SE528486C2 - Kvalitetstestningsmetod för optiska databärare - Google Patents

Kvalitetstestningsmetod för optiska databärare

Info

Publication number
SE528486C2
SE528486C2 SE0401318A SE0401318A SE528486C2 SE 528486 C2 SE528486 C2 SE 528486C2 SE 0401318 A SE0401318 A SE 0401318A SE 0401318 A SE0401318 A SE 0401318A SE 528486 C2 SE528486 C2 SE 528486C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
disc
track
disk
signal
mode
Prior art date
Application number
SE0401318A
Other languages
English (en)
Other versions
SE0401318L (sv
SE0401318D0 (sv
Inventor
Martin Neckmar
Original Assignee
Audiodev Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Audiodev Ab filed Critical Audiodev Ab
Priority to SE0401318A priority Critical patent/SE528486C2/sv
Publication of SE0401318D0 publication Critical patent/SE0401318D0/sv
Priority to TW094116550A priority patent/TW200540815A/zh
Priority to CNB2005800165342A priority patent/CN100437764C/zh
Priority to EP05744913A priority patent/EP1751748A1/en
Priority to KR1020067024002A priority patent/KR20070039875A/ko
Priority to US11/596,716 priority patent/US20080089200A1/en
Priority to PCT/SE2005/000746 priority patent/WO2005114659A1/en
Priority to JP2007514977A priority patent/JP2008500674A/ja
Publication of SE0401318L publication Critical patent/SE0401318L/sv
Publication of SE528486C2 publication Critical patent/SE528486C2/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9506Optical discs
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816Testing
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/002Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
    • G11B7/0037Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/002Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier
    • G11B7/0037Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs
    • G11B7/00375Recording, reproducing or erasing systems characterised by the shape or form of the carrier with discs arrangements for detection of physical defects, e.g. of recording layer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N2021/8411Application to online plant, process monitoring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Description

25 30 35 529» 4-86 En gemensam egenskap hos de ovan nämnda optiska lagringsskivorna är att de lagrar mycket stora mängder information på en liten yta. Den digitala informationen utläses med hög precision med hjälp av en laserstråle, och även om information är lagrad på de optiska skivorna i enlighet med felkorrigerande kodningsmetoder, finns ett stort behov bland tillverkare och distributörer av sådana optiska skivor att kunna kontrollera kvaliteten av de optiska skivorna. Det är ett absolut krav att uppfylla specifikationerna från Philips och Sony för CD-skivor, och från DVD Forum för DVD- och AOD/HD-DVD-skivor, och från Sony för BD, för att säkerställa ett minimalt antal fel och brister bland de optiska lagringsskivorna, i huvudsak i deras informationsbärande lager.
Därför utvärderas kvaliteten av optiska lagrings- skivor under loppet av skivornas tillverkningsprocess. Ett flertal parametrar mäts och registreras, både för fysikaliska parametrar (såsom snedheten, excentriciteten, överhörningen, osv.) samt för logiska fel (olika hastigheter för bitfel, blockfel och signalstyrkefel).
Andra viktiga parametrar är dubbelbrytningsgraden i det transparenta plastskiktet hos en optisk skiva och s.k. jitter, dvs. statistiska tidsvariationer i signalen som erhålls när man läser eller spelar den optiska skivan.
Dessutom är en mycket viktig parameter, som är relaterad till den optiska skivans kvalitet, signalamplituderna som erhålls när den optiska skivan läses med hjälp av en laseravkännare.
Det är allmänt känt att en vanlig optisk skiva är baserad pà en ca 1,2 mm tjock plastskiva med en diameter på 8 eller 12 cm. CD-formatet har en substrattjocklek för avläsningslasern på 1,2 mm minus ett skyddslack på etikettsidan. DVD:n och HD-DVD:n består av två stycken 0,6 mm substrat som är limmade ihop. BD:n består av ett 0,1 mm substrat som är limmat eller roterande belagt på en 1,1 mm- 10 15 20 25 30 35 528 486 skiva, varvid 0,1 mm-sidan är avläsningssidan. Plastskivan är vanligtvis tillverkad av ett stycke formsprutad genom- skinlig polykarbonatplast, dock kan för blåstrålsskivan (BD) en rotationsbeläggning (spin coating) av det 0,1 mm- substratet bli en populär tillverkningsmetod. En teknik som används för att applicera det tunna 0,1 mm-substratet är att fästa substratet som en film. Under tillverkning präglas plastskivan med mikroskopiska kullar, vilka är anordnade som ett enda, kontinuerligt spiralmönster, som motsvarar informationen som är lagrad på CD:n. En stämpel används för att prägla detta spiralmönster av mikroskopiska kullar. När den genomskinliga polykarbonatskivan har- skapats, sputtras ett tunt reflekterande aluminiumskikt på skivan, och därigenom täcks spiralmönstret av kullar. Sedan appliceras ett tunt fotopolymerlager på aluminiumet för att skydda detta. Slutligen trycks en CD-etikett på fotopolymerlagret i fallet av en CD. Om skivan är en DVD eller en HD-DVD kan flera informationslager anbringas genom att använda halvreflekterande material, såsom kisel. De två 0,6 mm skivorna limmas sedan rygg mot rygg för att bilda en 1,2 mm tjock skiva, vilken innefattar information antingen på någon av sidorna eller på båda sidorna. För blåstrålsskivan (BD) är den preliminära tillverkningsmetoden att formspruta den l,l mm-skivan, att sputtra det reflekterande skiktet, och att sedan applicera 0,1 mm-substratet, antingen genom rotationsbeläggning eller genom att anbringa en 0,1 mm-film. Det sista steget består av att tillfoga en skyddsbeläggning.
Kullarna i spiralmönstret kallas vanligtvis gropar eftersom det är så de uppträder vid betraktande från aluminiumlagret. Omrâdena mellan angränsande gropar kallas ofta land eller plana ytor.
Varje rotationsvarv av det kontinuerliga spiral- mönstret skapar i huvudsak ett cirkulärt spår, vilket är koncentriskt med det följande rotationsvarvet av spiral- 10 15 20 25 30 35 528 486 mönstret. Därför beskrivs ofta en CD att ha ett flertal cirkulära spår, även om de i verkligheten är kopplade till varandra i ett enda kontinuerligt spiralmönster. En CD har ungefär 22 000 spår medan en DVD har ungefär 47 000 spår, en HD-DVD ca 90 000 spår och en BD ca 110 000 spår.
Figur 1 illustrerar en optisk skiva 1, såsom en CD, DVD, HD~DVD eller blàstrålsskiva (BD), med sitt enda, kontinuerliga spiralmönster 2, vilket i fall av förmastrade eller förinspelade (engelska pre-mastered) skivor inne- fattar gropar och plana ytor. Såsom har beskrivits ovan skapar spiralmönstret 2 ett flertal i huvudsak koncentriska cirkulära spår 3. Den optiska skivan 1 har en central öppning 5 för att bringas i ingrepp med en drivaxel för att rotera den optiska skivan 1.
Figur 2 illustrerar nâgra spår 3, vilka har information digitalt inspelad på dem, i mer detalj.
Informationen är, såsom har nämnts ovan, lagrad i gropar (eller kullar) som visas vid 6, varvid de mellanliggande plana ytorna (eller land) visas vid 7.
Såsom redan har nämnts, används en stämpel vid tillverkningen av optiska medier, såväl hos förmastrade som inspelningsbara. Ett skivoriginal är det geometriska ursprunget för en stämpel och kan skapas genom att applicera ett tunt lager av fotoresist eller annat avlägsningsbart material pà en glasskiva. En laserskrivstràle (eng. mastering device) förflyttas kontinuerligt radiellt från glasskivans centrum mot dess periferi och exponerar fotoresistskiktet i ett mönster som motsvarar det önskade spiralmönstret av gropar och plana ytor på slutprodukten, dvs. på den optiska skivan. På inspelningsbara skivor exponerar originalenheten fotoresistskiktet i ett kontinuerligt wobbelmönster som innefattar kodad sektorinformation. Uppenbarligen är det mycket viktigt att groparna är tydligt urskiljningsbara från landomràdena på den optiska skivan. Närmare bestämt 10 15 20 25 30 35 528 486 måste gropar av olika storlek identifieras korrekt vid läsning av den optiska skivan. På den inspelningsbara skivan är det viktigt att wobbelspàret är ordentligt ut- präglat för att inspelningsapparaten ska vara i stånd att följa spåret och att spela in på skivorna.
Eftersom groparna eller wobbelspàret hos stämpeln inte är optimerade för läsning kommer signalen som skapas vid läsning från stämpeln att vara annorlunda än signalen från den resulterande skivan. Vidare har varje produktions- linje vid tillverkning av optiska skivor sina egna egen- skaper beträffande hur strukturen av groparna eller spåret påverkas mellan stämpeln och skivan. Således måste kvalitetskontrollen utföras på själva skivan. Vidare är det viktigt att man har en snabb och tillförlitlig kvalitets- återkoppling beträffande de tillverkade skivorna för att fort kunna justera tillverkningsprocessen av skivorna. I detta syfte läses skivorna i en skivspelare och skivornas kvalitet utvärderas. Självfallet måste man i allmänhet utvärdera hela skivan och dess kvalitet, och därför har hittills den fullständiga skivan lästs för att mäta signalerna som är förknippade med hela den optiska skivan.
Traditionell testutrustning för optiska medier är konstruerad för att mäta och analysera de elektriska och fysikaliska signalerna av förmastrade, inspelningsbara och återskrivningsbara skivor. Ett fullständigt test som utförs i nominell hastighet (lx) pågår i över en timme, och de snabbaste testutrustningarna mäter idag en fullständig skiva på ungefär 20 minuter när man testar med 4 ggr den nominella hastigheten (4x). Idag är detta den snabbaste tiden för en komplett utvärdering av en optisk lagrings- skiva som utförs under loppet av tillverkningen. Under denna tid kan ett stort antal (i typiska fall runt 1000) skivor tillverkas på produktionslinjen, vilka måste kasseras i de fall där kvaliteten av de tillverkade skivorna visar sig vara för dålig under loppet av en 10 15 20 25 30 35 528 486 kvalitetskontroll. Detta är särskilt störande när man justerar tillverkningsprocessen vid uppstarten, där det behövs många cykler med tillverkning/testning/justering.
Således är industrin i stort behov av att minska tiden som behövs för att kvalitetstesta optiska lagringsskivor under loppet av tillverkningen.
Traditionell testning baseras på två huvudsakliga metoder: spårlàsta (eng. tracked) mätningar och ej spår- låsta (non-tracked) mätningar (som även kallas utanför spåret (off-tracked) mätningar eller öppen slinga (eng. open loop)). När man mäter i den spàrlåsta operationsmoden (läget) följer laseravkännaren det blanka, förmastrade spåret och det radiella servot fokuseringsservot är låsta till spåret.
Vid ej spårlåsta mätningar är enligt den tidigare inspelade eller samt kända tekniken radialservot urkopplat och laseravkännaren är fixerad till en radiell position. På grund av den optiska skivans excentricitet kommer flera spår att passera avkänningshuvudet och det är möjligt att mäta flera signal- kombinationer från laseravkännaren, vilken idag oftast är en kvadrantfotodetektor. Detta är dock en tidskrävande metod eftersom många positioner måste mätas och varje position tar åtminstone fem sekunder att mäta med dagens teknik. Således har det fram tills nu varit praktiskt taget omöjligt att fullständigt mäta och utvärdera en hel skiva i ej spårlåsta operationsmoden. Exempelvis krävs tio tusen mätpositioner när excentriciteten orsakar att ungefär fem spår passerar avkänningshuvudet, varvid varje mätning tar ca. fem sekunder. Således skulle det ta ca. 14 timmar för att testa en enda skiva med ej spârlásta mätningar. Ifall excentriciteten är ännu lägre skulle processen ta ännu längre tid eftersom samtliga spår måste utvärderas. Ifall av en koncentrisk skiva, dvs. skivan har ingen eller mycket låg excentricitet, är det inte möjligt att få några ej spårlåsta mätningar alls med hjälp av traditionella system 10 15 20 25 30 35 avseende ej spårlàsta mätningar eftersom inga spår passerar avkänningshuvudet när detta är låst till en radiell position. Idag utförs hos ett typiskt testfall 10 till 20 positioner med ej spårlåsta mätningar, vilka var och en tar ungefär en minut inkl. positioneringen. I detta fall testas dock enbart en bråkdel av hela skivan.
Således uppvisar kvalitetstestningen av optiska lagringsskivor som utförs idag flera nackdelar. För det första tar kvalitetsutvärderingsprocessen mycket tid när signalerna mäts kontinuerligt på samtliga spår eller tvärs över spåren. Om skivan vidare inte har någon excentricitet, är det mycket svårt att mäta signalerna i den ej spårlâsta operationsmoden (öppen slinga) med hög noggrannhet och repeterbarhet. Således finns ett behov av ett nytt, snabbare sätt att testa den sammanlagda kvaliteten av en optisk skiva av den sorten som lagrar optiskt läsbar information i form av ett spiralformigt eller ringformigt mönster, vilket skapar ett flertal koncentriska spår. Det finns även ett behov att kunna utföra öppen slinga- mätningar på skivor med låg excentricitet.
Samanfattning av uppfinningen Föreliggande uppfinning övervinner de ovan identifierade nackdelarna enligt teknikens ståndpunkt och löser åtminstone de ovan identifierade problemen genom att tillhandahålla en metod och ett dataläsbart medium enligt de bifogade patentkraven. Den allmänna lösningen enligt föreliggande uppfinning baseras på det faktum att de flesta defekter, såsom exempelvis repor på skivans yta, luft- bubblor i skivans genomskinliga plastmaterial, eller oregelbundenheter från stämpelprocessen i det säregna mönstret som lagras på skivan, har en utsträckning som överskrider ett visst minsta mått på ungefär 50-100 um (ca 10-20% av tjockleken av ett mänskligt hår!). Med avseende på metoden enligt föreliggande uppfinning betyder detta att 10 15 20 25 30 35 528 4-86 det inte alltid är nödvändigt att mäta samtliga spår eller radier. Defekterna kommer att hittas i alla fall, såsom det följande exemplet illustrerar. Om exempelvis var hundrade spår läses i den spårlåsta operationsmoden, utförs för en DVD ungefär 500 ggr ett hopp över 100 spår i den ej spàrlâsta operationsmoden . 100 spår på en DVD är ungefär- ligen anordnade 74 um ifrån varandra. Därför detekteras en defekt i den ovannämnda storleksordningen på 50-100 um antingen under den spårlåsta operationsmoden, under loppet av hoppet i den ej spårlåsta operationsmoden eller under loppet av nästa spårlåsta operationsmod efter hoppet.
Enligt aspekter av uppfinningen tillhandahålls en metod och ett dataläsbart medium för testning av den sammanlagda kvaliteten av en optisk skiva av den typen som lagrar optiskt läsbar information i form av ett spiralformat eller ringformigt mönster, vilket definierar ett flertal i huvudsak koncentriska spår.
Enligt en aspekt av uppfinningen tillhandahålls en metod, varvid metoden innefattar följande steg. Först försätts nämnda optiska skiva i rotation för att på optiskt sätt utläsa skivan i olika operationsmoder med hjälp av en skivspelare som har en utläsningsanordning för skivan. I anslutning därtill alterneras de följande stegen intermittent för kvalitetstestning av skivan: a) àtminstone ett första spår av nämnda spiralformiga eller ringformiga mönster utläses åtminstone delvis i ett spârlåst operationssätt av utläsningsanordningen för att bestämma spårlåsta kvalitetsparametrar, och b) ett hopp utförs i radiell riktning av skivan och skivan analyseras samtidigt i en ej spårlàst mätningsoperationsmod under loppet av hoppet för att bestämma ej spårlåsta kvalitetsparametrar.
Enligt ytterligare en aspekt av uppfinningen tillhandahålls ett datorläsbart medium som har utformat ett datorprogram på detta medium för bearbetning av en dator. 10 15 20 25 30 35 528 436 Datorprogrammet innefattar kodsegment för att utföra metoden enligt uppfinningen, varvid nämnda kodsegment närmare bestämt är ett första kodsegment för att sätta en skiva i rotation för att optiskt utläsa skivan i olika operationssätt med hjälp av en skivspelare som har en utläsningsanordning för skivan. För kvalitetstestning av skivan innefattas andra och tredje kodsegment som intermittent alterneras med varandra. Närmare bestämt utläser det andra kodsegmentet åtminstone delvis ett första spår av det spiralformade eller ringformiga mönstret i ett spårlåst operationssätt av utläsningsanordningen för att bestämma spàrlàsta kvalitetsparametrar, och det tredje kodsegmentet utför ett hopp i radiell riktning av skivan och samtidigt analyserar det skivan i en ej spårlåst mätningsoperationsmod under loppet av hoppet för att bestämma ej spàrlåsta kvalitetsparametrar.
Föreliggande uppfinning har fördelen över den kända tekniken att den tillhandahåller en tidsbesparande testning och kvalitetsövervakning av förmastrade, inspelningsbara och àterskrivningsbara optiska lagringsmedier av de ovan nämnda sorterna. Den medger vidare testning av replikerade optiska lagringsmedier med strukturer som har enkla eller multipla skikt, såsom exempelvis DVD-5, DVD-9, DVD-10, DVD- l4, DVD-18. Metoden enligt uppfinningen är väsentligen oberoende av utläsningshastigheten och reducerar testtiden med åtminstone 85 % i jämförelse med kända metoder, tack vare "höghastighetsskanningen” av den optiska skivan. Den föreliggande metoden är ändå i överensstämmelse med befintliga och framtida standarder, t.ex. av DVD-Forum. Med hjälp av metoden enligt uppfinningen ges en snabb överblick över kvaliteten av en skiva. Områden som uppvisar defekter identifieras snabbt och kan vidare analyseras med hjälp av andra kvalitetstestsystem. Således kan tillverkare av sådana optiska lagringsmedier förbättra sina åter- kopplingstider och de kan under loppet av tillverkningen 10 15 20 25 30 35 528 4-86 10 snabbare optimera tillverkningsprocessen, vilket leder till en ökad produktionsavkastning och ett bättre utnyttjande av produktionslinjen.
Vidare är metoden enligt uppfinningen oberoende av någon excentricitet hos skivan som skall utvärderas. Såsom har nämnts ovan är ej spårlåsta mätningar vanligtvis inte möjliga med perfekt eller näst intill koncentriska skivor, dvs. höghastighetsskivor, eftersom i detta fall inga spår passerar det låsta avläsningshuvudet i radiell riktning.
Med hjälp av föreliggande metod är det dock fullt möjligt att utföra ej spårlåsta mätningar under loppet av hoppen, eftersom det säkerställs att spår passerar avläsnings- anordningen i radiell riktning under loppet av hoppen som utförs.
Det är ytterligare en annan fördel att ej spårlåsta mätningar görs pà en stor andel av skivan, i jämförelse med traditionellt endast några få radiella punkter på en hel optisk skiva.
Kortfattad beskrivning av ritningarna Ytterligare syften, kännetecken och fördelar med uppfinningen kommer att framgå av den följande beskrivningen av en föredragen utföringsform av den föreliggande uppfinningen, varvid hänvisning görs till de bifogade ritningarna, på vilka Figur 1 är en schematisk illustration över en optisk skiva och ett kontinuerligt spiralformat mönster som bildar ett flertal koncentriska spår; Figur 2 är en schematisk illustration över en liten yta med ett fåtal spår på den optiska skivan i figur 1 som har ett exempel med information inspelad därpå; Figur 3 är en schematisk illustration över radialriktningen i vilken utföringsformen av uppfinningen framskrider under loppet av ett fullständigt kvalitetstest av en optisk skiva enligt figur l; 10 15 20 25 30 35 52 CO 486 ll Figur 4 illustrerar utseendet hos mätsignalen vid olika tillfällen under loppet av mätprocessen; Figur 5 är en schematisk illustration över en kvadrantfotodetektor i förhållande till spârriktningen; Figur 6 är en schematisk illustration över mätningarna som utförs med hjälp av en kvalitets- testningsmetod enligt den föredragna utföringsformen av uppfinningen; Figur 7 är ett schematiskt blockdiagram över en kvalitetstestningsapparat som är anpassad för att utföra kvalitetstestningsmetoden för en optisk skiva enligt föreliggande uppfinning; Figur 8 illustrerar detektionsprincipen för en operationsmod som används tillsammans med den föredragna utföringsformen av uppfinningen; och Figur 9 är ett schematiskt flödesschema över en kvalitetstestningsmetod_enligt den föredragna utföringsformen av uppfinningen.
Beskrivning av utföringsformer En föredragen utföringsform av uppfinningen kommer nu att beskrivas i detalj med hänvisning till figurerna 3 till 9.
En skivspelare växlar huvudsakligen alternerande mellan en spårlåst operationsmod och en ej spårlåst operationsmod , dvs. spelaren anvisas att intermittent utföra radiella hopp för att byta radiella positioner på skivan. Små datasampel mäts medan spelaren är låst till spåret pà skivan, dvs. när den är i den spârlåsta operationsmoden. Sedan mäts även data under loppet av spelarens radiella positionsbyten, dvs. i den ej spårlàsta operationsmoden. Detta betyder i motsats till traditionella ej spårlåsta mätningar där avläsningshuvudet är låst till en radiell position, att den ej spàrlásta mätningen i samband med föreliggande uppfinning utförs när ett 10 15 20 25 30 35 528 486 12 avläsningshuvud är ”olåst” i den radiella riktningen.
Således kommer avläsningshuvudet att förflyttas relativt spåren på den optiska skivan, även om skivan har mycket låg excentricitet.
Genom att vara spàrlàst till skivan under en begränsad tidsperiod och genom att utföra många byten av den radiella positionen, representerar samplarna, som tas, en fullständig mätning av hela skivan, dock utförs mätningen under en väsentligen kortare tidsperiod än hos traditionella mätningar. Genom att hoppa en kort sträcka mellan de radiella positionerna, exempelvis 75 um, kommer alla huvudsakliga defekter på skivan att detekteras.
Resultatet är att det är möjligt att mäta och täcka en fullständig skiva på ungefär mindre än 2-3 minuter.
Genom att övervaka signalerna som härstammar direkt från skivspelarens laseravläsningshuvud har mätsystemet en mycket snabb metod för att bestämma om den aktuella utläsningsoperationsmoden är spårlåst eller ej spårlåst.
Detta utförs utan att man behöver vänta på sådan information från skivspelaren, även om skivspelaren också kan leverera denna information från sin radiella servomekanism. Den radiella servomekanismen är dock ganska långsam i förhållande till att direkt analysera signalerna från skivspelarens laseravläsningshuvud. Skivspelarens radiella servomekanism är så pass långsam eftersom den huvudsakligen väntar tills några spår har lästs innan den bekräftar att den aktuella operationsmoden är spårlàst. Att vänta på skivspelarens hårdvara att bekräfta den spårlåsta operationsmoden efter ett hopp skulle således göra föreliggande kvalitetsövervakningsmetod onödigt långsam pga. spilltid när man väntar på att skivspelaren skall bekräfta den spårlåsta operationsmoden.
Närmare bestämt används enligt föreliggande utföringsform av uppfinningen den radiella felsignalen från laseravläsningshuvudet för att bestämma den aktuella 10 15 20 25 30 35 528 4-86 13 spårningsmoden, dvs. den spårlåsta operationsmoden eller ej spårlästa operationsmoden. Hos andra utföringsformer kan dock även andra avläsningssignaler, vilka är lämpade för att direkt bestämma den aktuella spårningsmoden, användas i stället för den radiella felsignalen. I de fall där den radiella felsignalen har en amplitud, dvs. ett topp-till~ 'topp-värde, eller ett absolutvärde som överstiger ett förutbestämt tröskelvärde, anger detta att den aktuella operationsmoden är ej spårlåst. I det andra fallet, dvs. när signalamplituden är lägre än det förutbestämda tröskelvärdet, fastställs att den aktuella operationsmoden är den spårlåsta operationsmoden. Tröskeln väljs så att den är lämplig. Detta illustreras mera detaljerat med hänvisning till FIG. 7. Tack vare denna omedelbara återkoppling av den aktuella operationsmoden är det nu möjligt att byta mellan de två moderna praktiskt taget utan någon tidsfördröjning. Mätsystemet som utför föreliggande metod förfogar således över ett mycket snabbt sätt att bestämma spårlåst eller ej spårlåst operationsmod .
Mätningarna inom ramen av dessa två moder kan således utföras efter varandra, varvid således den sammanlagda mättiden reduceras ännu mer. Det påpekas även att tiden för varje hopp är känd, eftersom den radiella hastigheten, accelerationen och retardationen av den aktuella hårdvaran i allmänhet kommer att vara känd. Detta betyder att en puls som anläggs på den radiella aktuatorn hos skivspelaren har en definierad längd under loppet av vilken ej spàrlàsta mätningar utförs. Kort tid efter att pulsen har avtagit förväntas att den spàrlåsta operationmoden har börjat.
Således kan den ovannämnda signalamplituden även enbart betraktas i definierade tidsfönster för att öka metodens tillförlitlighet.
Nu vänder vi oss till själva mätningarna, där mätningen antingen kan börja i den spàrlåsta operationsmoden eller i den ej spàrlàsta operationsmoden. 10 15 20 25 30 35 528 486 14 I exemplet nedan, vilket illustreras i FIG. 4, 6 och 9, antas att mätningen påbörjas i den spårlåsta operationsmoden: 1. Genom att övervaka signalen 16 från skivspelarens laseravläsningshuvud bestämmer mätsystemets spàrlåsnings- algoritm (inte skivspelarens radialservo) att spårningsmoden är spàrlåst, såsom illustreras vid 17 i FIG. 4. Så fort mätsystemet detekterar att spàrningsmoden är spårlåst, börjar mätningen av spårlåsta parametrar. 2. Mätning av spårlåsta parametrar för spår 3a utförs, med början vid Q. ' 3. När en statistiskt tillräcklig datamängd har uppmätts i den spårlåsta operationsmoden instrueras skivspelaren att byta radialposition vid t,, dvs. för att utföra ett kort hopp i radiell riktning tvärs över skivan. 4. Genom att övervaka signalerna från skivspelarens laseravläsningshuvud bestämmer mätsystemets spàrlåsnings- algoritm när skivan är i den ej spårlåsta operationsmoden, dvs. under loppet av det korta hoppet. 5. Medan skivan är i den ej spårlåsta operationsmoden utförs mätningar av ej spårlåsta parametrar fram till tz. 6. Den ovan beskrivna sekvensen från punkterna 2. till 5. upprepas sedan över en del av skivan som skall utvärderas eller över hela skivan fram tills kvalitén av denna del eller hela skivan är utvärderad.
Exempel pà parametrar som skall mätas i vart och ett av de båda spårningsmoderna ges i den bifogade bilagan, vilken är en del av denna specifikation. En kvadrantfoto- detektor 14 hos ett laseravläsningshuvud illustreras schematiskt i FIG. 5. Detektorn innefattar fyra detektionsdelar A, B, C och D, vilka oberoende av varandra mottar laserljus som har reflekterats från en optisk lagringsskiva vid utläsningen. Kvadrantfotodetektorn 14 förflyttar sig i den spårlåsta operationsmoden relativt ett spår 3, och i den ej spårlåsta operationsmoden i en 10 15 20 25 30 35 486 15 riktning vinkelrätt mot spårets tangentialriktning, nämligen i radialriktningen 12, såsom illustreras i FIG. 5.
Andra fotodetektorer kan användas hos utföringsformer som skiljer sig från den föreliggande utföringsformen.
Enligt ett praktiskt icke-begränsande exempel för en testad DVD, till fyra spår 3a (som av illustrativa skäl illustreras som ett spår) i den spårlåsta operationsmoden med startpunkt vid to, enligt steg 2, fram tills statistiskt tillräcklig data föreligger vid tl, så att man fortsätter med steg 3.
Spelaren instrueras att hoppa ca 100 spår (som illustreras som streckade linjer) i radiell riktning, dvs. ca 50-70 pm tvärs över skivan. De flesta felaktigheter i eller på skivorna är åtminstone i denna storleksordning, t.ex. ett som schematiskt illustreras i FIG. 6, läses tre dammkorn på eller i skivan. Under loppet av hoppet utvär~ deras kvalitetsparametrar i den ej spårlåsta operationsmoden (steg 5). Detta tar ca 20 millisekunder eller l-2 varv av skivan. När signalerna från skivspelarens laseravläsningshuvud vid t, indikerar att den spårlåsta operationsmoden åter har inrättats upprepas mätprocessen fram tills skivans slut har nåtts efter ca 500 hopp eller mindre än tre minuter. Denna tid kan dock ytterligare förkortas genom att exempelvis öka spelarens hastighet och/eller den radiella hastigheten hos avläsningsanordningen. Pilarna som återges i fet stil i FIG. 6 anger den ”virtuella” relativa riktningen i vilken avläsningshuvudet insamlar mätsignaler när detta förflyttar sig relativt skivan. I verkligheten roterar skivan och avläsningshuvudet förflyttas enbart i radiell riktning 12.
FIG. 7 ger en överblick över en kvalitetstestnings- apparat som utför den ovan beskrivna metoden. ningsenhet 9, 10 i form av en spindelmotor 9 och en roter- bar spindel 10 är anordnade att rotera den optiska skivan l i en riktning som anges av 11 i FIG. 3, 6 och 7, på ett sätt som är välkänt inom teknikområdet. En laseravläsnings- En skivdriv- 10 15 20 25 30 35 UW FJ CO 1186 16 enhet 20 är positionerad nära till en yta hos den optiska skivan 1 och är rörlig i en radiell riktning på den optiska skivan 1, såsom indikeras av pilen 12 i FIG. 3. Laseravläs- ningsenheten 20 verkar genom att belysa den optiska skivan 1 med en laserljusstràle, detektera reflektioner från ytan på den optiska skivan, skapa en tidsvariant mätsignal som svar pà detta och tillhandahålla denna signal, som är märkt med P - enligt engelskan Pickup som stàr för avläsning - på ritningarna. Under fortgången av den ovan beskrivna kvalitetstestningsmetoden hålls den optiska skivan 1 i rotation med hjälp av skivdrivningsenheten, dvs. spindelmotorn 9 och spindeln 10.
Såsom har omnämnts ovan innefattar laseravläsnings- enheten 20 mekaniska drivmedel 22, vilka gör det möjligt för det optiska aggregatet eller den optiska läsanordningen 21 hos laseravläsningsenheten 20 att förflytta sig radiellt längs ytan av den optiska skivan l i riktningen av pil 12 som indikeras i Fig. 3, intermittent mellan olika radiella positioner. Sådana mekaniska drivmedel 22 är dock i sig kända inom det tekniska området och det överlämnas till fackmannen att välja lämpliga mekaniska och elektriska komponenter, sàsom en elektrisk motor och en mekanisk upphängningsanordning, beroende pá den aktuella tillämpningen. I grund och botten fungerar vilken utrustning som helst, vilken är kapabel att åstadkomma att de optiska komponenterna 21 hos laseravläsningsenheten 20 förflyttas med hög precision i den önskade radiella riktningen. Vidare kan laserkällan väljas från ett antal kommersiellt tillgängliga komponenter och kan verka i ett önskat våglängdsområde, exempelvis på ca 800 nm för en CD- skiva, 650 nm för en DVD eller 405 nm för en BD.
Utsignalen P från laseravläsningsenheten 20 inne- fattar en lågfrekvens filtrerad signal som har sitt ursprung från intensitetsvariationerna i den reflekterade stràlen från en punkt som utsänds från laseravläsnings- 10 15 20 25 30 35 528 4-86 17 enheten 20 när denna förflyttas i radiell riktning över ytan och korsar spåren på den optiska skivan l. Denna signal illustreras i FIG. 8. När punkten är vid centrum av en grop 6 eller ett svagt wobbelspâr på en oinspelad inspelningsbar skiva, kommer intensiteten av den reflek~ terade strålen att vara minimal och när punkten är vid centrum av den mellanliggande plana ytan mellan angränsande gropar 6 eller spår 3 kommer intensiteten av den reflekterade strålen att vara maximal. Den (radiella) Push Pull-signalen (A+B) » (C+D) som härstammar från kvadrantfotodetektorn hos den optiska enheten 21 visas också i FIG. 8. Denna signal kallas även den radiella felsignalen, vilken används för att skilja mellan de olika operationsmoderna enligt föreliggande utföringsform.
En högfrekvent (HF) informationssignal härrör från absorptionen och reflektionen hos de verkliga groparna 6 och plana regionerna 7 i fall sådana finns i ett spår 3, annars är denna HF-informationssignal mer eller mindre obefintlig, förutom när t.ex. repor eller andra defekter finns i eller på skivan. Denna signal illustreras dock inte.
FIG. 8 är en mer detaljerad vy över de underliggande principerna för att alstra P-signalen. När den radiella manövreringsmekanísmen hos laseravläsningshuvudet 20 för- flyttar den optiska läsanordningen 21 i en radiell riktning 12 tvärs över den optiska skivans l yta är den resulterande signalen från laseravläsningsenheten 20 den alternerande signalen P (som illustreras i ett lågpassfiltrerat hölje).
Detta illustreras med pilen 54a. När man övergår till den spàrlàsta operationsmoden förflyttar sig ett spår 3 relativt längs med laseravläsningshuvudet, såsom illustre- ras med pil 54 b.
Företrädesvis samplas signalen P och konverteras till digital form med hjälp av en Analog-till-Digital omvandlare (ADC enligt engelskans Analog to Digital converter) 30 10 15 20 25 30 35 528 486 18 innan den bearbetas vidare. Genom detta förfarande ökas systemets flexibilitet eftersom den efterföljande be- handlingen av signalen kan utföras enklare i den digitala domänen, jämfört med i den analoga motsvarigheten, då nya funktioner och beräkningsalogritmer kan implementeras i den digitala domänen utan modifiering av maskinvaran.
Signalen P mottas sedan i en behandlingsenhet 40, vilken innefattar en processor 41 och ett minne 45, såsom illustreras i FIG. 7. Processorn 41 kan även vara ansluten till inmatningsenheter, såsom ett tangentbord 46 och en mus 47, såväl som till en utdataenhet, såsom en bildskärm 48.
Processorn 41 utför den ovan beskrivna kvalitetstestnings- metoden genom att utföra programinstruktioner som är lagrade i minnet 45. Således bestämmer kvalitetstestnings~ metoden ett mått för den optiska skivans 1 kvalitet i förhållande till parametrar som gensvar på mätsignalen P som erhålls med hjälp av laseravläsningshuvudet 20.
Processorn 41 kan implementeras med någon kommer- siellt tillgänglig mikroprocessor. Alternativt kan någon annan form av elektroniska logikkretsar, exempelvis en användningsspecifik integrerad krets (ASIC enligt engelskans Application Specific Integrated Circuit) eller en fältprogrammerbar grindmatris (FPGA enligt engelskans Field Programmable Gate Array) eventuellt ersätta styr- enheten 41. På motsvarande sätt kan minnet, inmatnings- anordningarna 46, 47 och utdataanordningen 48 implementeras med hjälp av kommersiellt tillgängliga komponenter och kommer inte att beskrivas vidare i detalj.
För tydlighetens skull är kvalitetstestningsmetoden som beskrivs ovan indelad i olika funktionsblock, såsom illustreras i fig. 9. Det skall emellertid påpekas att dessa block kan implementeras såväl i maskinvara som i programvara.
För att åstadkomma korrekta mätningar måste den optiska skivans 1 rotationshastighet anpassas till den 10 15 20 25 30 528 486 19 radiella positionen av den optiska läsanordningen 21. Detta är så eftersom när den optiska läsanordningen 21 förflyttar sig från skivans 1 centrum kommer groparna att förflytta sig förbi den optiska läsanordningen med en högre hastighet (den tangentiella hastigheten av groparna är proportional med radien gånger hastigheten, med vilken skivan roterar).
Eftersom förhållandet mellan den tangentiala hastigheten och den radiella positionen är känd, kan som ett alternativ behandlingsenheten 40 i efterhand kompensera för effekter, vilka uppstår vid läsningar från olika radiella positioner.
Signalen från ADC:n 30 matas till ett urvalsblock 42 där relevanta delar av informationssignalen extraheras från signalen P. Nästa block, mätblocket 43, tar emot sekvensen med relevant signalinformation från urvalsblocket 42 för att mäta signalnivåerna av den relevanta signalandelen.
Mätvärdena för den samplade informationssignalen lagras företrädesvis i minnet 45. Ett identifikationsblock 44 hos bearbetningsanordningen bestämmer signalkomponenterna som beskrivs i bilagan från signalen.
Processorn 41 i figur 7 är programmerad att utföra den ovan beskrivna kvalitetstestningsmetoden genom att läsa en uppsättning med programinstruktioner som är lagrade i minnet 45 och att exekvera programinstruktionerna sekventiellt i processorn 41. I flödesdiagrammet i figur 9 illustreras stegen som motsvarar den ovan beskrivna metoden, nämligen: Steg 60 Början av mätförfarandet.
Steg 61 Mätning av spàrlåsta parametrar.
Steg 62 Finns en statistiskt tillräcklig mängd data uppmätt i den spàrlåsta moden (dvs. är datamängden tillräcklig för att uppfylla statistiska krav, såsom en förutbestämd standardavvikelse, osv.)? Om inte, fortsätter den spårlàsta operationsmoden med steg 61. 10 15 20 25 30 35 528 486 20 Steg 64 När en tillräcklig mängd data har uppmätts i den spàrlåsta moden instruerar mätsystemet skivspelaren att utföra ett kort hopp tvärs över skivan.
Steg 66 Mätning av ej spàrlåsta parametrar påbörjas och fortsätter så länge som mätsystemet detekterar att spårningsmoden är ej spàrlàst i steg 68.
Steg 68 Genom att övervaka signalerna från skivspelarens laseravläsningshuvud kan mätsystemets spårlåsningsalgoritm bestämma när skivan är i den ej spàrlàsta moden, dvs. under loppet av det korta hoppet.
Medan skivan är i den ej spårlásta moden utförs mätningar av ej spårlåsta parametrar, varvid detta säkerställs med hjälp av förfrågningen i steg 69. Den ovan beskrivna sekvensen från stegen 62 till 69 upprepas därefter (loopas tillbaka från steg 70 till steg 61) över resten av skivan fram tills höghastighetsskanningsrutinen (eng. speed scanning routine) för utvärdering av hela skivans kvalitet slutar med steg 72. Alternativt kan enbart utvalda delar hos en skiva mätas i stället för hela skivan.
Om signalerna inte uppfyller vissa kvalitetskrav från skivtillverkaren, kan behandlingsenheten 40 generera ett larm eller tillhandahålla någon annan sorts utdata via exempelvis bildskärmen 48. Alternativt kan behandlings- enheten 40 enkelt logga samtliga detekterade fel och annan utmatningsdata, exempelvis på en hårddisk, för senare fristående användning.
Tillämpningar av de ovan beskrivna utföringsformerna för en metod enligt uppfinningen är många och innefattar sådana områden som tillverkning av förmastrade eller blanka inspelningsbara optiska lagringsskivor. Den föreliggande uppfinningen har beskrivits ovan med hänvisning till en särskild utföringsform. Dock kan även andra utföringsformer än den ovan föredragna vara möjliga inom ramen av de bi- fogade kraven, t.ex. olika skivformat, radiella hopplängder och riktningar, avläsningsprinciper osv. än de ovan be- 10 15 20 25 30 528 486 21 skrivna, att utföra den ovan beskrivna metoden i maskinvara eller programvara, osv.
Såsom har nämnts ovan är en skiva inom ramen av föreliggande specifikation t.ex. en CD, DVD, BD eller allmänt en optisk skiva. En skivspelare är följaktligen en spelare som kan läsa en sådan skiva. Även om den ovanstående beskrivningen har hänvisat till en optisk skiva som har ett enda kontinuerlig spiral- format mönster med gropar och plana områden, vilka i huvud- sak skapar ett stort antal koncentriska sammanbundna spår, skall det framhållas att den föreliggande uppfinningen även kan användas för andra optiska medier som inte innehåller ett enda spiralformat mönster utan ett flertal icke- förbundna cirkulära eller ringformiga informationsspàr.
Det skall även påpekas att kvalitetstestningsmetoden enligt uppfinningen kan utformas som en datorprogram- produkt, vilken lagras i en datorläsbar form på ett lämpligt lagringsmedium (såsom en optisk eller magnetoptisk skiva, en magnetisk hårddisk, ett elektroniskt minne) och/eller överförs som optiska, elektriska eller elektro- magnetiska signaler över ett datornätverk, och vilken innehåller ett flertal programinstruktioner som, när dessa läses och exekveras av en dator, kommer att utföra metoden enligt uppfinningen.
Vidare utesluter begreppet ”innefattar” när denna används inom ramen för föreliggande specifikation, inte andra element eller steg, och begreppet ”en” eller ”ett” utesluter inte ett flertal och en enda processor eller andra enheter kan uppfylla funktioner av flera av enheterna eller kretsarna som omnämns i kraven. 10 15 20 25 30 35 528 486 22 BILAGA Kvadrantfotodetektorn Olika sorters kombinationer av utmatningssignalerna A, B, C och D från de fyra detekterande delarna, såsom visas i figur 5, resulterar i ett antal olika parametrar, av vilka de mest viktiga anges nedan såväl för den spàrlåsta operationsmoden som för den ej spårlåsta operationsmoden, såsom har förklarats i specifikationen ovan.
A) Spårlåat sätt HF parametrar, (A+B+C+D) R14h R14h är samma som I14H (se nedan), förutom att denna uttrycks som reflektans i procent. Rl4H är toppvärdet av den lägsta frekvensen.
I14/114H Förhållandet mellan topp-till-topp-värdet av I14 grop/land och I14H. Detta är ett mått för gropdefinítionen, dvs. hur mycket interferens groparna orsakar. Denna parameter hänvisas ibland som I14-modulering.
I3/I14 Förhållandet mellan topp-till-topp-värdet av det kortaste grop/land (I3) värdet och topp-till-topp~värdet av det längsta grop/land (I14) värdet på skivan. Detta ger ett mått för hur bra I3-groparna är utformade i förhållande till I14. Eftersom I3 representerar en viktig signalbärare är det mycket viktigt att ha en stor I3-signal (ungefär 30% av samtliga gropar är I3).
ASYM Asymmetri. Symmetri av HF-signalen. Detta mått anger om I3 och I14 har olika offset i HF-signalen. En skivspelare kan hantera en viss symmetrimängd i HF-signalen innan digitala fel uppstår.
DC Jitter 10 15 20 25 30 35 528 486 23 Jitter, data till klocka. Mått för standardavvikelsen av tiden mellan samtliga dataflanker (gropar och land kombinerade) jämfört med referensklockans flank.
Presenteras som en procentsats av systemets referensklockperiod.
Rb Spàrets (eng. groove) reflektans före inspelning.
Ljusmängden som reflekteras tillbaka till detektorn från spåret före inspelning. Ett lågt värde kan ange ett för tunt reflekterande skikt.
Digitala fel, utmatningar som härstamar från detektorn PIE Inre Paritetsfel (eng. Parity Inner Error). Detta är antalet felkorrigeringar som har gjorts i den första omgången av dekodern när denna använder den inre paritetskorrigeringskoden. Inkomande datarader korrigeras.
PIE mäts över 1 ECC block. Maximalt ett PIE per rad.
PIF Inre okorrigerbart Paritetsfel (eng. Parity Inner Fail). Detta är antalet okorrigerbara fel som har uppstått under den första omgången. PIF uppmäts över 1 ECC-block.
Maximalt ett PIF per rad.
Radiell Push Pull (A+B)-(C+D) Rad 1 b, Rad l a Tillåten kvarstående felsignal under 1,1 kHz som uppmätta genom att använda referensservon för radiell spårlåsning. En ökad signalnivà kan ange en fysisk radiell spàravvikelse (t.ex. vibrationer under loppet av mastertillverkningen, bulor i stämpeln eller en utsliten stämpel). Denna parameter mäts före och efter inspelningen.
Rad2b, Rad2a Tillåtet r.m.s. brusvärde hos den kvarstående felsignalen i ett frekvensband mellan 1,1 och 10 kHz. En ökad signalnivà skulle kunna ange en fysisk radiell 10 15 20 25 30 35 528 486 24 spàravvikelse (t.ex vibrationer under tillverkning av mastern, bulor i stämpeln eller en utsliten stämpel). Denna parameter mäts före och efter inspelningen.
WOSNRb, WOSNRa, WOCNRb, WOCNRa, Wobbelbärare till brusförhàllande före och efter inspelning (efter engelskans Wobble Carrier to Noise Ratio before and after recording). Bärare till brusförhàllande av spàrets wobbelsignal före inspelningen. Parametern uppmäts för att kontrollera att wobbelbärsignalen är tillräckligt ren för att styra skivans spindelhastighet. Denna parameter uppmäts när drivanordningen använder sig av Push Pull- spàrning.
ADERb ADIP Felkvot före inspelningen. ADERb är inte specificerat, utan uppmäts enlig Philips rekommendationer.
ADet mäter det maximala antalet ADIP-block med ett fel över 8 ECC-block. Eftersom varje ECC-block består av fyra ADIP- block är det maximala värdet 32. Enbart för +R/RW.
WOBeat Wobbelinterferens (eng. wobble beat). Förhållandet mellan den maximala och den minimala wobbelamplituden.
Förändringen i wobbelamplituden är en effekt av positiv eller negativ interferens med wobbelsignalen hos de angränsande spåren. Om värdet är för högt kommer spelaren att se en wobbelsignal som varierar för mycket (för mycket interferens från angränsande spår). Enbart för +R/RW skivor.
NWO Normaliserad wobbelsignal. Normaliserad wobbelamplitud ger ett mått på spàrets wobbelamplitud i nm, uppmätt före inspelningen. Parametern används för att erhålla en signal som är oberoende av spelaren som anger wobbelamplituden. NWO beräknas från Rpp-amplituden i öppen slinga, vilken uppmäts i mitten av området över vilket mätningen sker. Ifall PPb varierar över skivan och 10 15 20 25 30 528 486 25 mätområdet är för stort kommer NWO att visa felaktiga värden långt från mätomràdets mitt. Istället för att mäta ett stort område är det därför bättre att mäta enbart nâgra små områden.
PWP Wobbelfasen i förhållande till pre-pit (eng. Phase Wobble pre-pit). Fasdifferensen mellan pre-pit och wobbel- nollgenomgång i grader. Denna parameter uppmäts för att säkerställa att land pre-pits är lokaliserade på wobbel- signalens botten.
LPPb Landnivà till pre-pit innan inspelning (eng. Land Pre Pit Level before recording). Land Pre-pitsen är placerade mellan spår för att ge information beträffande den aktuella positionen. LPPb är amplituden på pre-piten, uppmätt från wobbelsignalens nollgenomgång, innan inspelningen (dvs. styrkan av pre-pitsignalen). Land Pre-pitsen används för att avkoda en sektorposition och ge information till inspelaranordningen (skrivstrategikoder, optimala inspelningseffekter, applikationskoder osv).
BLERb Blockfelkvot före inspelning (Block Error Rate before recording). Antalet fel i pre-pitsignalen innan inspelning.
Parametern uppmäts för att bestämma BLER-värdet. Ett lågt BLER-värde säkerställer att spelaren kan hitta den korrekta positionen. Uppmätt som ett flytande fönster över 1000 ECC- block (ungefär 24 sekunder). BLER är alltid normaliserat som om det vore 1000 ECC-block. Detta betyder att värdet kommer att vara ogiltigt, dvs. för lågt under loppet av de första 1000 ECC-blocken (första 24 sekunder) och finns enbart tillgängligt för att möjliggöra detektering av ett problem i en tidig fas.
Fokusfel, (A+B)-(B+C) FEb, FEa 10 15 20 25 30 528 486 26 Fokusfel. Ett mått på det kvarstående vertikala felet under 10 kHz. Parametern uppmäts före och efter inspelning.
Tangantial Push Pull, (Aåß)-(B+C) TPP Tangential Push Pull (Push Pull vid avspelning). Push Pull i den tangentiella riktningen (längs med spåren). Ett mått pà den optiska skärpan av de inledande och efterföljande gropkanterna, så som optiken ser dem.
B) Signalparametra: i den ej spàrlåsta oparationsmøden HF-parametrar (A+B+C+D) TCSb, TCSa Spårövergångssignal (eng. Track Crossing Signal) anger hur mycket den sammanlagda intensiteten varierar i frekvensområdet under 10 kHz, när man korsar spåren.
Parametern uppmäts före och efter inspelning.
Radiell Push-Pull (Aæß)-(C+D) PPb, PPA Push Pull före och efter inspelning. Topp-till- toppvärdet av Rpp-signalen som uppmäts över spårövergångar före och efter inspelningen. Parametern uppmäts för att bestämma om spårningssignalen är tillräckligt bra för spàrlàsning. För att säkerställa vissa spårlåsnings- egenskaper bör signalen hållas inom de specificerade gränserna.
Differentiell Fasdetektering, fas (A+B)-fas (3+C) DPD Amp DPD-Amplitud. Differentiell fasdetektionsamplitud. En signal under 30 kHz som anger spårlåsningsegenskaperna hos en inspelad eller förmastrad optisk skiva. För att säkerställa vissa spårlàsningsegenskaper bör signalen hållas inom de specificerade gränserna. 0215 Asym 528 486 27 DPD Asymmetri. Differentiell fasdetekttionsasymmetri.
Parametern anger asymmetrin i DPD-spårningssignalen som skulle kunna resultera i en oönskad spårningsoffset.

Claims (12)

10 15 20 25 30 35 528 486 28 PATENTKREV
1. Metod för kvalitetstestning av en optisk Skiva (1) av den typen som lagrar optiskt läsbar information i form av ett spiralformat eller ringformigt mönster (2), vilket definierar ett flertal i huvudsak koncentriska spår (3), kännetecknad av följande stegen: att försätta nämnda skiva (1) i rotation för att på optiskt sätt utläsa nämnda skiva (1) i olika operationsmoder med hjälp av en skivspelare som har en utläsningsanordning för nämnda skiva (1) och att intermittent alternera följande steg för kvali- tetstestning av nämnda skiva (1): a) att åtminstone delvis utläsa ett första spår av nämnda spiralformiga eller ringformiga mönster (2) i en spàrlást operationsmod av nämnda utläsningsanordning för att bestämma spàrlåsta kvalitetsparametrar, och b) att utföra ett hopp i radiell riktning av nämnda skiva (2) och att samtidigt analysera nämnda skiva (1) i en ej spårlåst mätningsoperationsmod under loppet av hoppet för att bestämma ej spårlåsta kvalitetsparametrar.
2. Metod enligt krav 1, varvid stegen a) och b) upprepas fram tills den sammanlagda kvaliteten av den optiska skivan (1) är testad, med början från skivans (1) innersta spår till skivans (1) yttersta spår eller omvänt.
3. Metod enligt krav 1 eller 2, vilken innefattar att bestämma den aktuella operationsmoden från en signal (P) som direkt erhålls från nämnda utläsningsanordning (21, 14) under loppet av utläsningen.
4. Metod enligt krav 3, som innefattar att analysera signalamplituden av nämnda signal (P) för att bestämma nämnda aktuella operationsmod.
5. Metod enligt krav 4, som innefattar att bestämma att den aktuella operationsmoden är den spärlåsta operationsmoden i fall signalamplituden är under en förutbestämd tröskel av nämnda signal, och 10 15 20 25 30 35 528 4-86 29 att bestämma att den aktuella operationsmoden är den ej spàrlåsta operationsmoden i fall nämnda signalamplitud överskrider nämnda förutbestämda tröskel.
6. Metod enligt kraven 1 till 5, varvid nämnda signal är den radiella felsignalen (PP).
7. Metod enligt något av de föregående kraven, som innefattar att instruera skivspelaren att utföra hoppet i steg b) när en statistiskt tillräcklig datamängd för en förutbestämd kvalitetsnivå har uppmätts i den spårlåsta moden i steg a).
8. Metod enligt något av kraven 1-6, varvid nämnda hopp utförs över ett radiellt avstånd hos nämnda skiva (1) som inte överskrider den förut definierade storleken av den minsta defekten i eller på nämnda skiva (1) som skall detekteras under loppet av nämnda kvalitetstestning.
9. Metod enligt något av de föregående kraven, varvid nämnda hopp utförs över åtminstone ett andra spår som angränsar till nämnda första spår på nämnda skiva (2). 10, Dataläsbart medium som därpå har utformat en datorprogramprodukt som direkt kan laddas i ett internt minne (45) som är förbunden med en processor (41), varvid nämnda processor är operativtkopplad till en optisk läs- anordning (21) och en drivningsmekanism (22) som är an- passad att förflytta den optiska läsanordningen (21) radiellt över åtminstone en del av ytan hos en skiva (1), varvid nämnda skiva är av den typen som lagrar optiskt läs- bar information i form av ett spiralformat eller ringformigt mönster (2), vilket definierar ett flertal i huvudsak koncentriska spår (3), för att alstra en mät- signal, varvid datorprogrammet innefattar kodsegment för att utföra metoden enligt kravet 1 när denna ekekveras av nämnda processor, varvid nämnda kodsegment är ett första kodsegment för att försätta nämnda optiska skiva (1) i rotation för att på optiskt sätt utläsa
10. 15 20 25 30 528 486 30 nämnda skiva (1) i olika operationsmoder med hjälp av en skivspelare som har en utläsningsanordning för nämnda skiva (1), och varvid för kvalitetstestning av nämnda skiva (l) det andra och det tredje kodsegmentet intermittent alterneras för a) att åtminstone delvis utläsa åtminstone ett första spår av nämnda spiralformiga eller ringformiga mönster (2) i en spårlåst operationsmodav nämnda utläsningsanordning för att bestämma spàrlàsta kvalitetsparametrar, och b) att utföra ett hopp i radiell riktning av nämnda skiva (2) och samtidigt analysera nämnda skiva (1) i en ej spàrlåst operationsmod under loppet av nämnda hopp för att bestämma ej spårlàsta kvalitetsparametrar.
11. Metod för kvalitetstestning av en optisk skiva (l) av den typen som lagrar optiskt läsbar information i form av ett spiralformat eller ringformat mönster (2), vilket definierar ett flertal i huvudsak koncentriska spår (3), kännetecknad av följande steg: att bestämma en aktuell operationsmod från en signal som direkt härleds från en bestämd utläsningsanordning under loppet av nämnda optiska skivas (1) utläsning, varvid den aktuella operationsmoden bestäms vara den spår- låsta operationsmoden i fall amplituden av nämnda signal är under en förutbestämd tröskel, och varvid den aktuella operationsmoden bestäms vara den ej spårlâsta operationsmoden i fall nämnda signalamplitud överskrider nämnda förutbestämda tröskel.
12. Användning av en i sig känd skivspelare för att utföra metoderna enligt kraven 1-ll.
SE0401318A 2004-05-24 2004-05-24 Kvalitetstestningsmetod för optiska databärare SE528486C2 (sv)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0401318A SE528486C2 (sv) 2004-05-24 2004-05-24 Kvalitetstestningsmetod för optiska databärare
TW094116550A TW200540815A (en) 2004-05-24 2005-05-20 A quality testing method for optical data carriers
CNB2005800165342A CN100437764C (zh) 2004-05-24 2005-05-20 光学数据载体的质量测试方法
EP05744913A EP1751748A1 (en) 2004-05-24 2005-05-20 A quality testing method for optical data carriers
KR1020067024002A KR20070039875A (ko) 2004-05-24 2005-05-20 광 데이터 캐리어의 품질 테스트 방법
US11/596,716 US20080089200A1 (en) 2004-05-24 2005-05-20 Quality Testing Method for Optical Data Carriers
PCT/SE2005/000746 WO2005114659A1 (en) 2004-05-24 2005-05-20 A quality testing method for optical data carriers
JP2007514977A JP2008500674A (ja) 2004-05-24 2005-05-20 光学的データ担体用の品質検査方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0401318A SE528486C2 (sv) 2004-05-24 2004-05-24 Kvalitetstestningsmetod för optiska databärare

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE0401318D0 SE0401318D0 (sv) 2004-05-24
SE0401318L SE0401318L (sv) 2005-11-25
SE528486C2 true SE528486C2 (sv) 2006-11-28

Family

ID=32589778

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE0401318A SE528486C2 (sv) 2004-05-24 2004-05-24 Kvalitetstestningsmetod för optiska databärare

Country Status (8)

Country Link
US (1) US20080089200A1 (sv)
EP (1) EP1751748A1 (sv)
JP (1) JP2008500674A (sv)
KR (1) KR20070039875A (sv)
CN (1) CN100437764C (sv)
SE (1) SE528486C2 (sv)
TW (1) TW200540815A (sv)
WO (1) WO2005114659A1 (sv)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2461324A1 (en) * 2007-02-14 2012-06-06 Panasonic Corporation Optical disc device
EP2091043A1 (en) * 2008-02-07 2009-08-19 DPHI, Inc. A method for examining an optical stamper
US20100067338A1 (en) * 2008-09-15 2010-03-18 Lite-On It Corporation Method of Determining the Quality of Data on an Optical Disc
JP5479236B2 (ja) * 2010-06-15 2014-04-23 キヤノン株式会社 ロータリーエンコーダ
CN103033129B (zh) * 2011-10-07 2015-10-21 财团法人工业技术研究院 光学设备及光学定址方法
JP2013097821A (ja) * 2011-10-28 2013-05-20 Hitachi-Lg Data Storage Inc 情報記録再生装置および情報記録再生方法
US9851225B2 (en) * 2015-05-06 2017-12-26 Rockwell Automation Technologies, Inc. Nonvolatile multitum rotation sensor with magnetic particle following a spiral track

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61977A (ja) * 1984-06-13 1986-01-06 Pioneer Electronic Corp トラツキングサ−ボ装置
JPH0740363B2 (ja) * 1985-03-20 1995-05-01 株式会社日立製作所 光学的記録再生装置
JPS63153455A (ja) * 1986-12-18 1988-06-25 Yokogawa Electric Corp 光デイスクテストシステム
US4814903A (en) * 1987-06-29 1989-03-21 International Business Machines Corporation Alternate storage areas in magnetooptical media
WO1989002150A1 (en) * 1987-08-29 1989-03-09 Fujitsu Limited Methods of accessing an optical recording track
JPH0648542B2 (ja) * 1988-06-17 1994-06-22 パイオニア株式会社 トラッキングサーボ装置
JPH04265573A (ja) * 1991-02-19 1992-09-21 Taiyo Yuden Co Ltd 情報記録媒体の検査方法
EP0564916B1 (en) * 1992-04-10 2001-07-25 Wea Manufacturing Inc. Compact disc analyzer system
JPH06251392A (ja) * 1993-02-24 1994-09-09 Ricoh Co Ltd 光情報記録媒体の欠陥検査方法及び欠陥検査装置
JP3447956B2 (ja) * 1998-05-21 2003-09-16 富士通株式会社 光学的記憶装置
JP4258058B2 (ja) * 1999-03-23 2009-04-30 ソニー株式会社 円盤状記録媒体の検査装置及び検査方法
JP2002025081A (ja) * 2000-07-04 2002-01-25 Teac Corp 光ディスク装置
GB0029120D0 (en) * 2000-11-29 2001-01-10 Lsi Logic Europ Ltd Apparatus and method of interrupt detection in an optical disc environment
JP3946470B2 (ja) * 2001-03-12 2007-07-18 株式会社デンソー 半導体層の膜厚測定方法及び半導体基板の製造方法
SE523284C2 (sv) * 2001-10-25 2004-04-06 Audiodev Ab Metod och apparat för kvalitetstestning

Also Published As

Publication number Publication date
SE0401318L (sv) 2005-11-25
JP2008500674A (ja) 2008-01-10
CN100437764C (zh) 2008-11-26
KR20070039875A (ko) 2007-04-13
WO2005114659A1 (en) 2005-12-01
SE0401318D0 (sv) 2004-05-24
EP1751748A1 (en) 2007-02-14
TW200540815A (en) 2005-12-16
US20080089200A1 (en) 2008-04-17
CN1957401A (zh) 2007-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2000023990A1 (fr) Support d'enregistrement d'information optique, procede et appareil d'enregistrement et de reproduction
US8379505B2 (en) Super-resolution optical recording medium on which information is recorded using train of prepits, optical recording medium reproduction device, and control method
WO2003094155A1 (fr) Disque d'enregistrement, et dispositif et procede de reproduction d'informations d'enregistrement
US20080089200A1 (en) Quality Testing Method for Optical Data Carriers
CN1750133A (zh) 制造高到低和低到高反射比型光盘介质的方法
JPH10198972A (ja) 多層構造光ディスク媒体記録再生装置および光ディスク媒体
US20060114803A1 (en) Information storage medium, stamper, disc apparatus, and management information playback method
US7286458B2 (en) Quality-testing apparatus and method
JP3780866B2 (ja) 光ディスク記録方法
EP1705648B1 (en) Focus servo control method in optical disc device
JP2002334448A (ja) 多層ディスクメモリ
US7969855B2 (en) Read-only optical disc medium and method of fabricating the same
JPH1011766A (ja) 円盤状光記録媒体記録再生装置および円盤状光記録媒体
RU2482555C2 (ru) Способ проверки оптического носителя записи информации, устройство проверки, оптический носитель записи информации и способ записи
EP1607975A1 (en) Information recording medium, reproduction method, reproduction apparatus and manufacturing apparatus thereof
JP2005317057A (ja) 光ディスク及び光ディスク記録再生装置
JPH11316952A (ja) 光ディスクの品質検査装置及びその品質検査方法
US20040081048A1 (en) Local track pitch measuring apparatus and method
JP3938678B2 (ja) 光ディスク装置
JP2009170022A (ja) 光ピックアップ装置の検査方法および光ピックアップ装置
US8369196B1 (en) BCA recording on optical recording medium
JP2005518617A (ja) ローカルトラックのピッチを測定する装置及び方法
JP2002100049A (ja) 光ディスク及び光ディスク原盤作製方法
JP2000322743A (ja) 光ディスクのクロストークの測定方法及び測定装置
JP2000090450A (ja) フォーカスバイアス設定装置

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed