KR101581712B1 - 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 - Google Patents

Abstract

측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓이 제공된다. 제공된 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 내부에 피검사 전자부품이 삽입되는 수용홀이 형성되고, 상기 수용홀의 양측에 가이드홈이 마련되며, 상기 수용홀과 가이드홈 사이에 연결홈이 형성된 본체유닛; 상기 가이드홈을 따라 이동가능하게 연결되고, 일면에 피검사 전자부품의 단자에 연결되는 도전성 핀이 구비되며, 상부에 공회전하는 이송 가이드가 설치된 플로팅 유닛 및 상기 본체유닛에 이송블록이 직선이동가능하게 연결되고, 상기 이송블록의 상부에 가이드편이 체결되며, 상기 가이드편에 상기 이송 가이드를 안내하여 플로팅 유닛을 피검사 전자부품 측으로 이송하기 위한 이송홈이 마련된 가이드유닛이 구성되어, 검사작업의 효율성 향상 및 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한다.

Description

측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓{Socket For Testing Electronics Having Side Contact}

본 발명은 전자부품 테스트용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 테스트용 소켓의 구조개선을 통해 피검사 전자부품의 테스트 과정에서 소켓이 원활한 동작이 이루어질 수 있도록 함은 물론, 테스트 과정에서 피검사 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 접속동작이 이루어질 수 있도록 한 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓에 관한 것이다.

사회가 발전함에 따라 테블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트 폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 개발되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어 기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.

특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트 폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 사이즈가 되도록 개발하는 추세에 있다.

이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광 신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될수 있도록 영상을 전달한다.

또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.

이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달 받기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.

도 1을 참조하면, 대한민국등록특허 제10-1464223호는 상부에 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트를 구비하며, 측면에 회전축을 구비하고, 저면에 승하강 로드를 구비하는 고정몸체부(10); 상기 회전축에 연결되어 상기 회전축과 함께 회전하는 사이드플레이트(15); 및 상기 사이드플레이트에 승하강 가능하게 연결되며, 상기 베이스플레이트에 대응하여 상기 카메라모듈의 상부를 가압하도록 형성되는 가압블럭을 구비하는 회전몸체부(20);를 포함하여 구성된다.

그러나, 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동 소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부와 같이 수직방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용이 가능하였으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.

이에, 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 측면에 형성된 부품을 테스트하기 위한 테스트 소켓이 개발되었다.

도 2는 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.

도 2를 참조하면, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 플로팅유닛(2)과 가이드유닛(3) 간의 캠동작에 의해 구현된다. 즉, 상기 가이드유닛(3)이 직선운동하면, 상기 가이드유닛(3)과 면 접촉하고 있는 플로팅유닛(2)이 동작하여 카메라 모듈에 전원 및 전기신호를 전달한다.

그러나, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 사용 중 잦은 부품 교체작업을 수행해야 하는 문제점이 있는데, 동작과정에서 부품간의 직접적인 면마찰이 이루어지며, 이로 인해 부품의 마모가 빠르게 이루어지기 때문이다.

또한, 종래 테스트용 소켓은 잦은 고장이 발생하는 문제점이 있는데, 종래 동작과정에서 부품 간의 마찰로 인해 미세 부품조각이 발생하여 동작과정에서 흩날리게 되었으며, 이렇게 발생한 미세 부품 조각이 부품과 부품간의 연결부위에 누적되어 이들의 동작을 방해하였기 때문이다.

또한, 종래 테스트용 소켓은 테스트과정이 원활하게 이루어지지 못하는 문제점이 있는데, 동작과정에서 발생하는 부품의 마모로 인해 전원 및 전기신호를 전달하는 프로브 핀이 카메라 모듈의 단자에 접속되지 못하는 현상이 발생하였기 때문이다.

대한민국등록특허 제10-1464223호

본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 테스트용 소켓의 구조 개선을 통해 동작과정에서 부품간의 마찰을 최소화함으로써, 원활한 동작관계가 이루어질 수 있도록 한 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 다른 목적은 피검사 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 연결동작이 이루어질 수 있도록 함으로써, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있도록 한 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 피검사 전자부품의 검사과정에서 별도의 위치설정유닛을 통해 전자부품이 검사가 이루어지는 정위치로 이동하여 고정될 수 있도록 함으로써, 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

상기한 과제해결을 위한 본 발명은 내부에 피검사 전자부품이 삽입되는 수용홀이 형성되고, 상기 수용홀의 양측에 가이드홈이 마련되며, 상기 수용홀과 가이드홈 사이에 연결홈이 형성된 본체유닛; 상기 가이드홈을 따라 이동가능하게 연결되고, 일면에 피검사 전자부품의 단자에 연결되는 도전성 핀이 구비되며, 상부에 공회전하는 이송 가이드가 설치된 플로팅 유닛; 및 상기 본체유닛에 이송블록이 직선이동가능하게 연결되고, 상기 이송블록의 상부에 가이드편이 체결되며, 상기 가이드편에 상기 이송 가이드를 안내하여 플로팅 유닛을 피검사 전자부품 측으로 이송하기 위한 이송홈이 마련된 가이드유닛을 포함한다.

본 발명에 있어서, 상기 가이드홈에는 이를 따라 이동하는 플로팅유닛의 동작과정에서 마찰을 최소화할 수 있도록 상기 플로팅유닛의 단부 모서리와 접촉되는 베어링부재가 설치될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 베어링부재는, 가이드홈의 인접한 일측 플로팅 유닛과 맞닿는 부위에 소정깊이 매설된 다수의 제1 베어링볼; 상기 제1 베어링볼의 상부에 설치되어, 상기 제1 베어링볼의 이탈을 방지하기 위한 마감편;상기 마감편의 상부에 소정깊이 매설된 다수의 제2 베어링볼; 및 상기 제2 베어링볼의 상부에 설치되어, 상기 제2 베어링볼과 플로팅 유닛의 이탈을 방지하기 위한 결속편을 포함할 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 이송 가이드는 이송홈과의 마찰을 최소화할 수 있도록 베어링으로 구성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 이송홈은 가이드유닛의 진행방향에 대비하여 사선방향의 개구부로 형성되어, 상기 가이드유닛의 직선 운동에 대응하여 상기 플로팅 유닛에 형성된 도전성 핀이 피검사 전자부품의 단자에 연결 또는 분리되도록 형성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 가이드유닛의 이송블록과 본체유닛 사이에는 이송블록의 이동 구간을 안내하기 위한 가이드레일이 더 설치될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 가이드홈의 상부에는 플로팅유닛과 본체유닛의 연결부위가 외부로 노출을 차단하기 위한 덮개가 더 설치되며, 상기 덮개에는 절개홈이 형성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 가이드유닛의 이송블록에는 수용홀에 삽입된 피검사 전자부품을 검사가 이루어지는 위치로 이송하여 고정하기 위한 위치설정유닛이 더 구비될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 위치설정유닛은 피검사 전자부품을 가압하는 푸시로드와 상기 푸시로드에 탄성력을 제공하는 탄성스프링을 구성될 수 있다.

본 발명에 따르면, 테스트용 소켓의 구조개선을 통해 동작과정에서 부품들 간의 마찰을 최소화하여 원활한 동작관계가 이루이질 수 있는 효과가 있다.

또한, 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 연결동작이 이루어질 수 있도록 함으로써, 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 요부 분해사시도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 측면도이다.
도 6a 및 도6b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 플롯팅 유닛의 동작관계를 나타낸 평면도이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 위치설정유닛의 동작관계를 나타낸 저면도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 상세히 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이고, 도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 요부 분해사시도이며, 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 측면도이다.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓(100)은 본체유닛(110)과, 상기 본체유닛(110)에 슬라이딩 이동가능하게 연결된 플로팅유닛(120) 및 상기 본체유닛(110)의 상부에 설치된 가이드유닛(130)을 포함하여 구성된다.

본체유닛(110)은 본 발명의 기본 틀 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 본체유닛(110)은 내부에 수용홀(111)이 형성되고, 상기 수용홀(111)의 양측에 가이드홈(112)이 마련되며, 상기 수용홀(111)과 가이드홈(112) 사이에 이들이 서로 연통되도록 연결하기 위한 연결홈(113)이 형성된다.

상기 수용홀(111)에는 피검사 전자부품(P)이 위치한다.

상기 가이드홈(112)에는 상기 가이드홈(112)을 따라 이동하는 플로팅유닛(120)의 동작과정에서 가이드홈(112)과 플로팅유닛(120) 간에 발생하는 마찰을 최소화할 수 있도록 상기 플로팅유닛(120)의 단부 모서리와 접촉되는 베어링부재(115)가 설치된다.

베어링부재(115)는 가이드홈(112)의 인접한 일측 플로팅유닛(120)과 맞닿는 부위에 다수의 제1 베어링볼(116)이 소정깊이 매설되고, 상기 제1 베어링볼(116)의 상부에 상기 제1 베어링볼(116)이 이탈되지 않도록 하기 위한 마감편(117)이 설치되며, 상기 마감편(117)의 상부에 다수의 제2 베어링볼(118)이 소정깊이 매설되고, 상기 제2 베어링볼(118)의 상부에 제2 베어링볼(118)과 플로팅유닛(120)의 이탈을 방지하기 위한 결속편(119)이 설치된다.

상기 플로팅유닛(120)은 가이드홈(112)을 따라 이동하는 과정에서 그 양단 모서리가 상기 제1 베어링볼(117) 및 제2 베어링볼(118)에 맞닿아 이동하게 된다.

상기 플로팅유닛(120)은 피검사 전자부품(P)의 검사과정에서 상기 피검사 전자부품(P)과 접속하여 검사에 필요한 전원과 전기신호를 전달하는 역할을 수행하는 구성수단이다.

플로팅유닛(120)은 상기 가이드홈(112)을 따라 이동가능하게 연결되고, 일면에 피검사 전자부품(P)의 단자(L)에 연결되는 도전성 핀(121)이 구비되며, 상부에 공회전하는 회전체로 구성된 이송 가이드(123)가 설치된다. 상기 이송 가이드(123)는 동작과정에서의 마찰을 더욱 최소화할 수 있도록 베어링으로 구성될 수 있다.

상기 가이드유닛(130)은 플로팅유닛(120)의 동작을 안내하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.

가이드유닛(130)은 상기 본체유닛(110)에 이송블록(131)이 직선이동가능하게 연결되고, 상기 이송블록(131)의 상부에 가이드편(133)이 체결되며, 상기 가이드편(133)의 하부에 이송홈(135)이 마련된다.

상기 이송홈(135)에는 상기 플로팅 유닛(120)의 이송 가이드(123)가 삽입되어, 상기 가이드유닛(130)의 진행방향에 따라 플로팅유닛(120)의 도전성 핀(121)을 피검사 전자부품(P)의 단자(L)에 연결 또는 분리한다. 또한, 상기 가이드유닛(130)의 직선이동은 별도의 실린더를 통해 전달된 동력에 의해 구현된다.

따라서, 가이드유닛(130)이 본체유닛(110)의 상부에 위치하도록 이동하면, 상기 플로팅유닛(120)은 피검사 전자부품(P) 측으로 이송하여 피검사 전자부품(P)과 도전성 핀(121)이 연결되며, 가이드유닛(130)이 상기 본체유닛(110)의 외측으로 위치이동하면, 상기 플로팅유닛(120)은 피검사 전자부품(P)의 반대방향으로 이송하여 이송하여 피검사 전자부품(P)과 도전성 핀(121)이 분리된다.

한편, 본체유닛(110)과 가이드유닛(130)의 이송블록(131) 사이에는 상기 가이드유닛(130)이 일정한 이동 구간 내에서 이동할 수 있도록 가이드유닛(130)을 안내하는 가이드레일(140)이 설치된다.

또한, 가이드홈(112)의 상부에는 플로팅유닛(120)과 본체유닛(110)의 연결부위가 외부로 노출을 차단하기 위한 덮개(150)가 더 설치되며, 상기 덮개(150)에는 절개홈(151)이 형성된다.

상기 덮개(150)는 플로팅유닛(120)의 동작과정에서 발생하는 미세 부품조각이 날리는 것을 미연에 방지한다.

한편, 가이드유닛(130)의 이송블록(131)에는 위치설정유닛(160)이 구비된다.

상기 위치설정유닛(160)은 수용홀(111)에 삽입된 피검사 전자부품(P)을 검사가 이루어지는 위치로 이송하여 고정하기 위한 역할을 수행한다.

위치설정유닛(160)은 피검사 전자부품(P)의 모서리를 가압할 수 있도록 상기 이송블록(131)에 푸시로드(162)가 설치되고, 상기 푸시로드(162)의 단부에는 상기 푸시로드(162)를 피검사 전자부품(P) 측으로 가압하기 위한 탄성력을 제공하는 탄성스프링(164)이 마련된다.

본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 그 구조개선을 통해 피검사 전자부품의 테스트 과정에서 소켓이 원활한 동작이 이루어질 수 있도록 함은 물론, 테스트 과정에서 피검사 전자부품과 도전성 핀 간에 정확한 접속동작이 이루어질 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

도 6a 및 도 6b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 플롯팅 유닛의 동작관계를 나타낸 평면도이고, 도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓 중 위치설정유닛의 동작관계를 나타낸 저면도이다.

도 6 내지 도 7을 참조하면, 먼저 본 발명의 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓(100)은 피검사 전자부품(P)의 테스트 진행 단계와 테스트 후 단계로 구분되며, 이렇게 구분된 단계의 연속반복 동작을 통해 피검사 전자부품(P)의 테스트가 진행된다.

피검사 전자부품(P)의 테스트 진행 단계를 살펴보면, 수용홀(111)에 피검사 전자부품(P)을 삽입한다.

이후, 상기 가이드유닛(130)이 가이드레일(140)을 따라 본체유닛(110) 측으로 슬라이딩 이동하면, 상기 플로팅유닛(120)은 이송홈(135)을 따라 이동하는 이송 가이드(123)에 의해 피검사 전자부품(P) 측으로 이동하며, 상기 위치설정유닛(160)의 푸시로드(162)는 피검사 전자부품(P)의 모서리를 가압하여 상기 피검사 전자부품(P)을 검사가 이루어지는 위치로 이송한 후 그 위치에서 고정한다.(도 6b 참조)

이후, 상기 피검사 전자부품(P) 측으로 이동한 플로팅유닛(120)의 도전성 핀(121)은 피검사 전자부품(P)의 단자(L)에 연결되어 피검사 전자부품(P)에 전원 및 전기신호를 전달하여 전자부품(P)의 검사작업을 수행한다.

이때, 가이드홈(112)을 따라 이동하는 플로팅유닛(120)은 그 양단 모서리가 제1 베어링볼(117)과 제2 베어링볼(118)에 맞닿은 상태에서 이동함으로써, 동작과정에서 발생하는 마찰을 최소화할 수 있게 된다.

또한, 플로팅유닛(120)의 동작과정에서 발생한 미세 부품조각은 덮개(150)를 통해 외부 방출이 차단된다.

한편, 피검사 전자부품(P)의 테스트 진행 후 단계를 살펴보면, 상기 가이드유닛(130)이 가이드레일(140)을 따라 본체유닛(110)의 반대방향으로 슬라이딩 이동하면, 상기 플로팅유닛(120)은 이송홈(135)을 따라 이동하는 이송 가이드(123)에 의해 피검사 전자부품(P)의 반대측으로 이동하며, 이와 동시에 위치설정유닛(160)의 푸시로드(162)는 피검사 전자부품(P)을 가압하는 힘을 해제하여 피검사 전자부품(P)을 본체유닛(110)에서 탈거할 수 있도록 한다. (도 6a 참조)

이후, 상기 피검사 전자부품(P)의 반대측으로 이동한 플로팅유닛(120)의 도전성 핀(121)은 피검사 전자부품(P)의 단자(L)에서 분리된다.

이에, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 그 구조 개선을 통해 동작과정에서 발생하는 마찰을 최소화하여 검사작업의 효율성 향상 및 정확한 검사동작이 이루어질 수 있도록 한다.

100 : 테스트소켓 110 : 본체유닛 112 : 가이드홈
115 : 베어링부재 120 : 플로팅유닛 121 : 도전성 핀
123 : 이송 가이드 130 : 가이드유닛 133 : 가이드편
135 : 이송홈 140 : 가이드레일 150 : 덮개
160 : 위치설정유닛 162 : 푸시로드 164 : 탄성스프링
P : 전자부품 L : 단자

Claims (9)

1. 내부에 피검사 전자부품이 삽입되는 수용홀이 형성되고, 상기 수용홀의 양측에 가이드홈이 마련되어 있는 본체유닛;
   상기 가이드홈을 따라 이동가능하게 연결되고, 일면에 피검사 전자부품의 단자에 연결되는 도전성 핀이 구비되며, 상부에 이송 가이드가 설치된 플로팅 유닛; 및
   상기 본체유닛에 이송블록이 직선이동가능하게 연결되고, 상기 이송블록의 상부에 가이드편이 체결되며, 상기 가이드편에 상기 이송 가이드를 안내하여 플로팅 유닛을 피검사 전자부품 측으로 이송하기 위한 이송홈이 마련된 가이드유닛을 포함하는 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
2. 제1항에 있어서,
   상기 가이드홈에는 이를 따라 이동하는 플로팅유닛의 동작과정에서 마찰을 최소화할 수 있도록 상기 플로팅유닛의 단부 모서리와 접촉되는 베어링부재가 설치됨을 특징으로 하는 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
3. 제2항에 있어서,
   상기 베어링부재는,
   상기 가이드홈의 인접한 일측 플로팅 유닛과 맞닿는 부위에 소정깊이 매설된 다수의 제1 베어링볼;
   상기 제1 베어링볼의 상부에 설치되어, 상기 제1 베어링볼의 이탈을 방지하기 위한 마감편;
   상기 마감편의 상부에 소정깊이 매설된 다수의 제2 베어링볼; 및
   상기 제2 베어링볼의 상부에 설치되어, 상기 제2 베어링볼과 플로팅 유닛의 이탈을 방지하기 위한 결속편을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
4. 제1항에 있어서,
   상기 이송 가이드는 상기 이송홈과의 마찰을 최소화할 수 있도록 베어링으로 구성됨을 특징으로 하는 측면 접촉기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
5. 제1항에 있어서,
   상기 이송홈은 가이드유닛의 진행방향에 대비하여 사선방향의 개구부로 형성되어, 상기 가이드유닛의 직선 운동에 대응하여 상기 플로팅 유닛에 형성된 도전성 핀이 피검사 전자부품의 단자에 연결 또는 분리되도록 형성됨을 특징으로 하는 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
6. 제1항에 있어서,
   상기 가이드유닛의 이송블록과 본체유닛 사이에는 이송블록의 이동 구간을 안내하기 위한 가이드레일이 더 설치됨을 특징으로 하는 측면 접촉기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
7. 제1항에 있어서,
   상기 가이드홈의 상부에는 플로팅유닛과 본체유닛의 연결부위가 외부로 노출을 차단하기 위한 덮개가 더 설치되며, 상기 덮개에는 절개홈이 형성됨을 특징으로 하는 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
8. 제1항에 있어서,
   상기 가이드유닛의 이송블록에는 수용홀에 삽입된 피검사 전자부품을 검사가 이루어지는 위치로 이송하여 고정하기 위한 위치설정유닛이 더 구비됨을 특징으로 하는 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.
9. 제8항에 있어서,
   상기 위치설정유닛은 피검사 전자부품을 가압하는 푸시로드와 상기 푸시로드에 탄성력을 제공하는 탄성스프링을 구성됨을 특징으로 하는 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓.

Images