KR101584970B1 - 전자부품 테스트용 소켓 - Google Patents

Abstract

전자부품 테스트용 소켓이 제공된다. 제공된 전자부품 테스트용 소켓은 피검사 전자부품이 연결되는 안착홀의 인접한 전,후에 가이드홈이 마련된 본체유닛; 상기 각 가이드홈에 연결되며, 일면에 피검사 전자부품의 단자에 접속되는 도전성 핀이 구비된 한 쌍의 플로팅 유닛; 상기 한 쌍의 플로팅 유닛이 서로 연동하도록 상기 한 쌍의 플로팅 유닛 사이에 연결된 링크유닛 및 상기 도전성 핀과 피검사 전자부품의 접속을 위한 동력을 상기 플로팅 유닛으로 전달할 수 있도록 상기 한 쌍의 플로팅 유닛 중 어느 한 플로팅 유닛에 연결된 이송유닛을 포함하여 구성되어 검사작업의 효율성을 향상시킬 수 있도록 한다.

Description

전자부품 테스트용 소켓{Socket For Testing Electronics}

본 발명은 전자부품 테스트용 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자기기를 구성하는 전자부품 모듈의 불량 테스트를 통해 제품 생산과정에서 발생하는 제품 불량률을 최소화할 수 있도록 한 전자부품 테스트용 소켓에 관한 것이다.

사회가 발전함에 따라 태블릿 컴퓨터, 카메라 폰, PDA 및 스마트 폰 등의 다양한 소형 멀티미디어 기기들이 개발되고 있으며, 이러한 소형 멀티미디어 기기에 적용되는 화상입력기기용 소형 카메라 모듈의 수요 또한 증가하고 있는 추세이다.

특히, 다양한 소형 멀티미디어 기기들 중 스마트 폰은 다양한 기술이 하나로 집약된 대표적인 멀티미디어 기기로써, 소형화된 디자인을 선호하는 소비자의 수요 심리에 맞게 이에 적용되는 부품 모듈들 또한 작은 크기로 개발하는 추세에 있다.

이러한 부품들 중 카메라 모듈은 CCD나 CMOS의 이미지 센서 칩을 이용하여 제조하며, 그 동작관계를 살펴보면 이미지 센서 칩에 렌즈를 통하여 사물을 집광한 후, 광 신호를 전기 신호로 변환하여 LCD 디스플레이 장치 등의 디스플레이 매체에 사물이 표시될수 있도록 영상을 전달한다.

또한, 카메라 모듈은 각 부품의 조립이 완료된 후 OS(Open-Short)테스트, 칼라테스트 및 픽셀테스트 등 모듈의 이상 유무에 대한 검사과정을 거치게 되는데, 모듈의 성능 평가 시에는 이미지 센서로부터의 신호를 받아 그 특성을 평가하기 때문에 실제로 카메라 모듈이 장착되는 전자부품과 동일한 작동신호 및 전원을 공급하여 카메라 모듈의 이상유무를 체크한다.

이와 같은 검사는 카메라 모듈이 안착될 수 있는 소켓을 마련하고, 이 소켓 내부에 카메라 모듈을 안착시킨 후, 카메라 모듈의 전원 및 제어신호를 전달 받기 위한 프로브핀들을 통전 가능한 상기 소켓의 단자들과 연결하여 테스트를 진행한다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.

도 1을 참조하면, 대한민국등록특허 제10-1464223호는 상부에 카메라모듈이 안착되는 베이스플레이트를 구비하며, 측면에 회전축을 구비하고, 저면에 승하강 로드를 구비하는 고정몸체부(10); 상기 회전축에 연결되어 상기 회전축과 함께 회전하는 사이드플레이트(15); 및 상기 사이드플레이트에 승하강 가능하게 연결되며, 상기 베이스플레이트에 대응하여 상기 카메라모듈의 상부를 가압하도록 형성되는 가압블럭을 구비하는 회전몸체부(20);를 포함하여 구성된다.

그러나, 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라모듈 검사용 자동 소켓"은 카메라 모듈의 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 상부 또는 하부와 같이 수직방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용이 가능하였으나, 전원 또는 전기신호를 전달하기 위한 단자가 측면방향으로 형성된 카메라 모듈에는 사용하지 못하는 문제점이 있었다.

이에, 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 단자가 카메라 모듈의 측면에 형성된 부품을 테스트하기 위한 테스트 소켓이 개발되었다.

도 2는 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.

도 2를 참조하면, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 플로팅유닛(2)과 가이드유닛(3) 간의 캠동작에 의해 구현된다. 즉, 상기 가이드유닛(3)이 직선운동하면, 상기 가이드유닛(3)과 면 접촉하고 있는 플로팅유닛(2)이 동작하여 카메라 모듈에 전원 및 전기신호를 전달한다.

그러나, 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓은 사용 중 잦은 고장으로 인해 불필요한 부품 교체작업을 수행해야 하는 문제점이 있었다.

즉, 동작과정에서 부품 간의 직접적인 면 마찰로 인해 부품의 마모가 빠르게 진행되었으며, 그 과정에서 발생하는 미세 부품조각이 부품과 부품 간의 연결부위에 누적되어 이들의 동작을 방해하였기 때문이다.

또한, 종래 테스트용 소켓은 테스트과정이 원활하게 이루어지지 못하는 문제점이 있었다.

즉, 전자부품의 단자와 접속하여 전원 및 전기신호를 전달하는 도전성 핀이 부품들 간의 마모로 인해 정확한 이송동작이 이루어지지 못하였기 때문이다.

또한, 전자부품 단자와 도전성 핀 간의 접속이 동력전달방향에 대해 좌, 우 양측 방향으로 이루어져 전, 후 방향 접속을 요하는 전자부품에는 적용하지 못하였으며, 기존의 소켓을 이용하여 전,후방향으로 접속단자를 갖는 전자부품에 대해 테스트작업을 수행할 경우에는 기존에 설치된 테스트용 소켓을 해체하여 다시 방향설정을 한 후 테스트작업을 수행해야 하는 문제점이 있었다.

대한민국등록특허 제10-1464223호

본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 테스트용 소켓의 구조 개선을 통해 테스트 과정에서 발생하는 부품 간의 마찰을 최소화함으로써, 전자부품의 테스트 과정에서 부품들 간의 정확한 동작관계를 구현하여 검사 작업의 효율성을 향상시킬 수 있도록 한 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 또 다른 목적은 전자부품 테스트를 위한 동력전달방향 축과 동일 선상에서 피검사 전자부품과 도전성 핀 간의 접속이 이루어질 수 있도록 함으로써, 특정 방향(동력전달 방향)으로 접속단자를 갖는 전자부품에 대해 용이하게 테스트 과정을 수행할 수 있도록 한 전자부품 테스트용 소켓을 제공한다.

상기한 과제해결을 위한 본 발명의 전자부품 테스트용 소켓은, 피검사 전자부품이 연결되는 안착홀의 인접한 전,후에 가이드홈이 마련된 본체유닛; 상기 각 가이드홈에 연결되며, 일면에 피검사 전자부품의 단자에 접속되는 도전성 핀이 구비된 한 쌍의 플로팅 유닛; 상기 한 쌍의 플로팅 유닛이 서로 연동하도록 상기 한 쌍의 플로팅 유닛 사이에 연결된 링크유닛; 및 상기 도전성 핀과 피검사 전자부품의 접속을 위한 동력을 상기 플로팅 유닛으로 전달할 수 있도록 상기 한 쌍의 플로팅 유닛 중 어느 한 플로팅 유닛에 연결된 이송유닛을 포함한다.

본 발명에 있어서, 상기 가이드홈에는 플로팅유닛의 동작과정에서 발생하는 마찰을 최소화하기 위한 베어링부재를 더 설치하되, 상기 베어링부재는 상기 플로팅 유닛이 이동하는 과정에서 상기 플로팅 유닛의 단부와 접촉하는 볼베어링으로 구성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 한 쌍의 플로팅 유닛은 도전성 핀을 피검사 전자부품에 접속시키기 위한 동력의 전달방향 축과 동일 축선상에서 서로 반대되는 방향으로 이동될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 링크유닛은 상기 각 플로팅 유닛의 상부에 힌지 연결된 한 쌍의 이송암과, 상기 한 쌍의 이송암 단부를 힌지연결하기 위한 연결축을 포함하여 구성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 링크유닛의 연결축 하부에는 연결축의 이동을 안내하기 위한 제1 가이드부재를 더 설치하되, 상기 제1 가이드부재는 상기 본체유닛의 상부에 설치된 가이드 브라켓과, 연결축의 하단에 축 결합하여 상기 가이드 브라켓을 따라 이동하는 가이드롤을 포함하여 구성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 본체유닛의 상부에는 링크유닛의 외부 노출을 차단하여 상기 링크유닛의 동작을 보호하기 위한 커버가 더 설치될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 본체유닛과 이송유닛 사이에는 이송유닛의 동작을 안내하기 위한 제2 가이드부재를 더 설치하되, 상기 제2 가이드부재는 상기 이송유닛의 하부에 설치된 가이드레일과 상기 본체유닛의 상부에 마련되어 가이드레일의 이동을 안내하는 가이드 연결홈을 포함하여 구성될 수 있다.

본 발명에 있어서, 상기 이송유닛에는 안착홀에 삽입된 피검사 전자부품의 위치를 고정하기 위해 상기 피검사 전자부품을 가압하는 푸시로더가 더 구비될 수 있다.

본 발명에 의하면, 테스트용 소켓의 구조 개선을 통해 소켓을 구성하는 부품들 간의 동작이 원활하게 이루어져 동작과정에서 발생하는 마찰을 최소화함으로써, 전자부품의 테스트 작업을 원활하게 수행할 수 있도록 함은 물론, 전자부품 테스트를 위한 동력전달방향 축과 동일한 방향의 접속단자를 갖는 전자부품들에 대하여 용이하게 테스트할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 대한민국등록특허 제10-1464223호 "카메라 모듈 검사용 자동 소켓"을 나타낸 도면이다.
도 2는 종래 측면 접속기능을 갖는 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 분해사시도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 요부 측면도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓 중 전자부품과 플로팅 유닛의 접속상태를 나타낸 평면 동작상태도이다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓 중 전자부품과 플로팅 유닛의 분리되는 상태를 나타낸 평면 동작상태도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓을 상세히 설명하기로 한다.

도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 사시도이고, 도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 분해사시도이며, 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓을 나타낸 요부 측면도이다.

도 3 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 전자부품 테스트용 소켓(100)은 본체유닛(110)과 상기 본체유닛(110)에 연결된 한 쌍의 플로팅 유닛(120)과 상기 한 쌍의 플로팅 유닛(120)을 연결하기 위한 링크유닛(130) 및 상기 플로팅 유닛(120)에 동력을 전달하는 이송유닛(140)을 포함하여 구성된다.

본체유닛(110)은 테스트용 소켓(100)의 기본 틀 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 본체유닛(110)은 사각의 판상형 플레이트 형상으로 그 내측 피검사 전자부품(1)이 연결되는 안착홀(111)이 형성되고, 상기 안착홀(111)의 인접한 전,후에 상기 안착홀(111)과 연통되는 가이드홈(113)이 마련된다.

상기 가이드홈(113)에는 플로팅유닛(120)의 동작과정에서 발생하는 마찰을 최소화하기 위한 베어링부재(115)가 설치되며, 이러한 베어링부재(115)는 상기 플로팅 유닛(120)이 이동하는 과정에서 상기 플로팅 유닛(120)의 단부와 접촉하는 볼베어링으로 구성된다.

상기 플로팅 유닛(120)은 가이드홈(113)을 따라 슬라이딩 이동하는 과정에서 상기 가이드홈(113)과의 직접적인 접촉 없이 상기 베어링부재(115)와 접촉하여 원활한 슬라이딩 이동이 가능하다.

상기 플로팅 유닛(120)은 피검사 전자부품(1)의 접속단자에 전원 및 전기신호를 전달하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 플로팅 유닛(120)은 상기 본체유닛의 가이드홈(113)에 각각 서로 대칭되게 연결되어 상기 가이드홈(113)을 따라 슬라이딩 이동하며, 일면에 슬라이딩 이동과정에서 상기 피검사 전자부품(1)의 접속단자와 접속하는 도전성 핀(121)이 구비된다.

상기 한 쌍의 플로팅 유닛(120)은 도전성 핀(121)을 피검사 전자부품(1)에 접속시키기 위한 동력의 전달방향 축과 동일 축선상에서 서로 반대되게 전,후 방향으로 이동하게 된다.

상기 링크유닛(130)은 상기 한 쌍의 플로팅 유닛(120)들이 서로 연동하여 동작하도록 연결하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 링크유닛(130)은 상기 각 플로팅 유닛(120)의 상부에 이송암(131)의 일단이 힌지연결되며, 상기 한 쌍의 이송암(131) 타단은 연결축(133)에 의해 힌지연결된다.

따라서, 일측의 이송암(131)과 플로팅 유닛(120) 동작하면, 타측의 이송암(131)과 플로팅 유닛(120)이 함께 동작한다.

또한, 상기 연결축(133) 하부에는 상기 이송암(131)의 동작으로 인해 위치 이동하는 연결축(133)의 이동을 안내하기 위한 제1 가이드부재(135)가 더 설치된다.

상기 제1 가이드부재(135)는 본체유닛(110)의 상부에 가이드 브라켓(137)이 설치되고, 상기 연결축(133)의 하단에는 상기 가이드 브라켓(137)을 따라 슬라이딩 이동하는 가이드롤(136)이 축결합된다.

이에, 상기 연결축(133)은 제1 가이드부재(135)를 통해 제한된 범위 내에서 이동하며, 상기 가이드롤(136)은 연결축(133)을 중심으로 자유회전 가능하게 결합하여 상기 가이드 브라켓(137) 내에서 이동하는 과정에 발생하는 마찰을 최소화한다.

이송유닛(140)은 피검사 전자부품(1)과 도전성 핀(121)의 접속을 위해 공급된 동력을 상기 플로팅 유닛(120)에 전달하기 위한 매개체 역할을 수행하는 구성수단이다.

상기 이송유닛(140)은 상기 본체유닛(110)의 상부에서 상기 한 쌍의 플로팅 유닛(120) 중 어느 한 플로팅 유닛(120)에 연결된다. 이에, 상기 이송유닛(140)은 상기 플로팅 유닛(120)이 가이드홈(113)을 따라 슬라이딩 이동할 수 있도록 동력을 전달한다.

또한, 상기 이송유닛(140)의 전방에는 안착홀(111)에 삽입된 피검사 전자부품(1)의 위치를 고정하기 위해 상기 피검사 전자부품(1)을 가압하는 푸시로더(141)가 더 구비된다. 이에, 상기 푸시로더(141)는 피검사 전자부품(1)과 도전성 핀(121)이 접속하는 과정에서 상기 피검사 전자부품(1)을 고정하여 피검사 전자부품(1)과 도전성 핀(121)이 정확한 접속동작을 이루도록 한다.

상기 본체유닛(110)의 상부에는 커버(150)가 설치되며, 상기 본체유닛(110)과 이송유닛(140) 사이에는 이송유닛(140)의 동작을 안내하기 위한 제2 가이드부재(160)를 더 설치된다.

상기 커버(150)는 링크유닛(130)의 외부 노출을 차단함은 물론, 상기 링크유닛(130)이 외부 저항없이 동작할 수 있도록 보호한다.

또한, 상기 제2 가이드부재(160)는 상기 이송유닛(140)의 하부에 설치된 가이드레일(161)과 상기 본체유닛(110)의 상부에 마련된 가이드 연결홈(163)으로 구성된다. 이에, 상기 이송유닛(140)은 제2 가이드부재(160)를 통해 제한된 범위 내에서 이동하게 된다.

상기와 같은 결합구성으로 이루어진 본 발명의 전자부품 테스트용 소켓은 동작과정에서의 마찰을 최소화하여 전자부품의 테스트 작업을 원활하게 수행할 수 있도록 함은 물론, 전자부품 테스트를 위한 동력전달방향 축과 동일한 축의 방향으로 접속단자가 형성된 전자부품에 대해 용이하게 테스트할 수 있도록 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

도 6 및 도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓 중 전자부품과 플로팅 유닛의 접속상태를 나타낸 평면 동작상태도이다.

도 6 및 도 7을 참조하면, 피검사 전자부품(1)의 접속단자에 도전성 핀(121)이 접속시키기 위한 외부 동력이 이송유닛(140)에 전달되면, 상기 이송유닛(140)과 제2 가이드부재(160)의 가이드레일(161)은 가이드 연결홈(163)을 따라 슬라이딩 이동하며, 이와 동시에 상기 이송유닛(140)과 연결된 일측 플로팅 유닛(120)은 가이드홈(113)을 따라 피검사 전자부품(1) 측으로 이동한다.

이때, 상기 이송유닛(140)과 연결되지 않은 타측 플로팅 유닛(120)은 링크유닛(130)을 통해 이송유닛(140)의 동력이 전달되어 피검사 전자부품(1) 측으로 이동한다.

즉, 일측 플로팅 유닛(120)이 가이드홈(113)을 따라 피검사 전자부품(1) 측으로 슬라이딩이동하면, 상기 일측 플로팅 유닛(120)에 힌지연결된 일측 이송암(131)이 힌지 회전하여 연결축(133)을 피검사 전자부품(1)과 멀어지는 이동을 하며, 상기 연결축(133)에 힌지연결된 타측 이송암이 타측 플로팅 유닛(120)을 피검사 전자부품(1) 측으로 슬라이딩 이동시킨다.

이에, 플로팅 유닛(120)의 도전성 핀(121)은 피검사 전자부품(1)의 접속단자와 접속하여 상기 피검사 전자부품(1)에 전원 및 전기신호를 전달한다.

이후, 피검사 전자부품(1)의 테스트가 종료되면, 상기 피검사 전자부품(1)과 도전성 핀(121)이 분리된다.

도 8 및 도 9는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓 중 전자부품과 플로팅 유닛의 분리되는 상태를 나타낸 평면 동작상태도이다.

도 8 및 도 9를 참조하면, 피검사 전자부품(1)의 접속단자에 도전성 핀(121)을 분리시키기 위한 외부 동력이 이송유닛(140)에 전달되면, 상기 이송유닛(140)과 제2 가이드부재(160)의 가이드레일(161)은 가이드 연결홈(163)을 따라 피검사 전자부품(1)과 멀어지는 방향으로 슬라이딩 이동하며, 이와 동시에 상기 이송유닛(140)과 연결된 일측 플로팅 유닛(120)은 가이드홈(113)을 따라 피검사 전자부품(1)과 멀어지는 방향으로 이동한다.

이때, 상기 이송유닛(140)과 연결되지 않은 타측 플로팅 유닛(120)은 링크유닛(130)을 통해 이송유닛(140)의 동력이 전달되어 피검사 전자부품(1)과 멀어지는 방향으로 이동한다.

즉, 일측 플로팅 유닛(120)이 가이드홈(113)을 따라 피검사 전자부품(1)과 멀어지는 방향으로 슬라이딩이동하면, 상기 일측 플로팅 유닛(120)에 힌지연결된 일측 이송암(131)이 힌지 회전하여 연결축(133)을 피검사 전자부품(1) 측으로 이동시키며, 상기 연결축(133)에 힌지연결된 타측 이송암(131)이 타측 플로팅 유닛(120)을 피검사 전자부품(1)과 멀어지는 방향으로 슬라이딩 이동시킨다.

이에, 플로팅 유닛(120)의 도전성 핀(121)은 피검사 전자부품(1)의 접속단자와 분리되며, 상기 피검사 전자부품(1)을 안착홀(111)에서 배출한다.

이에, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트용 소켓은 이를 이루는 부품들의 원활한 동작을 위해 그 연결부위에 다양한 베어링부재들을 구비하여 부품들의 동작과정에서 발생하는 마찰을 최소화함으로써, 전자부품의 테스트 작업을 원활하게 수행할 수 있도록 함은 물론, 전자부품 테스트를 위한 동력전달방향 축과 동일 선상의 방향으로 접속단자를 갖는 전자부품들에 대하여 용이하게 테스트할 수 있도록 한다.

100: 테스트용 소켓 110: 본체유닛
120: 플로팅 유닛 130: 링크유닛
135: 제1 가이드부재 140: 이송유닛 150: 커버 160: 제2 가이드부재

Claims (8)

1. 피검사 전자부품이 연결되는 안착홀의 인접한 전,후에 가이드홈이 마련된 본체유닛;
   상기 각 가이드홈에 연결되며, 일면에 피검사 전자부품의 단자에 접속되는 도전성 핀이 구비된 한 쌍의 플로팅 유닛;
   상기 한 쌍의 플로팅 유닛이 서로 연동하도록 상기 한 쌍의 플로팅 유닛 사이에 연결된 링크유닛; 및
   상기 도전성 핀과 피검사 전자부품의 접속을 위한 동력을 상기 플로팅 유닛으로 전달할 수 있도록 상기 한 쌍의 플로팅 유닛 중 어느 한 플로팅 유닛에 연결된 이송유닛을 포함하는 전자부품 테스트용 소켓.
2. 제1항에 있어서,
   상기 가이드홈에는 플로팅유닛의 동작과정에서 발생하는 마찰을 최소화하기 위한 베어링부재를 더 설치하되,
   상기 베어링부재는 상기 플로팅 유닛이 이동하는 과정에서 상기 플로팅 유닛의 단부와 접촉하는 볼베어링으로 구성됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 소켓.
3. 제1항에 있어서,
   상기 한 쌍의 플로팅 유닛은 도전성 핀을 피검사 전자부품에 접속시키기 위한 동력의 전달방향 축과 동일 축 선상에서 서로 반대되는 방향으로 이동됨을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 소켓.
4. 제1항에 있어서,
   상기 링크유닛은,
   상기 각 플로팅 유닛의 상부에 힌지 연결된 한 쌍의 이송암; 및
   상기 한 쌍의 이송암 단부를 힌지연결하기 위한 연결축을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 소켓.
5. 제4항에 있어서,
   상기 링크유닛의 연결축 하부에는 연결축의 이동을 안내하기 위한 제1 가이드부재를 더 설치하되,
   상기 제1 가이드부재는,
   상기 본체유닛의 상부에 설치된 가이드 브라켓; 및
   상기 연결축의 하단에 축 결합하여 상기 가이드 브라켓을 따라 이동하는 가이드롤을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 소켓.
6. 제1항에 있어서,
   상기 본체유닛의 상부에는 링크유닛의 외부 노출을 차단하여 상기 링크유닛의 동작을 보호하기 위한 커버를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 소켓.
7. 제1항에 있어서,
   상기 본체유닛과 이송유닛 사이에는 이송유닛의 동작을 안내하기 위한 제2 가이드부재를 더 설치하되,
   상기 제2 가이드부재는,
   상기 이송유닛의 하부에 설치된 가이드레일; 및
   상기 본체유닛의 상부에 마련되어 가이드레일의 이동을 안내하는 가이드 연결홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 소켓.
8. 제1항에 있어서,
   상기 이송유닛에는 안착홀에 삽입된 피검사 전자부품의 위치를 고정하기 위해 상기 피검사 전자부품을 가압하는 푸시로더가 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트용 소켓.

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