである。

しかしながら、ディスクタイプはこれに限定されるものではなく、ＰＴＰ（Parallel Track Path）タイプのＤＬテストディスクであってもよい。その場合、ディスクのエリア構成が一部異なりＬ０層、Ｌ１層にそれぞれシステムリードイン、データリードアウト領域を有し、ミドルエリアが存在しない。また、トラックのスパイラル方向がＬ０層、Ｌ１層ともに内周から外周に向う。但し、トラックピッチやマーク長のパラメータは半径位置では同一であり、ＯＴＰタイプのＤＬテストディスクと同一の検査が可能となる。ただし、トラッキングしている層を判別するには、フォーカスサーチ信号などをモニタリングしてどちらの層にトラッキングしているかを別途調べる必要がある。

第２のテストディスクを用いた第２の検査を全て合格した光ピックアップ装置１は、次の検査が続行される（ステップｇ）。一方、第２の検査に不合格の光ピックアップ装置１は必要な性能を満たさないとして、この場合はＤＬテストディスクへの対応度が不足として不良品認定される（ステップｈ）。

以上の第１〜第２種類のテストディスクをそれぞれ用いた第１〜第２の検査により光ディスク再生に必要な諸特性の性能である、信号再生能力・温度依存特性を満たす光ピックアップ装置を判別することが可能となる。

そして、第１〜第２の検査により必要な再生性能を全て満たす光ピックアップ装置が提供できる。

第２の検査を全て合格した光ピックアップ装置１は、次にアクチュエータの性能の検証について第３のテストディスクを用いた第３の検査が行われる。

第３の検査は、面ぶれ評価用の面ぶれが発生される形態の第３のテストディスクである面ぶれテストディスクを光ピックアップ装置の検査装置にセットして図３のフローチャートに示す各ステップが実行される。この第３のテストディスクは信号再生評価の際にディスク回転によって０．４ｍｍｐ−ｐ（peak to peak）の所定の面ぶれを発生する。

第３のテストディスクをセットし、ディスク再生を開始すると（ステップｉ，ｊ）、光ピックアップ装置１によるトレース位置がディスク中心から半径５７ｍｍの地点に駆動され、この地点のデータ領域の再生が開始され、検査が実行される（ステップｋ）。この半径５７ｍｍの地点のデータ領域を用いた検査は、ＰＲＳＮＲが評価システム１０により評価されて行われる。
ＰＲＳＮＲの評価は先述の第１の検査の場合と同様に行われ、ＰＲＳＮＲを演算した値が１５以上か否かにより行われる（ステップｌ）。

本実施例で用いた面ぶれテストディスクの基本的な物理パラメータ、ディスクの構造はＳＬテストディスクと同一のものを用いた。これは光ピックアップ装置の検証時に面ぶれの影響を効果的に検証できるためである。再び図１１を参照し、基板１０１の厚みを０．６００ｍｍ、基板１０１の屈折率を１．６（波長４０５nmの場合）と設定した。

基板１０１、１０４はポリカーボネートなど、波長４００nm程度のレーザ光を透過しやすい材料にて形成されている。このほか、基板１０１、１０４を形成する材料としてはポリオレフィンやポリ乳酸を主成分とする生分解性材料も用いることが可能である。基板１０１は、トラックパターン（ピット列）を有するスタンパを用いて、射出成型により形成される。基板１０１の表面には、スタンパ上のトラックパターンが転写される。トラックは内周から外周に向かって形成されている。

尚、基板１０１をガラス材料にて形成してもよい。基板がガラスで形成されると保管中や検査の際に光ピックアップ装置がディスクに接触して生じる傷が付きにくく、汚れた場合も簡単にふき取ることが可能となり、ＳＬテストディスクの耐久性・信頼性を高めることができる。

記録層１０２は形成されたトラックパターン上にアルミニウムや銀、もしくはこれらの合金などの高反射率材料によって形成されている。記録層１０２の材料はスパッタもしくは蒸着などの手法によって基板表面もしくは紫外線硬化樹脂上に薄膜形成される。

接着層１０３は、記録層１０２が形成された基板１と基板４を貼り合わせるために形成される。かかる貼り合わせの際は記録層１０２の表面に紫外線硬化樹脂が塗布され、その上に基板４を重ねあわせる。その後、基板１０４側から紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させる。これにより基板１０１と１０４が記録層１０２を中間に形成された状態で貼り合わせられる。

このように作製したディスクはあらかじめ、できる限り面ぶれがないように最適な状態で形成され、面ぶれを与えるために、最内周のＢＣＡエリアより内側のクランプエリアに面ぶれが生じるように加工を行う。例えば、周方向で厚さの異なるシールを貼りつけるな
どして、半径５７ｍｍにて０．４ｍｍｐ−ｐ（peak to peak）の面ぶれテストディスクを作製する。この手法によれば、ディスク作製によるピットの形成状態などはＳＬテストディスクと同等であり、ディスク自体の信号品質は全く問題なく、半径５７ｍｍで所望の面ぶれを持ったディスクを作製することが可能となる。半径５７ｍｍでの面ぶれを０．４ｍｍｐ−ｐとして評価するのは、面ぶれはディスク外周部ほど大きくなる傾向があり、ディスクの加工が容易となるためである。

このようにすることで、０．４ｍｍｐ−ｐの面ぶれがあっても光ピックアップ装置１が適性に信号再生を行うことができることを検証することできる。このことは、ディスクに面ぶれが生じても、光ピックアップ装置が適正にアクチュエータを駆動してディスク再生を行うことができ、充分なフォーカス能力を持つことを意味する。つまり、面ぶれの変動に応じて適正にアクチュエータを駆動できることを示す。また、ＳＬテストディスクと同等のディスクを使用すれば、ディスクの最外周での評価を行うことになり、光ピックアップ装置がディスク最外周で適正に信号再生が可能であることも検証できることになる。

また、この手法に限らず、基板をポリカーボネートで射出成型により作製する場合、成型時の金型の温度・圧力を調整する（例えば高くする）ことにより、一定の面ぶれを生じさせて作製することが可能である。この手法によれば、成型時の作製条件を一定にすることで、ほぼ同一の特性を持った面ぶれテストディスクを作製可能となるが、信号品質が通常のＳＬテストディスクと異なることが考えられ、ディスク自体の信号品質に配慮が必要である。

ここで半径位置を５７ｍｍとしたが、光ピックアップ装置の評価時に半径位置制御を行っても対物レンズ位置や取り付け誤差が生じることが考えれる。そのため、半径位置誤差を±１ｍｍとし、面ぶれディスクでは半径５６mmから５８mmの範囲で０．４ｍｍｐ−ｐの面ぶれが生じるようにすることが望ましい。

なお、ここでは基板１０１、１０４の厚みを０．６００ｍｍ、屈折率を１．６としたがこれに限定されるものではなく、基板１０１、１０４の厚みは０．５８から０．６２ｍｍであってもよく、屈折率は１．５〜１．７（波長４００〜４１０の範囲において）であってもよい。

印刷層１０５はなくてもよい。しかしどちらの基板面が光ピックアップ装置側の光入射面かを容易に判断でき、ディスクの種別判別のため、印刷面１０５を形成した方がよい。

また、本実施例では通常使用環境下で必要最小限必要な特性を検証するため、面ぶれ量としてディスク自体とディスクチャッキングで生じうる０．４ｍｍｐ−ｐ（peak to peak）の面ぶれテストディスクが最適とした。しかしながら、想定する使用環境がさらに苛酷である場合、さらに大きな面ぶれテストディスクであってもよく０．６ｍｍｐ−ｐ（peak
to peak）の面ぶれテストディスクであってもよい。使用環境が非常に安定な環境で使用される光ピックアップ装置の検証の場合面ぶれテストディスクの内周部を使用すれば、少ない面ぶれでの評価が可能であり、どれほどの面ぶれまで対応できるかといった検証も可能である。

また、面ぶれ量が所望の量あればこの第３の検査は可能であるため、最外周での検証を別途ＳＬテストディスクにて行えば、ディスク作製の困難さはあるが半径位置は半径５７ｍｍに限定されるものではない。

本実施例ではＳＬテストディスクにて面ぶれの影響を検証できるようにしたが、ＤＬディスクを面ぶれテストディスクとして使用してもよい。その場合は層間クロストークなど
も生じるため、再生信号劣化の原因特定は難しくなるが、再生可能である光ピックアップ装置はより高性能な特性を有することを示すことになる。

本実施例においては線速度を６．６１ｍ／ｓにてディスクを回転させて第３のテストディスクを用いた面ぶれディスクへの対応度に関する第３の検査の判定をする。しかしながら、線速度をを変更しておこなってもよく、その際は変更したされた線速度にて所定の面ぶれが生じるように、面ぶれテストディスクを作製する。

以上の第３のテストディスクを用いた面ぶれディスクへの対応度に関する第３の検査の判定の結果、第３の検査を合格した光ピックアップ装置１は、次の検査が続行される（ステップｍ）。一方、第３の検査に不合格の光ピックアップ装置１は必要な性能を満たさないとして、この場合は面ぶれディスクへの対応度が不足として不良品認定される（ステップｎ）。

第３の検査を合格した光ピックアップ装置１は、次のアクチュエータの性能の検証について第４のテストディスクを用いた第４の検査が行われる。

第４の検査は、チルト評価用の歪みを有する形態の第４のテストディスクであるチルトテストディスクを光ピックアップ装置の検査装置にセットして第３の検査とテストディスクの形態が相違するだけで第３の検査と同様に図３のフローチャートに示す各ステップが実行される。この第４のテストディスクは０．８°のラジアルチルトを有している。

図３のフローチャートのとおり第４のテストディスクにより光ピックアップ装置１の第４の検査がＰＲＳＮＲを評価することにより行われ、ＰＲＳＮＲを演算した値が１５以上か否かにより行われる（ステップｌ）。

以上の第４のテストディスクを用いたチルトテストディスクへの対応度に関する第４の検査を合格した光ピックアップ装置１は、次の検査が続行される（ステップｍ）。一方、第４の検査に不合格の光ピックアップ装置１は必要な性能を満たさないとして、この場合はチルトディスクへの対応度が不足として不良品認定される（ステップｎ）。

本実施例で用いたチルトテストディスクの基本的な物理パラメータ、ディスクの構造はＳＬテストディスクと同一のものを用いた。これは光ピックアップ装置の検証時にチルトの影響を効果的に検証できるためである。再び図１１を参照し、基板１０１の厚みを０．６００ｍｍ、基板１０１の屈折率を１．６（波長４０５nmの場合）と設定した。

基板１０１、１０４はポリカーボネートなど、波長４００nm程度のレーザ光を透過しやすい材料にて形成されている。このほか、基板１０１、１０４を形成する材料としてはポリオレフィンやポリ乳酸を主成分とする生分解性材料も用いることが可能である。基板１０１は、トラックパターン（ピット列）を有するスタンパを用いて、射出成型により形成される。基板１０１の表面には、スタンパ上のトラックパターンが転写される。トラックは内周から外周に向かって形成されている。

記録層１０２は形成されたトラックパターン上にアルミニウムや銀、もしくはこれらの合金などの高反射率材料によって形成されている。記録層１０２の材料はスパッタもしくは蒸着などの手法によって基板表面もしくは紫外線硬化樹脂上に薄膜形成される。

接着層１０３は、記録層１０２が形成された基板１と基板４を貼り合わせるために形成される。かかる貼り合わせの際は記録層１０２の表面に紫外線硬化樹脂が塗布され、その上に基板４を重ねあわせる。その後、基板１０４側から紫外線を照射して紫外線硬化樹脂
を硬化させる。これにより基板１０１と１０４が記録層１０２を中間に形成された状態で貼り合わせられる。

チルトを与える加工については、通常のＳＬテストディスクと同じように基板にピットを形成し、貼り合わせて紫外線硬化樹脂を硬化させる際に照射時間を長くするか、接着層に使用する紫外線硬化樹脂を硬化の際に応力が大きいものを使用すればよい。但し、面ぶれが同時に起こらないようにする。応力によりチルトを生じる場合は、外周に向かってチルト量は大きくなる傾向を示し、半径５７ｍｍにて０．８°のラジアルチルトのチルトテストディスクを作製する。この手法によれば、ディスク作製によるピットの形成状態などはＳＬテストディスクと同等であり、ディスク自体の信号品質は全く問題なく、半径５７ｍｍで所望のチルトを持ったディスクを作製することが可能となる。

このようにすることで０．８°のラジアルチルトのチルトがあっても光ピックアップ装置１が適性に信号再生を行うことができることを検証することできる。このことは、ディスクにチルトが生じても、光ピックアップ装置が適正にアクチュエータを駆動してディスク再生を行うことができることを意味する。つまり、チルトにより一定の負荷をアクチュエータが常に受けた状態での性能が満たされるかを検証できる。そのため、ラジアルテストディスクによる検証は一定時間、具体的には１５分以上安定して信号再生が可能であることを検証するほうが望ましい。また、ＳＬテストディスクと同等のディスクを使用すれば、ディスクの最外周での評価を行うことになり、光ピックアップ装置がディスク最外周で適正に信号再生が可能であることも検証できることになる。

また、この手法に限らず、基板をポリカーボネートで射出成型により作製する場合、成型時の金型の温度・圧力を調整する（例えば高くする）ことにより、一定のチルトを生じさせて作製することが可能である。この手法によれば、成型時の作製条件を一定にすることで、ほぼ同一の特性を持ったチルトテストディスクを作製可能となるが、信号品質が通常のＳＬテストディスクと異なることが考えられ、ディスク自体の信号品質に配慮が必要である。

なお、ここでは基板１０１、１０４の厚みを０．６００ｍｍ、屈折率を１．６としたがこれに限定されるものではなく、基板１０１、１０４の厚みは０．５８から０．６２ｍｍであってもよく、屈折率は１．５〜１．７（波長４００〜４１０の範囲において）であってもよい。

印刷層１０５はなくてもよい。しかしどちらの基板面が光ピックアップ装置側の光入射面かを容易に判断でき、ディスクの種別判別のため、印刷面１０５を形成した方がよい。また本実施例では通常使用環境下で必要最小限必要な特性を検証するため、チルト量としてディスク自体とディスクチャッキングで生じうる０．８°のラジアルチルトを持ったチルトテストディスクが最適とした。しかしながら、想定する使用環境がさらに苛酷である場合、さらに大きなチルトテストディスクであってもよく１．０°のラジアルチルトを持ったチルトテストディスクであってもよい。使用環境が非常に安定な環境で使用される光ピックアップ装置の検証の場合チルトテストディスクの内周部を使用すれば、少ないチルト量での評価が可能であり、どれほどのチルトまで対応できるかといった検証も可能である。

また、チルト量が所望の量あればこの第４の検査は可能であるため、最外周での検証を別途ＳＬテストディスクにて行えば、半径位置は半径５７ｍｍに限定されるものではない。

本実施例においては線速度を６．６１ｍ／ｓにてディスクを回転させて第４のテストデ
ィスクを用いたチルトディスクへの対応度に関する第４の検査の判定をする。しかしながら、線速度を変更しておこなってもよく、その際は変更したされた線速度にて所定のチルトが生じるように、チルトテストディスクを作製する。

本実施例ではＳＬテストディスクにてチルトの影響を検証できるようにしたが、ＤＬディスクをチルトテストディスクとして使用してもよい。その場合は層間クロストークなども生じるため、再生信号劣化の原因特定は難しくなるが、再生可能である光ピックアップ装置はより高性能な特性を有することを示すことになる。

第４の検査を合格した光ピックアップ装置１は、次のアクチュエータの性能の検証について、第５のテストディスクを用いた第５の検査が行われる。

第５の検査は、１００μｍｐ−ｐ（peak to peak）の偏心を有する第５種類の偏心テストディスクを光ピックアップ装置の検査装置にセットして第３、第４の検査とテストディスクの形態が相違するだけで第３、第４の検査と同様に図３のフローチャートに示す各ステップが実行される。

図３のフローチャートのとおり第５種類の偏心テストディスクにより光ピックアップ装置１の第５の検査がＰＲＳＮＲを評価することにより行われ、ＰＲＳＮＲを演算した値が１５以上か否かにより行われる（ステップｌ）。

本願実施例で用いた偏心テストディスクの基本的な物理パラメータ、偏心ディスクの構造はＳＬテストディスクと同一のものを用いた。これは光ピックアップ装置の検証時に偏心の影響を効果的に検証できるためである。再び図１１を参照し、基板１０１の厚みを０．６００ｍｍ、基板１０１の屈折率を１．６（波長４０５nmの場合）と設定した。

基板１０１、１０４はポリカーボネートなど、波長４００nm程度のレーザ光を透過しやすい材料にて形成されている。このほか、基板１０１、１０４を形成する材料としてはポリオレフィンやポリ乳酸を主成分とする生分解性材料も用いることが可能である。基板１０１は、トラックパターン（ピット列）を有するスタンパを用いて、射出成型により形成される。基板１０１の表面には、スタンパ上のトラックパターンが転写される。トラックは内周から外周に向かって形成されている。

尚、基板１０１をガラス材料にて形成してもよい。基板がガラスで形成されると保管中や検査の際に光ピックアップ装置がディスクに接触して生じる傷が付きにくく、汚れた場合も簡単にふき取ることが可能となり、ＳＬテストディスクの耐久性・信頼性を高めることができる。

記録層１０２は形成されたトラックパターン上にアルミニウムや銀、もしくはこれらの合金などの高反射率材料によって形成されている。記録層１０２の材料はスパッタもしくは蒸着などの手法によって基板表面もしくは紫外線硬化樹脂上に薄膜形成される。

接着層１０３は、記録層１０２が形成された基板１と基板４を貼り合わせるために形成される。かかる貼り合わせの際は記録層１０２の表面に紫外線硬化樹脂が塗布され、その上に基板４を重ねあわせる。その後、基板１０４側から紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させる。これにより基板１０１と１０４が記録層１０２を中間に形成された状態で貼り合わせられる。

このように作製したディスクは偏心を与えるために、ディスクの中心にあるセンターホールに偏心が生じるように加工を行う。例えば、センターホールを大きく切り抜き、中心
をずらして製造されたリングを中心に接着する。この際、データトラックの偏心量を１００μｍｐ−ｐ（peak to peak）になるようにする。この手法によれば、ディスク作製によるPitの形成状態などはＳＬテストディスクと同等であり、ディスク自体の信号品質は全く問題なく、所望の偏心を持ったディスクを作製することが可能となる。

このようにすることで、１００μｍｐ−ｐ（peak to peak）の偏心があっても光ピックアップ装置１が適性に信号再生を行うことができることを検証することできる。このことは、ディスクに偏心が生じても、光ピックアップ装置が適正にアクチュエータを駆動してディスク再生を行うことができ、充分なトラッキング能力を持つことを意味する。また、ＳＬテストディスクと同等のディスクを使用して、最外周で検証するようにすれば、ディスクの最外周での評価を行うことになり、光ピックアップ装置がディスク最外周で適正に信号再生が可能であることも検証できることになる。

また、この手法に限らず、基板をポリカーボネートで射出成型により作製する場合、成型時のスタンパの取り付けを調整することにより、一定の偏心を生じさせて作製することが可能である。この手法によれば、成型時の作製条件を一定にすることで、ほぼ同一の特性を持った偏心テストディスクを作製可能となる。

尚、ここでは基板１０１、１０４の厚みを０．６００ｍｍ、屈折率を１．６としたがこれに限定されるものではなく、基板１０１、１０４の厚みは０．５８から０．６２ｍｍであってもよく、屈折率は１．５〜１．７（波長４００〜４１０の範囲において）であってもよい。

印刷層１０５はなくてもよい。しかしどちらの基板面が光ピックアップ装置側の光入射面かを容易に判断でき、ディスクの種別判別のため、印刷面１０５を形成した方がよい。

また、本実施例では通常使用環境下で必要最小限必要な特性を検証するため、偏心量としてディスク自体とディスクチャッキングで生じうる１００μｍｐ−ｐ（peak to peak）の偏心テストディスクが最適とした。しかしながら、想定する使用環境がさらに苛酷である場合、さらに大きな偏心テストディスクであってもよく２００μｍｐ−ｐ（peak to peak）の偏心テストディスクであってもよい。

また、偏心量が所望の量あればこの第５の検査は可能であるため、最外周での検証を別途ＳＬテストディスクにて行えば、評価半径位置は半径５７ｍｍに限定されるものではない。

本実施例ではＳＬテストディスクにて偏心の影響を検証できるようにしたが、ＤＬディスクを面ぶれテストディスクとして使用してもよい。その場合は、Ｌ０層とＬ１層での偏心量の相違も生じるためディスク作製が困難となる。また、層間クロストークなどで再生信号劣化の原因特定は難しくなるが、再生可能である光ピックアップ装置はより高性能な特性を有することを示すことになる。

以上の第５のテストディスクを用いた偏心ディスクへの対応度に関する第５の検査を合格した光ピックアップ装置１は、次の検査が続行される（ステップｍ）。一方、第５の検査に不合格の光ピックアップ装置１は必要な性能を満たさないとして、この場合は偏心ディスクへの対応度が不足として不良品認定される（ステップｎ）。

本願実施例では第３から第５の検査を順次実施したが、各検査は単独の検査として独立しており、順序を変更してもよく、同一性能の光ピックアップ装置が複数存在する場合は同時並行で検査を行ってもよい。

以上の第１〜第５種類のテストディスクをそれぞれ用いた第１〜第５の検査により必要な諸特性の性能である、信号再生能力・温度依存特性・アクチュエータの動作能力の必要能力を満たす光ピックアップ装置を判別することが可能となる。

そして、第１〜第５の検査により必要な諸特性の性能を全て満たす実用上十分な性能品質の光ピックアップ装置が提供できる。

第５の検査を合格した光ピックアップ装置１は、さらに第６のテストディスクを用いた第６の検査が行われてもよい。

第６の検査は、ディスク中心から外周側に半径５７ｍｍのエリアに２００μｍのブラックスポットの欠陥を有する第６種類のディフェクトテストディスクを光ピックアップ装置の検査装置にセットして図４のフローチャートに示す各ステップが実行される。
第６種類のディフェクトテストディスクをセットし、ディスク再生を開始すると（ステップｏ，ｐ）、光ピックアップ装置１によるトレース位置がディスク中心から半径５７ｍｍの地点に駆動され、この地点のデータ領域の再生が開始され、検査が実行される（ステップｑ）。この半径５７ｍｍの地点のデータ領域を用いた検査は、重ならない４連続ＥＣＣ（Error Correction Code）ブロック（データセクタ３２セクタ）のＰＩエラーを１０点以上測定し、この測定点における平均（pi(i)）、標準偏差（pi(i)）をそれぞれ算出し、ＰＩエラー＝平均（pi(i)）＋２×標準偏差（pi(i)）を演算した値が２８０以下か否かにより行われる。これはディスクの評価位置によって、例えばディスク上のマーク形成がばらつくことや反射率が変動するため、そのばらつきによりＰＩエラー値が変化することも加味した上で評価を行うために行う。

本実施例ではディフェクトテストディスクの変調コードはＨＤ＿ＤＶＤの中国規格（ＣＨ−ＤＶＤ）のディスクでＦＳＭ変調のものを用いたが、ＥＴＭ変調もしくはＦＳＭ変調に応じたＥＴＭ復調であってよい。

尚、ＨＤ＿ＤＶＤ規格において、誤り訂正フォーマットはＤＶＤ規格と同様に誤り訂正符号としてＲＳ（２０８，１９２，１７）×ＲＳ（１８２，１７２，１１）のリードソロモン積符号が採用されている。

以上の第６のディフェクトテストディスクを用いた欠陥ディスクへの対応度に関する第６の検査の判定（ステップｒ）の結果、第６の検査を合格した光ピックアップ装置１は、必要な性能を全て満たしたとして良品認定される（ステップｓ）。一方、第６の検査に不合格の光ピックアップ装置１は必要な性能を満たしていないとして、この場合は欠陥ディスクへの対応度が不足として不良品認定される（ステップｔ）。

本実施例で用いたディフェクトディスクの基本的な物理パラメータ、ディスクの構造はＳＬテストディスクと同一のものを用いた。これは光ピックアップ装置の検証時にディフェクトの影響を効果的に検証できるためである。再び図１１を参照し、基板１０１の厚みを０．６００ｍｍ、基板１０１の屈折率を１．６（波長４０５nmの場合）と設定した。
基板１０１、１０４はポリカーボネートなど、波長４００nm程度のレーザ光を透過しやすい材料にて形成されている。このほか、基板１０１、１０４を形成する材料としてはポリオレフィンやポリ乳酸を主成分とする生分解性材料も用いることが可能である。基板１０１は、トラックパターン（ピット列）を有するスタンパを用いて、射出成型により形成される。基板１０１の表面には、スタンパ上のトラックパターンが転写される。トラックは内周から外周に向かって形成されている。

尚、基板１０１をガラス材料にて形成してもよい。基板がガラスで形成されると保管中や検査の際に光ピックアップ装置がディスクに接触して生じる傷が付きにくく、汚れた場合も簡単にふき取ることが可能となり、ＳＬテストディスクの耐久性・信頼性を高めることができる。

記録層１０２は形成されたトラックパターン上にアルミニウムや銀、もしくはこれらの合金などの高反射率材料によって形成されている。記録層１０２の材料はスパッタもしくは蒸着などの手法によって基板表面もしくは紫外線硬化樹脂上に薄膜形成される。

接着層１０３は、記録層１０２が形成された基板１と基板４を貼り合わせるために形成される。かかる貼り合わせの際は記録層１０２の表面に紫外線硬化樹脂が塗布され、その上に基板４を重ねあわせる。その後、基板１０４側から紫外線を照射して紫外線硬化樹脂を硬化させる。これにより基板１０１と１０４が記録層１０２を中間に形成された状態で貼り合わせられる。

このように作製したディスクにディフェクトを与えるために、光入射面に２００μｍの黒いインクを塗るなどしてディフェクトが生じるようにブラックスポットを付加する。この手法によれば、ディスク作製によるピットの形成状態などはＳＬテストディスクと同等であり、ディスク自体の信号品質は全く問題なく、半径５７ｍｍで所望の面ぶれを持ったディスクを作製することが可能となる。半径５７ｍｍでのディフェクトを２００μｍとして評価することができる。

このようにすることで、２００μｍのディフェクトがあっても光ピックアップ装置１が適性に信号再生を行うことができることを検証することできる。このことは、ディスクにディフェクトが生じても、光ピックアップ装置が適正にフォーカスやトラキングサーボを維持してディスク再生を行うことができ、適正な誤り訂正を行うことが可能な再生信号を出力できることを意味する。また、ＳＬテストディスクと同等のディスクを使用すれば、ディスクの最外周での評価を行うことになり、光ピックアップ装置がディスク最外周で適正に信号再生が可能であることも検証できることになる。

尚、ここでは基板１０１、１０４の厚みを０．６００ｍｍ、屈折率を１．６としたがこれに限定されるものではなく、基板１０１、１０４の厚みは０．５８から０．６２ｍｍであってもよく、屈折率は１．５〜１．７（波長４００〜４１０の範囲において）であってもよい。

印刷層１０５はなくてもよい。しかしどちらの基板面が光ピックアップ装置側の光入射面かを容易に判断でき、ディスクの種別判別のため、印刷面１０５を形成した方がよい。また本実施例では通常誤り訂正ができる限り大きいディフェクトを検証するため、ディフェクト量として２００μｍのブラックスポットが最適とした。

また、ディフェクト量が所望の量あればこの第６の検査は可能であるため、最外周での検証を別途ＳＬテストディスクにて行えば、ディスク作製の困難さはあるが半径位置は半径５７ｍｍに限定されるものではない。

また、本願実施例ではディフェクトをブラックスポットにより形成したが、これに限るものではなく、適正にフォーカスやトラキングサーボを維持してディスク再生を行うことができ、適正な誤り訂正を行うことが可能な再生信号を出力できることを検証できればよく、エアバブル、指紋やスクラッチにより作製してもよい。

本実施例ではＳＬテストディスクにて面ぶれの影響を検証できるようにしたが、ＤＬデ
ィスクを面ぶれテストディスクとして使用してもよい。その場合は層間クロストークなども生じるため、再生信号劣化の原因特定は難しくなるが、再生可能である光ピックアップ装置はより高性能な特性を有することを示すことになる。

第１〜第５の検査に加えて第６の検査を行うことで、光ピックアップ装置のサーボ能力および、誤り訂正時に良好な訂正が可能な再生信号を出力できる再生信頼性の能力を検査することができ、光ピックアップ装置の信頼性をより高めることが可能となる。

以上の第１〜第６種類のテストディスクをそれぞれ用いた第１〜第６の検査により必要な諸特性の性能を全て満たす光ピックアップ装置を判別することが可能となる。
そして、第１〜第６の検査により必要な諸特性の性能を全て満たす実用上十分な性能品質の光ピックアップ装置が提供できる。

最後に、本願実施例で示した検査方法により検査される光ピックアップ装置について述べる。検査される光ピックアップ装置はトラックピッチが０．６８μｍ以下、最短ピット長（２T）が０．４０８μｍ以下の再生性能を有する高密度多層光ディスクを再生可能な光ピックアップ装置である。特に図７で示したディスクパラメータのデータを正確に再生可能とする光ピックアップ装置において特に好適な検査方法である。

波長６３５ｎｍ、N.A.０．６の光ピックアップ装置で検証を行ったが、図７に示したデータ領域を再生することはできなかった。波長を４５０ｎｍに変更すれば再生可能となった。また波長４０５ｎｍ、N.A.０．６５の光ピックアップ装置では図７で示したディスクパラメータのデータを再生でき、本実施例で示したすべてのテストディスクにおいて最適な再生特性を示した。さらに波長を３６０ｎｍと短くしN.A.０．６５としたところ、各テストディスクの再生信号が得られなかった。これはディスク基板が波長３９５ｎｍ以下で急激に透過率が下がることに起因する。

そのため、少なくともレーザ波長が３９５nm〜４５０nmの範囲の光学系を備え、対物レンズのN.Aは０．６０より大きく設定されていればよい。光学系の範囲をこれらの範囲で選択することにより、トラックピッチが０．６８μｍ以下、最短ピット長０．４０８μｍ以下の範囲の信号を最適に再生可能にすることができる。また、ＤＬディスクの中間層厚さが５０μｍ以下においても層と層の分離が可能であり、１５μｍであっても再生可能である光ピックアップ装置に適応可能である。

さらに記録性能を有するものであってもよい。

また、ＤＬより多層メディアに対応した光ピックアップ装置の検査としても層分離性能をＤＬディスクを用いて確認することは重要であり、適応可能である。多層対応の光ピックアップ装置においては本願で示した検査に加えて多層メディアでの検査を加えてもよい。

本実施の形態の光ピックアップ装置の検査方法においては、ＳＬテストディスクを用いたシステムリードイン領域での第１の検査、およびＤＬテストディスクを用いたシステムリードイン領域での第２の検査では、ジッタ、変調度、アシンメトリおよびＤＰＤ信号を評価するようにし、ＳＬテストディスクを用いたデータ領域での第１の検査、およびＤＬテストディスクを用いたデータ領域での第２の検査では、ＰＲＳＮＲ、ＳｂＥＲ、変調度、アシンメトリおよびＤＰＤ信号を評価するようにしたが、これらの評価項目を全てでなくてもいくつかを必須の評価項目として決定してやれば、要求する品質に応じて評価項目を減じることも可能である。

また、本実施例ではＨＤ＿ＤＶＤ規格に準拠したテストディスクを用いて検査を行うことを示したが、これに限定されるものではなく、各種テストディスクを例えばBlu-ray規格に準拠したテストディスクに変更すれば、適宜適応可能である。但し、その場合、光入射側の基板厚さが０．１μｍ、システムリードイン領域のトラックピッチが０．３５μｍ、データ領域のトラックピッチが０．３２μｍなど規格に基づいてテストディスクの物理パラメータの一部は変更され、検査される光ピックアップ装置は少なくともレーザ波長が３９５ｎｍ〜４５０ｎｍの範囲の光学系を備え、対物レンズのN.Aは０．８より大きく設定される。

本実施例では直径１２ｃｍのテストディスクを用いて検査を行うことを示したが、対応する直系が異なる光ピックアップ装置に適応する場合、これに限られるものではなく、直径８ｃｍのディスクにしか対応しない光ピックアップ装置での検査であれば、テストディスクは８ｃｍで作製されてもよい。テストディスクの直径を変更した場合、外周のエリアはディスクの最外周で行えばよく、面ぶれやチルトなどが所定量与えられていればよい。

また、本実施例では再生専用ディスクを各種テストディスクに使用したが、これに限るものではなく、記録ディスクにあらかじめ信号を記録した、記録済みディスクを用いて各種テストディスクを作製してもよい。

本実施例に加えて記録済みディスクをテストディスクに加えるとさらにより一層高機能な性能を検証可能な手法とすることもできるが、本実施例に基づけば一定の性能を有する光ピックアップ装置を安定して供給可能となり、粗悪な光ピックアップ装置を少ないコストと時間で排除することが可能となる。

本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲において、適宜、種々の変更が可能である。

本発明にかかる光ピックアップ装置の検査方法を実現する光ピックアップ装置の検査装置の一例を示す回路ブロック図である。 図１に示す光ピックアップ装置の検査装置における第１の検査、あるいは第２の検査方法を示すフローチャートである。 図１に示す光ピックアップ装置の検査装置における第３の検査、第４の検査、あるいは第５の検査方法を示すフローチャートである。 図１に示す光ピックアップ装置の検査装置における第６の検査方法を示すフローチャートである。 ＨＤ＿ＤＶＤ−ＲＯＭの物理規格に準拠する１層ディスク（ＳＬテストディスク）の領域レイアウトを説明する説明図である。 ＨＤ＿ＤＶＤ−ＲＯＭの物理規格に準拠する２層ディスク（ＤＬテストディスク）の領域レイアウトを説明する説明図である。 ＨＤ＿ＤＶＤ−ＲＯＭの物理規格のシステムリードイン領域およびデータ領域の主要パラメータを説明する説明図である。 アイパターンにより各マーク長のＨＦ信号の信号強度レベルを説明する説明図である。 ＤＰＤ信号を生成するトラッキングエラー信号生成回路を示す回路ブロック図である。 図９のトラッキングエラー信号生成回路により生成されるＤＰＤ信号を説明する説明図である。 ＳＬテストディスクの断面構造を示す概略図である。 ＤＬテストディスクの断面構造を示す概略図である。 ＤＬディスクの中間層によるの層間クロストーク量のシミュレーション結果を示す図である。

符号の説明

１ 光ピックアップ装置
２ レーザ制御回路
３ レーザ駆動回路
４ ヘッドアンプ
５ サーボ回路
７ クロック生成回路
８ ＰＲＭＬ復号回路
９ デコーダ
１０ 評価システム
１１ 再生信号評価部
１２ サーボ信号評価部
１３ ＰＲＭＬ評価部
１４ ＳｂＥＲ評価部
１５ ＰＩエラー評価部
１０１ 基板
１０２ 記録層
１０３ 接着層
１０４ 基板
１０５ 印刷層
２０１ 基板
２０２ Ｌ０層
２０３ 中間層
２０４ Ｌ１層
２０５ 基板
２０６ 印刷層

Claims (21)

1. 光ピックアップ装置の検査方法であって、記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとの少なくとも２種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
2. 請求項１に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
   ＮＡが０．６以上の対物レンズを備える光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
3. 請求項１または２に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
   前記テストディスクのトラックピッチが略０．６８μｍ以下である領域の再生信号評価により光ピックアップ装置を評価することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
4. 請求項１〜３のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、波長４５０ｎｍ以下の光学系による再生信号評価により光ピックアップ装置を評価することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
5. 請求項１〜４のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法であって、前記記録層が１層である第１のテストディスクと、前記記録層が２層である第２のテストディスクと、アクチュエータの動作を検証するためのテストディスクとの、少なくとも３種類のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
6. 請求項１〜５のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法であって、前記記録層が１層である第１のテストディスクと、前記記録層が２層である第２のテストディスクと、前記アクチュエータの動作を検証するためのテストディスクとして面ぶれ評価用の面ぶれが発生される形態の第３のテストディスクと、チルト評価用の歪みを有する形態の第４のテストディスクと、偏心評価用の偏心を有する第５のテストディスクとの、少なくとも５種類のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
7. 請求項１〜６のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第３のテストディスク内に前記面ぶれが略０．４ｍｍｐ−ｐ以上の領域が形成されていることを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
8. 請求項１〜７のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第４のテストディスク内にチルトが略０．８°以上の領域が形成されていることを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
9. 請求項１〜８のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第５のテストディスク内に略１００μｍの偏心が形成されている領域があることを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
10. 請求項１〜９のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    再生エラーを発生させる欠陥領域を有する第６のテストディスクを用いた再生信号評価を加え、少なくとも６種類のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
11. 請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第３のテストディスクの面ぶれが半径５７ｍｍ付近で略０．４ｍｍｐ−ｐとなるように形成しされたことを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
12. 請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記第６のテストディスク内に略２００μｍのブラックスポットが形成されていることを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
13. 請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    前記第６のテストディスクの再生信号評価は、欠陥領域におけるＰＩエラー評価により行われることを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
14. 請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、前記６
    種類のテストディスクのうち少なくとも１枚を用い、光ピックアップ装置による再生信号のＰＲＳＮＲの評価結果により光ピックアップ装置を評価する、光ピックアップ装置の検査方法。
15. 請求項１０に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    前記第６のテストディスクはＦＳＭ変調方式により変調されていることを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
16. 請求項１〜１５のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    前記第２のテストディスクのスパイラル方向がＯＴＰにて形成されていることを特徴とする、
    光ピックアップ装置の検査方法。
17. 請求項１〜１６のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    前記第２のテストディスクの中間層の厚さが１４μｍ以上２５μｍ以下に構成されていることを特徴とする光ピックアップ装置の検査方法。
18. 請求項１〜１７のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    前記第１もしくは前記第２のテストディスクうち、少なくとも一方にて、同一のテストディスク内に用意されたトラックピッチの異なる領域の再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
19. 請求項１〜１８のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    前記第１もしくは前記第２のテストディスクうち、少なくとも一方にて、同一のテストディスク内に用意されたＢＣＡ領域の再生信号評価により光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
20. 請求項１〜１９のいずれか１項に記載の光ピックアップ装置の検査方法において、
    前記第１もしくは前記第２のテストディスクうち、少なくとも一方にて、温度環境を変化させて再生信号を評価することにより、光ピックアップ装置を検査することを特徴とする、光ピックアップ装置の検査方法。
21. 請求項１〜２０までに記載のいずれか１項の光ピックアップ装置の検査方法による検査に合格した光ピックアップ装置。
    

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