KR100551806B1 - 반도체 처리용 반송 장치 및 수용 장치와, 반도체 처리시스템 - Google Patents
반도체 처리용 반송 장치 및 수용 장치와, 반도체 처리시스템 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100551806B1 KR100551806B1 KR1020000051799A KR20000051799A KR100551806B1 KR 100551806 B1 KR100551806 B1 KR 100551806B1 KR 1020000051799 A KR1020000051799 A KR 1020000051799A KR 20000051799 A KR20000051799 A KR 20000051799A KR 100551806 B1 KR100551806 B1 KR 100551806B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- support member
- drive mechanism
- semiconductor processing
- processed
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67766—Mechanical parts of transfer devices
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J9/00—Programme-controlled manipulators
- B25J9/02—Programme-controlled manipulators characterised by movement of the arms, e.g. cartesian coordinate type
- B25J9/04—Programme-controlled manipulators characterised by movement of the arms, e.g. cartesian coordinate type by rotating at least one arm, excluding the head movement itself, e.g. cylindrical coordinate type or polar coordinate type
- B25J9/041—Cylindrical coordinate type
- B25J9/042—Cylindrical coordinate type comprising an articulated arm
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67748—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber horizontal transfer of a single workpiece
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/139—Associated with semiconductor wafer handling including wafer charging or discharging means for vacuum chamber
Abstract
Description
Claims (20)
- 반도체 처리용 반송 장치에 있어서,수평면내에서 신축 가능하도록 지지 베이스에 장착되고, 그 신축에 의해 제 1 방향으로 왕복 운동하는 선단 아암을 구비하는 다관절 아암부와,상기 선단 아암상에 배치되고, 상기 제 1 방향으로 왕복 운동 가능하게 상기 선단 아암에 장착되는, 피처리 기판을 지지하기 위한 지지 부재와,상기 다관절 아암부를 신축시키기 위한 주 구동 기구와,상기 지지 부재를 상기 선단 아암에 대하여 왕복 운동시키기 위한 부 구동 기구를 구비하고,상기 다관절 아암부 및 상기 지지 부재가 수축한 상태에 있어서 상기 지지 부재를 끼우도록 배치되고, 피처리 기판을 지지하기 위한 한쌍의 보관 선반과, 상기 지지 부재와 상기 보관 선반 사이에서 피처리 기판을 주고받도록 상기 지지 부재와 상기 보관 선반을 상대적으로 상하로 구동시키기 위한 수직 구동 기구를 더 구비하는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 지지 부재는 상기 다관절 아암부의 신축에 따라 상기 선단 아암에 대해 왕복 운동하는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 지지 부재의 왕복 운동을 상기 다관절 아암부의 신축에 연동시키기 위해, 상기 부 구동 기구가 상기 주 구동 기구에 기계적으로 접속되는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 부 구동 기구는 상기 선단 아암에 축 지지된 한쌍의 풀리와, 상기 한쌍의 풀리 사이에 가로걸쳐진 벨트를 가지며, 상기 벨트에 상기 지지 부재가 연결되는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 부 구동 기구는 상기 선단 아암에 축 지지된 한쌍의 스프로킷과, 상기 한쌍의 스프로킷 사이에 가로걸쳐진 체인을 가지며, 상기 체인에 상기 지지 부재가 연결되는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 3 항에 있어서,상기 부 구동 기구가 증속기를 거쳐 상기 주 구동 기구에 접속되는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 부 구동 기구를 상기 주 구동 기구와는 독립적으로 구동시키기 위한 제어부를 더 구비하는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 부 구동 기구는 상기 선단 아암상에 배치된 피스톤 실린더와, 상기 피스톤 실린더에 의해 왕복 운동되는 피스톤 로드를 가지며, 상기 피스톤 로드에 상기 지지 부재가 연결되는반도체 처리용 반송 장치.
- 제 7 항에 있어서,상기 부 구동 기구는 상기 선단 아암상에 배치된 볼나사와, 상기 볼나사에 회전 구동력을 부여하기 위해 상기 선단 아암상에 배치된 모터와, 상기 볼나사에 나사 결합되는 볼너트를 가지며, 상기 볼너트에 상기 지지 부재가 연결되는반도체 처리용 반송 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,상기 다관절 아암부는 상기 지지 베이스에 대하여 수평면내에서 회전이 가능하고, 상기 반송 장치는 상기 다관절 아암부를 회전시키기 위한 회전 구동 기구를 더 구비하는반도체 처리용 반송 장치.
- 반도체 처리용 반송 장치에 있어서,수평면내에서 신축 가능하도록 지지 베이스에 장착되고, 그 신축에 의해 제 1 방향으로 왕복 운동하는 선단 아암을 구비하고, 상기 지지 베이스에 대하여 수평면내에서 회전 가능한 다관절 아암부와,상기 선단 아암상에 배치되어, 피처리 기판을 지지하기 위한 지지 부재와,상기 다관절 아암부가 수축한 상태에 있어서 상기 지지 부재를 끼우도록 배치되고, 피처리 기판을 지지하기 위한 한쌍의 보관 선반과,상기 다관절 아암부를 신축시키기 위한 주 구동 기구와,상기 다관절 아암부를 회전시키기 위한 회전 구동 기구와,상기 지지 부재와 상기 보관 선반 사이에서 피처리 기판을 주고받도록 상기 지지 부재와 상기 보관 선반을 상대적으로 상하로 구동시키기 위한 수직 구동 기구를 구비하는반도체 처리용 반송 장치.
- 반도체 처리용 수용 장치에 있어서,기밀 수용실과,상기 수용실내에 배치된 피처리 기판을 지지하는 탑재면을 갖는 탑재대로서, 반송 장치에 의해 상기 탑재대에 대하여 피처리 기판이 로드 및 언로드되는, 상기 탑재대와,상기 탑재면에 대한 피처리 기판의 로드 및 언로드를 보조하기 위한 제 1 리프터 세트 및 제 2 리프터 세트로서, 상기 제 1 리프터 세트와 상기 제 2 리프터 세트는 피처리 기판을 위한 상이한 높이의 지지 레벨을 제공하며, 상기 제 1 리프터 세트 및 상기 제 2 리프터 세트는 상기 탑재대를 감싸도록 배치되고, 상기 제 1 및 제 2 리프터는 피처리 기판을 지지하기 위한 핑거를 갖고, 상기 핑거는 상기 탑재대측으로 돌출되는 돌출 위치와, 상기 탑재대로부터 후퇴하는 후퇴 위치 사이에서 회전이 가능하며, 상기 제 1 리프터에 대응하여 상기 탑재대에 오목부가 형성되고, 상기 제 1 리프터의 상기 핑거는 상기 돌출 위치에 있어서 상기 오목부내에 돌출하여 상기 탑재면의 하측에 들어가는, 상기 제 1 리프터 세트 및 상기 제 2 리프터 세트와,상기 제 1 및 제 2 리프터를 상기 탑재대에 대하여 상하로 구동시키기 위한 리프터 구동 기구를 구비하는반도체 처리용 수용 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 리프터 구동 기구를 거쳐 상기 1 및 제 2 리프터의 동작을 제어하기 위한 제어부를 더 구비하며;상기 제어부는,상기 반송 장치에 의해 반입되는 미처리된 피처리 기판을 상기 제 2 리프터 세트에 의해 상기 탑재면 상부 방향의 상측 레벨에 지지하는 단계와,처리 완료된 피처리 기판을 상기 제 1 리프터 세트에 의해 상기 탑재면과 상기 상측 레벨 사이의 중간 레벨에 지지하는 단계와,상기 반송 장치에 의해 상기 처리 완료된 피처리 기판을 상기 중간 레벨로부터 반출한 후에, 상기 미처리 피처리 기판을 상기 상측 레벨로부터 상기 탑재면상으로 하강시키도록 상기 제 1 및 제 2 리프터 세트를 구동하는 단계를 수행하도록 설정되는반도체 처리용 수용 장치.
- 제 13 항에 있어서,상기 수용 장치가 반도체 처리 장치로 구성되며,상기 탑재대를 하측 위치와 상측 위치 사이에서 이동시키기 위한 탑재대 구동 기구로서, 상기 하측 위치에 있어서 반송 장치에 의해 상기 탑재대에 대하여 피처리 기판이 로드 및 언로드되고, 상기 상측 위치에 있어서 피처리 기판에 대하여 처리가 실시되는, 상기 탑재대 구동 기구와,상기 상측 위치에 있는 상기 탑재대의 바로 상부에 배치된 공급구를 갖고, 상기 수용실내에 처리 가스를 공급하기 위한 공급 시스템과,상기 하측 위치에 있는 상기 탑재대의 바로 하부에 배치된 배기구를 갖고, 상기 수용실내를 진공 배기시키기 위한 배기 시스템을 더 구비하며,상기 제 1 리프터 세트 및 제 2 리프터 세트는 상기 하측 위치에 있는 상기 탑재대를 감싸도록 배치되는반도체 처리용 수용 장치.
- 반도체 처리 시스템에 있어서,기밀 처리실과,상기 처리실내에 배치된 피처리 기판을 지지하는 탑재면을 갖는 탑재대와,상기 처리실내에 처리 가스를 공급하기 위한 공급 시스템과,상기 처리실내를 진공 배기하기 위한 배기 시스템과,상기 처리실에 게이트를 거쳐 접속된 기밀 반송실과,상기 처리실에 대하여 피처리 기판을 로드 및 언로드하기 위해서 상기 반송실내에 배치된 반송 장치를 포함하며;상기 반송 장치가,수평면내에서 신축 가능하도록 지지 베이스에 장착되고, 그 신축에 의해 제 1 방향으로 왕복 운동하는 선단 아암을 구비하는 다관절 아암부와,상기 선단 아암상에 배치되고, 상기 제 1 방향으로 왕복 운동 가능하게 상기 선단 아암에 장착되는, 피처리 기판을 지지하기 위한 지지 부재와,상기 다관절 아암부를 신축시키기 위한 주 구동 기구와,상기 지지 부재를 상기 선단 아암에 대하여 왕복 운동시키기 위한 부 구동 기구를 포함하고,상기 지지 부재는 상기 다관절 아암부의 신축에 따라 상기 선단 아암에 대하여 왕복 운동하는반도체 처리 시스템.
- 제 16 항에 있어서,상기 반송 장치는, 상기 다관절 아암부 및 상기 지지 부재가 수축한 상태에 있어서 상기 지지 부재를 끼우도록 배치되고, 피처리 기판을 지지하기 위한 한쌍의 보관 선반과, 상기 지지 부재와 상기 보관 선반 사이에서 피처리 기판을 주고받도록 상기 지지 부재와 상기 보관 선반을 상대적으로 상하로 구동시키기 위한 수직 구동 기구를 더 구비하는반도체 처리 시스템.
- 제 16 항에 있어서,상기 탑재대를 감싸도록 배치되고, 피처리 기판을 위한 상이한 높이의 지지 레벨을 제공하는, 상기 탑재면에 대한 피처리 기판의 로드 및 언로드를 보조하기 위한 제 1 리프터 세트 및 제 2 리프터 세트와,상기 제 1 및 제 2 리프터를 상기 탑재대에 대하여 상하로 구동시키기 위한 리프터 구동 기구를 더 구비하는반도체 처리 시스템.
- 삭제
- 제 16 항에 있어서,상기 부 구동 기구를 상기 주 구동 기구와는 독립적으로 구동시키기 위한 제어부를 더 구비하는반도체 처리 시스템.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25144599 | 1999-09-06 | ||
JP99-251445 | 1999-09-06 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010030234A KR20010030234A (ko) | 2001-04-16 |
KR100551806B1 true KR100551806B1 (ko) | 2006-02-13 |
Family
ID=17222944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020000051799A KR100551806B1 (ko) | 1999-09-06 | 2000-09-02 | 반도체 처리용 반송 장치 및 수용 장치와, 반도체 처리시스템 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6709521B1 (ko) |
KR (1) | KR100551806B1 (ko) |
TW (1) | TW484198B (ko) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002059933A2 (en) * | 2001-01-22 | 2002-08-01 | Tokyo Electron Limited | Vertically translatable chuck assembly and method for a plasma reactor system |
JP2003037146A (ja) * | 2001-07-24 | 2003-02-07 | Asm Japan Kk | バッファ機構を有する半導体製造装置及び方法 |
US6899507B2 (en) * | 2002-02-08 | 2005-05-31 | Asm Japan K.K. | Semiconductor processing apparatus comprising chamber partitioned into reaction and transfer sections |
JP4244555B2 (ja) * | 2002-02-25 | 2009-03-25 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体の支持機構 |
CN1217773C (zh) * | 2002-12-05 | 2005-09-07 | 爱德牌工程有限公司 | 平板显示器制造装置 |
JP4121413B2 (ja) * | 2003-03-31 | 2008-07-23 | 株式会社神戸製鋼所 | 板状被処理品の高圧処理装置 |
JP4493955B2 (ja) * | 2003-09-01 | 2010-06-30 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置及び搬送ケース |
KR20060056709A (ko) * | 2004-11-22 | 2006-05-25 | 삼성전자주식회사 | 도어 입구에 에어 커튼을 가지는 반도체 제조 장비 |
JP4617278B2 (ja) * | 2006-06-29 | 2011-01-19 | 日本電産サンキョー株式会社 | 産業用ロボット |
JP4694436B2 (ja) * | 2006-07-28 | 2011-06-08 | 株式会社ダイヘン | 搬送ロボット |
US7975568B2 (en) * | 2008-04-24 | 2011-07-12 | Asm Technology Singapore Pte Ltd | Robotic arm driving mechanism |
JP2010040956A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Tokyo Electron Ltd | 基板の処理装置 |
JP5620172B2 (ja) * | 2010-07-16 | 2014-11-05 | キヤノンアネルバ株式会社 | 基板搬送装置、電子デバイスの製造システムおよび電子デバイスの製造方法 |
KR101917335B1 (ko) * | 2010-10-08 | 2018-11-09 | 브룩스 오토메이션 인코퍼레이티드 | 동일축 구동 진공 로봇 |
CN103262209B (zh) * | 2010-12-15 | 2015-12-09 | 株式会社尼康 | 基板处理系统及电子元件的制造方法 |
US9076829B2 (en) * | 2011-08-08 | 2015-07-07 | Applied Materials, Inc. | Robot systems, apparatus, and methods adapted to transport substrates in electronic device manufacturing |
US20130069450A1 (en) | 2011-09-16 | 2013-03-21 | Persimmon Technologies, Corp. | Robot Drive With Passive Rotor |
US10476354B2 (en) | 2011-09-16 | 2019-11-12 | Persimmon Technologies Corp. | Robot drive with isolated optical encoder |
TW201327712A (zh) * | 2011-11-01 | 2013-07-01 | Intevac Inc | 以電漿處理太陽能電池晶圓之系統架構 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58211892A (ja) * | 1982-05-31 | 1983-12-09 | 松下電器産業株式会社 | 工業用ロボツト |
US4654106A (en) * | 1984-10-22 | 1987-03-31 | Texas Instruments Incorporated | Automated plasma reactor |
US4908095A (en) * | 1988-05-02 | 1990-03-13 | Tokyo Electron Limited | Etching device, and etching method |
US5064340A (en) * | 1989-01-20 | 1991-11-12 | Genmark Automation | Precision arm mechanism |
EP0408216A3 (en) * | 1989-07-11 | 1991-09-18 | Hitachi, Ltd. | Method for processing wafers and producing semiconductor devices and apparatus for producing the same |
US5011366A (en) * | 1989-07-31 | 1991-04-30 | Miller Richard F | Ultraclean robotic material transfer method |
JP3030160B2 (ja) * | 1992-04-28 | 2000-04-10 | 東京エレクトロン株式会社 | 真空処理装置 |
JP3350278B2 (ja) * | 1995-03-06 | 2002-11-25 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
US5655060A (en) * | 1995-03-31 | 1997-08-05 | Brooks Automation | Time optimal trajectory for cluster tool robots |
TW318258B (ko) * | 1995-12-12 | 1997-10-21 | Tokyo Electron Co Ltd | |
US5746565A (en) * | 1996-01-22 | 1998-05-05 | Integrated Solutions, Inc. | Robotic wafer handler |
JPH09216182A (ja) * | 1996-02-14 | 1997-08-19 | Hitachi Tokyo Electron Co Ltd | 多関節ロボットおよびその駆動方法ならびにロボットアームの位置検出装置 |
US5810549A (en) | 1996-04-17 | 1998-09-22 | Applied Materials, Inc. | Independent linear dual-blade robot and method for transferring wafers |
JP3693783B2 (ja) * | 1997-03-21 | 2005-09-07 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置 |
US6164894A (en) * | 1997-11-04 | 2000-12-26 | Cheng; David | Method and apparatus for integrated wafer handling and testing |
US6155768A (en) * | 1998-01-30 | 2000-12-05 | Kensington Laboratories, Inc. | Multiple link robot arm system implemented with offset end effectors to provide extended reach and enhanced throughput |
JPH11288995A (ja) * | 1998-04-04 | 1999-10-19 | Tokyo Electron Ltd | 搬送システム及び処理装置 |
JP3863671B2 (ja) * | 1998-07-25 | 2006-12-27 | 株式会社ダイヘン | 搬送用ロボット装置 |
US6485250B2 (en) * | 1998-12-30 | 2002-11-26 | Brooks Automation Inc. | Substrate transport apparatus with multiple arms on a common axis of rotation |
JP3263684B2 (ja) * | 1999-07-26 | 2002-03-04 | 株式会社ジェーイーエル | 基板搬送用ロボット |
-
2000
- 2000-09-02 KR KR1020000051799A patent/KR100551806B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2000-09-05 TW TW089118147A patent/TW484198B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-09-05 US US09/655,304 patent/US6709521B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20010030234A (ko) | 2001-04-16 |
US6709521B1 (en) | 2004-03-23 |
TW484198B (en) | 2002-04-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100551806B1 (ko) | 반도체 처리용 반송 장치 및 수용 장치와, 반도체 처리시스템 | |
US6565662B2 (en) | Vacuum processing apparatus for semiconductor process | |
KR19990082910A (ko) | 반송시스템 및 이 반송시스템을 이용한 처리장치 | |
JP3181455B2 (ja) | 搬送アーム装置及びこれを用いた処理室集合装置 | |
TWI417978B (zh) | A substrate processing device, a loading lock chamber unit, and a transporting device | |
KR0179385B1 (ko) | 진공처리장치 | |
KR100993453B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 반송 장치 | |
KR100900870B1 (ko) | 진공 처리 장치 | |
KR20040105729A (ko) | 반도체 처리 시스템에 있어서의 지지 기구 | |
US20040123952A1 (en) | FPD fabricating apparatus | |
JP4614863B2 (ja) | 基板処理装置 | |
KR101299843B1 (ko) | 처리 장치 및 그 메인테넌스 방법 | |
JP2004288718A (ja) | 基板搬送装置及び基板処理装置 | |
JP3350234B2 (ja) | 被処理体のバッファ装置、これを用いた処理装置及びその搬送方法 | |
JPH07142551A (ja) | 搬送アーム装置及びこれを用いた処理室集合装置 | |
JP4607301B2 (ja) | 半導体処理用の搬送装置及び半導体処理システム | |
JPH07122620A (ja) | 動力伝達機構 | |
KR100272186B1 (ko) | 기판 반송장치 | |
KR102305353B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 반송 방법 | |
KR20050044913A (ko) | 티칭 방법 및 처리 시스템 | |
KR20020030091A (ko) | 결함없는 고속 열처리를 제공하기 위한 시스템과 방법 | |
JP5190303B2 (ja) | 搬送装置及び処理装置 | |
JPH10581A (ja) | ワーク搬送ロボット | |
JP2579818B2 (ja) | 基板の移送装置 | |
JP2023057015A (ja) | 基板移送ロボットをチャンバ内で走行させるための走行ロボット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130118 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140117 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150119 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160119 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170119 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180119 Year of fee payment: 13 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |