TWI449017B - 具有初始非均勻性補償的場致發光顯示 - Google Patents

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Description

具有初始非均勻性補償的場致發光顯示
本發明係關於固態場致發光平面顯示器，且更特定言之係關於具有方法用以補償組成此等顯示器之多種組件的特性差異之此等顯示器。
場致發光(EL)裝置為人瞭解已有一些年且最近在商業顯示裝置中得以使用。此等裝置採用主動式矩陣及被動式矩陣控制架構之兩者，且可採用複數個子像素。各個子像素含有一EL發射體及用於驅動電流通過該EL發射體之一驅動電晶體。通常以二維陣列配置該等子像素，對於各個子像素該等二維陣列具有一列位址及一行位址且具有與該子像素相關之一資料值。將不同色彩(諸如紅、綠、藍及白)之子像素分組以形成像素。可由多種發射體技術(包含可塗佈之無機發光二極體、量子點及有機發光二極體(OLED))製成EL顯示器。然而，此等顯示器遭受限制該等顯示器品質之各種缺陷。特定言之，OLED顯示器遭受子像素橫跨顯示器之可見非均勻性。此等非均勻性可歸因於如下兩者：顯示器中之EL發射體；及對於主動式矩陣顯示器，歸因於用於驅動EL發射體之薄膜電晶體的可變性。圖5顯示用以展現像素間之特性差異的子像素照度之實例直方圖。所有子像素係在相同位準處得到驅動，因此應具有相同之照度。如圖5所示，所得之照度在任一方向上改變百分之二十。此導致不可接受之顯示效能。
一些電晶體技術(諸如低溫多晶矽(LTPS))可生產橫跨顯示器表面具有不同遷移率及臨限電壓之驅動電晶體(2004年Yue Kuo編輯<<Thin Film Transistors: Materials and Processes,vol. 2: Polycrystalline Thin Film Transistots>>第412頁，Boston: Kluwer Academic Publishers)。此產生不適宜之可見非均勻性。此外，非均勻OLED材料沈積可產生具有不同效率之發射體，亦引起不適宜之非均勻性。此等非均勻性存在於出售面板給最終使用者之時刻，且因此被稱為初始非均勻性。
已知在先前技術中：量測顯示器之各個像素的效能，且其後校正該像素之效能以橫跨顯示器提供較均勻之輸出。Ishizuki等人之美國專利申請公開案第2003/0122813 A1號揭示一種用於提供高品質影像而無不規則照度之顯示面板驅動裝置及驅動方法。當各個像素連續而獨立地發光時，量測光發射驅動電流流動。其後基於該經量測之驅動電流值而為各個輸入像素資料校正照度。根據另一態樣，調整驅動電壓使得一個驅動電流值變為等於預定參考電流。在其他態樣中，當將對應於顯示面板之洩漏電流的補償電流添加至來自驅動電壓產生器電路之電流輸出時，量測電流，並將所得電流供應至該等像素部分之各者。該等量測技術係疊代的，且因此較慢。此外，此技術係針對補償老化而非初始非均勻性。
Salam之名稱為「Matrix Display with Matched Solid-State Pixels」之美國專利第6,081,073號描述一種具有用於減少像素中之亮度變動的程序及控制電路之顯示器。此專利描述：基於顯示器中最弱像素之亮度與各個像素之亮度之間的比率而對各個像素使用線性量度方法。然而，此方法將導致顯示器之動態範圍及亮度的整體減少、及像素得以操作之位元深度的減少與變動。
Fan之名稱為「Methods of improving display uniformity of organic light emitting displays by calibrating individual pixel」之美國專利第6,473,065 B1號描述改良OLED之顯示均勻性的方法。為改良OLED之顯示均勻性，量測所有有機發光元件之顯示特性，且從對應有機發光元件之經量測的顯示特性中獲得各個有機發光元件之校準參數。各個有機發光元件之校準參數係儲存於校準記憶體中。該技術使用查找表與計算電路之組合以實施非均勻性校正。然而，所描述之方法需要為各個像素提供完整特性化之查找表或在裝置控制器內之大規模計算電路。在大多數應用中此方法可能昂貴而不實際。
Shen等人之名稱為「Method and apparatus for calibrating display devices and automatically compensating for loss in their efficiency over time」之美國專利第6,414,661 B1號描述一種如下方法及相關系統：其基於施加至像素之累積驅動電流而計算及預測各個像素之光輸出效率的衰退，藉此補償OLED顯示器裝置中個別有機發光二極體之發光效率的長期變動；並導出應用於各個像素之下一驅動電流的校正係數。此專利描述使用一相機以擷取複數個相等尺寸之子區域的影像。此一程序很耗時，且需要機械夾具以擷取該複數個子區域影像。
Kasai等人之美國專利第2005/0007392 A1號描述一種藉由執行對應於複數個干擾因素之校正處理而穩定顯示品質的電光裝置。一灰階特性產生單元產生轉換資料，該轉換資料具有藉由改變顯示資料之灰階特性而獲得之灰階特性，該顯示資料參考其描述內容包含校正因素之轉換表而定義像素之灰階。然而，該等方法需要諸多LUT(並非所有LUT在任何給定時間都處於使用中)以執行處理，且並未描述用於填入該等LUT之方法。
Gu之美國專利第6,897,842 B2號描述：使用脈衝寬度調變(PWM)機制以可控地驅動顯示器(例如，形成顯示元件陣列之複數個顯示元件)。非均勻脈衝間隔時脈係由均勻脈衝間隔時脈產生，且其後用於調變驅動信號之寬度(且視需要地調變幅度)以可控地驅動顯示元件陣列之一個或多個顯示元件。連同補償初始非均勻性而提供伽馬(gamma)校正。然而，此技術僅適用於被動式矩陣顯示器，而不適用於通常採用之較高效能的主動式矩陣顯示器。
因此，需要一種較完整之方法以用於補償場致發光顯示器之組件之間的差異，且明確言之用於補償此等顯示器之初始非均勻性。
因此本發明之目的係補償複數個場致發光(EL)子像素之特性差異。由一種補償複數個場致發光(EL)子像素之特性差異的方法來達成此目的，該方法包括：
(a)為複數個EL子像素之各者提供具有一第一電極、一第二電極及一閘極電極之一驅動電晶體；
(b)提供一第一電壓源及一第一開關，該第一開關係用於選擇性地將該第一電壓源連接至各個驅動電晶體之該第一電極；
(c)為各個EL子像素提供連接至該各自驅動電晶體之該第二電極的一EL發射體，及提供一第二電壓源及一第二開關，該第二開關係用於選擇性地將各個EL發射體連接至該第二電壓源；
(d)為各個EL子像素提供具有一第一電極及一第二電極之一讀出電晶體，並將各個讀出電晶體之該第一電極連接至該各自驅動電晶體之該第二電極；
(e)提供一電流源及一第三開關，該第三開關係用於選擇性地將該電流源連接至各個讀出電晶體之該第二電極；
(f)提供一電流槽及一第四開關，該第四開關係用於選擇性地將該電流槽連接至各個讀出電晶體之該第二電極；
(g)選擇一EL子像素及其對應之驅動電晶體、讀出電晶體及EL發射體；
(h)提供一測試電壓至該選定驅動電晶體之該閘極電極，並提供連接至該選定讀出電晶體之該第二電極的一電壓量測電路；
(i)關閉該等第一及第四開關，而打開該等第二及第三開關，並使用該電壓量測電路以量測在該選定讀出電晶體之該第二電極處的電壓，以提供表示該選定驅動電晶體之特性的一對應第一信號；
(j)打開該等第一及第四開關，關閉該等第二及第三開關，並使用該電壓量測電路以量測在該選定讀出電晶體之該第二電極處的電壓，以提供表示該選定EL發射體之特性的一對應第二信號；
(k)對複數個EL子像素中之各個剩餘EL子像素重複步驟g至步驟j；及
(l)對各個子像素使用該等第一及第二信號以補償該複數個EL子像素之特性差異。
本發明之優點在於：一場致發光(EL)顯示器補償組成一EL顯示器之EL子像素的特性差異，且特定言之補償該顯示器之初始非均勻性，而無需用於累積發光元件之使用、或操作時間之連續量測的大規模或複雜電路。本發明之另一優點在於其使用簡單的電壓量測電路。本發明之另一優點在於因完成電壓之所有量測，相比於量測電流之方法對變化更加靈敏。本發明之另一優點在於可運用補償OLED變化而執行對驅動電晶體特性變化之補償，因此提供完整之補償解決方案。本發明之另一優點在於可快速完成量測及補償(OLED及驅動電晶體)之兩個態樣，而不會混淆該兩者。此有利地增加補償量測中之信雜比。本發明之另一優點在於可使用一單一選擇線以致能資料輸入及資料讀出。本發明之另一優點在於子像素中驅動電晶體及EL發射體之特性的特性化及補償係特定子像素所特有的，且不會受其他子像素(可為開路或短路)之影響。
現轉向圖1，其顯示用於實踐本發明之場致發光(EL)顯示器的一個實施例之示意圖。EL顯示器10包含以列與行配置之預定量EL子像素60的陣列。應注意的是列與行可以不同於此處之顯示來定向；例如，列與行可旋轉九十度。EL顯示器10包含複數個選擇線20，其中EL子像素60之每一列具有一選擇線20。EL顯示器10包含複數個讀出線30，其中EL子像素60之每一行具有一讀出線30。每一讀出線30係連接至一開關區塊130，該開關區塊130在校準程序期間將讀出線30連接至電流源160或電流槽165。雖然為方便說明對此未作顯示，但此項技術中已熟知EL子像素60之每一行亦具有一資料線。複數個讀出線30係連接至一個或多個多工器40，顯然此容許自EL子像素60平行/循序讀出信號。多工器40可為與EL顯示器10相同之結構的一部分或可為一分離構造(可連接至EL顯示器10或與EL顯示器10斷開)。
現轉向圖2，其顯示可用於實踐本發明之EL子像素的一個實施例之示意圖。EL子像素60包含EL發射體50、驅動電晶體70、電容器75、讀出電晶體80及選擇電晶體90。各個電晶體具有第一電極、第二電極及閘極電極。第一電壓源140可藉由可定位於EL顯示基板上或於一分離結構上之第一開關110，而選擇性地連接至驅動電晶體70之第一電極。連接意指直接連接元件或經由另一組件(例如，開關、二極體或另一電晶體)而電連接元件。驅動電晶體70之第二電極係連接至EL發射體50，而第二電壓源150可藉由第二開關120(亦可在EL顯示基板以外)而選擇性地連接至EL發射體50。為EL顯示器提供至少一第一開關110及第二開關120。若EL顯示器具有多個供以電力之像素子群組，則可提供額外之第一及第二開關。在正常顯示模式中，關閉該等第一及第二開關，而打開其他開關(下文描述)。如此項技術中熟知的，驅動電晶體70之閘極電極係連接至選擇電晶體90以選擇性地從資料線35提供資料至驅動電晶體70。選擇線20在EL子像素60之列中係連接至選擇電晶體90之閘極電極。選擇電晶體90之閘極電極係連接至讀出電晶體80之閘極電極。
讀出電晶體80之第一電極係連接至驅動電晶體70之第二電極及連接至EL發射體50。讀出線30在子像素60之一行中係連接至讀出電晶體80之第二電極。讀出線30係連接至開關區塊130。為EL子像素60之每一行提供一個開關區塊130。開關區塊130包含第三開關S3、第四開關S4及非連接狀態NC。雖然第三及第四開關可為獨立的實體，但在此方法中絕不會同時關閉該二者，且因此開關區塊130提供該兩個開關之便利實施例。第三開關容許電流源160選擇性地連接至讀出電晶體80之第二電極。當由第三開關連接時，電流源160容許一預定之恆定電流流入EL子像素60中。第四開關容許電流槽165選擇性地連接至讀出電晶體80之第二電極。當由第四開關連接時，且當對資料線35施加一預定資料值時，電流槽165容許一預定之恆定電流自EL子像素60流出。開關區塊130、電流源160及電流槽165可定位於EL顯示基板之上或之外。
在包含複數個EL子像素之EL顯示器中，單一電流源及槽係分別經由第三及第四開關選擇性地連接至複數個EL子像素中之各個讀出電晶體的第二電極。可使用多於一個之電流源或槽，其前提是讀出電晶體之第二電極係在任何給定時間下選擇性地連接至一個電流源或一個電流槽或無連接。
讀出電晶體80之第二電極亦連接至電壓量測電路170，該電壓量測電路170量測電壓以提供表示EL子像素60之特性的信號。電壓量測電路170包含用於將電壓量測轉換為數位信號之類比數位轉換器185、及處理器190。將來自類比數位轉換器185之信號發送至處理器190。電壓量測電路170亦可包含用於儲存電壓量測之記憶體195、及低通濾波器180(若需要)。電壓量測電路170亦可經由多工器輸出線45及多工器40連接至複數個讀出線30、及讀出電晶體80，以用於自預定量之EL子像素60循序讀出電壓。若有複數個多工器40，則各自具有其自身的多工器輸出線45。因此，可同時驅動預定量之EL子像素60。複數個多工器40將容許自多個多工器40平行讀出電壓，而各個多工器40容許自與其附接之讀出線30循序讀出電壓。此在本文中稱為平行/循序處理。
處理器190亦可藉由控制線95及數位類比轉換器155而連接至資料線35。因此，處理器190在本文將描述之量測程序期間可提供預定資料值至資料線35。處理器190亦可經由資料輸入85接受顯示資料，並對本文將描述之變化提供補償，因此在顯示程序期間對資料線35提供補償資料。
圖1所顯示之實施例係非反相NMOS子像素。本發明亦可採用此項技術中已知的其他組態。各個電晶體(70、80、90)可為N通道或P通道，而EL發射體50可以反相或非反相配置連接至驅動電晶體70。EL發射體50可為有機發光二極體(OLED)發射體，如以下揭示但不限於：Tang等人之美國專利第4,769,292號及VanSlyke等人之美國專利第5,061,569號，或此項技術中已知的其他發射體類型。當EL發射體50係OLED發射體時，EL子像素60係OLED子像素，且EL顯示器10係OLED顯示器。驅動電晶體70及其他電晶體(80、90)可為低溫多晶矽(LTPS)、氧化鋅(ZnO)或非晶矽(a-Si)電晶體或此項技術中已知的另一類型之電晶體。
諸如EL子像素60之驅動電晶體70的電晶體具有包含臨限電壓Vth 及遷移率μ之特性。驅動電晶體70之閘極電極上的電壓必須大於臨限電壓以致能第一與第二電極之間的明顯電流。遷移率係關於電晶體導電時的電流流動量。當使用具有低溫多晶矽(LTPS)電晶體之電晶體背板的顯示器時，並非顯示器中之所有電晶體必須具有相同之Vth 或遷移率值。當由相同閘極-源極電壓Vgs 驅動所有驅動電晶體時，EL子像素60之多個驅動電晶體之特性之間的差異可導致光輸出橫跨顯示器之表面的可見非均勻性。此非均勻性可包含顯示器之不同部分的亮度及色彩平衡之差異。期望補償臨限電壓及遷移率之此等差異以防止此等問題。又，EL發射體50之特性(諸如效率或電阻)可存在差異，此亦可引起可見非均勻性。
本發明亦可在任何所要時間補償特性差異及所得之非均勻性。然而，對首次看見顯示器之最終使用者而言，非均勻性係尤其不適宜的。EL顯示器之操作壽命係：自最終使用者首次在顯示器上看見影像之時間至丟棄顯示器之時間。初始非均勻性係在顯示器之操作壽命的開始所存在之任何非均勻性。本發明亦可藉由在EL顯示器之操作壽命開始之前採取量測而有利地校正初始非均勻性。可在工廠中採取量測作為生產顯示器之一部分。亦可在使用者首次起動含有EL顯示器之產品後、直接在該顯示器上顯示首個影像之前採取量測。此容許顯示器在最終使用者首次看見影像時為其呈現高品質之影像，使得使用者對顯示器具有良好的第一印象。
現轉向圖3，其顯示說明兩個EL發射體或驅動電晶體或兩者之特性差異對EL子像素電流之影響的圖表。圖3之橫座標表示驅動電晶體70之閘極電壓。縱座標係通過EL發射體50之電流以10為底的對數。第一EL子像素I-V特性230及第二EL子像素I-V特性240顯示兩個不同之EL子像素60的I-V曲線。至於特性240，需要比特性230更高之電壓以獲得所要之電流；即，曲線向右偏移一量ΔV。如圖所示，ΔV係臨限電壓變化(ΔVth ,210)與由EL發射體電阻變化導致的EL電壓變化(ΔVEL ,220)之總和。此變化導致分別具有特性230與240之子像素之間的非均勻光發射：相比於特性230，給定閘極電壓對特性240控制較少之電流且因此較少之光。
EL電流(其亦為通過驅動電晶體之汲極-源極電流)、EL電壓與飽和臨限電壓之間的關係為：
其中，W為TFT通道寬度，L為TFT通道長度，μ為TFT遷移率，C0 為每單元面積之氧化物電容，Vg 為閘極電壓，Vgs 為驅動電晶體之閘極與源極之間的電壓差。為簡單起見，我們忽略μ對Vgs 之依賴。因此，為自具有特性230與240之子像素產生相同之電流，吾人必須補償Vth 與VEL 之差異。因此期望量測兩種變化。
現轉向圖4並同時參考圖2，顯示本發明之方法的一個實施例之方塊圖。提供一預定測試電壓(Vdata )至資料線35(步驟310)。關閉第一開關110而打開第二開關120。關閉第四開關而打開第三開關，即，將開關區塊130切換為S4(步驟315)。使選擇線20對一選定列為作用中的，以提供測試電壓至驅動電晶體70之閘極電極且打開在一選定EL子像素中之讀出電晶體80(步驟320)。此選擇該選定EL子像素之驅動電晶體、讀出電晶體及EL發射體。電流因此自第一電壓源140流經驅動電晶體70直至電流槽165。經由電流槽165之電流值(Itestsk )經選擇為小於由於施加Vdata 所得之經由驅動電晶體70的電流；典型值為在1微安培至5微安培之範圍內，且在特定量測組中對所有採取之量測係恆定的。選定之Vdata 值係對所有此類量測係恆定的，且因此必須足以命令：在顯示器之壽命期間，即使在預期之老化後經由驅動電晶體70之電流亦大於電流槽165之電流。因此，完全由電流槽165控制經由驅動電晶體70之限制電流值，此將與經由驅動電晶體70之電流相同。可基於驅動電晶體70之已知或經決定的電流-電壓及老化特性而選擇Vdata 值。在此程序中可使用多於一個之量測值，例如，可選擇在1微安培、2微安培及3微安培處執行量測。必須使用足以命令電流值不小於最大測試電流的Vdata 值。電壓量測電路170係用於量測讀出線30上之電壓，該電壓係在選定讀出電晶體80之第二電極處的電壓Vout ，以提供表示選定驅動電晶體70之特性的對應第一信號V1 (包含驅動電晶體70之臨限電壓Vth )(步驟325)。若EL顯示器併入複數個EL子像素，且在列中有待量測之額外EL子像素，則連接至複數個讀出線30之多工器40可用於容許電壓量測電路170自預定量之EL子像素(例如，該列中之每一子像素)循序讀出第一信號V1 (步驟330)。若顯示器足夠大，則其需要複數個多工器，其中可以平行/循序程序提供第一信號。若有待量測之子像素的額外列(步驟335)，則由不同之選擇線選擇不同之列且重複該等量測。
各個子像素中之組件的電壓可由下式關聯：
V1 =Vdata -Vgs(Itestsk) -Vread 　(方程式2)
其中，Vgs(Itestsk) 為閘極至源極電壓，其必須施加至驅動電晶體70使得其汲極至源極電流Ids 等於Itestsk 。此等電壓值將致使在讀出電晶體80之第二電極處的電壓(Vout ，讀出Vout 以提供V1 )調整以滿足方程式2。在上述條件下，Vdata 係一設定值，且可假定Vread 為恆定的。由電流槽165設定之電流值及驅動電晶體70之電流-電壓特性控制Vgs ，且對驅動電晶體之不同臨限電壓值，Vgs 係不同的。為補償遷移率變動，在不同之Itestsk 值下必須量測兩個V1 值。
對具有電流槽165之選定值的各個子像素，可記錄第一信號V1 之值。其後，從所量測之子像素群體中選擇具有最大V1 (因此最小Vgs(Itestsk) ，因此最小Vth )之子像素作為第一目標信號V1target 。或者，可選擇所有V1 值之最小值或平均值或對熟習此項技術者顯而易見之其他函數的結果作為V1target 。其後可比較各個子像素之經量測的第一信號V1 與第一目標信號V1target ，以形成各個子像素之增量ΔV1 ，如下所示：
ΔV1 =-ΔVth =V1 -V1target 　(方程式3)
ΔV1 表示各個子像素與目標之間的臨限電壓差。
請注意的是本發明僅適用於複數個EL子像素，此係因為當無比較時單一EL子像素不具有特性差異。即，對單一EL子像素，V1 =V1target ，因此總是ΔV1 =0。
回頭參考圖4，為量測EL發射體，接著打開第一開關110而關閉第二開關120。將開關區塊130切換為S3，藉此打開第四開關而關閉第三開關(步驟340)。使選擇線20對一選定列為作用中的以打開讀出電晶體70(步驟345)。電流Itestsu 因此自電流源160流經EL發射體50直至第二電壓源150。經由電流源160之電流值經選擇為小於可能通過EL發射體50之最大電流；典型值為在1微安培至5微安培之範圍內，且在特定量測組中對所有量測係恆定的。在此程序中可使用多於一個之量測值，例如，可選擇在1微安培、2微安培及3微安培處執行量測。電壓量測電路170係用於量測讀出線30上之電壓，該電壓係在選定讀出電晶體80之第二電極處的電壓Vout ，以提供表示選定EL發射體50之特性(包含EL發射體50之電阻)的第二信號V2 (步驟350)。若列中有待量測之額外EL子像素，則可使用連接至複數個讀出線30之多工器40以容許電壓量測電路170為預定量之EL子像素(例如，該列中之每一子像素)讀出第二信號V2 (步驟355)。若顯示器足夠大，則其需要複數個多工器，其中可以平行/循序處理提供第二信號。若EL顯示器10中有待量測之子像素額外列，則對每一列重複步驟345至步驟355(步驟360)。
各個子像素中之組件的電壓可由下式關聯：
V2 =CV+VEL +Vread 　(方程式4)
此等電壓值將引起在讀出電晶體80之第二電極處的電壓(Vout ，讀出Vout 以提供V2 )調整以滿足方程式4。在上述條件下，CV係一設定值，且可假定Vread 為恆定的。由電流源160設定之電流值及EL發射體50之電流-電壓特性控制VEL 。對不同之EL發射體50，VEL 可為不同的。
對具有電流源160之選定值的各個子像素，可記錄第二信號V2 之值。其後，從所量測之子像素群體中選擇具有最小VEL (即，經量測之最小V2 )之子像素作為第二目標信號V2target 。或者，可選擇所有V2 值之最大值或平均值或對熟習此項技術者顯而易見之其他函數的結果作為V2target 。各個子像素之經量測的第二信號V2 其後可與第二目標信號V2target 比較，以形成一增量ΔV2 ，如下所示：
ΔV2 =ΔVEL =V2 -V2target 　(方程式5)
ΔV2 表示各個子像素與目標之間的EL發射體電壓差。
當量測複數個EL子像素中之各個EL子像素時，如圖4所示，可為所有EL子像素讀取第一信號，其後可為所有EL子像素讀取第二信號。然而，該等量測可為交插的。可為一第一EL子像素讀取第一信號，其後可為該第一EL子像素讀取第二信號，其後可為一第二EL子像素讀取第一信號，其後可為該第二EL子像素讀取第二信號，及等等直到為複數個EL子像素中之所有EL子像素讀取第一及第二信號為止。
各個EL子像素之分別在第一及第二信號中的增量ΔV1 及ΔV2 其後可用於補償複數個EL子像素(諸如EL顯示器)中之不同EL子像素的特性差異(步驟370)。為補償多個像素間之電流差異，必須校正ΔVth (關於ΔV1 )及ΔVEL (關於ΔV2 )。
為補償EL子像素60之特性差異，吾人可按如下形式之方程式使用第一及第二信號之增量：
ΔVdata =f1 (ΔV1 )+f2 (ΔV2 )　(方程式7)
其中，ΔVdata 為驅動電晶體70之閘極電極上的補償電壓，其係必須的以維持由選定Vdata 所指定之所要照度；f1 (ΔV1 )為臨限電壓差之校正；而f2 (ΔV2 )為EL電阻差異之校正。ΔV1 由方程式3給定；ΔV2 由方程式5給定。例如，EL顯示器可包含一控制器，該控制器可包含一查找表或演算法以計算各個EL發射體之補償電壓。例如，f1 可為一線性函數：由於驅動電晶體之Ids 由Vgs -Vth 所決定，因此可藉由將Vdata (約等於Vg )改變相同量而補償一給定之Vth 變化ΔV1 。在具有連接至驅動電晶體之源極端子的EL發射體之實施例中，由於類似原因f2 亦可為一線性函數：將源極電壓變化Vgs 改變相同量。至於較複雜之情況，藉由此項技術中已知之技術(諸如SPICE模擬)可將系統模型化，且可將f1 及f2 實施為預計算值之查找表。為補償遷移率變動，可使用在不同Itestsk 處之兩個經量測的V1 值以決定補償及增益，該補償及增益將各個子像素之I-V曲線映射於參考I-V曲線之上，該參考I-V曲線經選定作為所有子像素之I-V曲線之平均值、最小值或最大值。該補償及增益可用於將參考曲線上之Vdata 變換為變換曲線上之等效電壓。此線性變換可同時解釋Vth 及遷移率差異。
計算補償電壓ΔVdata 以對由於驅動電晶體70之臨限電壓與遷移率差異及EL發射體50之電阻差異而產生之電流差異提供校正。此提供完整之補償解決方案。可由控制器應用此等變化以校正光輸出為所要之標稱照度值。藉由控制施加至EL發射體之信號，達成具有恆定照度輸出及在給定照度下具有增加之壽命的EL發射體。因為此方法提供顯示器中各個EL發射體的校正，該方法將補償複數個EL子像素之特性差異，且因此可補償具有複數個EL子像素之EL顯示器的初始非均勻性。
10．．．EL顯示器
20．．．選擇線
30．．．讀出線
35．．．資料線
40．．．多工器
45．．．多工器輸出線
50．．．EL發射體
60．．．EL子像素
70．．．驅動電晶體
75．．．電容器
80．．．讀出電晶體
85．．．資料輸入
90．．．選擇電晶體
95．．．控制線
110．．．第一開關
120．．．第二開關
130．．．開關區塊
140．．．第一電壓源
150．．．第二電壓源
155．．．數位類比轉換器
160．．．電流源
165．．．電流槽
170．．．電壓量測電路
180．．．低通濾波器
185．．．類比數位轉換器
190．．．處理器
195．．．記憶體
210．．．ΔVth
220．．．ΔVEL
230．．．第一EL子像素I-V特性
240．．．第二EL子像素I-V特性
310．．．步驟
315．．．步驟
320．．．步驟
325．．．步驟
330．．．決定步驟
335．．．決定步驟
340．．．步驟
345．．．步驟
350．．．步驟
355．．．決定步驟
360．．．決定步驟
370．．．步驟
圖1係可用於實踐本發明之場致發光(EL)顯示器的一個實施例之示意圖；
圖2係可用於實踐本發明之EL子像素的一個實施例之示意圖；
圖3係說明兩個EL子像素之特性差異對驅動電流之影響的圖式；
圖4係本發明之方法的一個實施例之方塊圖；及
圖5係展現像素間之特性差異的像素照度之直方圖。
20．．．選擇線
30．．．讀出線
35．．．資料線
40．．．多工器
45．．．多工器輸出線
50．．．EL發射體
60．．．EL子像素
70．．．驅動電晶體
75．．．電容器
80．．．讀出電晶體
90．．．選擇電晶體
95．．．控制線
110．．．第一開關
120．．．第二開關
130．．．開關區塊
140．．．第一電壓源
150．．．第二電壓源
155．．．數位類比轉換器
160．．．電流源
165．．．電流槽
170．．．電壓量測電路
180．．．低通濾波器
185．．．類比數位轉換器
190．．．處理器
195．．．記憶體

Claims (11)

  1. 一種補償複數個場致發光(EL)子像素之諸特性差異的方法，該方法包括：(a)為複數個EL子像素之各者提供具有一第一電極、一第二電極及一閘極電極之一驅動電晶體；(b)提供一第一電壓源及一第一開關，該第一開關係用於選擇性地將該第一電壓源連接至各個驅動電晶體之該第一電極；(c)為各個EL子像素提供連接至該各個驅動電晶體之該第二電極的一EL發射體，及提供一第二電壓源及一第二開關，該第二開關係用於選擇性地將各個EL發射體連接至該第二電壓源；(d)為各個EL子像素提供具有一第一電極及一第二電極之一讀出電晶體，並將各個讀出電晶體之該第一電極連接至該各個驅動電晶體之該第二電極；(e)提供一電流源及一第三開關，該第三開關係用於選擇性地將該電流源連接至各個讀出電晶體之該第二電極；(f)提供一電流槽及一第四開關，該第四開關係用於選擇性地將該電流槽連接至各個讀出電晶體之該第二電極；(g)選擇一EL子像素及其對應之驅動電晶體、讀出電晶體及EL發射體；(h)提供一測試電壓至該選擇的驅動電晶體之該閘極電 極，並提供連接至該選擇的讀出電晶體之該第二電極的一電壓量測電路；(i)關閉該等第一及第四開關，而打開該等第二及第三開關，並使用該電壓量測電路以量測在該選擇的讀出電晶體之該第二電極處的電壓，以提供表示該選擇的驅動電晶體之特性的一對應的第一信號；(j)打開該等第一及第四開關，關閉該等第二及第三開關，並使用該電壓量測電路以量測在該選擇的讀出電晶體之該第二電極處的電壓，以提供表示該選擇的EL發射體之特性的一對應的第二信號；(k)對複數個EL子像素中之各個剩餘EL子像素重複步驟g至步驟j；及(l)對各個子像素使用該等第一及第二信號以補償該複數個EL子像素之諸特性差異。
  2. 如請求項1之方法，其中該電壓量測電路包含一類比數位轉換器。
  3. 如請求項2之方法，其中該電壓量測電路進一步包含一低通濾波器。
  4. 如請求項1之方法，其中對一預定量之該等EL子像素執行步驟g至步驟j，在該等步驟期間同時驅動該預定量之EL子像素。
  5. 如請求項1之方法，其中步驟j包含：分別將該複數個EL子像素之各者的經量測之該等第一及第二信號與第一及第二目標信號作比較，以補償該等EL子像素之諸特性差 異。
  6. 如請求項1之方法，其中該等EL子像素係以列與行配置，且進一步包含：為每一列提供連接至該列中的選擇電晶體之閘極電極的一選擇線，且為每一行提供連接至該行中的該等讀出電晶體之該等第二電極的一讀出線。
  7. 如請求項6之方法，其進一步包含：使用連接至該複數個讀出線之一多工器，以用於為預定量之EL子像素循序讀出該等第一及第二信號。
  8. 如請求項1之方法，其進一步包含：提供連接至該驅動電晶體之該閘極電極的一選擇電晶體，且其中該選擇電晶體之該閘極電極係連接至該讀出電晶體之該閘極電極。
  9. 如請求項1之方法，其中各個EL發射體係一OLED發射體，且其中各個EL子像素係一OLED子像素。
  10. 如請求項1之方法，其中各個驅動電晶體係一低溫多晶矽驅動電晶體。
  11. 如請求項1之方法，其中該複數個EL子像素組成一EL顯示器，且其中在該EL顯示器之操作生涯之前採取步驟g至步驟k的量測。
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Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080032072A (ko) 2005-06-08 2008-04-14 이그니스 이노베이션 인크. 발광 디바이스 디스플레이 구동 방법 및 시스템
US8427075B2 (en) * 2008-12-12 2013-04-23 Microchip Technology Incorporated Constant current output sink or source
US9886899B2 (en) 2011-05-17 2018-02-06 Ignis Innovation Inc. Pixel Circuits for AMOLED displays
US9351368B2 (en) * 2013-03-08 2016-05-24 Ignis Innovation Inc. Pixel circuits for AMOLED displays
US10713986B2 (en) * 2011-05-20 2020-07-14 Ignis Innovation Inc. System and methods for extraction of threshold and mobility parameters in AMOLED displays
KR101493226B1 (ko) * 2011-12-26 2015-02-17 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 다이오드 표시 장치의 화소 구동 회로의 특성 파라미터 측정 방법 및 장치
KR101992904B1 (ko) 2012-12-21 2019-06-26 엘지디스플레이 주식회사 Oled 표시 장치 및 그의 구동 방법
CA2894717A1 (en) 2015-06-19 2016-12-19 Ignis Innovation Inc. Optoelectronic device characterization in array with shared sense line
KR101978780B1 (ko) * 2013-04-01 2019-05-16 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치의 화질 보상 장치 및 방법
WO2015012566A1 (ko) * 2013-07-23 2015-01-29 네오뷰코오롱 주식회사 표시장치의 휘도 편차 보상장치 및 보상방법
CN105339998B (zh) * 2013-07-30 2017-09-08 夏普株式会社 显示装置及其驱动方法
KR102053444B1 (ko) * 2013-11-06 2019-12-06 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치와 그의 이동도 보상방법
KR101661016B1 (ko) * 2013-12-03 2016-09-29 엘지디스플레이 주식회사 유기발광 표시장치와 그의 화질 보상방법
WO2015122365A1 (ja) * 2014-02-17 2015-08-20 凸版印刷株式会社 薄膜トランジスタアレイ装置、ｅｌ装置、センサ装置、薄膜トランジスタアレイ装置の駆動方法、ｅｌ装置の駆動方法、および、センサ装置の駆動方法
JP6232595B2 (ja) * 2014-04-23 2017-11-22 株式会社Ｊｏｌｅｄ 表示装置及びその制御方法
CN104021755B (zh) * 2014-05-22 2016-09-07 京东方科技集团股份有限公司 一种像素电路、其驱动方法及显示装置
JP2016009165A (ja) * 2014-06-26 2016-01-18 ローム株式会社 電気光学装置、電気光学装置の特性測定方法、及び半導体チップ
CN104157242A (zh) * 2014-08-18 2014-11-19 成都晶砂科技有限公司 一种oled显示器的数字调制方法
KR102263574B1 (ko) * 2014-10-01 2021-06-11 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN105895020B (zh) * 2016-06-02 2019-07-02 深圳市华星光电技术有限公司 Oled显示装置驱动系统及oled显示装置驱动方法
CN106441820B (zh) * 2016-11-23 2019-07-26 深圳Tcl新技术有限公司 显示屏均匀性测试方法及系统
US10984713B1 (en) * 2018-05-10 2021-04-20 Apple Inc. External compensation for LTPO pixel for OLED display
KR102050717B1 (ko) * 2019-07-10 2019-12-02 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
KR102033734B1 (ko) * 2019-07-10 2019-10-17 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치
KR20210128149A (ko) * 2020-04-16 2021-10-26 삼성전자주식회사 디스플레이 모듈 및 디스플레이 모듈의 구동 방법
KR20220012546A (ko) * 2020-07-23 2022-02-04 주식회사 엘엑스세미콘 디스플레이 구동 장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW546596B (en) * 2001-09-28 2003-08-11 Semiconductor Energy Lab A light emitting device and electronic apparatus using the same
WO2005022498A2 (en) * 2003-09-02 2005-03-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Active matrix display devices
US20050110420A1 (en) * 2003-11-25 2005-05-26 Eastman Kodak Company OLED display with aging compensation
TW200809743A (en) * 2006-08-11 2008-02-16 Tpo Displays Corp System and method for reducing mura defects
US20080252568A1 (en) * 2007-04-10 2008-10-16 Oh-Kyong Kwon Organic light emitting display and driving method thereof

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6081073A (en) * 1995-12-19 2000-06-27 Unisplay S.A. Matrix display with matched solid-state pixels
US6473065B1 (en) * 1998-11-16 2002-10-29 Nongqiang Fan Methods of improving display uniformity of organic light emitting displays by calibrating individual pixel
US6414661B1 (en) * 2000-02-22 2002-07-02 Sarnoff Corporation Method and apparatus for calibrating display devices and automatically compensating for loss in their efficiency over time
US6456016B1 (en) * 2001-07-30 2002-09-24 Intel Corporation Compensating organic light emitting device displays
US6897842B2 (en) * 2001-09-19 2005-05-24 Intel Corporation Nonlinearly mapping video date to pixel intensity while compensating for non-uniformities and degradations in a display
US7274363B2 (en) * 2001-12-28 2007-09-25 Pioneer Corporation Panel display driving device and driving method
JP4036142B2 (ja) * 2003-05-28 2008-01-23 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器
DE102004022424A1 (de) 2004-05-06 2005-12-01 Deutsche Thomson-Brandt Gmbh Schaltung und Ansteuerverfahren für eine Leuchtanzeige
JP5128287B2 (ja) * 2004-12-15 2013-01-23 イグニス・イノベイション・インコーポレーテッド 表示アレイのためのリアルタイム校正を行う方法及びシステム
CA2504571A1 (en) * 2005-04-12 2006-10-12 Ignis Innovation Inc. A fast method for compensation of non-uniformities in oled displays
WO2007090287A1 (en) * 2006-02-10 2007-08-16 Ignis Innovation Inc. Method and system for light emitting device displays
US20080048951A1 (en) * 2006-04-13 2008-02-28 Naugler Walter E Jr Method and apparatus for managing and uniformly maintaining pixel circuitry in a flat panel display
TWI343042B (en) * 2006-07-24 2011-06-01 Au Optronics Corp Light-emitting diode (led) panel and driving method thereof
US7859501B2 (en) * 2007-06-22 2010-12-28 Global Oled Technology Llc OLED display with aging and efficiency compensation
US8217867B2 (en) * 2008-05-29 2012-07-10 Global Oled Technology Llc Compensation scheme for multi-color electroluminescent display

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW546596B (en) * 2001-09-28 2003-08-11 Semiconductor Energy Lab A light emitting device and electronic apparatus using the same
WO2005022498A2 (en) * 2003-09-02 2005-03-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Active matrix display devices
US20050110420A1 (en) * 2003-11-25 2005-05-26 Eastman Kodak Company OLED display with aging compensation
TW200809743A (en) * 2006-08-11 2008-02-16 Tpo Displays Corp System and method for reducing mura defects
US20080252568A1 (en) * 2007-04-10 2008-10-16 Oh-Kyong Kwon Organic light emitting display and driving method thereof

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