CN1573875A - 电光学装置、电光学装置的驱动方法及电子机器 - Google Patents

电光学装置、电光学装置的驱动方法及电子机器 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种电光学装置，在灰度特性生成部(9)，通过参照在表述内容中反映了校正因素(ΔDlx、ΔDtl)的变换表，由规定像素的灰度的显示数据(D)，生成具有使该灰度特性变形后的灰度特性的变换数据(Dcvt)。数据线驱动电路(4)采用与灰度特性生成部(9)不同种类的处理，根据校正因素(ΔDta、ΔDd、和ΔDmura)，在校正变换数据(Dcvt)的灰度特性的基础上驱动像素(2)。这样，通过对多个干扰因素进行校正处理，实现显示质量的稳定化。

Description

电光学装置、电光学装置的驱动方法及电子机器
技术领域
本发明涉及一种电光学装置、电光学装置的驱动方法及电子机器，特别涉及规定像素的灰度的显示数据的校正处理。
背景技术
目前已知可以抑制由干扰因素引起的显示质量下降、具有校正功能的电光学装置。例如，在专利文献1中公开了如下技术：利用设置于显示面板内的多个温度传感器，检测出随有机EL元件的发热而产生的温度变动，并与此相应进行显示面板的驱动校正。
然而，作为对显示质量产生影响的干扰因素，除上述的温度因素以外还有各种各样的因素。例如，在使用电光学装置时的周围照度、像素中所含的电光学元件的经时劣化、或者由显示面板的制造无序偏差等引起的显示光斑等问题。
专利文献1：特开2002-175046号公报。
发明内容
本发明的目的在于通过与多个干扰因素相对应进行校正处理，而谋求实现显示质量的稳定化。
另外，本发明的另一目的在于，谋求实现相关校正处理的高速化。
为了解决相关课题，第一发明提供一种电光学装置，具有：灰度特性生成部，其通过参照表述了输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映了至少一个第一校正因素的变换表，由规定像素的灰度的显示数据，生成具有将显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的变换数据；和像素驱动部，其采用与灰度特性生成部不同种类的处理，根据与第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，在对变换数据的灰度特性进行校正的基础上驱动像素。
在此，优选第一发明中，像素驱动部以比灰度特性生成部中的显示数据的灰度特性的变形更细微的水平，对变换数据的灰度特性进行校正。
第二发明提供一种电光学装置，具有：灰度特性生成部，其通过参照表述了输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映了至少一个第一校正因素的变换表，生成对规定像素的灰度的显示数据的灰度特性进行粗调整后的变换数据；和像素驱动部，其基于与第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，在以比粗调整更细微的水平对变换数据的灰度特性进行微调整的基础上驱动像素。
在此，优选在第一或第二发明中，灰度特性生成部具有表述内容互不相同的多个变换表，并根据第一校正因素，选择多个变换表中任一个作为参照对象。
在第一或第二发明中，像素驱动部也可以含有：灰度校正部，其通过基于第二校正因素对变换数据进行校正，生成校正数据；和基于校正数据向像素供给数据信号的信号生成部。在此情况下，优选灰度校正部通过变换数据和第二校正因素的逻辑运算，生成校正数据。而且，作为其他的构成，像素驱动部也可以含有基于变换数据生成向像素供给的数据信号的数据信号生成部；数据信号生成部也可以基于第二校正因素对数据信号进行模拟校正。进一步，作为其他的构成，像素驱动部还可以包含：基于变换数据生成向像素供给的数据信号的信号生成部；以及驱动期间控制部，其基于第二校正因素、可变地控制对像素中包含的电光学元件的亮度进行设定的驱动期间。在这些构成中，优选在像素含有由自身流动的电流设定亮度的电光学元件的情况下，数据信号生成部以电流为基础生成数据信号。
在第一或第二发明中，优选第一校正因素含有电光学装置的周围照度变动、以及像素中包含的电光学元件的自发热温度变动中的至少一个。此情况下，也可以设置检测电光学装置的周围照度的照度检测部，基于由照度检测部检测出的周围照度，算出周围照度变动。
在第一或第二发明中，优选第二校正因素含有电光学装置的周围温度变动、像素中包含的电光学元件的劣化变动、以及像素按矩阵状排列的显示部的显示光斑中的至少一个。此情况下，也可以设置检测电光学装置的周围温度的温度检测部，基于由温度检测部检测出的周围温度，算出周围温度变动。另外，也可以设置检测像素中所包含的电光学元件的劣化程度的劣化程度检测部，基于由劣化程度检测部检测出的劣化程度，算出劣化变动。还有，优选在存在多个第二校正因素的情况下，像素驱动部含有基于多个第二校正因素算出校正值的校正值生成部，同时基于由校正值生成部算出的校正值，对像素进行驱动。该校正值生成部优选根据多个第二校正因素的逻辑运算来算出校正值。
第三发明提供一种电光学装置，具有：灰度特性生成部，其通过参照表述了输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映了至少一个第一校正因素的变换表，由规定像素的灰度的显示数据，生成具有将显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的变换数据；和基于变换数据来驱动像素的像素驱动部。
第四发明提供一种电子机器，其安装有与上述第一至三发明中任一项相关的电光学装置。
第五发明提供一种电光学装置的驱动方法，具有：第一步骤，其通过参照表述了输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映了至少一个第一校正因素的变换表，由规定像素的灰度的显示数据，生成具有将该显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的变换数据；和第二步骤，在采用与第一步骤不同种类的处理，通过由与第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，在对变换数据的灰度特性进行校正的基础上，驱动像素。
在此，第五发明中，优选第二步骤中包含以比第一步骤中的显示数据的灰度特性的变形更具细微的水平来校正变换数据的灰度特性的步骤。
第六发明提供一种电光学装置的驱动方法，具有：第一步骤，其参照表述了输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映了至少一个第一校正因素的变换表，生成对规定像素的灰度的显示数据的灰度特性进行粗调整后的变换数据；和第二步骤，其基于与第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，以比粗调整更细微的水平，对变换数据的灰度特性进行微调整的基础上，驱动像素。
在此，优选第五或第六发明中，第一步骤包含在表述内容互不相同的多个所述变换表中，根据第一校正因素选择其中任一个作为参照对象的步骤。
在第五或第六发明中，优选第二步骤包含通过基于第二校正因素校正变换数据来生成校正数据的步骤，以及基于校正数据生成向像素供给的数据信号的步骤。这里，生成校正数据的步骤也可以是通过变换数据和第二校正因素的逻辑运算来生成校正数据的步骤。另外，也可以代替该步骤，是基于变换数据生成向像素供给的数据信号的同时，基于第二校正因素对数据信号进行模拟校正的步骤。进一步，也可以代替上述步骤，包括基于变换数据生成向像素供给的数据信号的步骤，以及基于第二校正因素、可变地控制对包含在像素中的电光学元件的亮度进行设定的驱动期间的步骤。还有，优选在像素含有通过自身的电流来设定亮度的电光学元件的情况下，生成数据信号的步骤是以电流为基础生成数据信号的步骤。
优选第五或第六发明中，第一校正因素含有电光学装置的周围照度变动、以及像素中含有的电子光学元件自发热温度变动中的至少一个。优选在此情况下，周围照度变动基于照度检测部检测出的电光学装置的周围照度而计算出来。
优选第五或第六发明中，第二校正因素含有电光学装置的周围温度变动、像素中含有的电光学元件的劣化变动、以及像素呈矩阵状排列的显示部中的显示光斑中的至少一个。在此情况下，周围温度变动也可以基于温度检测部检测出的电光学装置的周围温度而计算出来。另外，劣化变动也可以根据劣化程度检测部检测出的像素中含有的电子光学元件的劣化程度而计算出来。进一步，优选在存在多个的第二校正因素时，第二步骤含有基于多个第二校正因素计算校正值的步骤、和基于校正值进行像素的驱动的步骤。在此情况下，计算校正值的步骤也可以是根据多个第二校正因素的逻辑运算来算出校正值的步骤。
第七发明提供一种电光学装置的驱动方法，具有：第一步骤，其通过参照表述了输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映了包含在像素中的电光学元件的自发热温度变动的变换表，根据规定像素的灰度的显示数据，生成具有将显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的变换数据；和第二步骤，其根据变换数据，驱动像素。
附图说明
图1为电光学装置的构成框图。
图2为像素的电路图。
图3为像素的驱动时序图。
图4为数据线驱动电路的结构图。
图5为表示周围温度Ta与周围温度变动ΔDta的关系的特性图。
图6为表示发热温度T1与自发热温度变动ΔDtl的关系的特性图。
图7为表示周围照度Lx与周围照度变动ΔDlx的关系的特性图。
图8为表示劣化程度d与劣化变动ΔDd的关系的特性图。
图9为表示光斑程度mura和显示光斑ΔDmura的关系的特性图。
图10为灰度特性生成部的结构图。
图11为变换表的说明图。
图12为变换数据的灰度特性图。
图13为伴随有机EL元件发热的灰度降低的说明图。
图14为与第一实施方式相关的电流DAC的结构图。
图15为表示变换数据与校正数据的关系的图。
图16为灰度校正部中的数据校正的特性图。
图17为第一实施方式的概略特征的说明图。
图18为与第二实施方式相关的电流DAC的结构图。
图19为第二实施方式的概略特征的说明图。
图20为第三实施方式的概略特征的说明图。
图21为与第三实施方式相关的像素的驱动时序图。
图22为与第三实施方式相关的像素的驱动时序图。
图中：1-显示部，2-像素，3-扫描线驱动电路，4-数据线驱动电路，5-照度检测部，6-温度检测部，7-劣化程度检测部，8-运算部，9-灰度特性生成部，10-驱动期间控制部，40-X移位寄存器，41-电路单元，42、44-开关组，43-第一锁存电路，45-第二锁存电路，46-电流DAC，46a-数据信号生成部，46b-校正值生成部，46c-灰度校正部，46d-驱动电压校正部，OLED-有机EL元件，T1～T4-晶体管，SW-开关晶体管，DR、DR2-驱动晶体管，C-电容器。
具体实施方式
第一实施方式
图1为本实施方式相关的电子光学装置的构成框图。例如，显示部1是通过TFT等驱动元件来驱动电子光学元件的有源矩阵型显示面板。在该显示部1中，m点×n线的像素2呈矩阵状(二维平面)排列。另外，在显示部1中，设有各自在水平方向上延伸的扫描线组Y1～Yn、和各自在垂直方向上延伸的数据线组X1～Xm，对应于它们的交叉点配置有像素2。在本实施方式中，虽把一个像素2作为图像的最小显示单位，但也可像彩色面板那样、以RGB三个子像素构成一个像素2。另外，图1中省略了向各个像素2供给规定的电压Vdd和Vss的电源线等。
图2为像素2的电路图的一例。一个像素2由有机EL元件OLED、4个晶体管T1～T4、以及保持数据的电容器C构成。被表记为二极管的有机EL元件OLED，是通过自身流动的驱动电流Ioled来设定亮度的典型的电流驱动型元件。在该像素电路中，采用n沟道型的晶体管T1、T2、T4、和p沟道型的晶体管T3，但这只不过是一个例子，也可以用与此不同的组合来设定沟道型。
晶体管T1的栅极与供给扫描信号SEL的一根扫描线Y相连接，其源极与供给数据電流Idata的一根数据线X相连接。该晶体管T1的漏极，与晶体管T2的源极、晶体管T3的漏极以及晶体管T4的漏极相共通连接。晶体管T2的栅极，与晶体管T1一样，与供给扫描信号SEL的扫描线Y连接。晶体管T2的漏极，与电容器C的一方的电极和晶体管T3的栅极相共通连接。
在电容器C的另一方电极和晶体管T3的源极上，施加电源电压Vdd。在彩色面板的情况下，该电源电压Vdd大多会被分别对RGB设定为不同的值。其原因是，由于有机EL元件OLED的材料会随RGB而不同，以适应由此而引起的电特性的不同。
其栅极被供给了驱动信号GP的晶体管T4，设置在晶体管T3的漏极与有机EL元件OLED的阳极之间。在该有机EL元件OLED的阴极上施加比电源电压Vdd更低的基准电压Vss。另外，除电容器C以外，也可以用能够记忆多位的数据的存储器(SRAM等)作为保持数据的电路要素。
图3为图2所示的像素2的驱动时序图。通过扫描线Y1～Yn的线顺序扫描，假设某像素2的选择的开始时刻为t0，假设该像素2的选择的下一次开始的时刻为t2。该期间t0～t2分为前半编程期间t0～t1和后半驱动期间t1～t2。
在编程期间t0～t1，进行对电容器C的数据写入。首先，在时刻t0，扫描信号SEL上升到高电平(以下称为“H电平”)，作为开关元件发挥功能的晶体管T1、T2都接通(导通)。由此，数据线X与晶体管T3的漏极电连接的同时，晶体管T3变成自身的栅极与自身的漏极电连接的二极管连接。晶体管T3中，由数据线X供给的数据电流Idata在自身的沟道流动，与该数据电流Idata相对应的电压作为栅极电压Vg而产生。与晶体管T3的栅极相连接的电容器C中，存储与产生的栅极电压Vg相应的电荷，与存储的电荷量相应的数据被写入。
在编程期间t0～t1，晶体管T3作为编程晶体管发挥作用，其根据在自身沟道流动的数据信号对电容器C进行数据写入。而且，由于驱动信号GP被维持在低电平(以下称“L电平”)，晶体管T4处于截止(非导通)状态。因此，对有机EL元件OLED的驱动电流Ioled的路径被晶体管T4截断，有机EL元件OLED不发光。
在接着的驱动期间t1～t2，驱动电流Ioled在有机EL元件OLED流动，对有机EL元件OLED的亮度进行设定。首先，在时刻t1，扫描信号SEL下降至L电平，晶体管T1、T2都截止。由此，供给数据电流Idata的数据线X与晶体管T3的漏极电分离，晶体管T3的栅极与漏极之间也被电分离。在晶体管T3的栅极上持续施加对应于电容器C的存储电荷的栅极电压Vg。与时刻t1的扫描信号SEL的下降同步(不限于同一时刻)，之前为L电平的驱动信号GP上升至H电平。由此形成从电源电压Vdd到基准电压Vss，经由晶体管T3、T4和有机EL元件OLED的驱动电流Ioled的路径。在有机EL元件OLED流动的驱动电流Ioled，相当于晶体管T3的沟道电流，其电流幅度是通过由电容器C的存储电荷而引起的栅极电压Vg来控制。
在驱动期间t1～t2，晶体管T3作为向有机EL元件OLED供给驱动电流Ioled的驱动晶体管发挥作用，而有机EL元件OLED以与该驱动电流Ioled相应的亮度发光。
扫描线驱动电路3和数据线驱动电路4，在图中未示的控制电路的控制下，互相协作进行显示部1的显示控制。扫描线驱动电路3，以移位寄存器、输出电路等为主体而构成，通过向扫描线Y1～Yn输出扫描信号SEL，进行以规定的选择顺序来依次选择扫描线Y1～Yn的线顺序扫描。扫描信号SEL采用H电平或L电平的2值的信号电平，并分别将对应于数据写入对象的像素行(1水平行的像素群)的扫描线Y设定成H电平，而此外的扫描线Y设定成L电平。然后，在1垂直扫描期间(1F)，按规定的选择顺序，各个像素行被依次选择。另外，扫描线驱动电路3，除扫描信号SEL以外，也输出如图2所示的对晶体管T4进行导通控制的驱动信号GP(或其基极信号)。由该驱动信号GP，设定驱动期间、亦即对像素2中所包含的有机EL元件OLED的亮度进行设定的期间。
数据线驱动电路4，与由扫描线驱动电路3进行的线顺序扫描同步，基于电流向各条数据线X1～Xm供给信号。图4为数据线驱动电路4的结构图。该数据线驱动电路4由m位的X移位寄存器40及以数据线单位设置的m个电路单元41构成。X移位寄存器40，将1水平扫描期间(1H)的最初被供给的启动脉冲ST按照时钟信号CLX传送，将锁存信号S1，S2，S3，…，Sm的电平，依次排他地设定为H电平。
m个电路单元41，同时进行在某个1H对将写入数据的像素行的基于电流的信号的一起输出、以及在下一个1H对与将进行写入的像素行相关的数据的点顺序锁存。单一的电路单元41由开关组42、44、第一锁存电路43、第二锁存电路45以及电流DAC46构成，其中开关组42、44是作为按数据Dcvt(D0～D5)的位单位而设置的6个开关的集合。与数据线X1～Xm对应的各个电路单元41的动作，除由锁存信号S1、S2、S3…Sm导致的数据D0～D5的读入时刻不同的这一点外，其余都相同。即，最前段的开关组42，由于对应的锁存信号S变成H电平而接通。由此，在锁存信号S规定的读入时刻，6位数据D0～D5被读入第一锁存电路43。在锁存脉冲LP变成H电平而开关组44接通的时刻，第一锁存电路43中锁存的数据D0～D5被向第二锁存电路45传送。与此同时，经由开关组42，下一个1H中的数据D0～D5又被新锁存于第一锁存电路43中。
电流DAC46，对第二锁存电路45中锁存的6位的数据D0～D5进行D/A转换，生成模拟信号的数据电流Idata，供给与此对应的数据线X。电流DAC46作为下述的校正类电路一部分的像素驱动部发挥功能。为实现该功能还附加有必要的电路，关于其具体的电路结构将在后面叙述。
还有，从帧存储器等(图中未示)直接对数据线驱动电路4按线顺序输入数据的结构也能应用本发明，在此情况下，作为本发明的主体部份的动作也是同样的。在如此结构的情况下，没有必要在数据线驱动电路4中设置移位寄存器。
在本实施方式中，设置有由电路要素5～10和电流DAC46的附加电路构成的校正类电路，通过此电路来统一进行与多个干扰因素相应的校正。成为校正项目的干扰因素有5个，对各个干扰因素进行校正的校正因素为ΔDta、ΔDtl、ΔDlx、ΔDd、和ΔDmura。
周围温度变动ΔDta，是对电光学装置的使用环境的温度，即，对周围温度Ta的变动进行校正的校正因素。一般的，周围温度Ta一变动，有机EL元件OLED的驱动电压和发光效率等也发生变动。因此，为在此温度区域全体上实现显示质量的稳定化，优选进行考虑了作为干扰因素的周围温度Ta的影响的校正。图5是表示作为一个例子的周围温度Ta和周围温度变动ΔDta的关系的特性图。鉴于有机EL元件OLED的温度-亮度特性因RGB而不同，周围温度变动ΔDta按RGB而分别设置。对于B(蓝色)，随周围温度Ta的增加，周围温度变动ΔDta呈线性增加；而对于R(红色)和G(绿色)，随周围温度Ta的增加，周围温度变动ΔDta呈线性减少。
根据周围温度变动ΔDta的校正，通过作为电光学装置的内置传感器而设置的温度检测部6检测出显示部1附近的周围温度Ta，而实时进行。运算部8，进行将由温度检测部6检测出的周围温度Ta输入后的运算处理，算出在像素2的灰度设定时应该附加的校正值，将此作为周围温度变动ΔDta向数据线驱动电路4输出。该运算处理，认定进行例如参照图5所示特性所表述的变换表，从输入值Ta求出输出值ΔDta的查表处理(Look UpTable处理)，但也可使用其他的处理方法。还有，鉴于周围温度Ta的影响是作用于显示部1全体，该校正的单位是显示部1全体。
作为温度检测部6，也可以如特开2002-98594号公报中公开的那样，使用装载温度传感器的半导体芯片，也能够如特开2002-122838号公报中公开的那样，利用在显示部1的基板上形成的温度检测元件(对于PN接合的温度的电压变化进行检测的元件)。
还有，从确保周围温度Ta的检测精度的观点来看，显示部1的周围温度没有偏差为好。因此，优选使用冷却风扇、或者如特开平11-95872号公报或特开平11-251777号公报中所公开的高导热材料等，更有效对从电光学装置产生的热进行散热，使周围的温度均匀化。
自发热温度变动ΔDtl，是对伴随有机EL元件OLED的发光的发热温度T1的变动进行校正的校正因素。一般地，有机EL元件OLED的发光亮度变得越高，有机EL元件OLED的发热温度也变高。因此，为了在此发热温度区域整体上实现显示质量的稳定化，优选进行考虑了干扰因素发热温度T1的影响的校正。图6是表示作为一个例子的发热温度T1和自发热温度变动ΔDtl的关系的特性图。自发热温度变动ΔDtl，按RGB分别进行设置，其都随着发热温度T1的升高呈非线性增加。
像素2的灰度与发热温度T1的关系，通过实验和模拟等而预先得知。以此得知为前提，自发热温度变动ΔDtl，作为灰度特性生成部9具有的变换表的设定值而已被折合。即，变换表的表述内容本身，变为反映了例如如图6那样的特性的内容。在此情况下，为了进行根据自发热温度变动ΔDtl的校正，就没有必要使用传感器类了。而且，此校正单位基本上是每个像素，但在认定某像素2的发热量也向周围像素扩散的情况时，也可设为包含周围像素的块单位。
周围照度变动ΔDlx是对电光学装置的使用环境的明亮度，即对周围照度Lx的变动进行校正的校正因素。一般地，依照外部光的程度，来改变在进行表观良好的显示上最合适的有机EL元件OLED的发光亮度。例如，在明亮的外部光下使用时，比通常显示情况的发光亮度更明亮、高对比度化可使视认性提高。与此相对，在昏暗的室内使用时，由于以通常的显示状态会过于明亮，所以稍微使发光亮度变暗可提高视认性。因此，为了在该照度区域全体上得到稳定的视认性，优选进行考虑了干扰因素周围照度Lx的影响的校正。图7是表示作为一例的周围照度Lx和周围照度变动ΔDlx的关系的特性图。关于周围照度变动ΔDlx，与其他的校正因素不同，对RGB共同设置，其随周围照度Lx的增加呈非线性增加。
对应于周围照度变动ΔDlx的校正，通过作为电光学装置的内置传感器而设置的照度检测部5检测出显示部1附近的周围照度Lx，而实时进行。运算部8，进行将由照度检测部5检测出的周围照度Lx输入后的运算处理，算出在像素2的灰度设定时应该附加的校正值，将此作为周围照度变动ΔDlx向灰度特性生成部9输出。该运算处理，认定进行例如参照如图7所示特性所表述的变换表，从输入值Lx求出输出值ΔDlx的LUT处理，但也可使用其他的处理方法。还有，鉴于周围照度Lx的影响是作用于显示部1全体，该校正的单位是显示部1全体。
作为照度检测部5，也可以如特开2000-66624号公报中公开的那样，使用检测外部光的强度的照度传感器。并且，从确保周围照度Lx的检测精度的观点来看，为了不受显示部1自发光的影响，优选在显示部1设置遮蔽自发光的结构。
劣化变动ΔDd，是对由有机EL元件OLED的劣化程度d产生的变动进行校正的校正因素。一般地，随着有机EL元件OLED的劣化，有机EL元件OLED的驱动电压和发光效率等逐渐降低。因此，为了实现时间轴区域全体的显示质量的稳定化，优选进行考虑了作为干扰要素的劣化程度d的影响的校正。图8是表示作为一个例子的劣化程度d和劣化变动ΔDd的关系的特性图。鉴于劣化程度d因RGB而分别不同，劣化变动ΔDd也按RGB而分别产生，但其都随劣化程度d的增加而呈线性增加。
根据劣化变动ΔDd的校正，通过作为电光学装置的内置传感器而设置的劣化程度检测部7检测出劣化程度d，而实时进行。运算部8，进行将由劣化程度检测部7检测出的劣化程度d输入后的运算处理，算出在像素2的灰度设定时应该附加的校正值，将此作为劣化变动ΔDd向数据线驱动电路4输出。该运算处理，认定进行例如参照图8所示特性所表述的变换表、从输入值d求出输出值ΔDd的LUT处理，但也可使用其他的处理方法。
作为劣化程度检测部7，可以使用例如测量电光学装置到目前为止的动作的累积时间的计时器、或者测量帧存储器中目前为止累积的显示数据的累积数的计数器等。在此情况下，校正单位是显示部1全体。而且，也可用有机EL元件OLED的发光状态基准来推定劣化程度d，来代替这种以时间轴基准来推定劣化程度d的方法。譬如，利用CCD传感器或CMOS传感器等亮度传感器，以像素单位检测出有机EL元件OLED的发光亮度，从相对于原本的亮度的实际亮度的降低部分来推定劣化程度d。此情况的校正单位是每个像素。
关于这种亮度传感器的具体构成，除在特开平9-237887号公报和特开平11-345957号公报中公开的之外，还可以在电光学装置上设置能开闭的盖子，在与显示部1相向的盖子内面(相对面)上设置CCD传感器。
显示光斑ΔDmura是对由有机EL元件OLED的驱动电压、发光效率、色度等的不同而造成的显示部1的光斑程度mura进行校正的校正因素。图9为表示作为一例的光斑程度mura和显示光斑ΔDmura的关系的特性图。考虑到每个RGB特性的不同，显示光斑ΔDmura也按RGB而分别设置，但其都随光斑程度mura的发展呈线性增加。
对应于显示光斑ΔDmura的校正，通过由外接于电光学装置的检查装置(图中未示)来检测光斑程度mura，在产品出厂前进行。运算部8，进行将由检查装置检测的光斑程度mura输入后的运算处理，算出在像素2的灰度设定时应该附加的校正值，将此作为显示光斑ΔDmura向数据线驱动电路4输出。该运算处理，认定进行例如参照如图9所示特性所表述的变换表、从输入值mura求出输出值ΔDmura的LUT处理，但也可使用其他的处理方法。在以像素单位对光斑程度mura进行检测的情况下，校正单位也是每个像素。
还有，对应于显示光斑ΔDmura的校正，在产品出厂前进行就足够了，之后没有必要再进行校正。但是，也能够用上述亮度传感器实时检测光斑程度mura，来实时进行对应于显示光斑ΔDmura的校正。
图10为说明灰度特性生成部9的结构图。灰度特性生成部9，通过对输入的显示数据D的灰度特性进行粗调整，生成并输出变换数据Dcvt。在此，进行使显示数据D的灰度特性的形式本身变形为其他形式的数据变换，认定是伴有不易用逻辑运算等来对应的比较大的变形的数据变换(粗调整)。因此，采用容易应对如此的粗调整的LUT处理。显示数据D是规定像素2的灰度的数字信号，一般地，是来自图中未示的上位的帧存储器的数据。该显示数据D对于灰度多为线性值，但灰度特性生成部9具有将显示数据D加工成非线性值的功能。因此，有必要准备比显示数据D具有的位区域大的位区域，在本实施例中，对于4位的显示数据D(D0～D3)，生成6位的变换数据Dcvt(D0～D5)。
灰度特性生成部9具有表述内容相异的多个变换表LUT1～LUT4。图11为变换表LUT1～LUT4的说明图。
还有，图12为由显示数据D的数据变换而生成的变换数据Dcvt的灰度特性图，横轴、纵轴分别表示显示数据D和变换数据Dcvt。各个变换表LUT1～LUT4表述了4位的显示数据D(输入值)和6位的变换数据Dcvt(输出值)的对应关系。与显示数据D的灰度特性不同，变换数据Dcvt被设定为具有把显示数据D的线性变形为非线性后的灰度特性，且随着显示数据D朝向高灰度方向，变换数据Dcvt呈非线性增加。
对应于周围照度变化ΔDlx的校正，是通过从变换表LUT1～LUT4中选择其中任一项来实现的。在此，比较变换表LUT1～LUT4的特性，按LUT1、LUT2、LUT3、LUT4的顺序，变换数据Dcvt的增加率也在变大。而且，对于同一显示数据D的变换数据Dcvt，存在按此顺序向高灰度方向位移的倾向；显示数据D越变成高灰度，该倾向越变得明显。这些变换表LUT1～LUT4的表述内容中，反映了周围照度变动ΔDlx的影响。
作为一个例子，在昏暗的室内的第一使用状况下，由运算部8指示ΔDlx＝0，选择变换表LUT1。然后，根据该变换表LUT1的表述内容，输出与显示数据D相对应的变换数据Dcvt。例如，显示数据D是“1000”(灰度8)的情况下，输出“000010”(灰度2)的变换数据Dcvt。该数据变换，等价于对显示数据D进行把原本的灰度大幅度降低的暗校正。另外，在比第一种使用情况些许明亮的第二种使用情况(例如，在明亮的室内使用时)下，被指示ΔDlx＝1，选择变换表LUT2。接着，输出根据该变换表LUT2的表述内容的变换数据Dcvt。例如，对于“1000”(灰度8)的显示数据D，输出“000110”(灰度6)的变换数据Dcvt。该数据变换，等价于对显示数据D进行使灰度些许降低的暗校正。另外，在比第二种使用状况还明亮的第三种使用状况(例如，在阴天的室外使用时)下，变为ΔDlx＝2，选择变换表LUT3作为参照对象。例如，对于“1000”(灰度8)的显示数据D，输出“001110”(灰度14)的变换数据Dcvt。该数据变换，等价于对显示数据D进行使灰度些许提高的亮校正。另外，在比第三种使用状况还明亮的第四种使用状况(例如，在室外明亮的外部光下使用时)下，变为ΔDlx＝3，选择变换表LUT4作为参照对象。例如，对于“1000”(灰度8)的显示数据D，输出“011000”(灰度24)的变换数据Dcvt。该数据变换，等价于对显示数据D进行大幅度提高灰度的亮校正。
另一方面，在各个变换表LUT1～LUT4的表述内容中，不仅反映周围照度变动ΔDlx，而且反映自发热温度变动ΔDtl。众所周知，一般地，发光的同时，有机EL元件OLED本身发热，发光效率会降低。因此，如图13所示，以实线表示的实际的灰度(外观上的灰度特性)比以虚线表示的原本的灰度还低。所以，在预料到此灰度偏差的基础上，设定变换表LUT1～LUT4的表述内容。由此，校正了伴随有机EL元件OLED的发热的灰度偏差后的数据，作为变换数据Dcvt输出。
图14为与本实施方式相关的电流DAC46的结构图。该电流DAC46，含有以基于电流生成向像素2供给的数据信号的数据信号生成部46a作为主体、并追加了校正值生成部46b和灰度校正部46c的结构。校正值生成部46b由进行比较简单的加减乘除运算的运算电路构成，其基于来自运算部8的3个校正因素ΔDta、ΔDd、和ΔDmura，生成校正值K(校正系数a、b的组合)作为综合了3个因素的代表值。在该图的结构中，周围温度变动ΔDta的值成为校正系数a，劣化变动ΔDd与显示光斑ΔDmura的相加值便成为校正系数b。另外，校正值K(a、b)的计算，认定为加减乘除的组合程度比较简单的逻辑运算，但也可通过更复杂的逻辑运算来进行。
灰度校正部46c，基于校正值K(a、b)，对由灰度特性生成部9输出的变换数据Dcvt进行规定的运算，输出校正数据Damd。在此，不是使变换数据Dcvt的灰度特性大幅度变形，而是对全体灰度统一地进行规定的校正处理。该校正处理，认定为加减乘除的组合程度比较简单的逻辑运算，但也可以是更复杂的逻辑运算。由此，在维持变换数据Dcvt的基本的灰度特性的同时，以比灰度特性生成部9中的灰度特性的变形更细微的水平，进行灰度特性校正的微调整。在本实施方式中，通过Damd＝a·Dcvt+b的线性运算，扩展6位的变换数据Dcvt，从而算出8位的校正数据Damd。图15表示，作为一例，在a＝010和b＝110时变换数据Dcvt(输入值)和校正数据Damd(输出值)的关系。而且，图16为灰度校正部46c中的数据校正的特性图。
数据信号生成部46a设置于数据线X与基准电压Vss之间，并具有校正数据Damd的位数个(即8个)的互相串联的开关晶体管SW与驱动晶体管DR的配对。各个驱动晶体管DR作为沟道中流动根据各自的增益系数β的电流的恒流源而发挥功能，其栅极上被共同施加规定的驱动电压Vbase。对应于构成校正数据Damd的8位的加权，这些驱动晶体管DR的增益系数β的比被设定成1∶2∶4∶8∶16∶32∶64∶128。而且，8个开关晶体管SW的导通状态与8位的校正数据Damd(D0～D7)的内容相对应而被设定，在对应于导通的开关晶体管的驱动晶体管DR中，产生根据增益系数β的沟道电流。向数据线X供给的数据电流Idata是在各个驱动晶体管DR中流动的沟道电流的合计值。
这样，根据本实施方式，可以综合进行对应于多个干扰因素的校正。如图17所示，在本实施方式中，在由显示数据D生成数据电流Idata的过程中，进行不同种类的2个校正处理。首先，在灰度特性生成部9，通过LUT处理，进行附加了2个校正因素ΔDlx和ΔDtl的校正，由显示数据D生成变换数据Dcvt。通过该基于LUT处理的校正，有效减低周围照度Lx和发热温度T1这2个干扰因素的影响，并输出具有使显示数据D的灰度特性变形后的灰度特性的变换数据Dcvt。另外，在构成像素驱动部的一部分的灰度校正部46c，通过逻辑运算，进行附加了3个校正因素ΔDd、ΔDmura和ΔDta的校正，由变换数据Dcvt生成校正数据Damd。通过该基于逻辑运算的校正，有效减低劣化程度d、光斑程度mura和周围温度Ta这3个干扰因素的影响，并输出校正了变换数据的灰度特性的校正数据Damd。然后，在构成像素驱动部的一部分的数据信号生成部46a，由校正数据Damd生成数据电流Idata，并基于此进行像素2的驱动。这样，由于通过在综合考虑了5个校正因素ΔDlx、ΔDtl、ΔDd、ΔDmura、和ΔDta的基础上生成数据电流Idata，能有效减低多个干扰因素的影响，所以能够实现显示质量的稳定化。
而且，根据本实施方式，通过并用由LUT处理进行的粗调整和由逻辑运算进行的微调整，可以快速进行有关显示数据D的一系列的校正处理。一般地，LUT处理，其适合于使灰度特性大幅变形的粗调整，相反也存在随着输入数量的增大而变换表LUT的表述内容变得膨大，容易导致处理速度降低的缺点。与此相反，逻辑运算，虽然不适合于粗调整，相反具有与输入数量无关、能够进行快速处理的优点。因此，在本实施方式中，将应对应的校正因素分为：与使灰度特性本身变形的粗调整相对应的粗调整因素ΔDlx、ΔDtl，以及与比粗调整更细微水平的变形相对应的微调整因素ΔDd、ΔDmura和ΔDta。然后，关于前者，其与利用LUT处理的粗调整相对应，而关于后者，其与利用逻辑运算、比粗调整更细微水平的微调整相对应。由此，与所有的校正因素对应于LUT处理的情况相比，能显著减少变换表LUT的表述内容。其结果，可以实现显示数据D的一系列校正处理的高速化并能够进行实时对应。
还有，在本实施方式中，通过实验和模拟，预先得到自发热温度变动ΔDtl的特性，并作成表述内容中反映了该内容的变换表LUT。然后，通过参照该变换表LUT，由显示数据D生成变换数据Dcvt。由此，没有必要用温度传感器等直接检测有机EL元件OLED发光时的发热温度。其结果可以抑制显示部1的电路规模的增大，而且也具有消除传感器的检测精度问题等的效果。
还有，在本实施方式中，是对于以周围照度变动ΔDlx和自发热温度变动ΔDtl的双方作为粗调整因素的例子进行说明的，但也可将其中至少一方作为粗调整因素。同样，对以周围温度变动ΔDta、劣化变动ΔDd以及显示光斑ΔDmura全部作为微调整因素的例子进行了说明，但也可将其中至少一方作为微调整因素。还有，本发明也能广泛适用于考虑到如例所示的5个校正因素以外的因素的校正处理。
另外，在本实施方式中，设有校正值生成部46b，其综合多个微调整因素ΔDd、ΔDmura和ΔDta、计算出作为它们的代表值的校正值K。因此在只有一个微调整因素的情况下，也可不设置校正值生成部46b。
此外，本发明能够适用的象素电路的构成并不限于上述实施方式，也能广泛地适用于包含例如在特表2002-51430号公报中公开的像素电路。另外，本发明的适用范围不限于应用于电流编程方式的像素电路，也同样能够适用于采用基于电压向数据线X输出数据的“电压编程方式”的像素电路。
上述3种变形例也同样适用于下述第二和第三实施方式。
第二实施方式
图18表示有关第二实施方式的电流DAC46的结构图。该电流DAC46含有以基于电流生成向像素2供给的数据信号的数据信号生成部46a作为主体、并追加了校正值生成部46b和驱动电压校正部46d的结构。与图14的构成例不同之处在于，数据信号生成部46a的结构有些许不同、以及设有代替灰度校正部46c的驱动电压校正部46d。除此以外，都与图14的电路要素相同，所以标注相同符号并省略在此的说明。
数据信号生成部46a设置于数据线X与基准电压Vss之间，并具有变换数据Dcvt的位数个(即6个)互相串联的开关晶体管SW与驱动晶体管DR的配对。对应于构成变换数据Dcvt的6位的加权，6个驱动晶体管DR的增益系数β的比被设定成1∶2∶4∶8∶16∶32，其栅极上被共同施加第一驱动电压Vbase1。而且，6个开关晶体管SW的导通状态与由灰度特性生成部9的变换数据Dcvt(D0～D5)的内容相对应而设定，在对应于导通的开关晶体管的驱动晶体管DR中，产生根据增益系数β的沟道电流。此外，在数据线X和基准电压Vss之间，追加具有k·β(k是自然数)的增益系数的驱动晶体管DR2，在该栅极上施加有第二驱动电压Vbase2。
在驱动电压校正部46d，基于从校正值生成部46b来的校正值K(a，b)，可变地设定第一驱动电压Vbase1和第二驱动电压Vbase2。
根据校正系数a设定第一驱动电压Vbase1，该电压随校正系数a的增大而增大。根据校正系数b设定第二驱动电压Vbase2，而该电压随校正系数b的增大而增大。驱动晶体管DR、DR2的沟道电流，被通过驱动电压Vbase1、Vbase2进行微调整，由此对数据电流Idata进行模拟校正。
图19为本实施方式的概略特征的说明图。在本实施方式中，在从显示数据D生成数据电流Idata的过程中，进行种类不同的2种校正处理。首先，在灰度特性生成部9，通过LUT处理，进行考虑了2个校正因素ΔDlx和ΔDtl的校正，由显示数据D生成变换数据Dcvt。另外，在相当于像素驱动部的数据信号生成部46a，由变换数据Dcvt生成数据电流Idata。由于驱动晶体管DR、DR2与3个校正因素ΔDd、ΔDmura和ΔDta相对应而变化，进行对数据电流Idata的模拟微调整。像素2通过这样被模拟校正的数据电流Idata来驱动。
这样，通过在综合考虑了5个校正因素ΔDlx、ΔDtl、ΔDd、ΔDmura、和ΔDta的基础上生成数据电流Idata，可以减低多个干扰因素的影响，能够实现显示质量的稳定化。与此同时，通过并用由LUT处理进行的粗调整和由模拟处理进行的微调整，可以快速进行有关显示数据D的一系列的校正处理。
第三实施方式
图20为第三种实施方式的概略特征的说明图。在本实施方式中，通过灰度特性生成部9的LUT处理，进行考虑了2个校正因素ΔDlx和ΔDtl的校正，由显示数据D生成变换数据Dcvt。构成像素驱动部的一部分数据信号生成部46a，不考虑3个校正因素ΔDd、ΔDmura和ΔDta，由变换数据Dcvt直接生成数据电流Idata，并将其经由数据线X供给象素2。
另一方面，构成像素驱动部的一部分的驱动期间控制部10，在考虑到3个校正因素ΔDd、ΔDmura和ΔDta的基础上，对图2所示的像素2的驱动期间进行控制。图21为作为一例的像素2的驱动时序图。在扫描信号SEL的下降时刻t1和驱动信号GP的上升时刻之间，设定延迟时间Δt，通过校正值K(a、b)可变地控制该延迟时间Δt。由此，特定有机EL元件OLED发光的导通时间ton，决定有机EL元件OLED的亮度。图22为作为另一例的像素2的驱动时序图。在期间t1～t2中，将驱动信号GP设定成脉冲状，并交替设定使像素2中所含的有机EL元件OLED发光的导通期间ton和不发光的截止期间toff。有机EL元件OLED的发光亮度是由期间t2～t3占据的导通期间ton的占空比来决定的。另外，也可以通过时间轴调制方式之一的子区段驱动对驱动期间进行控制。众所周知，在子区段驱动中，利用通过分割规定的期间(例如1帧)而被规定的多个子区段，来进行像素的灰度显示。
这样，在本实施方式中，在考虑了2个校正因素ΔDlx、ΔDtl的基础上生成数据电流Idata，同时在考虑了3个校正因素ΔDd、ΔDmura和ΔDta的基础上可变地控制像素2的驱动时间。由此，与上述各实施方式相同，可以减低多个干扰因素的影响，能实现显示质量的稳定化。与此同时，通过并用由LUT处理进行的粗调整和基于驱动时间进行的微调整，可以快速进行有关显示数据D的一系列的校正处理。
还有，在上述各实施方式中，对使用有机EL元件OLED作为电光学元件的结构进行了说明。但本发明不仅限于此，对液晶(LC)、无机LED、数字微镜装置(DMD)、或者在采用由等离子体发光、电子发射产生的蛍光等的各种电光学元件也能够广泛适用。
还有，上述各实施方式相关的电光学装置，能够广泛安装于包括例如电视接收机、投影机、观测仪、移动电话机、便携式终端、便携式游戏机、电子图书、摄象机、数码相机、汽车导航、汽车音响，移动式计算机、个人计算机、打印机、扫描仪、POS、录像播放器、带显示功能的传真装置、电子向导板、工作机械或运输车辆等的驾驶操作面板等的各种电子机器中。若在这些电子机器中安装上述电光学装置，可以进一步提高电子机器的商品价值，并可以实现提高市场中的电子机器的商品竞争力。
依据本发明，通过综合进行与多个干扰因素相对应的校正，可以实现电光学装置的显示质量的稳定化。与此同时，通过并用由LUT处理进行的粗调整和由与LUT处理不同的处理进行的微调整，能够实现校正处理的快速化。

Claims (35)

1、一种电光学装置，其特征在于，具有：
灰度特性生成部，其通过参照表述输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映至少一个第一校正因素的变换表，根据规定像素的灰度的所述显示数据，生成具有将所述显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的所述变换数据；和
像素驱动部，其采用与所述灰度特性生成部不同种类的处理，由与所述第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，在对所述变换数据的灰度特性进行校正的基础上，驱动所述像素。
2、根据权利要求1所述的电光学装置，其特征在于，
所述像素驱动部，以比所述灰度特性生成部中的所述显示数据的灰度特性的变形更细微的程度，校正所述变换数据的灰度特性。
3、一种电光学装置，其特征在于，具有：
灰度特性生成部，其通过参照表述输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映至少一个第一校正因素的变换表，生成对规定像素的灰度的所述显示数据的灰度特性进行粗调整后的所述变换数据；和
像素驱动部，其基于与所述第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，在以比所述粗调整更细微的程度对所述变换数据的灰度特性进行微调整的基础上，驱动所述像素。
4、根据权利要求1至3中任一项所述的电光学装置，其特征在于，
所述灰度特性生成部，具有在表述内容上相互不同的多个所述变换表，根据所述第一校正因素，选择所述多个变换表中的任一个作为参照对象。
5、根据权利要求1至3中任一项所述的电光学装置，其特征在于，所述像素驱动部包括：
灰度校正部，其通过根据所述第二校正因素校正所述变换数据，生成校正数据；和
数据信号生成部，根据所述校正数据，生成向所述像素供给的数据信号。
6、根据权利要求5所述的电光学装置，其特征在于，
所述灰度校正部，通过所述变换数据和所述第二校正因素之间的逻辑运算，生成所述校正数据。
7、根据权利要求1至3中任一项所述的电光学装置，其特征在于，
所述像素驱动部具有数据信号生成部，其根据所述变换数据，生成向所述像素供给的数据信号；
该数据信号生成部根据所述第二校正因素对所述数据信号进行模拟校正。
8、根据权利要求1至3中任一项所述的电光学装置，其特征在于，所述像素驱动部具有：
数据信号生成部，其根据所述变换数据，生成向所述像素供给的数据信号；和
驱动期间控制部，其根据所述第二校正因素、可变控制对包含在所述像素中的电光学元件的亮度进行设定的驱动期间。
9、根据权利要求5至8中任一项所述的电光学装置，其特征在于，
所述像素包含由自身流动的电流设定亮度的电光学元件，所述数据信号生成部以电流为基础生成所述数据信号。
10、根据权利要求1至9中任一项所述的电光学装置，其特征在于，
所述第一校正因素包括所述电光学装置的周围照度变动、以及所述像素中包含的电光学元件的自发热温度变动中的至少一个。
11、根据权利要求10所述的电光学装置，其特征在于，
进一步具有检测所述电光学装置的周围照度的照度检测部；
所述周围照度变动根据由所述照度检测部所检测出的所述周围照度计算。
12、根据权利要求1至11中任一项所述的电光学装置，其特征在于，
所述第2校正因素包括所述电光学装置的周围温度变动、在所述像素中包含的电光学元件的劣化变动、以及所述像素按矩阵状排列的显示部的显示光斑中的至少一个。
13、根据权利要求12所述的电光学装置，其特征在于，
进一步具有检测所述电光学装置的周围温度的温度检测部；
所述周围温度变动根据由所述温度检测部检测出的所述周围温度计算。
14、根据权利要求12所述的电光学装置，其特征在于，
进一步具有劣化程度检测部，其检测在所述像素中所包含的电光学元件的劣化程度；
所述劣化变动根据由所述劣化程度检测部检测出的所述劣化程度计算。
15、根据权利要求12所述的电光学装置，其特征在于，
在所述第二校正因素存在多个时，所述像素驱动部包含根据所述多个第二校正因素算出校正值的校正值生成部，同时根据由该校正值生成部算出的所述校正值，对所述像素进行驱动。
16、根据权利要求15所述的电光学装置，其特征在于，
所述校正值生成部，通过所述多个第二校正因素的逻辑运算，计算所述校正值。
17、一种电光学装置，其特征在于，具有：
灰度特性生成部，其通过参照表述输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映包含在所述像素中的电光学元件的自发热温度变动的变换表，根据规定像素的灰度的所述显示数据，生成具有将所述显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的所述变换数据；和
像素驱动部，其根据所述变换数据，驱动所述像素。
18、一种电子机器，其特征在于，安装有权利要求1至17中任一项所述的电光学装置。
19、一种电光学装置的驱动方法，其特征在于，具有：
第一步骤，其通过参照表述输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映至少一个第一校正因素的变换表，根据规定像素的灰度的所述显示数据，生成具有将所述显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的所述变换数据；和
第二步骤，其采用与所述第一步骤不同种类的处理，由与所述第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，在对所述变换数据的灰度特性进行校正的基础上，驱动所述像素。
20、根据权利要求19所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述第二步骤包含以比所述第一步骤中的所述显示数据的灰度特性的变形更细微的程度，校正所述变换数据的灰度特性的步骤。
21、一种电光学装置的驱动方法，其特征在于，具有：
第一步骤，其通过参照表述输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映至少一个第一校正因素的变换表，生成对规定像素的灰度的所述显示数据的灰度特性进行粗调整后的所述变换数据；和
第二步骤，其基于与所述第一校正因素不同的至少一个第二校正因素，在用比所述粗调整更细微的程度对所述变换数据的灰度特性进行微调整的基础上，驱动所述像素。
22、根据权利要求19至21中任一项所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述第一步骤包含从在表述内容上相互不同的多个所述变换表中，根据所述第一校正因素，选择任一个作为参照对象的步骤。
23、根据权利要求19至21中任一项所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，所述第二步骤包括：
通过根据所述第二校正因素校正所述变换数据生成校正数据的步骤；和
根据所述校正数据生成向所述像素供给的数据信号的步骤。
24、根据权利要求23所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
在生成所述校正数据的步骤中，通过所述变换数据和所述第二校正因素之间的逻辑运算，生成所述校正数据。
25、根据权利要求19至21中任一项所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述第二步骤包含根据所述变换数据生成向所述像素供给的数据信号的步骤；
在该步骤中，根据所述第二校正因素对所述数据信号进行模拟校正。
26、根据权利要求19至21中任一项所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，所述第二步骤具有：
根据所述变换数据生成向所述像素供给的数据信号的步骤；和
根据所述第二校正因素、可变控制包含在所述像素中的电光学元件的亮度进行设定的驱动期间的步骤。
27、根据权利要求23至26中任一项所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述像素包含由自身流动的电流设定亮度的电光学元件，生成所述数据信号的步骤是基于电流生成所述数据信号的步骤。
28、根据权利要求19至27中任一项所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述第一校正因素包括所述电光学装置的周围照度变动、以及所述像素中包含的电光学元件的自发热温度变动中的至少一个。
29、根据权利要求28所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述周围照度变动根据由照度检测部检测出的所述电光学装置的周围照度计算。
30、根据权利要求19至29中任一项所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述第2校正因素包括所述电光学装置的周围温度变动、在所述像素中包含的电光学元件的劣化变动、以及所述像素按矩阵状排列的显示部的显示光斑中的至少一个。
31、根据权利要求30所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述周围温度变动根据由温度检测部检测出的所述电光学装置的周围温度计算。
32、根据权利要求30所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
所述劣化变动根据由劣化程度检测部检测出的在所述像素中包含的电光学元件的劣化程度计算。
33、根据权利要求30所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
在所述第二校正因素存在多个时，所述第二步骤包含根据所述多个第二校正因素算出校正值的步骤、和根据所述校正值对所述像素进行驱动的步骤。
34、根据权利要求33所述的电光学装置的驱动方法，其特征在于，
在计算所述校正值的步骤中，通过所述多个第二校正因素的逻辑运算计算所述校正值。
35、一种电光学装置的驱动方法，其特征在于，具有：
第一步骤，其通过参照表述输入的显示数据和输出的变换数据之间的对应关系并在表述内容中反映包含在所述像素中的电光学元件的自发热温度变动的变换表，根据规定像素的灰度的所述显示数据，生成具有将所述显示数据的灰度特性变形后的灰度特性的所述变换数据；和
第二步骤，其根据所述变换数据，驱动所述像素。
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