KR100476488B1 - 고주파 전기 접속을 위한 와이어 세그먼트 임베딩형 인터포저 - Google Patents
고주파 전기 접속을 위한 와이어 세그먼트 임베딩형 인터포저 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100476488B1 KR100476488B1 KR10-2000-0012991A KR20000012991A KR100476488B1 KR 100476488 B1 KR100476488 B1 KR 100476488B1 KR 20000012991 A KR20000012991 A KR 20000012991A KR 100476488 B1 KR100476488 B1 KR 100476488B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- conductive
- interposer
- button
- array
- elastic
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/646—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00 specially adapted for high-frequency, e.g. structures providing an impedance match or phase match
- H01R13/6461—Means for preventing cross-talk
- H01R13/6471—Means for preventing cross-talk by special arrangement of ground and signal conductors, e.g. GSGS [Ground-Signal-Ground-Signal]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
- H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
- H01R13/2414—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means conductive elastomers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06772—High frequency probes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49827—Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/50—Fixed connections
- H01R12/51—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures
- H01R12/55—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals
- H01R12/57—Fixed connections for rigid printed circuits or like structures characterised by the terminals surface mounting terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
- H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
- H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
- H05K7/1053—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
- H05K7/1061—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00013—Fully indexed content
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
- Push-Button Switches (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
Description
Claims (67)
- 도전성 패드들 사이에서 전기 접촉 소자로서 이용 가능한 탄성의 도전성 버튼에 있어서:a) 제 1 단부와 제 2 단부 및 그 사이에 일정한 길이를 갖는 탄성 보디(resilient body)와;b) 상기 보디의 제 1 단부로부터 상기 보디의 제 2 단부까지 상기 보디의 길이를 통해 연속적으로 연장되며, 상기 보디의 양단부들에 전기적으로 노출되는 도전 소자를 포함하고,상기 보디의 제 1 단부가 제 1 도전성 패드와 접촉하고, 상기 보디의 제 2 단부가 제 2 도전성 패드와 접촉할 때, 상기 도전 소자는 상기 버튼을 통해 상기 제 1 도전성 패드로부터 상기 제 2 도전성 패드까지 전기적 도전 경로를 형성하고,상기 도전 소자는 이 도전 소자가 상기 탄성 보디의 압축성 또는 이완성을 실질적으로 증가시키지 않도록 충분한 가요성(flexibility)을 갖는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 1 항에 있어서, 상기 탄성 보디는 탄성중합체(elastomer)로 형성되는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 2 항에 있어서, 상기 탄성중합체는 실리콘 고무(silicon rubber), 네오프렌 또는 폴리부타디엔을 포함하는 그룹으로부터 선택되는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 1 항에 있어서, 상기 도전 소자는 금, 구리 및 금속 합금들을 포함하는 그룹으로부터 선택된 재료로 이루어지는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 1 항에 있어서, 상기 도전 소자는 상기 탄성 보디 내에 임베딩되는 적어도 하나의 박형 와이어를 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 5 항에 있어서, 상기 와이어는 나선형으로 형성되는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 5 항에 있어서, 상기 와이어는 지그재그형으로 형성되는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 5 항에 있어서, 상기 와이어는 곡선형으로 형성되는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 5 항에 있어서, 복수의 와이어들이 함께 트위스트되어 있는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 5 항에 있어서, 복수의 와이어들이 존재하며, 각각의 와이어는 권취 방향을 갖는 나선형으로 권취되고, 상기 와이어들중 적어도 하나의 상기 권취 방향은 다른 와이어들중 적어도 하나의 상기 권취 방향에 대향하는 방향인, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 1 항에 있어서, 상기 탄성 보디의 길이 전체를 실질적으로 둘러싸며 상기 도전 소자로부터 절연되는 차폐층(shielding layer)을 더 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 11 항에 있어서, 상기 차폐층은 도전성 와이어 메시(conductive wire mesh)인, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 11 항에 있어서, 상기 차폐층은 연속적인 금속층인, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 11 항에 있어서, 상기 차폐층을 둘러싸는 도전층을 더 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 1 항에 있어서,a) 상기 탄성 보디는:ⅰ) 제 1 단부와 제 2 단부 및 그 사이에 일정한 길이를 갖는 탄성 절연 코어와;ⅱ) 상기 절연 코어의 길이를 둘러싸는 탄성 절연 외부 셸(resilient insulating outer shell)을 포함하고;b) 상기 도전 소자는 상기 절연 코어와 상기 절연 외부 셸 사이에 상기 절연 코어의 제 1 단부로부터 상기 절연 코어의 제 2 단부까지 연장되는 도전체를 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 15 항에 있어서, 상기 도전 소자는 상기 코어 둘레에 나선형으로 권취되는 적어도 하나의 도전체를 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 15 항에 있어서, 상기 도전 소자는 상기 코어 둘레에 나선형으로 권취되는 복수의 도전체들을 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 17 항에 있어서, 상기 복수의 도전체들중 적어도 하나는 상기 복수의 도전체들중 적어도 다른 하나로부터 상기 대향하는 방향으로 상기 코어 둘레에 나선형으로 권취되는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 15 항에 있어서, 상기 탄성 외부 셸의 길이 전체를 실질적으로 둘러싸는 차폐층을 더 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 19 항에 있어서, 상기 차폐층은 도전성 와이어 메시인, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 19 항에 있어서, 상기 차폐층은 연속적인 금속층인, 탄성의 도전성 버튼.
- 제 19 항에 있어서, 상기 차폐층을 둘러싸는 절연층을 더 포함하는, 탄성의 도전성 버튼.
- 도전성 패드들의 제 1 어레이와 제 2 어레이 사이에 소정 접촉력으로 도전성을 제공하기 위한 랜드 그리드 어레이용 인터포저에 있어서:관통 구멍들의 어레이를 갖는 유전체 그리드와;상기 구멍들의 어레이에 배치되는 복수의 탄성의 도전성 버튼들을 포함하고,상기 각각의 버튼은:a) 제 1 단부와 제 2 단부 및 그 사이에 일정한 길이를 갖는 탄성 보디와;b) 상기 보디의 제 1 단부로부터 상기 보디의 제 2 단부까지 상기 보디의 길이를 통해 연속적으로 연장되며, 상기 보디의 양단부들에 전기적으로 노출되는 도전 소자를 포함하고,상기 인터포저가 상기 접촉 패드들의 제 1 및 제 2 어레이 사이에 배치되고, 상기 보디의 제 1 단부가 상기 접촉 패드들의 제 1 어레이 내의 도전성 패드에 접촉하고, 상기 보디의 제 2 단부가 상기 접촉 패드들의 제 2 어레이 내의 제 2 도전성 패드에 접촉할 때, 상기 도전 소자는 상기 버튼을 통해 제 1 도전성 패드로부터 상기 제 2 도전성 패드까지 전기 도전 경로를 형성하고,상기 탄성 보디와 도전 소자는 상기 접촉력이 미리선택된 값이 되도록 선택되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 23 항에 있어서, 상기 도전성 버튼들의 탄성 보디는 탄성중합체로 형성되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 24 항에 있어서, 상기 탄성중합체는 실리콘 고무, 네오프렌 또는 폴리부타디엔을 포함하는 그룹으로부터 선택되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 23 항에 있어서, 상기 도전 소자는 금, 구리 및 금속 합금들을 포함하는 그룹으로부터 선택된 재료로 이루어지는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 23 항에 있어서, 상기 유전체 그리드 내의 구멍들의 어레이는 상기 유전체를 통해 도금되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 27 항에 있어서, 적어도 일부 구멍들 상의 도금부는 전기적으로 접속되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 23 항에 있어서, 상기 도전 소자는 상기 도전성 버튼들의 탄성 보디 내에 임베딩되는 적어도 하나의 와이어를 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 29 항에 있어서, 상기 와이어는 나선형으로 형성되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 29 항에 있어서, 상기 와이어는 지그재그형으로 형성되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 29 항에 있어서, 상기 와이어는 곡선으로 형성되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 29 항에 있어서, 복수의 와이어들이 함께 트위스트되어 있는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 29 항에 있어서, 상기 탄성 보디의 길이 전체를 실질적으로 둘러싸며 상기 도전 소자로부터 절연되는 차폐층을 더 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 34 항에 있어서, 상기 차폐층은 도전성 와이어 메시인, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 34 항에 있어서, 상기 차폐층은 연속적인 금속층인, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 34 항에 있어서, 상기 차폐층을 둘러싸는 절연층을 더 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 23 항에 있어서,a) 상기 탄성 보디는:ⅰ) 제 1 단부와 제 2 단부 및 그 사이에 일정한 길이를 갖는 탄성 절연 코어와;ⅱ) 상기 절연 코어의 길이를 둘러싸는 탄성 절연 외부 셸을 포함하고;b) 상기 도전 소자는 상기 절연 코어와 상기 절연 외부 셸 사이에 상기 절연 코어의 제 1 단부로부터 상기 절연 코어의 제 2 단부까지 연장되는 도전체를 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 38 항에 있어서, 상기 도전 소자는 상기 코어 둘레에 나선형으로 권취되는 적어도 하나의 도전체를 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 39 항에 있어서, 상기 도전 소자는 상기 코어 둘레에 권취 방향을 갖는 나선형으로 권취되는 복수의 도전체들을 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 40 항에 있어서, 상기 와이어들중 적어도 하나의 상기 상기 권취 방향은 상기 다른 와이어들중 적어도 하나의 상기 권취 방향에 대향하는 방향인, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 38 항에 있어서, 상기 탄성 외부 셸의 길이 전체를 실질적으로 둘러싸는 차폐층을 더 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 42 항에 있어서, 상기 차폐층은 도전성 와이어 메시인, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 42 항에 있어서, 상기 차폐층은 연속적인 금속층인, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 42 항에 있어서, 상기 차폐층을 둘러싸는 절연층을 더 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 23 항에 있어서, 상기 도전성 패드들의 제 1 또는 제 2 어레이중 하나는 상기 도전성 버튼들의 어레이에 부합하는 금속성 도전체들의 어레이를 포함하는 보조 인터포저(auxiliary interposer)이고, 각각의 금속성 도전체는 상기 인터포저의 도전성 버튼들에 접촉하기 위한 상부면과 회로에 대한 도전성 부착부를 위한 하부면을 가지며, 상기 보조 인터포저의 상부면은 고가의 금속으로 도금되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 도전성 패드들의 제 1 어레이와 제 2 어레이 사이에 도전성을 제공하기 위한 랜드 그리드 어레이용 인터포저에 있어서:a) 제 1 표면 및 제 2 표면을 갖는 탄성 유전체 시트와;b) 상기 시트 내에 배치되며, 상기 제 1 표면으로부터 상기 제 2 표면까지 연장되고, 상기 도전성 패드들의 제 1 및 제 2 어레이 내의 도전성 패드들에 대응하는 위치들에서만 상기 시트 내에 배치되는 복수의 도전 소자들을 포함하고,상기 인터포저가 상기 도전성 패드들의 제 1 및 제 2 어레이 사이에 배치될 때, 상기 도전 소자들은 상기 제 1 어레이 내의 도전성 패드로부터 상기 제 2 어레이 내의 도전성 패드까지 전기적 도전 경로를 형성하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 47 항에 있어서, 상기 시트는 탄성중합체를 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 48 항에 있어서, 상기 탄성중합체는 실리콘 고무, 네오프렌 또는 폴리부타디엔을 포함하는 그룹으로부터 선택되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 47 항에 있어서, 상기 복수의 도전 소자들은 상기 탄성중합체 내에 임베딩되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 47 항에 있어서, 상기 복수의 도전 소자들중 적어도 하나는 나선형으로 형성되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 47 항에 있어서, 상기 복수의 도전 소자들중 적어도 하나는 지그재그형으로 형성되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 47 항에 있어서, 상기 복수의 도전 소자들중 적어도 하나는 곡선형으로 형성되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 47 항에 있어서, 상기 복수의 도전 소자들중 적어도 하나는 복수의 와이어들을 포함하는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 54 항에 있어서, 상기 복수의 와이어들은 함께 트위스트되어 있는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 54 항에 있어서, 상기 복수의 와이어들 각각은 권취 방향을 갖는 나선형으로 권취되고, 상기 와이어들중 적어도 하나의 상기 권취 방향은 다른 와이어들중 적어도 하나의 상기 권취 방향에 대향하는 방향인, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 제 47 항에 있어서, 상기 도전성 패드들의 제 1 또는 제 2 어레이중 하나는 상기 도전 소자들의 어레이에 부합하는 금속성 도전체들의 어레이를 포함하는 보조 인터포저이고, 각각의 금속성 도전체는 상기 인터포저의 도전성 버튼들에 접촉하기 위한 상부면과 회로에 대한 도전성 부착부를 위한 하부면을 가지며, 상기 보조 인터포저의 상부면은 고가의 금속으로 도금되는, 랜드 그리드 어레이용 인터포저.
- 도전성 패드들의 제 1 어레이와 제 2 어레이 사이에 도전성을 제공하기 위한 소정 두께를 갖는 인터포저 제조 방법에 있어서:a)ⅰ) 상기 도전성 패드들의 제 1 어레이와 제 2 어레이를 부합시키는 어레이 내에 이격되어 있고, 각각이 상기 인터포저의 소정 두께보다 큰 길이를 갖는 복수의 도전체들을 제공하는 단계와; ⅱ) 상기 인터포저의 소정 두께보다 큰 길이를 갖는 탄성 절연 재료의 블록을 형성하는 상기 복수의 도전체들을 탄성 절연 재료로 캡슐화하는(encapsulating) 단계에 의해 연장된 도전체들이 블록을 형성하는 단계와,b) 결화로서 생긴 분할들이 상기 인터포저의 소정의 두께와 동일한 두께를 갖도록 일정한 거리로 이격되어 있는 복수의 위치들에서 상기 연장된 도전체들의 블록을 그 길이를 따라 분할하는 단계를 포함하는, 인터포저 제조 방법.
- 제 58 항에 있어서, 상기 복수의 도전체들은 박형 와이어들인, 인터포저 제조 방법.
- 제 59 항에 있어서, 상기 복수의 도전체들을 제공하는 단계 a)ⅰ) 전에, 상기 복수의 박형 와이어들을 소정 형상으로 형성하는 단계를 더 포함하는, 인터포저 제조 방법.
- 제 60 항에 있어서, 상기 형상은 코일형인, 인터포저 제조 방법.
- 제 60 항에 있어서, 상기 형상은 지그재그형인, 인터포저 제조 방법.
- 제 60 항에 있어서, 상기 도전체들 각각은 함께 배열되는 복수의 박형 와이어들을 포함하는, 인터포저 제조 방법.
- 제 63 항에 있어서, 상기 복수의 도전체들을 제공하는 단계a)ⅰ) 전에, 상기 도전체들 각각의 복수의 와이어들을 함께 트위스트하는 단계를 더 포함하는, 인터포저 제조 방법.
- 소정 길이를 갖는 도전성 버튼을 형성하는 방법에 있어서:a) 상기 도전성 버튼의 소정 길이보다 긴 길이를 갖는 절연 코어를 형성하는 단계와;b) 상기 코어 둘레에 도전 소자를 나선형으로 권취하는 단계와;c) 상기 코어와 도전 소자를 탄성중합체 막으로 둘러싸는 단계와;d) 상기 코어, 도전 소자 및 막을 상기 소정 길이를 갖는 버튼들로 절단하는 단계를 포함하는, 도전성 버튼 형성 방법.
- 제 65 항에 있어서, 상기 절연 코어는 부가의 중심 섬유들로 형성되는, 도전성 버튼 형성 방법.
- 제 65 항에 있어서, 도전성 패드들의 제 1 어레이와 제 2 어레이 사이에 도전성을 제공하는 인터포저를 형성하기 위해 절연 캐리어내의 구멍들의 어레이에 미리 형성된 구멍 내로 상기 버튼을 삽입하는 단계를 더 포함하는, 도전성 버튼 형성 방법.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/457,776 US6264476B1 (en) | 1999-12-09 | 1999-12-09 | Wire segment based interposer for high frequency electrical connection |
US09/457,776 | 1999-12-09 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010066751A KR20010066751A (ko) | 2001-07-11 |
KR100476488B1 true KR100476488B1 (ko) | 2005-03-17 |
Family
ID=23818046
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2000-0012991A KR100476488B1 (ko) | 1999-12-09 | 2000-03-15 | 고주파 전기 접속을 위한 와이어 세그먼트 임베딩형 인터포저 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6264476B1 (ko) |
JP (1) | JP2001176580A (ko) |
KR (1) | KR100476488B1 (ko) |
CN (1) | CN1305247A (ko) |
TW (1) | TW558859B (ko) |
Families Citing this family (118)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6785148B1 (en) * | 1998-12-21 | 2004-08-31 | Intel Corporation | Easy mount socket |
JP3515479B2 (ja) * | 2000-04-05 | 2004-04-05 | 北川工業株式会社 | 導電部材及びその製造方法 |
US6396710B1 (en) * | 2000-05-12 | 2002-05-28 | Raytheon Company | High density interconnect module |
US6471525B1 (en) * | 2000-08-24 | 2002-10-29 | High Connection Density, Inc. | Shielded carrier for land grid array connectors and a process for fabricating same |
US7254889B1 (en) * | 2000-09-08 | 2007-08-14 | Gabe Cherian | Interconnection devices |
US6360431B1 (en) * | 2000-09-29 | 2002-03-26 | Intel Corporation | Processor power delivery system |
US6663399B2 (en) | 2001-01-31 | 2003-12-16 | High Connection Density, Inc. | Surface mount attachable land grid array connector and method of forming same |
US6756797B2 (en) * | 2001-01-31 | 2004-06-29 | Wentworth Laboratories Inc. | Planarizing interposer for thermal compensation of a probe card |
GB2373106B (en) * | 2001-03-08 | 2004-06-16 | Smiths Group Plc | Electricl connection and connectors |
US6386890B1 (en) * | 2001-03-12 | 2002-05-14 | International Business Machines Corporation | Printed circuit board to module mounting and interconnecting structure and method |
US6722896B2 (en) * | 2001-03-22 | 2004-04-20 | Molex Incorporated | Stitched LGA connector |
JP4667652B2 (ja) * | 2001-06-12 | 2011-04-13 | ローム株式会社 | 電池パック、およびその製造方法 |
US6848914B2 (en) * | 2001-10-11 | 2005-02-01 | International Business Machines Corporation | Electrical coupling of substrates by conductive buttons |
US7952194B2 (en) * | 2001-10-26 | 2011-05-31 | Intel Corporation | Silicon interposer-based hybrid voltage regulator system for VLSI devices |
US6686732B2 (en) * | 2001-12-20 | 2004-02-03 | Teradyne, Inc. | Low-cost tester interface module |
US7077662B2 (en) * | 2002-01-15 | 2006-07-18 | Tribotek, Inc. | Contact woven connectors |
US7083427B2 (en) * | 2002-01-15 | 2006-08-01 | Tribotek, Inc. | Woven multiple-contact connectors |
AU2002348455A1 (en) * | 2002-01-15 | 2003-07-30 | Tribotek, Inc. | Woven multiple-contact connector |
US7056139B2 (en) * | 2002-01-15 | 2006-06-06 | Tribotek, Inc. | Electrical connector |
US6712621B2 (en) * | 2002-01-23 | 2004-03-30 | High Connection Density, Inc. | Thermally enhanced interposer and method |
TW525273B (en) * | 2002-02-07 | 2003-03-21 | Via Tech Inc | Elastomer interposer for fixing package onto printed circuit board and fabrication method thereof |
US6661690B2 (en) | 2002-02-19 | 2003-12-09 | High Connection Density, Inc. | High capacity memory module with built-in performance enhancing features |
DE10210160A1 (de) * | 2002-03-07 | 2003-10-02 | Stefan Geyer | Methode zur Befestigung integrierter Schaltkreise auf Leiterplatten |
US6551112B1 (en) | 2002-03-18 | 2003-04-22 | High Connection Density, Inc. | Test and burn-in connector |
US6814585B2 (en) * | 2002-04-19 | 2004-11-09 | Johnstech International Corporation | Electrical connector with resilient contact |
AU2003223783A1 (en) * | 2002-04-29 | 2003-11-17 | Silicon Pipe, Inc. | Direct-connect signaling system |
US7750446B2 (en) | 2002-04-29 | 2010-07-06 | Interconnect Portfolio Llc | IC package structures having separate circuit interconnection structures and assemblies constructed thereof |
US6891272B1 (en) | 2002-07-31 | 2005-05-10 | Silicon Pipe, Inc. | Multi-path via interconnection structures and methods for manufacturing the same |
US6746252B1 (en) | 2002-08-01 | 2004-06-08 | Plastronics Socket Partners, L.P. | High frequency compression mount receptacle with lineal contact members |
US6712620B1 (en) | 2002-09-12 | 2004-03-30 | High Connection Density, Inc. | Coaxial elastomeric connector system |
ATE447248T1 (de) * | 2002-10-24 | 2009-11-15 | Ibm | Herstellung eines land grid array mittels elastomerkern und leitender metallhülle oder - gitter |
JP2004152536A (ja) * | 2002-10-29 | 2004-05-27 | Otax Co Ltd | 電子部品用ソケット |
US6796810B2 (en) * | 2002-12-10 | 2004-09-28 | Tyco Electronics Corporation | Conductive elastomeric contact system |
US7014472B2 (en) * | 2003-01-13 | 2006-03-21 | Siliconpipe, Inc. | System for making high-speed connections to board-mounted modules |
US6705877B1 (en) | 2003-01-17 | 2004-03-16 | High Connection Density, Inc. | Stackable memory module with variable bandwidth |
US6846184B2 (en) * | 2003-01-24 | 2005-01-25 | High Connection Density Inc. | Low inductance electrical contacts and LGA connector system |
US7014479B2 (en) * | 2003-03-24 | 2006-03-21 | Che-Yu Li | Electrical contact and connector and method of manufacture |
US7040902B2 (en) * | 2003-03-24 | 2006-05-09 | Che-Yu Li & Company, Llc | Electrical contact |
US7029288B2 (en) * | 2003-03-24 | 2006-04-18 | Che-Yu Li | Electrical contact and connector and method of manufacture |
US7436494B1 (en) | 2003-03-28 | 2008-10-14 | Irvine Sensors Corp. | Three-dimensional ladar module with alignment reference insert circuitry |
US20070052084A1 (en) * | 2005-08-26 | 2007-03-08 | Kennedy John V | High density interconnect assembly comprising stacked electronic module |
US8198576B2 (en) | 2003-03-28 | 2012-06-12 | Aprolase Development Co., Llc | Three-dimensional LADAR module with alignment reference insert circuitry comprising high density interconnect structure |
JP2004325306A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-18 | Yokowo Co Ltd | 検査用同軸プローブおよびそれを用いた検査ユニット |
US7094064B2 (en) * | 2003-07-11 | 2006-08-22 | Tribotek, Inc. | Multiple-contact woven electrical switches |
US7097495B2 (en) * | 2003-07-14 | 2006-08-29 | Tribotek, Inc. | System and methods for connecting electrical components |
US7137827B2 (en) * | 2003-11-17 | 2006-11-21 | International Business Machines Corporation | Interposer with electrical contact button and method |
US7245022B2 (en) * | 2003-11-25 | 2007-07-17 | International Business Machines Corporation | Semiconductor module with improved interposer structure and method for forming the same |
US6981879B2 (en) * | 2004-03-18 | 2006-01-03 | International Business Machines Corporation | Land grid array (LGA) interposer with adhesive-retained contacts and method of manufacture |
US6981880B1 (en) * | 2004-06-22 | 2006-01-03 | International Business Machines Corporation | Non-oriented wire in elastomer electrical contact |
US7180321B2 (en) * | 2004-10-01 | 2007-02-20 | Teradyne, Inc. | Tester interface module |
US20060091538A1 (en) * | 2004-11-04 | 2006-05-04 | Kabadi Ashok N | Low profile and tight pad-pitch land-grid-array (LGA) socket |
US7771208B2 (en) | 2004-12-16 | 2010-08-10 | International Business Machines Corporation | Metalized elastomeric electrical contacts |
JP4709850B2 (ja) * | 2004-12-16 | 2011-06-29 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 電気的接続デバイス及びこれの製造方法 |
US7140916B2 (en) * | 2005-03-15 | 2006-11-28 | Tribotek, Inc. | Electrical connector having one or more electrical contact points |
US7059867B1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-06-13 | Artesyn Technologies, Inc. | High density multi-lead surface mount interconnect and devices including same |
JP4036872B2 (ja) * | 2005-05-18 | 2008-01-23 | アルプス電気株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
US7214106B2 (en) * | 2005-07-18 | 2007-05-08 | Tribotek, Inc. | Electrical connector |
US7052290B1 (en) * | 2005-08-10 | 2006-05-30 | Sony Ericsson Mobile Communications Ab | Low profile connector for electronic interface modules |
US7436057B2 (en) * | 2005-09-08 | 2008-10-14 | International Business Machines Corporation | Elastomer interposer with voids in a compressive loading system |
EP1816904A1 (en) * | 2006-02-06 | 2007-08-08 | Lih Duo International Co., Ltd. | Memory module with rubber spring connector |
US7393214B2 (en) | 2006-02-17 | 2008-07-01 | Centipede Systems, Inc. | High performance electrical connector |
US7601009B2 (en) * | 2006-05-18 | 2009-10-13 | Centipede Systems, Inc. | Socket for an electronic device |
JP2007324354A (ja) * | 2006-05-31 | 2007-12-13 | Sony Corp | 半導体装置 |
US7358603B2 (en) * | 2006-08-10 | 2008-04-15 | Che-Yu Li & Company, Llc | High density electronic packages |
WO2008120278A1 (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Fujitsu Limited | コネクタ、電子装置、及び、電子装置の製造方法 |
US7585173B2 (en) * | 2007-03-30 | 2009-09-08 | Tyco Electronics Corporation | Elastomeric electrical contact |
US8832936B2 (en) | 2007-04-30 | 2014-09-16 | International Business Machines Corporation | Method of forming metallized elastomeric electrical contacts |
US7442045B1 (en) * | 2007-08-17 | 2008-10-28 | Centipede Systems, Inc. | Miniature electrical ball and tube socket with self-capturing multiple-contact-point coupling |
US7722360B2 (en) * | 2007-09-06 | 2010-05-25 | Tyco Electronics Corporation | Electrical connector with reduced noise |
US7537460B2 (en) * | 2007-09-06 | 2009-05-26 | Tyco Electronics Corporation | Electrical connector with a contact having at least two conductive paths |
US7726976B2 (en) * | 2007-11-09 | 2010-06-01 | Tyco Electronics Corporation | Shielded electrical interconnect |
US7977583B2 (en) * | 2007-12-13 | 2011-07-12 | Teradyne, Inc. | Shielded cable interface module and method of fabrication |
US7816932B2 (en) * | 2008-02-21 | 2010-10-19 | Teradyne, Inc. | Test system with high frequency interposer |
US8247267B2 (en) | 2008-03-11 | 2012-08-21 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Wafer level IC assembly method |
US8033877B2 (en) * | 2008-07-22 | 2011-10-11 | Centipede Systems, Inc. | Connector for microelectronic devices |
KR101106506B1 (ko) * | 2008-08-07 | 2012-01-20 | 박상량 | 평판 접이식 코일스프링, 이를 이용한 포고핀 및 그 제조방법 |
WO2010048971A1 (en) * | 2008-10-30 | 2010-05-06 | Verigy (Singapore) Pte., Ltd. | Test arrangement, pogo-pin and method for testing a device under test |
US8686307B2 (en) * | 2009-01-15 | 2014-04-01 | Covac Co., Ltd. | Metal mesh contact and switch and method for producing the same |
IT1395336B1 (it) * | 2009-01-20 | 2012-09-14 | Rise Technology S R L | Dispositivo di contatto elastico per componenti elettronici a colonne collassanti |
US8419448B2 (en) * | 2009-03-05 | 2013-04-16 | Polymatech Co., Ltd. | Elastic connector, method of manufacturing elastic connector, and electric connection tool |
US7955088B2 (en) * | 2009-04-22 | 2011-06-07 | Centipede Systems, Inc. | Axially compliant microelectronic contactor |
US7833020B1 (en) * | 2009-06-15 | 2010-11-16 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Electrical connector with low profile terminal |
JP5359617B2 (ja) | 2009-07-02 | 2013-12-04 | 富士通株式会社 | コネクタ及び該コネクタを使用したインターポーザ |
JP5402424B2 (ja) * | 2009-09-07 | 2014-01-29 | 富士通株式会社 | コネクタ及び該コネクタを使用したインターポーザ |
JP2011082482A (ja) * | 2009-09-11 | 2011-04-21 | Fujitsu Ltd | 電子装置、電子装置の製造方法及び電子機器 |
US20110207343A1 (en) * | 2010-02-23 | 2011-08-25 | Yung-Chi Tsai | Contact-type electronic inspection module |
US9173282B2 (en) * | 2010-03-31 | 2015-10-27 | Georgia Tech Research Corporation | Interconnect structures and methods of making the same |
JP2011258835A (ja) * | 2010-06-10 | 2011-12-22 | Fujitsu Ltd | 実装構造、電子部品、回路基板、基板組立体、電子機器、及び応力緩和部材 |
JP2012078222A (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-19 | Fujifilm Corp | 回路基板接続構造体および回路基板の接続方法 |
US8970240B2 (en) | 2010-11-04 | 2015-03-03 | Cascade Microtech, Inc. | Resilient electrical interposers, systems that include the interposers, and methods for using and forming the same |
US8636551B2 (en) | 2011-01-07 | 2014-01-28 | Hypertronics Corporation | Electrical contact with embedded wiring |
US8562359B2 (en) * | 2011-01-18 | 2013-10-22 | Tyco Electronics Corporation | Electrical contact for interconnect member |
JP2012186117A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-27 | Fujitsu Component Ltd | インタポーザ及び中継端子 |
DE102011006867A1 (de) * | 2011-04-06 | 2012-10-11 | Robert Bosch Gmbh | Steckverbinder zur Direktkontaktierung auf einer Leiterplatte |
US8821188B2 (en) * | 2012-03-07 | 2014-09-02 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | Electrical connector assembly used for shielding |
US9275950B2 (en) * | 2012-05-29 | 2016-03-01 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Bead for 2.5D/3D chip packaging application |
US8878072B2 (en) * | 2012-06-19 | 2014-11-04 | Lockheed Martin Corporation | High reliability fluid-tight low-profile electrically conductive interconnects for large scale frame attachment |
US9059545B2 (en) * | 2012-07-11 | 2015-06-16 | Tyco Electronics Corporations | Socket connectors and methods of assembling socket connectors |
US9258907B2 (en) | 2012-08-09 | 2016-02-09 | Lockheed Martin Corporation | Conformal 3D non-planar multi-layer circuitry |
US9570828B2 (en) | 2012-10-03 | 2017-02-14 | Corad Technology Inc. | Compressible pin assembly having frictionlessly connected contact elements |
US9831589B2 (en) | 2012-10-03 | 2017-11-28 | Corad Technology Inc. | Compressible pin assembly having frictionlessly connected contact elements |
US20140094071A1 (en) * | 2012-10-03 | 2014-04-03 | Corad Technology Inc. | Compressible pin assembly having frictionlessly connected contact elements |
US8772745B1 (en) | 2013-03-14 | 2014-07-08 | Lockheed Martin Corporation | X-ray obscuration film and related techniques |
US9178328B2 (en) * | 2013-06-28 | 2015-11-03 | Intel Corporation | Shielded sockets for microprocessors and fabrication thereof by overmolding and plating |
US9459285B2 (en) * | 2013-07-10 | 2016-10-04 | Globalfoundries Inc. | Test probe coated with conductive elastomer for testing of backdrilled plated through holes in printed circuit board assembly |
US9142475B2 (en) | 2013-08-13 | 2015-09-22 | Intel Corporation | Magnetic contacts |
JP2015049064A (ja) * | 2013-08-30 | 2015-03-16 | Nok株式会社 | コンタクトプローブ |
JP2015207433A (ja) * | 2014-04-18 | 2015-11-19 | 矢崎総業株式会社 | 導電性弾性部材及びコネクタ |
CN103956610B (zh) * | 2014-05-22 | 2015-11-18 | 钟婕 | 发散式星形电流架接装置 |
KR20160047423A (ko) | 2014-09-26 | 2016-05-02 | 인텔 코포레이션 | 플렉시블 패키징 아키텍처 |
US10123410B2 (en) | 2014-10-10 | 2018-11-06 | Lockheed Martin Corporation | Fine line 3D non-planar conforming circuit |
CN105281064B (zh) * | 2015-11-20 | 2017-09-15 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种微型弹性连接器及其制作方法 |
JP2018073577A (ja) * | 2016-10-27 | 2018-05-10 | 株式会社エンプラス | 異方導電性シート及びその製造方法 |
US20230068002A1 (en) * | 2020-02-20 | 2023-03-02 | Medtrum Technologies Inc. | Highly integrated analyte detection device |
CN111817098B (zh) * | 2020-08-31 | 2020-11-27 | 上海燧原科技有限公司 | 一种电子负载 |
US11616312B2 (en) | 2021-02-24 | 2023-03-28 | Hewlett Packard Enterprise Development Lp | Electrical socket having a plurality of wire-terminated contacts |
US11394154B1 (en) | 2022-03-09 | 2022-07-19 | Jeffrey G. Buchoff | Pliant electrical interface connector and its associated method of manufacture |
KR102478906B1 (ko) * | 2022-07-08 | 2022-12-21 | 배명철 | 소자 테스트 소켓 및 그 제조 방법 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5403194A (en) * | 1992-07-17 | 1995-04-04 | Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. | Elastic interconnector |
JPH11330320A (ja) * | 1998-05-13 | 1999-11-30 | Toshiba Corp | Icソケット装置 |
JP2000077475A (ja) * | 1998-09-01 | 2000-03-14 | Jsr Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5127837A (en) | 1989-06-09 | 1992-07-07 | Labinal Components And Systems, Inc. | Electrical connectors and IC chip tester embodying same |
US5101553A (en) | 1991-04-29 | 1992-04-07 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method of making a metal-on-elastomer pressure contact connector |
US5215472A (en) | 1991-08-22 | 1993-06-01 | Augat Inc. | High density grid array socket |
US5309324A (en) | 1991-11-26 | 1994-05-03 | Herandez Jorge M | Device for interconnecting integrated circuit packages to circuit boards |
US5232372A (en) | 1992-05-11 | 1993-08-03 | Amp Incorporated | Land grid array connector and method of manufacture |
US5228861A (en) | 1992-06-12 | 1993-07-20 | Amp Incorporated | High density electrical connector system |
US5308252A (en) | 1992-12-24 | 1994-05-03 | The Whitaker Corporation | Interposer connector and contact element therefore |
US5495397A (en) | 1993-04-27 | 1996-02-27 | International Business Machines Corporation | Three dimensional package and architecture for high performance computer |
US5810607A (en) | 1995-09-13 | 1998-09-22 | International Business Machines Corporation | Interconnector with contact pads having enhanced durability |
US5441690A (en) | 1993-07-06 | 1995-08-15 | International Business Machines Corporation | Process of making pinless connector |
US5385477A (en) * | 1993-07-30 | 1995-01-31 | Ck Technologies, Inc. | Contactor with elastomer encapsulated probes |
US5350308A (en) | 1993-08-16 | 1994-09-27 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Elastomeric electrical connector |
US5427535A (en) * | 1993-09-24 | 1995-06-27 | Aries Electronics, Inc. | Resilient electrically conductive terminal assemblies |
US5806181A (en) | 1993-11-16 | 1998-09-15 | Formfactor, Inc. | Contact carriers (tiles) for populating larger substrates with spring contacts |
US5800184A (en) | 1994-03-08 | 1998-09-01 | International Business Machines Corporation | High density electrical interconnect apparatus and method |
US5473510A (en) | 1994-03-25 | 1995-12-05 | Convex Computer Corporation | Land grid array package/circuit board assemblies and methods for constructing the same |
US5949029A (en) | 1994-08-23 | 1999-09-07 | Thomas & Betts International, Inc. | Conductive elastomers and methods for fabricating the same |
US5599193A (en) | 1994-08-23 | 1997-02-04 | Augat Inc. | Resilient electrical interconnect |
US5653598A (en) | 1995-08-31 | 1997-08-05 | The Whitaker Corporation | Electrical contact with reduced self-inductance |
US5791914A (en) | 1995-11-21 | 1998-08-11 | Loranger International Corporation | Electrical socket with floating guide plate |
US5833471A (en) | 1996-06-11 | 1998-11-10 | Sun Microsystems, Inc. | Hold-down collar for attachment of IC substrates and elastomeric material to PCBS |
US5823792A (en) | 1997-03-10 | 1998-10-20 | Molex Incorporated | Wire-wrap connector |
US6074219A (en) * | 1998-07-13 | 2000-06-13 | Unisys Corporation | Electromechanical subassembly including a carrier with springy contacts that exert large and small contact forces |
-
1999
- 1999-12-09 US US09/457,776 patent/US6264476B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-03-15 KR KR10-2000-0012991A patent/KR100476488B1/ko active IP Right Grant
- 2000-04-13 CN CN00106025A patent/CN1305247A/zh active Pending
- 2000-05-23 TW TW089109965A patent/TW558859B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-05-25 JP JP2000154656A patent/JP2001176580A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5403194A (en) * | 1992-07-17 | 1995-04-04 | Shin-Etsu Polymer Co., Ltd. | Elastic interconnector |
JPH11330320A (ja) * | 1998-05-13 | 1999-11-30 | Toshiba Corp | Icソケット装置 |
JP2000077475A (ja) * | 1998-09-01 | 2000-03-14 | Jsr Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001176580A (ja) | 2001-06-29 |
CN1305247A (zh) | 2001-07-25 |
TW558859B (en) | 2003-10-21 |
KR20010066751A (ko) | 2001-07-11 |
US6264476B1 (en) | 2001-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100476488B1 (ko) | 고주파 전기 접속을 위한 와이어 세그먼트 임베딩형 인터포저 | |
US5759047A (en) | Flexible circuitized interposer with apertured member and method for making same | |
US5309324A (en) | Device for interconnecting integrated circuit packages to circuit boards | |
US5244395A (en) | Circuit interconnect system | |
JP2620502B2 (ja) | らせん接触部による電気的相互接続子及びアセンブリ | |
US8144482B2 (en) | Circuit board device, wiring board interconnection method, and circuit board module device | |
JP4703942B2 (ja) | ランド・グリッド・アレイ・コネクタのためのキャリア | |
US6884086B1 (en) | System and method for connecting a power converter to a land grid array socket | |
US7293995B2 (en) | Electrical contact and connector system | |
US5104327A (en) | Wire form socket connector | |
EP1676473B1 (en) | Land grid array socket with diverse contacts | |
JPH06223895A (ja) | コネクタおよびその方法 | |
JP2655802B2 (ja) | コイル形接触子及びこれを用いたコネクタ | |
US6483692B2 (en) | Capacitor with extended surface lands and method of fabrication therefor | |
US6723927B1 (en) | High-reliability interposer for low cost and high reliability applications | |
JP2005521228A (ja) | 横方向接続キャパシタを有する電子アセンブリ及びその製造方法 | |
KR20000064787A (ko) | Ic 소켓 | |
JP6342896B2 (ja) | タイヤパッチにおける圧電素子のための1アップ1ダウン接続構造体 | |
EP0909118B1 (en) | Conductive elastomer for grafting to an elastic substrate | |
US20070238324A1 (en) | Electrical connector | |
US20080143356A1 (en) | Conductive Particle Filled Polymer Electrical Contact | |
JP4215468B2 (ja) | 電気コネクタ | |
JP4070527B2 (ja) | 電気コネクタ | |
KR20240050176A (ko) | Bms 접지 어셈블리 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121226 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140106 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160218 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170221 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180206 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190214 Year of fee payment: 15 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200214 Year of fee payment: 16 |