KR101584967B1

KR101584967B1 - 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓

Info

Publication number: KR101584967B1
Application number: KR1020150178039A
Authority: KR
Inventors: 강경원
Original assignee: (주) 네스텍코리아
Priority date: 2015-12-14
Filing date: 2015-12-14
Publication date: 2016-01-14

Abstract

4방향 측면 접속 기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓이 제공된다. 제공된 4방향 측면 접속 기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 전자부품을 수용하는 삽입홀이 형성되고, 상기 삽입홀의 인접한 외측에 다수의 가이드홀이 마련된 본체블럭; 상기 각 가이드홀을 따라 이동 가능하게 삽입되며, 일면에 전자부품의 접속단자와 접속하는 도전성 핀이 구비되고, 서로 대칭된 어느 한 쌍의 상부에 이송가이드가 설치된 다수의 플로팅블럭; 상기 본체블럭의 상부에 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 하부에 상기 이송가이드를 안내하기 위한 가이드홈과 다수의 플로팅블럭들 중 어느 한 플로팅블럭이 연결되어 이들의 이동을 안내하는 가이드블럭; 및 상기 본체블럭과 가이드블럭 사이에 상기 이송가이드와 연동하여 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 내측에 상기 이송가이드와 연결되는 이송홀이 마련되며, 하부에 다수의 플로팅블럭들 중 나머지 한 플로팅블럭이 연결된 이송블럭을 포함하여 사용 편의성 향상 및 동작 효율성을 향상시켜 전자부품 검사에 소요되는 에너지를 절감할 수 있도록 한다.

Description

4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓{Socket For Testing Electronics Having 4-Direction Side Connect}

본 발명은 전자부품 테스트용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품 테스트용 소켓의 구조개선을 통해 사용 편의성 및 동작 효율성을 향상시킬 수 있도록 한 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓에 관한 것이다.

사회가 발전함에 따라 태블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 개발되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.

특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 사이즈가 되도록 개발하는 추세에 있다.

이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될 수 있도록 영상을 전달한다.

또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short) 테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.

이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달받기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.

도 1을 참조하면, 대한민국등록특허 제10-1464223호는 상부에 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트를 구비하며, 측면에 회전축을 구비하고, 저면에 승 하강 로드를 구비하는 고정몸체부(10); 상기 회전축에 연결되어 상기 회전축과 함께 회전하는 사이드플레이트(15); 및 상기 사이드플레이트에 승 하강 가능하게 연결되며, 상기 베이스플레이트에 대응하여 상기 카메라모듈의 상부를 가압하도록 형성되는 가압블럭을 구비하는 회전몸체부(20)를 포함하여 구성된다.

그러나 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동 소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부와 같이 수직방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용할 수 있었으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.

도 2는 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.

도 2를 참조하면, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 플로팅유닛(2)과 가이드유닛(3) 간의 캠 동작에 의해 구현된다. 즉, 상기 가이드유닛(3)이 직선 운동하면, 상기 가이드유닛(3)과 면 접촉하고 있는 플로팅유닛(2)이 동작하여 카메라 모듈에 전원 및 전기신호를 전달한다.

그러나 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 사용 중 잦은 부품 교체작업을 수행해야 하는 문제점이 있었다. 즉, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 동작과정이 부품 간의 직접적인 면 마찰에 의해 구현되었으며, 이로 인해 부품의 마모가 빠르게 진행되었기 때문이다.

또한, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 전자부품의 접속단자와의 접속을 위해 이동하는 도전성 핀의 이동거리가 일정하게 제한된다. 이에, 전자부품의 치수 변화로 인해 전자부품의 접속단자와 도전성 핀 간의 거리가 변경될 경우 사용하지 못하는 문제점이 있었다.

또한, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 일정한 개수의 접속단자를 갖는 전자부품에만 적용 가능하여 다양한 타입의 전자부품들 중 특정 일부 타입에만 제한적으로 사용해야 하는 사용상의 문제점이 있었다.

대한민국등록특허 제10-1464223호

분 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 테스트용 소켓의 구조 개선을 통해 동작과정에서 부품 간에 발생하는 마찰을 최소화하여 원활한 동작관계가 이루어질 수 있도록 한 4방향 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 다른 목적은 전자부품의 테스트를 위해 전자부품의 접속단자와의 접속을 위해 이동하는 플로팅블럭의 이동거리를 사용자의 편의에 따라 용이하게 가변조절 가능하도록 함으로써, 전자부품의 규격 변화 및 이로 인해 발생하는 접속단자와 플로팅블럭 간의 거리 변화에 빠르게 대처하여 사용할 수 있도록 한 4방향 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 전자부품에 구비된 접속단자의 위치 및 개수 변화에 대해 사용자의 간편한 기구 조작을 통해 용이하게 대처할 수 있도록 함으로써, 사용자의 사용 편의성을 향상시킬 수 있도록 한 4방향 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 하나의 동력수단을 통해 전달되는 구동력에 대해 다수의 플로팅블럭들이 연동하여 동작할 수 있도록 함으로써, 동작 효율성 향상 및 이를 통해 검사과정에서 발생하는 에너지를 절감할 수 있도록 한 4방향 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

상기한 과제해결을 위한 본 발명은 전자부품을 수용하는 삽입홀이 형성되고, 상기 삽입홀의 인접한 외측에 다수의 가이드홀이 마련된 본체블럭; 상기 각 가이드홀을 따라 이동 가능하게 삽입되며, 일면에 전자부품의 접속단자와 접속하는 도전성 핀이 구비되고, 서로 대칭된 어느 한 쌍의 상부에 이송가이드가 설치된 다수의 플로팅블럭;

상기 본체블럭의 상부에 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 하부에 상기 이송가이드를 안내하기 위한 가이드홈이 형성되고, 상기 가이드홈과 가이드홈 사이에 다수의 플로팅블럭들 중 어느 한 플로팅블럭이 연결된 가이드블럭; 및

상기 본체블럭과 가이드블럭 사이에 상기 이송가이드와 연동하여 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 내측에 상기 이송가이드와 연결되는 이송홀이 마련되며, 하부에 다수의 플로팅블럭들 중 나머지 한 플로팅블럭이 연결된 이송블럭을 포함한다.

본 발명에 있어서, 상기 이송가이드는 가이드홈 및 이송홀을 따라 이동하는 과정에서 마찰을 최소화할 수 있도록 베어링으로 구성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 다수의 가이드홀 중 이송가이드를 갖는 플로팅블럭이 연결된 가이드홀에는 상기 플로팅블럭의 직선이동을 안내하기 위한 가이드편이 설치될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 가이드홈은 가이드블럭의 진행방향과 직각방향으로 이송가이드를 안내할 수 있도록 사선방향으로 개구될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 이송홀은 가이드블럭의 진행방향과 반대방향으로 이송블럭을 안내할 수 있도록 사선방향으로 개구될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 본체블럭과 가이드블럭 및 본체블럭과 이송블럭 사이에는 가이드블럭과 본체블럭의 동작 구간을 안내하기 위한 가이드레일이 더 설치될 수 있다.

본 발명에 의하면, 동작과정에서 발생하는 부품 간의 마찰을 최소화하여 원활한 동작관계가 이루어지도록 한다.

또한, 전자부품의 규격 변화 및 이로 인해 발생하는 접속단자와 플로팅블럭 간의 거리 변화에 대해 빠르게 대처할 수 있도록 함은 물론, 전자부품에 구비된 접속단자의 위치 및 개수 변화에 대해 사용자의 간편한 기구 조작을 통해 용이하게 대처할 수 있도록 함으로써, 사용자의 사용 편의성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

또한, 하나의 구동수단으로 다수의 플로팅블럭들이 연동하여 동작할 수 있도록 함으로써, 동작 효율성 향상 및 이를 통해 검사과정에서 발생하는 에너지를 절감할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 플로팅블럭과 가이드블럭의 동작관계를 나타낸 평면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 플로팅블럭과 이송블럭의 동작관계를 나타낸 평면도이다.
도 7 및 도8은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓의 작동관계를 나타낸 사시도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 상세히 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이고, 도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 분해사시도이다.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓(100)은 본체블럭(110)과, 상기 본체블럭(110) 내에 연결된 다수의 플로팅블럭(120)과, 상기 본체블럭(110)의 상부에 설치된 가이드블럭(130) 및 상기 본체블럭(110)과 가이드블럭(130) 사이에 설치된 이송블럭(140)을 포함하여 구성된다.

상기 본체블럭(110)은 본 발명 테스트용 소켓(100)의 기본 틀 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 본체블럭(110)은 그 내측에 접속단자(P)가 구비된 전자부품이 삽입, 연결되는 삽입홀(111)이 마련되고, 상기 삽입홀(111)의 인접한 외측에는 상기 삽입홀(111)과 연통을 이루는 다수의 가이드홀(113)이 마련된다.

상기 다수의 가이드홀(113)은 상기 삽입홀(111)을 기준으로 전, 후, 좌, 우측 4방향에 마련되며, 상기 다수의 가이드홀(113) 중 이송가이드(123)가 설치된 플로팅블럭(120)이 연결된 가이드홀(113)의 상부에는 상기 플로팅블럭(120)의 직선이동을 안내하기 위한 가이드편(115)이 설치된다.

상기 가이드편(115)은 그 내측에 이송가이드(123)의 이동을 안내하기 위한 절개홀(117)이 마련되어 상기 이송가이드(123)의 이동경로를 안내한다.

상기 다수의 플로팅블럭(120)은 상기 전자부품과 접속하여 전자부품의 검사에 필요한 전원과 전기신호를 인가하는 구성수단이다.

상기 다수의 플로팅블럭(120)은 상기 각 가이드홀(113)을 따라 이동 가능하게 삽입되며, 일면에 전자부품의 접속단자(P)와 접속하는 도전성 핀(121)이 구비된다. 상기 다수의 플로팅블럭(120)들 중 서로 대칭된 어느 한 쌍의 플로팅블럭(120) 상부에는 공회전하는 회전체로 구성된 이송가이드(123)가 설치된다. 상기 이송가이드(123)는 동작과정에서의 마찰을 최소화할 수 있도록 베어링으로 구성될 수 있다.

본 발명의 플로팅블럭(120)은 각 가이드홀(113)에 연결하여 사용하나, 그 실시예에 따라, 전자부품의 접속단자(P)가 구비된 측에만 설치하여 사용 가능하다.

상기 가이드블럭(130)은 그 단부에 구동력을 제공하는 엑츄에이터(A)가 연결되어 접속단자(P)와 도전성 핀(121)간의 접속에 필요한 동력을 제공한다.

상기 가이드블럭(130)은 상기 본체블럭(110)의 상부에 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 하부에 가이드홈(131)이 형성되며, 상기 가이드홈(131)과 가이드홈(131) 사이에는 다수의 플로팅블럭(120)들 중 어느 한 플로팅블럭(120)이 연결된다. 이에, 상기 가이드홈(131)에는 이송가이드(123)가 삽입, 연결되어 상기 이송가이드(123)의 이동방향을 안내하며, 상기 플로팅블럭(120)은 가이드블럭(130)과 함께 슬라이딩 이동한다.

상기 가이드홈(131)은 이송가이드(123)를 가이드블럭(130)의 진행방향과 직각방향으로 안내할 수 있도록 사선방향으로 개구된다.

이에, 상기 가이드블럭(130)이 직선방향으로 슬라이딩 이동하면, 상기 이송가이드(123) 및 이송가이드(123)가 설치된 플로팅블럭(120)은 사선방향으로 개구된 가이드홈(131)을 따라 가이드블럭(130)의 진행방향과 직각 방향으로 이동한다.

상기 이송블럭(140)은 상기 이송가이드(123)로부터 동력을 전달받아 상기 이송블럭(140)에 설치된 플로팅블럭(120)의 이동에 필요한 동력을 제공한다.

상기 이송블럭(140)은 상기 본체블럭(110)과 가이드블럭(130) 사이에 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 내측에 상기 이송가이드(123)와 연결되는 이송홀(141)이 마련되며, 하부에 다수의 플로팅블럭(120)들 중 나머지 한 플로팅블럭(120)이 연결된다.

상기 이송홀(141)은 가이드블럭(130)의 진행방향과 반대방향으로 이송블럭(140)을 안내할 수 있도록 사선방향으로 개구된다.

한편, 상기 본체블럭(110)과 가이드블럭(130) 및 본체블럭(110)과 이송블럭(140) 사이에는 가이드블럭(130)과 본체블럭(110)의 동작 구간을 안내하기 위한 가이드레일(150)이 더 설치된다.

한편, 본 발명의 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓(100)은 그 구조 개선을 통해 동작과정에서 부품 간에 발생하는 마찰을 최소화하여 원활한 동작관계가 이루어질 수 있도록 하며, 전자부품의 치수 변화 및 이로 인해 발생하는 접속단자와 도전성 핀 간의 거리 변경에 빠르게 대처 가능하며, 접속단자의 개수 변화에 대해 용이하게 대처하여 사용자의 사용 편의성을 향상시킬 수 있도록 한다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓의 동작관계 및 작용효과를 상세히 설명하기로 한다.

도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 플로팅블럭과 가이드블럭의 동작관계를 나타낸 평면도이고, 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 플로팅블럭과 이송블럭의 동작관계를 나타낸 평면도이며, 도 7 및 도8은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓의 작동관계를 나타낸 사시도이다.

도 5 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓(100)의 테스트 진행단계를 살펴보면, 상기 삽입홀(111)에 전자부품을 삽입한다.

이후, 엑츄에이터(A)를 통해 상기 가이드블럭(130)에 동력이 전달되면, 상기 가이드블럭(130)은 가이드레일(150)을 따라 전자부품이 위치한 측으로 직선 이동한다. 이때, 상기 전자부품의 접속단자(P)와 접속하기 위해 이동하는 플로팅블럭들의 이동 거리는 상기 가이드블럭(130)의 직선방향 이동거리 조절을 통해 간편하게 제어 가능하다. 이에 본 발명은 전자부품의 규격변화 및 이로 인해 발생하는 접속단자와 도전성 핀 간이 거리 변화에 빠르게 대처할 수 있도록 한다.

도 5를 참조하여 상기 가이드블럭(130)과 연동하여 동작하는 플로팅블럭(120)의 동작관계를 살펴보면, 상기 가이드블럭(130)의 하부에 연결된 플로팅블럭(120)은 가이드블럭(130)과 함께 직선 이동하여 도전성 핀(121)이 상기 전자부품의 일면에 구비된 접속단자(P)에 접속한다.

또한, 상기 가이드블럭(130)의 가이드홈(131)에 연결된 이송가이드(123) 및 상기 이송가이드(123)를 갖는 플로팅블럭(120)은 사선방향으로 개구된 가이드홈(131)을 따라 상기 가이드블럭(130)의 진행방향과 직각방향으로 이동하여 도전성 핀(121)이 상기 전자부품의 양측면에 구비된 접속단자(P)에 접속하며, 전자부품에 전원 및 전기신호를 인가한다.

이후, 상기 다수의 플로팅블럭(120) 중 나머지 한 플로팅블럭(120)은 상기 이송블럭(140)과 연동하여 접속단자(P)에 접속한다.

도 6을 참조하여 상기 이송블럭(140)과 연동하여 동작하는 플로팅블럭(120)의 동작관계를 살펴보면, 상기 가이드블럭(130)의 진행방향과 직각방향으로 이동하는 이송가이드(123)는 사선방향으로 개구된 이송홀(141)에 연결된다.

이에, 상기 이송홀(141)의 외면을 따라 이동하며, 상기 이송블럭(140)을 가이드블럭(130)의 진행방향과 반대방향으로 동작하도록 한다. 이때, 상기 이송블럭(140)에 연결된 플로팅블럭(120)의 도전성 핀(121)은 상기 전자부품의 배면에 구비된 접속단자(P)에 접속하여 전자부품에 전원 및 전기신호를 인가한다.

결과적으로, 상기 가이드블럭(130)의 직선방향 이동은 상기 가이드홈(131)을 통해 이송가이드(123)에 전달되어 이송가이드(123)가 가이드블럭(130)의 진행방향에 대해 직각방향으로 이동하도록 하며, 상기 이송가이드(123)의 직각방향 이동은 상기 이송홀(141)을 통해 상기 이송블럭(140)에 전달되어 상기 이송블럭(140)이 상기 가이드블럭(130)의 진행방향에 대해 반대방향으로 이동하도록 한다.

이때, 상기 가이드블럭(130)과 이송블럭(140)은 가이드레일(150)을 따라 제한된 동작구간에서 안정적으로 이동한다.

이에, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 4방향 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 그 구조 개선을 통해 사용 편의성을 향상시킬 수 있도록 함은 물론, 하나의 동력수단을 통해 전달되는 구동력에 대해 다수의 플로팅블럭들이 연동하여 동작할 수 있도록 함으로써, 동작 효율성 향상 및 이를 통해 검사과정에서 발생하는 에너지를 절감할 수 있도록 한다.

110 : 본체블럭 111 : 삽입홀
113 : 가이드홀 115 : 가이드편
117 : 절개홀 120 : 플로팅블럭
121 : 도전성 핀 123 : 이송가이드
130 : 가이드블럭 131 : 가이드홈
140 : 이송블럭 141 : 이송홀
150 : 가이드레일 A : 엑츄에이터
P : 접속단자

Claims

전자부품을 수용하는 삽입홀이 형성되고, 상기 삽입홀의 인접한 외측에 다수의 가이드홀이 마련된 본체블럭;
상기 각 가이드홀을 따라 이동 가능하게 삽입되며, 일면에 전자부품의 접속단자와 접속하는 도전성 핀이 구비되고, 서로 대칭된 어느 한 쌍의 상부에는 이송가이드가 설치된 다수의 플로팅블럭;
상기 본체블럭의 상부에 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 하부에 상기 이송가이드를 안내하기 위한 가이드홈이 형성되고, 상기 가이드홈과 가이드홈 사이에 다수의 플로팅블럭들 중 어느 한 플로팅블럭이 연결된 가이드블럭; 및
상기 본체블럭과 가이드블럭 사이에 상기 이송가이드와 연동하여 슬라이딩 이동 가능하게 설치되며, 내측에 상기 이송가이드와 연결되는 이송홀이 마련되며, 하부에 다수의 플로팅블럭들 중 나머지 한 플로팅블럭이 연결된 이송블럭을 포함하는 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 이송가이드는 가이드홈 및 이송홀을 따라 이동하는 과정에서 마찰을 최소화할 수 있도록 베어링으로 구성됨을 특징으로 하는 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 다수의 가이드홀 중 이송가이드를 갖는 플로팅블럭이 연결된 가이드홀에는 상기 플로팅블럭의 직선이동을 안내하기 위한 가이드편이 설치됨을 특징으로 하는 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 가이드홈은 가이드블럭의 진행방향과 직각방향으로 이송가이드를 안내할 수 있도록 사선방향으로 개구됨을 특징으로 하는 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 이송홀은 가이드블럭의 진행방향과 반대방향으로 이송블럭을 안내할 수 있도록 사선방향으로 개구됨을 특징으로 하는 4방향 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
제1항에 있어서,
상기 본체블럭과 가이드블럭 및 본체블럭과 이송블럭 사이에는 가이드블럭과 본체블럭의 동작 구간을 안내하기 위한 가이드레일이 더 설치됨을 특징으로 하는 4방향 측면 접속 기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.