JPWO2012137445A1 - 固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents

固体撮像装置の駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2012137445A1
JPWO2012137445A1 JP2013508745A JP2013508745A JPWO2012137445A1 JP WO2012137445 A1 JPWO2012137445 A1 JP WO2012137445A1 JP 2013508745 A JP2013508745 A JP 2013508745A JP 2013508745 A JP2013508745 A JP 2013508745A JP WO2012137445 A1 JPWO2012137445 A1 JP WO2012137445A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
row
reset
pixel
solid
state imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013508745A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6011944B2 (ja
Inventor
基範 石井
基範 石井
加藤 剛久
剛久 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Publication of JPWO2012137445A1 publication Critical patent/JPWO2012137445A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6011944B2 publication Critical patent/JP6011944B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/62Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels
    • H04N25/626Reduction of noise due to residual charges remaining after image readout, e.g. to remove ghost images or afterimages
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/745Circuitry for generating timing or clock signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

本発明は、輝度変化の激しい動画撮像時においても、残像現象の発生しない高画質撮像を可能とする固体撮像装置の駆動方法を提供することを目的とするものであって、水平走査方向にm列、垂直走査方向にn行の2次元状に配列された画素を含む固体撮像装置であり(nは2以上の整数、mは自然数とする)、i行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の前記画素のリセット動作を終了するとき、(i+1)行目の前記画素がリセット動作中であるか、または、(i+1)行目の前記画素がリセット動作を終了してからの経過時間が1フレーム撮像時間未満である。

Description

本発明は、画像を電気信号として出力する固体撮像装置の駆動方法に関する。
CMOS(Complementary Metal Oxide Secmiconductor)及びMOS(Metal Oxide Secmiconductor)エリアイメージセンサ(以下両者を併せてCMOS固体撮像装置と称する)、並びに電荷結合素子(Charge Coupled Devices)エリアイメージセンサ(以下CCD固体撮像装置と称する)は、入力光情報を光電変換することにより画像信号を生成する。これらの固体撮像装置は、機能素子として、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラ、ネットワークカメラ、及び携帯電話用カメラ等、多岐にわたる撮像機器に用いられている。
従来の固体撮像装置は、半導体基板の最表面に、光電変換部(フォトダイオード)と読み出し回路部とを有する画素を二次元のアレイ状に配置した構成を有する。したがって、光電変換部の面積は光入射面において読み出し回路部の面積分削減される。これにより、従来の固体撮像装置では、開口率が低下するという課題があった。
この課題を解決するために、光吸収能を有する材料を基板上に積層した構成の光電変換部と、基板に形成した読出し回路とを有する積層型固体撮像装置が特許文献1及び特許文献2に報告されている。
これらの文献に記載の積層型固体撮像装置では、各画素の光電変換部は、画素電極と、その上方(光入射側)に積層された光電変換膜と、その上面に形成された対向電極とを含む。さらに、当該積層型固体撮像装置は、入射光によって発生した電荷群を電流信号として画素電極を介して光電変換部外に取り出す。当該積層型固体撮像装置は、通常、信号電荷の符号を選択するために信号電荷を伝導し、その反対符号の電荷をブロックする電荷ブロッキング層を備える。当該電荷ブロッキング層は、画素電極に対向する、又は画素電極に直接接している。
図14は、特許文献1に記載されている有機膜を光電変換膜とする従来の積層型イメージセンサの画素部(画素)の回路を模式的に示したものである。光電変換部101から画素電極102を通して出力された信号電荷は、基板上に形成された空乏層容量よりなる電荷蓄積部103に蓄積される。当該電荷蓄積部103は配線を介して画素読み出しトランジスタ(増幅トランジスタ)104の入力ゲートに接続され、蓄積電荷量の変動に伴う電圧変化が検出され、当該画素の読み出しタイミングを選択する選択トランジスタ105を介して読み出し信号として垂直信号線107に出力される。さらに信号電荷が読み出された後に、当該電荷蓄積部103の電荷をリセットするためにリセットトランジスタ106のドレイン部が電荷蓄積部103に接続されており、リセット時に初期状態電圧に電荷蓄積部電圧が設定される。
特許第4444371号公報 特公昭58−50030号公報
図15は図14の画素を二次元状に配列した積層型固体撮像装置を模式的に示したものであり、垂直走査方向にn行(nは2以上の整数とする)の画素が配列されている。各行のリセットトランジスタ106のゲートは各行それぞれ一本のリセット制御線で制御される。同様に、選択トランジスタ105のゲートは選択制御線で制御される。各行を垂直走査方向に1からnまで番号付けすることとし、i行目(iは1以上(n−1)以下の整数とする)のリセット制御線をres_(i)、選択制御線をsel_(i)と記し、積層型固体撮像装置の典型的な動画撮影時の駆動方法を図16によって説明する。
図16は、各制御線に与える電圧および、ある列の垂直信号線107に現れる出力電圧を示すことで、典型的な駆動方法を説明する図である。図16では第(i−1)行から第(i+1)行しか記載していないが、第1行から第n行まで同様の駆動を順番に行えば一画面分の画像信号が得られることは当業者ならば容易に理解できるので省略している。また、i行目の駆動期間(水平走査期間)を第(i)走査期間と記している。
第(i−1)走査期間では、まずsel_(i−1)をオンして、第(i−1)行目の画素内の選択トランジスタ105をオンする。すると、電荷蓄積部103に蓄積された電荷に対応する電圧V1が画素読み出しトランジスタ104により生成され、垂直信号線107に出力される(この電圧V1を画素信号と記す)。これは後段の相関二重サンプリング(CDS)回路などによってサンプリングされる。(以下、この動作を「画素信号の読み出し」と呼ぶ)。次に(i−1)行目のリセット動作を開始する。具体的には、res_(i−1)をオンし、リセットトランジスタ106により電荷蓄積部103をリセットする(リセットトランジスタ106には電圧源などによりリセット電圧をあらかじめあたえておく)。そのあとres_(i−1)をオフすることで(i−1)行目のリセット動作を終了し、垂直信号線107に出力される電圧V2(これをリセット信号と記す)をCDS回路などでサンプリングする(この動作を以下では「リセット信号の読出し」と呼ぶ)。これにより、先ほどのサンプリング電圧V1とこの電圧V2との差がCDS回路の出力電圧として得られる。そのあと、各列で得られるCDS回路の出力電圧を、水平転送回路により順番に固体撮像装置外に出力し、第(i−1)走査期間の駆動を終える。次の第(i)走査期間以下でも同様の駆動が行われる。第(n)走査期間が終われば、次のフレームの第(1)走査期間から同様の駆動が繰り返される。次のフレームでの出力電圧V1は、前のフレームの出力電圧V2に、各画素へ照射される光強度に対応した電圧が加算されたものになるので、CDS回路により得られる電圧(V1−V2)は、光強度のみに依存した真の画像信号ということになる。
しかしながら、このような駆動方法では、特に輝度が大きく変化する動画撮影時において、前フレームの画像が次フレームに現れる、いわゆる残像が生じるという課題があることが本願発明者らの研究によって明らかとなった。以下にその詳細を説明する。
図17は垂直走査方向に隣接するi行目と(i+1)行目の2つの画素を示す図であり、各画素の構成は図14と同様である。ただし、図17では、これらの画素間の寄生容量108を追加している。寄生容量108は画素電極102間、画素読み出しトランジスタ104のゲート配線間などで生じる。電荷蓄積部(蓄積容量)103の値をCa(これは通常全画素で同じ値である)、寄生容量108の値をCpとする。
この寄生容量108により、以下のようなメカニズムで残像が発生する。
図16の第(i)走査期間において、(i)行目のリセット動作終了後すなわち、res_(i)をオフした直後の蓄積容量103(i)の電圧をVres(i)とする。またこのときの蓄積容量103(i+1)の電圧をVfd1(i+1)とする。Vres1(i)はリセットトランジスタ106(i)に与えられるリセット電圧、リセットトランジスタ106(i)の閾値や(蓄積容量103側をドレインとすると)ゲート・ドレイン間容量によって決定され、画素に照射される光強度には依らない。それに対し、Vfd1(i+1)は、(i+1)行目の画素に照射された光強度に依存する。
この後、第(i+1)走査期間において、(i+1)行目のリセット動作終了後すなわち、res_(i+1)をオフした直後では、蓄積容量103(i+1)の電圧がVres1(i+1)に変化する。このとき蓄積容量103(i)は何ら電圧源に接続されておらず、いわゆるフローティングであるから、蓄積容量103(i+1)の電圧変化が蓄積容量103(i)の電圧に影響を及ぼす。すなわち、蓄積容量103(i)のこの瞬間での電圧をVres2(i)とすると、
Figure 2012137445
と表される。ただし、ここでは(i)行目のリセット動作終了後からここまでに光照射により蓄積される電荷を無視している。また、αは、選択トランジスタ105やその他の寄生容量に依存する値であり、光照射量にはよらない。
この後、次のフレームの第(i)走査期間まで(i)行目の画素に光が照射され、電荷が蓄積される。この電荷をQaとする。
次のフレームの第(i)走査期間において、選択トランジスタ105(i)をオンしたときの蓄積容量103(i)の電圧は、上記QaとVres2(i)を加算した値に略等しいので、この電圧値をVout(i)とすると、
Figure 2012137445
となる。すなわちVout(i)はVfd1(i+1)に依存することになり、これが残像として見えることになる。たとえば、前フレームで(i+1)行目に照射された光強度が大きいと、Vout(i)の値はそれに依存して小さくなる。画像としては、前フレームの画像の白黒反転したものが現フレームに重畳してしまう。なお、βはαと同様な寄生成分による値である。
本発明は、上記従来技術の実情に鑑みてなされたものであり、輝度変化の激しい動画撮像時においても、残像現象の発生しない高画質撮像を可能とする固体撮像装置の駆動方法を提供することを目的とする。
上記従来技術の課題を解決するために、本発明の一形態に係る固体撮像装置の駆動方法は、水平走査方向にm列、垂直走査方向にn行の2次元状に配列された画素を含む固体撮像装置の駆動方法であって(nは2以上の整数、mは自然数とする)、i行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の前記画素のリセット動作を終了するとき、(i+1)行目の前記画素がリセット動作中であるか、もしくは(i+1)行目の前記画素がリセット動作を終了してからの経過時間が1フレーム撮像時間未満であることを特徴とする。このような駆動方法とすることによって、所定の行のリセット動作終了後には、所定の行に隣接する行のリセット動作のカップリングによる出力信号の電位変動が発生しない。従って、フレーム間で残像は全く発生しない。
さらに上記従来技術の課題を解決するために、本発明の一形態に係る固体撮像装置の駆動方法は、j水平走査期間(jは1以上(n−1)以下の整数とする)の蓄積時間を与える電子シャッタの駆動を行い、i行目の前記画素からの画素信号を読み出す走査期間中に、(i+j)行目の前記画素のリセット動作を終了する前に、(i+j+1)行目の前記画素のリセット動作を開始することを特徴とする。読み出し行のリセット動作終了後には、隣接する行のリセット動作のカップリングによる出力信号の電位変動が発生しない。従って、フレーム間で残像は発生しない。
さらに上記従来技術の課題を解決するために、本発明の一形態に係る固体撮像装置の駆動方法は、(i+1)行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(i+1)行目のリセット動作の開始と、i行目のリセット動作の終了とを順次行うことを特徴とする。このような駆動方法とすることによって、隣接する行のリセット動作のカップリングによる出力信号の電位変動は、2度目のリセット動作で除去できるので、フレーム間で残像は発生しない。
さらに上記従来技術の課題を解決するために、本発明の一形態に係る固体撮像装置の駆動方法は、(i+1)行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(i+1)行目のリセット動作の開始と、(i+1)行目のリセット動作の終了と、(i+1)行目のリセット信号読出し動作と、i行目のリセット動作の終了とを順次行うことを特徴とする。このような駆動方法とすることによって、隣接する行のリセット動作のカップリングによる出力信号の電位変動は、2度目のリセット動作で除去できるので、フレーム間で残像は発生しない。
さらに上記従来技術の課題を解決するために、本発明の一形態に係る固体撮像装置の駆動方法は、(i+1)行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(i+1)行目のリセット動作の開始と、i行目のリセット動作の終了と、i行目のリセット信号読出し動作とを順次行うことを特徴とする。このような駆動方法とすることによって、隣接する行のリセット動作のカップリングによる出力信号の電位変動は、2度目のリセット動作で除去できるので、フレーム間で残像は発生しない。
さらに上記従来技術の課題を解決するために、本発明の一形態に係る固体撮像装置の駆動方法は、水平走査方向にm列、垂直走査方向に2k行又は(2k+1)行の2次元状に配列された画素を含む固体撮像装置において(2kとnとが等しい、又は(2k+1)とnとが等しい)、(2a+1)行目(aは0以上k以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(2a+1)行目のリセット動作と、(2a+1)行目のリセット信号読出し動作と、2a行目のリセット動作とを順次行う奇数フレームの駆動と、(2a+2)行目の画素信号読出し動作と、(2a+2)行目のリセット動作と、(2a+2)行目のリセット信号読出し動作と、(2a+1)行目のリセット動作とを順次行う偶数フレームの駆動とを含むことを特徴とする。このような駆動方法とすることによって、読み出し行のリセット動作終了後には、隣接する行のリセット動作のカップリングによる出力信号の電位変動が発生しない。従って、フレーム間で残像は発生しない。
以上のように、輝度変化の激しい動画撮像時においても、行読み出し後の隣接行のリセット動作のカップリングによって発生する出力変動を除去し、フレーム間残像の発生しない高画質撮像を可能とする固体撮像装置の駆動方法を提供できる。
図1は、本発明の実施の形態1の積層型固体撮像装置の各部を説明する図である。 図2は、本発明の実施の形態1の固体撮像装置の断面図である。 図3Aは、本発明の実施の形態1の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図3Bは、本発明の実施の形態1の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図4は、本発明の実施の形態2の固体撮像装置を説明する図である。 図5は、本発明の実施の形態2の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図6Aは、本発明の実施の形態3の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図6Bは、本発明の実施の形態3の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図7は、本発明の実施の形態4の固体撮像装置を説明する図である。 図8は、本発明の実施の形態4の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図9は、本発明の実施の形態5の固体撮像装置を説明する図である。 図10は、本発明の実施の形態5の固体撮像装置を説明する図である。 図11は、本発明の実施の形態5の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図12は、本発明の実施の形態6の固体撮像装置を説明する図である。 図13は、本発明の実施の形態6の固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図14は、従来の積層型固体撮像装置の画素を説明する図である。 図15は、固体撮像装置の画素アレイを説明する図である。 図16は、固体撮像装置の駆動方法を説明する図である。 図17は、固体撮像装置の画素部を説明する図である。
以下、本発明に係る固体撮像装置の駆動方法の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、本発明について、以下の実施の形態及び添付の図面を用いて説明を行うが、これは例示を目的としており、本発明がこれらに限定されることを意図しない。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、より好ましい形態を構成する任意の構成要素として説明される。
(実施の形態1)
本発明の実施の形態1に係る固体撮像装置の駆動方法について図1から図3Bを用いて説明する。
まず、本発明の実施の形態1に係る固体撮像装置の全体構成を説明する。図1は、本発明の実施の形態1に係る固体撮像装置501の構成を示すブロック図である。
この固体撮像装置501は、画素アレイ502と、行信号駆動回路503a及び503bと、列毎に配置された列アンプ回路504と、各列に配置されたノイズキャンセラ回路505と、水平駆動回路506と、出力段アンプ507とを備える。
図2は、固体撮像装置501の3画素分の領域の断面図である。なお、実際の画素は、画素アレイ502に、例えば1000万画素分配列されている。各画素の回路図は図15と同様である。
図2に示すように、固体撮像装置501は、マイクロレンズ601と、赤色カラーフィルタ602と、緑色カラーフィルタ603と、青色カラーフィルタ604と、保護膜605と、平坦化膜606と、上部電極607(第2電極)と、光電変換膜608と、電子ブロッキング層609と、電極間絶縁膜610と、下部電極611(第1電極)と、配線間絶縁膜612と、給電層613と、配線層614と、基板618と、ウェル619と、STI領域(シャロウトレンチ分離領域)620と、層間絶縁層621とを備える。
基板618は、半導体基板であり、例えばシリコン基板である。基板618内には、光電変換膜608の光電変換により生成された信号電荷を信号電圧(読み出し信号)として画素外部に読み出すための信号読み出し回路、つまり複数のトランジスタ(増幅トランジスタ616、選択トランジスタ及びリセットトランジスタ617)が形成されている。
マイクロレンズ601は、入射光を効率よく集光するために、固体撮像装置501の最表面に、画素510ごとに形成されている。
赤色カラーフィルタ602、緑色カラーフィルタ603及び青色カラーフィルタ604は、カラー画像を撮像するために形成されている。また、赤色カラーフィルタ602、緑色カラーフィルタ603及び青色カラーフィルタ604は、各マイクロレンズ601の直下、かつ保護膜605内に形成されている。1000万画素分にわたって集光ムラ及び色ムラのないマイクロレンズ601及びカラーフィルタ群を形成するために、これらの光学素子は平坦化膜606上に形成されている。平坦化膜606は、例えば、SiNで構成される。
上部電極607は、平坦化膜606下に画素アレイ502の全面にわたって形成されている。この上部電極607は可視光を透過する。例えば、上部電極607はITO(Indium Tin Oxide)で構成される。
光電変換膜608は光を信号電荷に変換する。具体的には、光電変換膜608は、上部電極607の下に形成されており、高い光吸収能を有する有機分子で構成されている。また、光電変換膜608の厚さは、例えば500nmである。また、光電変換膜608は、真空蒸着法を用いて形成される。上記有機分子は波長400nmから700nmの可視光全域にわたって高い光吸収能を有する。
電子ブロッキング層609は、光電変換膜608の下に形成されており、入射光の光電変換によって発生した正孔を伝導するとともに、下部電極611からの電子注入を阻止する。この電子ブロッキング層609は、高い平坦度を有する電極間絶縁膜610と下部電極611上に形成されている。
複数の下部電極611は、基板618の上方に、行列状に配置されている。また、複数の下部電極611は、各々が電気的に分離されている。具体的には、下部電極611は、電極間絶縁膜610間に形成されており、光電変換膜608で発生した正孔を収集する。この下部電極611は、例えばTiNで構成される。また、下部電極611は、平坦化された厚さ100nmの配線間絶縁膜612上に形成されている。
また、各下部電極611は0.2μmの間隔で分離されている。そして、この分離領域にも電極間絶縁膜610が埋め込まれている。
さらに、この分離領域の下方、かつ配線間絶縁膜612下に給電層613が配されている。この給電層613は、例えばCuで構成される。具体的には、給電層613は、隣接する下部電極611の間の領域であり、かつ下部電極611と基板618との間に形成されている。また、給電層613には、下部電極611とは独立した電位を供給可能である。具体的には、光電変換膜608が光電変換を行う露光動作時、及び信号読み出し回路が読み出し信号を生成する読み出し動作時に、給電層613に、信号電荷を排斥するための電位が供給される。例えば、信号電荷が正孔の場合には正電圧が印加される。これにより、各画素に、隣接画素から正孔が混入することを防止できる。なお、このような電圧印加の制御は、例えば、固体撮像装置501が備える制御部(図示せず)により行なわれる。
給電層613には配線層614が接続されている。また、配線層614は、信号読み出し回路のFD部(電荷蓄積部)615及び増幅トランジスタ616のゲート端子に接続されている。さらにFD部615は、リセットトランジスタ617のソース端子に電気的に接続されている。また、リセットトランジスタ617のソース端子とFD部615とは拡散領域を共有している。これらのトランジスタと、図示されてはいないが同一画素内に形成されている選択トランジスタと、FD部615とは全て同一のP型のウェル619内に形成されている。また、このウェル619は、基板618に形成されている。つまり、信号読み出し回路は、基板618に形成されており、複数の下部電極611の各々に発生する電流又は電圧の変化を検知することにより、信号電荷に応じた読み出し信号を生成する。また、増幅トランジスタ616は、下部電極611に発生する電流又は電圧の変化を増幅することにより、読み出し信号を生成する。
また、各トランジスタは、SiOで構成されるSTI領域620によって電気的に分離されている。
また、リセットトランジスタ617のゲート端子はリセット制御線と接続され、リセット制御線の電位によりリセットトランジスタ617のオン・オフが制御されている。例えば、リセット制御線の電位がハイレベルとされてリセット制御線がオンされていると、リセットトランジスタ617がオンされ、リセット制御線の電位がローレベルとされてリセット制御線がオフされていると、リセットトランジスタ617がオフされる。
また、選択トランジスタのゲート端子は選択制御線と接続され、選択制御線の電位により選択トランジスタのオン・オフが制御されている。例えば、選択制御線の電位がハイレベルとされて選択制御線がオンされていると、選択トランジスタがオンされ、選択制御線の電位がローレベルとされて選択制御線がオフされていると、選択トランジスタがオフされる。本実施形態の画素アレイ502の構成は図16と同様であり、垂直走査方向にn行(nは2以上の整数とする)、水平方向にm行(mは自然数とする)の画素が配列されている。
図3A及び図3Bは本実施形態における固体撮像装置の駆動方法を示した図である。これは各制御線に与える信号を時系列的に示したものである。また、i行目と(i+1)行目しか示していないが、これを通常の垂直走査動作にあてはめることは当業者ならば容易である。また、i行目のリセット制御線をres_(i)、選択制御線をsel_(i)と記す。まず、図3Aについて説明する。
時刻aにおいて、res_(i+1)をオンすることにより、(i+1)行目の画素のリセット動作を開始する。
時刻aと時刻bの間に、res_(i)をオンしてi行目のリセット動作を開始する。
そのあとの時刻bにおいて、res_(i)をオフすることにより、i行目のリセット動作を終了する。このとき、res_(i+1)をオンのままとしておく。
そのあとの時刻cにおいて、res_(i+1)をオフし、(i+1)行目のリセット動作を終了する。このときの(i)行目のFD部615(蓄積容量103(i))の電圧が(式1)に対応する。すなわち、(i+1)行目のFD部615(蓄積容量103(i+1))の変動により、(i)行目のFD部615(蓄積容量103(i))が影響を受ける。ただし、以上説明した駆動方法においては、時刻bでの(i+1)行目のFD部615(蓄積容量103(i+1))の電圧をVfd2(i+1)、時刻cでの(i+1)行目のFD部615(蓄積容量103(i+1))の電圧をVfd3(i+1)とすると、(i)行目のFD部615(蓄積容量103(i))の電圧は次式のようになる。
Figure 2012137445
時刻dにおいて、sel_(i)をオンし、垂直信号線に(i)行目のFD部615(蓄積容量103(i))の電圧を出力する。このときの垂直信号線への出力電圧値は(式2)に対応し、
Figure 2012137445
となる。
Vfd2(i+1)は(i+1)行目のリセット動作中、Vfd3(i+1)はリセット直後の値であり、光照射量に依らない。図3Aの時刻bが、読み出し時である時刻dの前フレームであるとすると、前フレームでどのような光照射状態であったとしても、時刻dではそれに依らない出力が得られることになり、本発明の課題である残像の除去が達成できる。実際には、以上説明した図3Aに示した駆動方法を満たすように固体撮像装置を駆動すれば(この例は以下の実施形態で示される)、残像の除去が可能である。
図3Bはもう一つの駆動方法である。
まず、時刻aでres_(i+1)をオンし、(i+1)行目のリセットを開始する。
そのあと、時刻a’でres_(i+1)をオフし、(i+1)行目のリセットを終了する。
そのあと、時刻bでres_(i)をオフし、(i)行目のリセットを終了する(時刻bの前にres_(i)はオンしておく)。
そのあと、時刻cでres_(i+1)をオフし、(i+1)行目のリセットを終了する(時刻cの前にres_(i+1)はオンしておく)。
時刻dでの動作は図3Aの駆動方法と同様である。時刻bでの(i)行目のFD部615(蓄積容量103(i+1))の電圧をVfd2(i+1)’、時刻cでの(i+1)行目のFD部615(蓄積容量103(i+1))の電圧をVfd3(i+1)’とすると、図3Aと同様に考えて、時刻dでの出力電圧は、
Figure 2012137445
と表される。Vfd2(i+1)’は、厳密には光照射量に依存するが、時刻bに対する時刻a’の時間差を短くすれば、ほとんど依存しないようにすることができる。時間差は短いほどよく、例えば1走査期間である。少なくとも、1フレーム蓄積時間未満にする必要がある(1フレーム蓄積時間は通常の駆動方法と同じである)。Vfd3(i+1)’はリセット直後であり、光照射量に依存しないので、この方法でも同様に、残像の除去が可能となる。
図3A及び図3Bにおいて、上述した部分以外では、他の駆動方法も考えられる。例えば、sel_(i)を必ずオンにしなければならないのは時刻dにおいてだけであり、時刻bではオンでもオフでもよい。本質的なのは(i)行目のリセット終了時に、(i+1)行目のFD部615(蓄積容量103_(i+1))の電圧を光照射量によらない値にすることである。
(実施の形態2)
本発明に係る実施の形態2を図4と図5を用いて説明する。固体撮像装置全体の構成は実施の形態1と同様である。
図4は本実施形態の画素アレイ502を模式的に示したものであり、垂直走査方向にn行(nは2以上の整数とする)、水平方向にm行(mは自然数とする)の画素が配列されている。各画素の回路図は図14と同様であり、各行のリセットトランジスタ106のゲートは各行それぞれ一本のリセット制御線で制御される。同様に、選択トランジスタ105のゲートは選択制御線で制御される。各行を垂直走査方向に1からnまで番号付けすることとし、i行目(iは1以上(n−1)以下の整数とする)のリセット制御線をres_(i)、選択制御線をsel_(i)と記すことは図16と同様である。本実施形態の駆動方法においては、信号は1行ずつ図示の方向(下から上)に読み出されるが、各行の全画素のリセット動作は読み出し動作よりもj行分の読み出し期間分だけ先行して行われる、いわゆる電子シャッター動作を行う。このことにより、j行分の蓄積時間を画素に与えることが出来る。また、以下で電子シャッター動作を行う行を(i+j)などと記すが、この値がnを超えた場合は「折り返して」、nを引いた値を意味する(たとえば(i+j)がnを超えた場合は(i+j−n)行とみなす)。
図5は、本実施形態の駆動方法において、各制御線に与える電圧および、ある列の垂直信号線に現れる出力電圧を示すことで、典型的な駆動方法を説明する図である。図5では読み出し動作が行われる行については、第(i−1)行と第(i)行を、また、電子シャッター動作が行われる行については第(i+j−1)行から第(i+j+1)行までしか記載していないが、第1行から第n行まで同様の駆動を順次に行うことで一画面分の画像信号が得られることは当業者ならば容易に理解できるので省略している。また、i行目の駆動期間を第(i)走査期間(第(i)H)、(i−1)行目の駆動期間を第(i−1)走査期間(第(i−1)H)と記している。
第(i−1)走査期間では、第(i+j)行目の画素のリセット動作を開始するために、res_(i+j)をオンとし、この状態を第(i)走査期間に第(i+j+1)行目の画素のリセット動作開始後まで保持する。しかる後、sel_(i+j)をオンとした後にres_(i+j)をオフとし、さらにsel_(i+j)をオフとする。このような駆動とすることで、第(i+j)行目の電荷蓄積部はリセット動作終了後、読み出し開始まで、第(i+j+1)行目のリセット動作開始に伴う寄生容量による電位変動を受けない、すなわち、残像は発生しない。
なお、第(i−1)走査期間中に第(i+j−1)行目の画素のリセットをオンからオフに切り替えている。また、図5中、第(i−1)走査期間に第(i−1)行目、第(i)走査期間に第(i)行目を図16と同様の方法で読み出している。
このように、本実施形態では、電子シャッター動作時に残像の全くない極めて高画質の撮像を可能とする。なお、図5の説明では、シャッター期間をj行としたが、これは、1フレーム分の期間を超えても機能することは原理的に明らかである。
なお、画素信号読出し、リセット信号読出しの動作は図16と同様であるから説明を省略する。
(実施の形態3)
本発明の実施の形態3に係る固体撮像装置について図6A及び図6Bを用いて説明する。本実施形態の固体撮像装置の構成は図1と、画素部の断面構造は図2と同等である。
本実施形態では、電子シャッターを用いずに動画を撮像する駆動、すなわちローリングリセット動作の場合である。この場合では、実施の形態1における図3A及び図3Bの駆動方法を、各走査期間においてあてはめ、リセット信号をサンプリングする動作を追加すればよい。それは以下のようになる。
図6Aでは、第(i−1)走査期間にまずsel_(i)をオンし、(i)行目の画素信号を読み出す。そのあと、res_(i)をオンし、(i)行目のリセット動作を開始する。
第(i)走査期間ではまず、sel_(i+1)をオンし、(i+1)行目の画素信号を読み出す。そのあと、res_(i+1)をオンし、リセット動作を開始する。そのあと、res_(i)をオフし(この前のいずれかの時刻でres_(i)はあらかじめオンにしておく)、(i)行目のリセット動作を終了する。このときの(i+1)行目の電荷蓄積部の電荷量は光照射量に依らないので、実施の形態1で述べた原理により、この駆動方法で残像が防止できる。
ここで、第(i)走査期間でのres_(i+1)のオンから、res_(i)をオフまでの時間で、res_(i+1)のオン・オフ動作は任意である。ただし、res_(i)をオフする直前(正確には蓄積容量の反応時間分余裕が必要)にはオンしていなければならない。また、あらかじめres_(i)をオンする時刻は任意である(ただし、電荷蓄積部などの反応時間を考慮する必要がある)。
図6Bでは、第(i−1)走査期間にまずsel_(i)をオンし、(i)行目の画素信号を読み出す。そのあと、res_(i)をオンし、(i)行目のリセット動作を開始する。画素がリセットできる時間この状態を保持した後、res_(i)をオフする。
第(i)走査期間ではまず、sel_(i+1)をオンし、(i+1)行目の画素信号を読み出す。そのあと、res_(i+1)をオンし、リセット動作を開始する。画素がリセットできる時間この状態を保持した後、res_(i+1)をオフする。そのあと、sel_(i)およびres_(i)をオンし、(i)行目のリセットを開始する(ここでのsel_(i)のオンは必須ではない。ただし、選択用トランジスタゲート制御線と電荷蓄積部との寄生成分の出力信号への影響を抑制するためには、オンの方が望ましい)。そのあと、res_(i)をオフし、リセット動作を終了する。このときの(i+1)行目の電荷蓄積部の電荷量は光照射量にほぼ依らないので、実施の形態1で述べた原理により、この駆動方法で残像が防止できる。
本実施形態で述べた駆動方法には、リセット信号の読出しが含まれていない。どの時点でリセット信号を読み出すかにより、大きく2つの任意性が存在する。すなわち、(i)行目のリセット信号の読出しを第(i−1)走査期間で行うか、第(i)走査期間で行うかの2通りである。これらの具体例として、実施の形態4および実施の形態5において説明する。
(実施の形態4)
本発明の実施の形態4に係る固体撮像装置について図7及び図8を用いて説明する。本実施形態の固体撮像装置の構成は図1と、さらに画素部の断面構造は図2と同等である。
図7は本実施形態の画素アレイ502を模式的に示したものであり、図15と同等である。垂直走査方向にn行(nは2以上の整数とする)の画素が配列されている。各画素の回路図は図14と同様であり、各行のリセットトランジスタ106のゲートは各行それぞれ一本のリセット制御線で制御される。同様に、選択トランジスタ105のゲートは選択制御線で制御される。各行を垂直走査方向に1からnまで番号付けすることとし、i行目(iは1以上(n−1)以下の整数とする)のリセット制御線をres_(i)、選択制御線をsel_(i)と記すことは図16と同様である。本実施形態の駆動方法においては、信号は1行ずつ図示の方向(下から上)に読み出される。また、画素アレイ502下段には。列アンプ回路504に属する列アンプ904とノイズキャンセラ回路905に属する1列分のノイズキャンセラ回路905を示している。ノイズキャンセラ回路905は、スイッチ906、容量907、スイッチ908、容量909、及びスイッチ910よりなる第一の相関二重サンプリング回路(第一のCDS回路)と、スイッチ911、容量912、スイッチ913、容量914、及びスイッチ915よりなる第二の相関二重サンプリング回路(第二のCDS回路)とが並列接続された構成である。
図8は、本実施形態の駆動方法において、各制御線に与える電圧および、ある列の垂直信号線に現れる出力電圧を示すことで、典型的な駆動方法を説明する図である。図8では読み出し動作が行われる行については、第(i−1)行から第(i+1)行までしか記載していないが、第1行から第n行まで同様の駆動を順次に行うことで一画面分の画像信号が得られることは当業者ならば容易に理解できるので省略している。また、i行目の駆動期間を第(i)走査期間(第(i)H)、(i+1)行目の駆動期間を第(i+1)走査期間(第(i+1)H)と記している。
第(i)走査期間では、まずsel_(i)をオンして、第(i)行目の画素内の選択トランジスタ105をオンする。すると、電荷蓄積部103に蓄積された電荷に対応する電圧V1が画素読み出しトランジスタ104により生成され、垂直信号線107に出力される。この動作をスイッチ906をオンとした状態で行い、第一のCDS回路によってサンプリングする。次に(i)行目のリセット動作を開始する。具体的には、スイッチ906をオフとし、res_(i)をオンし、リセットトランジスタ106により電荷蓄積部103をリセットする(リセットトランジスタ106には電圧源などによりリセット電圧をあらかじめあたえておく)。そのあとres_(i)をオフすることで(i)行目の第1回目のリセット動作を終了する。この時点で、第(i)行目のリセット後出力は第二のCDS回路ではサンプリングされない。
次に第(i+1)走査期間においても同様に、sel_(i+1)をオンして、第(i+1)行目の画素内の選択トランジスタ105をオンする。すると、電荷蓄積部103に蓄積された電荷に対応する電圧V1が画素読み出しトランジスタ104により生成され、垂直信号線107に出力される。この動作をスイッチ911をオンとした状態で行い、第二のCDS回路によってサンプリングする。次に(i)行目のリセット動作を開始する。具体的には、スイッチ906をオフとし、res_(i+1)をオンし、リセットトランジスタ106により電荷蓄積部103をリセットする(リセットトランジスタ106には電圧源などによりリセット電圧をあらかじめあたえておく)。そのあとres_(i+1)をオフすることで(i+1)行目の第1回目のリセット動作を終了する。この時点で、第(i+1)行目のリセット後出力は第二のCDS回路ではサンプリングされない。
次に第(i)行目の第2回目のリセット動作を行う。具体的には、スイッチ906を再びオンとし、sel_(i)、res_(i)をオンとしてしかる後、res_(i)、sel_(i)の順にオフとする。このときの垂直出力信号V2を第一のCDS回路によってサンプリングする。これにより、先ほどのサンプリング電圧V1とこの電圧V2との差が第一のCDS回路の出力電圧として得られる。そのあと、各列で得られるCDS回路の出力電圧を、水平駆動回路により順番に固体撮像装置外に出力し、第(i)走査期間の駆動を終える。次の第(i+1)走査期間後も同様である。第(n)走査期間が終われば、次のフレームの第(1)走査期間から繰り返される。次のフレームでの出力電圧V1は、前のフレームの出力電圧V2に、リセット動作のカップリングの影響の全くない各画素へ照射される光強度に対応した電圧のみが加算されたものになるので、CDS回路により得られる電圧(V1−V2)は、光強度のみに依存した真の画像信号となる。従って、本実施形態においても、残像は全く発生しない高品質な画像の撮像が可能となる。
(実施の形態5)
図9は、本発明の実施の形態5に係る固体撮像装置1101の構成を示すブロック図である。この固体撮像装置1101は、画素アレイ1102と、行信号駆動回路1103a及び1103bと、増幅及びフィードバック機能を有する回路が列毎に配置された列フィードバック回路1104と、各列に配置された列アンプとノイズキャンセラとを含むノイズキャンセラ回路1105と、水平駆動回路1106と、出力段アンプ1107とを備える。ここで列フィードバック回路1104は、画素アレイ1102からの出力信号を受け取り、かつ、フィードバックする。よって、信号の流れの方向は図9に示すように画素アレイ1102に対して双方向となる。
図10は、固体撮像装置1101に含まれる、ある1つの画素1110の信号読み出し回路とその周辺回路とを示す回路図である。
また、画素アレイ1102は、行列状に配置された複数の画素1110と、列毎に設けられた複数の列信号線(垂直信号線)1204と、行毎に設けられた複数の行選択線とを含む。複数の列信号線1204の各々は、対応する列に配置されている複数の画素1110と接続されている。複数の行選択線の各々は、対応する行に配置されている複数の画素1110と接続されている。
図10に示すように、画素1110は、光電変換部1201と、信号読み出し回路とを備える。また、固体撮像装置1101は、列信号線1204と、フィードバックアンプ1205と、フィードバックアンプ1205からの出力に応じて、リセットトランジスタ1206への入力レベルを制御する制御回路1207と、増幅トランジスタ1202と、選択トランジスタ1203と、列増幅回路1212と、トランジスタ1210と、容量1213及び1214とを備える。ここで、列信号線1204と、フィードバックアンプ1205と、制御回路1207と、選択トランジスタ1203と、列増幅回路1212と、トランジスタ1210及び1215と、容量1213及び1214とは、列毎に設けられており、図9に示す列フィードバック回路1104及びノイズキャンセラ回路1105等に含まれる。
光電変換部1201は、入射光を光電変換することにより、入射光量に応じた信号電荷を生成する。
信号読み出し回路は、光電変換部1201で生成された信号電荷に応じた読み出し信号を生成する。この信号読み出し回路は、増幅トランジスタ1202と、選択トランジスタ1203と、リセットトランジスタ1206と、FD部(フローティングディフュージョン部)(図示せず。ノード電圧はVFDと記載。)とを含む。
増幅トランジスタ1202は、光電変換部1201で発生した信号電荷量を検出する。
選択トランジスタ1203は、増幅トランジスタ1202で検出された信号を列信号線1204へ伝達するか否かを制御する。
リセットトランジスタ1206は、光電変換部1201及びFD部をリセットするためのリセット信号をFD部に供給する。
制御回路1207は、フィードバックアンプ1205からの出力に応じて、リセットトランジスタ1206のON/OFF状態を信号線を介して制御すると共に、リセットトランジスタ1206への入力レベルを、信号線を介して光電変換部1201へ接地電位(以下、GND)または、高レベル電位(以下VHIGH)として印加する。
選択トランジスタ1203は、画素出力信号VPIXOを列増幅回路1212への入力端子に伝達するか否かを制御する。
トランジスタ1215、容量1213及び1214は直列に接続されている。トランジスタ1215は、バイアス電圧VNCBを容量1213に印加するか否かを制御する。
列増幅回路1212で増幅された信号は、トランジスタ1215、容量1213及び1214で構成される差分回路に入力される。そして、当該差分回路は、信号相当分の電圧を差分動作によって検出する。
なお、本実施形態においては、画素アレイ1102の構成は実施の形態2(図4)と同様である。
図11は、本実施の形態の駆動方法において、各制御線に与える電圧および、ある列の垂直信号線に現れる出力電圧を示すことで、典型的な駆動方法を説明する図である。図11では読み出し動作が行われる行については、第(i−1)行から第(i+1)行までしか記載していないが、第1行から第n行まで同様の駆動を順次に行うことで一画面分の画像信号が得られることは当業者ならば容易に理解できるので省略している。また、i行目の駆動期間を第(i)走査期間(第(i)H)、(i−1)行目の駆動期間を第(i−1)走査期間(第(i−1)H)と記している。また、ノイズキャンセラ回路1105がノイズキャンセラ回路905と同様の構成を有するとして説明する。
第(i)走査期間では、まずsel_(i)をオンして、第(i)行目の画素内の選択トランジスタ1203をオンする。すると、FD部に蓄積された電荷に対応する電圧V1が増幅トランジスタ1202により生成され、列信号線1204に出力される。この動作をスイッチ906をオンとした状態で行い、第一のCDS回路によってサンプリングする。次に(i)行目のリセット動作を開始する。具体的には、スイッチ906をオフとし、res_(i)をオンし、リセットトランジスタ1206によりFD部をリセットする(リセットトランジスタ1206には電圧源などによりリセット電圧をあらかじめあたえておく)。そのあとres_(i)をオフすることで(i)行目の第1回目のリセット動作を終了する。この時点で、第(i)行目のリセット後出力は第二のCDS回路ではサンプリングされない。
次に第(i+1)走査期間においても同様に、sel_(i+1)をオンして、第(i+1)行目の画素内の選択トランジスタ1203をオンする。すると、FD部に蓄積された電荷に対応する電圧V1が増幅トランジスタ1202により生成され、列信号線1204に出力される。この動作をスイッチ911をオンとした状態で行い、第二のCDS回路によってサンプリングする。次に(i)行目のリセット動作を開始する。具体的には、スイッチ906をオフとし、res_(i+1)をオンし、リセットトランジスタ1206によりFD部をリセットする(リセットトランジスタ1206には電圧源などによりリセット電圧をあらかじめあたえておく)。そのあとres_(i+1)をオフすることで(i+1)行目の第1回目のリセット動作を終了する。この時点で、第(i+1)行目のリセット後出力は第二のCDS回路ではサンプリングされない。
次に第(i)行目の第2回目のリセット動作を行う。具体的には、スイッチ906を再びオンとし、sel_(i)、res_(i)をオンとしてしかる後、res_(i)、sel_(i)の順にオフとする。このときの垂直出力信号V2を第一のCDS回路によってサンプリングする。これにより、先ほどのサンプリング電圧V1とこの電圧V2との差が第一のCDS回路の出力電圧として得られる。そのあと、各列で得られるCDS回路の出力電圧を、水平駆動回路により順番に固体撮像装置外に出力し、第(i)走査期間の駆動を終える。次の第(i+1)走査期間後も同様である。第(n)走査期間が終われば、次のフレームの第(1)走査期間から繰り返される。次のフレームでの出力電圧V1は、前のフレームの出力電圧V2に、リセット動作のカップリングの影響の全くない各画素へ照射される光強度に対応した電圧のみが加算されたものになるので、CDS回路により得られる電圧(V1−V2)は、光強度のみに依存した真の画像信号となる。従って、本実施形態においても、残像は全く発生しない高品質な画像の撮像が可能となる。ここで、リセット動作はフィードバックアンプ1205を介して、出力がフィードバックされた状態で行われている。このような構成とすることで、出力に現れるノイズはその反転が入力に帰還され、正符号成分と加算され、キャンセルされる。さらに、この第(i)行目の第2回目のリセット終了時にリセット信号にテーパ形状を施して、急激なリセット動作をしない設定としている。このようなリセット動作とすることにより、フィードバックループの帯域が制限され、より高いノイズ低減効果が得られる。なお、このテーパリセット動作は第1回目のリセット時には本実施形態では必要ではないが、第1回目のリセット終了直後の信号をサンプリングして、ゼロレベルとして参照する場合には、テーパリセット動作とした方が、より高いノイズ低減効果を得ることができる。
(実施の形態6)
本発明の実施の形態5に係る固体撮像装置の駆動方法について図12と図13を用いて説明する。本実施形態の固体撮像装置の構成は図1と、さらに画素部の断面構造は図2と同等である。
図12は本実施形態の画素アレイ502を模式的に示したものであり、図15と同等である。垂直走査方向に(2k)行(2kとnは等しい)の画素が配列されている。もしくは行数が奇数の場合、(2k+1)行と表すことができる。奇数の場合は説明が煩雑であるため省略するが、同様に考えることができるのはいうまでもない。aは0以上k以下の整数である。
図13が本実施形態における駆動方法を示す図である。図13はいわゆるインターレース駆動を示している。奇数フレームに奇数行の信号、偶数フレームに偶数行の信号を読み出す(この逆の組み合わせももちろん可能である)。各フレームで読み出されるのはk行分である。
奇数フレームにおいては、第(a)走査期間に、第(2a+1)行目の画素信号を読み出す。具体的な動作としては、まず、sel_(2a+1)をオンし、垂直信号線に蓄積電荷量に対応する電圧を読み出し、CDS回路などによりサンプリングする。次にres_(2a+1)をオンし、リセット動作を開始する。次にres_(2a+1)をオフし、リセット動作を終了したあと、リセット信号を垂直信号線から読み出し、CDS回路などによりサンプリングする。そのあと、res_(2a)をオンし、(2a)行のリセット動作を開始する。そのあとres_(2a)をオフしリセット動作を終了する。この時点では、(2a+1)行目のリセット動作を終了して1走査期間未満しか経過していないので、(2a)行目のこのリセット動作では(2a+1)行目の光照射量の影響をほとんどうけず、残像を防止することができる。この(2a)行目のリセット動作中は、sel_(2a)はオンでもオフでも良いが(図13中ではオンとしている)、選択用トランジスタゲート制御線と蓄積容量との寄生成分の出力信号への影響を抑制するためには、オンの方がよい。
偶数フレームにおける第(a)走査期間では、上述の奇数フレームにおける第(a)走査期間における第(2a+1)行が第(2a)行、第(2a)行が第(2a−1)行にそれぞれ置き換わる。この動作により、1フレームの蓄積時間を確保し、かつ残像を防止することが出来る。
以上、本発明の固体撮像装置の駆動方法について、実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したものや、異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本発明の範囲内に含まれる。
本発明は、デジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラ等に有効である。
101、1201 光電変換部
102 画素電極
103 電荷蓄積部
104 画素読み出しトランジスタ(増幅トランジスタ)
105、1203 選択トランジスタ
106、617、1206 リセットトランジスタ
107 垂直信号線
501、1101 固体撮像装置
502、1102 画素アレイ
503a、503b、1103a、1103b 行信号駆動回路
504 列アンプ回路
505、905、1105 ノイズキャンセラ回路
506、1106 水平駆動回路
507、1107 出力段アンプ
510、1110 画素
601 マイクロレンズ
602 赤色カラーフィルタ
603 緑色カラーフィルタ
604 青色カラーフィルタ
605 保護膜
606 平坦化膜
607 上部電極(第2電極)
608 光電変換膜
609 電子ブロッキング層
610 電極間絶縁膜
611 下部電極(第1電極)
612 配線間絶縁膜
613 給電層
614 配線層
615 FD部
616 増幅トランジスタ
618 基板
619 ウェル
620 STI領域(シャロウトレンチ分離領域)
621 層間絶縁層
904 列アンプ
906、908、910、911、913、915 スイッチ
907、909、912、914、1213、1214 容量
1104 列フィードバック回路
1202 増幅トランジスタ
1204 列信号線
1205 フィードバックアンプ
1207 制御回路
1210、1215 トランジスタ
1212 列増幅回路

Claims (6)

  1. 水平走査方向にm列、垂直走査方向にn行の2次元状に配列された画素を含む固体撮像装置の駆動方法であって(nは2以上の整数、mは自然数とする)、
    i行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の前記画素のリセット動作を終了するとき、(i+1)行目の前記画素がリセット動作中であるか、もしくは(i+1)行目の前記画素がリセット動作を終了してからの経過時間が1フレーム撮像時間未満である
    固体撮像装置の駆動方法。
  2. j水平走査期間(jは1以上(n−1)以下の整数とする)の蓄積時間を与える電子シャッタの駆動を行い、
    i行目の前記画素からの画素信号を読み出す走査期間中に、(i+j)行目の前記画素のリセット動作を終了する前に、(i+j+1)行目の前記画素のリセット動作を開始する
    請求項1に記載の固体撮像装置の駆動方法。
  3. (i+1)行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(i+1)行目のリセット動作の開始と、i行目のリセット動作の終了とを順次行う
    請求項1に記載の固体撮像装置の駆動方法。
  4. (i+1)行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(i+1)行目のリセット動作の開始と、(i+1)行目のリセット動作の終了と、(i+1)行目のリセット信号読出し動作と、i行目のリセット動作の終了とを順次行う
    請求項1に記載の固体撮像装置の駆動方法。
  5. (i+1)行目(iは1以上n−1以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(i+1)行目のリセット動作の開始と、i行目のリセット動作の終了と、i行目のリセット信号読出し動作とを順次行う
    請求項1に記載の固体撮像装置の駆動方法。
  6. 水平走査方向にm列、垂直走査方向に2k行又は(2k+1)行の2次元状に配列された画素を含む固体撮像装置において(2kとnとが等しい、又は(2k+1)とnとが等しい)、
    (2a+1)行目(aは0以上k以下の整数とする)の画素信号読出し動作と、(2a+1)行目のリセット動作と、(2a+1)行目のリセット信号読出し動作と、2a行目のリセット動作とを順次行う奇数フレームの駆動と、
    (2a+2)行目の画素信号読出し動作と、(2a+2)行目のリセット動作と、(2a+2)行目のリセット信号読出し動作と、(2a+1)行目のリセット動作とを順次行う偶数フレームの駆動とを含む
    請求項1に記載の固体撮像装置の駆動方法。
JP2013508745A 2011-04-08 2012-03-28 固体撮像装置の駆動方法 Active JP6011944B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011086842 2011-04-08
JP2011086842 2011-04-08
PCT/JP2012/002150 WO2012137445A1 (ja) 2011-04-08 2012-03-28 固体撮像装置の駆動方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016175979A Division JP6191978B2 (ja) 2011-04-08 2016-09-08 固体撮像装置の駆動方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2012137445A1 true JPWO2012137445A1 (ja) 2014-07-28
JP6011944B2 JP6011944B2 (ja) 2016-10-25

Family

ID=46968859

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013508745A Active JP6011944B2 (ja) 2011-04-08 2012-03-28 固体撮像装置の駆動方法
JP2016175979A Active JP6191978B2 (ja) 2011-04-08 2016-09-08 固体撮像装置の駆動方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016175979A Active JP6191978B2 (ja) 2011-04-08 2016-09-08 固体撮像装置の駆動方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9338383B2 (ja)
JP (2) JP6011944B2 (ja)
CN (1) CN103444167B (ja)
WO (1) WO2012137445A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3000347B1 (fr) * 2012-12-21 2016-03-04 Trixell Procede de lecture d'un dispositif d'imagerie
JP6045382B2 (ja) * 2013-02-13 2016-12-14 オリンパス株式会社 固体撮像装置
JP6134979B2 (ja) 2013-06-04 2017-05-31 富士フイルム株式会社 固体撮像素子および撮像装置
CN106341627B (zh) 2015-07-07 2020-08-11 松下知识产权经营株式会社 摄像装置
WO2020217783A1 (ja) * 2019-04-25 2020-10-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5850030B2 (ja) 1979-03-08 1983-11-08 日本放送協会 光電変換装置およびそれを用いた固体撮像板
JPS5850030A (ja) 1981-09-21 1983-03-24 Mitsubishi Electric Corp 電子計算機システムの電源制御装置
JPH05161073A (ja) * 1991-12-06 1993-06-25 Hamamatsu Photonics Kk 固体撮像装置
JP4285828B2 (ja) * 1999-03-03 2009-06-24 オリンパス株式会社 固体撮像装置の駆動方法
JP3693281B2 (ja) * 1999-09-30 2005-09-07 シャープ株式会社 増幅型固体撮像装置
US20040036784A1 (en) * 2002-08-23 2004-02-26 Bock Nikolai E. High dynamic range pixel with gain and true shutter capability
JP4510523B2 (ja) * 2004-06-02 2010-07-28 キヤノン株式会社 固体撮像装置および撮像システム
JP4325557B2 (ja) * 2005-01-04 2009-09-02 ソニー株式会社 撮像装置および撮像方法
JP2007013245A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および撮像装置
JP2007060350A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd イメージセンサ
JP5255790B2 (ja) * 2007-02-14 2013-08-07 富士フイルム株式会社 撮像装置
JP4997126B2 (ja) 2008-01-23 2012-08-08 オリンパス株式会社 固体撮像装置
JP4868021B2 (ja) * 2009-01-07 2012-02-01 ソニー株式会社 固体撮像素子および駆動制御方法
JP2011030060A (ja) * 2009-07-28 2011-02-10 Olympus Corp 固体撮像装置および撮像方法
JP4444371B1 (ja) 2009-09-01 2010-03-31 富士フイルム株式会社 撮像素子及び撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017005754A (ja) 2017-01-05
CN103444167B (zh) 2017-09-29
US20140027619A1 (en) 2014-01-30
JP6011944B2 (ja) 2016-10-25
JP6191978B2 (ja) 2017-09-06
US9338383B2 (en) 2016-05-10
CN103444167A (zh) 2013-12-11
WO2012137445A1 (ja) 2012-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11159756B2 (en) Solid-state image pickup element and image pickup system
US9961262B2 (en) Solid-state imaging device having a switchable conversion gain in the floating diffusion, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus
JP5251736B2 (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および電子機器
JP5326751B2 (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理方法および電子機器
JP5821315B2 (ja) 電子機器、電子機器の駆動方法
JP6191978B2 (ja) 固体撮像装置の駆動方法
JP5458869B2 (ja) 固体撮像装置およびその駆動方法、カメラ
JP2017055322A (ja) 撮像装置、撮像システム、および、撮像装置の制御方法
WO2015072575A1 (ja) 固体撮像素子および撮像装置
JP2013005396A (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、及び電子機器
KR20150002593A (ko) 고체 촬상 장치 및 전자 기기
JP6413401B2 (ja) 固体撮像素子
TW201541963A (zh) 固體攝像裝置
JP2014078870A (ja) 固体撮像素子および撮像装置
JP2012227889A (ja) 固体撮像装置
JP2011055345A (ja) 撮像装置
JP6217338B2 (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP6825675B2 (ja) 撮像素子及び撮像装置
JP6256054B2 (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP2008177593A (ja) 固体撮像素子及びカメラ装置
JP2018198441A (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP7160129B2 (ja) 撮像素子および撮像装置
JP6375613B2 (ja) 固体撮像素子及び撮像装置
JP7439772B2 (ja) 撮像素子及び撮像装置
JP2014078869A (ja) 固体撮像素子および撮像装置並びに固体撮像素子の駆動制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20141006

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20141226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160209

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160317

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160809

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160908

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6011944

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151