KR102263574B1 - 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 표시 패널, 표시 패널 구동부, 타이밍 제어부, 경로 형성 스위치, 강하 전압 측정부 및 저항 계산부를 포함한다. 표시 패널은 복수의 화소들을 포함한다. 표시 패널 구동부는 표시 패널을 구동한다. 타이밍 제어부는 표시 패널 구동부를 제어한다. 경로 형성 스위치는 전압 강하 테스트 동작 시 화소들 중 제1 데이터 라인에 연결된 제1 화소와 화소들 중 제1 화소와 동일한 행에 위치하고 제2 데이터 라인에 연결된 제2 화소를 연결시키고, 표시 동작 시 제1 화소와 제2 화소를 차단시킨다. 강하 전압 측정부는 제1 데이터 라인의 일 종단 및 제2 데이터 라인의 일 종단에 연결되고, 전압 강하 테스트 동작 시 제1 데이터 라인의 일 종단에 테스트 전압을 인가하며, 제2 데이터 라인의 일 종단으로부터 제1 데이터 라인 및 제2 데이터 라인에 의해 발생한 강하 전압을 측정한다. 저항 계산부는 강하 전압에 기초하여 제1 데이터 라인의 일 종단에서 제1 화소까지 제1 데이터 라인이 갖는 제1 저항 및 제2 데이터 라인의 일 종단에서 제2 화소까지 제2 데이터 라인이 갖는 제2 저항을 계산한다.

Description

표시 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 전자 기기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시 장치에 관한 것이다.
일반적으로 전자 기기는 신호를 통해 구성 요소들을 제어한다. 특히, 전자 기기는 구성 요소들 사이를 연결하는 배선들을 통해 전기적 신호를 전달할 수 있다. 이 때, 신호는 전압 레벨을 시간에 따라 변화시킴으로써 생성될 수 있다.
또한, 표시 장치에 포함된 화소는 데이터 구동부가 생성한 데이터 전압을 데이터 라인을 통해 공급받을 수 있다. 즉, 화소는 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받을 수 있다. 이 때, 화소는 공급받은 데이터 전압에 기초하여 출력광을 제어할 수 있다.
여기서, 데이터 라인은 저항을 갖지 않아야 하지만, 실제로 소정의 저항을 가질 수 있다. 따라서, 데이터 라인의 저항에 의해 데이터 라인에서 전압 강하 현상이 나타날 수 있다. 즉, 데이터 구동부가 생성한 데이터 전압의 전압 레벨과 화소가 공급받은 데이터 전압의 전압 레벨은 상이할 수 있다. 그 결과, 동일한 데이터 전압에서 화소의 위치에 따라 휘도가 변화되는 문제점이 있다.
본 발명의 일 목적은 데이터 전압의 전압 강하에 의한 휘도 변화를 최소화하는 표시 장치를 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상기 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동부, 상기 표시 패널 구동부를 제어하는 타이밍 제어부, 전압 강하 테스트 동작 시 상기 화소들 중 제1 데이터 라인에 연결된 제1 화소와 상기 화소들 중 상기 제1 화소와 동일한 행에 위치하고 제2 데이터 라인에 연결된 제2 화소를 연결시키고, 표시 동작 시 상기 제1 화소와 상기 제2 화소를 차단시키는 경로 형성 스위치, 상기 제1 데이터 라인의 일 종단 및 상기 제2 데이터 라인의 일 종단에 연결되고, 상기 전압 강하 테스트 동작 시 상기 제1 데이터라인의 상기 일 종단에 테스트 전압을 인가하며, 상기 제2 데이터 라인의 상기 일 종단으로부터 상기 제1 데이터 라인 및 상기 제2 데이터 라인에 의해 발생한 강하 전압을 측정하는 강하 전압 측정부 및 상기 강하 전압에 기초하여 상기 제1 데이터 라인의 상기 일 종단에서 상기 제1 화소까지 상기 제1 데이터 라인이 갖는 제1 저항 및 상기 제2 데이터 라인의 상기 일 종단에서 상기 제2 화소까지 상기 제2 데이터 라인이 갖는 제2 저항을 계산하는 저항 계산부를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동부는 상기 제1 저항에 기초하여 제1 데이터 전압을 보상한 제1 보상된 데이터 전압을 상기 제1 화소에 공급하고, 상기 제2 저항에 기초하여 제2 데이터 전압을 보상한 제2 보상된 데이터 전압을 상기 제2 화소에 공급할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 기준선에 의해 제1 영역 및 제2 영역으로 양분되고, 상기 제1 화소 및 상기 제2 화소는 상기 제1 영역에 포함될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소들 중 상기 제2 영역에 포함되고 제3 데이터라인에 연결된 제3 화소는 상기 기준선을 중심으로 상기 화소들 중 상기 제1 영역에 포함된 대칭 화소와 대칭될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 계산부는 상기 제3 데이터 라인의 일 종단에서 상기 제3 화소까지 상기 제3 데이터 라인이 갖는 제3 저항과 상기 대칭 화소에 연결된 대칭 데이터 라인의 일 종단에서 상기 대칭 화소까지 상기 대칭 데이터 라인이 갖는 대칭 저항은 동일한 것으로 추정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동부는 상기 대칭 저항에 기초하여 제3 데이터 전압을 보상한 제3 보상된 데이터 전압을 상기 제3 화소에 공급할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 계산부는 상기 화소들 중 제4 화소에 연결된 제4 데이터 라인의 일 종단에서 상기 제4 화소까지 상기 제4 데이터 라인이 갖는 제4 저항을 상기 제1 저항 및 상기 제2 저항에 기초한 보간법에 따라 추정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동부는 상기 제4 저항에 기초하여 제4 데이터 전압을 보상한 제4 보상된 데이터 전압을 상기 제4 화소에 공급할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 기준선에 의해 제1 영역 및 제2 영역으로 양분되고, 상기 제1 화소, 상기 제2 화소 및 상기 제4 화소는 상기 제1 영역에 포함될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 화소들 중 상기 제2 영역에 포함되고 제5 데이터라인에 연결된 제5 화소는 상기 기준선을 중심으로 상기 화소들 중 상기 제1 영역에 포함된 대칭 화소와 대칭될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 계산부는 상기 제5 데이터 라인의 일 종단에서 상기 제5 화소까지 상기 제5 데이터 라인이 갖는 제5 저항과 상기 대칭 화소에 연결된 대칭 데이터 라인의 일 종단에서 상기 대칭 화소까지 상기 대칭 데이터 라인이 갖는 대칭 저항은 동일한 것으로 추정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동부는 상기 대칭 저항에 기초하여 제5 데이터전압을 보상한 제5 보상된 데이터 전압을 상기 제5 화소에 공급할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 계산부는 상기 타이밍 제어부에 포함될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 계산부는 상기 표시 패널 구동부에 포함될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동부는 상기 제1 화소에 제1 스캔 신호를 공급하고 상기 제2 화소에 제2 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부 및 상기 강하 전압 측정부를 포함하는 데이터 구동부를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 데이터 라인들에 연결된 표시 패널 구동부, 상기 표시 패널 구동부를 제어하는 타이밍 제어부, 상기 데이터 라인들에 연결된 복수의 일반 화소들 및 상기 데이터 라인들에 연결된 복수의 표본 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 데이터 구동부에서 상기 표본 화소들까지 상기 데이터 라인들이 갖는 복수의 제1 저항들을 측정하는 저항 측정부 및 상기 제1 저항들에 기초하여 상기 데이터 구동부와 상기 일반 화소들 사이에서 상기 데이터 라인들이 갖는 복수의 제2 저항들을 계산하는 저항 계산부를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 측정부는 상기 표시 패널 구동부에 포함될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 계산부는 상기 타이밍 제어부에 포함될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널 구동부는 상기 제1 저항들에 기초하여 복수의 제1 데이터 전압들을 보상한 복수의 제1 보상된 데이터 전압들을 상기 표본 화소들에 공급할 수 있고, 상기 제2 저항들에 기초하여 복수의 제2 데이터 전압들을 보상한 복수의 제2 보상된 데이터 전압들을 상기 일반 화소들에 공급할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 저항 계산부는 상기 제2 저항들을 상기 제1 저항들에 기초한 보간법에 따라 추정할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 측정된 데이터 라인의 저항에 기초하여 보상된 데이터 전압을 데이터 라인에 인가하므로 데이터 전압의 전압 강하에 의한 휘도 변화를 최소화할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 강하 전압 측정부가 강하 전압을 측정하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 제1 화소 및 제2 화소의 배치의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 1의 표시 장치에 포함된 표본 화소가 데이터 라인의 저항을 측정하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 1의 표시 장치에 포함된 저항 계산부가 보간법에 따라 저항을 추정하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 포함하는 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(100)는 표시 패널(120), 표시 패널 구동부(140), 타이밍 제어부(150), 경로 형성 스위치(160), 강하 전압 측정부(170) 및 저항 계산부(180)를 포함할 수 있다.
표시 패널(120)은 화소들(P1, P2)을 포함할 수 있다. 화소들(P1, P2)은 전원 전압의 전압 레벨 및 제1 스캔 신호(SCAN1) 및/또는 제2 스캔 신호(SCAN2)의 활성화 구간 동안 공급받은 데이터 전압(DATA1, DATA2)의 전압 레벨에 기초하여 광을 출력할 수 있다. 예를 들어, 유기 발광 표시 장치에서 화소(P1, P2)에 포함된 구동 트랜지스터는 전원 전압의 전압 레벨 및 데이터 전압(DATA1, DATA2)의 전압 레벨에 기초하여 구동 전류를 생성할 수 있으며, 화소(P1, P2)에 포함된 유기 발광 다이오드는 상기 구동 전류에 기초하여 발광할 수 있다. 또한, 화소(P1, P2)는 서브 화소들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 서브 화소들은 각각 빛의 삼원색에 상응하는 광을 출력할 수 있다. 서브 화소들은 공급받은 데이터 전압(DATA1, DATA2)에 기초하여 소정의 휘도를 갖는 광을 출력할 수 있다. 결과적으로, 상기 서브 화소들이 출력하는 광들을 조합함으로써, 화소(P1, P2)는 목표 색상 및 목표 휘도를 표시 할 수 있다. 표시 패널(120)은 제1 데이터 라인(DL1)에 연결된 제1 화소(P1) 및 제1 화소(P1)와 동일한 행에 위치하고 제2 데이터 라인(DL2)에 연결된 제2 화소(P2)를 포함할 수 있다.
실시예에 따라, 표시 패널(120)은 기준선에 의해 제1 영역 및 제2 영역으로 양분될 수 있고, 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)는 제1 영역에 포함될 수 있다. 이 때, 화소들 중 제2 영역에 포함되고 제3 데이터 라인에 연결된 제3 화소는 기준선을 중심으로 화소들 중 제1 영역에 포함된 대칭 화소와 대칭될 수 있다.
일 실시예에서, 기준선은 표시 패널(120)의 수평 방향으로 형성되어 표시 패널(120)을 상측과 하측으로 양분할 수 있다. 이 때, 기준선은 표시 패널(120)을 실질적으로 이등분할 수 있다. 이 경우, 상측과 하측이 가진 화소들의 개수는 동일할 수 있다.
다른 실시예에서, 기준선은 표시 패널(120)의 수직 방향으로 형성되어 표시 패널(120)을 좌측과 우측으로 양분할 수 있다. 이 때, 기준선은 표시 패널(120)을 실질적으로 이등분할 수 있다. 이 경우, 좌측과 우측이 가진 화소들의 개수는 동일할 수 있다.
실시예에 따라, 표시 패널(120)은 제4 데이터 라인에 연결된 제4 화소 및 제5 데이터 라인에 연결된 제5 화소를 더 포함할 수 있다. 표시 패널(120)은 기준선에 의해 제1 영역 및 제2 영역으로 양분될 수 있고, 제1 화소, 제2 화소 및 제4 화소는 제1 영역에 포함될 수 있다. 반면에 제5 화소는 제2 영역에 포함될 수 있다. 제5 화소는 기준선을 중심으로 화소들 중 제1 영역에 포함된 대칭 화소와 대칭될 수 있다.
실시예에 따라, 표시 패널(120)은 데이터 라인들에 연결된 복수의 일반 화소들 및 데이터 라인들에 연결된 복수의 표본 화소들을 포함할 수 있다. 표본 화소들에서 데이터 라인들의 저항을 측정함으로써 일반 화소까지의 데이터 라인들의 저항을 추정할 수 있다.
표시 패널 구동부(140)는 표시 패널(120)을 구동할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 패널 구동부(140)는 제1 데이터 라인(DL1)의 일 종단에서 제1 화소(P1)까지 제1 데이터 라인(DL1)이 갖는 제1 저항에 기초하여 제1 화소(P1)에 제1 데이터 전압을 보상한 제1 보상된 데이터 전압을 제1 화소(P1)에 공급할 수 있다. 또한, 표시 패널 구동부(140)는 제2 데이터 라인(DL2)의 일 종단에서 제2 화소(P2)까지 제2 데이터 라인(DL2)이 갖는 제2 저항에 기초하여 제2 화소(P2)에 제2 데이터 전압을 보상한 제2 보상된 데이터 전압을 제2 화소(P2)에 공급할 수 있다.
실시예에 따라, 표시 패널 구동부(140)는 대칭 저항에 기초하여 제3 데이터전압을 보상한 제3 보상된 데이터 전압을 제3 화소에 공급할 수 있다. 이 때, 표시 패널(120)이 대칭 구조를 가지므로 대칭 화소까지의 데이터 라인의 저항(즉, 대칭 저항)이 제3 화소까지의 데이터 라인의 저항으로 추정될 수 있다. 또한, 제3 화소는 제1 영역에 포함된 화소와 대칭되므로, 제1 영역 상의 어떠한 화소도 대칭 화소일 수 있다. 예를 들어, 제3 화소는 제1 화소(P1)와 대칭일 수 있거나, 제2 화소(P2)와 대칭일 수 있다.
실시예에 따라, 표시 패널 구동부(140)는 제4 저항에 기초하여 제4 데이터 전압을 보상한 제4 보상된 데이터 전압을 제4 화소에 공급할 수 있다. 이 때, 제4 저항은 제1 저항 및 제2 저항에 기초한 보간법에 따라 추정될 수 있다. 보간법에 의해 제4 화소까지의 제4 데이터 라인의 저항을 추정하는 일 예는 아래 도 6에서 상세히 설명한다.
실시예에 따라, 표시 패널 구동부(140)는 대칭 저항에 기초하여 제5 데이터 전압을 보상한 제5 보상된 데이터 전압을 제5 화소에 공급할 수 있다. 이 때, 표시 패널(120)이 대칭 구조를 가지므로 대칭 화소까지의 데이터 라인의 저항(즉, 대칭 저항)이 제5 화소까지의 데이터 라인의 저항으로 추정될 수 있다. 또한, 제5 화소는 제1 영역에 포함된 화소와 대칭되므로, 제1 영역 상의 어떠한 화소도 대칭 화소일 수 있다. 예를 들어, 제5 화소는 제1 화소(P1)와 대칭일 수 있거나, 제2 화소(P2)와 대칭일 수 있거나, 제4 화소와 대칭일 수 있다.
실시예에 따라, 표시 패널 구동부(140)는 스캔 구동부 및 데이터 구동부를 포함할 수 있다. 스캔 구동부는 제1 화소(P1)에 제1 스캔 신호(SCAN1)를 공급할 수 있고, 스캔 구동부는 제2 화소(P2)에 제2 스캔 신호(SCAN2)를 공급할 수 있다. 실시예에 따라, 상기 제1 스캔 신호(SCAN1)와 상기 제2 스캔 신호(SCAN2)는 동일한 신호일 수 있다. 데이터 구동부는 강하 전압 측정부(170)를 포함할 수 있고, 데이터 전압을 생성할 수 있다. 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)는 제1 스캔 신호(SCAN1) 및 제2 스캔 신호(SCAN2)의 활성화 구간 동안 데이터 전압을 공급받을 수 있다. 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)는 공급받은 데이터 전압에 기초하여 광을 출력할 수 있다. 스캔 구동부 및 데이터 구동부의 일 예는 아래 도 2에서 상세히 설명한다.
실시예에 따라, 표시 패널 구동부(140)는 복수의 데이터 라인들(DL1, DL2)에 연결될 수 있다. 즉, 표시 패널 구동부(140)로부터 데이터 라인들(DL1, DL2)을 통해 데이터 전압이 공급될 수 있다.
타이밍 제어부(150)는 표시 패널 구동부(140)를 제어할 수 있다. 한편, 타이밍 제어부(150)는 시리얼(serial) 구성을 갖는 제어 신호(CTRL)에 기초하여 표시 패널 구동부(140)에 포함된 데이터 구동부를 제어할 수 있다. 예를 들어, 타이밍 제어부는 데이터 구동부가 공급하는 데이터 전압의 크기, 데이터 전압을 공급하는 타이밍 등을 제어하는 제어 신호(CTRL)를 통해 표시 패널 구동부(140)를 제어할 수 있다. 나아가, 타이밍 제어부(150)는 표시 패널 구동부(140)에 포함된 스캔 구동부를 제어할 수 있다.
경로 형성 스위치(160)는 전압 강하 테스트 동작 시 화소들 중 제1 데이터 라인(DL1)에 연결된 제1 화소(P1)와 화소들 중 제1 화소(P1)와 동일한 행에 위치하고 제2 데이터 라인(DL2)에 연결된 제2 화소(P2)를 연결시킬 수 있다. 경로 형성 스위치(160)가 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)를 연결시킴으로써 전압 강하 테스트를 위한 강하 전압 측정부(170), 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)를 연결하는 경로가 형성될 수 있다.
또한, 경로 형성 스위치(160)는 표시 동작 시 제1 화소(P1)와 제2 화소(P2)를 차단시킬 수 있다. 경로 형성 스위치(160)가 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)를 차단시킴으로써 표시 패널 구동부(140)는 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)에 데이터 전압을 공급할 수 있다.
강하 전압 측정부(170)는 제1 데이터 라인(DL1)의 일 종단 및 제2 데이터 라인(DL2)의 일 종단에 연결될 수 있다. 또한, 강하 전압 측정부(170)는 전압 강하 테스트 동작 시 제1 데이터 라인(DL1)의 일 종단에 테스트 전압을 인가할 수 있다. 테스트 전압은 경로 형성 스위치(160)에 의해 형성된 경로를 따라 전압이 강하될 수 있다. 다시 말해, 제1 데이터 라인(DL1) 및 제2 데이터 라인(DL2)에 의해 강하 전압이 발생할 수 있다. 이 때, 강하 전압 측정부(170)는 제2 데이터 라인(DL2)의 일 종단으로부터 제1 데이터 라인(DL1) 및 제2 데이터 라인(DL2)에 의해 발생한 강하 전압을 측정할 수 있다.
저항 계산부(180)는 측정된 강하 전압(VF)에 기초하여 제1 데이터 라인(DL1)의 일 종단에서 제1 화소(P1)까지 제1 데이터 라인(DL1)이 갖는 제1 저항 및 제2 데이터 라인(DL2)의 일 종단에서 제2 화소(P2)까지 제2 데이터 라인(DL2)이 갖는 제2 저항을 계산할 수 있다. 일 실시예에서, 저항 계산부(180)는 옴의 법칙에 따라 강하 전압(VF)에 따른 제1 데이터 라인(DL1) 및 제2 데이터 라인(DL2)의 저항을 각각 계산할 수 있다. 다른 실시예에서, 저항 계산부(180)는 룩업 테이블을 참조하여 강하 전압(VF)에 따른 제1 데이터 라인(DL1) 및 제2 데이터 라인(DL2)의 저항을 각각 계산할 수 있다.
일 실시예에서, 저항 계산부(180)는 타이밍 제어부(150)에 포함될 수 있다. 타이밍 제어부(150)가 저항 계산부(180)를 포함함으로써, 데이터 전압이 타이밍 제어부(150)에 의해 효율적으로 보상될 수 있다.
다른 실시예에서, 저항 계산부(180)는 표시 패널 구동부(140)에 포함될 수 있다. 표시 패널 구동부(140)가 저항 계산부(180)를 포함함으로써, 보상된 데이터 전압이 표시 패널 구동부(140)에 의해 효율적으로 공급될 수 있다.
실시예에 따라, 표시 장치는 저항 측정부를 포함할 수 있다. 저항 측정부는 데이터 구동부에서 표본 화소들까지 데이터 라인들이 갖는 복수의 제1 저항들을 측정할 수 있다. 이 때, 저항 계산부는 제1 저항들에 기초하여 데이터 구동부와 일반 화소들 사이에서 데이터 라인들이 갖는 복수의 제2 저항들을 계산할 수 있다. 다시 말해, 표시 패널이 포함하는 화소들 중 일부의 표본 화소들에서 표본 화소들까지 데이터 라인들이 갖는 제1 저항들을 측정하고, 상기 제1 저항들에 기초하여 제2 저항들을 계산에 의해 추정할 수 있다. 실시예에 따라, 저항 계산부는 제2 저항들을 제1 저항들에 기초한 보간법에 따라 추정할 수 있다. 실시예에 따라, 저항 측정부는 표시 패널 구동부에 포함될 수 있다. 실시예에 따라, 저항 계산부는 타이밍 제어부에 포함될 수 있다. 결과적으로, 표시 패널 구동부는 제1 저항들에 기초하여 복수의 제1 데이터 전압들을 보상한 복수의 제1 보상된 데이터 전압들을 표본 화소들에 공급할 수 있고, 표시 패널 구동부는 제2 저항들에 기초하여 복수의 제2 데이터 전압들을 보상한 복수의 제2 보상된 데이터 전압들을 일반 화소들에 공급할 수 있다.
결과적으로, 표시 장치(100)는 측정된 데이터 라인(DL1, DL2)의 저항에 기초하여 보상된 데이터 전압을 데이터 라인(DL1, DL2)에 인가하므로, 데이터 전압의 전압 강하에 의한 휘도 변화가 최소화될 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 표시 패널 구동부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 2를 참조하면, 표시 장치(200)는 표시 패널(220), 표시 패널 구동부(240), 타이밍 제어부(250), 경로 형성 스위치, 강하 전압 측정부 및 저항 계산부를 포함할 수 있다.
표시 패널(220)은 복수의 화소들을 포함할 수 있다. 화소들은 표본 화소(222) 및 일반 화소(224)를 포함할 수 있다.
표시 패널 구동부(240)는 데이터 구동부(245) 및 스캔 구동부(247)를 포함할 수 있다. 스캔 구동부(247)는 표본 화소(222)에 제1 스캔 신호(SCAN1)를 공급할 수 있고, 스캔 구동부(247)는 일반 화소(224)에 제2 스캔 신호(SCAN2)를 공급할 수 있다. 데이터 구동부(245)는 강하 전압 측정부를 포함할 수 있고, 데이터 전압(DATA)을 생성할 수 있다. 표본 화소(222) 및 일반 화소(224)는 제1 스캔 신호(SCAN1) 및 제2 스캔 신호(SCAN2)의 활성화 구간 동안 데이터 전압(DATA)을 공급받을 수 있다. 표본 화소(222) 및 일반 화소(224)는 공급받은 데이터 전압(DATA)에 기초하여 광을 출력할 수 있다.
타이밍 제어부(250)는 표시 패널 구동부(240)를 제어할 수 있다. 구체적으로, 타이밍 제어부(250)는 제어 신호(CTRL)에 기초하여 표시 패널 구동부(240)를 제어할 수 있다. 한편, 제어 신호는 시리얼 구성을 가질 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 강하 전압 측정부가 강하 전압을 측정하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 표시 장치(300)는 표시 패널(320), 표시 패널 구동부(340), 타이밍 제어부(360) 및 경로 형성 스위치(SW)를 포함할 수 있다. 표시 패널(320)은 표본 화소로서 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)를 포함할 수 있고, 표시 패널(320)은 일반 화소로서 제3 화소(P3) 및 제4 화소(P4)를 포함할 수 있다. 표시 패널 구동부(340)는 강하 전압 측정부(380)를 포함할 수 있다.
강하 전압 측정부(380)는 전압 강하 테스트 동작 시에 테스트 전압(V1)을 제1 데이터 라인(DL1)에 공급할 수 있다. 이 때, 경로 형성 스위치(SW)는 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)를 연결할 수 있다. 제1 화소(P1) 및 제2 화소(P2)가 연결됨으로써, 강하 전압 측정부(380)으로부터 제1 데이터 라인(DL1), 경로 형성 스위치(SW) 및 제2 데이터 라인(DL2)을 연결하는 경로가 형성될 수 있다. 상기 경로의 끝인 제2 데이터 라인(DL2)의 일 종단에서 강하 전압 측정부(380)는 전압 강하된 테스트 전압(V2)을 측정함으로써, 강하 전압을 측정할 수 있다. 이 때, 저항 계산부는 강하 전압에 기초하여 제1 데이터 라인(DL1) 및 제2 데이터 라인(DL2)의 저항을 각각 계산할 수 있다. 일 실시예에서, 저항 계산부는 옴의 법칙에 따라 강하 전압에 따른 제1 데이터 라인(DL1) 및 제2 데이터 라인(DL2)의 저항을 각각 계산할 수 있다. 다른 실시예에서, 저항 계산부는 룩업 테이블을 참조하여 강하 전압에 따른 제1 데이터 라인(DL1) 및 제2 데이터 라인(DL2)의 저항을 각각 계산할 수 있다. 한편, 저항 계산부는 제1 데이터 라인과 제2 데이터 라인의 저항이 동일하다고 가정하여 강하 전압에 기초하여 계산된 전체 저항 중 절반을 제1 데이터 라인의 저항으로 계산할 수 있고, 나머지 절반을 제2 데이터 라인의 저항으로 계산할 수 있다.
나아가, 제1 데이터 라인(DL1)에 연결된 제3 화소(P3)까지의 제1 데이터 라인(DL1)의 저항 및 제2 데이터 라인(DL2)에 연결된 제4 화소(P4)까지의 제2 데이터 라인(DL1, DL2)의 저항은 보간법에 의해 추정될 수 있다. 일 실시예에서, 제3 화소(P3)까지의 제1 데이터 라인(DL1)의 저항은 제1 화소(P1)까지의 제1 데이터 라인(DL1)의 저항 및 제2 화소(P2)까지의 제2 데이터 라인(DL2)의 저항에 기초하여 선형 보간법에 의해 추정될 수 있다. 다른 실시예에서, 제3 화소(P3)까지의 제1 데이터 라인(DL1)의 저항은 제1 화소(P1)까지의 제1 데이터 라인(DL1)의 저항 및 제2 화소(P2)까지의 제2 데이터 라인(DL2)의 저항에 기초하여 비선형 보간법에 의해 추정될 수 있다. 데이터 라인들(DL1, DL2)의 저항을 보간법에 의해 추정하는 일 예는 아래 도 6에서 보다 자세하게 설명한다.
도 4는 도 1의 표시 장치에 포함된 제1 화소 및 제2 화소의 배치의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 5는 도 1의 표시 장치에 포함된 표본 화소가 데이터 라인의 저항을 측정하는 다른 예를 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 표시 장치(400)는 표시 패널(420), 데이터 구동부(440) 및 스캔 구동부(460)를 포함할 수 있다.
표시 패널(420)은 도 3에서 설명한 제1 화소(422-1 내지 422-5) 및 제2 화소(424-1 내지 424-5)를 포함할 수 있다. 제1 화소(422-1 내지 422-5) 및 제2 화소(424-1 내지 424-5)에서 데이터 라인의 저항을 측정할 수 있으므로, 제1 화소(422-1 내지 422-5) 및 제2 화소(424-1 내지 424-5)에 해당하지 않는 나머지 화소들의 저항들은 보간법에 의해 추정될 수 있다. 도 4에서는 모든 데이터 라인에 제1 화소(422-1 내지 422-5) 또는 제2 화소(424-1 내지 424-5)가 연결되어 있으나, 제1 화소(422-1 내지 422-5) 또는 제2 화소(424-1 내지 424-5)는 모든 데이터 라인들에 연결되지 않을 수 있다. 이 경우, 좌우 데이터 라인의 저항에 기초한 보간법에 따라 가운데 데이터 라인의 저항을 추정할 수 있다.
도 5를 참조하면, 표시 장치(500)는 표시 패널(520), 데이터 구동부(540) 및 스캔 구동부(560)를 포함할 수 있다. 표시 패널(520)은 도 3에서 설명한 제1 화소(522-1, 522-2) 및 제2 화소(524-1, 524-2)를 포함할 수 있다.
도 4와 달리, 제1 화소(522-1, 522-2) 및 제2 화소(524-1, 524-2)는 표시 패널(520)을 양분하는 기준선(A)의 좌측에만 위치할 수 있다. 이 경우, 표시 패널(520)을 양분하는 기준선(A)에 의해 표시 패널(520)의 양쪽은 대칭되므로, 기준선(A)의 우측에 위치하는 화소들까지의 데이터 라인의 저항들은 기준선(A)의 좌측에 위치하는 화소들까지의 데이터 라인들의 저항들과 동일한 것으로 추정할 수 있다. 즉, 기준선(A)의 좌측에 위치한 화소들까지의 데이터 라인들의 저항들이 계산되면, 그 결과값들은 기준선(A)의 우측에 위치한 화소들까지의 데이터 라인들의 저항들로 사용될 수 있다. 이 경우, 저항을 측정하기 위한 회로가 감소할 수 있으므로, 경제성이 향상될 수 있다.
도 6은 도 1의 표시 장치에 포함된 저항 계산부가 보간법에 따라 저항을 추정하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 표시 패널(600)에 포함된 화소들에서 측정된 화소들까지의 데이터 라인들의 저항이 도시되어 있다. 즉, 표시 패널(600)에 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동부(D-IC)로부터 멀어질수록 데이터 라인의 저항값이 증가할 수 있다. 예를 들어, 제1 화소에서 측정된 저항은 10.0 ohm(1행), 15.0 ohm(4행) 및 20.0 ohm(8행) 일 수 있고, 제2 화소에서 측정된 저항은 5.0 ohm(1행), 10.0 ohm(4행) 및 15.0 ohm(8행) 일 수 있다. 이 경우, 1행에서의 저항은 보간법에 의해 10.0 ohm, 8.3 ohm, 6.3 ohm 및 5.0 ohm 일 수 있고, 4행에서의 저항은 보간법에 의해 15.0 ohm, 13.3 ohm, 11.7 ohm 및 10.0 ohm 일 수 있다. 또한, 2행 및 3행에서의 저항 역시 보간법에 의해 각각 11.7 ohm, 10.0 ohm, 8.3 ohm 및 6.7 ohm일 수 있고, 13.3 ohm, 11.7 ohm, 10.0 ohm 및 8.3 ohm 일 수 있다. 우측에서의 저항은 우측에서의 저항과 동일한 것으로 추정될 수 있으므로, 우측의 저항은 좌측에서 대칭으로 대응되는 화소에서의 데이터 라인의 저항으로 추정될 수 있다. 이를 통해, 도 1의 저항 계산부는 전 화소에서 데이터 라인의 저항을 계산할 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치를 포함하는 전자 기기를 나타내는 블록도이다.
도 7을 참조하면, 전자 기기(700)는 프로세서(710), 메모리 장치(720), 저장 장치(730), 입출력 장치(740), 파워 서플라이(750) 및 표시 장치(760)를 포함할 수 있다. 이 때, 표시 장치(760)는 도 1의 표시 장치(100)에 상응할 수 있다. 나아가, 전자 기기(700)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다.
프로세서(710)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(710)는 마이크로프로세서(micro processor), 중앙 처리 장치(CPU) 등일 수 있다. 프로세서(710)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통하여 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(710)는 주변 구성요소 상호연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다. 메모리 장치(720)는 전자 기기(700)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(720)는 EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), 플래시 메모리(Flash Memory), PRAM(Phase Change Random Access Memory), RRAM(Resistance Random Access Memory), NFGM(Nano Floating Gate Memory), PoRAM(Polymer Random Access Memory), MRAM(Magnetic Random Access Memory), FRAM(Ferroelectric Random Access Memory) 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 DRAM(Dynamic Random Access Memory), SRAM(Static Random Access Memory), 모바일 DRAM 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 저장 장치(530)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다. 입출력 장치(540)는 키보드, 키패드, 터치스크린, 터치패드, 마우스 등과 같은 입력 수단, 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 실시예에 따라, 표시 장치(760)는 입출력 장치(740) 내에 구비될 수도 있다. 파워 서플라이(750)는 전자 기기(700)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다.
표시 장치(760)는 표시 패널, 표시 패널 구동부, 타이밍 제어부, 경로 형성 스위치, 강하 전압 측정부 및 저항 계산부를 포함할 수 있다.
표시 패널은 복수의 화소들을 포함할 수 있고, 표시 패널 구동부는 표시 패널을 구동할 수 있으며, 타이밍 제어부는 표시 패널 구동부를 제어할 수 있다.
경로 형성 스위치는 전압 강하 테스트 동작 시 화소들 중 제1 데이터 라인에 연결된 제1 화소와 화소들 중 제2 데이터 라인에 연결된 제2 화소를 연결시킴으로써, 전압 강하 테스트 경로를 형성할 수 있다. 이 때, 강하 전압 측정부가 제1 데이터 라인의 일 종단에 테스트 전압을 인가하여 제2 데이터 라인의 일 종단에서 강하 전압을 측정함으로써, 저항 계산부가 제1 데이터 라인 및 제2 데이터 라인의 저항을 계산할 수 있다. 나아가, 보간법 및 대칭 구조를 응용하여 제1 화소 및 제2 화소를 제외한 나머지 화소까지의 데이터 라인의 저항을 계산할 수 있다.
결과적으로, 계산된 데이터 라인의 저항들에 기초하여 데이터 전압들을 보상한 보상된 데이터 전압들을 화소들에 공급할 수 있다.
이와 같이, 표시 장치(760)는 측정된 데이터 라인의 저항에 기초하여 보상된 데이터 전압을 데이터 라인에 인가하므로, 데이터 전압의 전압 강하에 의한 휘도 변화를 최소화할 수 있다.
이상, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다. 예를 들어, 상기에서는 데이터 라인이 상하 방향으로 형성된 구조인 것으로 설명하였으나, 데이터 라인의 방향은 이에 한정되는 것이 아니다.
본 발명은 표시 장치를 구비한 전자 기기에 다양하게 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 컴퓨터, 노트북, 디지털 카메라, 비디오 캠코더, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 피엠피(PMP), 피디에이(PDA), MP3 플레이어, 차량용 네비게이션, 비디오폰, 감시 시스템, 추적 시스템, 동작 감지 시스템, 이미지 안정화 시스템 등에 적용될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.
100, 200, 300, 400, 500: 표시 장치
120, 220, 320, 420, 520: 표시 패널
140, 240, 340: 표시 패널 구동부
150: 타이밍 제어부
160: 경로 형성 스위치
170: 강하 전압 측정부
180: 저항 계산부
245, 440, 540: 데이터 구동부
247, 460, 560: 스캔 구동부

Claims (20)

  1. 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널을 구동하는 표시 패널 구동부;
    상기 표시 패널 구동부를 제어하는 타이밍 제어부;
    전압 강하 테스트 동작 시 상기 화소들 중 제1 데이터 라인에 연결된 제1 화소와 상기 화소들 중 상기 제1 화소와 동일한 행에 위치하고 제2 데이터 라인에 연결된 제2 화소를 연결시키고, 표시 동작 시 상기 제1 화소와 상기 제2 화소를 차단시키는 경로 형성 스위치;
    상기 제1 데이터 라인의 일 종단 및 상기 제2 데이터 라인의 일 종단에 연결되고, 상기 전압 강하 테스트 동작 시 상기 제1 데이터라인의 상기 일 종단에 테스트 전압을 인가하며, 상기 제2 데이터 라인의 상기 일 종단으로부터 상기 제1 데이터 라인 및 상기 제2 데이터 라인에 의해 발생한 강하 전압을 측정하는 강하 전압 측정부; 및
    상기 강하 전압에 기초하여 상기 제1 데이터 라인의 상기 일 종단에서 상기 제1 화소까지 상기 제1 데이터 라인이 갖는 제1 저항 및 상기 제2 데이터 라인의 상기 일 종단에서 상기 제2 화소까지 상기 제2 데이터 라인이 갖는 제2 저항을 계산하는 저항 계산부를 포함하는 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동부는 상기 제1 저항에 기초하여 제1 데이터 전압을 보상한 제1 보상된 데이터 전압을 상기 제1 화소에 공급하고, 상기 제2 저항에 기초하여 제2 데이터 전압을 보상한 제2 보상된 데이터 전압을 상기 제2 화소에 공급하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 표시 패널은 기준선에 의해 제1 영역 및 제2 영역으로 양분되고, 상기 제1 화소 및 상기 제2 화소는 상기 제1 영역에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 화소들 중 상기 제2 영역에 포함되고 제3 데이터 라인에 연결된 제3 화소는 상기 기준선을 중심으로 상기 화소들 중 상기 제1 영역에 포함된 대칭 화소와 대칭되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 저항 계산부는 상기 제3 데이터 라인의 일 종단에서 상기 제3 화소까지 상기 제3 데이터 라인이 갖는 제3 저항과 상기 대칭 화소에 연결된 대칭 데이터 라인의 일 종단에서 상기 대칭 화소까지 상기 대칭 데이터 라인이 갖는 대칭 저항은 동일한 것으로 추정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제 5 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동부는 상기 대칭 저항에 기초하여 제3 데이터 전압을 보상한 제3 보상된 데이터 전압을 상기 제3 화소에 공급하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제 1 항에 있어서, 상기 저항 계산부는 상기 화소들 중 제4 화소에 연결된 제4 데이터 라인의 일 종단에서 상기 제4 화소까지 상기 제4 데이터 라인이 갖는 제4 저항을 상기 제1 저항 및 상기 제2 저항에 기초한 보간법에 따라 추정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동부는 상기 제4 저항에 기초하여 제4 데이터 전압을 보상한 제4 보상된 데이터 전압을 상기 제4 화소에 공급하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제 7 항에 있어서, 상기 표시 패널은 기준선에 의해 제1 영역 및 제2 영역으로 양분되고, 상기 제1 화소, 상기 제2 화소 및 상기 제4 화소는 상기 제1 영역에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 화소들 중 상기 제2 영역에 포함되고 제5 데이터 라인에 연결된 제5 화소는 상기 기준선을 중심으로 상기 화소들 중 상기 제1 영역에 포함된 대칭 화소와 대칭되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제 10 항에 있어서, 상기 저항 계산부는 상기 제5 데이터 라인의 일 종단에서 상기 제5 화소까지 상기 제5 데이터 라인이 갖는 제5 저항과 상기 대칭 화소에 연결된 대칭 데이터 라인의 일 종단에서 상기 대칭 화소까지 상기 대칭 데이터 라인이 갖는 대칭 저항은 동일한 것으로 추정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제 11 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동부는 상기 대칭 저항에 기초하여 제5 데이터 전압을 보상한 제5 보상된 데이터 전압을 상기 제5 화소에 공급하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 제1 항에 있어서, 상기 저항 계산부는 상기 타이밍 제어부에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 제 1 항에 있어서, 상기 저항 계산부는 상기 표시 패널 구동부에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  15. 제 1 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동부는
    상기 제1 화소에 제1 스캔 신호를 공급하고 상기 제2 화소에 제2 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부; 및
    상기 강하 전압 측정부를 포함하는 데이터 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 복수의 데이터 라인들에 연결된 표시 패널 구동부;
    상기 표시 패널 구동부를 제어하는 타이밍 제어부;
    상기 데이터 라인들에 연결된 복수의 일반 화소들 및 상기 데이터 라인들에 연결된 복수의 표본 화소들을 포함하는 표시 패널;
    상기 데이터 라인들의 일 종단들에서 상기 표본 화소들까지 상기 데이터 라인들이 갖는 복수의 제1 저항들을 측정하는 저항 측정부; 및
    상기 제1 저항들에 기초하여 상기 데이터 라인들의 상기 일 종단들과 상기 일반 화소들 사이에서 상기 데이터 라인들이 갖는 복수의 제2 저항들을 계산하는 저항 계산부를 포함하는 표시 장치.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 저항 측정부는 상기 표시 패널 구동부에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  18. 제 16 항에 있어서, 상기 저항 계산부는 상기 타이밍 제어부에 포함되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  19. 제 18 항에 있어서, 상기 표시 패널 구동부는 상기 제1 저항들에 기초하여 복수의 제1 데이터 전압들을 보상한 복수의 제1 보상된 데이터 전압들을 상기 표본 화소들에 공급하고, 상기 제2 저항들에 기초하여 복수의 제2 데이터 전압들을 보상한 복수의 제2 보상된 데이터 전압들을 상기 일반 화소들에 공급하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  20. 제 19 항에 있어서, 상기 저항 계산부는 상기 제2 저항들을 상기 제1 저항들에 기초한 보간법에 따라 추정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
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