KR102079082B1 - 전자 부품 핸들링 유닛 - Google Patents

전자 부품 핸들링 유닛 Download PDF

Info

Publication number
KR102079082B1
KR102079082B1 KR1020187022087A KR20187022087A KR102079082B1 KR 102079082 B1 KR102079082 B1 KR 102079082B1 KR 1020187022087 A KR1020187022087 A KR 1020187022087A KR 20187022087 A KR20187022087 A KR 20187022087A KR 102079082 B1 KR102079082 B1 KR 102079082B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
tool
pick
mounting
pickup
semiconductor chip
Prior art date
Application number
KR1020187022087A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20180100363A (ko
Inventor
코헤이 세야마
Original Assignee
야마하 모터 로보틱스 홀딩스 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 야마하 모터 로보틱스 홀딩스 가부시키가이샤 filed Critical 야마하 모터 로보틱스 홀딩스 가부시키가이샤
Publication of KR20180100363A publication Critical patent/KR20180100363A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102079082B1 publication Critical patent/KR102079082B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67121Apparatus for making assemblies not otherwise provided for, e.g. package constructions
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67721Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips, lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0413Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws with orientation of the component while holding it; Drive mechanisms for gripping tools, e.g. lifting, lowering or turning of gripping tools
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/046Surface mounting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/75251Means for applying energy, e.g. heating means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/75252Means for applying energy, e.g. heating means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/753Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/75301Bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7565Means for transporting the components to be connected
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75702Means for aligning in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means
    • H01L2224/75744Suction holding means in the lower part of the bonding apparatus, e.g. in the apparatus chuck
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means
    • H01L2224/75745Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/758Means for moving parts
    • H01L2224/75821Upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head
    • H01L2224/75822Rotational mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/758Means for moving parts
    • H01L2224/75821Upper part of the bonding apparatus, i.e. bonding head
    • H01L2224/75824Translational mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/758Means for moving parts
    • H01L2224/75841Means for moving parts of the bonding head
    • H01L2224/75842Rotational mechanism
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7598Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors specially adapted for batch processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/812Applying energy for connecting
    • H01L2224/81201Compression bonding
    • H01L2224/81203Thermocompression bonding, e.g. diffusion bonding, pressure joining, thermocompression welding or solid-state welding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/93Batch processes
    • H01L2224/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L2224/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting

Abstract

본체(31)와, 본체(31)에 부착된 회전축(32)과, 회전축(32)에 부착된 플립 헤드(40)와, 본체(31)에 부착되고, 회전축(32)을 회전시켜 플립 헤드(40)를 반전시키는 스테핑 모터(36)를 구비하는 전자 부품 핸들링 유닛(30)으로서, 플립 헤드(40)는 회전축(32)에 접속되는 베이스(41)와, 회전축(32)이 뻗는 방향에 대하여 배열 방향이 45° 경사지도록 베이스(41)에 직선 형상으로 부착된 복수의 픽업 노즐(42)을 갖는다. 이것에 의해, 간편한 구성으로, 픽업한 반도체칩열을 반전시킴과 동시에 그 배열 방향을 변경할 수 있다.

Description

전자 부품 핸들링 유닛
본 발명은 반도체칩 등의 전자 부품을 회로 기판에 실장하는 전자 부품 실장 장치에 사용되는 전자 부품 핸들링 유닛의 구조에 관한 것이다.
반도체칩을 회로 기판에 실장하는 방법으로서 플립 칩 본딩 방법이 많이 사용되고 있다. 이 방법은 땜납 등에 의해 반도체칩에 범프를 형성하고, 웨이퍼로부터 반도체칩을 픽업하여 반전시켜, 반도체칩의 범프와 반대측의 면을 본딩 툴에 흡착시키고, 본딩 툴에 의해 반도체칩의 범프를 회로 기판의 전극에 열압착하여 범프와 회로 기판의 전극을 접합하는 방법이다(예를 들면, 특허문헌 1 참조).
이러한 플립 칩 본딩 방법을 사용하여 반도체칩을 회로 기판에 실장하는 장치로서 플립 칩 본더(플립 칩 본딩 장치)가 사용되고 있다(예를 들면, 특허문헌 2 참조). 특허문헌 2에 기재된 플립 칩 본더(900)는, 도 8에 도시하는 바와 같이, 회로 기판(912)에 실장하는 반도체칩(910)을 공급하는 칩 공급부(901)와, 반도체칩(910)을 웨이퍼(911)로부터 픽업하는 픽업부(902)와, 픽업한 반도체칩(910)을 반전시키는 반전 기구(903)와, 반전시킨 반도체칩(910)을 받아 회로 기판(912)에 본딩하는 본딩부(904)와, 회로 기판(912)과 반도체칩(910)의 화상을 촬상하는 카메라(908)와, 회로 기판(912)을 반송하는 반송부(915)를 구비하고 있다. 칩 공급부(901), 픽업부(902), 반전 기구(903), 본딩부(904)는 Y 방향으로 일렬로 배치되어 있다. 칩 공급부(901)는 피치업하는 반도체칩(910)을 쳐올리는 쳐올림 유닛(909)을 구비하고 있다. 또한 픽업부(902)는 반도체칩(910)을 흡착하는 픽업 툴(905)과 픽업 툴(905)을 Z 방향으로 구동하는 픽업 헤드(902a)를 포함하고 있고, 본딩부(904)는 반도체칩(910)을 본딩하는 본딩 툴(906)과 본딩 툴(906)을 Z 방향으로 구동하는 본딩 헤드(904a)를 포함하고 있다. 픽업 헤드(902a)와 본딩 헤드(904a)는 Y 방향 구동 기구(907)에 의해 Y 방향으로 이동한다.
일본 특허 제4840862호 공보 일본 특개 2015-60924호 공보
그런데, 최근, 플립 칩 본딩 장치의 설치 면적의 공간 절약화와 본딩의 고속화가 보다 강하게 요구되게 되었다. 이것을 실현하는 방법으로서 도 9에 도시하는 바와 같은 플립 칩 본딩 장치(950)로 하는 것을 생각할 수 있다. 또한, 도 9에서는, 도 8과 동일한 부위에는 동일한 부호를 붙이고 설명은 생략한다. 도 9에 도시하는 플립 칩 본딩 장치(950)는 본딩 헤드(904a) 및 본딩 툴(906), 그리고 픽업 헤드(902a) 및 픽업 툴(905)을 각각 2개 탑재함과 아울러, 칩 공급부(901)와, 픽업부(902)와, 픽업 헤드(902a)를 X 방향으로 이동시키는 X 방향 구동 기구(957)를 반송부(915)의 Y 방향 마이너스측에 배치하고 있다. 2개의 픽업 헤드(902a)는 X 방향 구동 기구(957)를 따라 X 방향으로 2개 나열되어 배치되고, 2개의 본딩 헤드(904a)는 Y 방향 구동 기구(907)를 따라 Y 방향으로 2개 나열되어 배치되어 있다. 또한 반전 기구(953)는, 도 10에 도시하는 바와 같이, 픽업 헤드(902a)를 반전시키는 반전부(953a)와, 반전한 픽업 헤드(902a)를 수평면 내에서 90° 회전시키는 회전부(953b)를 포함하고 있다.
도 10을 참조하면서, 종래기술을 응용한 플립 칩 본딩 장치(950)의 동작에 대해 간단히 설명한다. 도 10(a), (c)에 도시하는 바와 같이, 우선, 2개의 픽업 헤드(902a)를 X 방향으로 이동시키고, 각 픽업 툴(905)로 각각 반도체칩(910)을 픽업 한다. 반도체칩(910)을 픽업한 후, 2개의 픽업 헤드(902a)를 반전 기구(953)까지 X 방향으로 이동한다. 이때, 2개의 픽업 헤드(902a) 및 픽업 툴(905)은 X 방향으로 나열되어 있다. 도 10(b), (c)에 도시하는 바와 같이, 반전 기구(953)는 반전부(953a)에 의해 2개의 픽업 헤드(902a)와 픽업 툴(905)을 X축 둘레로 180° 회전시켜 반전시킴과 아울러, 회전부(953b)에 의해 2개의 픽업 헤드(902a)와 픽업 툴(905)의 나열 방향을 X 방향으로부터 Y 방향으로 90° 회전시킨다. Y 방향으로 나열되어 배치된 2개의 본딩 헤드(904a)의 본딩 툴(906)은 반전 기구(953)의 위치까지 Y 방향으로 이동하여 2개의 픽업 툴(905)로부터 각각 반도체칩(910)을 받는다. 그리고, 2개의 본딩 헤드(904a)는 소정의 본딩 위치까지 Y 방향으로 이동한 후, 2개의 본딩 툴(906)에 흡착한 각 반도체칩(910)을 회로 기판(912)에 본딩한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 특허문헌 2에 기재된 종래기술을 적용한 플립 칩 본딩 장치(950)는 본딩 툴(906)의 배열 방향과 픽업 툴(905)의 배열 방향이 상이하여, 픽업 툴(905)로부터 본딩 툴(906)에 반도체칩(910)을 주고받기 위해서는, 반전부(953a)에 의해 픽업 헤드(902a)와 픽업 툴(905)을 반전시킴과 아울러, 회전부(953b)에 의해 픽업 헤드(902a)와 픽업 툴(905)을 90° 회전시켜 그 배열 방향을 맞추는 것이 필요했다. 그러나, 이러한 회전부(953b)를 설치하면 반전 기구(953)가 복잡하게 되어 버린다고 하는 문제가 있었다.
그래서, 본 발명은 간편한 구성으로, 픽업한 반도체칩 열을 반전시킴과 동시에 그 배열 방향을 변경할 수 있는 전자 부품 핸들링 유닛을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 전자 부품 핸들링 유닛은 본체와, 본체에 부착된 회전축과, 회전축에 부착되고, 반도체 다이를 흡착하여 유지하는 복수의 픽업 노즐이 직선 형상으로 배치된 플립 헤드를 구비하고, 복수의 픽업 노즐이 회전축이 뻗는 방향에 대하여 대략 45° 경사지도록 배열되어 있는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 전자 부품 핸들링 유닛에 있어서, 본체를 직선 방향으로 이동시키는 직선 구동 기구를 구비하고, 회전축은 회전축이 뻗는 방향이 본체의 이동 방향에 대하여 대략 45° 경사지도록 본체에 부착되어 있는 것으로 해도 바람직하다.
본 발명은 간편한 구성으로, 픽업한 반도체칩 열을 반전시킴과 동시에 그 배열 방향을 변경할 수 있는 전자 부품 핸들링 유닛을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛을 탑재한 플립 칩 본딩 장치의 구성을 도시하는 평면도이다.
도 2는 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛을 탑재한 플립 칩 본딩 장치의 구성을 도시하는 입면도이다.
도 3은 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛의 평면도이다.
도 4는 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛의 입면도이다.
도 5는 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛에 의해 반도체칩을 픽업하는 동작을 나타내는 설명도이다.
도 6은 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛에 의해 반도체칩을 반전하는 동작을 나타내는 설명도이다.
도 7은 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛으로부터 본딩 툴로의 반도체칩 전달 동작과 반도체칩의 본딩 동작을 나타내는 설명도이다.
도 8은 종래기술에 의한 플립 칩 본더를 도시하는 평면도이다.
도 9는 종래기술에 의한 다른 플립 칩 본더를 도시하는 평면도이다.
도 10은 도 9에 도시하는 플립 칩 본더의 동작을 나타내는 설명도이다.
(발명을 실시하기 위한 형태)
이하, 도면을 참조하면서 본 발명의 실시형태에 대하여 설명한다. 최초에 도 1을 참조하여 본 발명의 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛(30)을 탑재한 전자 부품 실장 장치인 플립 칩 본딩 장치(100)에 대해 설명한다.
도 1에 도시하는 바와 같이, 플립 칩 본딩 장치(100)는 가대(11)와, 실장 스테이지(15)와, 실장 스테이지(15)의 위를 건너 걸쳐 Y 방향으로 연장되고, X 방향으로 이동하는 갠트리 프레임(13)과, 갠트리 프레임(13)에 부착되어 Y 방향으로 이동하는 실장 헤드(20)와, 실장 헤드(20)에 부착되어 실장 툴(23)을 Z 방향으로 이동시키는 실장 노즐(26)과, 웨이퍼 홀더(50)와, 반도체칩(18)의 픽업, 반전, 전달을 행하는 전자 부품 핸들링 유닛(30)과, 각 부의 동작을 제어하는 제어부(60)를 구비하고 있다. 또한, 도 1에 도시하는 바와 같이, 갠트리 프레임(13)이 뻗는 방향을 Y 방향, 이것과 직교하는 방향을 X 방향, XY면에 수직한 상하 방향을 Z 방향으로 하여 설명한다.
실장 스테이지(15)는 전자 부품인 반도체칩(18)을 실장하는 회로 기판(17)을 표면에 진공 흡착함과 아울러, 내부에 구비하는 도시하지 않은 히터에 의해 표면에 흡착한 회로 기판(17)을 가열하는 것이다. 실장 스테이지(15)는 가대(11)에 고정되어 있다. 실장 스테이지(15)에는, 회로 기판(17)을 도시하지 않은 기판 공급부로부터 실장 스테이지(15) 위로 반송함과 아울러, 반도체칩(18)의 실장이 종료된 회로 기판(17)을 도시하지 않은 제품 저장소에 보내는 반송 레일(16)이 접속되어 있다.
갠트리 프레임(13)은 문형(門型)의 프레임으로, 가대(11)의 위에 고정된 X 방향으로 뻗는 2개의 가이드 레일(12)의 위를 X 방향으로 슬라이드 하는 슬라이더(14)의 위에 그 다리부가 고정되어 있다. 슬라이더(14)는 도시하지 않은 X 방향 구동 모터에 의해 X 방향으로 이동하므로, 갠트리 프레임(13)은 X 방향 구동 모터에 의해 X 방향으로 이동한다.
도 2에 도시하는 바와 같이, 실장 헤드(20)는 갠트리 프레임(13)에 부착되고, 도시하지 않은 Y 방향 구동 모터에 의해 Y 방향으로 이동한다. 갠트리 프레임(13)이 X 방향 구동 모터에 의해 X 방향으로 이동하면 실장 헤드(20)는 갠트리 프레임(13)과 함께 X 방향으로 이동하므로, 실장 헤드(20)는 X 방향 구동 모터와 Y 방향 구동 모터에 의해 수평 방향(XY 방향)으로 이동한다. 실장 헤드(20)에는, 실장 노즐(26)이 Y 방향으로 피치(P1)로 2개 나열되어 부착되어 있다. 실장 노즐(26)은 실장 헤드(20)에 고정된 모터(21)와, 실장 헤드(20)에 Z 방향으로 이동 가능하게 부착된 기체부(22)와, 모터(21)의 회전에 따라 기체부(22)를 Z 방향으로 구동하는 볼 나사(24)와, 기체부(22)의 하측에 부착된 펄스 히터(25)를 포함하고 있다. 펄스 히터(25)의 하측에는, 반도체칩(18)을 흡착함과 아울러, 반도체칩(18)을 회로 기판(17)에 열압착하는 실장 툴(23)이 부착되어 있다. 실장 툴(23)의 중앙에는 반도체칩(18)을 진공 흡착하는 진공 구멍이 설치되어 있다. 모터(21)에 의해 기체부(22)가 Z 방향으로 이동하면 그것에 따라 실장 툴(23)도 Z 방향으로 이동한다. 또한, 2개의 실장 노즐(26)의 피치(P1)는 나중에 설명하는 전자 부품 핸들링 유닛(30)에 탑재되어 있는 2개의 픽업 노즐(42)의 피치(P2)와 동일하다.
실장 헤드(20)는 XY 방향으로 이동 가능하지만, 이하의 설명에서는, 실장 헤드(20)가 Y 방향으로 이동할 때, 실장 툴(23)의 중심은 도 1에 도시하는 1점 쇄선(48)의 위를 Y 방향으로 이동하는 것으로 하여 설명한다.
웨이퍼 홀더(50)는 다이싱 된 웨이퍼(51)를 유지하는 둥근 고리 형상의 부재이다. 도 1에 도시하는 바와 같이, 웨이퍼 홀더(50)는 도시하지 않은 Y 방향 구동 모터에 의해 Y 방향으로 이동한다. 또한 웨이퍼 홀더(50)의 하측에는, 웨이퍼(51)의 반도체칩(18)을 상방향으로 쳐올리는 쳐올림 유닛(55)이 배치되어 있다. 쳐올림 유닛(55)은 도시하지 않은 X 방향 구동 모터에 의해 X 방향으로 이동한다.
도 3, 4에 도시하는 바와 같이, 전자 부품 핸들링 유닛(30)은 가대(11)의 X 방향으로 뻗는 홈(19)에 고정된 가이드 레일(38)과, 가이드 레일(38)에 가이드 되어 X 방향으로 이동하는 슬라이더(37)와, 슬라이더(37)에 고정되어 슬라이더(37)와 함께 X 방향으로 이동하는 본체(31)와, 본체(31)에 부착되는 회전축(32)과, 회전축(32)에 부착되고, 회전축(32)의 중심선(35)으로부터 Z 방향 비스듬히 하향의 방향으로 뻗는 부착 암(33)과, 부착 암(33)의 선단에 볼트(34)로 고정되는 플립 헤드(40)와, 회전축(32)을 회전시켜 플립 헤드(40)를 반전시키는 반전 구동 기구인 스테핑 모터(36)를 구비하고 있다. 가이드 레일(38)에는 고정자가 배치되고 슬라이더(37)는 가동자가 배치되어 있으므로, 가이드 레일(38)과 슬라이더(37)는 본체(31)를 X 방향으로 구동하는 직선 구동 기구인 X 방향 리니어 모터(39)를 구성한다.
도 4에 도시하는 바와 같이, 플립 헤드(40)는 베이스(41)와, 베이스(41)의 Z 방향의 하면(41b)에 부착되는 2개의 픽업 노즐(42)을 포함하고 있다. 베이스(41)는 부착 암(33)의 선단에 볼트(34)로 고정되는 판 형상 부재이며, 2개의 픽업 노즐(42)은 플립 헤드(40)의 Z 방향의 중심선(49)에 대하여 X 방향으로 직선 형상으로 피치(P2)로 나열되도록 베이스(41)의 하면(41b)에 고정되어 있다. 또한, 도 3, 4에 있어서, 실선으로 나타내는 플립 헤드(40)는 픽업 노즐(42)이 하향인 경우(베이스(41)의 상면(41a)이 보이는 상태)를 나타내고, 1점 쇄선으로 나타내는 플립 헤드(40)는 플립 헤드(40)가 반전하여 하면(41b)이 Z 방향을 향하게 되고 픽업 노즐(42)도 상향으로 된 경우를 나타낸다. 도 3에 있어서, 1점 쇄선(47)은 픽업 노즐(42)이 하향인 경우의 2개의 픽업 노즐(42)의 배열 방향을 나타내고 있다. 도 3에 도시하는 바와 같이, 픽업 노즐(42)의 배열 방향(1점 쇄선(47)이 뻗는 방향)은 회전축(32)의 중심선(35)(회전축(32)이 뻗는 방향)으로부터 X축 방향을 향하여 45° 경사져 있다. 본체(31)가 X 방향 리니어 모터(39)에 의해 X 방향으로 이동하면, 2개의 픽업 노즐(42)은 1점 쇄선(47)의 위를 X 방향으로 이동한다. 또한 1점 쇄선(47)이 뻗는 방향은 X 방향이며, 본체(31)는 X 방향으로 이동하기 때문에, 회전축(32)이 자라는 방향은 본체(31)의 이동 방향에 대해서도 45° 경사져 있다.
도 2, 4에 도시하는 바와 같이, 부착 암(33)은 회전축(32)의 중심선(35)으로부터 Z 방향 비스듬히 하향 방향으로 연장되고, 그 선단에 베이스(41)가 볼트(34)로 고정되어 있으므로, 픽업 노즐(42)이 하향인 경우에, 베이스(41)의 상면(41a)은 회전축(32)의 중심(중심선(35))으로부터 높이(H1)만큼 낮은 위치로 되어 있다.
도 4에 도시하는 바와 같이, 픽업 노즐(42)은 원기둥 형상이며 중심에 길이 방향으로 뻗는 구멍이 설치된 케이싱(43)과, 케이싱(43)에 설치된 구멍 속을 길이 방향으로 이동하는 픽업 툴(44)을 구비하고 있다. 케이싱(43) 속에는 전자 코일(45)이 구비되어 있고, 전자 코일(45)에 통전함으로써 픽업 툴(44)을 케이싱(43)의 끝면으로부터의 내보내는 양을 변경할 수 있다. 또한 픽업 툴(44)은 중심에 진공 구멍이 설치되어 있고, 선단면에 반도체칩(18)을 진공 흡착할 수 있다.
도 3, 4에 실선으로 나타내는 바와 같이, 픽업 툴(44)이 하방향의 상태로부터, 스테핑 모터(36)에 의해 회전축(32)을 180° 회전시키면 회전축(32)에 접속된 베이스(41)가 회전축(32)의 둘레로 180° 회전하여 상면(41a)이 Z 방향 하측이 되고, 하면(41b)이 Z 방향 상측이 되도록 반전한다. 이것에 의해, 도 3, 4에 1점 쇄선으로 나타내는 바와 같이 픽업 툴(44)도 Z 방향 상측을 향한 상태가 된다. 베이스(41)가 반전하면, 앞에 설명한 것과는 반대로, 픽업 노즐(42)의 배열 방향은 회전축(32)의 중심선(35)(회전축(32)이 뻗는 방향)으로부터 Y축 방향을 향하여 45° 경사진 방향의 1점 쇄선(48)으로 나타내는 방향이 된다. 이와 같이, 회전축(32)이 180° 회전하여 베이스(41)가 반전하면, 픽업 툴(44)의 배열 방향은 X 방향으로부터 Y 방향으로 90° 회전한다. 또한 도 2, 4에 도시하는 바와 같이, 베이스(41)가 반전하면, 부착 암(33)이 고정되어 있는 베이스(41)의 상면(41a)은 회전축(32)의 중심선(35)보다도 높이(H1)만큼 높은 위치가 된다. 이 때문에, 도 2에 도시하는 바와 같이, 플립 헤드(40)를 반전시켰을 때 픽업 툴(44)과 실장 툴(23)과의 거리가 짧아져, 나중에 설명하는 반도체칩(18)을 픽업 툴(44)로부터 실장 툴(23)에 주고받을 때의 픽업 툴(44)의 내보내는 양이 적어도 된다.
이상과 같이 구성된 플립 칩 본딩 장치(100)의 모터(21), 스테핑 모터(36), X 방향 구동 모터, Y 방향 구동 모터 등은 모두 제어부(60)에 의해 제어된다. 제어부(60)는 내부에 연산 처리를 행하는 CPU와 동작 프로그램이나 동작 데이터를 기억하는 기억부를 포함하는 컴퓨터이다. 이하, 도 5 내지 도 7을 참조하여 플립 칩 본딩 장치(100)의 동작에 대해 설명한다.
제어부(60)는, 도 3, 4에 실선으로 나타내는 바와 같이, 픽업 툴(44)이 하향의 상태에서 X 방향 리니어 모터(39)에 의해 픽업 툴(44)을 웨이퍼 홀더(50)의 위까지 이동시킨다. 그리고, 제어부(60)는, 도 5(a)에 도시하는 바와 같이, 일방의 픽업 노즐(42)의 중심 위치가 픽업하려고 하는 반도체칩(18)의 바로 위가 되도록 위치 조정한다. 또한 제어부(60)는 쳐올림 유닛(55)의 위치가 픽업하려고 하는 반도체칩(18)의 바로 아래가 되도록 위치 조정한다.
다음에 제어부(60)는 픽업 노즐(42)의 전자 코일(45)에 통전하여 픽업 툴(44)의 선단면을 하방향으로 내보냄과 동시에 쳐올림 유닛(55)에 의해 반도체칩(18)을 다이싱 시트(52)의 아래로부터 쳐올린다. 또한 제어부(60)는 도시하지 않은 진공 장치와 픽업 툴(44)을 접속하여, 픽업 툴(44)의 진공 구멍을 진공으로 한다. 그러면, 쳐올림 유닛(55)에 의해 쳐올려져 픽업 툴(44)의 선단면에 접한 반도체칩(18)은 픽업 툴(44)의 선단면에 접하고, 픽업 툴(44)의 선단면에 진공 흡착된다. 제어부(60)는, 픽업 툴(44)에 의해 반도체칩(18)을 픽업하면, 전자 코일(45)의 통전 전류를 제어하여, 도 5(b)에 도시하는 바와 같이, 반도체칩(18)이 케이싱(43)의 끝면 근방이 될 때까지 픽업 툴(44)의 선단면을 끌어들인다.
다음에 제어부(60)는, 도 5(b)에 도시하는 바와 같이, 도 3에 도시하는 X 방향 리니어 모터(39)를 구동하여 플립 헤드(40)를 X 방향으로 이동시키고, 또 하나의 픽업 툴(44)의 위치가 다음에 픽업하는 반도체칩(18)의 바로 위가 되고, 쳐올림 유닛(55)의 위치가 다음에 픽업하려고 하는 반도체칩(18)의 바로 아래가 되도록 위치 조정한다. 그리고, 제어부(60)는 앞의 동작과 같이 픽업 노즐(42)의 전자 코일(45)에 통전하여 픽업 툴(44)을 하방향으로 돌출시킴과 동시에 쳐올림 유닛(55)에 의해 반도체칩(18)을 다이싱 시트(52) 아래로부터 쳐올리고, 픽업 툴(44)의 선단면에 다음의 반도체칩(18)을 진공 흡착한다. 제어부(60)는 픽업 툴(44)이 다음 반도체칩(18)을 픽업하면, 전자 코일(45)의 통전 전류를 제어하여, 도 5(c)에 도시하는 바와 같이, 반도체칩(18)이 케이싱(43)의 끝면 근방이 될 때까지 픽업 툴(44)의 선단면을 끌어들인다.
제어부(60)는, 2개의 픽업 노즐(42)로 2개의 반도체칩(18)을 픽업하면, 도 3에 도시하는 X 방향 리니어 모터(39)에 의해 전자 부품 핸들링 유닛(30)을 X 방향으로 이동시킨다. 이것에 따라, 도 5(c), 도 6(a)에 도시하는 바와 같이, 반도체칩(18)을 진공 흡착한 2개의 픽업 노즐(42)도 X 방향으로 이동한다. 이때, 플립 헤드(40)의 2개의 픽업 노즐(42)은 도 3을 참조하여 설명한 바와 같이 1점 쇄선(47)의 위를 X 방향으로 이동해 간다.
제어부(60)는, 플립 헤드(40)를 반전 위치까지 이동시키면, 앞에 설명한 바와 같이, 도 3, 4에 도시하는 스테핑 모터(36)에 의해 회전축(32)을 180° 회전시켜, 플립 헤드(40)를 반전시킨다. 그러면, 앞에, 도 3, 4를 참조하여 설명한 바와 같이, 베이스(41)가 반전하여 2개의 픽업 노즐(42)이 상방향이 된다. 또한 도 6(b)에 도시하는 바와 같이, 2개의 픽업 노즐(42)의 배열 방향은 반전 전의 X 방향으로부터 90° 회전한 Y 방향으로 되어 있다. 도 6(b)의 1점 쇄선(48)은 플립 헤드(40)가 반전한 후의 2개의 픽업 노즐(42)의 배열 방향을 나타내는 선임과 아울러, 2개의 실장 툴(23)이 Y 방향으로 이동할 때에 그 중심이 Y 방향으로 이동하는 선이기도 하다.
도 7(a)에 도시하는 바와 같이, 플립 헤드(40)가 반전한 상태에서는, 픽업 툴(44)의 선단면은 끌어들임 상태이며, 반도체칩(18)은 픽업 툴(44)의 선단면에 진공 흡착되어 있다.
도 2에 파선으로 나타내는 바와 같이, 플립 헤드(40)를 반전시키면, 제어부(60)는, 도 2에 도시하는 바와 같이, Y 방향 구동 모터를 동작시켜 실장 헤드(20)를 반전한 플립 헤드(40)의 바로 위로 이동시킨다. 이때, 2개의 실장 툴(23)의 중심은 도 1, 6에 나타내는 1점 쇄선(48)을 따라 Y 방향으로 이동한다. 앞에 설명한 바와 같이, 2개의 실장 노즐(26)의 피치(P1)는 2개의 픽업 노즐(42)의 피치(P2)와 동일하기 때문에, 실장 헤드(20)가 반전한 픽업 노즐(42)의 바로 위에 오면, 도 2에 도시하는 바와 같이, 2개의 실장 툴(23)의 각 중심 위치와 2개 픽업 툴(44)의 각 중심 위치는 각각 일치한다.
제어부(60)는, 도 7(b)에 도시하는 바와 같이, 각 픽업 노즐(42)의 각 전자 코일(45)에 통전하여 픽업 툴(44)의 선단면을 내보낸다. 이것에 의해 픽업 툴(44)의 선단면에 흡착된 반도체칩(18)은 실장 툴(23)의 표면에 근접한다. 그리고, 제어부(60)는 각 픽업 툴(44)의 진공 흡인 구멍의 진공을 해제하여, 각 실장 툴(23)의 진공 구멍을 진공으로 한다. 그러면, 반도체칩(18)은 각 픽업 툴(44)의 선단면으로부터 떨어져 각 실장 툴(23)의 표면에 진공 흡착된다. 이렇게 하여, 2개의 픽업 툴(44)로부터 2개의 실장 툴(23)에 반도체칩(18)이 주고받아진다.
제어부(60)는 2개의 픽업 툴(44)로부터 2개의 실장 툴(23)에 반도체칩(18)을 주고받으면 픽업 노즐(42)의 전자 코일(45)의 전류를 조정하여 픽업 툴(44)의 선단면을 원래의 상태까지 끌어들이고, 스테핑 모터(36)를 반전시와는 역방향으로 180° 회전시켜 플립 헤드(40)를 픽업 노즐(42)이 하방향을 향한 원래의 상태(반전하지 않은 상태)로 되돌린다.
또한 제어부(60)는 2개의 실장 툴(23)이 반도체칩(18)을 수취하면, 도 7(c)에 도시하는 바와 같이, 도시하지 않은 Y 방향 구동 모터에 의해 실장 헤드(20)를 회로 기판(17)의 위까지 이동한다. 그리고, 실장 노즐(26)의 펄스 히터(25)에 의해 실장 툴(23)에 진공 흡착되어 있는 반도체칩(18)을 가열하고, 모터(21)를 회전시켜 기체부(22)와 함께 실장 툴(23)을 회로 기판(17)의 위에 강하시키고, 실장 툴(23)에 의해 반도체칩(18)을 회로 기판(17)의 위에 열 압착한다. 반도체칩(18)의 열 압착은 1개씩 차례로 행해도 되고, 2개의 반도체칩(18)을 동시에 회로 기판(17)에 열 압착해도 된다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛(30)은 복수의 픽업 노즐(42)을 회전축(32)이 뻗는 방향에 대하여 45° 경사지도록 배열하고 있으므로, 회전축(32)을 180° 회전시킴으로써 픽업한 반도체칩(18)의 반전과 반도체칩(18)의 배열 방향의 90°의 변경을 동시에 행할 수 있다. 이 때문에, 본 실시형태의 전자 부품 핸들링 유닛(30)을 사용함으로써, 간편한 구조로 플립 칩 본딩 장치(100)의 실장 툴(23)의 배열 방향과 픽업 노즐(42)의 배열 방향을 90° 옮겨서 설치 면적이 적은 플립 칩 본딩 장치(100)로 할 수 있다.
이상에서 설명한 실시형태에서는, 플립 헤드(40)에는 각각 2개의 픽업 노즐(42)을 부착하는 것으로서 설명했지만, 직선 형상으로 배열되어 있으면, 플립 헤드(40)에 3개 이상의 픽업 노즐(42)을 부착하는 것으로 해도 된다. 또한 마찬가지로 실장 헤드(20)에 배치되는 실장 노즐(26)도 병렬로 배치되어 있으면, 2개가 아니라 3개 이상으로 해도 된다. 또한 픽업 노즐(42)의 배열수를 실장 노즐(26)의 배열수보다도 많게 해도 된다.
또한, 본 발명은 이상에서 설명한 실시형태에 한정되는 것은 아니고, 청구범위에 의해 규정되어 있는 본 발명의 기술적 범위 또는 본질로부터 일탈하지 않는 모든 변경 및 수정을 포함하는 것이다.
11 가대, 12 가이드 레일, 13 갠트리 프레임, 14 슬라이더, 15 실장 스테이지, 16 반송 레일, 17, 912 회로 기판, 18, 910 반도체칩, 19 홈, 20 실장 헤드, 21 모터, 22 기체부, 23 실장 툴, 24 볼 나사, 25 펄스 히터, 26 실장 노즐, 30 전자 부품 핸들링 유닛, 31 본체, 32 회전축, 33 부착 암, 34 볼트, 35, 49 중심선, 36 스테핑 모터, 37 슬라이더, 38 가이드 레일, 39 X 방향 리니어 모터, 40 플립 헤드, 41 베이스, 42 픽업 노즐, 43 케이싱, 44, 905 픽업 툴, 45 전자 코일, 47, 48 1점 쇄선, 50 웨이퍼 홀더, 51, 911 웨이퍼, 52 다이싱 시트, 55, 909 쳐올림 유닛, 60 제어부, 100, 900, 950 플립 칩 본딩 장치, 901 칩 공급부, 902 픽업부, 902a 픽업 헤드, 903, 953 반전 기구, 904 본딩부, 904a 본딩 헤드, 906 본딩 툴, 907 Y 방향 구동 기구, 908 카메라, 915 반송부, 953a 반전부, 953b 회전부, 957 X 방향 구동 기구.

Claims (2)

  1. 전자 부품 핸들링 유닛으로서,
    본체와,
    상기 본체에 부착된 회전축과,
    상기 회전축에 부착되고, 반도체 다이를 흡착하여 유지하는 복수의 픽업 노즐이 직선 형상으로 배치된 플립 헤드를 구비하고,
    상기 복수의 픽업 노즐의 배열 방향이 상기 회전축이 뻗는 방향에 대하여 45° 경사져 있는 것
    을 특징으로 하는 전자 부품 핸들링 유닛.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 본체를 직선 방향으로 이동시키는 직선 구동 기구를 구비하고,
    상기 회전축은 상기 회전축이 뻗는 방향이 상기 본체의 이동 방향에 대하여 45° 경사지도록 상기 본체에 부착되어 있는 것을 특징으로 하는 전자 부품 핸들링 유닛.
KR1020187022087A 2016-01-06 2016-11-29 전자 부품 핸들링 유닛 KR102079082B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016001043 2016-01-06
JPJP-P-2016-001043 2016-01-06
PCT/JP2016/085287 WO2017119216A1 (ja) 2016-01-06 2016-11-29 電子部品ハンドリングユニット

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180100363A KR20180100363A (ko) 2018-09-10
KR102079082B1 true KR102079082B1 (ko) 2020-02-19

Family

ID=59274170

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020187022087A KR102079082B1 (ko) 2016-01-06 2016-11-29 전자 부품 핸들링 유닛

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10497590B2 (ko)
JP (1) JP6513226B2 (ko)
KR (1) KR102079082B1 (ko)
CN (1) CN108701620B (ko)
TW (1) TWI632626B (ko)
WO (1) WO2017119216A1 (ko)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7072264B2 (ja) * 2017-08-28 2022-05-20 株式会社新川 対象物に対して移動体を直線移動させる装置および方法
KR102398966B1 (ko) * 2017-08-28 2022-05-19 가부시키가이샤 신가와 대상물에 대하여 제1 이동체 및 제2 이동체를 직선 이동시키는 장치 및 방법
TWI734434B (zh) * 2019-04-11 2021-07-21 日商新川股份有限公司 接合裝置
TWI744850B (zh) 2019-04-15 2021-11-01 日商新川股份有限公司 封裝裝置
US20220005720A1 (en) * 2020-07-02 2022-01-06 Jian Zhang Fluxless gang die bonding arrangement
JPWO2022195693A1 (ko) * 2021-03-16 2022-09-22
CN114951879A (zh) * 2022-06-08 2022-08-30 希诺股份有限公司 一种真空保温杯低温高效抽真空密封设备及密封工艺

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5507614A (en) 1995-03-02 1996-04-16 Cybeq Systems Holder mechanism for simultaneously tilting and rotating a wafer cassette
JP2007158052A (ja) 2005-12-06 2007-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装装置及び実装エラー修復方法
JP2012023230A (ja) 2010-07-15 2012-02-02 Yamaha Motor Co Ltd 実装機
JP2015060924A (ja) 2013-09-18 2015-03-30 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ フリップチップボンダ及びボンディング方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4840862B1 (ko) 1970-11-02 1973-12-03
JPS4840862A (ko) 1971-09-23 1973-06-15
US4322198A (en) * 1980-04-16 1982-03-30 Northern Telecom Limited Coil handling device
KR920022482A (ko) * 1991-05-09 1992-12-19 가나이 쯔도무 전자부품 탑재모듈
JPH06120465A (ja) * 1992-10-06 1994-04-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装装置
JPH1167879A (ja) * 1997-08-26 1999-03-09 Matsushita Electric Works Ltd 半導体実装方法及びその装置
DE19905958C1 (de) * 1999-02-12 2000-06-21 Siemens Ag Vorrichtung zum Bestücken von Substraten mit elektrischen Bauelementen mittels mehrerer unabhängiger Handhabungsssyteme
JP3636127B2 (ja) * 2001-10-12 2005-04-06 松下電器産業株式会社 電子部品実装装置および電子部品実装方法
SG104292A1 (en) * 2002-01-07 2004-06-21 Advance Systems Automation Ltd Flip chip bonder and method therefor
US6506614B1 (en) * 2002-01-29 2003-01-14 Tyco Electronics Corporation Method of locating and placing eye point features of a semiconductor die on a substrate
JP2004103923A (ja) * 2002-09-11 2004-04-02 Tdk Corp 電子部品の実装装置および実装方法
JP3879679B2 (ja) * 2003-02-25 2007-02-14 松下電器産業株式会社 電子部品搭載装置および電子部品搭載方法
JP4672384B2 (ja) * 2004-04-27 2011-04-20 大日本印刷株式会社 Icタグ付シートの製造方法、icタグ付シートの製造装置、icタグ付シート、icチップの固定方法、icチップの固定装置、およびicタグ
JP4840862B2 (ja) 2006-08-29 2011-12-21 東レエンジニアリング株式会社 実装装置のチップ供給方法、及びその実装装置
CH698718B1 (de) * 2007-01-31 2009-10-15 Oerlikon Assembly Equipment Ag Vorrichtung für die Montage eines Flipchips auf einem Substrat.
KR20100012257A (ko) * 2008-07-28 2010-02-08 주식회사 탑 엔지니어링 칩 픽업장치
KR101308467B1 (ko) * 2009-08-04 2013-09-16 엘지디스플레이 주식회사 전자 부품 실장 장치 및 방법
DE102010054360B4 (de) * 2010-12-13 2018-09-20 Leica Biosystems Nussloch Gmbh Vorrichtung, Rackwendermodul, System und Verfahren zum Wenden von Racks
WO2015038074A1 (en) * 2013-09-13 2015-03-19 Orion Systems Integration Pte Ltd System and method for positioning a semiconductor chip with a bond head, thermal bonding system and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5507614A (en) 1995-03-02 1996-04-16 Cybeq Systems Holder mechanism for simultaneously tilting and rotating a wafer cassette
JP2007158052A (ja) 2005-12-06 2007-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電子部品実装装置及び実装エラー修復方法
JP2012023230A (ja) 2010-07-15 2012-02-02 Yamaha Motor Co Ltd 実装機
JP2015060924A (ja) 2013-09-18 2015-03-30 株式会社日立ハイテクインスツルメンツ フリップチップボンダ及びボンディング方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN108701620A (zh) 2018-10-23
WO2017119216A1 (ja) 2017-07-13
KR20180100363A (ko) 2018-09-10
CN108701620B (zh) 2021-06-29
TW201730993A (zh) 2017-09-01
JPWO2017119216A1 (ja) 2018-10-25
US20190006211A1 (en) 2019-01-03
TWI632626B (zh) 2018-08-11
US10497590B2 (en) 2019-12-03
JP6513226B2 (ja) 2019-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102079082B1 (ko) 전자 부품 핸들링 유닛
KR102059421B1 (ko) 전자 부품 실장 장치
KR101977987B1 (ko) 다이 본더 및 본딩 방법
JP4308772B2 (ja) 部品供給ヘッド装置、部品供給装置、部品実装装置、及び実装ヘッド部の移動方法
US20120210554A1 (en) Apparatus and method for picking up and mounting bare dies
JP6621771B2 (ja) 半導体製造装置および半導体装置の製造方法
KR101874856B1 (ko) 본딩 장치 및 본딩 방법
KR101082827B1 (ko) 비전카메라 일체형 픽업유닛을 구비하는 플립칩 장착 장치
JP3497078B2 (ja) ダイボンダ
JP2017183378A (ja) 電子部品の実装装置
KR20140146852A (ko) 플립칩 마운터 및 이를 이용한 마운팅 방법
JP4989384B2 (ja) 部品実装装置
KR101422401B1 (ko) 발광 소자 칩 본딩 장치
JP5078424B2 (ja) 電子部品の実装装置
JP4602838B2 (ja) 半導体チップの実装装置
JP2012248657A (ja) ダイボンダ及びボンディング方法
JP6200737B2 (ja) ダイボンダ用ディッピング機構及びフリップチップボンダ
JP6093610B2 (ja) ダイボンダ及びボンディング方法
JP5479961B2 (ja) 電子部品の実装装置及び実装方法
JP2005079193A (ja) ボンディング方法、ボンディングプログラム及びボンディング装置
JP2017195228A (ja) 部品実装装置および部品実装装置用ヘッドユニット
JP2007251208A (ja) ボンディング方法、ボンディングプログラム及びボンディング装置
JP2008034757A (ja) 部品実装装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant