KR20030074806A - 굵은 도체 패턴, 그리고 미세 도체 패턴을 포함하는적어도 하나의 영역을 갖는 배선기판을 제조하기 위한 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 굵은 도체 패턴, 그리고 미세 도체 패턴을 포함하는 적어도 하나의 영역을 갖는 배선기판을 제조하기 위한 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 전기적 절연 기판(U1)상에 금속층(MS1), 에치 레지스트(AR1) 및 포토레지스트(PR1)이 연속해서 배치되고, 그 뒤에 상기 포토레지스트(PR1)에 포토리소그래피를 이용하여 패턴이 형성되며, 상기 포토레지스트(PR1)는 그 다음의 굵은 도체 패턴(GL1) 및 미세 도체 패턴(FL1)의 전체 영역(B1)의 이미지를 커버한다. 노출된 에치 레지스트(AR1)의 스트리핑 후에 상기 포토레지스트(PR1)가 제거되고, 상기 에치 레지스트(AR1)에는 레이저 빔(LS1)을 이용하여 패턴이 형성되는데, 이때 상기 에치 레지스트(AR1)에는 미세 도체 패턴(FL1)의 이미지가 형성된다. 그 뒤에 상기 굵은 도체 패턴(GL1) 및 미세 도체 패턴(FL1)이 공통의 에칭 공정에서 형성된다.
Description
EP-A-0 602 258에는 굵은 도체 패턴을 가진 인쇄회로기판의 제조 방법이 공지되어 있는데, 상기 인쇄회로기판의 제한된 영역은 매우 높은 배선 밀도를 갖도록 설계되어야만 한다. 이는 추가의 배선층에 의해 달성되는데, 상기 추가의 배선층은 단지 제한된 영역에만 제공되고 비아홀(via hole)을 통해 그 아래 놓인 배선층과 서로 연결된다.
EP-A-0 062 300에는 인쇄회로기판의 제조 방법이 공지되어 있는데, 상기 방법에 의해 금속층 전면에 도포된 금속 에치 레지스트가 레이저 빔을 이용하여 도체 패턴에 상응하지 않는 영역으로부터 선택적으로 한번 더 제거되고 상기 도체 패턴은 상기와 같이 노출된 금속층을 에칭함으로써 형성된다.
WO-A-00/04750에는 굵은(rough) 도체 패턴 및 미세(fine) 도체 패턴을 포함하는 적어도 하나의 영역을 갖는 인쇄회로기판을 제조하기 위한 방법이 공지되어 있으며, 상기 굵은 도체 패턴 및 상기 미세 도체 패턴은 공통의 에칭 공정시 금속층의 에칭에 의해 형성된다. 이러한 공통의 에칭 공정시 상기 굵은 도체 패턴의 영역에서는 포토리소그래피를 이용하여 패턴이 형성되는 에치 레지스트가 사용되고상기 미세 도체 패턴 영역에서는 레이저 빔을 이용하여 패턴이 형성되는 에치 레지스트가 사용된다. 공지된 방법의 제 1 실시예에 따르면 상기 금속층상에 포토레지스트가 도포되고 상기 포토레지스트에는 포토리소그래피를 이용하여 패턴이 형성되는데, 이때 굵은 도체 패턴 영역 내에 있는 포토레지스트에는 그 패턴에 대한 음화(negative image)가 형성되며 미세 도체 패턴의 전체 영역을 커버한다. 그 뒤에 미세 도체 패턴의 영역 내에 있는 상기 포토레지스트에는 레이저 빔을 이용하여 패턴이 형성되는데, 이때 상기 포토레지스트에는 미세 도체 패턴의 음화가 형성된다. 그 뒤에 단일 공정에서 무전해 주석 도금에 의해 에치 레지스트가 굵은 도체 패턴 및 미세 도체 패턴상에 도포되기 때문에, 공통의 에칭 공정이 포토레지스트를 제거한 후에 실행될 수 있다. 공지된 방법의 제 2 실시예에 따르면 상기 금속층상에 도포된 포토레지스트에는 포토리소그래피를 이용하여 패턴이 형성되는데, 이때 굵은 도체 패턴의 영역 내에 있는 상기 포토레지스트에는 그 패턴의 음화가 형성된다. 그 뒤에 상기 에치 레지스트는 상기 굵은 도체 패턴 및 상기 미세 도체 패턴의 전체 표면상에 도포된다. 상기 포토레지스트를 제거한 후에는 상기 미세 도체 패턴의 영역 내에 있는 상기 에치 레지스트에는 레이저 빔을 이용하여 패턴이 형성되는데, 이때 상기 에치 레지스트에는 상기 미세 도체 패턴의 이미지가 형성된다. 그 뒤에 상기 굵은 도체 패턴 및 상기 미세 도체 패턴이 공통의 에칭 공정시 제조된다.
청구항 제 1항에 제시된 본 발명은, 제조 시간을 단축시키기 위해 굵은 도체 패턴, 그리고 미세 도체 패턴을 포함하는 적어도 하나의 영역을 갖는 인쇄회로기판의 제조 방법-WO-A-00/04750에 공지됨-을 개선시키는데 중점을 두고 있다.
본 발명은 굵은 도체 패턴의 제조를 위한 종래의 포토에칭 기술 및 미세 도체 패턴을 제조하기 위한 레이저 패터닝(laser patterning)을 조합할 때 포토레지스트, 에치 레지스트 및 금속층의 대부분의 영역을 포토레지스트의 노출(exposing) 및 현상(developing), 에치 레지스트의 스트리핑(stripping) 및 금속층의 에칭(etching) 단계에 의해 신속하게 제거할 수 있다는 사실을 전제로 한다. 상기 미세 도체 패턴의 영역 내에 있는 에치 레지스트의 레이저 패터닝이 어떠한 경우라도 신속하게 실행될 수 있기 때문에, 전체적으로 최소한의 시간이 요구된다.
본 발명에 따른 방법의 바람직한 실시예는 청구항 2항 내지 8항에 제시된다.
원칙적으로는 유기질(organic) 레지스트를 에치 레지스트로서 사용할 수도 있긴 하지만, 청구항 2항에 따르면 금속 에치 레지스트가 바람직하다. 청구항 3항에 따르면 이러한 금속 에치 레지스트를 금속층상에 도포하는 것은 무전해 또는 전해 도금에 의해 최소의 비용으로 신속하게 실행될 수 있다. 이러한 경우에 청구항 4항에 따르면 에치 레지스트로서 주석 또는 주석-납이 특히 바람직하게 사용된다.
청구항 5항에 따른 실시예에서는 굵은 도체 패턴의 영역 및 미세 도체 패턴의 영역에서 비아홀이 제조될 수 있다.
청구항 6항에 따른 개선예에서는 상기 비아홀의 영역 내에 있는 에치 레지스트가 특히 용이하게 보호될 수 있다.
상기 에치 레지스트가 배선기판의 또다른 처리를 방해할 경우에는 청구항 7항에 따라 한번 더 제거된다. 이러한 경우에는 굵은 도체 패턴 및 미세 도체 패턴상에 예컨대 다른 금속층이 도포될 수 있다.
청구항 8항에 따른 실시예에서는 두 개 또는 다수의 배선층을 갖는 배선기판이 용이하게 제조될 수 있으며, 상기 배선층은 재차 굵은 도체 패턴 및 미세 도체 패턴을 갖는다.
도면을 참고로 본 발명의 실시예를 살펴보면 다음과 같다. 즉
도 1 내지 도 9는 굵은 도체 패턴 및 미세 도체 패턴의 영역을 갖는 인쇄회로기판을 제조하기 위한 방법의 개별 단계를 도시하고,
도 10 내지 도 18은 각각의 굵은 도체 패턴 및 미세 도체 패턴의 영역을 갖는 두 개의 배선층을 가진 인쇄회로기판을 제조하기 위한 방법의 개별 단계를 도시한다.
도 1에 따르면 전기적 절연 기판(U1)-단면으로 도시됨-상에 제 1 금속층(MS1)이 도포되고, 상기 제 1 금속층(MS1)은 상기 기판(U1) 내에 형성된 비아홀(DL1)의 벽을 커버한다. 상기 기판(U1)은 인쇄회로기판에 통상적으로 쓰이는 기본 재료이다. 상기 제 1 금속층(MS1)은 예컨대 무전해 구리 도금 및 전해 구리 도금에 의해 상기 기판(U1)상에 도포된다. 또한 구리 적층 기판(U1)을 시작으로 해서, 상기 기판(U1) 내부에 비아홀(DL1)을 뚫어서, 상기 비아홀(DL1) 벽에 무전해 및 전해 도금을 이용하여 금속배선(metallization)을 실행할 수 있다. 상기 비아홀(DL1)의 금속배선을 실행할 경우 구리 적층(copper cladding)이 적절히 보강된다.
도 2에 따르면 상기 제 1 금속층(MS1)상에 에치 레지스트(AR1)가 도포되고,상기 에치 레지스트(AR1)는 또한 비아홀(DL1) 내에 있는 금속층(MS1)을 커버한다. 상기 에치 레지스트(AR1)는 무전해 도금에 의해 도포되는 주석으로 되어있다.
도 3에 따르면 상기 기판(U1)의 상부면에서 제 1 포토레지스트(PR1)가 상기 에치 레지스트(AR1)상에 도포된다. 이 경우 상기 제 1 포토레지스트(PR1)는 상기 비아홀(DL1)의 상부 개구를 커버한다. 상기 제 1 포토레지스트(PR1)는 예컨대 박막 형태로 적층된다.
그 다음 단계에서 상기 포토레지스트(PR1)에는 노출 공정 및 현상 공정에 의해 패턴이 형성되는데, 이때 GL1으로 표기된 굵은 도체 패턴의 이미지 및 B1으로 표기된 미세 도체 패턴의 영역이 커버된다. 포토리소그래피를 이용하여 상기 포토레지스트(PR1)에 패턴을 형성하는 단계가 도 4에 도시된다.
상기 포토레지스트(PR1)에 패턴을 형성한 후에는 도 5에 따라 노출된 영역 내에 있는 에치 레지스트(AR1)가 제거된다. 이 경우 비아홀(DL1) 영역 내에 있는 에치 레지스트(AR1)는 제거되지 않는다. 왜냐하면 상기 비아홀(DL1) 영역 내 에치 레지스트(AR1)는 포토레지스트 및 상응하는 비아홀(DL1)의 시일(seal)-도시되지 않음-에 의해 아래에서부터 보호되기 때문이다. 상기 에치 레지스트(AR1)의 제거-스트리핑(stripping)으로도 표기됨-는 기술된 실시예의 경우에는 통상적인 주석 스트리퍼(stripper)에 의해 이루어진다. 그러나 상기 주석 스트리퍼가 제 1 포토레지스트(PR1)를 부식시켜서는 안된다.
도 6에 따른 그 다음 단계에서는 제 1 포토레지스트(PR1)가 완전히 제거된다. 여기에 사용된 통상적인 레지스트 스트리퍼가 제 1 에치 레지스트(AR1)를 부식시켜서는 안된다. 이 경우 남아있는 제 1 에치 레지스트(AR1)는 굵은 도체 패턴(GL1), 비아홀(DL1) 벽, 그리고 미세 도체 패턴의 전체 영역(B1)을 커버한다.
도 7에 따르면 B1의 영역에서 제 1 에치 레지스트(AR1)에는 레이저 빔(LS1)을 이용하여 패턴이 형성되는데, 이때 상기 제 1 에치 레지스트(AR1)에는 미세 도체 패턴(FL1)의 이미지가 형성된다.
상기 B1 영역에서의 레이저 패터닝(도 6 참조) 이후에, 도 8에 따른 그 다음 단계에서는 굵은 도체 패턴(GL1) 및 미세 도체 패턴(FL1)을 형성하기 위해서 공통의 에칭 공정시 에치 레지스트(AR1)에 의해 보호되지 않은 영역 내에 있는 금속층(MS1)이 기판(U1)의 표면에까지 에칭된다.
도 9에 따른 마지막 단계에서는 남아있는 에치 레지스트(AR1)가 제거된다. 이를 위해서 전술한 주석 스트리퍼가 한번 더 사용된다.
두 개의 배선층을 가진 인쇄회로기판을 제조할 경우에는 굵은 도체 패턴(GL1) 및 미세 도체 패턴(FL1)을 가진 제 1 배선층이 도 1 내지 도 9에 도시된 단계에 따라 제조된다. 이에 상응하는 제 1 배선층이 도 10에 도시되며, 이때 상기 굵은 도체 패턴(GL1) 및 미세 도체 패턴(FL1)은 도 9에 도시된 패턴과는 약간 다르다. 그리고 나서 제 2 전기적 절연 기판(U2)이 예컨대 커텐코팅(curtain coating) 및 후속하는 경화(curing)에 의해 상기 제 1 배선층상에 도포된다. 그 리고 나서 비아홀(DL2 및 DL3)이 예컨대 레이저 드릴링(laser drilling)에 의해 제 2 기판(U2) 내부에 형성된다. 그리고 나서 도 10에 도시된 바와 같이 상기 제 2 기판(U2)상에 제 2 금속층(MS2)이 도포될 경우에는 비아홀(DL2 및 DL3)의 벽에 금속 배선이 형성된다. 또한 비아홀(DL3)에서 제 2 금속층(MS2)이 그 아래에 놓인 제 1 배선층의 도체 패턴과의 접촉을 형성한다는 사실을 알 수 있다.
도 11에 따른 그 다음 단계에서는 제 2 에치 레지스트(AR2)가 제 2 금속층(MS2)상에 도포된다. 도 12에 따른 그 다음 단계에서는 제 2 포토레지스트(PR2)가 도포되며, 상기 제 2 포토레지스트(PR2)는 비아홀(DL2 및 DL3)의 개구를 커버한다.
상기 제 2 포토레지스트(PR2)를 노출 공정 및 현상 공정에 의해 패터닝한 후, 도 13에 따른 단계에서는 굵은 도체 패턴(GL2) 및 제 2 배선층의 미세 도체 패턴의 전체 영역(B2)의 이미지만이 커버된다.
도 14에 따른 그 다음 단계에서는 제 2 포토레지스트(PR2)에 의해 보호되지 않은 제 2 에치 레지스트(AR2)가 제거되며, 도 15에 따른 그 다음 단계에서는 제 2 포토레지스트(PR2)가 완전히 제거된다.
도 16에 따른 그 다음 단계에서는 B2 영역에서 제 2 에치 레지스트(AR2)에는 레이저 빔(LS2)을 이용하여 패턴이 형성되는데, 이때 상기 제 2 에치 레지스트(AR2)는 제 2 배선층의 제 2의 미세 도체 패턴(FL2)을 갖는다.
상기 B2 영역에서의 레이저 패터닝(도 15참조) 후에, 도 17에 따른 그 다음 단계에서는 굵은 도체 패턴(GL2) 및 제 2 배선층의 미세 도체 패턴(FL2)을 형성하기 위해서 공통의 에칭 공정시 제 2 에치 레지스트(AR2)에 의해 보호되지 않은 영역 내에 있는 제 2 금속층(MS2)이 제 2 기판(U2)의 표면에까지 에칭된다. 그 다음의 마지막 단계에서는 남아있는 제 2 에치 레지스트(AR2)가 제거된다. 그 결과로제조된, 두 개의 배선층을 가진 인쇄회로기판이 도 18에 도시된다.
Claims (8)
- 굵은 도체 패턴(GL1; GL2), 그리고 미세 도체 패턴(FL1; FL2)을 포함하는 적어도 하나의 제한된 영역(B1; B2)을 갖는 배선기판을 제조하기 위한 방법으로서, 상기 방법이 하기의 단계:a) 전기적 절연 기판(U1; U2)상에 금속층(MS1; MS2)을 도포하는 단계;b) 상기 금속층(MS1; MS2)상에 에치 레지스트(AR1; AR2)를 도포하는 단계 ;c) 상기 에치 레지스트(AR1; AR2)상에 포토레지스트(PR1; PR2)를 도포하는 단계;d) 상기 굵은 도체 패턴(GL1; GL2)의 이미지 및 상기 미세 도체 패턴(FL1; FL2)의 영역(B1; B2)이 커버되도록, 상기 포토레지스트(PR1; PR2)에 포토리소그래피를 이용하여 패턴을 형성하는 단계;e) 상기 포토레지스트(PR1;PR2)에 의해 커버되지 않은 영역에 있는 상기 에치 레지스트(AR1;AR2)를 제거하는 단계;f) 상기 포토레지스트(PR1;PR2)를 제거하는 단계;g) 상기 에치 레지스트(AR1;AR2)가 상기 미세 도체 패턴(FL1;FL2)의 이미지를 나타내도록, 상기 에치 레지스트(AR1;AR2)에 레이저 빔(LS1;LS2)을 이용하여 패턴을 형성하는 단계;h) 상기 굵은 도체 패턴(GL1;GL2) 및 상기 미세 도체 패턴(FL1;FL2)을 형성하기 위해서 공통의 에칭 공정에서 상기 에치 레지스트(AR1;AR2)에 의해 보호되지않은 금속층(MS1;MS2)의 영역을 상기 기판(U1;U2)의 표면에까지 에칭하는 단계를 포함하는 배선기판 제조 방법.
- 제 1항에 있어서,상기 b) 단계에서 상기 금속층(MS1;MS2)상에 상기 금속 에치 레지스트(AR1;AR2)를 도포하는 것을 특징으로 하는 배선기판 제조 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 금속 에치 레지스트(AR1;AR2)를 무전해 또는 전해 도금에 의해 상기 금속층(MS1;MS2)상에 도포하는 것을 특징으로 하는 배선기판 제조 방법.
- 제 1항 내지 제 3항 중 어느 한 항에 있어서,상기 에치 레지스트(AR1;AR2)로서 주석 또는 주석-납을 사용하는 것을 특징으로 하는 배선기판 제조 방법.
- 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서,상기 기판(U1;U2)의 상기 굵은 도체 패턴(GL1;GL2)의 영역 및/또는 상기 미세 도체 패턴(FL1;FL2)의 영역에 비아홀(DL1;DL2,DL3)을 형성하고, 상기 a) 단계 및 b) 단계에서 상기 비아홀(DL1;DL2,DL3)의 벽에 상기 금속층(MS1;MS2) 및 상기 에치 레지스트(AR1;AR2)를 도포하는 것을 특징으로 하는 배선기판 제조 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 c) 단계에서 상기 포토레지스트(PR1;PR2)가 상기 비아홀(DL1;DL2,DL3)의 개구를 커버하도록 도포되는 것을 특징으로 하는 배선기판 제조 방법.
- 제 1항 내지 제 6항 중 어느 한 항에 있어서,상기 에치 레지스트(AR1;AR2)를 상기 h) 단계 이후에 완전히 제거하는 것을 특징으로 하는 배선기판 제조 방법.
- 제 1항 내지 제 7항 중 어느 한 항에 있어서,상기 제 1 전기적 절연 기판(U1)상에 상기 제 1 굵은 도체 패턴(GL1) 및/또는 제 1 미세 도체 패턴(FL1)을 포함하는 제 1 배선층을 형성하고, 상기 제 1 배선층상에 상기 제 2 전기적 절연 기판(U2)을 도포하며, 상기 제 2 전기적 절연 기판(U2) 내에 상기 비아홀(DL3)을 형성하고, 상기 제 2 전기적 절연 기판(U2)상에 상기 a) 단계 내지 h) 단계에 따라 상기 제 2 굵은 도체 패턴(GL2) 및 상기 제 2 미세 도체 패턴(FL2)을 포함하는 제 2 배선층을 형성하며, 상기 a) 단계 및 b) 단계에서 상기 비아홀(DL3)의 벽에 상기 금속층(MS2) 및 상기 에치 레지스트(AR2)를 도포하는 것을 특징으로 하는 배선기판 제조 방법.
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