CN101488350A - 光拾取装置的检查方法以及光拾取装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种光拾取装置的检查方法以及光拾取装置。以往存在如下问题：无法利用固定的方法评价光拾取装置，难以进行质量管理，并且性能评价费时间。利用使用记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。由此，能够根据再现信号来检查光拾取装置，与制造商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管理。

Description

光拾取装置的检查方法以及光拾取装置

技术领域

本发明涉及一种光拾取装置的检查方法以及利用该检查方法检查合格后的光拾取装置，特别是一种在评价使用于HD_DVD(High Definition Digital Versatile Disc：高清晰度数字多功能光盘)的记录/再现的光拾取装置的特性时使用的较佳的光拾取装置的检查方法。并且，涉及一种利用该检查方法检查合格后的光拾取装置。

背景技术

在使用激光来光学地进行信号再现以及/或者信号记录的光盘中，作为使用蓝紫色(蓝色)的激光(例如405nm)实现记录密度高于DVD(Digital Versatile Disc：数字多功能光盘)的光盘标准，已知有HD_DVD标准。在直径12cm的HD_DVD中，在记录层单层中能够记录大约15G字节的数据，在记录层双层中能够记录大约30G字节的数据。在这些记录层单层和双层的光盘中各自反射率等不同，另外，在双层型的光盘中产生记录层的层间分离、层间串扰这种问题，因此，在能够再现这些光盘的光拾取装置中要求较高的光学性能。

另外，由于使用的激光波长缩短、被再现的记录标记变小、记录密度高密度化，因此由于光盘的倾斜等机械特性而再现/或者记录状态变化较大。因此，在最佳的光拾取器中要求即使光盘发生状态变化也能够得到良好的再现性能。并且，使用的激光波长缩短，因而在双层型的媒体中的层间串扰等影响变大，要求即使在多层型的媒体中也能够得到良好的再现性能的特性。

因此，要使用各种方法/光盘来评价光拾取器，需要非常多的时间、装置，在成本上成为非常大的负担。

另外，例如在光盘中记录检查用数据之后，评价再现该检查用数据得到的再现数据，来检查在光盘装置中使用光盘的记录再现的光拾取装置(参照专利文献1)。

如专利文献1所示，例如根据再现信号是否良好的判断、抖动值以及数据错误率来评价光拾取装置，其中，通过测量由光拾取装置读取并被波形整形而得到的再现信号的波形形状来判断再现信号是否良好，根据二值化后的数字再现信号来测量抖动值。

另外，在HD_DVD标准中，采用高密度化技术的PRML(Partial Response and Maximum Likelihood：局部响应与最大相似)作为再现信号的二值化方式，因此作为评价指标无法采用再现信号的抖动，而采用PRSNR(Partial ResponseSignal-to-Noise Ratio：局部响应信噪比)和SbER(Simulated bitError Rate：模拟位误码率)代替。

在评价HD_DVD标准的光盘、光盘装置、光拾取装置中的任一个时都采用PRSNR、SbER，例如在评价HD_DVD-R光盘时，除了该PRSNR、SbER以外，记录功率、反射率、信号调制度等也成为评价项目(参照非专利文献1)。

专利文献1：日本特开2004-280978号公报

非专利文献1：东芝评论(東芝レビユ—)Vol.61No.11(2006)HD DVD-R光盘(24～27页)

发明内容

发明要解决的问题

另外，与HD_DVD标准光盘对应的HD_DVD用光拾取装置的规格因制造商不同而各不相同，所采用的部件、功能各种各样。另外，由于制造工序中的部件安装、部件自身的制造偏差等，光拾取器的性能变化较大。并且，每个制造商以独自的方法对光拾取装置进行质量管理。因此，存在如下问题：每个制造商的光拾取装置的性能、质量偏差较大，在用户作为播放器、驱动器等光盘装置而使用的情况下无法得到满意的性能。

即，当前还没有建立对HD_DVD用等密度高于DVD标准的高密度光盘的光拾取装置的性能进行评价的方法。因此，对于光盘装置的开发制造商来说，无法利用与光拾取装置制造商相同的方法评价光拾取装置，难以进行质量管理，并且存在性能评价费时间的问题。

本发明是为了解决上述问题而完成的，其目的在于提供一种利用使用测试光盘的信号再现对光拾取装置的性能进行评价的检查方法。并且本发明其目的在于提供一种即使是光拾取装置制造商以外者也能够利用容易且简单的方法评价光拾取装置的性能的检查方法。

另外，其目的在于通过使用这些检查方法来排除低劣的光拾取装置，提供具有充分的再现性能的光拾取装置。

用于解决问题的方案

鉴于上述问题，本发明具有以下特征。

第1发明是一种光拾取装置的检查方法，其特征在于，根据使用了记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。由此，能够根据再现信号来检查光拾取装置，能够与制造商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管理。

第2发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，检查具备NA在0.6以上的物镜的光拾取装置。

第3发明是根据第1或第2发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用上述测试光盘的轨道间距大致在0.68μm以下的区域的再现信号评价来对光拾取装置进行评价。

第4发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用波长450nm以下的光学系的再现信号评价来对光拾取装置进行评价。

第5发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记录层为双层的第二测试光盘、用于验证致动器的动作的测试光盘的至少三种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。由此，能够根据再现信号对致动器的性能进行评价。能够与制造商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管理。

第6发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，根据使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记录层为双层的第二测试光盘、作为用于验证上述致动器的动作的测试光盘的第三测试光盘、第四测试光盘、第五测试光盘的至少五种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中，所述第三测试光盘是产生盘面抖动评价用的盘面抖动的形态测试光盘，所述第四测试光盘是具有倾斜评价用的变形的形态的测试光盘，所述第五测试光盘是具有偏心评价用的偏心的测试光盘。由此，能够与制造商无关地利用固定的评价方法进行光拾取装置的质量管理。

第7发明是根据第6发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，在上述第三测试光盘内形成有上述盘面抖动大致为0.4mmp-p以上的区域。

第8发明是根据第6发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，在上述第四测试光盘内形成有倾斜大致为0.8°以上的区域。

第9发明是根据第6发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，在上述第五测试光盘内存在形成有偏心大致为100μmp-p的区域。

第10发明是根据第6发明的光拾取装置的检查方法，特征在于，增加使用了第六测试光盘的再现信号评价，利用使用了至少六种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中，第六测试光盘是具有产生再现错误的缺陷区域的测试光盘。

第11发明是根据第10发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，形成上述第三测试光盘的盘面抖动使其在半径57mm附近大致成为0.4mmp-p。

第12发明是根据第10发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，在上述第六测试光盘内形成有大致200μm的黑色斑点。

第13发明是根据第10发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用在缺陷区域内的PI错误评价来进行上述第六测试光盘的再现信号评价。

第14发明是根据第10发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，使用上述六种测试光盘之中的至少一张，利用光拾取装置的再现信号的PRSNR的评价结果对光拾取装置进行评价。

第15发明是根据第10发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用FSM调制方式对上述第六测试光盘进行调制。

第16发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，以OTP形成上述第二测试光盘的螺旋方向。

第17发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，上述第二测试光盘的中间层的厚度构成为14μm～25μm。

第18发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用上述第一或者上述第二测试光盘之中的至少一种，利用在同一测试光盘内准备的轨道间距不同的区域的再现信号评价来检查光拾取装置。

第19发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用上述第一或者上述第二测试光盘之中的至少一种，利用在同一测试光盘内准备的BCA区域的再现信号评价来检查光拾取装置。

第20发明是根据第1发明的光拾取装置的检查方法，其特征在于，利用上述第一或者上述第二测试光盘之中的至少一种，通过改变温度环境来评价再现信号，由此检查光拾取装置。

第21发明是利用第1～20中的任一项发明的光拾取装置的检查方法检查出的合格的光拾取装置。由此，所提供的光拾取装置全部能够适当地进行信号再现。

发明的效果

根据本发明，能够提供能够评价实用上满足充分的性能的光拾取装置的光拾取装置的检查方法。由此，能够排除与密度高于DVD的高密度光盘对应的HD_DVD用等光拾取装置的低劣品。

另外，根据本发明，利用测试光盘的数据区域和比该数据区域靠近内周侧的规定区域进行使用第一以及/或者第二测试光盘的再现信号评价，因此能够使用测试光盘的广范围的区域进行有效的评价。

并且，利用光盘最外周部进行使用第三测试光盘的盘面抖动评价、使用第四测试光盘的倾斜评价、使用第五测试光盘的偏心评价、使用第六测试光盘的缺陷评价中的至少一个，因此能够用在再现信号评价中使用的多个光盘来评价光盘的从内周到外周的整个面的特性。

特别是，光盘外周部的变化量较大的区域成为使用第三测试光盘的盘面抖动评价、使用第四测试光盘的倾斜评价的评价对象，因此通过严格的评价能够验证对于盘面抖动、倾斜的可靠性。

另外，根据本发明，通过使用至少六张测试光盘的评价，能够提供实用上具备充分的性能的、保持固定质量的光拾取装置。

在对与密度高于DVD的高密度光盘对应的光拾取装置进行评价的方法中，能够使用尽可能少的光盘对实用上满足充分性能的光拾取装置进行评价，能够正确判断低劣的光拾取装置的不足的性能。

附图说明

图1是表示实现本发明所涉及的光拾取装置的检查方法的光拾取装置的检查装置的一例的电路框图。

图2是表示在图1所示的光拾取装置的检查装置中的第一检查或者第二检查方法的流程图。

图3是表示在图1所示的光拾取装置的检查装置中的第三检查、第四检查或者第五检查方法的流程图。

图4是表示在图1所示的光拾取装置的检查装置中的第六检查方法的流程图。

图5是说明基于HD_DVD-ROM的物理标准的单层光盘(SL测试光盘)的区域布局的说明图。

图6是说明基于HD_DVD-ROM的物理标准的双层光盘(DL测试光盘)的区域布局的说明图。

图7是说明HD_DVD-ROM的物理标准的系统导入区域以及数据区域的主要参数的说明图。

图8是利用眼图说明各标记长度的HF信号的信号强度电平的说明图。

图9是表示生成DPD信号的跟踪错误信号生成电路的电路框图。

图10是说明由图9的跟踪错误信号生成电路生成的DPD信号的说明图。

图11是表示SL测试光盘的截面结构的概要图。

图12是表示DL测试光盘的截面结构的概要图。

图13是表示DL光盘的中间层的层间串扰量的模拟结果的图。

附图标记说明

1：光拾取装置；2：激光控制电路；3：激光驱动电路；4：前置放大器；5：伺服电路；7：时钟生成电路；8：PRML译码电路；9：译码器；10：评价系统；11：再现信号评价部；12：伺服信号评价部；13：PRSNR评价部；14：SbER评价部；15：PI错误评价部；101：基板；102：记录层；103：粘接层；104：基板；105：印刷层；201：基板；202：L0层；203：中间层；204：L1层；205：基板；206：印刷层。

具体实施方式

图1是表示实现本发明所涉及的光拾取装置的检查方法的光拾取装置的检查装置的一例的电路框图，该检查装置的检查对象适合于与密度高于DVD的高密度光盘对应的光拾取装置，在本实施例中是与HD_DVD标准的HD_DVD用光盘对应的光拾取装置。

在图1中，与HD_DVD标准对应的规格(例如激光波长405nm、物镜的NA(numerical aperture：数值孔径)0.65)的光拾取装置1根据激光控制电路2的控制，通过激光驱动电路3驱动激光光源来对HD_DVD用光盘D照射激光，通过光检测器1a来接受来自该光盘D的反射光。

将从光检测器1a的各感光区域分别产生的各感光输出提供给前置放大器4，前置放大器4运算这些各感光输出并分别生成光盘的主信号的HF信号(高频信号)、聚焦错误信号、跟踪错误信号、倾斜错误信号。

伺服电路5根据上述聚焦错误信号进行使激光聚焦在光盘的信号面上的聚焦控制、根据上述跟踪错误信号进行使激光跟踪光盘的信号轨道的跟踪控制，并且进行将光拾取装置1自身传送到光盘的径方向的螺纹传送控制、以及根据上述倾斜错误信号进行使激光相对于光盘的信号面垂直照射的倾斜控制。

另外，伺服电路5根据由时钟生成电路7生成的时钟进行以规定的固定线速度对转动驱动光盘的主轴马达6进行驱动的主轴控制。在本实施例中，只要不特别预先说明就以6.61m/s进行驱动。

PRML(Partial Response and Maximum Likelihood)译码电路8将从前置放大器4输出的HF信号译码为二值化数据信号，译码器9根据该二值化数据信号进行ETM解调或者FSM解调，同时根据HD_DVD标准光盘的数据结构对各种数据进行解调，其中，ETM解调是与作为HD_DVD标准所采用的调制码的ETM(Eightto Twelve Modulation：8数据位/12信道位调制)相应的解调，FSM解调是在HD_DVD是中国标准(CH_DVD)的光盘的情况下、与作为该CH_DVD的调制码的FSM(Four to Six Modulation：4数据位/6信道位调制)相应的解调。

评价系统10由各种测量单元(未图示)构成，具有多个评价部，其中，上述各种测量单元被使用于对检查光拾取装置1的质量所需的各种项目进行评价，上述多个评价部利用这些各种测量单元的测量值评价上述各种项目，包括再现信号评价部11、伺服信号评价部12、PRSNR评价部13、SbER(Simulated bit ErrorRate)评价部14以及PI错误评价部15。

如以上那样构成的光拾取装置的检查装置构成为在直到与HD_DVD标准的光盘对应的光盘再现装置的译码器为止的结构中添加评价系统10。

在利用图1的光拾取装置的检查装置来检查光拾取装置的情况下，在检查装置上安装所检查的光拾取装置并执行图2～图4的各流程图所示的检查。

在此，使用图5、图6说明基于HD_DVD-ROM的物理标准的直径12cm的单层光盘即所谓的SL(Single Layer：单层)光盘、以及直径12cm的双层光盘即所谓的DL(Dual Layer：双层)光盘的区域布局。

如图5所示，SL测试光盘从内周向外周依次为BCA(BurstCutting Area：烧录区域)、系统导入区域、连接区域、数据导入区域、数据区域以及数据导出区域。

如图6所示，DL测试光盘(OTP(Opposite Track Path：逆光道路径)型)接近光拾取装置的L0信号层沿着数据的排列顺序从内周向外周依次为系统导入区域、连接区域、数据导入区域、数据区域以及中间区域，远离光拾取装置的L1信号层沿着数据的排列顺序从外周向内周依次为中间区域、数据区域、数据导出区域、连接区域、系统导出区域以及BCA。

另外，HD_DVD-ROM光盘的物理标准的系统导入区域和数据区域的主要参数如图7所示，设定为系统导入区域的位长、标记长度以及轨道间距比数据区域的大，系统导入区域的记录密度低于数据区域的记录密度。

将作为第一测试光盘的SL测试光盘放置到光拾取装置的检查装置上，按照图2所示的流程图执行第一检查。

当放置光盘并开始光盘再现时(步骤a、b)，将光拾取装置1的跟踪位置设定在系统导入区域，首先开始系统导入区域的再现来执行使用了该系统导入区域的检查(步骤c)。由评价系统10评价抖动、调制度、不对称以及DPD(Differential PhaseDetection：微分相位识别)法的跟踪错误信号的DPD信号来进行使用了该系统导入区域的检查。系统导入区域位于光盘的内周部分，能够适当地再现该区域成为验证光盘在内周部分的再现特性。另外，系统导入区域的轨道间距为0.68μm，能够验证可再现2T＝0.408μm的标记的情形。

当使用系统导入区域的检查结束时，将光拾取装置1的跟踪位置从光盘中心驱动至半径41mm的位置，接着执行使用了数据区域的检查(步骤d)。半径41mm的位置位于光盘中周的位置，通过该检查来验证在光盘中周区域的再现性能。另外，数据区域的轨道间距为0.4μm，能够验证可再现2T＝0.204μm的标记的情形。

由评价系统10评价PRSNR、SbER、调制度、不对称以及DPD信号来进行使用了该数据区域的检查。并且，在没有特别进行指示的情况下，通常在室温(25℃)的环境下进行评价，在0℃以及60℃的温度环境下由评价系统10至少进行PRSNR的评价。这是由于激光的发光波长、所使用的光学部件的特性根据周围的环境温度而发生变化、再现特性随之发生较大变化，因此要验证不会产生由温度变化而引起的特性恶化。在该PRSNR评价中产生问题的情况下，另外进行DPD信号等温度依赖性的检查，由此能够确定恶化原因。在该温度环境下的验证中，将光拾取装置和光盘设置在期望的温度环境下，保持环境温度固定，在放置固定时间之后进行评价。此时，优选为保持点亮激光的状态放置两个小时以上，使得不会由于激光点亮的光拾取装置和光学部件的急剧温度变化引起评价结果产生误差。通过在环境温度下至少设置固定时间，能够进行增加了由激光发光元件的温度变化引起的波长偏移/射出功率变动等的验证。

当使用数据区域的检查结束时，将光拾取装置1的跟踪位置设定在BCA上，执行使用了BCA的检查(步骤e)。由评价系统10评价调制度来进行使用了该BCA的检查。该BCA与通常的坑、槽形状不同，验证光拾取装置1在条形码那样反射率间歇变化的区域内能够再现BCA区域的情形。在BCA评价时，将光盘的转速设为2760rpm。能够验证存在于光盘的最内周位置、在光盘最内周能够再现的情形。

对使用以上的第一测试光盘的第一检查的判断(步骤f)结果为第一检查全部合格的光拾取装置1继续执行接下来的检查(步骤g)。另一方面，将第一检查不合格的光拾取装置1视为没有满足必要性能，在这种情况下，作为对SL测试光盘的对应程度不足而认定为次品(步骤h)。

此外，为了使光拾取装置1的跟踪位置移动至光盘的规定的半径距离，例如在光拾取装置1的传送机构内设置电位计并通过该电位计来检测光拾取装置1的移动位置。

在本实施例中依次说明了各检查项目，但是检查顺序并不限定于这些，例如也可以先评价BCA区域。另外，在以大量生产时等质量管理的观点进行的检查中，只要能够判断为可再现SL测试光盘即可，可以省略一部分项目，例如仅评价中周的PRSNR。另外，也可以适当改变评价半径位置等，只要根据使用第一测试光盘的第一检查的判断能够验证可再现SL测试光盘即可。但是，在表示与后面的评价组合后能够评价光盘的整个面时，优选为至少在BCA、系统导入、光盘中周位置进行评价。

图11示出在本申请的实施例中使用的SL测试光盘的截面结构。具有从光拾取装置起为基板101、记录层102、粘接层103、基板104、印刷层105这种结构。将基板101的厚度设定为0.600mm，将基板101的折射率设定为1.6(在波长405nm的情况下)。

基板101、104由聚碳酸酯等波长400nm左右的激光容易透过的材料形成。另外，还可以使用以聚烯烃、聚乳酸为主要成分的生物分解性材料作为形成基板101、104的材料。使用具有轨道图案(坑列)的母盘，通过射出成型来形成基板101。将母盘上的轨道图案复写在基板101的表面上。从内周向外周形成轨道。

此外，优选利用玻璃材料形成基板101。这是因为在改变温度环境的情况下在基板上能够将倾斜、盘面抖动这种机械特性的变化抑制得较小，在再现性能恶化的情况下能够排除由光盘引起的恶化。另外，当用玻璃形成基板时，在保管中、检查时不容易留下光拾取装置接触光盘而产生的划痕，即使在弄脏的情况下也能够容易擦干净，能够提高SL测试光盘的耐久性/可靠性。

在用玻璃形成基板的情况下，在0.600mm的玻璃板上涂敷紫外线硬化树脂，在该紫外线硬化树脂上压入具有轨道图案的母盘并照射紫外线。接着，从玻璃板上拉开母盘，由此将轨道图案复写在玻璃板上。在这种情况下进行调整使得玻璃板和紫外线硬化树脂层加在一起的厚度为0.610mm。

在所形成的轨道图案上由铝、银或者它们的合金等对所使用的激光的波长具有高反射率的材料形成记录层102。通过溅镀或者蒸镀等方法在基板表面或者紫外线硬化树脂上薄膜形成记录层102的材料。

为了使形成有记录层102的基板101与基板104粘合而形成粘接层103。在进行所述粘合时，在记录层102的表面涂敷紫外线硬化树脂，在该紫外线硬化树脂上叠放基板104。接着，从基板104侧照射紫外线使紫外线硬化树脂硬化。由此在中间形成记录层102的状态下粘合基板101和基板104。此外，在此将基板101、104的厚度设为0.600mm，将折射率设为1.6，但是并不限定于此，基板101、104的厚度可以是0.58mm至0.62mm，折射率可以是1.5～1.7(在波长400～410nm的范围内)。

也可以没有印刷层105。但是为了能够容易地判断哪个基板面是光拾取装置1侧的光入射面并识别光盘的种类，优选为形成印刷层105。

另外，下面示出第一检查的各检查的具体评价方法。

首先，使用图8所示的眼图说明使用于调制度、不对称的各检查、被PRML译码电路8均衡而得到的各标记长度的HF信号的信号强度电平。

在图8中，“Zero Level”表示在没有光盘的状态下的信号电平，“I2”表示最短标记长度(2T)的HF信号振幅，“I2L”表示以“Zero Level”为基准的最短标记长度(2T)的HF信号的底部信号电平，“I2H”表示以“Zero Level”为基准的最短标记长度(2T)的HF信号的峰值信号电平。同样，“I3”表示标记长度(3T)的HF信号振幅，“I3L”表示以“Zero Level”为基准的3T标记长度的HF信号的底部信号电平，“I3H”表示以“Zero Level”为基准的3T标记长度的HF信号的峰值信号电平，“I11”表示标记长度(11T)的HF信号振幅，“I11L”表示以“Zero Level”为基准的11T标记长度的HF信号的底部信号电平，“I11H”表示以“Zero Level”为基准的11T标记长度的HF信号的峰值信号电平。

例如测量由PRML译码电路8译码的二值化数据信号的各标记长度的各脉宽的偏差来进行抖动的检查，仅评价标记长度和轨道间距大于数据区域的系统导入区域，作为合格判断的基准要求所测量的抖动在8.0％以下。

在数据区域中，根据是否I11/I11H≥0.40并且I3/I11≥0.35来进行调制度的评价，满足这些要求成为合格判断的基准。另一方面，在系统导入区域中，根据是否I11/I11H≥0.30并且I3/I11≥0.5来进行调制度的评价，满足这些要求成为合格判断的基准。

不对称表示各HF信号振幅的中心偏移，在数据区域中，根据在设公式1＝[(I11H+I11L)/2-(I2H+I2L)/2]/I11、公式2＝[(I11H+I11L)/2-(I3H+I3L)/2]/I11的情况下的公式1和公式2的运算值是否都为-0.1～0.1、以及在设公式3＝[(I3H+I3L)/2-(I2H+I2L)/2]/I11的情况下的公式3的运算值是否为-0.04～0.04来进行不对称的评价，满足这些所有要求成为合格判断的基准。

另一方面，在系统导入区域中，根据公式1＝[(I11H+I11L)/2-(I2H+I2L)/2]/I11的运算值是否为-0.05～0.15来进行不对称的评价，满足该要求成为合格判断的基准。

在说明DPD信号的评价之前，利用图9所示的跟踪错误信号生成电路说明DPD信号的生成方法。

在接受来自光拾取装置1的光盘D的反射光的光检测器1a上形成的主感光部20被相互正交的分割线分割成四个部分。当将从主感光部20的各分割区域分别输出的各感光输出设为Ia、Ib、Ic、Id时，主感光部20的各个对角上的分割区域彼此相加得到的第一相加输出(Ia+Ic)、第二相加输出(Ib+Id)分别通过放大器21、22放大，之后分别由二值化电路23、24进行波形均衡，并进行波形整形变换为二值化信号。由相位比较器25对二值化后的第一相加输出(Ia+Ic)和二值化后的第二相加输出(Ib+Id)进行相位比较，从相位比较器25产生[phase(Ia+Ic)-phase(Ib+Id)]的DPD信号。当以横轴表示光拾取装置1的跟踪位置向跟踪方向的移动量、以纵轴表示DPD信号的电压电平时，该DPD信号成为图10所示那样的三角波信号。

通过截止频率为30kHz的一阶低通滤波器26提取从相位比较器25产生的DPD信号作为削弱了图10的三角波信号的角的跟踪错误信号。

根据将以图10所示的DPD信号[phase(Ia+Ic)-phase(Ib+Id)]的[0 Level]为基准的各极性的振幅值分别设为T1、T2的情况下的相当于DPD信号的不对称的(T1-T2)/(T1+T2)的绝对值是否为0.20max、以及光拾取装置1的跟踪位置向跟踪方向(图10的横轴方向)移动0.05μm的DPD信号的振幅变化量Δt/T是否为0.2～0.6来进行DPD信号的评价，满足这些要求成为合格判断的基准。

PRSNR是将来自光盘的再现信号波形与理想的信号波形之间的背离数值化得到的数值，测量20个测量点、分别算出该20个测量点的平均(prsnr(i))、标准偏差(prsnr(i))，根据运算PRSNR＝平均(prsnr(i))-2×标准偏差(prsnr(i))得到的值是否在15以上来进行PRSNR的评价，满足该要求成为合格判断的基准。进行PRSNR的评价的目的在于：由于光盘的评价位置不同例如光盘上的标记形成产生偏差、反射率发生变动，因此在增加根据该偏差而PRSNR值发生变化的情形之后进行评价。

另外，SbER是由于PRML信号处理的错误识别而产生的位错误率的估计值，测量与PRSNR的评价时共用的20个测量点、以及使用该20个测量点的平均(prsnr(i))、标准偏差(prsnr(i))运算SbER＝平均(prsnr(i))+2×标准偏差(prsnr(i))，根据该SbER的值是否在5×10^-5以下来进行SbER的评价，满足该要求成为合格判断的基准。进行SbER评价的目的在于：由于根据光盘的评价位置不同例如光盘上的标记形成产生偏差、反射率发生变动，因此在增加根据该偏差而SbER值发生变化的情形之后进行评价。

对第一检查全部合格的光拾取装置1接着进行第二检查。使用作为第二测试盘的DL测试光盘执行该第二检查，只是SL测试光盘和DL测试光盘的测试光盘的形态不同，按照图2所示流程图进行与第一检查相同的检查。在第二检查中使用DL测试光盘，由此能够在系统导入、导出区域、数据区域中验证DL测试光盘特有的层间串扰、低反射率的影响。另外，能够验证能否明确分离并再现接近光拾取装置1的层即L0层202和远离的层即L1层204。图12示出在本申请的实施例中使用的DL测试光盘的截面结构。具有从光拾取装置1起为基板201、L0层202、中间层203、L1层204、基板205、印刷层206这种结构。在此，将中间层203的厚度(L0层202与L1层204的间隔)设为20μm、将基板201、205的厚度设为0.590mm、将基板201、205的折射率设为1.6(在波长405nm的情况下)。

基板201、205由聚碳酸酯等波长400nm左右的激光容易透过的材料形成。另外，还能够使用以聚烯烃、聚乳酸为主要成分的生物分解性材料作为形成基板201、205的材料。使用具有轨道图案(坑列)的母盘、通过射出成型来形成基板201、205。将母盘上的轨道图案复写在基板201、205的表面上。

此外，优选为利用玻璃材料形成基板201、205两者或者任一个。这是因为在改变温度环境的情况下在基板上能够将倾斜、盘面抖动这种机械特性的变化抑制得较小，在再现性能恶化的情况下能够排除由光盘引起的恶化。另外，当利用玻璃形成基板时，在保管中、检查时不容易留下光拾取装置1接触测试光盘而产生的划痕，即使在弄脏的情况下也能够容易擦干净，能够提高DL测试光盘的耐久性/可靠性。

在利用玻璃形成基板的情况下，在比0.590mm稍薄的玻璃板上涂敷紫外线硬化树脂，在该紫外线硬化树脂上压入具有轨道图案的母盘并照射紫外线。接着，从玻璃板上拉开母盘，由此将轨道图案复写在玻璃板上。在这种情况下，进行调整使得玻璃板和紫外线硬化树脂层加在一起的厚度为0.590mm。轨道的螺旋图案形成为在L0层202中从内周向外周、在L1层中从外周向内周(OTP型)。利用银合金等半透过材料在所形成的轨道图案上形成L0层202。另外，利用铝、银或者它们的合金等高反射率材料形成L1层204。通过溅镀或者蒸镀等方法在基板表面上薄膜形成这些L0层202、L1层204的材料。

利用对波长400nm左右的波长吸收率较低的紫外线硬化树脂形成中间层203。中间层203作为粘合层叠在L0层202上的基板201和层叠在L1层204上的基板205时的粘接层而发挥功能。在进行所述粘合时，在L0层202的表面涂敷形成中间层的紫外线硬化树脂，在其上面重合L1层204。接着，从基板201侧照射紫外线来使紫外线硬化树脂硬化。由此，以在L0层202和L1层204之间形成中间层203的状态粘合基板201和205。此外，在此，将基板201、205的厚度设为0.590mm、将折射率设为1.6，但是并不限定于此，基板201、205的厚度也可以是0.57至0.63mm、折射率也可以是1.5～1.7(在波长400～410nm的范围内)。

由于需要验证层间串扰的影响，因此中间层203的厚度也可以是14μm至25μm的范围。图13是模拟中间层203的厚度与层间串扰的关系的图。从图13可知，L0层202和L1层204的间隔(中间层203的厚度)越小层间串扰越是增加，间隔在14μm以下时达到50％以上。这表示中间层在14μm以下时即使在理想的光学头装置中也难以分离层、无法正确再现期望的层。另外，在厚度厚于25μm时串扰的影响极小到20％以下。因此，只要将中间层203的厚度设定为最难进行层间分离的14μm以上至表示能够判断串扰的影响的串扰量20％的25μm以下的范围即可。

另一方面，成为在DL测试光盘的结构、检查方法中在从最内周到外周的所有区域内能够验证串扰的结构。因此，要求中间层203在光盘整个面厚度均匀，但是难以控制为完全相同的厚度来制作测试光盘。因此，作为能够在整个面内评价串扰的影响的中间层厚度最好是将测试光盘整个面的中间层203的变动设为±5μm、将中间层203的厚度设为20μm。

也可以没有印刷层206。但是为了能够容易地判断哪个基板面是光拾取装置侧的光入射面并识别光盘的种类，优选为形成印刷层206。

另外，在本申请的实施例中使用了OTP型的光盘。这是由于具有以下效果：由于在L0层202和L1层204中轨道的螺旋方向相反，因此能够用轨道静止状态下的轨道的跳跃方向瞬时地识别进行跟踪的层是L0层202还是L1层204。

然而，光盘类型并不限定于这些，也可以是PTP(ParallelTrack Path：顺光道路径)型的DL测试光盘。在这种情况下，光盘的区域结构的一部分不同，在L0层、L1层中分别具有系统导入、数据导出区域，不存在中间区域。另外，轨道的螺旋方向在L0层、L1层中都是从内周向外周。其中，在半径位置处轨道间距、标记长度的参数相同，因而能够进行与OTP型的DL测试光盘相同的检查。但是，在识别进行跟踪的层时，需要对聚焦搜索信号等进行监视并用另外的方法调查在对哪个层进行跟踪。

对使用第二测试光盘的第二检查全部合格的光拾取装置1继续执行接下来的检查(步骤g)。另一方面，第二检查不合格的光拾取装置1视为没有满足必要性能，在这种情况下，作为对DL测试光盘的对应程度不足而认定为次品(步骤h)。

通过分别使用以上的第一～第二种的测试光盘的第一～第二检查，能够识别满足作为光盘再现所需的各种特性的性能的信号再现能力/温度依赖特性的光拾取装置。

并且，通过第一～第二检查能够提供满足所有所需再现性能的光拾取装置。

接着，对第二检查全部合格的光拾取装置1进行使用第三测试光盘的第三检查来验证致动器的性能。

将盘面抖动评价用的作为产生盘面抖动的形态的第三测试光盘的盘面抖动测试光盘放置在光拾取装置的检查装置上并执行图3的流程图所示的各步骤来进行第三检查。在信号再现评价时，通过转动光盘使该第三测试光盘产生0.4mmp-p(peak topeak：峰-峰值)的规定的盘面抖动。

当放置第三测试光盘、开始光盘再现时(步骤i、j)，将光拾取装置1的跟踪位置从光盘中心起驱动至半径57mm的位置，开始该位置的数据区域的再现来执行检查(步骤k)。由评价系统10评价PRSNR来进行使用该半径57mm的位置的数据区域的检查。

与上述的第一检查的情况同样地，根据运算PRSNR得到的值是否在15以上来进行PRSNR的评价(步骤1)。

在本实施例中使用的盘面抖动测试光盘的基本物理参数、光盘的结构使用了与SL测试光盘相同的参数、结构。这是为了能够在验证光拾取装置时有效地验证盘面抖动的影响。再次参照图11，将基板101的厚度设为0.600mm，将基板101的折射率设为1.6(在波长405nm的情况下)。

基板101、104由聚碳酸酯等波长400nm左右的激光容易透过的材料形成。另外，还可以使用以聚烯烃、聚乳酸为主要成分的生物分解性材料作为形成基板101、104的材料。使用具有轨道图案(坑列)的母盘、通过射出成型来形成基板101。将母盘上的轨道图案复写在基板101的表面上。从内周向外周形成轨道。

此外，也可以利用玻璃材料形成基板101。当利用玻璃形成基板时，在保管中、检查时不容易留下光拾取装置接触光盘而产生的划痕，即使在弄脏的情况下也能够容易擦干净，能够提高SL测试光盘的耐久性/可靠性。

在所形成的轨道图案上由铝、银或者它们的合金等高反射率材料形成记录层102。通过溅镀或者蒸镀等方法在基板表面或者紫外线硬化树脂上薄膜形成记录层102的材料。

为了粘合形成有记录层102的基板101和基板104而形成粘接层103。在进行所述粘合时，在记录层102的表面涂敷紫外线硬化树脂，在该紫外线硬化树脂上叠放基板104。接着，从基板104侧照射紫外线使紫外线硬化树脂硬化。由此在其中间形成记录层102的状态下粘合基板101和基板104。

预先在最佳状态下使这样制作的光盘形成为尽可能没有盘面抖动，为了使盘面抖动而进行加工使得在处于最内周的BCA区域内侧的夹紧区域产生盘面抖动。例如，在圆周方向上粘贴厚度不同的贴纸等来制作在半径57mm处0.4mmp-p(peak topeak：峰-峰值)的盘面抖动测试光盘。根据该方法，光盘制作中产生的坑的形成状态等与SL测试光盘相同，能够制作光盘自身的信号质量完全没有问题的、在半径57mm处具有期望的盘面抖动的光盘。将在半径57mm处的盘面抖动设为0.4mmp-p而进行评价是由于存在越接近光盘外周部盘面抖动越大的倾向、而光盘的加工变得容易。

由此，能够验证即使产生0.4mmp-p的盘面抖动光拾取装置1也能够适应性地进行信号再现的情形。这一点意味着即使光盘产生盘面抖动，光拾取装置也能够适当地驱动致动器来进行光盘再现，具有充分的聚焦能力。也就是说，表示能够根据盘面抖动的变动适当地驱动致动器。另外，如果使用与SL测试光盘相同的光盘，则进行在光盘的最外周的评价，还能够验证光拾取装置能够在光盘最外周适当地进行信号再现的情形。

另外，不限于该方法，在利用聚碳酸酯、通过射出成型来制作基板的情况下，能够通过调整(例如提高)成型时的模具的温度/压力产生固定的盘面抖动来制作盘面抖动测试光盘。根据该方法，通过将成型时的制作条件设为固定，能够制作大致具有相同特性的盘面抖动测试光盘，但是考虑到信号质量与通常的SL测试光盘不同，需要考虑光盘自身的信号质量。

在此，将半径位置设为57mm，但是考虑到在评价光拾取装置时即使进行半径位置控制也会产生物镜位置、安装误差。因此，将半径位置误差设为±1mm，期望在盘面抖动光盘中在从56mm至58mm的范围内产生0.4mmp-p的盘面抖动。

此外，在此将基板101、104的厚度设为0.600mm，将折射率设为1.6，但是并不限定于此，基板101、104的厚度可以是0.58mm至0.62mm，折射率可以是1.5～1.7(在波长400～410nm的范围内)。

也可以没有印刷层105。但是为了能够容易地判断哪个基板面是光拾取装置侧的光入射面并识别光盘的种类，优选为形成印刷层105。

另外，在本实施例中为了验证在通常使用环境下所需最小限必要特性，作为盘面抖动量在光盘自身和光盘夹具中能够产生的0.4mmp-p(peak to peak)的盘面抖动测试光盘为最佳。然而，在假定的使用环境更恶劣的情况下，可以是更大的盘面抖动测试光盘，也可以是0.6mmp-p(peak to peak)的盘面抖动测试光盘。验证在使用环境非常稳定的环境下使用的光拾取装置的情况下，如果使用盘面抖动测试光盘的内周部，则能够进行较小的盘面抖动下的评价，还可以验证能够对应到哪种程度的盘面抖动。

另外，只要盘面抖动量为期望的量就能够进行该第三检查，因此如果利用另外的SL测试光盘进行在最外周的验证则存在光盘制作的难度，但是半径位置并不限定于半径57mm。

在本实施例中，能够利用SL测试光盘验证盘面抖动的影响，但是也可以使用DL光盘作为盘面抖动测试光盘。在这种情况下还产生层间串扰等，因此难以确定再现信号恶化的原因，但是示出能够进行再现的光拾取装置具有更高性能的特性。

在本实施例中以线速度6.61m/s来转动光盘，进行与对使用第三测试光盘的盘面抖动光盘的对应程度有关的第三检查的判断。然而，也可以改变线速度来进行，此时制作盘面抖动测试光盘使得以改变后的线速度产生规定的盘面抖动。

对使用以上第三测试光盘的与对盘面抖动光盘的对应程度有关的第三检查的判断结果是第三检查合格的光拾取装置1继续执行接下来的检查(步骤m)。另一方面，第三检查不合格的光拾取装置1视为没有满足必要性能，在这种情况下，作为对盘面抖动光盘的对应程度不足而认定为次品(步骤n)。

对第三检查合格的光拾取装置1进行接下来的使用第四测试光盘的第四检查来验证致动器的性能。

将倾斜评价用的作为具有变形的形态的第四测试光盘的倾斜测试光盘放置在光拾取装置的检查装置上，只是测试光盘的形态与第三检查不同，与第三检查同样地执行图3的流程图所示的各步骤进行第四检查。该第四测试光盘具有0.8°的径向倾斜。

按照图3的流程图，利用第四测试光盘，通过评价PRSNR进行光拾取装置1的第四检查，根据运算PRSNR得到的值是否在15以上来进行第四检查(步骤1)。

对使用以上的第四测试光盘的与对倾斜测试光盘的对应程度有关的第四检查合格的光拾取装置1继续执行接下来的检查(步骤m)。另一方面，第四检查不合格的光拾取装置1视为没有满足必要性能，在这种情况下，作为对倾斜光盘的对应程度不足而认定为次品(步骤n)。

在本实施例中使用的倾斜测试光盘的基本物理参数、光盘的结构使用了与SL测试光盘相同的参数、结构。这是为了能够在验证光拾取装置时有效地验证倾斜的影响。再次参照图11，将基板101的厚度设为0.600mm，将基板101的折射率设为1.6(在波长405nm的情况下)。

基板101、104由聚碳酸酯等波长400nm左右的激光容易透过的材料形成。另外，还能够使用以聚烯烃、聚乳酸为主要成分的生物分解性材料作为形成基板101、104的材料。使用具有轨道图案(坑列)的母盘、通过射出成型来形成基板101。将母盘上的轨道图案复写在基板101的表面上。从内周向外周形成轨道。

在所形成的轨道图案上由铝、银或者它们的合金等高反射率材料形成记录层102。通过溅镀或者蒸镀等方法在基板表面或者紫外线硬化树脂上薄膜形成记录层102的材料。

为了粘合形成有记录层102的基板101和基板104而形成粘接层103。在进行所述粘合时，在记录层102的表面涂敷紫外线硬化树脂，在该紫外线硬化树脂上叠放基板104。接着，从基板104侧照射紫外线使紫外线硬化树脂硬化。由此在其中间形成记录层102的状态下粘合基板101和104。

关于倾斜的加工，与通常的SL测试光盘同样地在基板上形成坑，在进行粘合使紫外线硬化树脂硬化时延长照射时间、或者在硬化使用于粘接层中的紫外线硬化树脂时使用较大应力即可。但是，要做到不会同时产生盘面抖动。在由于应力而产生倾斜的情况下，制作表示向外周倾斜量变大的倾向、在半径57mm处具有0.8°的径向倾斜的倾斜测试光盘。根据该方法，光盘制作中的坑的形成状态等与SL测试光盘相同，能够制作光盘自身的信号质量完全没有问题的、在半径57mm处具有期望的倾斜的光盘。

由此，能够验证即使产生0.8°的径向倾斜的倾斜光拾取装置1也能够适应性地进行信号再现的情形。这一点意味着即使光盘产生倾斜，光拾取装置也能够适当地驱动致动器来进行光盘再现。也就是说，能够验证在由于倾斜而致动器始终承受固定的负荷的状态下是否满足性能。因此，径向测试光盘的验证优选为验证能够稳定地进行固定时间、具体地说15分钟以上的信号再现的情形。另外，如果使用与SL测试光盘相同的光盘，则进行在光盘的最外周的评价，还能够验证光拾取装置能够在光盘最外周适当地进行信号再现的情形。

另外，不限于该方法，在利用聚碳酸酯、通过射出成型来制作基板的情况下，能够通过调整(例如提高)成型时的模具的温度/压力产生固定的倾斜来制作倾斜测试光盘。根据该方法，通过将成型时的制作条件设为固定，能够制作大致具有相同特性的倾斜测试光盘，但是考虑到信号质量与通常的SL测试光盘不同，需要考虑光盘自身的信号质量。

此外，在此将基板101、104的厚度设为0.600mm，将折射率设为1.6，但是并不限定于此，基板101、104的厚度可以是0.58至0.62mm，折射率可以是1.5～1.7(在波长400～410nm的范围内)。

也可以没有印刷层105。但是为了能够容易地判断哪个基板面是光拾取装置侧的光入射面并识别光盘的种类，优选为形成印刷层105。另外，在本实施例中为了验证在通常使用环境下所需最小限必要特性，作为倾斜量而具有在光盘自身与光盘夹具中能够产生的0.8°的径向倾斜的倾斜测试光盘为最佳。然而，在假定的使用环境进一步恶劣的情况下，可以是更大的倾斜测试光盘，也可以是具有1.0°的径向倾斜的倾斜测试光盘。验证在使用环境非常稳定的环境下使用的光拾取装置的情况下，如果使用倾斜测试光盘的内周部，则能够在较小倾斜量下进行评价，还能够进行能够对应到哪种程度的倾斜这种验证。

另外，只要倾斜量为期望的量就能够进行该第四检查，因此如果利用另外的SL测试光盘进行在最外周的验证，则半径位置并不限定于半径57mm。

在本实施例中以线速度6.61m/s转动光盘进行与对使用第四测试光盘的倾斜光盘的对应程度有关的第四检查的判断。然而，也可以改变线速度来进行，此时制作倾斜测试光盘使得以改变后的线速度产生规定的倾斜。

在本实施例中，能够利用SL测试光盘验证倾斜的影响，但是也可以使用DL光盘作为倾斜测试光盘。在这种情况下产生层间串扰等，因此难以确定再现信号恶化的原因，但是表示能够进行再现的光拾取装置具有更高性能的特性。

对第四检查合格的光拾取装置1进行接下来的使用第五测试光盘的第五检查来验证致动器性能。

将具有100μmp-p(peak to peak)的偏心的第五种的偏心测试光盘放置在光拾取装置的检查装置上，仅测试光盘的形态与第三、第四检查的测试光盘不同，与第三、第四检查同样地执行图3的流程图所示的各步骤进行第五检查。

如图3的流程图所示，利用第五种的偏心测试光盘，通过评价PRSNR、根据运算PRSNR得到的值是否在15以上来进行光拾取装置1的第五检查(步骤1)。

在本申请的实施例中使用的偏心测试光盘的基本物理参数、偏心光盘的结构使用了与SL测试光盘相同的物理参数、结构。这是为了能够在验证光拾取装置时有效地验证偏心的影响。再次参照图11，将基板101的厚度设为0.600mm，将基板101的折射率设为1.6(在波长405nm的情况下)。

基板101、104由聚碳酸酯等波长400nm左右的激光容易透过的材料形成。另外，还能够使用以聚烯烃、聚乳酸为主要成分的生物分解性材料作为形成基板101、104的材料。使用具有轨道图案(坑列)的母盘，通过射出成型来形成基板101。将母盘上的轨道图案复写在基板101的表面上。从内周向外周形成轨道。

此外，也可以利用玻璃材料形成基板101。当利用玻璃形成基板时，在保管中、检查时不容易留下光拾取装置接触光盘而产生的划痕，即使弄脏的情况下也能够容易擦干净，能够提高SL测试光盘的耐久性/可靠性。

在所形成的轨道图案上由铝、银、或者它们的合金等高反射率材料形成记录层102。通过溅镀或者蒸镀等方法在基板表面或者紫外线硬化树脂上薄膜形成记录层102的材料。

为了粘合形成有记录层102的基板101和基板104而形成粘接层103。在进行所述粘合时，在记录层102的表面涂敷紫外线硬化树脂，在该紫外线硬化树脂上叠放基板104。接着，从基板104侧照射紫外线使紫外线硬化树脂硬化。由此以在中间形成记录层102的状态粘合基板101和基板104。

为了使这样制作的光盘具有偏心，进行加工使得位于光盘的中心的中心孔产生偏心。例如，较大地切出中心孔，将偏离中心而制造出的环粘接到中心。此时，使数据轨道的偏心量为100μmp-p(peak to peak)。根据该方法，由光盘制作产生的坑(pit)的形成状态等与SL测试光盘相同，能够制作光盘自身的信号质量完全没有问题的、具有期望的偏心的光盘。

由此，能够验证即使产生100μmp-p(peak to peak)的偏心光拾取装置1也能够适应性地进行信号再现的情形。这一点意味着即使光盘产生偏心，光拾取装置也能够适当地驱动致动器来进行光盘再现，具有充分的跟踪能力。另外，如果使用与SL测试光盘相同的光盘在最外周进行验证，则变成在光盘的最外周进行评价，还能够验证光拾取装置能够在光盘最外周适当地进行信号再现的情形。

另外，不限于该方法，在利用聚碳酸酯通过射出成型来制作基板的情况下，能够通过调整成型时的母盘的安装产生固定的偏心来制作偏心测试光盘。根据该方法，通过将成型时的制作条件设为固定，能够制作大致具有相同特性的偏心测试光盘。

此外，在此将基板101、104的厚度设为0.600mm，将折射率设为1.6，但是并不限定于此，基板101、104的厚度可以是0.58至0.62mm，折射率可以是1.5～1.7(在波长400～410nm的范围内)。

也可以没有印刷层105。但是为了能够容易地判断哪个基板面是光拾取装置侧的光入射面并识别光盘的种类，优选为形成印刷层105。

另外，在本实施例中为了验证在通常使用环境下所需最小限必要特性，作为偏心量而在光盘自身和光盘夹具中能够产生的100μmp-p(peak to peak)的偏心测试光盘为最佳。然而，在假定的使用环境进一步恶劣的情况下，可以是更大的偏心测试光盘，也可以是具有200μmp-p(peak to peak)的偏心测试光盘。

另外，只要偏心量为期望的量就能够进行该第五检查，因此如果利用另外的SL测试光盘进行在最外周的验证，则评价半径位置并不限定于半径57mm。

在本实施例中，能够利用SL测试光盘验证偏心的影响，但是也可以使用DL光盘作为偏心测试光盘。在这种情况下，还产生L0层和L1层的偏心量的差异，因此难以制作光盘。另外，因层间串扰等难以确定再现信号恶化的原因，但是表示能够进行再现的光拾取装置具有更高性能的特性。

对使用以上的第五测试光盘的与对偏心光盘的对应程度有关的第五检查合格的光拾取装置1继续执行接下来的检查(步骤m)。另一方面，第五检查不合格的光拾取装置1视为没有满足必要性能，在这种情况下，作为对偏心光盘的对应程度不足而认定为次品(步骤n)。

在本申请的实施例中依次实施了第三至第五检查，但是也可以将各检查作为单独的检查而独立进行、改变顺序，在存在多个相同性能的光拾取装置的情况下，也可以同时并行进行检查。

通过分别使用以上的第一～第五种的测试光盘的第一～第五检查，能够识别满足所需的各种特性的性能即信号再现能力/温度依赖特性/致动器的动作能力的必要能力的光拾取装置。

并且，通过第一～第五检查能够提供满足所有所需的各种特性的性能的、实用上具有充分的性能质量的光拾取装置。

对第五检查合格的光拾取装置1还可以进行使用第六测试光盘的第六检查。

将从光盘中心向外周侧在半径57mm的区域内具有200μm的黑色斑点的缺陷的第六种的缺陷测试光盘放置在光拾取装置的检查装置上，执行图4的流程图所示的各步骤来进行第六检查。

当放置第六种的缺陷测试光盘、开始光盘再现时(步骤o、p)，将光拾取装置1的跟踪位置从光盘中心起驱动至半径57mm的位置，开始该位置的数据区域的再现来执行检查(步骤q)。在十个以上的点测量不重叠的四个连续ECC(Error CorrectionCode：错误修正码)模块(数据扇区32扇区)的PI错误，分别算出这些测量点的平均(pi(i))、标准偏差(pi(i))，判断运算PI错误＝平均(pi(i))+2×标准偏差(pi(i))得到的值是否在280以下，由此进行使用了该半径57mm的位置的数据区域的检查。进行该评价的目的在于：根据光盘的评价位置不同，例如光盘上的标记形成产生偏差、反射率变动，因此在增加根据该偏差而PI错误值发生变化的情形后进行评价。

在本实施例中，缺陷测试光盘的调制码在HD_DVD的中国标准(CH_DVD)的光盘中使用FSM调制的调制码，但是也可以是与ETM调制或者FSM调制相应的ETM解调。

此外，在HD_DVD标准中，纠错格式与DVD标准同样地，作为纠错码采用RS(208、192、17)×RS(182、172、11)的里德-索罗门乘积码。

对使用以上的第六缺陷测试光盘的与对缺陷光盘的对应程度有关的第六检查的判断(步骤r)的结果是第六检查合格的光拾取装置1，作为满足了所有必要性能而认定为合格品(步骤s)。另一方面，第六检查不合格的光拾取装置1视为没有满足必要性能，在这种情况下，作为对缺陷光盘的对应程度不足而认定为次品(步骤t)。

在本实施例中使用的缺陷光盘的基本物理参数、光盘的结构使用了与SL测试光盘相同的物理参数、结构。这是为了能够在验证光拾取装置时有效地验证缺陷的影响。再次参照图11，将基板101的厚度设定为0.600mm，将基板101的折射率设定为1.6(在波长405nm的情况下)。基板101、104由聚碳酸酯等波长400nm左右的激光容易透过的材料形成。另外，还能够使用以聚烯烃、聚乳酸为主要成分的生物分解性材料作为形成基板101、104的材料。使用具有轨道图案(坑列)的母盘，通过射出成型来形成基板101。将母盘上轨道图案复写在基板101的表面上。从内周向外周形成轨道。

此外，也可以利用玻璃材料形成基板101。当利用玻璃形成基板时，在保管中、检查时不容易留下光拾取装置接触光盘而产生的划痕，即使弄脏的情况下也能够容易擦干净，能够提高SL测试光盘的耐久性/可靠性。

在所形成的轨道图案上由铝、银、或者它们的合金等高反射率材料形成记录层102。通过溅镀或者蒸镀等方法在基板表面或者紫外线硬化树脂上薄膜形成记录层102的材料。

为了粘合形成有记录层102的基板101和基板104而形成粘接层103。在进行所述粘合时，在记录层102的表面涂敷紫外线硬化树脂，在该紫外线硬化树脂上叠放基板104。之后，从基板104侧照射紫外线使紫外线硬化树脂硬化。由此在其中间形成记录层102的状态下粘合基板101和基板104。

为了使这样制作的光盘具有缺陷，在光入射面涂敷200μm的黑墨水等添加黑色斑点使得产生缺陷。根据该方法，由光盘制作产生的坑的形成状态等与SL测试光盘相同，能够制作光盘自身的信号质量完全没有问题的、在半径57mm处具有期望的缺陷的光盘。能够使半径57mm处的缺陷成为200μm而进行评价。

由此，能够验证即使存在200μm的缺陷光拾取装置1也能够适应性地进行信号再现的情形。这一点意味着即使光盘产生缺陷，光拾取装置也能够适当地维持聚焦、跟踪伺服来进行光盘再现，能够输出能够进行适当的纠错的再现信号。另外，如果使用与SL测试光盘相同的光盘，则进行在光盘的最外周的评价，还能够验证光拾取装置能够在光盘最外周适当地进行信号再现的情形。

此外，在此将基板101、104的厚度设为0.600mm，将折射率设为1.6，但是并不限定于此，基板101、104的厚度可以是0.58mm至0.62mm，折射率可以是1.5～1.7(在波长400～410nm的范围内)。

也可以没有印刷层105。但是为了能够容易地判断哪个基板面是光拾取装置侧的光入射面并识别光盘的种类，优选为形成印刷层105。另外，在本实施例中验证通常能够纠错的尽可能大的缺陷，因此作为缺陷量以200μm的黑色斑点为最佳。

另外，只要缺陷量为期望的量就能够进行该第六检查，因此如果利用另外的SL测试光盘进行在最外周的验证，存在光盘制作的困难，但是半径位置并不限定于半径57mm。

另外，在本申请的实施例中利用黑色斑点形成缺陷，但是并不限于此，只要能够验证能够适当地维持聚焦、跟踪伺服来进行光盘再现并能够输出可进行适当的纠错的再现信号即可，也可以利用气泡、指纹、划痕来制作缺陷。

在本实施例中，能够利用SL测试光盘验证缺陷的影响，但是也可以使用DL光盘作为缺陷测试光盘。在这种情况下由于产生层间串扰等，因此难以确定再现信号恶化的原因，但是表示能够进行再现的光拾取装置具有更高性能的特性。

除了进行第一～第五检查以外还进行第六检查，由此能够检查光拾取装置的伺服能力、以及在纠错时能够输出可进行良好的校正的再现信号的再现可靠性能力，能够进一步提高光拾取装置的可靠性。

通过分别使用以上的第一～第六种的测试光盘的第一～第六检查，能够识别满足所有所需的各种特性的性能的光拾取装置。并且，通过第一～第六检查能够提供满足所有所需的各种特性的性能的、实用上具有充分的性能质量的光拾取装置。

最后，说明利用在本申请的实施例中示出的检查方法来检查的光拾取装置。被检查的光拾取装置能够再现轨道间距在0.68μm以下、最短坑长(2T)在0.408μm以下的具有再现性能的高密度多层光盘。特别在能够正确地再现图7示出的光盘参数的数据的光拾取装置中，是特别优选的检查方法。

在波长635nm、N.A.0.6的光拾取装置中进行了验证，无法再现图7所示的数据区域。如果将波长改变为450nm就可以再现。另外，在波长405nm、N.A.0.65的光拾取装置中能够再现图7所示的光盘参数的数据，示出在本实施例中示出的所有测试光盘的最佳再现特性。并且，在将波长缩短为360nm并设为N.A.0.65时，无法得到各测试光盘的再现信号。这是由于在波长395nm以下光盘基板透过率急剧下降的原因。

因此，至少具备激光波长395nm～450nm范围的光学系，将物镜N.A设定为大于0.60即可。在这些范围内选择光学系的范围，由此能够最佳再现轨道间距在0.68μm以下、最短坑长在0.408μm以下的范围的信号。另外，能够应用于在DL光盘的中间层厚度在50μm以下也能够进行层与层的分离、中间层厚度是15μm的情况下也能够进行再现的光拾取装置。

并且，还可以具有记录性能。

另外，作为与比DL更多层的媒体对应的光拾取装置的检查，使用DL光盘确认层分离性能也很重要，也能够应用本申请示出的检查。在多层对应的光拾取装置中，除了在本申请中示出的检查以外也可以追加利用多层媒体的检查。

在本实施方式的光拾取装置的检查方法中，在使用了SL测试光盘的在系统导入区域内的第一检查、以及使用了DL测试光盘的在系统导入区域内的第二检查中，对抖动、调制度、不对称以及DPD信号进行评价，在使用了SL测试光盘的在数据区域内的第一检查、以及使用了DL测试光盘的在数据区域内的第二检查中，对PRSNR、SbER、调制度、不对称以及DPD信号进行评价，但是可以不进行所有这些评价项目而决定几个作为必须的评价项目，也可以根据要求的质量而减少评价项目。

另外，在本实施例中示出使用基于HD_DVD标准的测试光盘进行检查的情形，但是并不限定于此，如果将各种测试光盘例如改变为基于蓝光(Blu-ray)标准的测试光盘也能够适当地进行应用。但是，在这种情况下，根据光入射侧的基板厚度为0.1μm、系统导入区域的轨道间距为0.35μm、数据区域的轨道间距为0.32μm等标准改变测试光盘的物理参数的一部分，被检查的光拾取装置至少具备激光波长395nm～450nm范围的光学系，将物镜N.A设定为大于0.8。

在本实施例中示出使用直径12cm的测试光盘进行检查的情形，但是在应用于对应的直径不同的光拾取装置中的情况下，并不限定于此，如果是仅与直径8cm的光盘对应的光拾取装置的检查，则也可以将测试盘制作成8cm。在改变测试光盘的直径的情况下，如果在光盘的最外周进行检查，则使外周的区域具有规定量的盘面抖动、倾斜等即可。

另外，在本实施例中，各种测试光盘使用再现专用光盘，但是并不限定于此，也可以使用预先在记录光盘中记录有信号的、记录完成光盘来制作各种测试光盘。

除了本实施例以外还将记录完成光盘增加为测试盘时，能够成为可验证更进一层高功能的性能的方法，但是如果根据本实施例，则能够稳定地提供具有固定性能的光拾取装置，能够以较少成本和时间排除低劣的光拾取装置。

本发明的实施方式在权利要求的范围所示出的技术思想的范围内能够适当地进行各种变更。

Claims (21)

1.一种光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用使用了记录层为单层的第一测试光盘和记录层为双层的第二测试光盘的至少两种以上的测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。

2.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

检查具备NA为0.6以上的物镜的光拾取装置。

3.根据权利要求1或2所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用上述测试光盘的轨道间距大致在0.68μm以下的区域的再现信号评价来对光拾取装置进行评价。

4.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用基于波长450nm以下的光学系统的再现信号评价来对光拾取装置进行评价。

5.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记录层为双层的第二测试光盘、用于验证致动器的动作的测试光盘的至少三种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置。

6.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用使用了上述记录层为单层的第一测试光盘、上述记录层为双层的第二测试光盘、作为用于验证上述致动器的动作的测试光盘的第三测试光盘、第四测试光盘、第五测试光盘的至少五种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中，所述第三测试光盘是产生盘面抖动评价用的盘面抖动的形态的测试光盘，所述第四测试光盘是具有倾斜评价用的变形的形态的测试光盘，所述第五测试光盘是具有偏心评价用的偏心的测试光盘。

7.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第三测试光盘内形成有上述盘面抖动大致为0.4mmp-p以上的区域。

8.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第四测试光盘内形成有倾斜大致为0.8°以上的区域。

9.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第五测试光盘内存在形成偏心大致为100μmp-p的区域。

10.根据权利要求6所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

增加使用了第六测试光盘的再现信号评价，利用使用了至少六种测试光盘的再现信号评价来检查光拾取装置，其中，所述第六测试光盘是具有产生再现错误的缺陷区域的测试光盘。

11.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

上述第三测试光盘的盘面抖动形成为在半径57mm附近大致成为0.4mmp-p。

12.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

在上述第六测试光盘内形成有大致200μm的黑色斑点。

13.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用缺陷区域内的PI错误评价来进行上述第六测试光盘的再现信号评价。

14.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

使用上述六种测试光盘之中的至少一张，利用光拾取装置的再现信号的PRSNR的评价结果对光拾取装置进行评价。

15.根据权利要求10所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用FSM调制方式对上述第六测试光盘进行调制。

16.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

以OTP形成上述第二测试光盘的螺旋方向。

17.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

上述第二测试光盘的中间层的厚度构成为14μm～25μm。

18.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

使用上述第一或者上述第二测试光盘之中的至少一种，利用在同一测试光盘内准备的轨道间距不同的区域的再现信号评价来检查光拾取装置。

19.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

使用上述第一或者上述第二测试光盘之中的至少一种，利用在同一测试光盘内准备的BCA区域的再现信号评价来检查光拾取装置。

20.根据权利要求1所述的光拾取装置的检查方法，其特征在于，

利用上述第一或者上述第二测试光盘之中的至少一种，改变温度环境来评价再现信号，由此检查光拾取装置。

21.一种光拾取装置，

是利用权利要求1～20中的任一项所述的光拾取装置的检查方法检查出的合格的光拾取装置。

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