KR101100958B1 - 불휘발성 메모리 장치 - Google Patents
불휘발성 메모리 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일실시 예에 따른 불휘발성 메모리 장치의 구성도이다.
도 3은 도 2에 도시된 노멀 페이지 버퍼부의 구성도이다.
도 4는 도 2에 도시된 리던던시 회로를 나타내는 구성도이다.
도 5는 도 4에 도시된 제어 클럭 발생부의 상세 회로도이다.
도 6A 및 6B는 도 2 및 도 4에 도시된 불휘발성 메모리 장치의 동작을 설명하기 위한 신호들의 파형도이다.
130 : 노멀 컬럼 디코더 140 : 노멀 프리 디코더
210 : 리던던시 메모리 셀 어레이 220 : 리던던시 페이지 버퍼부
230 : 리던던시 컬럼 디코더 240 : 리던던시 프리 디코더
300 : 리던던시 회로
Claims (24)
- 다수의 노멀 페이지 버퍼들을 포함하는 다수의 페이지 버퍼 그룹;
상기 노멀 페이지 버퍼들에 대응되는 입출력 라인들; 및
노멀 제어 클럭 신호에 응답하여 상기 다수의 노멀 페이지 버퍼 각각을 대응하는 상기 입출력 라인들과 연결하기 위한 하나의 컬럼 어드레스 신호를 출력하기 위한 컬럼 디코더를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 1 항에 있어서,
다수의 리던던시 페이지 버퍼들; 및
리던던시 제어 클럭 신호에 응답하여 상기 다수의 리던던시 페이지 버퍼 각각을 대응하는 상기 입출력 라인들과 연결하기 위한 하나의 리던던시 컬럼 어드레스 신호를 출력하기 위한 리던던시 컬럼 디코더를 더 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 2 항에 있어서,
컬럼 어드레스 신호에 응답하여 상기 노멀 제어 클럭 신호 및 상기 리던던시 제어 클럭 신호를 생성하기 위한 리던던시 회로를 더 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 3 항에 있어서,
상기 리던던시 회로는
페일 어드레스를 저장하고, 저장된 상기 페일 어드레스를 출력하기 위한 페일 어드레스 저장부;
상기 컬럼 어드레스와 상기 페일 어드레스 저장부에 저장된 상기 페일 어드레스를 비교하여 히트 신호를 출력하기 위한 어드레스 비교부;
상기 컬럼 어드레스의 변화를 감지하여 어드레스 검출 신호를 츨력하기 위한 어드레스 검출부;
상기 어드레스 검출 신호와 내부 클럭 신호에 응답하여 어드레스 클럭을 출력하기 위한 어드레스 클럭 발생부; 및
상기 히트 신호와 상기 어드레스 클럭에 응답하여 상기 노멀 제어 클럭 및 상기 리던던시 제어 클럭을 생성하기 위한 제어 클럭 발생부를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 컬럼 어드레스 디코딩 신호에 응답하여 다수의 입출력 라인과 선택적으로 연결되어 데이터를 입력받거나 출력하기 위한 노멀 페이지 버퍼부;
리던던시 컬럼 디코딩 신호에 응답하여 상기 다수의 입출력 라인과 선택적으로 연결되어 데이터를 입력받거나 출력하기 위한 리던던시 페이지 버퍼부;
노멀 제어 클럭 신호 및 노멀 프리 디코딩 신호에 응답하여 상기 컬럼 어드레스 디코딩 신호를 생성하기 위한 노멀 컬럼 디코더;
리던던시 제어 클럭 신호 및 리던던시 프리 디코딩 신호에 응답하여 상기 리던던시 컬럼 어드레스 디코딩 신호를 생성하기 위한 리던던시 컬럼 디코더; 및
컬럼 어드레스 신호에 응답하여 상기 노멀 제어 클럭 신호 및 상기 리던던시 제어 클럭 신호를 생성하기 위한 리던던시 회로를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 노멀 페이지 버퍼부는 다수의 페이지 버퍼 그룹을 포함하며, 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 각각은 상기 다수의 입출력 라인 각각에 대응하는 페이지 버퍼를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 리던던시 페이지 버퍼부는 다수의 페이지 버퍼 그룹을 포함하며, 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 각각은 상기 다수의 입출력 라인 각각에 대응하는 페이지 버퍼를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 4 항에 있어서,
상기 노멀 컬럼 디코더는 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹에 하나씩 대응하는 다수의 상기 컬럼 어드레스 디코딩 신호를 출력하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 7 항에 있어서,
상기 리던던시 컬럼 디코더는 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹에 하나씩 대응하는 다수의 상기 리던던시 컬럼 어드레스 디코딩 신호를 출력하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 6 항에 있어서,
상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 중 하나의 페이지 버퍼 그룹만이 선택되어 상기 다수의 입출력 라인과 연결되는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 7 항에 있어서,
상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 중 하나의 페이지 버퍼 그룹만이 선택되어 상기 다수의 입출력 라인과 연결되는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 컬럼 어드레스 신호에 응답하여 상기 프리 디코딩 신호를 출력하는 노멀 프리 디코더를 더 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 리던던시 회로는 상기 컬럼 어드레스 신호에 응답하여 리던던시 컬럼 어드레스를 생성하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 13 항에 있어서,
상기 리던던시 컬럼 어드레스에 응답하여 상기 리던던시 프리 디코딩 신호를 생성하기 위한 리던던시 프리 디코더를 더 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 리던던시 회로는
페일 어드레스를 저장하고, 저장된 상기 페일 어드레스를 출력하기 위한 페일 어드레스 저장부;
상기 컬럼 어드레스와 상기 페일 어드레스 저장부에 저장된 상기 페일 어드레스를 비교하여 히트 신호를 출력하기 위한 어드레스 비교부;
상기 컬럼 어드레스의 변화를 감지하여 어드레스 검출 신호를 츨력하기 위한 어드레스 검출부;
상기 어드레스 검출 신호와 내부 클럭 신호에 응답하여 어드레스 클럭을 출력하기 위한 어드레스 클럭 발생부; 및
상기 히트 신호와 상기 어드레스 클럭에 응답하여 상기 노멀 제어 클럭 및 상기 리던던시 제어 클럭을 생성하기 위한 제어 클럭 발생부를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 15 항에 있어서,
상기 제어 클럭 발생부는 상기 컬럼 어드레스가 상기 페일 어드레스와 일치할 경우 상기 리던던시 제어 클럭을 활성화시키고, 상기 컬럼 어드레스가 상기 페일 어드레스와 불일치할 경우 상기 노멀 제어 클럭을 활성화시키는 불휘발성 메모리 장치.
- 다수의 페이지 버퍼 그룹을 포함하며, 다수의 컬럼 어드레스 디코딩 신호에 응답하여 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 중 어느 하나와 다수의 입출력 라인을 전기적으로 연결하여 데이터를 입력받거나 출력하기 위한 노멀 페이지 버퍼부;
다수의 페이지 버퍼 그룹을 포함하며, 다수의 리던던시 어드레스 디코딩 신호에 응답하여 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 중 어느 하나와 상기 다수의 입출력 라인을 연결하여 데이터를 입력받거나 출력하기 위한 리던던시 페이지 버퍼부;
노멀 제어 클럭 신호 및 노멀 프리 디코딩 신호에 응답하여 상기 다수의 컬럼 어드레스 디코딩 신호를 생성하기 위한 노멀 컬럼 디코더;
리던던시 제어 클럭 신호 및 리던던시 프리 디코딩 신호에 응답하여 상기 리던던시 컬럼 어드레스 디코딩 신호를 생성하기 위한 리던던시 컬럼 디코더; 및
컬럼 어드레스 신호에 응답하여 상기 노멀 제어 클럭 신호 및 상기 리던던시 제어 클럭 신호를 생성하기 위한 리던던시 회로를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 17 항에 있어서,
상기 노멀 페이지 버퍼부의 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 각각은 상기 다수의 컬럼 어드레스 디코딩 신호 각각에 대응하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 17 항에 있어서,
상기 리던던시 페이지 버퍼부의 상기 다수의 페이지 버퍼 그룹 각각은 상기 다수의 리던던시 컬럼 어드레스 디코딩 신호 각각에 대응하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 17 항에 있어서,
상기 컬럼 어드레스 신호에 응답하여 상기 프리 디코딩 신호를 출력하는 노멀 프리 디코더를 더 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 17 항에 있어서,
상기 리던던시 회로는 상기 컬럼 어드레스 신호에 응답하여 리던던시 컬럼 어드레스를 생성하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 21 항에 있어서,
상기 리던던시 컬럼 어드레스에 응답하여 상기 리던던시 프리 디코딩 신호를 생성하기 위한 리던던시 프리 디코더를 더 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 17 항에 있어서,
상기 리던던시 회로는
페일 어드레스를 저장하고, 저장된 상기 페일 어드레스를 출력하기 위한 페일 어드레스 저장부;
상기 컬럼 어드레스와 상기 페일 어드레스 저장부에 저장된 상기 페일 어드레스를 비교하여 히트 신호를 출력하기 위한 어드레스 비교부;
상기 컬럼 어드레스의 변화를 감지하여 어드레스 검출 신호를 츨력하기 위한 어드레스 검출부;
상기 어드레스 검출 신호와 내부 클럭 신호에 응답하여 어드레스 클럭을 출력하기 위한 어드레스 클럭 발생부; 및
상기 히트 신호와 상기 어드레스 클럭에 응답하여 상기 노멀 제어 클럭 및 상기 리던던시 제어 클럭을 생성하기 위한 제어 클럭 발생부를 포함하는 불휘발성 메모리 장치.
- 제 23 항에 있어서,
상기 제어 클럭 발생부는 상기 컬럼 어드레스가 상기 페일 어드레스와 일치할 경우 상기 리던던시 제어 클럭을 활성화시키고, 상기 컬럼 어드레스가 상기 페일 어드레스와 불일치할 경우 상기 노멀 제어 클럭을 활성화시키는 불휘발성 메모리 장치.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100087050A KR101100958B1 (ko) | 2010-09-06 | 2010-09-06 | 불휘발성 메모리 장치 |
US13/225,940 US8854906B2 (en) | 2010-09-06 | 2011-09-06 | Nonvolatile memory device with improved integrated ratio |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100087050A KR101100958B1 (ko) | 2010-09-06 | 2010-09-06 | 불휘발성 메모리 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101100958B1 true KR101100958B1 (ko) | 2011-12-29 |
Family
ID=45507215
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100087050A KR101100958B1 (ko) | 2010-09-06 | 2010-09-06 | 불휘발성 메모리 장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8854906B2 (ko) |
KR (1) | KR101100958B1 (ko) |
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-
2010
- 2010-09-06 KR KR1020100087050A patent/KR101100958B1/ko active IP Right Grant
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Publication number | Publication date |
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US8854906B2 (en) | 2014-10-07 |
US20120057415A1 (en) | 2012-03-08 |
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Legal Events
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A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
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