KR100733419B1 - 내부전원 생성장치 - Google Patents
내부전원 생성장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100733419B1 KR100733419B1 KR1020050036549A KR20050036549A KR100733419B1 KR 100733419 B1 KR100733419 B1 KR 100733419B1 KR 1020050036549 A KR1020050036549 A KR 1020050036549A KR 20050036549 A KR20050036549 A KR 20050036549A KR 100733419 B1 KR100733419 B1 KR 100733419B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pumping
- control signal
- output
- node
- signal
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07B—TICKET-ISSUING APPARATUS; FARE-REGISTERING APPARATUS; FRANKING APPARATUS
- G07B15/00—Arrangements or apparatus for collecting fares, tolls or entrance fees at one or more control points
- G07B15/02—Arrangements or apparatus for collecting fares, tolls or entrance fees at one or more control points taking into account a variable factor such as distance or time, e.g. for passenger transport, parking systems or car rental systems
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
-
- G—PHYSICS
- G10—MUSICAL INSTRUMENTS; ACOUSTICS
- G10L—SPEECH ANALYSIS OR SYNTHESIS; SPEECH RECOGNITION; SPEECH OR VOICE PROCESSING; SPEECH OR AUDIO CODING OR DECODING
- G10L13/00—Speech synthesis; Text to speech systems
- G10L13/08—Text analysis or generation of parameters for speech synthesis out of text, e.g. grapheme to phoneme translation, prosody generation or stress or intonation determination
Abstract
Description
Claims (12)
- 외부전원을 네거티브 펌핑하여 외부전원보다 낮은 레벨을 갖는 내부전압으로 출력시키기 위한 차지 펌핑수단;상기 내부전압의 레벨 변화에 대한 감지 없이 구동신호의 인가 시 상기 차지 펌핑수단을 구동시키기 위한 펌핑 제어신호 생성수단; 및상기 구동신호를 인가받아 상기 차지 펌핑수단의 상기 내부전압 공급을 제어하기 위한 공급 드라이빙 제어수단을 구비하는 내부전원 생성장치.
- 외부전원을 네거티브 펌핑하여 외부전원보다 낮은 레벨을 갖는 내부전압으로 출력시키기 위한 차지 펌핑수단;상기 내부전압의 레벨 변화에 대한 감지 없이 구동신호에 응답하여 주기신호를 생성하기 위한 오실레이터;상기 주기신호에 응답하여 상기 차지 펌핑수단의 구동을 제어하는 복수의 펌핑 제어신호를 생성하기 위한 펌핑 제어신호 생성수단; 및상기 주기신호에 응답하여 상기 차지 펌핑수단의 상기 내부전압 공급을 제어하기 위한 공급 드라이빙 제어수단을 구비하는 내부전원 생성장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서,상기 구동신호는 외부소자 내에서 상기 내부전압의 많은 전류소모를 발생시키는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제3항에 있어서,상기 차지 펌핑수단은,제1 펌핑 제어신호의 활성화에 응답하여 제1 및 제2 노드를 서로 다른 레벨로 차징하기 위한 제1 차징부와,제2 펌핑 제어신호에 응답하여 상기 제1 노드를 펌핑하기 위한 제1 펌핑부와,제3 펌핑 제어신호의 활성화에 응답하여 제3 및 제4 노드를 서로 다른 레벨로 차징하기 위한 제2 차징부와,상기 제2 노드에 걸린 전압에 응답하여 상기 제4 노드를 펌핑하기 위한 제2 펌핑부와,공급 드라이빙 제어신호을 게이트 입력으로 가져 상기 제4 노드에 걸린 전압을 상기 내부전압으로 출력하기 위한 제1 NMOS트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제4항에 있어서,상기 제1 차징부는,상기 제1 펌핑 제어신호를 게이트 입력으로 가지며 상기 외부전원의 공급단과 상기 제2 노드 사이에 소스-드레인 경로를 갖는 제1 PMOS트랜지스터와, 상기 제1 펌핑 제어신호를 게이트 입력으로 가지며 상기 제2 노드와 상기 제1 노드 사이에 드레인-소스 경로를 갖는 제2 NMOS트랜지스터와, 상기 제2 노드에 걸린 전압을 게이트 입력으로 가지며 상기 제1 노드와 전원전압의 공급단 사이에 드레인-소스 경로를 갖는 제3 NMOS트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제5항에 있어서,상기 제2 차징부는,상기 제2 펌핑 제어신호를 게이트 입력으로 가지며 상기 외부전원의 공급단과 상기 제3 노드 사이에 소스-드레인 경로를 갖는 제2 PMOS트랜지스터와, 상기 제2 펌핑 제어신호를 게이트 입력으로 가지며 상기 제3 노드와 상기 제4 노드 사이에 드레인-소스 경로를 갖는 제4 NMOS트랜지스터와, 상기 제3 노드에 걸린 전압을 게이트 입력으로 가지며 상기 제4 노드와 전원전압의 공급단 사이에 드레인-소스 경로를 갖는 제5 NMOS트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제6항에 있어서,상기 제1 펌핑부는 상기 제2 펌핑 제어신호을 일측단으로 인가받으며 제1 노드에 타측단이 접속된 제1 커패시터를 포함하며,상기 제2 펌핑부는 상기 제2 노드와 제4 노드 사이에 접속된 제2 커패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제4항에 있어서,상기 공급 드라이빙 제어수단은,자신의 입력신호를 상기 차지 펌핑수단의 출력시점을 제어하기 위한 출력 제어신호로 출력하기 위한 출력 제어신호 생성부와,상기 출력 제어신호의 레벨을 쉬프팅시켜 상기 외부전원과 상기 내부전압 사이에서 스윙하는 상기 공급 드라이빙 제어신호를 출력하기 위한 레벨 쉬프터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제8항에 있어서,상기 펌핑 제어신호 생성수단은,자신의 입력신호가 갖는 펄스폭을 확장시켜 출력하기 위한 펄스폭 확장부와,상기 펄스폭 확장부의 출력신호를 버퍼링 하여 상기 제3 펌핑 제어신호로 출력하기 위한 제1 버퍼와,상기 펄스폭 확장부의 출력신호를 버퍼링 하여 상기 제1 펌핑 제어신호으로 출력하기 위한 제2 버퍼와,상기 제2 버퍼의 출력신호를 반전시켜 상기 제2 펌핑 제어신호로 출력하기 위한 제1 인버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제9항에 있어서,상기 출력 제어신호 생성부는,자신의 입력신호를 반전시키기 위한 제2 인버터와,상기 제2 인버터의 출력신호를 지연시키기 위한 제1 지연부와,상기 제2 인버터 및 상기 제2 지연부의 출력신호를 입력으로 가져 상기 출력 제어신호로 출력하기 위한 제1 노어게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제10항에 있어서,상기 펄스폭 확장부는,상기 자신의 입력신호를 반전시키기 위한 제3 인버터와,상기 제3 인버터의 출력신호를 지연시키기 위한 제2 지연부와,상기 제3 인버터 및 상기 제2 지연부의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 낸드게이트를 구비하는 것을 특징으로 하는 내부전원 생성장치.
- 제11항에 있어서,상기 레벨 쉬프터는,상기 출력 제어신호를 반전시키기 위한 제4 인버터와,상기 출력 제어신호와 상기 제4 인버터의 출력신호를 차동 입력으로 갖는 차동 증폭기와,상기 외부전원과 상기 내부전압을 구동전원으로 가져 상기 차동 증폭기의 출력전압을 반전시켜 출력하기 위한 제5 인버터와,상기 외부전원과 상기 내부전압을 구동전원으로 가져 상기 제5 인버터의 출력신호를 반전시켜 상기 공급 드라이빙 제어신호로 출력하기 위한 제6 인버터를 구비하는 것을특징으로 하는 내부전원 생성장치.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050036549A KR100733419B1 (ko) | 2005-04-30 | 2005-04-30 | 내부전원 생성장치 |
US11/302,375 US7292090B2 (en) | 2005-04-30 | 2005-12-14 | Internal voltage generating circuit |
US11/905,530 US7474142B2 (en) | 2005-04-30 | 2007-10-02 | Internal voltage generating circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050036549A KR100733419B1 (ko) | 2005-04-30 | 2005-04-30 | 내부전원 생성장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060113267A KR20060113267A (ko) | 2006-11-02 |
KR100733419B1 true KR100733419B1 (ko) | 2007-06-29 |
Family
ID=37233883
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050036549A KR100733419B1 (ko) | 2005-04-30 | 2005-04-30 | 내부전원 생성장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7292090B2 (ko) |
KR (1) | KR100733419B1 (ko) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100733414B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2007-06-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전원 생성장치 |
KR100733419B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2007-06-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전원 생성장치 |
KR100821570B1 (ko) * | 2005-11-29 | 2008-04-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고전압 발생 장치 |
KR100846387B1 (ko) * | 2006-05-31 | 2008-07-15 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 소자의 온도 정보 출력 장치 |
KR100806120B1 (ko) * | 2006-08-22 | 2008-02-22 | 삼성전자주식회사 | 내부 전원전압 발생회로 및 내부 전원전압 발생방법 |
KR100845776B1 (ko) * | 2006-11-23 | 2008-07-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 센스앰프 제어회로 및 방법 |
KR20080100539A (ko) * | 2007-05-14 | 2008-11-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 내부전압 발생기 및 발생방법 |
KR100863019B1 (ko) * | 2007-06-22 | 2008-10-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로의 내부 전압 생성 장치 |
JP2011507853A (ja) * | 2007-12-20 | 2011-03-10 | テバ ウィメンズ ヘルス インコーポレイテッド | 緊急避妊のための投与量レジメンならびに薬学的組成物およびパッケージ |
KR101001145B1 (ko) * | 2008-12-26 | 2010-12-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | 상변환 메모리 장치의 내부전압 생성회로 및 생성방법 |
US8901537B2 (en) * | 2010-12-21 | 2014-12-02 | Intel Corporation | Transistors with high concentration of boron doped germanium |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020084892A (ko) * | 2001-05-04 | 2002-11-13 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리 장치의 네거티브 전압 발생기 |
KR20040102610A (ko) * | 2003-05-28 | 2004-12-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고전압 발생기 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04255989A (ja) * | 1991-02-07 | 1992-09-10 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置および内部電圧発生方法 |
KR0131746B1 (ko) * | 1993-12-01 | 1998-04-14 | 김주용 | 내부 강압전원 회로 |
KR100207507B1 (ko) | 1996-10-05 | 1999-07-15 | 윤종용 | 반도체 내부 전원 제어 장치 |
US6097428A (en) * | 1997-05-23 | 2000-08-01 | Inspex, Inc. | Method and apparatus for inspecting a semiconductor wafer using a dynamic threshold |
JP2000011649A (ja) * | 1998-06-26 | 2000-01-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
JP2000047740A (ja) * | 1998-07-29 | 2000-02-18 | Mitsubishi Electric Corp | 電圧補助回路および半導体集積回路装置 |
JP3655116B2 (ja) * | 1999-02-12 | 2005-06-02 | 富士通株式会社 | チャージポンプ回路の駆動方法及び電圧変換回路 |
KR100284296B1 (ko) * | 1999-04-13 | 2001-03-02 | 김영환 | 내부전원 발생회로 |
KR20020007439A (ko) | 2000-07-13 | 2002-01-29 | 로버트 에이치. 씨. 챠오 | 고속 차지 펌프용 다이나믹 레귤레이션 구성 |
US6522193B2 (en) * | 2000-12-19 | 2003-02-18 | Hynix Semiconductor Inc. | Internal voltage generator for semiconductor memory device |
KR100396897B1 (ko) * | 2001-08-14 | 2003-09-02 | 삼성전자주식회사 | 페리(peri)용 전압 발생 회로와 이를 구비하는 반도체메모리 장치 및 전압 발생 방법 |
JP2003318270A (ja) * | 2002-04-24 | 2003-11-07 | Nec Micro Systems Ltd | バイアス電圧発生回路および半導体集積回路装置 |
JP3700173B2 (ja) * | 2002-05-28 | 2005-09-28 | ソニー株式会社 | 電圧変換制御回路及び方法 |
KR100432890B1 (ko) * | 2002-06-07 | 2004-05-22 | 삼성전자주식회사 | 안정적으로 승압 전압을 발생하는 승압 전압 발생 회로 및그 승압 전압 제어 방법 |
US6861872B2 (en) * | 2003-02-05 | 2005-03-01 | Infineon Technologies Ag | Voltage down converter for low voltage operation |
KR100596869B1 (ko) * | 2003-02-10 | 2006-07-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 특성 조절 장치를 구비한 반도체 장치의 내부전압 발생장치 |
KR100548557B1 (ko) * | 2003-05-21 | 2006-02-02 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 장치의 내부 전원발생장치 |
US7256640B2 (en) * | 2005-01-03 | 2007-08-14 | Stmicroelectronics S.R.L. | Multi-stage charge pump voltage generator with protection of the devices of the charge pump |
KR100733419B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2007-06-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전원 생성장치 |
KR100733414B1 (ko) * | 2005-04-30 | 2007-06-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 내부전원 생성장치 |
-
2005
- 2005-04-30 KR KR1020050036549A patent/KR100733419B1/ko active IP Right Grant
- 2005-12-14 US US11/302,375 patent/US7292090B2/en active Active
-
2007
- 2007-10-02 US US11/905,530 patent/US7474142B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20020084892A (ko) * | 2001-05-04 | 2002-11-13 | 삼성전자 주식회사 | 반도체 메모리 장치의 네거티브 전압 발생기 |
KR20040102610A (ko) * | 2003-05-28 | 2004-12-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 고전압 발생기 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060113267A (ko) | 2006-11-02 |
US7292090B2 (en) | 2007-11-06 |
US7474142B2 (en) | 2009-01-06 |
US20080024203A1 (en) | 2008-01-31 |
US20060244515A1 (en) | 2006-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100733419B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR100696956B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR100733472B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR100733414B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR100727440B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR100702766B1 (ko) | 안정적인 dll용 내부 전압을 생성하는 내부 전압발생기와 이를 포함하는 내부 클록 발생기 및 그 내부 전압발생 방법 | |
US7315195B2 (en) | High voltage generation circuit | |
KR20070115140A (ko) | 반도체메모리소자의 내부전압 공급장치 | |
KR20100094787A (ko) | 래치-업 현상을 방지할 수 있는 cmos 차지 펌프 | |
KR100858875B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR101996003B1 (ko) | 클록 제어 장치 | |
US7924073B2 (en) | Semiconductor memory device having back-bias voltage in stable range | |
KR100716662B1 (ko) | 내부전원 생성장치 | |
JP2618209B2 (ja) | アドレス遷移検出回路 | |
KR100761371B1 (ko) | 액티브 드라이버 | |
US7368953B2 (en) | Buffer | |
KR100799103B1 (ko) | 반도체 소자 | |
KR100991384B1 (ko) | 반도체 메모리 소자와 그의 동작 방법 | |
KR20060104890A (ko) | 내부전원 생성장치 | |
KR100892648B1 (ko) | 내부 전압 생성 회로 | |
KR20060040392A (ko) | 반도체 장치의 셀프 바이어스드 차동 입력 버퍼 | |
KR19990084907A (ko) | 전류소모가 적은 엑티브용 내부 승압전압 디텍터를 구비하는 반도체 메모리장치의 내부 승압전압 발생기 및 내부 승압전압 디텍터 제어방법 | |
KR20120097979A (ko) | 반도체 장치 | |
KR20080066237A (ko) | 반도체 메모리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
G170 | Publication of correction | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130523 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140523 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160520 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170526 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180521 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190527 Year of fee payment: 13 |