KR20030085499A - 발광 다이오드 - Google Patents

발광 다이오드 Download PDF

Info

Publication number
KR20030085499A
KR20030085499A KR10-2003-0026923A KR20030026923A KR20030085499A KR 20030085499 A KR20030085499 A KR 20030085499A KR 20030026923 A KR20030026923 A KR 20030026923A KR 20030085499 A KR20030085499 A KR 20030085499A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light emitting
light
layer
emitting element
emitting diode
Prior art date
Application number
KR10-2003-0026923A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100617432B1 (ko
Inventor
다까하시유지
후꾸모또시게루
아라까네가쯔노리
히라노아쯔오
하다메구니히로
오바라구니히꼬
마에다도시히데
기따하라히로미
고야겐이찌
야마노우찌요시노부
Original Assignee
도요다 고세이 가부시키가이샤
마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2002128790A external-priority patent/JP2003324215A/ja
Priority claimed from JP2002276184A external-priority patent/JP2004111882A/ja
Application filed by 도요다 고세이 가부시키가이샤, 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 filed Critical 도요다 고세이 가부시키가이샤
Publication of KR20030085499A publication Critical patent/KR20030085499A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100617432B1 publication Critical patent/KR100617432B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/508Wavelength conversion elements having a non-uniform spatial arrangement or non-uniform concentration, e.g. patterned wavelength conversion layer, wavelength conversion layer with a concentration gradient of the wavelength conversion material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • H01L2224/161Disposition
    • H01L2224/16135Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/16145Disposition the bump connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48257Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48464Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area also being a ball bond, i.e. ball-to-ball
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/49105Connecting at different heights
    • H01L2224/49107Connecting at different heights on the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85909Post-treatment of the connector or wire bonding area
    • H01L2224/8592Applying permanent coating, e.g. protective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0091Scattering means in or on the semiconductor body or semiconductor body package
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/54Encapsulations having a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/52Encapsulations
    • H01L33/56Materials, e.g. epoxy or silicone resin

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

발광 다이오드에서, 발광 소자로부터 방사 광을 직접 수용하는 산란 재료 함유 도광/산란층이 구비된다. 도광/산란층에 함유된 산란 재료는 입사광을 불규칙적으로 반사하고 산란한다. 산란된 광은 인광체 재료를 함유한 투명 결합제로 형성된 형광 발광층으로 안내된다. 형광 발광층에 함유된 인광체 재료로 직접 발광 소자로부터 방사된 고 광학 밀도를 가진 광의 입사 확률은 낮아지고, 광은 전체 형광 발광층으로부터 방출될 수 있다. 따라서, 원하는 색상을 갖는 균일한 광이 발광 다이오드로부터 고효율로 방출될 수 있다.

Description

발광 다이오드{LIGHT EMITTING DIODE}
본 출원은 일본 특허 출원 제2002-128790호 및 제2002-276184호를 기초로 하며, 전체 내용은 본 명세서에 참고로 병합되어 있다.
본 발명은 예를 들어, 감광 장치(photosensor), 프린터 및 다양한 디스플레이의 백라이트 용 광원으로 사용할 수 있는 발광 다이오드에 관한 것이다. 특히,본 발명은 발광 소자와 인광체 재료를 포함하는 발광 다이오드에 관한 것이고, 원하는 균일한 색상의 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드로부터 방출될 수 있다.
본 실시예에서, LED 칩 그 자체는 "발광 소자"로 언급되고, LED 칩 장착 패키지 수지 또는 렌즈 시스템 또는 다른 광학 시스템을 포함하는 전체 시스템은 "발광 다이오드"로 언급된다.
원하는 색상의 광을 방사하기 위한 인광체 및 발광 소자를 사용하는 종래의 발광 다이오드는 도1에 개략적으로 도시된다. 이러한 발광 다이오드는 한 쌍의 리드 프레임(102, 103)을 포함한다. 리드 프레임(102)은 그 선단부에 오목부를 갖는다. 발광 소자(101)는 오목부의 바닥부에 장착된다. 발광 소자(101)는 인광체 혼합 수지(104)로 덮인다. 더욱이, 오목부 내의 공간은 인광체 혼합 수지(104)로 충진된다. 인광체 혼합 수지(104)는 인광체가 혼합된 투명 에폭시 수지와 같은 수지이다. 이러한 인광체는 발광 소자(101)로부터 방사 광을 흡수하고 흡수된 광의 파장 변환을 수행하며, 흡수된 광과 상이한 파장을 갖는 광을 방출한다. 전체 조립체는 밀봉 수지(105)로 밀봉된다.
상기 구조를 갖는 발광 다이오드에서, 예를 들어, 발광 소자(101)가 청색 발광 소자이고 인광체가 청색 발광 소자로부터 방사된 청색광을 흡수하고 청색광의 파장 변환을 수행하여 황색광을 방출한다고 가정하면, 청색 발광 소자로부터 방사된 청색광은 인광체로부터 방출된 황색광과 혼합된다. 따라서, 이론적으로, 백색광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드의 외측으로 방출될 수있다.
그러나, 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 이러한 발광 다이오드는 발광 다이오드로부터 방출된 광의 색상이 발광 다이오드의 방사 관찰면의 위치에 따라 변하는 문제를 갖는다. 상술한 바람직하지 않은 현상은 이하에서 "방사 광 색상의 비균일성"으로 언급된다. 이러한 문제는 다음의 사실에 기인한다. 일부의 광은 발광 소자(101) 바로 위의 방향에서 발광 소자(101)로부터 방출된다. 다른 부분의 광은 발광 소자(101)의 상부면 또는 측면에서 경사져서 방출된다. 더욱이, 발광 소자(101)로부터 방사 후에, 일부의 광은 오목부의 내부벽으로부터 반사된다. 따라서, 인광체 혼합 수지(104)에서 발광 소자로부터의 광의 방사와 발광 다이오드로부터의 광의 출현(emergence) 사이의 기간에 광이 통과하는 인광체의 양은 광이 통과되고 발광 다이오드의 외측으로 방출되는 광학 경로에 따라 변한다. 인광체 양의 이러한 변화는 이하에서 "광학 경로들 중의 광 투과 인광체의 양의 차이"로서 종종 언급된다. 이러한 경우에, 발광 다이오드의 방사 관찰면 측면에서 볼 때, 발광 소자(101) 바로 위 일부의 방사 관찰면은 백색광을 방사하는 것으로 인지되고, 발광 소자(101) 바로 위 부분의 둘레 부분은 황색 광을 방사하는 것으로 인지된다. 따라서, 발광 다이오드로부터 방출된 광은 색상의 균일성이 부족하다.
특히, 최근에, 발광 다이오드의 크기 및 두께에서의 감소에 대해 점점 증가하는 요구가 있다. 이러한 요구를 충족시키기 위해, 예를 들어, 쉘 형상 또는 SMD(표면 장착된 장치) 형태의 발광 다이오드가 본 기술 분야에 요구되고 있다. 이러한 경우에, 작고 얇은 발광 다이오드를 실현하기 위해 발광 소자를 덮고 오목부 내의 공간을 충진하는 인광체 혼합 수지의 인광체의 농도는 증진되어야 한다. 인광체 혼합 수지에서 인광체 농도에서의 증진은 발광 다이오드의 크기 및 두께에서의 감소에 대한 요구를 충분히 충족시킬 수 있다. 그러나, 이러한 경우에 광학 경로 중 광 투과 인광체의 양에서의 차이는 더 증가된다. 따라서, 방출된 광의 색상의 비균일성은 더욱 심각해진다.
일본 특허 제3065263호는 방출된 광의 색상의 비균일성을 감소시키는 발광 다이오드를 제안한다. 이러한 발광 다이오드는 도2에 도시된다. 도2에 도시된 바와 같이, 발광 다이오드는 오목부를 갖는 반사 부재(127)를 포함한다. 발광 소자(123)는 오목부의 바닥부에 장착된다. 발광 소자(123)는 (도시되지 않은) 한 쌍의 전극을 구비한다. 이러한 전극은 전기 연결 부재(126)를 통해 외부 전극(124)에 각각 결합된다. 발광 소자(123)와 전기 연결 부재(126)는 덮여서 제1 수지(121)에 파묻힌다. 제1 수지(121)는 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 오목 구면에 있다. 제1 수지(121)에서 오목부의 잔류 공간은 인광체 혼합 수지인 제2 수지(122)로 충진된다. 이러한 구조의 청구된 장점은 광학 경로 중 광 투과 인광체 양의 차이를 실질적으로 감소시켜서 발광 다이오드로부터 방출된 광 색상의 비균일성을 감소시키는 것이다.
그러나, 상기 발광 다이오드에서, 인광체 함유 제2 수지(122)의 두께는 발광 소자(123) 바로 위 부분에서 가장 크고 오목부의 측벽을 향해 점차 감소한다. 발광 소자(123)로부터 방사된 일부의 광은 발광 소자(123) 바로 위 방향에서 큰 두께 부분의 제2 수지(122)를 통해 발광 다이오드의 외측으로 방사된다. 반면, 발광 소자(123)로부터 방사된 다른 부분의 광은 반사 부재(127)의 내벽을 향해 진행하고, 오목부의 측벽으로부터 반사되며, 작은 두께 부분의 제2 수지(122)를 통해 발광 다이오드의 외측을 향해 진행한다. 따라서, 제2 수지(122)의 작은 두께 부분을 포함하는 광학 경로를 관통한 방사 광에 대하여, 광 투과 인광체의 양은 다른 광학 경로를 관통한 방사 광의 양보다 더 적다. 즉, 광학 경로 중 광 투과 인광체의 양에서의 차이가 존재하여 발광 다이오드로부터 방출된 광은 색상의 균일성이 부족하다. 다시 말해, 상기 발광 다이오드에서도, 단점으로 발광 다이오드로부터 방출된 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 색상의 균일성이 부족하다.
더욱이, 상기 발광 다이오드에서, 발광 소자(123)로부터 방사 광은 고 광학 밀도 상태에서 인광체 혼합 제2 수지(122)로 직접 입사된다. 많은 인광체 재료에 대해 본 발명자에 의해 실행된 실험에 따르면, 방사 효율은 흡수된 광의 양(광학 밀도)을 증가시킴에 따라 감소한다. 결과적으로, 발광 소자로부터 방사 광의 휘도가 증가될 때에도 인광체 재료의 방사 효율은 소정의 수치로 포화되어 증진될 수 없다. 이러한 이유로, 상기 종래의 발광 다이오드에서, 고 방사 효율을 갖는 인광체 재료를 사용하여 파장 변환을 통해 소정의 색상을 갖는 광의 방출은 실현하기 어려웠다.
상기 환경에서, 본 발명이 형성되었고, 종래 기술에 포함된 방사 광의 색상 비균일성 문제를 제거할 수 있고 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 원하는 균일한 색상을 갖는 광을 방사할 수 있는 발광 다이오드를 제공하는 것이 본 발명의 목적이다.
본 발명의 다른 목적은 고효율을 갖는 인광체 재료로부터 광의 방사를 실현할 수 있고 소정 색상의 고휘도 광을 실현할 수 있는 발광 다이오드를 제공하는 것이다.
본 발명의 제1 특징에 따르면, 발광 다이오드는 오목부를 갖는 반사 미러와, 반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와, 발광 소자를 덮도록 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진된 제1 투광성 재료로 형성된 광 투과층과, 방사 관찰면 측면의 광 투과층 상에 제공된 형광 발광층을 포함하고, 상기 형광 발광층은 제1 투광성 재료와 상이한 제2 투광성 재료로 형성되고, 상기 제2 투광성 재료는 광 투과층을 관통하고 흡수된 광과 상이한 파장을 갖는 광을 방사하는 광을 흡수하는 인광체 재료를 함유한다.
상기 구성에 따르면, 제1 투광성 재료가 제2 투광성 재료와 상이하므로, 제1 투광성 재료의 굴절률과 제2 투광성 재료의 굴절률이 상이하기 때문에 광은 제1 투광성 재료와 제2 투광성 재료의 계면으로부터 불규칙하게 반사된다. 결과적으로, 형광 발광층에 함유된 인광체 재료로 직접 발광 소자로부터 방사된 고 광학 밀도를 갖는 광의 입사 확률은 낮아지는 대신 형광 방사층에 함유된 인광체 재료로 분산된 상태에서 이러한 광의 입사 확률은 증가된다. 따라서, 광은 전체 형광 발광층의 방사 효율을 증진시키기 위해 광 투과층으로부터 다양한 방향으로 형광 발광층으로 유도될 수 있고, 균일한 색상을 갖는 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드로부터 방출될 수 있다.
본 발명의 제2 특징에 따르면, 발광 다이오드는 오목부를 갖는 반사 미러와, 반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와, 반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자의 상부면의 레벨로 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진된 인광체 재료 함유 투광성 재료로 형성된 제1 층과, 방사 관찰면 측면 상에서 제1 층에 구비된 인광체 재료 함유 투광성 재료로 형성된 제2 층을 포함하고, 상기 제1 및 제2 층에 함유된 인광체 재료는 흡수된 광과 상이한 파장을 갖는 광을 방사하고 발광 소자로부터 방사 광을 흡수할 수 있고, 제2 층의 인광체의 농도는 제1 층의 인광체의 농도보다 더 높다.
상기 구성에 따르면, 발광 소자로부터 다양한 방향에서 방사된 광은 제1 및 제2 층을 관통한 후에 발광 소자로부터의 방사와 발광 다이오드로부터의 방출 사이의 기간에 광이 통과하는 인광체의 양에서 서로 실질적으로 동일하다. 따라서, 제1 및 제2 층을 통해 통과하는 동안 파장 변환 후 인광체로부터 방출된 광은 인광체를 관통하지 않은 광과 균일하게 혼합될 수 있어서, 원하는 색상을 갖는 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드로부터 균일하게 방출될 수 있다.
본 발명의 제3 특징에 따르면, 발광 다이오드는 오목부를 갖는 반사 미러와, 반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와, 발광 소자를 덮도록 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진된 인광체 재료 함유 투광성 재료층을 포함하고, 상기 인광체 재료는 흡수된 광과 상이한 파장을 가진 광을 방사하고 발광 소자로부터 방사된 광을 흡수할 수 있고, 상기 인광체 재료는 발광 소자로부터 방사된 광이 관통되고 투광성 재료층의 상부면에 도달하는 광학 경로의 길이에 인광체 재료의 농도를 곱함으로써 얻어진 수치가 실질적으로 서로 동일하도록 상기 투광성 재료 층에 분배된다.
상기 구성에 따르면, 발광 소자로부터 다양한 방향으로 방사된 광은 투광성 재료를 통해 통과한 후 발광 소자로부터의 방사와 발광 다이오드로부터의 방출 사이의 기간에 광이 관통한 인광체의 양에서 서로 실질적으로 동일하다. 따라서, 투광성 재료를 통해 통과하는 동안 파장 변환 후에 인광체로부터 방출된 광은 인광체를 관통하지 않은 광과 균일하게 혼합될 수 있어서, 원하는 색상을 가진 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드로부터 균일하게 방출될 수 있다.
본 발명의 제4 특징에 따르면, 발광 다이오드는 오목부를 가진 반사 미러와, 반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와, 발광 소자를 덮도록 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진된 투과 도광(light guiding)/산란층과, 방사 관찰면 측면에서 도광/산란층에 구비된 인광체 재료 함유 투과 형광 발광층을 포함하고, 상기 투과 도광/산란층은 발광 소자로부터 방사된 광을 다양한 방향으로 산란할 수 있고, 상기 인광체 재료는 발광 소자로부터 방사되고 도광/산란층을 관통하는 광을 흡수할 수 있고 흡수된 광과 상이한 파장을 가진 광을 방사할 수 있다.
상기 구성에 따르면, 발광 소자로부터 형광 발광층에 함유된 인광체 재료로 직접 방사된 고 광학 밀도를 갖는 광의 입사 확률은 낮고, 대신 형광 발광층에 함유된 인광체 재료로 분산된 상태에서 이러한 광의 입사 확률은 증가된다. 따라서, 광은 전체 형광 발광층의 방사 효율을 향상시키기 위해 도광/산란층으로부터 다양한 방향으로 형광 발광층 안으로 유도될 수 있고, 원하는 균일한 색상을 갖는 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드로부터 방출될 수 있다.
본 발명은 첨부된 도면과 관련해서 더욱 상세히 설명된다.
도1은 원하는 색상을 가진 광을 방출하기 위해 발광 소자 및 인광체를 사용한 종래의 발광 다이오드의 예의 단면도.
도2는 원하는 색상을 가진 광을 방출하기 위해 발광 소자 및 인광체를 사용한 종래의 발광 다이오드의 다른 예의 단면도.
도3a는 본 발명의 제1 양호한 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 단면도.
도3b는 도3a에 도시된 발광 다이오드에 사용된 발광 소자로부터 방사 광의 광학 경로 길이를 도시한 다이어그램.
도4는 본 발명의 제1 양호한 실시예에서 발광 다이오드에 사용된 청색 발광 소자의 층 구조를 도시한 다이어그램.
도5는 본 발명의 제2 양호한 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 단면도.
도6은 본 발명의 제3 양호한 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 단면도.
도7은 본 발명의 제4 양호한 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 개략 단면도.
도8은 본 발명의 제5 양호한 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 개략 단면도.
도9는 본 발명의 제6 양호한 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 개략 단면도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10 : 발광 다이오드
12, 13, 68, 102, 103 : 리드 프레임
12a , 69: 컵
14 : 금속 스템
16 : 과전압 보호 소자
17, 42 : 청색 발광 소자
17h : 광 반사 전극
18 : 장착부
20 : 금 범프
24, 25 : 수지층
27 : 인광체
29 : 외부 수지
62 : 내부 수지층
63 : 외부 수지층
64, 85 : 도광/산란층
66, 73 : 투명 결합제
67 : 형광 발광층
69 : 오목컵
61, 84, 101, 123 : 발광 소자
72 : 광 산란 재료
80 : 제너 다이오드
104 : 혼합 수지
105 : 밀봉 수지
121 : 제1 수지
122 : 제2 수지
124 : 외부 전극
126 : 전기 연결 부재
127 : 반사 부재
(제1 양호한 실시예)
도3a는 본 발명의 양호한 제1 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 단면도이다.
이러한 도면에 도시된 발광 다이오드(10)는 쉘 타입이고 서로 전기적으로 절연된 두 개의 리드 프레임(12, 13)을 포함한다. 오목컵(12a)이 구비된 금속 스템(14)은 리드 프레임(12)의 선단부에 구비된다. 컵(12a)의 내벽 표면은 광을 반사하는 반사 미러로 작용한다. 플립 칩 타입의 발광 소자는 컵(12a)의 바닥부에 장착된다. 플립 칩 타입의 발광 소자는 과전압 보호 소자(16) 상에 장착된 플립 칩인 청색 발광 소자(17)를 포함한다. 특히, 과전압 보호 소자(16)는 도전성 페이스트의 장착부(18)를 통해 컵(12a)의 바닥부 상에 고정된다. 450 내지 550 nm의 파장을 가진 청색광을 방사하는 청색 발광 소자(17)는 과전압 보호 소자(16) 상에 장착된 플립 칩이다.
청색 발광 소자(17)의 층 구조는 도4에 도시된다. 도4에 도시된 바와 같이, 예를 들어, 사파이어 기판(17a)은 투과 기판으로 구비된다. 예를 들어, 버퍼층(17b), n 타입 접촉층(17c), n 타입 클래딩층(17d), 발광층을 포함하는 층(17e), p 타입 클래딩층(17f) 및 p 타입 접촉층(17g)은 예를 들어, 사파이어 기판(17a) 상에 이 순서로 MOCVD(metal-organics chemical vapor deposition, 금속 유기 화학 증착)에 의해 질화물 반도체 층으로 형성된다. 예를 들어, 스퍼터링 또는 진공 증착에 의해, 광 비투과 및 광 반사 전극(17h)은 p 타입 접촉층(17g)의 전체면에 형성되고, p 전극(17i)은 광 비투과 및 광 반사 전극(17h)의 일부에 형성되고, n 전극(17j)은 n 타입 접촉층(17c)의 일부에 형성된다.
이러한 청색 발광 소자(17)의 플립 칩 장착은 다음과 같이 실행된다. 도3a에 도시된 바와 같이, 도4에 도시된 사파이어 기판(17a)의 하부면은 최상면으로서 제공된다. 도4에 도시된 청색 발광 소자(17)의 p 전극(17i)은 금 범프(gold bump, 19)를 통해 과전압 보호 소자(16)의 n층 상의 전극(16a)에 연결된다. n 전극(17j)은 금 범프(20)를 통해 과전압 보호 소자(16)의 p층 상에 전극(16b)에 연결된다. 과전압 보호 소자(16)의 전극(16b)은 결합 와이어(22)를 통해 리드 프레임(13)에 연결된다.
후술되는 더 낮은 인광체 농도를 갖는 수지층(24)은 청색 발광 소자(17)의 최상면의 레벨로 컵(12a) 내의 공간 안으로 충진된다. 더 높은 인광체 농도를 구비한 수지층(25)은 단면에서 중심부가 컵(12a)의 상부 레벨로부터 부풀어지는 레벨로 더 낮은 인광체 농도를 갖는 수지층(24)에 제공된다. 특히, 청색 발광 소자(17)의 상부 위로부터 볼 때, 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)은 청색 발광 소자(17)의 최상면 주위에 링 형태로 구비된다. 단면에서 볼 때, 청색 발광 소자(17)의 양측면의 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)의 상부면은 아치형으로 오목한 형태이다. 단면에서 볼 때, 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)의상부면은 청색 발광 소자(17) 바로 위 부분이 최고 레벨로 부풀려진 볼록 형태이다. 전체 조립체는 쉘 형상 발광 다이오드(10)를 형성하기 위해 외부 수지(29)로 밀봉된다.
더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)은 청색 발광 소자(17)로부터 방사된 청색광을 흡수하고 황색광을 방출하는 인광체(27)가 수지층(25)에서 보다 더 낮은 농도로 혼합된 에폭시 수지 또는 실리콘 수지와 같은 광 투명 수지로 형성된다. 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)은 인광체(27)가 수지층(24)에서 보다 더 높은 인광체 농도로 혼합된 광 투명 수지로 형성된다. 인광체(27)는 Ce:YAG(이트륨-알루미늄-가닛) 인광체일 수 있다. 여기서 사용할 수 있는 첨가 인광체 재료의 예는 이트륨(Y), 가돌리늄(Gd), 세륨(Ce)과 같은 희귀 원소 인광체, 무기 인광체, 유기 인광체, 형광 염료 및 형광 안료를 포함한다.
층(24, 25)의 형태 또는 층(24, 25)에서의 인광체(27)의 농도는 청색 발광 소자(17)로부터 방사된 광이 외부 수지(29)와 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)의 계면에 도달하는 광학 경로의 길이에 인광체(27)의 농도를 곱함으로써 얻어진 수치들이 서로 실질적으로 동일하도록 조절된다.
이것은 발광 소자로부터 방사된 광의 광학 경로의 길이를 도시한 도3b와 관련해서 설명된다. 예를 들어, 도3b에 도시된 세 개의 광학 경로(A, B, C)에 대해, 증가 수치(A', B', C')는 서로 실질적으로 동일하고, 여기서 A'은 인광체(27)의 농도에 의해 광학 경로(A)의 길이를 증가시킴으로써 얻어진 증가 수치를 나타내고, B'는 인광체(27)의 농도에 의해 광학 경로(B)의 길이를 증가시킴으로써 얻어진 증가 수치를 나타내고, C'는 인광체(27)의 농도에 의해 광학 경로(C)의 길이를 증가시킴으로써 얻어진 증가 수치를 나타낸다. 도3b에서, l1내지 l9각각은 광학 경로 길이를 나타내고, d1은 고농도를 나타내고, d2는 저농도를 나타내고, C1은 호형 부분을 나타내고, C2는 볼록 부분을 나타낸다. 이러한 경우에, 청색 발광 소자(17) 바로 위 방향으로 방사된 광의 경로(A)의 경우에, A'=l1x d1이다. 청색 발광 소자(17)의 측면으로부터 방사되고 다음에 컵(12a)의 측벽으로부터 반사되는 광의 경로(B)의 경우에, B'=(l2+ l3)d2+ l4x d1이다. 더욱이, 청색 발광 소자(17)의 측면으로부터 방사되고, 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)을 관통하고, 다음에 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)의 호형 부분을 관통하고, 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)을 더 관통하고, 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)을 관통하는 반사된 광을 제공하기 위해 컵(12a)의 측벽으로부터 반사되고, 다음에 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)을 관통하는 광의 경로(C)의 경우에, C' = (l5+ l7+ l8)d2+ (l6+ l9)d1이다. 이러한 경우에, A', B' 및 C' 사이의 관계는 A'≒B'≒C'이다.
인광체(27)가 혼합된 수지는 예를 들어, 소정 비율로 광 투명 수지로서 주 작용제와 경화제를 함께 혼합하고 혼합물을 교반하고 디포밍(defoaming)하고 에어로실(Aerosil)을 가진 수지와 시레인(silane) 결합제를 함께 혼합하고 혼합물을 완전히 반죽(kneading)함으로써 준비된다. 수지가 층(24, 25)의 형성용으로 사용되는 실시예가 설명된다. 예를 들어, 컵(12a)의 깊이가 0.35mm이고 플립 칩 타입 발광 소자의 높이가 0.25mm라고 가정하면, 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)에서의 인광체(27)의 농도는 20%이지만, 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)에서의 인광체(27)의 농도는 60%가 된다. 각각의 층(24, 25)의 형성에서, 경화는 한 시간동안 120℃로 수행된다.
상기 구성을 갖는 발광 다이오드(10)에서, 리드 프레임(12, 13)에 전압이 인가될 때, 청색 발광 소자(17)는 청색광을 방사한다. 이러한 경우에, 청색 발광 소자(17) 바로 위 방향으로 방사된 청색광은 청색 발광 소자(17)로부터의 방사 후 광이 층(24, 25)을 관통하는 광학 경로의 길이에서 컵(12a)의 내벽으로부터 반사된 청색광 또는 청색 발광 소자(17)의 측면 또는 상부면으로부터 경사져서 방사되는 청색광과 상이하다.
그러나, 상술된 바와 같이, 층(24, 25)의 형상 또는 층(24, 25)에서의 인광체(27)의 농도는 인광체(27)의 농도에 의해 광학 경로의 증가시킴으로써 얻어진 수치들이 서로 실질적으로 동일하도록 조절된다. 따라서, 청색 발광 소자(17)로부터 상기 각각의 방향으로 방사된 광은 청색 발광 소자(17)로부터의 방사와 층(24, 25)을 통과한 후 외부 수지(29)의 진입(entry) 사이의 기간에 광이 관통되는 인광체(27)의 양에서 서로 실질적으로 동일하다. 특히, 청색 발광 소자(17)로부터 방사된 광이 광학 경로(A, B, C)를 관통할 때, 광학 경로(A, B, C)는 광 투과 인광체(27)의 양에서 서로 실질적으로 동일하다. 각각의 광학 경로에서, 청색 발광 소자(17)로부터 방사된 광은 황색광을 방사하는 인광체(27)에서 파장 전환을 하기 쉽다. 황색광은 청색 발광 소자(17)로부터 방사되지만 인광체(27)를 관통하지 않는 청색광과 혼합된다. 따라서, 발광 다이오드(10)로부터 균일한 백색광의 방출은 발광 다이오드(10)의 방사 관찰면에서 볼 때 실현될 수 있다.
양호한 실시예에서, 광 비투명 및 광 반사 전극(17h)은 청색 발광 소자(17)에서 p 타입 접촉층(17g)의 상부면의 전체면에 형성된다. 이와 달리, 광 투과 전극은 광 비투명 및 광 반사 전극(17h) 대신에 사용될 수 있다.
(양호한 제2 실시예)
도5는 본 발명의 양호한 제2 실시예에서 발광 다이오드의 구조를 도시한 단면도이다. 양호한 제2 실시예에서 발광 다이오드를 도시한 도5 및 양호한 제1 실시예에서 발광 다이오드를 도시한 도3a에서, 유사한 부분은 동일한 참조 번호로 동일시되고, 그 중복된 설명은 생략된다.
도5에 도시된 발광 다이오드(10)는 양호한 제1 실시예에서 설명된 플립 칩 타입 발광 소자 대신에 청색 발광 소자(42)가 겉을 위로 한 방식(face-up manner)으로 장착부(18)를 통해 컵(12a)의 바닥부 위에 고정된다는 점에서 도3a에 도시된 발광 다이오드와 상이하다. 청색 발광 소자(42)는 광 반사 필름(42a)이 사파이어 기판(17a)의 하부면 상에 추가적으로 구비된 것을 제외하고 도4에 도시된 청색 발광 소자(17)와 동일하다. 더욱이, 청색 발광 소자(42)의 p 전극(17i)은 결합 와이어(21)를 통해 리드 프레임(12)으로 연결되고, 청색 발광 소자(42)의 n 전극(17j)은 결합 와이어(22)를 통해 리드 프레임(13)으로 연결된다. 이러한 청색 발광 소자(42)는 청색 발광 소자(42) 바로 아래 방향으로 방사된 광이 반사 필름(42a)으로부터 반사되고 발광 소자(42) 바로 위 방향으로 방출되도록 구성된다.
양호한 제1 실시예에 의하면, 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)은 청색 발광 소자(42)의 최상면의 레벨로 컵(12a) 내의 공간 안으로 충진되고, 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)은 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24) 상에 구비되어 단면에서 볼 때 청색 발광 소자(42) 바로 위 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)의 중심부는 컵(12a)의 상부 레벨로부터 부풀려진다. 더욱이, 층(24, 25)에서 인광체(27)의 농도 및 층(24, 25)의 형상은 청색 발광 소자(42)로부터 방사된 광이 외부 수지(29) 및 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)의 계면에 도달하는 광학 경로의 길이에 인광체(27)의 농도를 곱함으로써 얻은 수치가 서로 실질적으로 동일하도록 조절된다.
상기 구성을 구비한 발광 다이오드(40)는 또한 양호한 제1 실시예에서 발광 다이오드(10)와 동일한 효과를 달성할 수 있다.
(양호한 제3 실시예)
도6은 본 발명의 양호한 제3 실시예에서 발광 다이오드의 구성을 도시한 단면도이다. 양호한 제3 실시예의 발광 다이오드를 도시한 도6 및 양호한 제2 실시예의 발광 다이오드를 도시한 도5에서, 유사한 부분은 동일한 참조 문자로 동일시되고 그 중복된 설명은 생략된다. 도6에 도시된 발광 다이오드(50)는 양호한 제2 실시예에서 상술된 청색 발광 소자(42) 대신에 도4에 도시된 바와 같은 청색 발광 소자(17)가 장착부(18)를 통해 컵(12a)의 바닥부 위에 고정된다는 점에서 도5에 도시된 발광 다이오드와 상이하다. 더욱이, 장착부(18)는 은(Ag) 필러 및인광체(27)를 함유한다. 특히, 청색 발광 소자(17) 바로 아래 방향으로 방사된 청색광은 황색광을 방사하는 장착부(18)에 함유된 인광체(27)에 의해 파장 전환되기 쉽다. 황색광은 장착부(18) 바로 위 방향으로 또는 경사진 방향으로 컵(12a)의 바닥부로부터 반사된다.
따라서, 이러한 양호한 실시예와 관련된 발광 다이오드는 양호한 제2 실시예의 발광 다이오드와 동일한 효과를 달성할 수 있고 다음의 추가적 효과를 더 달성할 수 있다. 특히, 청색 발광 소자(17) 바로 아래 방향으로 방사된 청색광은 황색광을 방출하는 장착부(18)에 함유된 인광체(27)에 의해 파장 전환되기 쉽다. 다음에 황색광은 장착부(18) 바로 위 방향으로 또는 경사진 방향으로 컵(12a)의 바닥부로부터 반사된다. 따라서, 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)에 함유된 인광체의 파장 변환되기 쉬운 광의 필요 용량은 장착부(18)에 함유된 인광체(27)의 파장 전환되기 쉬운 광의 용량에 의해 감소될 수 있어서, 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)의 두께는 감소될 수 있다. 더 높은 인광체 농도를 가진 수지층(25)의 두께의 감소는 발광 다이오드, 특히 SMD 타입 발광 다이오드의 두께의 더 많은 감소를 실현할 수 있다.
양호한 제1 내지 제3 실시예의 발광 다이오드에서, 구형 유리 비드와 같은 반사 작용제를 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24)으로 병합하는 것은 광의 균일성을 유지할 수 있는 광의 불규칙 반사를 야기한다.
양호한 제1 내지 제3 실시예의 발광 다이오드에서, 수지층은 두 개의 층, 즉 더 낮은 인광체 농도를 가진 수지층(24) 및 더 높은 인광체 농도를 가진수지층(25)으로 분할된다. 이와 달리, 상이한 인광체 농도를 가진 두 개 층의 구조 대신에, 광학 경로의 길이에 인광체(27)의 농도를 곱함으로서 얻어진 수치가 서로 실질적으로 동일하도록 인광체(27)의 농도가 점차 변화하는 단일층 광 투명 수지로 컵(12a) 내의 공간이 충진되는 구조가 형성될 수 있다.
상기 양호한 실시예에서, 청색 발광 소자는 발광 소자로 사용된다. 그러나, 발광 소자는 청색 발광 소자에 제한되지 않고 발광 소자가 인광체를 여기할 수 있는 파장을 가진 광을 방사하면 자외선 발광 소자를 포함하는 임의의 발광 소자일 수 있다. 더욱이, 상기 양호한 실시예의 발광 다이오드에서, 투명 에폭시 수지는 발광 소자 등을 밀봉하기 위해 투광성 재료로 사용된다. 그러나, 투명 실리콘 수지를 포함하는 다른 재료가 또한 사용될 수 있다.
(양호한 제4 실시예)
도7은 본 발명의 양호한 제4 실시예의 발광 다이오드의 구조를 도시한 개략 단면도이다.
도7에 도시된 바와 같이, 양호한 실시예의 발광 다이오드(60)는 리드 프레임(68)을 포함한다. 오목컵(69)은 리드 프레임(68)의 선단부에 구비된다. 발광 소자(61)는 발광 소자(61)로부터 방사된 광이 컵(69) 위 방향으로 방출될 수 있도록 컵(69) 내에 구비된다.
발광 소자(61)는 적외선에서 자외선 구역으로 임의의 파장을 가진 광을 방사할 수 있는 임의의 발광 소자일 수 있다. 특히, 자외선 구역 또는 자외선 구역 근처에서 광을 방사하는 발광 소자는 발광 소자로부터 방사 광이 관찰자에 의해 직접발광 소자(61)에 의해 방사된 광을 인식하지 않고 응시된(contemplated) 광으로 효율적으로 변환할 수 있기 때문에 적절하다. 현재 발명가들에 의해 수행된 실험의 결과는 자외선 근처 발광 소자가 비교적 짧은 파장으로 인해 후술되는 인광체 재료(65)를 여기하는 자외선 근처 광을 방출하기 위해 발광 소자(61)로 사용될 때, 에너지는 비교적 강하게 여기되어 향상된 방사 효율을 가져오는 것을 보여준다. 인간에게 해롭지 않은 360 내지 390 nm 범위의 방사 파장 밴드를 가진 질화 갈륨 합성 반도체 재료는 자외선 근처 발광 소자(61)에 사용될 수 있다. 발광 소자(61)는 (도시되지 않은) 리드 와이어를 통해 컵(69)에 전기적으로 연결된다.
투명 결합제는 내부 수지층(62)을 형성하기 위해 발광 소자(61)의 주연부 위로 코팅된다. 내부 수지층(62)은 에폭시 수지, 아크릴 수지, 소자 수지 또는 실리콘 수지 등과 같이 발광 소자(61)에 높은 접착성을 가진 재료로 형성된다. 내부 수지층(62)의 두께는 일반적으로 몇 십 마이크로미터이상이다. 그러나, 내부 수지층(62)의 두께는 내부 수지층을 구성하는 층의 수 및 그 층을 구성하는 재료의 굴절률과 같은 인자를 고려함으로써 적절하게 결정될 수 있다.
더욱이, 외부 수지층(63)은 내부 수지층(62)의 외주연부 상에 구비된다. 외부 수지층(63)은 내부 수지층(62)과 상이한 굴절률을 가진 재료로 형성된다. 외부 수지층(63)은 그 위에 형성된 내부 수지층(62)으로 발광 소자(61)와 컵(69)의 내벽에 의해 한정된 공간을 충진하고 그 위에 형성된 내부 수지층(62)으로 발광 소자(61)를 덮도록 컵(69) 내에 구비된다. 외부 수지층(63)은 또한 에폭시 수지, 아크릴 수지, 소자 수지 또는 실리콘 수지와 같은 재료로 형성될 수 있다.
이러한 양호한 실시예에서, 내부 수지층(62)과 외부 수지층(63)은 함께 도광/산란층(64)을 구성한다. 도광/산란층(64)의 두께는 50 내지 300㎛일 수 있다. 이러한 도광/산란층(64)에서, 내부 수지층(62)은 외부 수지층(63)과 상이한 재료로 형성된다. 이러한 구성에 따르면, 내부 수지층(62)에 접착된 상태로 있는 발광 소자(61)로부터 방사 광은 내부 수지층(62)에 직접 입사되어 높은 확률로 내부 수지층(62)과 외부 수지층(63) 사이의 계면 경계로부터 반사되어 산란되며 후술되는 형광 발광층(67)으로 안내된다. 도광/산란층(64)은 두 층 이상의 다층 구조 또는 비교적 높은 굴절률을 가진 재료로 형성될 수 있다. 더욱이, 발광 다이오드는 발광 소자의 주연부가 셀 형상의 발광 다이오드에서 렌즈 부분을 형성하기 위해 수지로 몰딩된 쉘 형상의 발광 다이오드의 형상을 취할 수 있다. 이러한 경우, 셀 형상 발광 다이오드의 형성에 사용되는 수지의 일부 또는 전체는 도광/산란층 또는 도광/산란층을 구성하는 층 중 하나로 구성될 수 있다.
내부에 배치된 발광 소자(61)를 가진 컵(64)의 도광/산란층(64) 상의 잔류 공간은 형광 발광층(67)으로 충진된다. 형광 발광층(67)은 원하는 색상을 가진 광을 방출하는 인광체 재료(65)를 함유한 투명 결합제(66)로 형성된다. 이트륨(Y), 가돌리늄(Gd) 및 세륨(Ce)과 같은 희귀 원소 인광체는 인광체 재료(65)로 사용될 수 있다. 여기서 사용가능한 다른 인광체 재료의 예는 무기 인광체, 유기 인광체, 형광 염료 및 형광 안료를 포함한다. 형광 발광층(67)은 에폭시 수지, 아크릴 수지, 소자 수지 또는 실리콘 수지와 같은 투명 결합제와 인광체 재료(65)의 미세한 분말을 함께 혼합하고 반죽함으로써 준비된 재료로 형성될 수 있다. 형광발광층(67)의 두께는 또한 10 내지 300㎛일 수 있다. 인광체 재료(65)는 투명 결합제(66)에 대해서 2 내지 20%의 부피 농도로 투명 결합제(66) 내로 혼합될 수 있다. 투명 결합제(66)의 인광체 재료(65)의 농도가 낮을 때 형광 발광층(67)은 큰 두께로 형성되지만, 투명 결합제(66)의 인광체 재료(65)의 농도가 높을 때 형광 발광층(67)은 작은 두께로 형성된다.
따라서, 이러한 양호한 실시예의 발광 다이오드(60)에서, 도광/산란층(64)에서, 발광 소자(61)로부터 방사되고 내부 수지층(62)으로 진입하는 광은 반사되고 내부 수지층(62)과 외부 수지층(63) 사이의 계면 경계에서 높은 확률로 산란되며 형광 발광층(67)으로 안내된다. 따라서, 발광 소자(61)로부터 형광 발광층(67)에 함유된 인광체 재료(65)로 직접 방사되는 고 광학 밀도를 가진 광의 입사 확률은 낮아지고, 형광 발광층(67)에 함유된 인광체 재료(65)에 분산 상태의 이러한 광의 입사 확률은 증가된다. 따라서, 광은 전체 형광 발광층(67)의 방사 효율을 향상시키기 위해 도광/산란층(64)으로부터 다양한 방향에서 형광 발광층(67)으로 주입될 수 있고, 원하는 균일한 색상을 가진 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드로부터 방출될 수 있다.
상술된 양호한 실시예에서, 도광/산란층(64)은 두 층 구조를 갖는다. 이와 달리, 도광/산란층(64)을 구성하는 층의 수는 광 산란 효율을 향상시키도록 증가될 수 있다. 그러나, 이러한 경우에, 도광/산란층(64)을 구성하는 층의 수는 비용 효율면에서 2 내지 5가 바람직하다.
이러한 양호한 실시예에서, 임의의 인광체 재료는 도광/산란층(64)에 함유되지 않는다. 그러나, 인광체 재료의 적절한 양은 또한 도광/산란층(64)에 함유될 수 있다.
(양호한 제5 실시예)
도8은 본 발명의 양호한 제5 실시예에서 발광 다이오드의 구성을 도시한 개략 단면도이다. 본 발명의 양호한 제5 실시예의 발광 다이오드를 도시한 도8 및 본 발명의 양호한 제4 실시예의 발광 다이오드를 도시한 도7에서, 유사 부분은 동일한 참조 번호로 동일시되고, 그 중복된 설명은 생략된다.
도8에 도시된 발광 다이오드(70)에서, 내부에 병합된 광 산란 재료(72)를 가진 투명 결합제(73)로 형성된 도광/산란층(64)은 도7에 도시된 바와 같이 발광 소자(61)의 주연부에 형성된다.(양호한 제4 실시예)
입사광을 산란하기 위한 광 산란 재료(72)는 산화 알루미늄, 산화 티타늄, 티탄산염 바륨 및 산화 실리콘 또는 그들 중 두 개 이상의 조합으로 구성된 그룹으로부터 선택된 부재일 수 있다.
발광 소자(61)에 높은 접착성을 갖는 재료는 투명 결합제(73)로 선택된다. 투명 결합제(73)로 사용될 수 있는 재료의 예는 에폭시 수지, 아크릴 수지, 소자 수지 및 실리콘 수지와 같은 합성 수지 및 합성 고무를 포함한다.
도광/산란층(64)은 투명 결합제(73)와 산란 재료(72)를 함께 혼합하고 반죽하여 컵(69) 내에 배치된 발광 소자(61) 주위의 공간 안으로 반죽된 혼합물을 쏟음으로써 형성될 수 있다. 도광/산란층(64)의 두께는 도광/산란층(64)의 산란 재료(72)의 함유물에 따라 적절하게 결정될 수 있다.
도8에서, 도광/산란층(64)은 호형 형상 또는 볼록 렌즈 형상 즉, 중심부의 두께가 더 크고 주연부의 두께가 더 작은 방식으로 발광 소자(61)에 구비된다. 도광/산란층의 이러한 형상을 적용하는 이유는 다음과 같다. 발광 소자(61)의 접착을 유지할 수 있는 비교적 높은 표면 장력을 갖는 투명 결합제(73)가 사용될 때와 발광 소자(61)로부터 방사된 광의 밀도가 높은 경우 그 부분의 두께가 크게 형성될 때, 광학 밀도는 균질화되고 내부로 혼합된 광 산란 재료(72)를 가진 투명 결합제(73)로 형성된 도광/산란층(64)으로부터 방출된 광의 휘도는 향상될 수 있다. 도광/산란층(64)의 상부면은 컵(69)의 개구와 평행한 레벨(평행면)로 형성될 수 있다. 도광/산란층(64)의 두께는 50 내지 300㎛일 수 있다. 양호한 제4 실시예에서, 형광 발광층(67)은 도광/산란층(64)의 상부면에 구비된다.
따라서, 본 양호한 실시예의 발광 다이오드(70)에 따르면, 도광/산란층(64)에 함유된 광 산란 재료(72)는 다양한 방향으로 입사광을 불규칙하게 반사하고 산란하며 그 산란된 광을 형광 발광층(67)으로 안내할 수 있다. 따라서, 양호한 제4 실시예에서, 도광/산란층(64)을 마련하여, 형광 발광층(67)에 함유된 인광체 재료(65)로 직접 발광 소자(61)로부터 방사된 고 광학 밀도를 가진 광의 입사 확률은 낮아지고, 형광 발광층(67)에 함유된 인광체 재료(65)로 분산된 상태에서 이러한 광의 입사 확률은 증가된다. 따라서, 광은 전체 형광 발광층(67)의 방사 효율을 향상시키기 위해 도광/산란층(64)으로부터 다양한 방향으로 형광 발광층(67) 안으로 주입될 수 있고, 원하는 균일한 색상을 가진 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 발광 다이오드로부터 방출될 수 있다.
(양호한 제6 실시예)
도9는 본 발명의 양호한 제6 실시예의 발광 다이오드의 구성을 도시한 개략 단면도이다. 본 발명의 양호한 제6 실시예의 발광 다이오드를 도시한 도9 및 본 발명의 양호한 제4 및 제5 실시예의 발광 다이오드를 도시한 도7 및 도8에서, 유사 부분은 동일한 참조 번호로 동일시되고, 그 중복된 설명은 생략된다.
도9에 도시된 발광 다이오드(90)에서, 플립 칩 구조를 가진 발광 소자(84)가 사용된다. 발광 소자(84)는 금 볼 범프(84a)를 통해 제너 다이오드(80)의 상부면과 평행하게 연결된다. 제너 다이오드(80)는 전기 도전성 은 혼합된 에폭시 수지(81)를 통해 리드 프레임(68)의 선단부에 구비된 오목컵의 내부면에 배치된다. 따라서, 제너 다이오드(80)는 리드 프레임(68)의 컵(69)에 전기적 및 기계적으로 연결된다. 제너 다이오드(80)의 타단부는 리드(83)를 통해 리드 프레임(82)에 연결된다. 즉, 발광 소자(84)는 발광 소자(84)로부터 방사된 광이 컵(69)의 바로 위 방향 및 제너 다이오드(80) 측면으로 방출되도록 컵(69) 내에 배치된다.
도광하고 산란하기 위해 (도8에 도시된 광 산란 재료(72)와 동일한) 광 산란 재료를 가진 (도8에 도시된 투명 결합제(73)와 동일한) 투명 결합제로 형성된 도광/산란층(85)은 발광 소자(84)의 주연부에 구비된다. 도광/산란층(85)은 또한 제너 다이오드(80)와 발광 소자(84) 사이에 구비된다. 투명 합성 수지 재료 또는 투명 합성 고무 재료에서 광을 산란할 수 있는 재료는 또한 광 산란 재료로 사용될 수 있다. 광 산란 재료는 물론 광에 부분적으로 침투가능하거나 또는 완전 광을 반사한다. 도광/산란층(85)의 광 산란 재료의 농도는 투명 결합제에 대하여 2 내지 20%의 부피 범위가 적절하다. 그러나, 도광/산란층(85)의 두께뿐만 아니라 도광/산란층(85)의 광 산란 재료의 농도는 적절하게 조절될 수 있다.
도9에서, 발광 소자(84)에 접착성을 유지할 수 있는 비교적 낮은 표면 장력을 가진 투명 결합제(73)가 사용되고, 도광/산란층(85)은 발광 소자(84)의 주연부를 둘러싸도록 구비된다. 도광/산란층(85)의 두께는 응시 효과의 관점에서 바람직하게는 50 내지 300㎛이다.
형광 발광층(86)은 도광/산란층(85)에 구비된다. 형광 발광층(86)은 그 안으로 혼합된 소정의 색상을 방출할 수 있는 (도8에 도시된 인광체 재료(65)와 동일한) 인광체 재료를 가진 (도8에 도시된 투명 결합제(66)와 동일한) 투명 결합제로 형성된다. 인광체 재료, 투명 결합제 및 형광 발광층은 양호한 제4 및 제5 실시예의 것들과 동일할 수 있다.
따라서, 양호한 제5 실시예에서, 양호한 본 실시예의 발광 다이오드(90)에 따르면, 도광/산란층(85)은 다양한 방향으로 입사광을 불규칙하게 반사하고 산란할 수 있고 그 산란된 광을 형광 발광층(86)으로 안내할 수 있다. 따라서, 발광 소자(84)로부터 형광 발광층(86)으로 직접 방사되는 고 광학 밀도를 구비한 광의 입사 확률은 낮아지고, 분산된 상태의 광은 형광 발광층(86)으로 입사된다. 이것은 전체 형광 발광층(86)으로부터 광의 방사를 실현할 수 있어서 방사 효율을 향상시킬 수 있고 원하는 균일한 색상을 가진 광은 발광 다이오드의 방사 관찰면으로부터 볼 때 발광 다이오드로부터 방출될 수 있다.
더욱이, 본 양호한 실시예에서, 사용되는 발광 소자(84)는 플립 칩 구조를갖는다. 따라서, 발광 소자(84)로부터 상향으로 방사 광은 기판을 통해 상향으로 직접 방출된다. 반면, 광 방출 소자(84)로부터 하방으로 방출된 광은 제너 다이오드(80)의 상부면으로부터 반사되고 상향으로 안내된다. 따라서, 방사 광의 밀도는 도광/산란층(85)에서 더 균질화될 수 있고, 다음에 광은 컵(69)의 개구를 통해 상향으로 방출된다. 따라서, 도광/산란층(85)으로부터 방출된 광의 휘도가 더 향상될 수 있다.
본 발명에 따른 발광 다이오드의 개개 부분의 경우, 주조, 형상, 필요 수, 재료, 치수, 연결 관계 등은 상술한 양호한 실시예의 것들에 제한되지 않는다.
본 발명은 특정 양호한 실시예를 참조하여 상세히 설명되었지만, 첨부된 청구 범위에서 설명된 바와 같이 본 발명의 범위 내에서 변화 및 변경이 일어날 수 있다는 것을 이해해야 한다.
본 발명에 의하면 방사된 광의 색상 비균일성 문제를 제거할 수 있고 발광 다이오드의 방사 관찰면에서 볼 때 원하는 균일한 색상을 갖는 광을 방사할 수 있으며, 고효율을 갖는 인광체 재료로부터 광의 방사를 실현할 수 있어 소정 색상의 고휘도 광을 실현할 수 있는 발광 다이오드를 제공할 수 있다.

Claims (17)

  1. 오목부를 가진 반사 미러와,
    반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와,
    발광 소자를 덮도록 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진된 제1 투광성 재료로 형성된 광 투과층과,
    광 투과층에서 방사 관찰면 측면으로 구비된 형광 발광층을 포함하고, 상기 형광 발광층은 제1 투광성 재료와 상이한 제2 투광성 재료로 형성되고, 상기 제2 투광성 재료는 광 투과층을 통해 통과한 광을 흡수하고 흡수된 광과 상이한 파장을 가진 광을 방사하는 인광체 재료를 함유하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  2. 오목부를 가진 반사 미러와,
    반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와,
    반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자의 상부면의 레벨로 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진된 인광체 재료 함유 투광성 재료로 형성된 제1 층과,
    방사 관찰면 측면으로 제1 층에 구비된 인광체 재료 함유 투광성 재료로 형성된 제2 층을 포함하고,
    제1 및 제2 층에 함유된 상기 인광체 재료는 흡수된 광과 사이한 파장을 가진 광을 방사하고 발광 소자로부터 방사된 광을 흡수할 수 있고, 제2 층의 인광체의 농도는 제1 층의 인광체의 농도보다 더 높은 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1 및 제2 층에 함유된 인광체의 농도는 발광 소자로부터 방사된 광이 통과되어 제2 층의 상부면에 도달하는 광학 경로의 길이에 인광체 농도를 곱함으로써 얻어진 수치가 서로 실질적으로 동일하도록 분배하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  4. 제2항에 있어서, 제1 층의 두께와 제2 층의 두께는 발광 소자로부터 방사된 광이 통과되어 제2 층의 상부면에 도달하는 광학 경로의 길이에 인광체 농도를 곱함으로써 얻어진 수치가 서로 실질적으로 동일한 요구사항을 충족시키는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  5. 제2항에 있어서, 단면에서 볼 때, 제1 층의 상부면은 발광 소자의 상부면의 엣지와 반사 미러의 오목부의 내벽 사이에 정확한 오목링 형상으로 구비되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  6. 제2항에 있어서, 상기 제1 층은 광을 불규칙하게 반사하는 반사제를 함유한 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  7. 제2항에 있어서, 상기 발광 소자는 플립 칩 타입 발광 소자인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  8. 제2항에 있어서, 상기 발광 소자는 페이스 업 타입 발광 소자이고 발광 소자에 광 반사 필름은 접착제에 의해 고정되는 고정면에 구비되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  9. 제2항에 있어서, 상기 발광 소자는 인광체가 혼합되는 접착제에 의해 반사 미러의 오목부 내에 고정되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  10. 오목부를 가진 반사 미러와,
    반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와,
    발광 소자를 덮도록 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진된 인광체 재료 함유 투광성 재료층을 포함하고, 상기 인광체 재료는 흡수된 광과 상이한 파장으로 광을 방사하고 발광 소자로부터 방사된 광을 흡수할 수 있고,
    상기 인광체 재료는 발광 소자로부터 방사 광이 통과되어 투광성 재료층의 상부면에 도달하는 광학 경로의 길이에 인광체 재료의 농도를 곱함으로써 얻어진 수치가 서로 실질적으로 동일하도록 상기 투광성 재료층에 분배되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  11. 오목부를 가진 반사 미러와,
    반사 미러의 오목부 내에 배치된 발광 소자와,
    발광 소자를 덮도록 반사 미러의 오목부 내의 공간 안으로 충진되고 발광 소자로부터 방사 광을 다양한 방향으로 산란할 수 있는 투명 도광/산란층과,
    도광/산란층에서 방사 관찰면 측면으로 구비되는 투명 형광 발광층을 함유하고 발광 소자로부터 방사되어 도광/산란층을 통해 통과되는 광을 흡수할 수 있고 그 흡수된 광과 상이한 파장을 가진 광을 방사할 수 있는 인광체 재료를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  12. 제11항에 있어서, 상기 도광/산란층은 굴절률이 상이한 투광성 재료로 각각 형성된 두 개 이상의 층의 다층 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  13. 제11항에 있어서, 상기 도광/산란층은 고굴절률을 가진 투광성 재료로 형성된 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  14. 제11항에 있어서, 상기 도광/산란층은 광 산란 재료 함유 투광성 재료층인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  15. 제14항에 있어서, 광 산란 재료는 산화 알루미늄, 산화 티타늄, 티탄산염 바륨 및 산화 실리콘으로 구성된 그룹으로부터 선택된 적어도 하나의 부재인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  16. 제14항에 있어서, 투광성 재료의 광 산란 재료의 농도는 투광성 재료에 대하여 2 내지 20%의 부피 범위 내에 있는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
  17. 제14항에 있어서, 상기 도광/산란층은 50 내지 300㎛의 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드.
KR1020030026923A 2002-04-30 2003-04-29 발광 다이오드 KR100617432B1 (ko)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002128790A JP2003324215A (ja) 2002-04-30 2002-04-30 発光ダイオードランプ
JPJP-P-2002-00128790 2002-04-30
JP2002276184A JP2004111882A (ja) 2002-09-20 2002-09-20 発光装置
JPJP-P-2002-00276184 2002-09-20

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050086077A Division KR100616053B1 (ko) 2002-04-30 2005-09-15 발광 다이오드

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030085499A true KR20030085499A (ko) 2003-11-05
KR100617432B1 KR100617432B1 (ko) 2006-08-31

Family

ID=29272389

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030026923A KR100617432B1 (ko) 2002-04-30 2003-04-29 발광 다이오드
KR1020050086077A KR100616053B1 (ko) 2002-04-30 2005-09-15 발광 다이오드

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050086077A KR100616053B1 (ko) 2002-04-30 2005-09-15 발광 다이오드

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6791116B2 (ko)
KR (2) KR100617432B1 (ko)
CN (1) CN1455462A (ko)
TW (1) TW595018B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101329264B1 (ko) * 2005-08-15 2013-11-14 코닌클리케 필립스 엔.브이. 색 및/또는 광도가 변경가능한 광을 생성하기 위한 광원 및방법

Families Citing this family (152)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070164661A1 (en) * 1999-07-26 2007-07-19 Idemitsu Kosan Co., Ltd. Fluorescent conversion medium and color light emitting device
US6791116B2 (en) * 2002-04-30 2004-09-14 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting diode
US20050077535A1 (en) * 2003-10-08 2005-04-14 Joinscan Electronics Co., Ltd LED and its manufacturing process
CN100377370C (zh) * 2003-11-22 2008-03-26 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 发光二极管和面光源装置
US7518158B2 (en) 2003-12-09 2009-04-14 Cree, Inc. Semiconductor light emitting devices and submounts
ATE480605T1 (de) * 2004-02-20 2010-09-15 Lumination Llc Regeln für effiziente lichtquellen mit mittels leuchtstoff konvertierten leds
TWI286393B (en) * 2004-03-24 2007-09-01 Toshiba Lighting & Technology Lighting apparatus
US7279346B2 (en) 2004-03-31 2007-10-09 Cree, Inc. Method for packaging a light emitting device by one dispense then cure step followed by another
US7517728B2 (en) * 2004-03-31 2009-04-14 Cree, Inc. Semiconductor light emitting devices including a luminescent conversion element
JP4229447B2 (ja) * 2004-03-31 2009-02-25 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置及び製造方法
JP3983793B2 (ja) 2004-04-19 2007-09-26 松下電器産業株式会社 Led照明光源の製造方法およびled照明光源
US7701124B2 (en) * 2004-04-23 2010-04-20 Harvatek Corporation White light-emitting device having a cap layer formed from a mixture of silicon and a phosphor blend
JP3994094B2 (ja) * 2004-05-27 2007-10-17 ローム株式会社 発光ダイオードランプ
US7737635B2 (en) * 2004-05-28 2010-06-15 Harvatek Corporation High efficiency white light emitting diode and method for manufacturing the same
US7361938B2 (en) * 2004-06-03 2008-04-22 Philips Lumileds Lighting Company Llc Luminescent ceramic for a light emitting device
US8294166B2 (en) 2006-12-11 2012-10-23 The Regents Of The University Of California Transparent light emitting diodes
JP4747516B2 (ja) * 2004-06-08 2011-08-17 富士ゼロックス株式会社 垂直共振器型面発光半導体レーザ装置
JP4880887B2 (ja) * 2004-09-02 2012-02-22 株式会社東芝 半導体発光装置
JP4747726B2 (ja) * 2004-09-09 2011-08-17 豊田合成株式会社 発光装置
US7372198B2 (en) * 2004-09-23 2008-05-13 Cree, Inc. Semiconductor light emitting devices including patternable films comprising transparent silicone and phosphor
KR100668609B1 (ko) * 2004-09-24 2007-01-16 엘지전자 주식회사 백색광원소자
JP4756841B2 (ja) * 2004-09-29 2011-08-24 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置の製造方法
DE102005046420B4 (de) * 2004-10-04 2019-07-11 Stanley Electric Co. Ltd. Verfahren zur Herstellung einer Licht emittierenden Halbleitervorrichtung
US8816369B2 (en) 2004-10-29 2014-08-26 Led Engin, Inc. LED packages with mushroom shaped lenses and methods of manufacturing LED light-emitting devices
US9929326B2 (en) 2004-10-29 2018-03-27 Ledengin, Inc. LED package having mushroom-shaped lens with volume diffuser
US8324641B2 (en) * 2007-06-29 2012-12-04 Ledengin, Inc. Matrix material including an embedded dispersion of beads for a light-emitting device
US7473933B2 (en) * 2004-10-29 2009-01-06 Ledengin, Inc. (Cayman) High power LED package with universal bonding pads and interconnect arrangement
US7772609B2 (en) * 2004-10-29 2010-08-10 Ledengin, Inc. (Cayman) LED package with structure and materials for high heat dissipation
US8134292B2 (en) * 2004-10-29 2012-03-13 Ledengin, Inc. Light emitting device with a thermal insulating and refractive index matching material
US7670872B2 (en) * 2004-10-29 2010-03-02 LED Engin, Inc. (Cayman) Method of manufacturing ceramic LED packages
US7344902B2 (en) * 2004-11-15 2008-03-18 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Overmolded lens over LED die
TW200637033A (en) * 2004-11-22 2006-10-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Light-emitting device, light-emitting module, display unit, lighting unit and method for manufacturing light-emitting device
US20060171152A1 (en) * 2005-01-20 2006-08-03 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting device and method of making the same
JP2006245020A (ja) * 2005-02-28 2006-09-14 Sharp Corp 発光ダイオード素子とその製造方法
KR100593933B1 (ko) * 2005-03-18 2006-06-30 삼성전기주식회사 산란 영역을 갖는 측면 방출형 발광다이오드 패키지 및이를 포함하는 백라이트 장치
JP2006278980A (ja) * 2005-03-30 2006-10-12 Sanyo Electric Co Ltd 半導体発光装置
KR100638813B1 (ko) 2005-04-15 2006-10-27 삼성전기주식회사 플립칩형 질화물 반도체 발광소자
DE102005019376A1 (de) * 2005-04-26 2006-11-02 Patent-Treuhand-Gesellschaft für elektrische Glühlampen mbH Lumineszenzkonversions-LED
TWI389337B (zh) * 2005-05-12 2013-03-11 Panasonic Corp 發光裝置與使用其之顯示裝置及照明裝置,以及發光裝置之製造方法
JP4557824B2 (ja) * 2005-07-04 2010-10-06 株式会社東芝 発光装置およびその製造方法
CA2615134A1 (en) * 2005-07-13 2007-01-18 Evident Technologies, Inc. Light emitting diode comprising semiconductor nanocrystal complexes
WO2007015732A2 (en) * 2005-08-01 2007-02-08 Intex Recreation Corp. A method of varying the color of light emitted by a light-emitting device
US7598663B2 (en) * 2005-08-04 2009-10-06 Taiwan Oasis Technology Co., Ltd. Multi-wavelength LED provided with combined fluorescent materials positioned over and underneath the LED component
US7329907B2 (en) * 2005-08-12 2008-02-12 Avago Technologies, Ecbu Ip Pte Ltd Phosphor-converted LED devices having improved light distribution uniformity
JP2007095807A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Sanyo Electric Co Ltd 発光装置及びその製造方法
KR100691440B1 (ko) * 2005-11-15 2007-03-09 삼성전기주식회사 Led 패키지
KR20080106402A (ko) 2006-01-05 2008-12-05 일루미텍스, 인크. Led로부터 광을 유도하기 위한 개별 광학 디바이스
WO2007080803A1 (ja) * 2006-01-16 2007-07-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 半導体発光装置
US8044412B2 (en) 2006-01-20 2011-10-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd Package for a light emitting element
KR100783794B1 (ko) * 2006-03-31 2007-12-07 (주)씨티엘 복층 에폭시 수지 구조의 발광 다이오드 패키지
US8089083B2 (en) * 2006-04-13 2012-01-03 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. System and method for enhancing light emissions from light packages by adjusting the index of refraction at the surface of the encapsulation material
KR100735311B1 (ko) * 2006-04-21 2007-07-04 삼성전기주식회사 발광 다이오드 칩
MX2008013868A (es) 2006-05-02 2009-02-03 Superbulbs Inc Metodo de dispersion de luz y difraccion preferencial de ciertas longitudes de onda de luz para diodos emisores de luz y bulbos construidos a partir de los mismos.
JP2009535783A (ja) 2006-05-02 2009-10-01 スーパーバルブス・インコーポレイテッド プラスチックled電球
JP2009540558A (ja) * 2006-06-08 2009-11-19 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 発光装置
KR100887068B1 (ko) * 2006-08-04 2009-03-04 삼성전기주식회사 발광 다이오드 모듈 및 이의 제조 방법
EP2052418A2 (en) * 2006-08-08 2009-04-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Nanoparticle based inorganic bonding material
CN101553928B (zh) 2006-10-02 2011-06-01 伊鲁米特克有限公司 Led系统和方法
JP4984824B2 (ja) * 2006-10-26 2012-07-25 豊田合成株式会社 発光装置
KR100843425B1 (ko) * 2007-02-21 2008-07-03 삼성전기주식회사 발광다이오드 패키지
TWI326923B (en) * 2007-03-07 2010-07-01 Lite On Technology Corp White light emitting diode
JP5104490B2 (ja) * 2007-04-16 2012-12-19 豊田合成株式会社 発光装置及びその製造方法
US20080283864A1 (en) * 2007-05-16 2008-11-20 Letoquin Ronan P Single Crystal Phosphor Light Conversion Structures for Light Emitting Devices
KR100880638B1 (ko) 2007-07-06 2009-01-30 엘지전자 주식회사 발광 소자 패키지
EP2434554B1 (en) * 2007-08-03 2018-05-30 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Wavelength-converted light-emitting device with uniform emission
JP5043554B2 (ja) * 2007-08-07 2012-10-10 スタンレー電気株式会社 半導体発光装置
DE102007059548A1 (de) * 2007-09-28 2009-04-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Auskoppellinse für ein optoelektronisches Bauelement
WO2009054948A1 (en) 2007-10-24 2009-04-30 Superbulbs, Inc. Diffuser for led light sources
CN101459163B (zh) * 2007-12-12 2011-07-06 富士迈半导体精密工业(上海)有限公司 发光二极管
KR100974604B1 (ko) 2007-12-13 2010-08-06 (주) 아모엘이디 전자부품 패키지 및 그의 제조방법
TW200932035A (en) * 2008-01-04 2009-07-16 Lighthouse Technology Co Ltd Light-emitting element
EP2240968A1 (en) 2008-02-08 2010-10-20 Illumitex, Inc. System and method for emitter layer shaping
JP2009206459A (ja) * 2008-02-29 2009-09-10 Sharp Corp 色変換部材およびそれを用いた発光装置
JP2010003743A (ja) * 2008-06-18 2010-01-07 Toshiba Corp 発光装置
JP5340653B2 (ja) * 2008-06-25 2013-11-13 スタンレー電気株式会社 色変換発光装置
CN101614327A (zh) * 2008-06-27 2009-12-30 富准精密工业(深圳)有限公司 发光二极管
WO2010021676A1 (en) 2008-08-18 2010-02-25 Superbulbs, Inc. Anti-reflective coatings for light bulbs
JP5284006B2 (ja) * 2008-08-25 2013-09-11 シチズン電子株式会社 発光装置
US8643266B2 (en) * 2008-09-24 2014-02-04 Luminus Devices, Inc. Light-emitting device including independently electrically addressable sections
US7955875B2 (en) * 2008-09-26 2011-06-07 Cree, Inc. Forming light emitting devices including custom wavelength conversion structures
TWI411091B (zh) * 2008-10-13 2013-10-01 Walsin Lihwa Corp 發光二極體封裝結構
US8075165B2 (en) * 2008-10-14 2011-12-13 Ledengin, Inc. Total internal reflection lens and mechanical retention and locating device
US20100117106A1 (en) * 2008-11-07 2010-05-13 Ledengin, Inc. Led with light-conversion layer
TW201034256A (en) 2008-12-11 2010-09-16 Illumitex Inc Systems and methods for packaging light-emitting diode devices
US8507300B2 (en) * 2008-12-24 2013-08-13 Ledengin, Inc. Light-emitting diode with light-conversion layer
TWI404189B (zh) 2009-02-06 2013-08-01 Everlight Electronics Co Ltd 複晶式發光二極體元件及其製造方法
TWI463708B (zh) * 2009-02-24 2014-12-01 Advanced Optoelectronic Tech 側面出光型發光元件封裝結構及其製造方法
US8598793B2 (en) 2011-05-12 2013-12-03 Ledengin, Inc. Tuning of emitter with multiple LEDs to a single color bin
US8384097B2 (en) 2009-04-08 2013-02-26 Ledengin, Inc. Package for multiple light emitting diodes
US7985000B2 (en) * 2009-04-08 2011-07-26 Ledengin, Inc. Lighting apparatus having multiple light-emitting diodes with individual light-conversion layers
CN101872817B (zh) * 2009-04-24 2012-07-04 财团法人工业技术研究院 发光二极管封装结构与其制作方法
JP5026620B2 (ja) * 2009-06-22 2012-09-12 パナソニック株式会社 面光源および液晶表示装置
US8449128B2 (en) 2009-08-20 2013-05-28 Illumitex, Inc. System and method for a lens and phosphor layer
US8585253B2 (en) 2009-08-20 2013-11-19 Illumitex, Inc. System and method for color mixing lens array
US8303141B2 (en) * 2009-12-17 2012-11-06 Ledengin, Inc. Total internal reflection lens with integrated lamp cover
JP5678629B2 (ja) * 2010-02-09 2015-03-04 ソニー株式会社 発光装置の製造方法
JP2011181579A (ja) * 2010-02-26 2011-09-15 Panasonic Corp 発光装置、及びこれを用いた照明光源、表示装置ならびに電子機器
US9991427B2 (en) 2010-03-08 2018-06-05 Cree, Inc. Photonic crystal phosphor light conversion structures for light emitting devices
US9080729B2 (en) 2010-04-08 2015-07-14 Ledengin, Inc. Multiple-LED emitter for A-19 lamps
US9345095B2 (en) 2010-04-08 2016-05-17 Ledengin, Inc. Tunable multi-LED emitter module
US8858022B2 (en) 2011-05-05 2014-10-14 Ledengin, Inc. Spot TIR lens system for small high-power emitter
DE102010021011A1 (de) * 2010-05-21 2011-11-24 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Halbleiterbauteil und Verfahren zur Herstellung einer Abdeckschicht
TWI505509B (zh) * 2010-06-21 2015-10-21 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 發光二極體及光源模組
WO2012011733A2 (ko) * 2010-07-20 2012-01-26 섬테크 주식회사 엘이디 패키지 및 엘이디 패키지 제조방법
JP5545866B2 (ja) * 2010-11-01 2014-07-09 シチズン電子株式会社 半導体発光装置
KR101626412B1 (ko) 2010-12-24 2016-06-02 삼성전자주식회사 발광소자 패키지 및 그 제조방법
TWM407494U (en) * 2011-02-25 2011-07-11 Unity Opto Technology Co Ltd LED package structure
US20120235188A1 (en) * 2011-03-15 2012-09-20 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and Apparatus for a Flat Top Light Source
US20120236529A1 (en) * 2011-03-15 2012-09-20 Avago Technologies Ecbu Ip(Singapore) Pte. Ltd. Method And Apparatus For A Light Source
US9041046B2 (en) 2011-03-15 2015-05-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for a light source
CN102769089B (zh) * 2011-05-06 2015-01-07 展晶科技(深圳)有限公司 半导体封装结构
US8513900B2 (en) 2011-05-12 2013-08-20 Ledengin, Inc. Apparatus for tuning of emitter with multiple LEDs to a single color bin
JP2012248553A (ja) * 2011-05-25 2012-12-13 Panasonic Corp 発光装置及びそれを用いた照明装置
JP2013004739A (ja) 2011-06-16 2013-01-07 Panasonic Corp 発光装置及びそれを用いた照明器具
GB201116517D0 (en) * 2011-09-23 2011-11-09 Nanoco Technologies Ltd Semiconductor nanoparticle based light emitting materials
WO2013073897A2 (ko) * 2011-11-17 2013-05-23 주식회사 루멘스 발광소자 패키지 및 이를 구비하는 백라이트 유닛
JP5972571B2 (ja) * 2011-12-28 2016-08-17 日東電工株式会社 光半導体装置および照明装置
JP2013183089A (ja) * 2012-03-02 2013-09-12 Idec Corp 発光装置、照明装置、発光装置集合体および発光装置の製造方法
US11032884B2 (en) 2012-03-02 2021-06-08 Ledengin, Inc. Method for making tunable multi-led emitter module
US9897284B2 (en) 2012-03-28 2018-02-20 Ledengin, Inc. LED-based MR16 replacement lamp
EP2831932B1 (en) 2012-03-30 2020-09-30 Lumileds Holding B.V. Light emitting device with wavelength converting side coat
DE102012107290A1 (de) 2012-08-08 2014-02-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Halbleiterbauteil, Konversionsmittelplättchen und Verfahren zur Herstellung eines Konversionsmittelplättchens
JP5994472B2 (ja) * 2012-08-09 2016-09-21 日亜化学工業株式会社 発光装置
DE102012215514A1 (de) * 2012-08-31 2014-03-06 Osram Gmbh Verfahren zum Herstellen eines LED-Moduls und LED-Modul
US9059379B2 (en) * 2012-10-29 2015-06-16 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Light-emitting semiconductor packages and related methods
CN104798186A (zh) * 2012-11-28 2015-07-22 松下知识产权经营株式会社 半导体装置以及导线键合布线方法
DE102013202904A1 (de) * 2013-02-22 2014-08-28 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Halbleiterbauteil und Verfahren zu seiner Herstellung
US9234801B2 (en) 2013-03-15 2016-01-12 Ledengin, Inc. Manufacturing method for LED emitter with high color consistency
CN105393374B (zh) * 2013-07-19 2019-05-28 亮锐控股有限公司 具有光学元件并且没有衬底载体的pc led
JP6256026B2 (ja) * 2014-01-17 2018-01-10 日亜化学工業株式会社 発光装置及び発光装置の製造方法
US9406654B2 (en) 2014-01-27 2016-08-02 Ledengin, Inc. Package for high-power LED devices
CN105940505A (zh) * 2014-02-06 2016-09-14 皇家飞利浦有限公司 具有结构化衬底的发光二极管
CN103887406B (zh) * 2014-03-14 2016-06-15 苏州晶品光电科技有限公司 多层次多介质led发光器件封装结构
JP6519311B2 (ja) * 2014-06-27 2019-05-29 日亜化学工業株式会社 発光装置
US9299895B1 (en) * 2014-09-25 2016-03-29 Prolight Opto Technology Corporation Package structure of enhanced lumen light emitting diode
EP3224874B1 (en) 2014-11-26 2019-04-24 LedEngin, Inc. Compact emitter for warm dimming and color tunable lamp
DE102015101143A1 (de) * 2015-01-27 2016-07-28 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
US9530943B2 (en) 2015-02-27 2016-12-27 Ledengin, Inc. LED emitter packages with high CRI
JP6493348B2 (ja) 2016-09-30 2019-04-03 日亜化学工業株式会社 発光装置
US10219345B2 (en) 2016-11-10 2019-02-26 Ledengin, Inc. Tunable LED emitter with continuous spectrum
JP6597657B2 (ja) * 2017-01-24 2019-10-30 日亜化学工業株式会社 発光装置
TWI642211B (zh) * 2017-01-26 2018-11-21 行家光電股份有限公司 具有斜面晶片反射結構之晶片級封裝發光裝置及其製造方法
US10522728B2 (en) 2017-01-26 2019-12-31 Maven Optronics Co., Ltd. Beveled chip reflector for chip-scale packaging light-emitting device and manufacturing method of the same
CN106784256A (zh) * 2017-02-22 2017-05-31 广州硅能照明有限公司 一种提升出光效率的cob封装方法及其结构
US10575374B2 (en) 2018-03-09 2020-02-25 Ledengin, Inc. Package for flip-chip LEDs with close spacing of LED chips
JP2019168264A (ja) * 2018-03-22 2019-10-03 豊田合成株式会社 近赤外線センサカバー
US11139342B2 (en) 2018-09-26 2021-10-05 Nitride Semiconductors Co., Ltd. UV-LED and display
US11313671B2 (en) 2019-05-28 2022-04-26 Mitutoyo Corporation Chromatic confocal range sensing system with enhanced spectrum light source configuration
US11362243B2 (en) 2019-10-09 2022-06-14 Lumileds Llc Optical coupling layer to improve output flux in LEDs
US11592166B2 (en) 2020-05-12 2023-02-28 Feit Electric Company, Inc. Light emitting device having improved illumination and manufacturing flexibility
US11876042B2 (en) 2020-08-03 2024-01-16 Feit Electric Company, Inc. Omnidirectional flexible light emitting device
CN114843253A (zh) * 2021-02-02 2022-08-02 光宝科技股份有限公司 发光装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0365263A (ja) 1989-07-31 1991-03-20 Tonen Corp 超音波霧化装置
JP3065263B2 (ja) * 1996-12-27 2000-07-17 日亜化学工業株式会社 発光装置及びそれを用いたled表示器
US5962971A (en) 1997-08-29 1999-10-05 Chen; Hsing LED structure with ultraviolet-light emission chip and multilayered resins to generate various colored lights
JP3048368U (ja) 1997-10-27 1998-05-06 興 陳 発光ダイオード
US6791116B2 (en) * 2002-04-30 2004-09-14 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting diode

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101329264B1 (ko) * 2005-08-15 2013-11-14 코닌클리케 필립스 엔.브이. 색 및/또는 광도가 변경가능한 광을 생성하기 위한 광원 및방법

Also Published As

Publication number Publication date
CN1455462A (zh) 2003-11-12
TW595018B (en) 2004-06-21
TW200403866A (en) 2004-03-01
KR100617432B1 (ko) 2006-08-31
US20030214233A1 (en) 2003-11-20
KR100616053B1 (ko) 2006-08-28
US6791116B2 (en) 2004-09-14
KR20050094802A (ko) 2005-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100617432B1 (ko) 발광 다이오드
US6900587B2 (en) Light-emitting diode
EP2293354B1 (en) Light emitting device, planar light source, liquid crystal display device
TWI447450B (zh) 導光板結構、背光模組及其製造方法
KR100880638B1 (ko) 발광 소자 패키지
US7635873B2 (en) Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
JP3707688B2 (ja) 発光装置およびその製造方法
US8723409B2 (en) Light emitting device
US20100230693A1 (en) White light emitting diode package and method of making the same
CN101410993B (zh) 发光装置
KR20170093082A (ko) 발광소자 및 그의 제조방법
JP2004111882A (ja) 発光装置
JP5543386B2 (ja) 発光装置、その製造方法及び照明装置
JP5332960B2 (ja) 発光装置
KR20090039932A (ko) 발광 소자 패키지
KR20190090332A (ko) 백라이트 유닛
KR20190068657A (ko) 백라이트 유닛
JP2003243724A (ja) 発光装置
JP5678462B2 (ja) 発光装置
JP2008205170A (ja) 発光半導体デバイス
KR101641266B1 (ko) 발광소자 패키지를 구비하는 디스플레이 장치
CN110140081B (zh) 背光单元
JP2011222642A (ja) 発光装置
JP7350144B2 (ja) 発光装置
KR101684943B1 (ko) 발광 소자

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
A107 Divisional application of patent
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120802

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130801

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140808

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150716

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160720

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee