KR101869678B1 - 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 - Google Patents
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Abstract
전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치가 제공된다. 제공된 전자부품테스트 기능을 갖는 그립퍼장치는 전면에 양측방향으로 슬라이딩 이동하는 한 쌍의 가이드블록이 구비된 기준유닛; 상기 기준유닛의 전면 하부에 설치되며, 외부전원이 인가시 전, 후진 동작하는 가동블록이 구비되며, 상기 가동블록의 상부에 한 쌍의 자유회전롤이 마련된 수평구동유닛; 상기 각 가이드블록에 서로 대칭되게 체결되며, 상기 가동블록의 전, 후진 동작과 연동하여 양측방향으로 벌어지거나 오므리는 동작을 수행할 수 있도록 하부에 상기 자유회전롤이 연결되는 슬릿홈이 형성되고, 내측에 외부전원이 인가시 승강동작하는 수직구동부재가 구비된 한 쌍의 이동유닛; 상기 각 이동유닛의 단부에 서로 대칭되게 체결되며, 전방 단부에 상기 이동유닛과 연동하여 전자부품을 그립, 고정하는 밀착블록이 구비되고, 외면에 가이드핀이 형성된 한 쌍의 그립유닛; 상기 각 그립유닛 외면에 연결되며, 후방에 가이드홀과 경사돌부를 갖는 결속편이 마련되고, 상기 결속편과 그립유닛 사이에 탄성체가 개재되며, 상기 결속편의 단부에 동작편이 마련되고, 상기 동작편의 단부에 상기 전자부품에 테스트를 위한 전기신호를 공급하는 도전성 핀이 구비된 컨택유닛 및 상기 수직구동부재의 단부에 연결되며, 전방 단부에 가압돌부가 마련되어 승강동작 과정에서 상기 경사돌부와 맞닿아 상기 컨택유닛을 전자부품 측으로 이동시켜 상기 도전성 핀과 전자부품 간의 컨택동작을 유도하는 가압유닛을 포함하여 작업 효율성 및 장비 효용성을 향상, 도전성 핀을 안전하게 보호함은 물론, 도전성 핀의 오염을 미연에 방지할 수 있도록 한다.
Description
본 발명은 그립퍼장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 그립퍼장치의 구조 개선을 통해 전자부품 이송을 위한 그립, 고정 및 그립, 고정 후 테스트과정을 순차적으로 수행하여 장치의 효용성 향상 및 테스트과정에서의 구성요소 파손을 미연에 방지할 수 있도록 한 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치에 관한 것이다.
노트형 퍼스널 컴퓨터, 카메라 폰, PDA, 스마트폰 및 장난감(toy)등의 다양한 멀티미디어 분야뿐만 아니라 감시 카메라 및 비디오테이프 레코더의 정보단말 등의 화상입력기기용으로 소형의 카메라 모듈의 수요가 증가하고 있다.
이렇게 광범위한 수요처를 갖는 카메라 모듈은 회로패턴이 인쇄된 PCB기판 위에 이미지센서를 실장하고, 이미지센서 상부에 렌즈를 포함하는 하우징을 부착하는 공정을 순차적으로 수행한 후, 상기 PCB 기판의 회로패턴과 전기적으로 연결되는 FPC(Flexible Printed Circuit)를 부착하여 제조하는 것이 일반적이다.
상기 PCB기판, 이미지센서 및 렌즈가 포함된 하우징의 결합관계는 회로패턴이 인쇄된 PCB 기판의 가운데 영역에 이미지센서가 실장되며, 상기 이미지센서는 하우징에 의해 외부와 격리된다.
상기 이미지센서는 광학 영상을 전기신호로 변환시키는 반도체 소자로서, 흔히 전하결합소자(charge coupled device, CCD) 이미지센서와 CMOS 이미지센서로 구분되는데, CCD 이미지센서는 개개의 MOS(Metal Oxide Silicon) 커패시터가 서로 근접한 위치에 있으면서 전하캐리어를 커패시터에 축적한 후 전송하는 소자인 반면에, CMOS 이미지센서는 CCD 이미지센서처럼 전하를 축적하여 전송하는 방식이 아니라 발생한 전하를 반도체 스위치로 읽어들이는 방식을 취하기 때문에 전력소비가 적고 가격이 저렴한 장점이 있다.
상기 하우징은 내부에 중공부를 가지는 통형의 구조체로서 상면에는 광학 영상을 집광하는 렌즈가 결합되며, 상기 이미지센서가 내부에 포함되도록 저면 가장자리가 PCB기판의 상면에 접합된다. 이때 접합은 에폭시수지 등의 접착제를 이용하여 이루어진다.
한편, 상기 PCB기판의 회로패턴은 상기 이미지센서와 전기적으로 연결될 뿐만 아니라 상술한 FPC와도 연결되므로, 상기 이미지센서를 통해 전기신호로 변환된 영상신호가 회로패턴을 통해 휴대폰으로 전송된다.
이러한 카메라 모듈의 생산은 회로패턴이 인쇄된 PCB기판에 이미지센서를 실장하는 공정, 그 위에 렌즈를 포함한 하우징을 어태칭하는 공정 및 상기 PCB기판을 외부와 전기적으로 연결하기 위한 FPC 등의 연결수단을 결합하는 공정이 순차적으로 진행되어 이루어진다.
또한, 상기 이미지센서를 포함하는 카메라 모듈의 렌즈는 초점을 조정하기 위해서는, 기울어지지 않도록 렌즈를 정확히 그립(Grip)하고, Z축으로 렌즈를 이동시키며 최적의 초점 위치를 찾은 후에, 그 위치에 렌즈를 그립한 채로 경화제를 적용하여 렌즈를 하우징에 고정시킨다.
상기 하우징을 부착하는 공정을 수행하는 하우징 부착(어태칭; attaching) 장치는, 그립퍼장치를 통해 렌즈가 포함된 하우징을 픽업한 후, PCB기판에 하강시켜 기판에 하우징을 부착할 수 있도록 구성된다.
종래 대한민국등록특허공보 제10-0498071호(카메라 모듈의 하우징 어태칭 장비 및 이를 이용한 어태칭방법)을 참조하면, 어태칭 로봇의 동작이 반복됨에 따라 처음 설정된 위치 값에서 점차 벗어나는 문제를 해결하기 위해, 하우징의 위치 데이터를 획득하기 위한 하우징 위치감지카메라를 개시하고있다.
상기 어태칭 로봇은 하우징의 픽업, 이송 및 접합 등의 동작을 수행하며, 상기 어태칭 로봇에 구비된 그립퍼장치는 상기 하우징을 그립, 고정하는 역할을 수행한다.
종래 그립퍼장치는 그 기능이 제한되어 전체적인 장비의 효용성이 저하되는 요인이 되었다.
즉, 종래 그립퍼장치는 단순히 카메라모듈을 파지하는 기능만을 수행할 뿐 다른 기능을 수행하지 못하였기 때문이다.
이에, 카메라모듈 생산, 조립구조의 컴팩트화 및 제품불량을 최소화하기 위해 그립퍼장치에 다른 기능을 추가하기 위한 노력이 지속적으로 이루어지고 있는 실정이다.
본 발명은 상술한 종래 문제점을 감안하여 안출한 것으로, 그 목적은 전자부품의 이송을 위해 파지 동작을 수행하는 그립퍼장치의 구조 개선을 통해 전자부품의 이송을 위한 그립, 고정동작과 상기 그립, 고정 후 전자부품의 이송과정에서 테스트동작을 용이하게 구현할 수 있도록 함으로써, 작업 효율성 및 장비 효용성을 향상시킬 수 있도록 한 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 제공한다.
본 발명의 다른 목적은 밀착블록을 이용한 전자부품의 그립, 고정동작과 도전성 핀을 이용한 컨택동작을 구분하여 순차적으로 수행함은 물론, 전자부품의 그립, 고정동작시 상기 도전성 핀을 밀착블록 내에 수용하여 안전하게 보호함으로써, 전자부품의 그립, 고정동작과정에서 발생하는 도전성 핀의 파손을 미연에 방지할 수 있도록 한 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 제공한다.
본 발명의 또 다른 목적은 전자부품에 전기 및 전기신호를 인가하는 도전성 핀을 전자부품과의 컨택 동작 외에는 밀착블록 내에 위치하도록 함으로써, 상기 도전성 핀의 외부노출을 최대한 차단하여 외부 이물질 오염으로 인한 컨택 동작의 오류를 미연에 방지할 수 있도록 한 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 제공한다.
상기한 과제해결을 위한 본 발명은
전면에 양측방향으로 슬라이딩 이동하는 한 쌍의 가이드블록이 구비된 기준유닛;
상기 기준유닛의 전면 하부에 설치되며, 외부전원이 인가시 전, 후진 동작하는 가동블록이 구비되며, 상기 가동블록의 상부에 한 쌍의 자유회전롤이 마련된 수평구동유닛;
상기 각 가이드블록에 서로 대칭되게 체결되며, 상기 가동블록의 전, 후진 동작과 연동하여 양측방향으로 벌어지거나 오므리는 동작을 수행할 수 있도록 하부에 상기 자유회전롤이 연결되는 슬릿홈이 형성되고, 내측에 외부전원이 인가시 승강동작하는 수직구동부재가 구비된 한 쌍의 이동유닛;
상기 각 이동유닛의 단부에 서로 대칭되게 체결되며, 전방 단부에 상기 이동유닛과 연동하여 전자부품을 그립, 고정하는 밀착블록이 구비되고, 외면에 가이드핀이 형성된 한 쌍의 그립유닛;
상기 각 그립유닛 외면에 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 후방에 가이드홀과 경사돌부를 갖는 결속편이 마련되고, 상기 결속편과 그립유닛 사이에 탄성체가 개재되며, 상기 결속편의 단부에 동작편이 마련되고, 상기 동작편의 단부에 상기 전자부품에 테스트를 위한 전기신호를 공급하는 도전성 핀이 구비된 컨택유닛 및
상기 수직구동부재의 단부에 연결되며, 전방 단부에 가압돌부가 마련되어 승강동작 과정에서 상기 경사돌부와 맞닿아 상기 컨택유닛을 전자부품 측으로 이동시켜 상기 도전성 핀과 전자부품 간의 컨택동작을 유도하는 가압유닛을 포함하여 구성된다.
본 발명에 있어서, 상기 한 쌍의 슬릿홈은,
상기 가동블록이 전진시 한 쌍의 이동유닛이 오므리고, 상기 가동블록이 후진시 한 쌍의 이동유닛이 벌어질 수 있도록 소정각도 기울어져 전방으로 갈수록 벌어지는 형상으로 이루어질 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 밀착블록은,
내측에 수용홈이 마련되고, 일면에 상기 수용홈과 연통을 이루는 핀홀이 형성되며, 상부에는 상방으로 진입하는 전자부품과의 접촉으로 인한 충격을 최소화하기 위한 경사면이 형성될 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 컨택유닛의 도전성 핀은,
상기 밀착블록을 이용한 전자부품의 그립, 고정 동작시 상기 밀착블록의 수용홈 내에 위치하며, 상기 밀착블록에 의한 전자부품 그립, 고정 후 상기 전자부품 테스트 동작시 상기 핀홀을 통해 전자부품 측으로 돌출되어 컨택동작을 수행할 수 있다.
본 발명에 있어서, 상기 가압돌부는,
상기 컨택유닛을 전자부품 측으로 이동시키기 위해 경사돌부와 맞닿는 과정에서 충격을 최소화할 수 있도록 그 하단이 소정각도 경사각을 갖는 쐐기형상으로 이루어질 수 있다.
본 발명에 의하면, 그립퍼장치의 구조 개선을 통해 작업 효율성 및 장비 효용성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 전자부품에 전원 및 전기신호를 인가하는 도전성 핀을 동작을 위한 노출 외에 별도의 밀착블록 내에 위치시켜 안전하게 보호할 수 있는 효과가 있다.
또한, 도전성 핀의 외부노출을 최대한 차단하여 외부 이물질 오염으로 인한 컨택 동작의 오류를 미연에 방지할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 요부분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 이동유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 그립유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 컨택유닛을 나타낸 저면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 가압유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치의 동작상태를 나타낸 저면도이다.
도 8은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 요부단면도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 요부분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 이동유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 그립유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 컨택유닛을 나타낸 저면도이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 가압유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치의 동작상태를 나타낸 저면도이다.
도 8은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 요부단면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 요부분해사시도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치(100)는 기준유닛(110), 수평구동유닛(120), 이동유닛(130), 그립유닛(140), 컨택유닛(150) 및 가압유닛(160)을 포함하여 구성된다.
상기 기준유닛(110)은 본 발명의 구성요소들을 결속시키기 위한 기본틀 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 기준유닛(110)은 직사각형의 블록 형상으로 그 전면에 한 쌍의 가이드블록(111)이 구비된다.
이때, 상기 가이드블록(111)은 가이드레일을 따라 제한된 범위 내에서 양측방향으로 슬라이딩 이동한다.
한편, 상기 수평구동유닛(120)은 본 발명을 이용한 전자부품(N)의 그립, 고정 및 해제동작을 위한 동력을 전달하는 구성수단이다.
상기 수평구동유닛(120)은 상기 기준유닛(110)의 전면 하부에 설치되며, 외부전원이 인가시 전, 후진 동작하는 가동블록(121)이 구비된다.
상기 가동블록(121)의 상부에 한 쌍의 자유회전롤(123)이 마련된다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 이동유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 2 및 도 3을 참조하면 상기 이동유닛(130)은 상기 각 가이드블록(111)에 서로 대칭되게 체결되며, 상기 가동블록(121)의 전, 후진 동작과 연동하여 전자부품(N)의 그립, 고정 및 해제동작을 위해 양측방향으로 벌어지거나 오므리는 동작을 수행하는 구성수단이다.
상기 이동유닛(130)은 그 하부에 상기 자유회전롤(123)이 연결되는 슬릿홈(131)이 형성되고, 내측에 외부전원이 인가시 승강동작하는 수직구동부재(133)가 구비된다.
이때, 각 이동유닛(130)에 형성된 한 쌍의 슬릿홈(131)은 상기 가동블록(121)이 전진시 한 쌍의 이동유닛(130)이 오므리고, 상기 가동블록(121)이 후진시 한 쌍의 이동유닛(130)이 벌어질 수 있도록 소정각도 기울어져 전방으로 갈수록 벌어지는 형상으로 이루어지는 것이 바람직하다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 그립유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 2 및 도 4를 참조하면, 상기 그립유닛(140)은 상기 각 이동유닛(130)의 단부에 서로 대칭되게 체결되어, 전자부품(N)의 그립, 고정 및 해제동작을 실질적으로 수행하는 구성수단이다.
상기 그립유닛(140)은 전방 단부에 상기 이동유닛(130)과 연동하여 전자부품(N)을 그립, 고정하는 밀착블록(141)이 구비되고, 외면에 가이드핀(146)이 형성된다.
이때, 상기 밀착블록(141)은 내측에 수용홈(142)이 마련되고, 일면에 상기 수용홈(142)과 연통을 이루는 핀홀(143)이 형성된다.
상기 핀홀(143)은 그 일측이 상기 수용홈(142) 측으로 개방되고, 그 타측이 전자부품(N)이 위치하는 측으로 개방된다.
또한, 상기 밀착블록(141)은 그 상부에 경사면(144)이 형성된다. 이때, 상기 경사면(144)은 상방으로 진입하는 전자부품(N)과의 접촉시 이로 인한 충격을 최소화하기 위한 역할을 수행한다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 컨택유닛을 나타낸 저면도이다.
도 2 및 도 5를 참조하면, 상기 컨택유닛(150)은 상기 각 그립유닛(140) 외면에 슬라이딩 이동가능하게 연결되어 전자부품(N)의 테스트를 위한 전원 및 전기신호를 전자부품(N)에 인가하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 컨택유닛(150)은 후방에 결속편(155)이 마련된다. 상기 결속편(155)은 그 내측에 상기 가이드핀(146)이 삽입되는 가이드홀(151)이 마련되고, 상부에 경사돌부(153)가 마련된다.
이에, 상기 컨택유닛(150)은 상기 가이드홀(151)에 삽입된 가이드핀(146)을 따라 슬라이딩 이동함으로써, 정밀한 컨택동작을 수행할 수 있게 된다.
또한, 상기 결속편(155)과 그립유닛(140) 사이에는 상기 결속편(155)을 그립유닛(140)과 멀어지도록 밀기 위한 탄성체(157)가 개재되며, 상기 결속편(155)의 단부에 동작편(156)이 마련되고, 상기 동작편(156)의 단부에 상기 전자부품(N)에 테스트를 위한 전기신호를 공급하는 도전성 핀(159)이 구비된다.
이때, 상기 컨택유닛(150)의 도전성 핀(159)은, 상기 밀착블록(141)을 이용한 전자부품(N)의 그립, 고정 동작시 상기 밀착블록(141)의 수용홈(142) 내에 위치하며, 상기 밀착블록(141)에 의한 전자부품(N) 그립, 고정 후 상기 전자부품(N) 테스트 동작시 상기 핀홀(143)을 통해 전자부품(N) 측으로 돌출되어 컨택동작을 수행한다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 중 가압유닛을 나타낸 저면사시도이다.
도 2 및 도 6을 참조하면, 상기 가압유닛(160)은 상기 수직구동부재(133)의 단부에 연결되어 상기 컨택유닛(150)을 컨택을 위한 위치로 이송하기 위한 역할을 수행하는 구성수단이다.
상기 가압유닛(160)은 그 전방 단부에 가압돌부(161)가 마련된다.
상기 가압돌부(161)는 가압유닛(160)의 승강동작 과정에서 상기 경사돌부(153)와 맞닿아 상기 컨택유닛(150)을 전자부품(N) 측으로 이동시켜 상기 도전성 핀(159)과 전자부품(N) 간의 컨택동작을 유도한다.
이때, 상기 가압돌부(161)는, 상기 컨택유닛(150)을 전자부품(N) 측으로 이동시키기 위해 경사돌부(153)와 맞닿는 과정에서 충격을 최소화할 수 있도록 그 하단이 소정각도 경사각을 갖는 쐐기형상으로 이루어진다.
이에, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치는 그 구조 개선을 통해 작업 효율성 및 장비 효용성을 향상은 물론, 전자부품의 그립, 고정동작과 도전성 핀의 컨택동작을 구분하여 순차적으로 수행하여 구성요소의 파손을 미연에 방지하며, 도전성 핀의 외부노출을 최대한 차단하여 외부 이물질 오염으로 인한 컨택 동작의 오류를 미연에 방지할 수 있도록 한 것으로, 이에 따른 동작관계 및 작용효과를 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치의 동작상태를 나타낸 저면도이며, 도 8은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치를 나타낸 요부단면도이다.
도 7 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치(100)는 전자부품(N)의 그립, 고정동작과 전자부품(N)의 컨택동작으로 구분하여 순차적으로 이루어진다.
이때, 도 7a는 초기상태를 나타낸 저면도이고, 도 7b는 그립, 고정상태를 나타낸 도면이며, 도 7c는 컨택 상태를 나타낸 도면이다.
우선, 전자부품(N)의 그립, 고정동작을 수행하기 위해서는 상기 컨택유닛(150)의 도전성 핀(159)은 탄성체(157)의 탄성력에 의해 상기 밀착블록(141)의 수용홈(142) 내에 위치한다.
이후, 상기 수평구동유닛(120)의 가동블록(121)은 상기 기준유닛(110) 측으로 후진하면, 이와 동시에 후진한 자유회전롤(123)은 슬릿홈(131)의 후방측에 위치하며, 그 과정에서 상기 한 쌍의 그립유닛(140)이 벌어진 상태가 되어 그 사이로 전자부품(N)이 위치할 수 있는 상태가 된다.
이후, 상기 한 쌍의 이동유닛(130)에 구비된 밀착블록(141) 사이로 전자부품(N)이 이송된다.
이때, 상기 전자부품(N)이 한 쌍의 밀착블록(141) 사이로 이송되는 과정에서 상기 전자부품(N)과 밀착블록(141) 간에 접촉이 발생하는데 그 과정에서 상기 밀착블록(141)에 형성된 경사면(144)에 의해 전자부품(N)과의 접촉으로 인한 충격을 최소화하여 본 발명의 구성요소 및 전자부품(N)의 파손을 미연에 방지할 수 있도록 한다.
이후, 상기 수평구동유닛(120)이 가동블록(121)을 전진하면, 이와 동시에 전진한 자유회전롤(123)이 슬릿홈(131)의 전방측에 위치하며, 그 과정에서 상기 한 쌍의 그립유닛(140)은 오므린 상태가 되어 상기 한 쌍의 밀착블록(141)이 전자부품(N)을 그립, 고정한다.
이후, 전자부품(N)의 그립, 고정동작이 완료되면, 본 발명은 순차적으로 전자부품(N)의 컨택동작을 수행한다.
즉, 상기 전자부품(N)의 컨택동작을 위해서는 상기 수직구동부재(133)가 가압유닛(160)을 하강동작시킨다.
이에, 상기 가압유닛(160)이 하강동작하면, 그 과정에서 상기 가압유닛(160)의 가압돌부(161)가 하강이동하여 상기 컨택유닛(150)의 경사돌부(153)를 전자부품(N) 측으로 미는 동작을 수행한다.
이에, 상기 가압돌부(161)가 경사돌부(153)를 가압하면 상기 컨택유닛(150)이 상기 그립유닛(140)의 가이드핀(146)을 따라 전자부품(N) 측으로 이동하며, 그 과정에서 상기 동작편의 도전성 핀(159)이 핀홀(143)을 통해 전자부품(N) 측으로 돌출되어 상기 도전성 핀(159)이 전자부품(N)에 전원 및 전기신호를 인가하여 전자부품(N)의 테스트동작을 구현한다.
이에 본 발명은 전자부품의 이송과정에서 전자부품의 그립, 고정동작과 테스트동작을 구현하여 작업 효율성 및 장비 효용성을 향상시킬 수 있도록 한다.
또한, 전자부품의 그립, 고정동작과 도전성 핀을 이용한 컨택동작을 구분하여 순차적으로 수행함은 물론, 전자부품의 그립, 고정동작시 상기 도전성 핀을 밀착블록 내에 수용하여 안전하게 보호하여 전자부품의 그립, 고정동작과정에서 발생하는 도전성 핀의 파손을 미연에 방지할 수 있도록 한다.
이러한 전자부품(N)의 테스트동작은 본 발명의 그립퍼장치(100)를 이용하여 전자부품(N)을 후공정을 위한 위치로 이송과정에서 이루어진다.
이후, 상기 전자부품(N)이 후공정을 위한 위치로 이송하면, 상기 수직구동부재(133)는 가압유닛(160)을 상승동작시킨다.
이에, 상기 가압유닛(160)이 상승동작하면, 그 과정에서 상기 가압유닛(160)의 가압돌부(161)가 상승이동함과 동시에 상기 경사돌부(153)를 가압하던 힘이 해제된다.
이에, 상기 경사돌부(153)에 가압하던 힘이 해제되면, 상기 결속편(155)과 그립유닛(140) 사이에 개재된 탄성체(157)의 탄성력에 의해 상기 그립유닛(140)과 컨택유닛(150)을 이격시켜 상기 도전성 핀(159)이 상기 수용홈(142) 내에 위치하도록 한다.
이에, 본 발명의 도전성 핀은 전자부품과의 컨택 동작 외에는 상기 수용홈 내에 위치하여 그 외부노출을 최대한 차단함으로써, 동작과정에서 발생하는 슬러지로 인한 외부 이물질 오염을 미연에 방지하여 컨택동작의 오류를 미연에 방지하고, 정밀한 컨택동작을 구현할 수 있도록 한다.
110 : 기준유닛 111 : 가이드블록
120 : 수평구동유닛 121 : 가동블록
123 : 자유회전롤 130 : 이동유닛
131 : 슬릿홈 133 : 수직구동부재
140 : 그립유닛 141 : 밀착블록
142 : 수용홈 143 : 핀홀
144 : 경사면 146 : 가이드핀
150 : 컨택유닛 151 : 가이드홀
153 : 경사돌부 155 : 결속편
156 : 동작편 157 : 탄성체
159 : 도전성 핀 160 : 가압유닛
161 : 가압돌부 N : 전자부품
120 : 수평구동유닛 121 : 가동블록
123 : 자유회전롤 130 : 이동유닛
131 : 슬릿홈 133 : 수직구동부재
140 : 그립유닛 141 : 밀착블록
142 : 수용홈 143 : 핀홀
144 : 경사면 146 : 가이드핀
150 : 컨택유닛 151 : 가이드홀
153 : 경사돌부 155 : 결속편
156 : 동작편 157 : 탄성체
159 : 도전성 핀 160 : 가압유닛
161 : 가압돌부 N : 전자부품
Claims (5)
- 전면에 양측방향으로 슬라이딩 이동하는 한 쌍의 가이드블록(111)이 구비된 기준유닛(110);
상기 기준유닛(110)의 전면 하부에 설치되며, 외부전원이 인가시 전, 후진 동작하는 가동블록(121)이 구비되고, 상기 가동블록(121)의 상부에 한 쌍의 자유회전롤(123)이 마련된 수평구동유닛(120);
상기 가이드블록(111)에 서로 대칭되게 체결되며, 상기 가동블록(121)의 전, 후진 동작과 연동하여 양측방향으로 벌어지거나 오므리는 동작을 수행할 수 있도록 하부에 상기 자유회전롤(123)이 연결되는 슬릿홈(131)이 형성되고, 내측에 외부전원이 인가시 승강동작하는 수직구동부재(133)가 구비된 한 쌍의 이동유닛(130);
상기 각 이동유닛(130)의 단부에 서로 대칭되게 체결되며, 전방 단부에 상기 이동유닛(130)과 연동하여 전자부품(N)을 그립, 고정하는 밀착블록(141)이 구비되고, 외면에 가이드핀(146)이 형성된 한 쌍의 그립유닛(140);
상기 각 그립유닛(140) 외면에 슬라이딩 이동가능하게 연결되며, 후방에 가이드홀(151)과 경사돌부(153)를 갖는 결속편(155)이 마련되고, 상기 결속편(155)과 그립유닛(140) 사이에 탄성체(157)가 개재되며, 상기 결속편(155)의 단부에 동작편(156)이 마련되고, 상기 동작편(156)의 단부에 상기 전자부품(N)에 테스트를 위한 전기신호를 공급하는 도전성 핀(159)이 구비된 컨택유닛(150) 및
상기 수직구동부재(133)의 단부에 연결되며, 전방 단부에 가압돌부(161)가 마련되어 승강동작 과정에서 상기 경사돌부(153)와 맞닿아 상기 컨택유닛(150)을 전자부품(N) 측으로 이동시켜 상기 도전성 핀(159)과 전자부품(N) 간의 컨택동작을 유도하는 가압유닛(160)을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치. - 제1항에 있어서,
상기 한 쌍의 슬릿홈(131)은,
상기 가동블록(121)이 전진시 한 쌍의 이동유닛(130)이 오므리고, 상기 가동블록(121)이 후진시 한 쌍의 이동유닛(130)이 벌어질 수 있도록 소정각도 기울어져 전방으로 갈수록 벌어지는 형상으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치. - 제1항에 있어서,
상기 밀착블록(141)은,
내측에 수용홈(142)이 마련되고, 일면에 상기 수용홈(142)과 연통을 이루는 핀홀(143)이 형성되며, 상부에는 상방으로 진입하는 전자부품(N)과의 접촉으로 인한 충격을 최소화하기 위한 경사면(144)이 형성된 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치. - 제3항에 있어서,
상기 컨택유닛(150)의 도전성 핀(159)은,
상기 밀착블록(141)을 이용한 전자부품(N)의 그립, 고정 동작시 상기 밀착블록(141)의 수용홈(142) 내에 위치하며, 상기 밀착블록(141)에 의한 전자부품(N) 그립, 고정 후 상기 전자부품(N) 테스트 동작시 상기 핀홀(143)을 통해 전자부품(N) 측으로 돌출되어 컨택동작을 수행하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치. - 제1항에 있어서,
상기 가압돌부(161)는,
상기 컨택유닛(150)을 전자부품(N) 측으로 이동시키기 위해 경사돌부(153)와 맞닿는 과정에서 충격을 최소화할 수 있도록 그 하단이 소정각도 경사각을 갖는 쐐기형상으로 이루어진 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치.
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|---|---|---|---|
| KR1020180035558A KR101869678B1 (ko) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 |
Applications Claiming Priority (1)
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| KR1020180035558A KR101869678B1 (ko) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 |
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|---|---|
| KR101869678B1 true KR101869678B1 (ko) | 2018-06-22 |
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ID=62768369
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| KR1020180035558A KR101869678B1 (ko) | 2018-03-28 | 2018-03-28 | 전자부품 테스트 기능을 갖는 그립퍼장치 |
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| KR102392927B1 (ko) | 2021-09-08 | 2022-05-02 | 주식회사미래기계기술 | 전자부품 테스트용 그립퍼장치 |
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2018
- 2018-03-28 KR KR1020180035558A patent/KR101869678B1/ko active IP Right Grant
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