KR100821570B1 - 고전압 발생 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (19)
- 외부 공급전압과 기준전압을 비교하여, 상기 외부 공급 전압이 상기 기준 전압 보다 작을 경우 상기 외부 공급 전압을 펌핑부의 입력 전압으로 제공하고, 상기 외부 공급 전압이 상기 기준 전압보다 큰 경우 상기 기준 전압을 상기 펌핑부의 입력 전압으로 제공하여 전압 펌핑을 수행하는 고전압 발생 장치로서,상기 외부 공급전압과 상기 기준전압을 비교하여 전위 비교 신호를 출력하는 공급 전위 감지부; 및상기 전위 비교 신호에 따라 구동되어, 상기 기준전압 또는 상기 외부 공급전압 중 어느 하나를 펌핑부의 입력 전압으로 제공하기 위한 펌핑 제어부;를 포함하는 고전압 발생 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 공급 전위 감지부는 상기 기준전압을 제 1 입력 신호로 하고, 상기 외부 공급전압을 제 2 입력 신호로 하여, 두 입력 신호의 비교 결과를 상기 펌핑 제어부로 출력하는 전압 비교부를 포함하는 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 공급 전위 감지부는 인에이블 신호에 응답하여 구동되며, 상기 인에이블 신호는 상기 외부 공급전압 레벨을 임의의 주기에 따라 출력하는 펄스 신호인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 공급 전위 감지부는 상기 전압 비교부의 출력 단자에 접속되는 래치부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 전압 비교부는 제 1 노드에 인가되는 신호에 의해 구동되며 상기 외부 공급전압 입력 단자와 제 2 노드 간에 접속되는 제 1 MOS 트랜지스터;상기 제 1 노드에 인가되는 신호에 의해 구동되며 상기 외부 공급전압 입력 단자와 제 3 노드 간에 접속되는 제 2 MOS 트랜지스터;상기 외부 공급전압에 의해 구동되며 상기 제 3 노드와 제 4 노드 간에 접속되는 제 3 MOS 트랜지스터;상기 기준전압에 의해 구동되며 상기 제 2 노드와 상기 제 4 노드 간에 접속되는 제 4 MOS 트랜지스터; 및상기 인에이블 신호에 의해 구동되며 상기 제 4 노드와 접지 단자 간에 접속되는 제 5 MOS 트랜지스터;를 포함하며, 상기 제 3 노드에 인가되는 신호는 상기 펌핑 제어부로 출력되 는 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터는 P 타입 MOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 6 항에 있어서,상기 제 3 내지 제 5 MOS 트랜지스터는 N 타입 MOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 펌핑 제어부는 상기 공급 전위 감지부로부터 출력되는 상기 전위 비교 신호에 의해 구동되며, 상기 기준전압을 제 1 입력 신호로 하고, 상기 외부 공급전압을 제 2 입력 신호로 하여, 상기 제 1 및 제 2 입력 신호의 비교 결과에 따른 신호를 출력하기 위한 스위칭 제어부;상기 스위칭 제어부의 출력 신호에 따라 구동되어, 상기 기준전압을 상기 펌핑부의 입력 전압으로 제공하기 위한 제 1 스위칭부; 및상기 전위 비교 신호에 의해 구동되어 상기 외부 공급전압을 상기 펌핑부의 입력 전압으로 제공하기 위한 제 2 스위칭부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 스위칭 제어부는 제 1 노드에 인가되는 전압에 의해 구동되며 상기 외부 공급전압 입력 단자와 제 2 노드 간에 접속되는 제 1 MOS 트랜지스터;상기 제 1 노드에 인가되는 전압에 의해 구동되며 상기 외부 공급전압 입력 단자와 제 3 노드 간에 접속되는 제 2 MOS 트랜지스터;상기 전위 비교 신호에 의해 구동되며 상기 외부 공급전압 입력 단자와 상기 제 3 노드 간에 접속되는 제 3 MOS 트랜지스터;상기 전위 비교 신호에 의해 구동되며 상기 외부 공급전압 입력 단자와 상기 제 2 노드 간에 접속되는 제 4 MOS 트랜지스터;상기 기준전압에 의해 구동되며 상기 제 3 노드와 제 4 노드 간에 접속되는 제 5 MOS 트랜지스터;상기 외부 공급전압에 의해 구동되며 상기 제 2 노드와 상기 제 4 노드 간에 접속되는 제 6 MOS 트랜지스터;상기 전위 비교 신호에 의해 구동되며 상기 제 4 노드와 접지단자 간에 접속되는 제 7 MOS 트랜지스터;를 포함하며, 상기 제 2 노드는 출력 단자인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 제 1 내지 제 4 MOS 트랜지스터는 P 타입 MOS 트랜지스터이며, 상기 제 1 및 제 2 MOS 트랜지스터는 문턱전압이 동일한 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 10 항에 있어서,상기 제 5 내지 제 7 MOS 트랜지스터는 N타입 MOS 트랜지스터이며, 상기 제 5 및 제 6 MOS 트랜지스터는 문턱전압이 동일한 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 제 1 스위칭부는 상기 스위칭 제어부의 출력 신호에 의해 구동되며 상기 기준전압 입력 단자와 제 1 노드 간에 접속되는 제 1 MOS 트랜지스터; 및상기 전위 비교 신호에 의해 구동되며 상기 제 1 노드와 접지 단자 간에 접속되는 제 2 MOS 트랜지스터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 제 1 MOS 트랜지스터는 P 타입 MOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 제 2 MOS 트랜지스터는 N 타입 MOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 9 항에 있어서,상기 제 2 스위칭부는 상기 전위 비교 신호가 로우 레벨일 때 구동되며, 상기 외부 공급전압 입력 단자와 출력 단자 간에 접속되는 MOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 제 16 항에 있어서,상기 MOS 트랜지스터는 P 타입 MOS 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
- 펌핑 전압 레벨을 검출하는 전위 감지부;상기 전위 감지부의 출력 신호에 응답하여 발진 신호를 출력하는 발진부; 및외부 공급전압과 기준전압을 입력 전압으로 선택적으로 공급받아, 상기 발진 신호의 출력에 응답하여 상기 입력 전압을 펌핑하여 출력하는 펌핑부를 포함하며,상기 외부 공급전압이 상기 기준 전압보다 작은 경우 상기 외부 공급전압이 상기 펌핑부의 입력 전압으로 제공되고,상기 외부 공급 전압이 상기 기준 전압보다 큰 경우 상기 기준 전압이 상기 펌핑부의 입력 전압으로 제공되며,상기 펌핑부는, 상기 외부 공급전압과 상기 기준전압의 레벨 비교에 따라 생성되는 전위 비교 신호에 따라 구동되어, 상기 기준전압 또는 상기 외부 공급전압 중 어느 하나의 레벨을 갖는 신호를 출력하는 펌핑 제어부의 출력 신호를 입력 전압으로 공급받는 것을 특징으로 하는 고전압 발생 장치.
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Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050115078A KR100821570B1 (ko) | 2005-11-29 | 2005-11-29 | 고전압 발생 장치 |
TW095137948A TWI313011B (en) | 2005-11-29 | 2006-10-14 | Apparatus for generating elevated voltage |
US11/585,095 US7474140B2 (en) | 2005-11-29 | 2006-10-24 | Apparatus for generating elevated voltage |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050115078A KR100821570B1 (ko) | 2005-11-29 | 2005-11-29 | 고전압 발생 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070056443A KR20070056443A (ko) | 2007-06-04 |
KR100821570B1 true KR100821570B1 (ko) | 2008-04-14 |
Family
ID=38086819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050115078A KR100821570B1 (ko) | 2005-11-29 | 2005-11-29 | 고전압 발생 장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7474140B2 (ko) |
KR (1) | KR100821570B1 (ko) |
TW (1) | TWI313011B (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2005
- 2005-11-29 KR KR1020050115078A patent/KR100821570B1/ko active IP Right Grant
-
2006
- 2006-10-14 TW TW095137948A patent/TWI313011B/zh active
- 2006-10-24 US US11/585,095 patent/US7474140B2/en active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070056443A (ko) | 2007-06-04 |
TWI313011B (en) | 2009-08-01 |
US7474140B2 (en) | 2009-01-06 |
TW200739602A (en) | 2007-10-16 |
US20070120590A1 (en) | 2007-05-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
AMND | Amendment | ||
B601 | Maintenance of original decision after re-examination before a trial | ||
E801 | Decision on dismissal of amendment | ||
J301 | Trial decision |
Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20070628 Effective date: 20080319 |
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S901 | Examination by remand of revocation | ||
GRNO | Decision to grant (after opposition) | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140324 Year of fee payment: 7 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160321 Year of fee payment: 9 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170323 Year of fee payment: 10 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180326 Year of fee payment: 11 |
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FPAY | Annual fee payment |
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