KR20040104357A - 전기 광학 장치, 전기 광학 장치의 구동 방법 및 전자 기기 - Google Patents

전기 광학 장치, 전기 광학 장치의 구동 방법 및 전자 기기 Download PDF

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KR20040104357A
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Abstract

본 발명은 복수의 외란 요소에 대응한 보정 처리를 행함으로써, 표시 품질의 안정화를 도모하는 것을 과제로 한다.
계조 특성 생성부(9)는 보정 요소 ΔDlx 및 ΔDtl이 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터(D)로부터 이 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 변환 데이터(Dcvt)를 생성한다. 데이터선 구동 회로(4)는 계조 특성 생성부(9)와는 다른 종류의 처리를 이용하여, 보정 요소 ΔDta, ΔDd, ΔDmura에 의해 변환 데이터(Dcvt)의 계조 특성을 보정한 후에, 화소(2)를 구동한다.

Description

전기 광학 장치, 전기 광학 장치의 구동 방법 및 전자 기기{ELECTRO-OPTICAL DEVICE, METHOD OF DRIVING ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS}
본 발명은 전기 광학 장치, 전기 광학 장치의 구동 방법 및 전자 기기에 관한 것이며, 특히 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터의 보정 처리에 관한 것이다.
종래부터, 외란(外亂) 요소에 기인한 표시 품질의 저하를 억제하기 위해, 보정 기능을 구비한 전기 광학 장치가 알려져 있다. 예를 들면, 일본국 특개2002-175046호 공보에는, 표시 패널 내에 설치된 복수의 온도 센서에 의해 유기 EL 소자의 발열에 따른 온도 변동을 검출하고, 이것에 따라 표시 패널의 구동 보정을 행하는 기술이 개시되어 있다.
그런데, 표시 품질에 영향을 미치는 외란 요소로서는, 상술한 온도 요소 이외에도 다양한 것이 있다. 예를 들면, 전기 광학 장치의 사용 시에서의 주위 조도, 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 시간 경과 열화, 또는 표시 패널의 제조 편차 등에 기인한 표시 불균일 등이다.
그래서, 본 발명의 목적은 복수의 외란 요소에 대응한 보정 처리를 행함으로써, 표시 품질의 안정화를 도모하는 것이다.
또한, 본 발명의 다른 목적은 이러한 보정 처리의 고속화를 도모하는 것이다.
도 1은 전기 광학 장치의 블록 구성도.
도 2는 화소의 회로도.
도 3은 화소의 구동 타이밍차트.
도 4는 데이터선 구동 회로의 구성도.
도 5는 주위 온도 Ta와 주위 온도 변동 ΔDta의 관계를 나타내는 특성도.
도 6은 발열(發熱) 온도 Tl과 자기(自己) 발열 온도 변동 ΔDtl의 관계를 나타내는 특성도.
도 7은 주위 조도(照度) Lx와 주위 조도 변동 ΔDlx의 관계를 나타내는 특성도.
도 8은 열화(劣化) 정도 d와 열화 변동 ΔDd의 관계를 나타내는 특성도.
도 9는 불균일 정도 mura와 표시 불균일 ΔDmura의 관계를 나타내는 특성도.
도 10은 계조 특성 생성부의 구성도.
도 11은 변환 테이블의 설명도.
도 12는 변환 데이터의 계조 특성도.
도 13은 유기 EL 소자의 발열에 따른 계조 저하의 설명도.
도 14는 제 1 실시예에 따른 전류 DAC의 구성도.
도 15는 변환 데이터와 보정 데이터의 관계를 나타내는 도면.
도 16은 계조 보정부에서의 데이터 보정의 특성도.
도 17은 제 1 실시예의 개략적인 특징의 설명도.
도 18은 제 2 실시예에 따른 전류 DAC의 구성도.
도 19는 제 2 실시예의 개략적인 특징의 설명도.
도 20은 제 3 실시예의 개략적인 특징의 설명도.
도 21은 제 3 실시예에 따른 화소의 구동 타이밍차트.
도 22는 제 3 실시예에 따른 화소의 구동 타이밍차트.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
1 : 표시부
2 : 화소
3 : 주사선 구동 회로
4 : 데이터선 구동 회로
5 : 조도(照度) 검출부
6 : 온도 검출부
7 : 열화(劣化) 정도 검출부
8 : 연산부
9 : 계조 특성 생성부
10 : 구동 기간 제어부
40 : X 시프트 레지스터
41 : 회로 유닛
42, 44 : 스위치 그룹
43 : 제 1 래치(latch) 회로
45 : 제 2 래치 회로
46 : 전류 DAC
46a : 데이터 신호 생성부
46b : 보정값 생성부
46c : 계조 보정부
46d : 구동 전압 보정부
OLED : 유기 EL 소자
T1∼T4 : 트랜지스터
SW : 스위칭 트랜지스터
DR, DR2 : 구동 트랜지스터
C : 커패시터
이러한 과제를 해결하기 위해, 제 1 발명은 입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술(記述)되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술(記述) 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터로부터 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 변환 데이터를 생성하는 계조 특성 생성부와, 계조 특성 생성부와는 다른 종류의 처리를 이용하여, 제 1 보정 요소와는 다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의해 변환 데이터의 계조 특성을 보정한 후에, 화소를 구동하는 화소 구동부를 갖는 전기 광학 장치를 제공한다.
여기서, 제 1 발명에 있어서, 화소 구동부는 계조 특성 생성부에서의 표시 데이터의 계조 특성 변형보다도 미세한 레벨로 변환 데이터의 계조 특성을 보정하는 것이 바람직하다.
제 2 발명은 입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터의 계조 특성을 대략 조정한 변환 데이터를 생성하는 계조 특성 생성부와, 제 1 보정 요소와는 다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의거하여 대략 조정보다도 미세한 레벨로 변환 데이터의 계조 특성을 미세 조정한 후에, 화소를 구동하는 화소 구동부를 갖는 전기 광학 장치를 제공한다.
여기서, 제 1 또는 제 2 발명에 있어서, 계조 특성 생성부는 기술 내용이 서로 다른 복수의 변환 테이블을 갖고, 제 1 보정 요소에 따라 복수의 변환 테이블 중 어느 하나를 참조 대상으로서 선택하는 것이 바람직하다.
제 1 또는 제 2 발명에 있어서, 화소 구동부는 제 2 보정 요소에 의거하여 변환 데이터를 보정함으로써 보정 데이터를 생성하는 계조 보정부와, 보정 데이터에 의거하여 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 데이터 신호 생성부를 포함하고 있을 수도 있다. 이 경우, 계조 보정부는 변환 데이터와 제 2 보정 요소의논리 연산에 의해 보정 데이터를 생성하는 것이 바람직하다. 또한, 다른 구성으로서, 화소 구동부는 변환 데이터에 의거하여 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 데이터 신호 생성부를 포함하고, 데이터 신호 생성부는 제 2 보정 요소에 의거하여 데이터 신호를 아날로그 보정할 수도 있다. 또한, 다른 구성으로서, 화소 구동부는 변환 데이터에 의거하여 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 데이터 신호 생성부와, 제 2 보정 요소에 의거하여 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 휘도 설정이 실행되는 구동 기간을 가변(可變)으로 제어하는 구동 기간 제어부를 포함하고 있을 수도 있다. 이러한 구성에 있어서, 화소가 자기(自己)를 흐르는 전류에 의해 휘도가 설정되는 전기 광학 소자를 포함할 경우, 데이터 신호 생성부는 데이터 신호를 전류 베이스로 생성하는 것이 바람직하다.
제 1 또는 제 2 발명에 있어서, 제 1 보정 요소는 전기 광학 장치의 주위 조도 변동, 및 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기(自己) 발열 온도 변동 중의 적어도 하나를 포함하는 것이 바람직하다. 이 경우, 전기 광학 장치의 주위 조도를 검출하는 조도 검출부를 더 설치하여, 조도 검출부에 의해 검출된 주위 조도에 의거하여 주위 조도 변동을 산출(算出)할 수도 있다.
제 1 또는 제 2 발명에 있어서, 제 2 보정 요소는 전기 광학 장치의 주위 온도 변동, 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화 변동, 및 화소가 매트릭스 형상으로 나열된 표시부의 표시 불균일 중의 적어도 하나를 포함하는 것이 바람직하다. 이 경우, 전기 광학 장치의 주위 온도를 검출하는 온도 검출부를 더 설치하여, 온도 검출부에 의해 검출된 주위 온도에 의거하여 주위 온도 변동을 산출할 수도 있다. 또한, 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화 정도를 검출하는 열화 정도 검출부를 더 설치하여, 열화 정도 검출부에 의해 검출된 열화 정도에 의거하여 열화 변동을 산출할 수도 있다. 또한, 제 2 보정 요소가 복수 존재하는 경우에 있어서, 화소 구동부는 복수의 제 2 보정 요소에 의거하여 보정값을 산출하는 보정값 생성부를 포함하는 동시에, 보정값 생성부에 의해 산출된 보정값에 의거하여 화소의 구동을 행하는 것이 바람직하다. 이 보정값 생성부는 복수의 제 2 보정 요소의 논리 연산에 의해 보정값을 산출하는 것이 바람직하다.
제 3 발명은 입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기 발열 온도 변동이 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터로부터 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 변환 데이터를 생성하는 계조 특성 생성부와, 변환 데이터에 의거하여 화소를 구동하는 화소 구동부를 갖는 전기 광학 장치를 제공한다.
제 4 발명은 상술한 제 1 내지 제 3 발명 중 어느 하나에 따른 전기 광학 장치를 실장한 전자 기기를 제공한다.
제 5 발명은 입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터로부터 이 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 변환 데이터를 생성하는 제 1 스텝과, 제 1 스텝과는 다른 종류의 처리를 이용하여, 제 1 보정 요소와는 다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의해 변환 데이터의 계조 특성을 보정한 후에, 화소를 구동하는 제 2 스텝을 갖는 전기 광학 장치의 구동 방법을 제공한다.
여기서, 제 5 발명에 있어서, 제 2 스텝은 제 1 스텝에서의 표시 데이터의 계조 특성 변형보다도 미세한 레벨로 변환 데이터의 계조 특성을 보정하는 스텝을 포함하는 것이 바람직하다.
제 6 발명은 입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터의 계조 특성을 대략 조정한 변환 데이터를 생성하는 제 1 스텝과, 제 1 보정 요소와는 다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의거하여 대략 조정보다도 미세한 레벨로 변환 데이터의 계조 특성을 미세 조정한 후에, 화소를 구동하는 제 2 스텝을 갖는 전기 광학 장치의 구동 방법을 제공한다.
여기서, 제 5 또는 제 6 발명에 있어서, 제 1 스텝은 기술 내용이 서로 다른 복수의 변환 테이블 중, 제 1 보정 요소에 따라, 어느 하나를 참조 대상으로서 선택하는 스텝을 포함하는 것이 바람직하다.
제 5 또는 제 6 발명에 있어서, 제 2 스텝은 제 2 보정 요소에 의거하여 변환 데이터를 보정함으로써 보정 데이터를 생성하는 스텝과, 보정 데이터에 의거하여 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 스텝을 포함하는 것이 바람직하다. 여기서, 보정 데이터를 생성하는 스텝은, 변환 데이터와 제 2 보정 요소의 논리 연산에 의해 보정 데이터를 생성하는 스텝일 수도 있다. 또한, 이것 대신에, 변환데이터에 의거하여 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 동시에, 제 2 보정 요소에 의거하여 데이터 신호를 아날로그 보정하는 스텝일 수도 있다. 또한, 이들 대신에, 변환 데이터에 의거하여 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 스텝과, 제 2 보정 요소에 의거하여 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 휘도 설정이 실행되는 구동 기간을 가변으로 제어하는 스텝을 포함하는 스텝일 수도 있다. 또한, 화소가 자기를 흐르는 전류에 의해 휘도가 설정되는 전기 광학 소자를 포함할 경우, 데이터 신호를 생성하는 스텝은 데이터 신호를 전류 베이스로 생성하는 스텝인 것이 바람직하다.
제 5 또는 제 6 발명에 있어서, 제 1 보정 요소는 전기 광학 장치의 주위 조도 변동, 및 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기 발열 온도 변동 중의 적어도 하나를 포함하는 것이 바람직하다. 이 경우, 주위 조도 변동은 조도 검출부에 의해 검출된 전기 광학 장치의 주위 조도에 의거하여 산출되는 것이 바람직하다.
제 5 또는 제 6 발명에 있어서, 제 2 보정 요소는 전기 광학 장치의 주위 온도 변동, 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화 변동, 및 화소가 매트릭스 형상으로 나열된 표시부의 표시 불균일 중의 적어도 하나를 포함하는 것이 바람직하다. 이 경우, 주위 온도 변동은 온도 검출부에 의해 검출된 전기 광학 장치의 주위 온도에 의거하여 산출할 수도 있다. 또한, 열화 변동은 열화 정도 검출부에 의해 검출된 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화 정도에 의거하여 산출할 수도 있다. 또한, 제 2 보정 요소가 복수 존재하는 경우에 있어서, 제 2 스텝은 복수의 제 2 보정 요소에 의거하여 보정값을 산출하는 스텝과, 보정값에 의거하여 화소의 구동을 행하는 스텝을 포함하는 것이 바람직하다. 이 경우, 보정값을 산출하는 스텝은 복수의 제 2 보정 요소의 논리 연산에 의해 보정값을 산출하는 스텝일 수도 있다.
제 7 발명은 입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기 발열 온도 변동이 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 표시 데이터로부터 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 변환 데이터를 생성하는 제 1 스텝과, 변환 데이터에 의거하여 화소를 구동하는 제 2 스텝을 갖는 전기 광학 장치의 구동 방법을 제공한다.
(제 1 실시예)
도 1은 본 실시예에 따른 전기 광학 장치의 블록 구성도이다. 표시부(1)는, 예를 들어, TFT 등의 구동 소자에 의해 전기 광학 소자를 구동하는 액티브 매트릭스형 표시 패널이다. 이 표시부(1)에는 m도트×n라인 분의 화소(2)가 매트릭스 형상(2차원 평면적)으로 나열되어 있다. 또한, 표시부(1)에는 각각이 수평 방향으로 연장되어 있는 주사선 그룹(Y1∼Yn)과 각각이 수직 방향으로 연장되어 있는 데이터선 그룹(X1∼Xm)이 설치되어 있고, 이들의 교차에 대응하여 화소(2)가 배치되어 있다. 본 실시예에서는 1개의 화소(2)를 화상의 최소 표시 단위로 하고 있지만, 컬러 패널과 같이 1개의 화소(2)를 RGB 3개의 서브화소로 구성할 수도 있다. 또한, 도 1에는 각각의 화소(2)에 대하여 소정의 전압(Vdd, Vss)을 공급하는 전원선 등이 생략되어 있다.
도 2는 일례로서의 화소(2)의 회로도이다. 1개의 화소(2)는 유기 EL 소자(OLED), 4개의 트랜지스터(T1∼T4), 및 데이터를 유지하는 커패시터(C)로 구성되어 있다. 다이오드로서 표기(表記)된 유기 EL 소자(OLED)는, 자기를 흐르는 구동 전류(Ioled)에 의해 휘도가 설정되는 전형적인 전류 구동형 소자이다. 이 화소 회로에서는 n채널형의 트랜지스터(T1, T2, T4)와 p채널형의 트랜지스터(T3)가 이용되고 있지만, 이것은 일례에 불과하며, 이것과는 다른 조합으로 채널형을 설정할 수도 있다.
트랜지스터(T1)의 게이트는 주사 신호(SEL)가 공급되는 1개의 주사선(Y)에 접속되고, 그 소스는 데이터 전류(Idata)가 공급되는 1개의 데이터선(X)에 접속되어 있다. 이 트랜지스터(T1)의 드레인은 트랜지스터(T2)의 소스, 트랜지스터(T3)의 드레인 및 트랜지스터(T4)의 드레인에 공통 접속되어 있다. 트랜지스터(T2)의 게이트는, 트랜지스터(T1)와 동일하게, 주사 신호(SEL)가 공급되는 주사선(Y)에 접속되어 있다. 트랜지스터(T2)의 드레인은 커패시터(C)의 한쪽 전극과 트랜지스터(T3)의 게이트에 공통 접속되어 있다.
커패시터(C)의 다른쪽 전극과 트랜지스터(T3)의 소스에는 전원 전압(Vdd)이 인가되어 있다. 이 전원 전압(Vdd)은, 컬러 패널의 경우에는, RGB마다 다른 값으로 설정되는 경우가 많다. 그 이유는 유기 EL 소자(OLED)의 재료가 RGB에 따라 다르기 때문에, 이것에 기인한 전기적 특성의 차이에 대응하기 위함이다.
구동 신호(GP)가 게이트에 공급된 트랜지스터(T4)는 트랜지스터(T3)의 드레인과 유기 EL 소자(OLED)의 애노드(anode)(양극) 사이에 설치되어 있다. 이 유기EL 소자(OLED)의 캐소드(cathode)(음극)에는 전원 전압(Vdd)보다도 낮은 기준 전압(Vss)이 인가되어 있다. 또한, 데이터를 유지하는 회로 요소로서는, 커패시터(C) 이외에도, 다(多)비트의 데이터를 기억할 수 있는 메모리(SRAM 등)를 이용하는 것도 가능하다.
도 3은 도 2에 나타낸 화소(2)의 구동 타이밍차트이다. 주사선(Y1∼Yn)의 선순차(線順次) 주사에 의해 일정 화소(2)의 선택이 개시되는 타이밍을 t0으로 하고, 이 화소(2)의 선택이 다음으로 개시되는 타이밍을 t2로 한다. 이 기간 t0∼t2는 전반(前半)의 프로그래밍 기간 t0∼t1과 후반(後半)의 구동 기간 t1∼t2로 나뉜다.
프로그래밍 기간 t0∼t1에서는 커패시터(C)에 대한 데이터의 기록이 실행된다. 우선, 타이밍 t0에서 주사 신호(SEL)가 고(高)레벨(이하, 「H레벨」이라고 함)로 상승하고, 스위칭 소자로서 기능하는 트랜지스터(T1, T2)가 모두 온(on)(도통(導通))한다. 이것에 의해, 데이터선(X)과 트랜지스터(T3)의 드레인이 전기적으로 접속되는 동시에, 트랜지스터(T3)는 자기의 게이트와 자기의 드레인이 전기적으로 접속된 다이오드 접속으로 된다. 트랜지스터(T3)는 데이터선(X)으로부터 공급된 데이터 전류(Idata)를 자기의 채널에 흐르게 하고, 이 데이터 전류(Idata)에 따른 전압이 게이트 전압(Vg)으로서 발생한다. 트랜지스터(T3)의 게이트에 접속된 커패시터(C)에는 발생한 게이트 전압(Vg)에 따른 전하가 축적되고, 축적된 전하량에 상당하는 데이터가 기록된다.
프로그래밍 기간 t0∼t1에서, 트랜지스터(T3)는, 자기의 채널을 흐르는 데이터 신호에 의거하여, 커패시터(C)에 대한 데이터의 기록을 행하는 프로그래밍 트랜지스터로서 기능한다. 또한, 구동 신호(GP)가 저(低)레벨(이하, 「L레벨」이라고 함)로 유지되어 있기 때문에, 트랜지스터(T4)는 오프(off)(비도통(非導通))의 상태이다. 따라서, 유기 EL 소자(OLED)에 대한 구동 전류(Ioled)의 경로는 트랜지스터(T4)에 의해 차단되어, 유기 EL 소자(OLED)는 발광하지 않는다.
연속되는 구동 기간 t1∼t2에서는, 구동 전류(Ioled)가 유기 EL 소자(OLED)를 흘러 유기 EL 소자(OLED)의 휘도 설정이 실행된다. 우선, 타이밍 t1에서 주사 신호(SEL)가 L레벨로 하강하고, 트랜지스터(T1, T2)가 모두 오프한다. 이것에 의해, 데이터 전류(Idata)가 공급되는 데이터선(X)과 트랜지스터(T3)의 드레인이 전기적으로 분리되고, 트랜지스터(T3)의 게이트와 드레인 사이도 전기적으로 분리된다. 트랜지스터(T3)의 게이트에는 커패시터(C)의 축적 전하에 따른 게이트 전압(Vg)이 계속하여 인가된다. 타이밍 t1에서의 주사 신호(SEL) 하강과 동기(동일 타이밍이라고 한정되지는 않음)하여, 그 이전은 L레벨이었던 구동 신호(GP)가 H레벨로 상승한다. 이것에 의해, 전원 전압(Vdd)으로부터 기준 전압(Vss)을 향하여 트랜지스터(T3, T4)와 유기 EL 소자(OLED)를 통한 구동 전류(Ioled)의 경로가 형성된다. 유기 EL 소자(OLED)를 흐르는 구동 전류(Ioled)는 트랜지스터(T3)의 채널 전류에 상당하고, 그 전류 레벨은 커패시터(C)의 축적 전하에 기인한 게이트 전압(Vg)에 의해 제어된다.
구동 기간 t1∼t2에서, 트랜지스터(T3)는 유기 EL 소자(OLED)에 구동 전류(Ioled)를 공급하는 구동 트랜지스터로서 기능하고, 유기 EL 소자(OLED)는 이 구동전류(Ioled)에 따른 휘도로 발광한다.
주사선 구동 회로(3) 및 데이터선 구동 회로(4)는 제어 회로(도시 생략)에 의한 제어 하에서 서로 협동하여 표시부(1)의 표시 제어를 행한다. 주사선 구동 회로(3)는 시프트 레지스터 및 출력 회로 등을 주체로 구성되어 있고, 주사선(Y1∼Yn)에 주사 신호(SEL)를 출력함으로써 주사선(Y1∼Yn)을 소정의 선택 순서에 의해 차례로 선택하는 선순차 주사를 행한다. 주사 신호(SEL)는 H레벨 또는 L레벨의 2치(binary)적인 신호 레벨을 취하고, 데이터의 기록 대상으로 되는 화소 행(1수평 라인 분의 화소 그룹)에 대응하는 주사선(Y)은 H레벨, 그 이외의 주사선(Y)은 L레벨로 각각 설정된다. 그리고, 1수직 주사 기간(1F)에서, 소정의 선택 순서에 의해 각각의 화소 행이 차례로 선택되어 간다. 또한, 주사선 구동 회로(3)는, 주사 신호(SEL) 이외에, 도 2에 나타낸 트랜지스터(T4)를 도통 제어하는 구동 신호(GP)(또는 그 베이스 신호)도 출력한다. 이 구동 신호(GP)에 의해 구동 기간, 즉, 화소(2) 중에 포함되는 유기 EL 소자(OLED)의 휘도 설정이 실행되는 기간이 설정된다.
데이터선 구동 회로(4)는 주사선 구동 회로(3)에 의한 선순차 주사와 동기하여 각각의 데이터선(X1∼Xm)에 대한 신호의 공급을 전류 베이스로 행한다. 도 4는 데이터선 구동 회로(4)의 구성도이다. 이 데이터선 구동 회로(4)는 m비트의 X 시프트 레지스터(40) 및 데이터선 단위로 설치된 m개의 회로 유닛(41)으로 구성되어 있다. X 시프트 레지스터(40)는 1수평 주사 기간(1H)의 처음에 공급되는 스타트(start) 펄스(ST)를 클록 신호(CLX)에 따라 전송하고, 래치 신호(S1, S2, S3, …, Sm)의 레벨을 순차 배타적으로 H레벨로 설정한다.
m개의 회로 유닛(41)은 일정 1H에서 데이터를 기록하는 화소 행에 대한 전류 베이스 신호의 일제(一齊) 출력과, 다음 1H에서 기록을 행하는 화소 행에 관한 데이터의 점(點)순차적인 래치를 동시에 행한다. 단일 회로 유닛(41)은 데이터(Dcvt(D0∼D5))의 비트 단위로 설치된 6개의 스위치 집합인 스위치 그룹(42, 44), 제 1 래치 회로(43), 제 2 래치 회로(45) 및 전류 DAC(46)로 구성되어 있다. 데이터선(X1∼Xm)에 대응하는 각각의 회로 유닛(41) 동작은, 래치 신호(S1, S2, S3, …, Sm)에 의한 데이터(D0∼D5)의 밀집(congestion) 타이밍이 다른 점을 제외하면 동일하다. 즉, 가장 전단(前段)의 스위치 그룹(42)은 대응하는 래치 신호(S)가 H레벨로 됨으로써 온한다. 이것에 의해, 래치 신호(S)가 규정하는 혼잡 타이밍에서, 6비트 데이터(D0∼D5)가 제 1 래치 회로(43)에 수용된다. 제 1 래치 회로(43)에 래치된 데이터(D0∼D5)는, 래치 펄스(LP)가 H레벨로 되어 스위치 그룹(44)이 온한 시점에서, 제 2 래치 회로(45)에 전송된다. 그것과 동시에, 제 1 래치 회로(43)에는 스위치 그룹(42)을 통하여 다음 1H에서의 데이터(D0∼D5)가 새롭게 래치된다.
전류 DAC(46)는 제 2 래치 회로(45)에 래치된 6비트의 디지털 데이터(D0∼D5)를 D/A 변환하고, 아날로그 신호인 데이터 전류(Idata)를 생성하여, 이것을 대응하는 데이터선(X)에 공급한다. 전류 DAC(46)는 후술하는 보정계 회로의 일부인 화소 구동부로서 기능하고, 이것을 실현하는데 필요한 회로가 부가되어 있지만, 그 구체적인 회로 구성에 대해서는 후술한다.
또한, 데이터선 구동 회로(4)에 대하여 프레임 메모리 등(도시 생략)으로부터 직접 데이터를 선순차적으로 입력하는 구성에도 본 발명을 적용할 수 있지만,그 경우에도 본 발명의 주안(主眼)으로 하는 부분의 동작은 동일하다. 이러한 구성으로 한 경우에는, 데이터선 구동 회로(4)에 시프트 레지스터를 설치할 필요가 없어진다.
본 실시예에서는, 회로 요소(5∼10)와 전류 DAC(46)의 부가 회로로 구성되는 보정계 회로가 설치되어 있고, 이 회로에 의해 복수의 외란 요소에 대응한 보정이 통합적으로 실행된다. 보정 항목으로 되는 5개의 외란 요소가 있으며, 각각의 외란 요소를 보정하는 보정 요소가 ΔDta, ΔDtl, ΔDlx, ΔDd, ΔDmura로 된다.
주위 온도 변동 ΔDta는 전기 광학 장치의 사용 환경 온도, 즉, 주위 온도 Ta의 변동을 보정하는 보정 요소이다. 일반적으로, 주위 온도 Ta가 변동하면, 유기 EL 소자(OLED)의 구동 전압이나 발광 효율 등도 변동한다. 따라서, 이 온도 영역 전체에서 표시 품질의 안정화를 도모하기 위해서는, 외란 요소인 주위 온도 Ta의 영향을 고려한 보정을 행하는 것이 바람직하다. 도 5는 일례로서의 주위 온도 Ta와 주위 온도 변동 ΔDta의 관계를 나타내는 특성도이다. 유기 EL 소자(OLED)의 온도와 휘도 특성이 RGB마다 다른 점을 감안하여, 주위 온도 변동 ΔDta는 RGB마다 개별적으로 설정되어 있다. B(청색)에 대해서는, 주위 온도 Ta의 증가에 따라 주위 온도 변동 ΔDta가 선형적(線形的)으로 증가하고 있으며, R(적색) 및 G(녹색)에 대해서는, 주위 온도 Ta의 증가에 따라 주위 온도 변동 ΔDta가 선형적으로 감소하고 있다.
주위 온도 변동 ΔDta에 따른 보정은, 전기 광학 장치의 내장 센서로서 설치된 온도 검출부(6)에 의해 표시부(1) 근방의 주위 온도 Ta를 검출함으로써, 리얼타임으로 실행된다. 연산부(8)는 온도 검출부(6)에 의해 검출된 주위 온도 Ta를 입력으로 한 연산 처리를 행하여 화소(2)의 계조 설정 시에 가미(加味)해야 할 보정값을 산출하고, 이것을 주위 온도 변동 ΔDta로서 데이터선 구동 회로(4)에 출력한다. 이 연산 처리는, 예를 들어, 도 5에 나타낸 바와 같은 특성이 기술된 변환 테이블을 참조하여, 입력값 Ta로부터 출력값 ΔDta를 구하는 테이블 참조 처리(Look Up Table 처리)가 상정(想定)되지만, 그 이외의 처리 방법일 수도 있다. 또한, 이 보정 단위는 주위 온도 Ta의 영향이 표시부(1) 전체에 작용하는 점을 감안하여 표시부(1) 전체이다.
온도 검출부(6)로서는, 일본국 특개2002-98594호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 온도 센서가 탑재된 반도체 칩을 이용할 수도 있고, 일본국 특개2002-122838호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 표시부(1)의 기판 위에 형성된 온도 검출 소자(PN 접합의 온도에 대한 전압 변화를 검출하는 소자)를 이용할 수도 있다.
또한, 주위 온도 Ta의 검출 정밀도를 확보한다는 관점에서, 표시부(1)의 주위 온도가 편재(偏在)되어 있지 않은 것이 좋다. 그래서, 냉각 팬, 또는 일본국 특개평11-95872호 공보나 일본국 특개평11-251777호 공보에 개시되어 있는 바와 같은 고열 전도재 등을 이용하여, 전기 광학 장치로부터 발생하는 열을 효과적으로 방열(放熱)하고, 주위의 온도를 균일화시키는 것이 바람직하다.
자기 발열 온도 변동 ΔDtl은 유기 EL 소자(OLED)의 발광에 따른 발열 온도 Tl의 변동을 보정하는 보정 요소이다. 일반적으로, 유기 EL 소자(OLED)의 발광 휘도가 높아질수록, 유기 EL 소자(OLED)의 발열 온도도 높아진다. 따라서, 이 발열온도 영역 전체에서 표시 품질의 안정화를 도모하기 위해서는, 외란 요소인 발열 온도 Tl의 영향을 고려한 보정을 행하는 것이 바람직하다. 도 6은 일례로서의 발열 온도 Tl과 자기 발열 온도 변동 ΔDtl의 관계를 나타내는 특성도이다. 자기 발열 온도 변동 ΔDtl은 RGB마다 개별적으로 설정되어 있지만, 모두 발열 온도 Tl의 증가에 따라 비선형적으로 증가하고 있다.
화소(2)의 계조와 발열 온도 Tl의 관계는 실험이나 시뮬레이션 등을 통하여 미리 지득(知得)되어 있다. 이 지득을 전제로 하여, 자기 발열 온도 변동 ΔDtl은 계조 특성 생성부(9)가 구비하는 변환 테이블의 설정값으로서 끼워 넣어져 있다. 즉, 변환 테이블의 기술 내용 자체가, 예를 들어, 도 6에 나타낸 바와 같은 특성을 반영한 것으로 되어 있다. 이 경우, 자기 발열 온도 변동 ΔDtl에 따른 보정을 행하기 위해, 센서류를 이용할 필요는 없다. 또한, 이 보정 단위는 기본적으로는 화소마다이지만, 일정 화소(2)의 발열량이 주변 화소로도 확산되는 경우를 상정할 경우에는, 주변 화소를 포함한 블록 단위로 할 수도 있다.
주위 조도 변동 ΔDlx는 전기 광학 장치의 사용 환경에서의 밝기, 즉, 주위 조도 Lx의 변동을 보정하는 보정 요소이다. 일반적으로, 외광(外光)의 정도에 따라, 외관이 양호한 표시를 행하는데 최적인 유기 EL 소자(OLED)의 발광 휘도가 변화하게 된다. 예를 들면, 밝은 외광 하에서의 사용 시에는, 통상의 표시 상태보다도 발광 휘도를 밝게 하고, 고(高)콘트라스트화하는 것이 시인성(視認性)이 더 향상된다. 이것에 대하여, 어두운 실내에서의 사용 시에는, 통상의 표시 상태에서는 지나치게 밝기 때문에, 발광 휘도를 다소 어둡게 하는 것이 시인성이 더 향상된다.따라서, 이 조도 영역 전체에서 안정된 시인성을 얻기 위해서는, 외란 요소인 주위 조도 Lx의 영향을 고려한 보정을 행하는 것이 바람직하다. 도 7은 일례로서의 주위 조도 Lx와 주위 조도 변동 ΔDlx의 관계를 나타내는 특성도이다. 주위 조도 변동 ΔDlx에 대해서는, 다른 보정 요소와는 달리 RGB 공통으로 설정되고, 주위 조도 Lx의 증가에 따라 비(非)선형적으로 증가하고 있다.
주위 조도 변동 ΔDlx에 따른 보정은, 전기 광학 장치의 내장 센서로서 설치된 조도 검출부(5)에 의해 표시부(1) 근방의 주위 조도 Lx를 검출함으로써, 리얼타임으로 실행된다. 연산부(8)는 조도 검출부(5)에 의해 검출된 주위 조도 Lx를 입력으로 한 연산 처리를 행하여 화소(2)의 계조 설정 시에 가미해야 할 보정값을 산출하고, 이것을 주위 조도 변동 ΔDlx로서 계조 특성 생성부(9)에 출력한다. 이 연산 처리는, 예를 들어, 도 7에 나타낸 바와 같은 특성이 기술된 변환 테이블을 참조하여, 입력값 Lx로부터 출력값 ΔDlx를 구하는 LUT 처리가 상정되지만, 그 이외의 처리 방법일 수도 있다. 또한, 이 보정 단위는 주위 조도 Lx의 영향이 표시부(1) 전체에 작용하는 점을 감안하여 표시부(1) 전체이다.
조도 검출부(5)로서는, 예를 들어, 일본국 특개2000-66624호 공보에 개시되어 있는 바와 같이, 외광의 강도를 검출하는 조도 센서를 이용할 수 있다. 또한, 주위 조도 Lx의 검출 정밀도를 확보한다는 관점에서, 표시부(1)의 자기 발광의 영향을 받지 않도록 자기 발광을 차폐(遮蔽)하는 구조적인 연구를 표시부(1)에 마련하는 것이 바람직하다.
열화 변동 ΔDd는 유기 EL 소자(OLED)의 열화 정도 d에 의한 변동을 보정하는 보정 요소이다. 일반적으로, 유기 EL 소자(OLED)의 열화가 진행됨에 따라, 유기 EL 소자(OLED)의 구동 전압이나 발광 효율 등이 저하된다. 따라서, 시간축 영역 전체에서 표시 품질의 안정화를 도모하기 위해서는, 외란 요소인 열화 정도 d의 영향을 고려한 보정을 행하는 것이 바람직하다. 도 8은 일례로서의 열화 정도 d와 열화 변동 ΔDd의 관계를 나타내는 특성도이다. 열화 정도 d가 RGB마다 다른 점을 감안하여 열화 변동 ΔDd도 RGB마다 개별적으로 설정되어 있지만, 모두 열화 정도 d의 증가에 따라 선형적으로 증가하고 있다.
열화 변동 ΔDd에 따른 보정은, 전기 광학 장치의 내장 센서로서 설치된 열화 정도 검출부(7)에 의해 열화 정도 d를 검출함으로써, 리얼타임으로 실행된다. 연산부(8)는 열화 정도 검출부(7)에 의해 검출된 열화 정도 d를 입력으로 한 연산 처리를 행하여 화소(2)의 계조 설정 시에 가미해야 할 보정값을 산출하고, 이것을 열화 변동 ΔDd로서 데이터선 구동 회로(4)에 출력한다. 이 연산 처리는, 예를 들어, 도 8에 나타낸 바와 같은 특성이 기술된 변환 테이블을 참조하여, 입력값 d로부터 출력값 ΔDd를 구하는 LUT 처리가 상정되지만, 그 이외의 처리 방법을 이용할 수도 있다.
열화 정도 검출부(7)로서는, 예를 들어, 전기 광학 장치가 지금까지 동작한 누적(累積) 시간을 계측(計測)하는 타이머, 또는 프레임 메모리에 지금까지 축적된 표시 데이터의 누적 수를 계측하는 카운터 등을 이용할 수 있다. 이 경우, 보정 단위는 표시부(1) 전체로 된다. 또한, 이러한 시간축 베이스에 의해 열화 정도 d를 추정하는 수법 대신에, 유기 EL 소자(OLED)의 발광 상태 베이스에 의해 열화 정도 d를 추정할 수도 있다. 예를 들면, CCD 센서나 CMOS 센서 등의 휘도 센서를 이용하여 유기 EL 소자(OLED)의 발광 휘도를 화소 단위로 검출하고, 원래의 휘도에 대한 실제 휘도의 저하 분으로부터 열화 정도 d를 추정한다는 것이다. 이 경우의 보정 단위는 화소마다로 된다.
이러한 휘도 센서의 구체적인 구성에 대해서는, 일본국 특개평9-237887호 공보나 일본국 특개평11-345957호 공보에 개시되어 있는 것 이외에, 전기 광학 장치에 개폐 가능한 뚜껑을 설치하고, 표시부(1)와 대향하는 뚜껑의 내면(대향면)에 CCD 센서 등을 설치할 수도 있다.
표시 불균일 ΔDmura는 유기 EL 소자(OLED)의 구동 전압, 발광 효율, 색도(色度) 등의 차이에 기인한 표시부(1)의 불균일 정도 mura를 보정하는 보정 요소이다. 도 9는 일례로서의 불균일 정도 mura와 표시 불균일 ΔDmura의 관계를 나타내는 특성도이다. RGB마다의 특성 차이를 고려하여 표시 불균일 ΔDmura도 RGB마다 개별적으로 설정되어 있지만, 모두 불균일 정도 mura의 진행에 따라 선형적으로 증가하고 있다.
표시 불균일 ΔDmura에 따른 보정은, 전기 광학 장치에 외부 부착되는 검사 장치(도시 생략)에 의해 불균일 정도 mura를 검출함으로써, 제품 출하 전에 실행된다. 연산부(8)는 검사 장치에 의해 검출된 불균일 정도 mura를 입력으로 한 연산 처리를 행하여 화소(2)의 계조 설정 시에 가미해야 할 보정값을 산출하고, 이것을 표시 불균일 ΔDmura로서 데이터선 구동 회로(4)에 출력한다. 이 연산 처리는, 예를 들어, 도 9에 나타낸 바와 같은 특성이 기술된 변환 테이블을 참조하여, 입력값mura로부터 출력값 ΔDmura를 구하는 LUT 처리가 상정되지만, 그 이외의 처리 방법일 수도 있다. 불균일 정도 mura의 검출을 화소 단위로 행할 경우, 보정 단위도 화소마다로 된다.
또한, 표시 불균일 ΔDmura에 따른 보정은 제품 출하 전에 행하면 되고, 그 후의 보정은 반드시 필요하지는 않다. 그러나, 상술한 휘도 센서를 이용하여 불균일 정도 mura를 리얼타임으로 검출하고, 표시 불균일 ΔDmura에 따른 보정을 리얼타임으로 행하는 것도 가능하다.
도 10은 계조 특성 생성부(9)의 구성도이다. 계조 특성 생성부(9)는 입력된 표시 데이터(D)의 계조 특성을 대략 조정함으로써 변환 데이터(Dcvt)를 생성 및 출력한다. 여기서는, 표시 데이터(D)의 계조 특성 형태 그 자체를 다른 형태로 변형시키는 데이터 변환이 실행되고, 논리 연산 등에서의 대응이 용이하지 않은 비교적 큰 변형을 수반하는 데이터 변환(대략 조정)을 상정하고 있다. 그 때문에, 이러한 대략 조정에 대한 대응이 용이한 LUT 처리를 채용하고 있다. 표시 데이터(D)는 화소(2)의 계조를 규정하는 디지털 신호이며, 일반적으로는, 상위(上位)의 프레임 메모리(도시 생략)로부터의 데이터이다. 이 표시 데이터(D)는 계조에 대하여 선형의 값인 경우가 많지만, 계조 특성 생성부(9)는 표시 데이터(D)를 비선형의 값으로 가공하는 기능을 갖는다. 그 때문에, 표시 데이터(D)가 갖는 비트 영역보다도 큰 비트 영역을 준비하여 둘 필요가 있으며, 본 실시예에서는 4비트의 표시 데이터(D(D0∼D3))에 대하여 6비트의 변환 데이터(Dcvt(D0∼D5))가 생성된다.
계조 특성 생성부(9)는 기술 내용이 서로 다른 복수의 변환 테이블(LUT1∼LUT4)을 갖는다. 도 11은 변환 테이블(LUT1∼LUT4)의 설명도이다.
또한, 도 12는 표시 데이터(D)의 데이터 변환에 의해 생성되는 변환 데이터(Dcvt)의 계조 특성도이며, 횡축(橫軸)이 표시 데이터(D), 종축(縱軸)이 변환 데이터(Dcvt)를 각각 나타내고 있다. 각각의 변환 테이블(LUT1∼LUT4)에는 4비트의 표시 데이터(D)(입력값)와 6비트의 변환 데이터(Dcvt)(출력값)의 대응 관계가 기술되어 있다. 변환 데이터(Dcvt)는, 표시 데이터(D)의 계조 특성과는 달리, 표시 데이터(D)의 선형성을 비선형으로 변형시킨 계조 특성으로 되어 있고, 표시 데이터(D)가 고(高)계조 측을 향함에 따라 변환 데이터(Dcvt)가 비선형으로 증가하도록 설정되어 있다.
주위 조도 변동 ΔDlx에 따른 보정은, 변환 테이블(LUT1∼LUT4) 중에서 어느 하나를 선택함으로써 실현된다. 여기서, 변환 테이블(LUT1∼LUT4)의 특성을 비교하면, LUT1, LUT2, LUT3, LUT4의 순서로 변환 데이터(Dcvt)의 증가율이 커지고 있다. 또한, 동일한 표시 데이터(D)에 대한 변환 데이터(Dcvt)는 이 순서에 의해 고계조 측으로 시프트하는 경향이 있으며, 이 경향은 표시 데이터(D)가 고계조로 될수록 현저하게 나타난다. 이들 변환 테이블(LUT1∼LUT4)의 기술 내용에는 주위 조도 변동 ΔDlx의 영향이 반영되어 있다.
일례로서, 어두운 실내와 같은 제 1 사용 상황에는, 연산부(8)로부터 ΔDlx=0이 지시되어 변환 테이블(LUT1)이 선택된다. 그리고, 이 변환 테이블(LUT1)의 기술 내용에 따라, 표시 데이터(D)에 대응하는 변환 데이터(Dcvt)가 출력된다. 예를 들면, 표시 데이터(D)가 "1000"(계조 8)인 경우에는, "000010"(계조 2)의 변환 데이터(Dcvt)가 출력된다. 이 데이터 변환은 표시 데이터(D)에 대하여 원래의 계조를 크게 저하시키는 암(暗)보정을 실시하는 것과 등가(等價)이다. 또한, 제 1 사용 상황보다도 약간 밝은 제 2 사용 상황(예를 들어, 밝은 실내 사용 시)에는, ΔDlx=1이 지시되어 변환 테이블(LUT2)이 선택된다. 그리고, 이 변환 테이블(LUT2)의 기술 내용에 따른 변환 데이터(Dcvt)가 출력된다. 예를 들면, "1000"(계조 8)의 표시 데이터(D)에 대하여 "000110"(계조 6)의 변환 데이터(Dcvt)가 출력된다. 이 데이터 변환은 표시 데이터(D)에 대하여 계조를 약간 저하시키는 암보정을 실시하는 것과 등가이다. 또한, 제 2 사용 상황보다도 밝은 제 3 사용 상황(예를 들어, 흐린 하늘에서의 실외 사용 시)에는 ΔDlx=2로 되고, 변환 테이블(LUT3)이 참조 대상으로서 선택된다. 예를 들면, "1000"(계조 8)의 표시 데이터(D)에 대하여 "001110"(계조 14)의 변환 데이터(Dcvt)가 출력된다. 이 데이터 변환은 표시 데이터(D)에 대하여 계조를 약간 높이는 명(明)보정을 실시하는 것과 등가이다. 또한, 제 3 사용 상황보다도 밝은 제 4 사용 상황(예를 들어, 밝은 외광 하에서의 실외 사용 시)에는 ΔDlx=3으로 되고, 변환 테이블(LUT4)이 참조 대상으로서 선택된다. 예를 들면, "1000"(계조 8)의 표시 데이터(D)에 대하여 "011000"(계조 24)의 변환 데이터(Dcvt)가 출력된다. 이 데이터 변환은 표시 데이터(D)에 대하여 계조를 크게 높이는 명보정을 실시하는 것과 등가이다.
한편, 각각의 변환 테이블(LUT1∼LUT4)의 기술 내용에는 주위 조도 변동 ΔDlx뿐만 아니라, 자기 발열 온도 변동 ΔDtl도 반영되어 있다. 일반적으로, 발광에 따라 유기 EL 소자(OLED) 자체가 발열하고, 발광 효율이 저하되는 것이 알려져있다. 그 때문에, 도 13에 나타낸 바와 같이, 실선(實線)으로 나타낸 실제의 계조(외관 상의 계조 특성)는 점선으로 나타낸 원래의 계조보다도 저하된다. 그래서, 이러한 계조 차이를 미리 예상한 상태에서, 변환 테이블(LUT1∼LUT4)의 기술 내용을 설정하여 둔다. 이것에 의해, 유기 EL 소자(OLED)의 발열에 따른 계조 차이가 보정된 데이터가 변환 데이터(Dcvt)로서 출력된다.
도 14는 본 실시예에 따른 전류 DAC(46)의 구성도이다. 이 전류 DAC(46)는 화소(2)에 공급하는 데이터 신호를 전류 베이스로 생성하는 데이터 신호 생성부(46a)를 주체(主體)로 하고, 이것에 보정값 생성부(46b)와 계조 보정부(46c)를 추가한 구성을 갖는다. 보정값 생성부(46b)는 비교적 단순한 가감승제(加減乘除)의 연산을 행하는 연산 회로로 구성되어 있으며, 연산부(8)로부터의 3개의 보정 요소 ΔDta, ΔDd, ΔDmura에 의거하여, 이들을 통합한 대표값으로서 보정값 K(보정 계수 a 및 b의 세트)를 생성한다. 도 14의 구성에서는, 주위 온도 변동 ΔDta의 값이 그대로 보정 계수 a로 되고, 열화 변동 ΔDd와 표시 불균일 ΔDmura를 가산(加算)한 값이 보정 계수 b로 된다. 또한, 보정값 K(a, b)의 산출은 가감승제의 조합 정도의 비교적 단순한 논리 연산을 상정하고 있지만, 보다 복잡한 논리 연산에 의해 행하는 것도 가능하다.
계조 보정부(46c)는, 보정값 K(a, b)에 의거하여, 계조 특성 생성부(9)로부터 출력된 변환 데이터(Dcvt)에 소정의 연산을 실시하여 보정 데이터(Damd)를 출력한다. 여기서는, 변환 데이터(Dcvt)의 계조 특성을 크게 변형시키는 것이 아니라, 전체 계조에 대하여 일괄적으로 소정의 보정 처리를 실시한다. 이 보정 처리는 가감승제의 조합 정도의 비교적 단순한 논리 연산을 상정하고 있지만, 보다 복잡한 논리 연산일 수도 있다. 이것에 의해, 변환 데이터(Dcvt)의 기본적인 계조 특성을 유지하면서, 계조 특성 생성부(9)에서의 계조 특성 변형보다도 미세한 레벨로 계조 특성의 보정을 행하는 미세 조정이 실행된다. 본 실시예에서는, Damd=a·Ｄcvt+b의 선형적인 연산에 의해, 6비트의 변환 데이터(Dcvt)를 확장하여 8비트의 보정 데이터(Damd)를 산출하고 있다. 도 15는, 일례로서, a=010, b=110인 경우에서의 변환 데이터(Dcvt)(입력값)와 보정 데이터(Damd)(출력값)의 관계를 나타내는 도면이다. 또한, 도 16은 계조 보정부(46c)에서의 데이터 보정의 특성도이다.
데이터 신호 생성부(46a)는 데이터선(X)과 기준 전압(Vss) 사이에 설치되어 있으며, 서로 직렬 접속된 스위칭 트랜지스터(SW)와 구동 트랜지스터(DR)의 쌍(pair)을 보정 데이터(Damd)의 비트 수만큼(즉, 8개) 갖는다. 각각의 구동 트랜지스터(DR)는 자기의 이득 계수 β에 따른 전류를 채널에 흐르게 하는 정전류원(定電流源)으로서 기능하고, 그 게이트에는 소정의 구동 전압(Vbase)이 공통으로 인가되어 있다. 이들 구동 트랜지스터(DR)의 이득 계수 β의 비는, 보정 데이터(Damd)를 구성하는 8비트의 가중치에 대응하여 1:2:4:8:16:32:64:128로 설정되어 있다. 또한, 8개의 스위칭 트랜지스터(SW)의 도통 상태는 8비트의 보정 데이터(Damd(D0∼D7)) 내용에 따라 설정되고, 도통한 것에 대응하는 구동 트랜지스터(DR)에서 이득 계수 β에 따른 채널 전류가 발생한다. 데이터선(X)에 공급되는 데이터 전류(Idata)는 각각의 구동 트랜지스터(DR)를 흐르는 채널 전류의 합계값으로 된다.
이와 같이, 본 실시예에 의하면, 복수의 외란 요소에 대응한 보정을 통합적으로 행할 수 있다. 도 17에 나타낸 바와 같이, 본 실시예에서는 표시 데이터(D)로부터 데이터 전류(Idata)를 생성하는 과정에서 종류가 다른 2개의 보정 처리가 실행된다. 우선, 계조 특성 생성부(9)에서는, LUT 처리에 의해 2개의 보정 요소 ΔDlx 및 ΔDtl을 가미한 보정이 실행되고, 표시 데이터(D)로부터 변환 데이터(Dcvt)가 생성된다. 이 LUT 처리 베이스에서의 보정에 의해, 주위 조도 Lx 및 발열 온도 Tl이라는 2개의 외란 요소의 영향이 효과적으로 저감되고, 표시 데이터(D)의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 변환 데이터(Dcvt)가 출력된다. 또한, 화소 구동부의 일부를 구성하는 계조 보정부(46c)에서는, 논리 연산에 의해 3개의 보정 요소 ΔDd, ΔDmura, ΔDta를 가미한 보정이 실행되고, 변환 데이터(Dcvt)로부터 보정 데이터(Damd)가 생성된다. 이 논리 연산 베이스에서의 보정에 의해, 열화 정도 d, 불균일 정도 mura 및 주위 온도 Ta라는 3개의 외란 요소의 영향이 효과적으로 저감되고, 변환 데이터의 계조 특성을 보정한 보정 데이터(Damd)가 출력된다. 그리고, 화소 구동부의 일부를 구성하는 데이터 신호 생성부(46a)에서 보정 데이터(Damd)로부터 데이터 전류(Idata)가 생성되고, 이것에 의거하여 화소(2)의 구동이 실행된다. 이와 같이, 5개의 보정 요소 ΔDlx, ΔDtl, ΔDd, ΔDmura, ΔDta를 통합적으로 가미한 후에 데이터 전류(Idata)를 생성함으로써, 복수의 외란 요소의 영향을 효과적으로 저감시킬 수 있기 때문에, 표시 품질의 안정화를 도모하는 것이 가능해진다.
또한, 본 실시예에 의하면, LUT 처리에 의한 대략 조정과 논리 연산에 의한 미세 조정을 병용(倂用)함으로써, 표시 데이터(D)에 관한 일련의 보정 처리를 고속으로 행할 수 있다. 일반적으로, LUT 처리는 계조 특성을 크게 변형시키는 대략 조정에 적합한 반면, 입력 수의 증대에 따라 변환 테이블(LUT)의 기술 내용이 방대해져, 처리 속도의 저하를 초래하기 쉽다는 결점이 있다. 이것과는 반대로, 논리 연산은 이러한 대략 조정에는 부적합한 반면, 입력 수에 관계없이 고속 처리가 가능하다는 이점(利點)이 있다. 그래서, 본 실시예에서는, 대응해야 할 보정 요소를 계조 특성 자체를 변형시키는 대략 조정에 의해 대응하는 대략 조정 요소 ΔDlx 및 ΔDtl과, 대략 조정보다도 미세한 레벨의 변형에 의해 대응하는 미세 조정 요소 ΔDd, ΔDmura, ΔDta로 분류하고 있다. 그리고, 전자(前者)에 대해서는 LUT 처리를 이용한 대략 조정에 의해 대응하고, 후자에 대해서는 논리 연산을 이용하여 대략 조정보다도 미세한 레벨의 미세 조정에 의해 대응한다. 이것에 의해, 모든 보정 요소를 LUT 처리에 의해 대응하는 경우와 비교하여, 변환 테이블(LUT)의 기술 내용을 현저하게 저감시킬 수 있다. 그 결과, 표시 데이터(D)의 일련의 보정 처리의 고속화를 도모할 수 있고, 리얼타임에서의 대응이 가능해진다.
또한, 본 실시예에서는, 자기 발열 온도 변동 ΔDtl의 특성을 실험이나 시뮬레이션 등을 통하여 미리 취득하여 두고, 기술 내용에 이것을 반영한 변환 테이블(LUT)을 작성한다. 그리고, 이 변환 테이블(LUT)을 참조함으로써, 표시 데이터(D)로부터 변환 데이터(Dcvt)를 생성하고 있다. 이것에 의해, 유기 EL 소자(OLED)의 발광 시에서의 발열 온도를 온도 센서 등에 의해 직접 검출할 필요가 없어진다. 그 결과, 표시부(1)의 회로 규모 증대를 억제할 수 있고, 또한, 센서의 검출 정밀도 문제 등도 해소할 수 있다는 효과가 있다.
또한, 본 실시예에서는 주위 조도 변동 ΔDlx 및 자기 발열 온도 변동 ΔDtl의 양쪽을 미세 조정 요소로 한 예에 대해서 설명했지만, 이들의 적어도 하나를 미세 조정 요소로 할 수도 있다. 마찬가지로, 주위 온도 변동 ΔDta, 열화 변동 ΔDd 및 표시 불균일 ΔDmura의 모두를 대략 조정 요소로 한 예에 대해서 설명했지만, 이들의 적어도 하나를 대략 조정 요소로 할 수도 있다. 또한, 본 발명은 예시한 5개의 보정 요소 이외의 것을 고려한 보정 처리에 대해서도 널리 적용할 수 있다.
또한, 본 실시예에서는, 복수의 미세 조정 요소 ΔDd, ΔDmura, ΔDta를 통합하기 위해, 이들의 대표값으로서의 보정값 K를 산출하는 보정값 생성부(46b)를 설치하고 있다. 따라서, 미세 조정 요소가 1개일 경우에는, 보정값 생성부(46b)를 설치하지 않아도 된다.
또한, 본 발명을 적용할 수 있는 화소 회로의 구성은 상술한 실시예에 한정되지 않으며, 예를 들어, 일본국 특표2002-51430호 공보에 개시되어 있는 화소 회로도 포함하여 널리 적용할 수 있다. 또한, 본 발명의 적용 범위는 전류 프로그램 방식의 화소 회로에 한정되지 않으며, 데이터선(X)에 대한 데이터의 출력을 전압 베이스로 행하는 「전압 프로그램 방식」을 이용한 화소 회로에 대하여 동일하게 적용할 수 있다.
이상의 3개의 변형예는 후술하는 제 2 실시예 및 제 3 실시예에 대해서도 동일하게 해당된다.
(제 2 실시예)
도 18은 제 2 실시예에 따른 전류 DAC(46)의 구성도이다. 이 전류 DAC(46)는 화소(2)에 공급하는 데이터 신호를 전류 베이스로 생성하는 데이터 신호 생성부(46a)를 주체로 하고, 이것에 보정값 생성부(46b)와 구동 전압 보정부(46d)를 추가한 구성을 갖는다. 도 14의 구성 예와의 차이점은 데이터 신호 생성부(46a)의 구성이 약간 다른 점, 및 계조 보정부(46c) 대신에 구동 전압 보정부(46d)를 설치한 점이다. 그 이외의 것에 관해서는 도 14의 회로 요소와 동일하기 때문에, 동일한 부호를 첨부하여 여기서의 설명을 생략한다.
데이터 신호 생성부(46a)는 데이터선(X)과 기준 전압(Vss) 사이에 설치되어 있으며, 서로 직렬 접속된 스위칭 트랜지스터(SW)와 구동 트랜지스터(DR)의 쌍을 변환 데이터(Dcvt)의 비트 수만큼(즉, 6개) 갖는다. 6개의 구동 트랜지스터(DR)는, 변환 데이터(Dcvt)를 구성하는 6비트의 가중치에 대응하여 1:2:4:8:16:32로 이득 계수 β의 비가 설정되어 있으며, 이들 게이트에는 제 1 구동 전압(Vbase1)이 공통으로 인가되어 있다. 또한, 6개의 스위칭 트랜지스터(SW)의 도통 상태는 계조 특성 생성부(9)로부터의 변환 데이터(Dcvt(D0∼D5))의 내용에 따라 설정되고, 도통한 것에 대응하는 구동 트랜지스터(DR)에서 이득 계수 β에 따른 채널 전류가 발생한다. 또한, 데이터선(X)과 기준 전압(Vss) 사이에는 ｋ·β(k는 자연수)의 이득 계수를 갖는 구동 트랜지스터(DR2)가 추가되어 있으며, 이 게이트에는 제 2 구동 전압(Vbase2)이 인가되어 있다.
구동 전압 보정부(46d)는, 보정값 생성부(46b)로부터의 보정값 K(a, b)에 의거하여 제 1 구동 전압(Vbase1)과 제 2 구동 전압(Vbase2)을 가변으로 설정한다.
제 1 구동 전압(Vbase1)은 보정 계수 a에 따라 설정되고, 그 전압은 보정 계수 a의 증대에 따라 커진다. 제 2 구동 전압(Vbase2)은 보정 계수 b에 따라 설정되고, 그 전압값은 보정 계수 b의 증대에 따라 커진다. 구동 트랜지스터(DR, DR2)의 채널 전류는 구동 전압(Vbase1, Vbase2)에 의해 미세 조정되고, 이것에 의해, 데이터 전류(Idata)가 아날로그적으로 보정된다.
도 19는 본 실시예의 개략적인 특징의 설명도이다. 본 실시예에서는, 표시 데이터(D)로부터 데이터 전류(Idata)를 생성하는 과정에서 종류가 다른 2개의 보정 처리가 실행된다. 우선, 계조 특성 생성부(9)에서는, LUT 처리에 의해 2개의 보정 요소 ΔDlx 및 ΔDtl을 가미한 보정이 실행되고, 표시 데이터(D)로부터 변환 데이터(Dcvt)가 생성된다. 또한, 화소 구동부에 상당하는 데이터 신호 생성부(46a)에서는, 변환 데이터(Dcvt)로부터 데이터 전류(Idata)가 생성된다. 구동 트랜지스터(DR, DR2)의 채널 전류는 3개의 보정 요소 ΔDd, ΔDmura, ΔDta에 따라 변화하기 때문에, 데이터 전류(Idata)가 아날로그적으로 미세 조정된다. 화소(2)는 이렇게 하여 아날로그 보정된 데이터 전류(Idata)에 의해 구동한다.
이와 같이, 5개의 보정 요소 ΔDlx, ΔDtl, ΔDd, ΔDmura, ΔDta를 통합적으로 가미한 후에 데이터 전류(Idata)를 생성함으로써, 복수의 외란 요소의 영향을 저감시킬 수 있어, 표시 품질의 안정화를 도모하는 것이 가능해진다. 그것과 함께, LUT 처리에 의한 대략 조정과 아날로그 처리에 의한 미세 조정을 병용함으로써, 표시 데이터(D)에 관한 일련의 보정 처리를 고속으로 행할 수 있다.
(제 3 실시예)
도 20은 제 3 실시예의 개략적인 특징의 설명도이다. 본 실시예에서는, 계조 특성 생성부(9)의 LUT 처리에 의해 2개의 보정 요소 ΔDlx 및 ΔDtl을 가미한 보정이 실행되고, 표시 데이터(D)로부터 변환 데이터(Dcvt)가 생성된다. 화소 구동부의 일부를 구성하는 데이터 신호 생성부(46a)는, 3개의 보정 요소 ΔDd, ΔDmura, ΔDta를 고려하지 않고 변환 데이터(Dcvt)로부터 데이터 전류(Idata)를 직접 생성하며, 이것을 데이터선(X)을 통하여 화소(2)에 공급한다.
한편, 화소 구동부의 일부를 구성하는 구동 기간 제어부(10)는, 3개의 보정 요소 ΔDd, ΔDmura, ΔDta를 고려한 상태에서 도 2에 나타낸 화소(2)의 구동 기간을 제어한다. 도 21은 일례로서의 화소(2)의 구동 타이밍차트이다. 주사 신호(SEL)의 하강 타이밍 t1과 구동 신호(GP)의 상승 타이밍 사이에 지연 시간 Δt를 설정하고, 이 지연 시간 Δt를 보정값 K(a, b)에 의해 가변으로 제어한다. 이것에 의해, 유기 EL 소자(OLED)가 발광하는 온 시간 ton이 특정되고, 유기 EL 소자(OLED)의 휘도가 결정된다. 도 22는 다른 일례로서의 화소(2)의 구동 타이밍차트이다. 기간 t1∼t2에서 구동 신호(GP)를 임펄스 형상으로 설정하고, 화소(2) 중에 포함되는 유기 EL 소자(OLED)를 발광시키는 온 기간 ton과 발광시키지 않는 오프 기간 toff를 번갈아 설정한다. 유기 EL 소자(OLED)의 발광 휘도는 기간 t2∼t3에 점유하는 온 기간 ton의 듀티비에 의해 결정된다. 또한, 시간축 변조 방식의 일종인 서브필드(subfield) 구동에 의해 구동 기간을 제어할 수도 있다. 주지하는 바와 같이, 서브필드 구동에서는, 소정의 기간(예를 들어, 1프레임)을 분할함으로써 규정되는 복수의 서브필드를 이용하여 화소의 계조 표시가 실행된다.
이와 같이, 본 실시예에서는 2개의 보정 요소 ΔDlx 및 ΔDtl을 가미한 후에 데이터 전류(Idata)를 생성하는 동시에, 3개의 보정 요소 ΔDd, ΔDmura, ΔDta를 가미한 후에 화소(2)의 구동 시간을 가변으로 제어한다. 이것에 의해, 상술한 각 실시예와 동일하게, 복수의 외란 요소의 영향을 저감시킬 수 있어, 표시 품질의 안정화를 도모하는 것이 가능해진다. 그것과 함께, LUT 처리에 의한 대략 조정과 구동 시간 베이스에서의 미세 조정을 병용함으로써, 표시 데이터(D)에 관한 일련의 보정 처리를 고속으로 행할 수 있다.
또한, 상술한 각 실시예에서는, 전기 광학 소자로서 유기 EL 소자(OLED)를 이용한 구성에 대해서 설명했다. 그러나, 본 발명은 이것에 한정되지 않으며, 액정(LC), 무기(無機) LED, 디지털 마이크로미러 디바이스(DMD), 또는 플라즈마 발광이나 전자 방출에 의한 형광 등을 이용한 다양한 전기 광학 소자에 대해서도 널리 적용할 수 있다.
또한, 상술한 각 실시예에 따른 전기 광학 장치는, 예를 들어, 텔레비전 수상기, 프로젝터, 뷰어(viewer), 휴대 전화, 휴대 단말, 휴대 게임기, 전자 서적, 비디오 카메라, 디지털 스틸 카메라, 카 네비게이션(car navigation), 카 스테레오, 모바일 컴퓨터, 퍼스널 컴퓨터, 프린터, 스캐너, POS, 비디오 플레이어 표시 기능을 구비한 팩스 장치, 전자 안내판, 공작 기계나 수송 차량 등의 운전 조작 패널 등을 포함하는 다양한 전자 기기에 널리 실장할 수 있다. 이들 전자 기기에 상술한 전기 광학 장치를 실장하면, 전자 기기의 상품 가치를 한층 더 높일 수 있어, 시장에서의 전자 기기의 상품 소구력(訴求力) 향상을 도모할 수 있다.
본 발명에 의하면, 복수의 외란 요소에 대응한 보정을 통합적으로 행함으로써, 전기 광학 장치의 표시 품질을 안정화할 수 있다. 그것과 함께, LUT 처리에 의한 대략 조정과 LUT 처리와는 다른 종류의 처리에 의한 미세 조정을 병용함으로써, 보정 처리의 고속화를 도모하는 것이 가능해진다.

Claims (35)

  1. 전기 광학 장치에 있어서,
    입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술(記述)되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술(記述) 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 상기 표시 데이터로부터 상기 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 상기 변환 데이터를 생성하는 계조 특성 생성부와,
    상기 계조 특성 생성부와는 다른 종류의 처리를 이용하여, 상기 제 1 보정 요소와는 다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의해 상기 변환 데이터의 계조 특성을 보정한 후에, 상기 화소를 구동하는 화소 구동부를 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 화소 구동부는 상기 계조 특성 생성부에서의 상기 표시 데이터의 계조 특성 변형보다도 미세한 레벨로 상기 변환 데이터의 계조 특성을 보정하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  3. 전기 광학 장치에 있어서,
    입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 상기 표시 데이터의 계조 특성을 대략 조정한 상기 변환 데이터를 생성하는 계조 특성 생성부와,
    상기 제 1 보정 요소와는 다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 대략 조정보다도 미세한 레벨로 상기 변환 데이터의 계조 특성을 미세 조정한 후에, 상기 화소를 구동하는 화소 구동부를 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 계조 특성 생성부는 기술 내용이 서로 다른 복수의 상기 변환 테이블을 갖고, 상기 제 1 보정 요소에 따라 상기 복수의 변환 테이블 중 어느 하나를 참조 대상으로서 선택하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  5. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 화소 구동부는,
    상기 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 변환 데이터를 보정함으로써 보정 데이터를 생성하는 계조 보정부와,
    상기 보정 데이터에 의거하여 상기 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 데이터 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 계조 보정부는 상기 변환 데이터와 상기 제 2 보정 요소의 논리 연산에 의해 상기 보정 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  7. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 화소 구동부는,
    상기 변환 데이터에 의거하여 상기 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 데이터 신호 생성부를 포함하고,
    상기 데이터 신호 생성부는 상기 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 데이터 신호를 아날로그 보정하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  8. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 화소 구동부는,
    상기 변환 데이터에 의거하여 상기 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 데이터 신호 생성부와,
    상기 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 휘도 설정이 실행되는 구동 기간을 가변(可變)으로 제어하는 구동 기간 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  9. 제 5 항에 있어서,
    상기 화소는 자기(自己)를 흐르는 전류에 의해 휘도가 설정되는 전기 광학 소자를 포함하고, 상기 데이터 신호 생성부는 상기 데이터 신호를 전류 베이스로 생성하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  10. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 제 1 보정 요소는 상기 전기 광학 장치의 주위 조도(照度) 변동, 및 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기(自己) 발열 온도 변동 중의 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 전기 광학 장치의 주위 조도를 검출하는 조도 검출부를 더 갖고,
    상기 주위 조도 변동은 상기 조도 검출부에 의해 검출된 상기 주위 조도에 의거하여 산출(算出)되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  12. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    상기 제 2 보정 요소는 상기 전기 광학 장치의 주위 온도 변동, 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화(劣化) 변동, 및 상기 화소가 매트릭스 형상으로 나열된 표시부의 표시 불균일 중의 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 전기 광학 장치의 주위 온도를 검출하는 온도 검출부를 더 갖고,
    상기 주위 온도 변동은 상기 온도 검출부에 의해 검출된 상기 주위 온도에 의거하여 산출되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화 정도를 검출하는 열화 정도 검출부를 더 갖고,
    상기 열화 변동은 상기 열화 정도 검출부에 의해 검출된 상기 열화 정도에 의거하여 산출되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 2 보정 요소가 복수 존재하는 경우에서,
    상기 화소 구동부는 상기 복수의 제 2 보정 요소에 의거하여 보정값을 산출하는 보정값 생성부를 포함하는 동시에, 상기 보정값 생성부에 의해 산출된 상기 보정값에 의거하여 상기 화소의 구동을 행하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 보정값 생성부는 상기 복수의 제 2 보정 요소의 논리 연산에 의해 상기보정값을 산출하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  17. 전기 광학 장치에 있어서,
    입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기 발열 온도 변동이 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 상기 표시 데이터로부터 상기 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 상기 변환 데이터를 생성하는 계조 특성 생성부와,
    상기 변환 데이터에 의거하여 상기 화소를 구동하는 화소 구동부를 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치.
  18. 제 1 항, 제 3 항 및 제 17 항 중 어느 한 항에 기재된 전기 광학 장치를 실장한 것을 특징으로 하는 전자 기기.
  19. 전기 광학 장치의 구동 방법에 있어서,
    입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 상기 표시 데이터로부터 상기 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 상기 변환 데이터를 생성하는 제 1 스텝과,
    상기 제 1 스텝과는 다른 종류의 처리를 이용하여, 상기 제 1 보정 요소와는다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의해 상기 변환 데이터의 계조 특성을 보정한 후에, 상기 화소를 구동하는 제 2 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 제 2 스텝은 상기 제 1 스텝에서의 상기 표시 데이터의 계조 특성 변형보다도 미세한 레벨로 상기 변환 데이터의 계조 특성을 보정하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  21. 전기 광학 장치의 구동 방법에 있어서,
    입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 적어도 1개의 제 1 보정 요소가 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 상기 표시 데이터의 계조 특성을 대략 조정한 상기 변환 데이터를 생성하는 제 1 스텝과,
    상기 제 1 보정 요소와는 다른 적어도 1개의 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 대략 조정보다도 미세한 레벨로 상기 변환 데이터의 계조 특성을 미세 조정한 후에, 상기 화소를 구동하는 제 2 스텝을 갖는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  22. 제 19 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 스텝은 기술 내용이 서로 다른 복수의 상기 변환 테이블 중, 상기 제 1 보정 요소에 따라, 어느 하나를 참조 대상으로서 선택하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  23. 제 18 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 2 스텝은,
    상기 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 변환 데이터를 보정함으로써 보정 데이터를 생성하는 스텝과,
    상기 보정 데이터에 의거하여 상기 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  24. 제 23 항에 있어서,
    상기 보정 데이터를 생성하는 스텝은, 상기 변환 데이터와 상기 제 2 보정 요소의 논리 연산에 의해 상기 보정 데이터를 생성하는 스텝인 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  25. 제 18 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 2 스텝은,
    상기 변환 데이터에 의거하여 상기 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 스텝을 포함하고,
    상기 스텝에서, 상기 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 데이터 신호를 아날로그 보정하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  26. 제 18 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 2 스텝은,
    상기 변환 데이터에 의거하여 상기 화소에 공급하는 데이터 신호를 생성하는 스텝과,
    상기 제 2 보정 요소에 의거하여 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 휘도 설정이 실행되는 구동 기간을 가변으로 제어하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  27. 제 23 항에 있어서,
    상기 화소는 자기를 흐르는 전류에 의해 휘도가 설정되는 전기 광학 소자를 포함하고, 상기 데이터 신호를 생성하는 스텝은 상기 데이터 신호를 전류 베이스로 생성하는 스텝인 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  28. 제 19 항 또는 제 21 항에 있어서,
    상기 제 1 보정 요소는 상기 전기 광학 장치의 주위 조도 변동, 및 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기 발열 온도 변동 중의 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  29. 제 28 항에 있어서,
    상기 주위 조도 변동은 조도 검출부에 의해 검출된 상기 전기 광학 장치의 주위 조도에 의거하여 산출되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  30. 제 19 항 또는 제 21 항에 있어서,
    상기 제 2 보정 요소는 상기 전기 광학 장치의 주위 온도 변동, 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화 변동, 및 상기 화소가 매트릭스 형상으로 나열된 표시부의 표시 불균일 중의 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  31. 제 30 항에 있어서,
    상기 주위 온도 변동은 온도 검출부에 의해 검출된 상기 전기 광학 장치의 주위 온도에 의거하여 산출되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  32. 제 30 항에 있어서,
    상기 열화 변동은 열화 정도 검출부에 의해 검출된 상기 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 열화 정도에 의거하여 산출되는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  33. 제 30 항에 있어서,
    상기 제 2 보정 요소가 복수 존재하는 경우에서,
    상기 제 2 스텝은 상기 복수의 제 2 보정 요소에 의거하여 보정값을 산출하는 스텝과, 상기 보정값에 의거하여 상기 화소의 구동을 행하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  34. 제 33 항에 있어서,
    상기 보정값을 산출하는 스텝은 상기 복수의 제 2 보정 요소의 논리 연산에 의해 상기 보정값을 산출하는 스텝인 것을 특징으로 하는 전기 광학 장치의 구동 방법.
  35. 전기 광학 장치의 구동 방법에 있어서,
    입력되는 표시 데이터와 출력되는 변환 데이터의 대응 관계가 기술되고, 화소 중에 포함되는 전기 광학 소자의 자기 발열 온도 변동이 기술 내용에 반영된 변환 테이블을 참조함으로써, 화소의 계조를 규정하는 상기 표시 데이터로부터 상기 표시 데이터의 계조 특성을 변형시킨 계조 특성을 갖는 상기 변환 데이터를 생성하는 제 1 스텝과,
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