JPWO2021221055A5 - - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 44
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 18
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 18
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 claims 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 150000001450 anions Chemical class 0.000 claims 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000001443 photoexcitation Effects 0.000 claims 1
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2024062912A JP7660742B2 (ja) | 2020-04-28 | 2024-04-09 | 半導体素子の製造方法および半導体デバイス |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020079547 | 2020-04-28 | ||
| JP2020110022 | 2020-06-25 | ||
| PCT/JP2021/016802 WO2021221055A1 (ja) | 2020-04-28 | 2021-04-27 | 半導体素子の製造方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2024062912A Division JP7660742B2 (ja) | 2020-04-28 | 2024-04-09 | 半導体素子の製造方法および半導体デバイス |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2021221055A1 JPWO2021221055A1 (https=) | 2021-11-04 |
| JPWO2021221055A5 true JPWO2021221055A5 (https=) | 2023-02-01 |
Family
ID=78332095
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022518083A Pending JPWO2021221055A1 (https=) | 2020-04-28 | 2021-04-27 | |
| JP2024062912A Active JP7660742B2 (ja) | 2020-04-28 | 2024-04-09 | 半導体素子の製造方法および半導体デバイス |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2024062912A Active JP7660742B2 (ja) | 2020-04-28 | 2024-04-09 | 半導体素子の製造方法および半導体デバイス |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20230170220A1 (https=) |
| EP (1) | EP4144896A4 (https=) |
| JP (2) | JPWO2021221055A1 (https=) |
| CN (1) | CN115443519B (https=) |
| TW (1) | TWI813985B (https=) |
| WO (1) | WO2021221055A1 (https=) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20240313151A1 (en) * | 2021-06-21 | 2024-09-19 | Kyocera Corporation | Semiconductor device manufacturing method and manufacturing apparatus, semiconductor device and electronic device |
| JP7813820B2 (ja) * | 2022-02-10 | 2026-02-13 | 京セラ株式会社 | レーザ素子の製造方法および製造装置 |
| WO2025070496A1 (ja) * | 2023-09-27 | 2025-04-03 | 京セラ株式会社 | 半導体基板並びにその製造方法および製造装置、半導体デバイス |
| WO2025095087A1 (ja) * | 2023-10-31 | 2025-05-08 | 京セラ株式会社 | 半導体基板、半導体基板の製造方法、半導体デバイスの製造方法、半導体デバイス、発光素子 |
Family Cites Families (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0874405A3 (en) * | 1997-03-25 | 2004-09-15 | Mitsubishi Cable Industries, Ltd. | GaN group crystal base member having low dislocation density, use thereof and manufacturing methods thereof |
| TWI300589B (https=) * | 2002-07-17 | 2008-09-01 | Univ Nat Chiao Tung | |
| JP4178936B2 (ja) * | 2002-12-11 | 2008-11-12 | 日本電気株式会社 | Iii族窒化物自立基板およびそれを用いた半導体素子ならびにそれらの製造方法 |
| JP4622720B2 (ja) * | 2004-07-21 | 2011-02-02 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体ウエハ又は窒化物半導体素子の製造方法 |
| JP4656410B2 (ja) * | 2005-09-05 | 2011-03-23 | 住友電気工業株式会社 | 窒化物半導体デバイスの製造方法 |
| JP2007158100A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Rohm Co Ltd | 窒化物半導体発光素子の製造方法 |
| JP2008311448A (ja) * | 2007-06-15 | 2008-12-25 | Mitsui Chemicals Inc | 有機トランジスタ |
| US8236583B2 (en) * | 2008-09-10 | 2012-08-07 | Tsmc Solid State Lighting Ltd. | Method of separating light-emitting diode from a growth substrate |
| JP4638958B1 (ja) | 2009-08-20 | 2011-02-23 | 株式会社パウデック | 半導体素子の製造方法 |
| JP5515770B2 (ja) * | 2009-09-14 | 2014-06-11 | 住友電気工業株式会社 | 窒化物半導体エピタキシャル層の形成方法および窒化物半導体デバイスの製造方法 |
| JP5961557B2 (ja) * | 2010-01-27 | 2016-08-02 | イェイル ユニヴァーシティ | GaNデバイスのための導電率ベースの選択的エッチング及びその用途 |
| JP5146702B2 (ja) * | 2010-11-17 | 2013-02-20 | 住友電気工業株式会社 | 窒化物半導体デバイス |
| JP2013021251A (ja) * | 2011-07-14 | 2013-01-31 | Toshiba Corp | 半導体発光素子の製造方法 |
| DE102012217644A1 (de) * | 2012-09-27 | 2014-03-27 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement |
| WO2019023281A1 (en) * | 2017-07-24 | 2019-01-31 | Microlink Devices, Inc. | DEEP PHOTOACTIVATED WET MATERIAL BURNING USING HIGH POWER ULTRAVIOLET LIGHT EMITTING DIODES |
| WO2019123954A1 (ja) * | 2017-12-21 | 2019-06-27 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 窒化物系薄膜複合構造体及びその製造方法 |
| JP2019134101A (ja) * | 2018-01-31 | 2019-08-08 | 京セラ株式会社 | 半導体素子の製造方法 |
| CN112204754B (zh) * | 2018-05-30 | 2024-08-13 | 加利福尼亚大学董事会 | 从半导体衬底移除半导体层的方法 |
-
2021
- 2021-04-27 JP JP2022518083A patent/JPWO2021221055A1/ja active Pending
- 2021-04-27 EP EP21795307.4A patent/EP4144896A4/en active Pending
- 2021-04-27 US US17/921,789 patent/US20230170220A1/en active Pending
- 2021-04-27 CN CN202180030661.7A patent/CN115443519B/zh active Active
- 2021-04-27 WO PCT/JP2021/016802 patent/WO2021221055A1/ja not_active Ceased
- 2021-04-28 TW TW110115286A patent/TWI813985B/zh active
-
2024
- 2024-04-09 JP JP2024062912A patent/JP7660742B2/ja active Active
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