KR101776797B1 - 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓 - Google Patents

Abstract

정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓이 제공된다. 제공된 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓은 중앙에 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되고, 양측에 상기 안착대 측으로 절개된 진입홈이 마련되며, 상기 진입홈의 인접한 전, 후방에 가이드홈이 형성되고, 상기 가이드홈의 내측에 가이드핀이 구비된 몸체유닛; 상기 가이드핀에 가이드블록이 직선방향 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 전방에 위치한 한 쌍의 가이드블록 상부에 서로 대칭되는 경사각을 갖는 동작유도홈이 마련된 가이드유닛; 상기 몸체유닛의 상부에 구비되어 외부 동력에 의해 전, 후방향 슬라이딩 이동하며, 양측 하부에 가이드롤러가 구비된 구동유닛; 상기 가이드블록과 가이드블록 사이에 체결되어 진입홈을 따라 이동하며, 일면에 도전성 핀이 구비된 플로팅유닛; 상기 구동유닛과 연동할 수 있도록 상기 구동유닛과 몸체유닛 사이에 체결되며, 이동 방향에 따라 선택적으로 상기 전자부품을 밀착, 고정하는 선택형 고정유닛을 포함하며, 상기 가이드롤러는 상기 동작유도홈에 삽입, 연결되어 상기 구동유닛의 동작방향에 따라 상기 가이드유닛에 서로 다른 방향의 동력을 제공하여 안정된 컨택 동작을 구현 및 컨택 과정에서 전자부품의 미동을 차단하여 컨택동작을 더욱 정밀하게 구현할 수 있다.

Description

정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓{Electronic parts test center with precise side contact function}

본 발명은 전자부품테스트용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자부품테스트용 소켓의 구조 개선을 통해 전자부품과 도전성 핀 간의 안정된 컨택 동작을 구현함은 물론, 컨택 과정에서 컨택동작의 거리 제한을 통해 컨택시 발생하는 충격을 최소화하여 전자부품의 파손을 미연에 방지할 수 있도록 한 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓에 관한 것이다.

사회가 발전함에 따라 태블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 개발되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어기기에 장착된 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.

특히, 다양한 소형 멀티미디어기기들 중 스마트폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 사이즈가 되도록 개발하는 추세에 있다.

이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 이용하여 사물을 집광한 후, 광신호를 전기 신호로 변환하여 디스플레이 매체에 사물이 표시될 수 있도록 영상을 전달한다.

이러한 카메라 모듈은 조립 후 OS(Open-Short) 테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상 유, 무를 확인한다.

이와 같은 카메라 모듈 검사는 별도의 소켓에 카메라모듈을 안착시킨 후, 상기 소켓에 구비된 프로브핀을 통해 카메라모듈에 전원 및 제어신호를 인가하여 검사과정을 진행한다.

대한민국등록특허 제10-1454223호 "카메라 모듈검사용 자동 소켓"은 카메라모듈을 검사하는 소켓이다.

그러나 종래 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동 소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부와 같이 수직방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용할 수 있었으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.

대한민국등록특허 제10-1464223호

본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 전자부품(카메라모듈)에 전원 및 전기신호 입력을 위해 상기 전자부품의 측면으로 컨택 동작을 수행하는 플로팅유닛의 전,후단을 가이드유닛이 안내하도록 함으로써, 컨택을 위한 플로팅유닛의 안정된 이동을 통해 안정된 컨택 동작을 구현할 수 있도록 한 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 다른 목적은 전자부품을 별도의 위치고정틀 내에 수용 및 고정한 상태에서 도전성 핀과 컨택 동작이 이루어지도록 함으로써, 컨택 과정에서 발생하는 충격에 의한 전자부품의 미동을 근본적으로 차단하여 전자부품과 도전성 핀 간에 컨택동작을 더욱 정밀하게 구현할 수 있도록 한 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 플로팅유닛에 별도의 스토퍼를 구비하여 도전성 핀이 전자부품 측으로 슬라이딩 이동하는 거리를 제한함으로써, 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택과정에서 발생하는 충격에 의한 전자부품의 파손을 미연에 방지할 수 있도록 한 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택 과정에서 상기 전자부품을 별도의 선택형 고정유닛을 통해 상기 위치고정틀체의 개방홀 내면에 밀착, 고정함으로써, 컨택과정에서 전자부품을 더욱 견고하게 고정하여 안정된 컨택 동작이 구현될 수 있도록 한 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 전자부품을 위치고정틀체에 밀착, 고정하는 가압편의 힌지회전동작을 별도의 가이드돌기와 가이드홀에 의해 안내되는 경로에 따라 이루어지도록 함으로써, 선택형 고정유닛을 이용한 전자부품의 가압동작이 더욱 안정적으로 이루어질 수 있도록 한 전자부품테스트용 소켓을 제공한다.

상기한 과제해결을 위한 본 발명은

중앙에 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되고, 양측에 상기 안착대 측으로 절개된 진입홈이 마련되며, 상기 진입홈의 인접한 전, 후방에 가이드홈이 형성되고, 상기 가이드홈의 내측에 가이드핀이 구비된 몸체유닛;

상기 가이드핀에 가이드블록이 직선방향 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 전방에 위치한 한 쌍의 가이드블록 상부에 서로 대칭되는 경사각을 갖는 동작유도홈이 마련된 가이드유닛;

상기 몸체유닛의 상부에 구비되어 외부 동력에 의해 전, 후방향 슬라이딩 이동하며, 양측 하부에 가이드롤러가 구비된 구동유닛;

상기 가이드블록과 가이드블록 사이에 체결되어 진입홈을 따라 이동하며, 일면에 도전성 핀이 구비된 플로팅유닛;

상기 구동유닛과 연동할 수 있도록 상기 구동유닛과 몸체유닛 사이에 체결되며, 이동 방향에 따라 선택적으로 상기 전자부품을 밀착, 고정하는 선택형 고정유닛을 포함하며,

상기 가이드롤러는 상기 동작유도홈에 삽입, 연결되어 상기 구동유닛의 동작방향에 따라 상기 가이드유닛에 서로 다른 방향의 동력을 제공한다.

본 발명에 있어서, 상기 몸체유닛의 상부에는 안착대에 놓인 전자부품을 고정하기 위한 위치고정틀체를 더 구비하되,

상기 위치고정틀체는,

내측에 전자부품을 수용하기 위한 개방홀이 마련되고, 양측면에 상기 플로팅유닛의 도전성 핀이 출입하는 삽입홀이 형성되며, 전방측 상부에 절개부가 마련될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 선택형 고정유닛은,

상기 구동유닛에 체결되며, 상부에 가이드홀을 갖는 연장돌기가 돌출된 설치편;

상기 설치편의 상부에 힌지회전가능하게 연결되며, 후방에 쐐기형돌기가 마련되고, 전방에 상기 가이드홀에 삽입연결되는 가이드돌기를 갖는 가압편 및

상기 가압편에 탄성력을 제공할 수 있도록 상기 연장돌기와 가압편 사이에 개재된 탄성체를 포함하여 구성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 플로팅유닛의 타측면에는 도전성 핀이 전자부품 측으로 이동하는 거리를 제한하기 위한 스토퍼가 체결될 수 있다.

본 발명에 의하면, 플로팅유닛의 안정된 이동 및 이로 인한 전자부품과 도전성 핀 간의 안정된 컨택 동작을 구현할 수 있는 효과가 있다.

또한, 전자부품을 별도의 위치고정틀체 내에 수용 및 고정한 상태에서 도전성 핀과 컨택 동작이 이루어지도록 함으로써, 컨택 과정에서 발생하는 충격에 의한 전자부품의 미동을 근본적으로 차단하여 컨택동작을 더욱 정밀하게 구현할 수 있는 효과가 있다.

또한, 컨택 과정에서 도전성 핀이 전자부품 측으로 슬라이딩 이동하는 거리를 제한하여 컨택과정에서 발생하는 충격에 의한 전자부품의 파손을 미연에 방지할 수 있는 효과가 있다.

또한, 별도의 선택형 고정유닛을 통해 컨택과정에서 전자부품을 더욱 견고하게 고정함으로써, 안정된 컨택 동작을 구현할 수 있는 효과가 있다.

또한, 선택형 고정유닛의 동작이 별도의 가이드돌기와 가이드홀에 의해 안내되는 경로에 따라 이루어지도록 함으로써, 선택형 고정유닛을 이용한 전자부품의 가압동작이 더욱 안정적으로 이루어질 수 있는 효과가 있다.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 평면도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 요부 평단면도이다.
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓의 동작상태를 나타낸 사시도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓의 동작상태를 나타낸 요부평단면도이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓 중 선택형고정유닛의 동작상태를 나타낸 평면도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 상세히 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 분해사시도이며, 도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 평면도이고, 도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓을 나타낸 요부 평단면도이다.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓(100)은 몸체유닛(110)과, 상기 몸체유닛(110)의 상부에 구비된 가이드유닛(120)과 구동유닛(130), 상기 가이드유닛(120)에 구비된 플로팅유닛(140) 및 상기 몸체유닛(110)과 구동유닛(130) 사이에 구비된 선택형 고정유닛(150)을 포함하여 구성된다.

상기 몸체유닛(110)은, 본 발명을 이루는 구성요소들의 조립을 위한 기본 틀 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 몸체유닛(110)은, 그 중앙에 전자부품(N)이 놓이는 안착대(111)가 구비되고, 상기 안착대(111)를 기준으로 그 양측에 상기 안착대(111) 방향으로 절개된 진입홈(113)이 마련되며, 상기 각 진입홈(113)의 인접한 전, 후방에 가이드홈(115)이 형성되고, 상기 가이드홈(115)의 내측에 가이드핀(117)이 구비된다.

상기 가이드유닛(120)은 전자부품(N)과 플로팅유닛(140) 간의 컨택 동작을 안정적으로 안내하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 가이드유닛(120)은, 상기 가이드핀(117)에 가이드블록(121)이 직선방향 슬라이딩 이동가능하게 연결된다. 이에, 상기 플로팅유닛(140)은 그 전, 후단이 상기 가이드블록(121)의 안내를 받으며 컨택을 수행하기 때문에 동작의 안정성을 구현할 수 있게 된다.

상기 가이드블록(121)들 중 전방에 위치한 한 쌍의 가이드블록(121)은 그 상부에 소정의 경사각을 갖는 동작유도홈(123)이 마련된다.

여기서, 상기 한 쌍의 가이드블록(121)에 형성된 동작유도홈(123)은 서로 대칭된 형상을 갖게 된다.

한편, 상기 구동유닛(130)은 상기 몸체유닛(110)의 상부에 구비되어 외부 동력에 의해 전, 후방향 슬라이딩 이동하는 구성수단이다.

이때, 상기 구동유닛(130)은 그 양측 하부에 가이드롤러(131)가 구비된다.

여기서, 상기 가이드롤러(131)는 상기 동작유도홈(123)에 삽입, 연결되어 상기 구동유닛(130)의 동작방향에 따라 상기 전, 후방에 위치한 가이드유닛(120)에 서로 다른 방향의 동력을 제공한다.

상기 플로팅유닛(140)은 상기 안착대(111)에 놓이는 전자부품에 전기신호를 인가하는 역할을 수행한다.

상기 플로팅유닛(140)은 상기 전, 후방향으로 배치된 상기 가이드블록(121)과 가이드블록(121) 사이에 체결되어 진입홈(113)을 따라 이동하며, 일면에 상기 전자부품(N)과 컨택을 이루는 도전성 핀(141)이 구비된다.

또한, 상기 플로팅유닛(140)의 타측면에는 스토퍼(143)가 체결된다. 상기 스토퍼(143)는 플로팅유닛(140)의 동작과정에서 상기 진입홈(113)의 내면과 맞닿아 상기 도전성 핀(141)이 전자부품(N) 측으로 이동하는 거리를 제한한다.

한편, 상기 선택형 고정유닛(150)은 상기 구동유닛(130)과 연동할 수 있도록 상기 구동유닛(130)과 몸체유닛(110) 사이에 체결되며, 이동 방향에 따라 선택적으로 상기 전자부품(N)을 안착대(111)에 밀착, 고정하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 선택형 고정유닛(150)은, 설치편(155), 가압편(157) 및 탄성체(158)를 포함하여 구성된다.

상기 설치편(155)은 상기 구동유닛(130)에 체결되어 상기 구동유닛(130)과 연동하며, 상부에 연장돌기(153)가 돌출되며, 상기 연장돌기(153)의 내측에 가이드홀(151)이 마련된다.

상기 가압편(157)은 상기 설치편(155)의 상부에 힌지회전가능하게 연결되며, 후방에 쐐기형돌기(156)가 마련되고, 전방에 상기 가이드홀(151)에 삽입연결되는 가이드돌기(P)가 형성된다.

상기 탄성체(158)는 상기 가압편(157)에 탄성력을 제공할 수 있도록 상기 연장돌기(153)와 가압편(157) 사이에 개재된다.

한편, 상기 몸체유닛(110)의 상부에는 안착대(111)에 놓인 전자부품(N)을 고정하기 위한 위치고정틀체(160)가 더 구비된다.

상기 위치고정틀체(160)는, 그 내측에 전자부품(N)을 수용하기 위한 개방홀(161)이 마련되고, 양측면에 상기 플로팅유닛(140)의 도전성 핀(141)이 출입하는 삽입홀(163)이 형성되며, 전방측 상부에 절개부(165)가 마련된다.

이에, 상기 위치고정틀체(160)의 절개부(165)를 통해 선택형 고정유닛(150)의 쐐기형돌기(156)가 전자부품(N) 측으로 이동하며, 이렇게 이동한 쐐기형돌기(156)가 전자부품(N)의 외면을 가압하여 상기 전자부품(N)을 위치고정틀체(160) 내면에 밀착, 고정한다.

따라서, 전자부품(N)과 도전성 핀(141) 간의 컨택동작은 상기 전자부품(N)이 위치고정틀체(160) 내에 안전하게 장착된 상태에서 이루어짐으로써, 컨택동작의 안정성을 확보할 수 있게 된다.

상기와 같은 동작을 구현하는 본 발명의 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓은 플로팅유닛의 안정된 이동 및 이로 인한 전자부품과 도전성 핀 간에 안정된 컨택동작을 구현함은 물론, 전자부품을 별도의 위치고정틀 내에 수용 및 고정한 상태에서 도전성 핀과 컨택동작이 이루어지도록 함으로써, 컨택과정에서 발생하는 충격에 의한 전자부품의 미동을 차단하여 전자부품과 도전성 핀 간에 컨택 동작을 더욱 정밀하게 구현할 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

도 5a 및 도 5b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓의 동작상태를 나타낸 사시도이고, 도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓의 동작상태를 나타낸 요부평단면도이다.

도 5 및 도 6을 참조하면, 테스트를 위해 전자부품(N)을 안착대(111)에 놓으면, 상기 안착대(111)에 놓인 전자부품(N)은 상기 위치고정틀체(160)의 개방홀(161) 내에 위치하여 결과적으로 상기 위치고정틀체(160) 내에서 안전한 위치고정 상태가 된다.

이후, 외부 동력에 의해 상기 구동유닛(130)이 도 5a 및 도 6에 도시된 바와 같이 전방으로 슬라이딩 이동하면, 상기 구동유닛(130)의 가이드롤러(131)가 동작유도홈(123) 내에서 슬라이딩 이동함과 동시에 서로 대칭된 위치의 가이드블록(121)을 전자부품(N) 측으로 슬라이딩 이동시킨다.

이때, 상기 가이드블록(121)은 가이드홈(115)에 구비된 가이드핀(117)을 따라 동작하여 정밀하게 슬라이딩 이동동작을 구현할 수 있게 된다.

한편, 상기 가이드블록(121)이 전자부품(N) 측으로 슬라이딩 이동하면, 이와 동시에 플로팅유닛(140)이 전자부품(N) 측으로 슬라이딩 이동한다.

이때, 상기 플로팅유닛(140)은 그 전, 후단이 가이드유닛(120)의 안내에 따라 동작하여 상기 위치고정틀체(160)의 삽입홀(163)을 통해 전자부품(N)에 접근함으로써, 플로팅유닛의 안정된 이동동작 및 이로 인한 전자부품과 도전성 핀 간의 안정된 컨택 동작을 구현할 수 있도록 한다.

또한, 상기 전자부품(N) 측으로 슬라이딩 이동하는 플로팅유닛(140)은 상기 스토퍼(143)가 진입홈(113)의 내면에 닿으면서 상기 전자부품(N) 측으로 슬라이딩 이동을 멈추게 된다.

이에, 본 발명은 별도의 스토퍼(143)를 통해 상기 플로팅유닛(140)이 전자부품(N) 측으로 이동하는 거리를 제한함으로써, 전자부품과 도전성 핀 간의 컨택과정에서 도전성핀의 과도한 진입으로 인한 전자부품의 파손을 미연에 방지한다.

한편, 플로팅유닛(140)과 전자부품(N) 간의 컨택 동작시 상기 전자부품(N)은 위치고정틀체(160) 내에서 상기 선택형 고정유닛(150)에 의해 밀착, 고정된 상태가 된다.

즉, 상기 구동유닛(130)이 전방으로 슬라이딩 이동하면, 이와 동시에 상기 선택형 고정유닛(150)이 전자부품(N) 측으로 이동한다.

도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓 중 선택형고정유닛의 동작상태를 나타낸 평면도이다.

도 7을 참조하면, 상기 전자부품(N)과 도전성 핀(141)의 컨택동작이 이루어지면, 도 7b에 도시된 바와 같이 상기 선택형 고정유닛(150)의 쐐기형돌기(156)는 탄성체(158)의 탄성력을 전달받아 힌지회전하여 상기 전자부품(N)을 위치고정틀체(160) 내면에 밀착, 고정한다.

이에, 본 발명에서는 전자부품(N)과 도전성 핀(141) 간의 컨택 과정에서 상기 전자부품(N)을 별도의 선택형 고정유닛(150)을 통해 상기 위치고정틀체(160)의 개방홀(161) 내면에 밀착, 고정함으로써, 컨택과정에서 전자부품을 더욱 견고하게 고정하여 안정된 컨택동작이 구현될 수 있도록 한다.

한편, 상기 선택형 고정유닛(150)을 이용한 전자부품(N)의 밀착, 고정과정에서 상기 가압편(157)의 힌지회전동작은 별도의 가이드돌기(P)와 가이드홀(151)을 통해 안내되는 경로에 따라 이루어진다. 이에 상기 선택형 고정유닛(150)을 이용한 전자부품(N)의 가압동작은 가이드돌기(P)와 가이드홀(151)에 의해 상기 가압편(157)의 안정된 힌지회전동작을 구현하여 더욱 안정적으로 이루어질 수 있도록 한다.

이후, 전자부품(N)의 테스트가 종료되면, 상기 구동유닛(130)이 후방으로 슬라이딩 이동하며, 이와 동시에 가이드블록(121) 및 플로팅유닛(140)을 전자부품(N)이 위치한 반대방향으로 슬라이딩 이동하여 상기 플로팅유닛(140)을 전자부품(N)으로부터 이격시켜 상기 전자부품(N)을 소켓(100)으로 부터 탈거할 수 있는 상태가 되도록 한다.

이에, 본 발명은 전자부품테스트용 소켓의 구조 개선을 통해 전자부품과 도전성 핀 간의 안정된 컨택 동작을 구현, 컨택 과정에서 발생하는 충격에 의한 전자부품의 미동을 차단, 컨택과정에서 발생하는 전자부품의 파손 방지, 컨택과정에서 전자부품을 더욱 견고하게 고정 및 별도의 선택형 고정유닛을 이용한 전자부품의 가압동작이 더욱 안정적으로 이루어질 수 있도록 한다.

110 : 몸체유닛 111 : 안착대
113 : 진입홈 115 : 가이드홈
117 : 가이드핀 120 : 가이드유닛
121 : 가이드블록 123 : 동작유도홈
130 : 구동유닛 131 : 가이드롤러
140 : 플로팅유닛 141 : 도전성핀
143 : 스토퍼 150 : 선택형 고정유닛
151 : 가이드홀 153 : 연장돌기
155 : 설치편 156 : 쐐기형돌기
157 : 가압편 158 : 탄성체
160 : 위치고정틀체 161 : 개방홀
163 : 삽입홀 165 : 절개부

Claims (4)

1. 중앙에 전자부품이 놓이는 안착대가 구비되고, 양측에 상기 안착대 측으로 절개된 진입홈이 마련되며, 상기 진입홈의 인접한 전, 후방에 가이드홈이 형성되고, 상기 가이드홈의 내측에 가이드핀이 구비된 몸체유닛;
   상기 가이드핀에 가이드블록이 직선방향 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 전방에 위치한 한 쌍의 가이드블록 상부에 서로 대칭되는 경사각을 갖는 동작유도홈이 마련된 가이드유닛;
   상기 몸체유닛의 상부에 구비되어 외부 동력에 의해 전, 후방향 슬라이딩 이동하며, 양측 하부에 가이드롤러가 구비된 구동유닛;
   상기 가이드블록과 가이드블록 사이에 체결되어 진입홈을 따라 이동하며, 일면에 도전성 핀이 구비된 플로팅유닛;
   상기 구동유닛과 연동할 수 있도록 상기 구동유닛과 몸체유닛 사이에 체결되며, 이동 방향에 따라 선택적으로 상기 전자부품을 밀착, 고정하는 선택형 고정유닛을 포함하며,
   상기 가이드롤러는 상기 동작유도홈에 삽입, 연결되어 상기 구동유닛의 동작방향에 따라 상기 가이드유닛에 서로 다른 방향의 동력을 제공하는 것을 특징으로 하는 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓.
2. 제1항에 있어서,
   상기 몸체유닛의 상부에는 안착대에 놓인 전자부품을 고정하기 위한 위치고정틀체를 더 구비하되,
   상기 위치고정틀체는,
   내측에 전자부품을 수용하기 위한 개방홀이 마련되고, 양측면에 상기 플로팅유닛의 도전성 핀이 출입하는 삽입홀이 형성되며, 전방측 상부에 절개부가 마련된 것을 특징으로 하는 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓.
3. 제2항에 있어서,
   상기 선택형 고정유닛은,
   상기 구동유닛에 체결되며, 상부에 가이드홀을 갖는 연장돌기가 돌출된 설치편;
   상기 설치편의 상부에 힌지회전가능하게 연결되며, 후방에 쐐기형돌기가 마련되고, 전방에 상기 가이드홀에 삽입연결되는 가이드돌기를 갖는 가압편 및
   상기 가압편에 탄성력을 제공할 수 있도록 상기 연장돌기와 가압편 사이에 개재된 탄성체를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓.
4. 제1항에 있어서,
   상기 플로팅유닛의 타측면에는 도전성 핀이 전자부품 측으로 이동하는 거리를 제한하기 위한 스토퍼가 체결된 것을 특징으로 하는 정밀한 측면 컨택기능을 갖는 전자부품테스트용 소켓.

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