JPWO2008026588A1 - 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板 - Google Patents

熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2008026588A1
JPWO2008026588A1 JP2008532070A JP2008532070A JPWO2008026588A1 JP WO2008026588 A1 JPWO2008026588 A1 JP WO2008026588A1 JP 2008532070 A JP2008532070 A JP 2008532070A JP 2008532070 A JP2008532070 A JP 2008532070A JP WO2008026588 A1 JPWO2008026588 A1 JP WO2008026588A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thermosetting resin
resin composition
component
metal filler
acid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008532070A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5411503B2 (ja
Inventor
日野 裕久
裕久 日野
福井 太郎
太郎 福井
秀規 宮川
秀規 宮川
山口 敦史
敦史 山口
樋口 貴之
貴之 樋口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Electric Works Co Ltd
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Matsushita Electric Works Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd, Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2008532070A priority Critical patent/JP5411503B2/ja
Publication of JPWO2008026588A1 publication Critical patent/JPWO2008026588A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5411503B2 publication Critical patent/JP5411503B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K13/00Use of mixtures of ingredients not covered by one single of the preceding main groups, each of these compounds being essential
    • C08K13/02Organic and inorganic ingredients
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08KUse of inorganic or non-macromolecular organic substances as compounding ingredients
    • C08K5/00Use of organic ingredients
    • C08K5/04Oxygen-containing compounds
    • C08K5/09Carboxylic acids; Metal salts thereof; Anhydrides thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C12/00Alloys based on antimony or bismuth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C28/00Alloys based on a metal not provided for in groups C22C5/00 - C22C27/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3485Applying solder paste, slurry or powder
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10621Components characterised by their electrical contacts
    • H05K2201/10636Leadless chip, e.g. chip capacitor or resistor
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/10Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
    • H05K2201/10613Details of electrical connections of non-printed components, e.g. special leads
    • H05K2201/10954Other details of electrical connections
    • H05K2201/10977Encapsulated connections
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3431Leadless components
    • H05K3/3442Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31511Of epoxy ether

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

高温に耐えられない部品を含む電子回路の実装にあたり、低温溶融はんだ粒子を活用して、低温での一括リフローが可能で、かつ強度・靱性に優れた部品実装が可能な熱硬化性樹脂組成物を提供する。金属フィラー成分、フラックス成分、熱硬化性樹脂バインダーを含有する熱硬化性樹脂組成物に関する。金属フィラー成分として、BiとInの少なくとも一方とSnとを含有するものを用いる。フラックス成分として、下記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方を用いる。【化1】

Description

本発明は、部品実装のための導電ペースト、特に熱硬化性低温はんだペーストとして用いられる熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びにこの熱硬化性樹脂組成物を用いて部品実装した回路基板に関するものである。
現在、部品実装用途には主にクリームはんだと呼ばれる材料が用いられている(例えば、特許文献1参照。)。クリームはんだは、はんだ粒子、フラックス成分及び溶剤を含む組成物であり、リフロー炉中で加熱されることで、はんだ粒子が融点以上で溶解し、高温でフラックス成分がはんだ粒子表面の酸化被膜(酸化層)を除去するという作用により、はんだ粒子が一体化して部品実装を完遂させるものであり、多くの部品を一括して接続できるという生産性の高いプロセスを提供するものである。添加されるフラックス成分としては、アビエチン酸に代表されるロジン成分材料や各種アミン及びその塩、さらにはセバシン酸、アジピン酸等の高融点有機酸などが知られている。
ところで、従来の代表的なはんだであるPb共晶はんだは融点183℃であり、一方、昨今のPbを排除する傾向に従って使用が始まっているいわゆる“Pbフリーはんだ”の代表格であるSn−Ag−Cu系はんだでは、これよりもさらに30℃程度融点の高いものである。このため、従来のはんだリフロープロセスでは、最高温度で215−260℃という高い温度で部品実装が行われている。
特開2004−185884号公報
しかしながら、215−260℃というような高温に耐えることができない部品を含む電子回路を実装する場合には、その部品だけを別工程において、スポットはんだを施すことによって実装したり、あるいは銀ペースト等を用いて実装したりする必要があり、その生産性を著しく低下させていた。
これに対して、はんだ合金組成を変えて、215℃よりも低い融点を持つはんだ粒子としてSn42/Bi58合金(融点139℃)を用いた導電性ペーストが知られているが、この低融点はんだを使用する場合には、以下のような問題があった。
(1)前記低融点はんだは、Pb共晶はんだやSn−Ag−Cu系はんだに比較して脆いため、強度や靱性の点で充分でなく、はんだ接続部だけで部品を固定すると、欠落したり、温度サイクルや衝撃によりはんだ接続部にクラックが発生しやすい。
(2)従来のフラックス成分は、高温で解離し、金属酸化物に対して強い化学的作用を及ぼすものであるが、上記のような低温のリフロー条件では、フラックス作用が効果的には発揮されず、溶融してもはんだ粒子の一体化が起こりにくい。
特に(1)の問題を解決するために、熱硬化性樹脂をバインダーとして用い、このバインダーに低融点はんだ粒子を分散させてはんだ接合を行えば、部品ははんだ接続部だけでなく、樹脂硬化物にも固定されると考えられ、これにより強度や靱性が大きく改善されると期待されるが、その際に共存させる効果的なフラックス成分が知られていない。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、高温に耐えられない部品を含む電子回路の実装にあたり、低温溶融はんだ粒子を活用して、低温での一括リフローが可能で、かつ強度・靱性に優れた部品実装が可能な熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板を提供することを目的とするものである。
本発明の請求項1に係る熱硬化性樹脂組成物は、金属フィラー成分、フラックス成分、熱硬化性樹脂バインダーを含有する熱硬化性樹脂組成物において、金属フィラー成分として、BiとInの少なくとも一方を含有するものを用いると共に、フラックス成分として、下記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方を用いて成ることを特徴とするものである。
Figure 2008026588
請求項2に係る発明は、請求項1において、金属フィラー成分全量に対して、Biの含有量が10〜70重量%であることを特徴とするものである。
請求項3に係る発明は、請求項1において、金属フィラー成分全量に対して、Inの含有量が10〜90重量%であることを特徴とするものである。
請求項4に係る発明は、請求項1において、金属フィラー成分全量に対して、Biの含有量が10〜70重量%であると共に、Inの含有量が10〜90重量%であることを特徴とするものである。
請求項5に係る発明は、請求項1乃至4のいずれか1項において、金属フィラー成分が、Cu、Ag、Niの群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有することを特徴とするものである。
請求項6に係る発明は、請求項1乃至5のいずれか1項において、上記構造式(1)又は(2)中のXが、下記構造式(3)〜(8)で示される有機基の少なくともいずれかであることを特徴とするものである。
Figure 2008026588
請求項7に係る発明は、請求項1乃至6のいずれか1項において、上記構造式(1)又は(2)で示される化合物が、レブリン酸、グルタル酸、コハク酸、5−ケトヘキサン酸、3−ヒドロキシプロピオン酸、4−アミノ酪酸、3−メルカプトプロピオン酸、3−メルカプトイソブチル酸、3−メチルチオプロピオン酸、3−フェニルプロピオン酸、3−フェニルイソブチル酸、4−フェニル酪酸の群から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とするものである。
請求項8に係る発明は、請求項1乃至7のいずれか1項において、熱硬化性樹脂バインダーとして、エポキシ樹脂及び硬化剤を用いて成ることを特徴とするものである。
請求項9に係る発明は、請求項1乃至8のいずれか1項において、熱硬化性樹脂バインダーに対して、フラックス成分が3〜50PHR含有されて成ることを特徴とするものである。
請求項10に係る発明は、請求項1乃至9のいずれか1項において、熱硬化性樹脂組成物全量に対して、熱硬化性樹脂バインダー及びフラックス成分の合計量が5〜30重量%であることを特徴とするものである。
本発明の請求項11に係る熱硬化性樹脂組成物の製造方法は、BiとInの少なくとも一方を含有する金属フィラー成分、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方からなるフラックス成分、液状エポキシ樹脂を混合・混練した後、硬化剤を添加することを特徴とするものである。
本発明の請求項12に係る熱硬化性樹脂組成物の製造方法は、BiとInの少なくとも一方を含有する金属フィラー成分、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方からなるフラックス成分、溶剤を混合し、次にこの溶剤を乾燥除去した後、エポキシ樹脂及び硬化剤を添加することを特徴とするものである。
本発明の請求項13に係る回路基板は、請求項1乃至10のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物又は請求項11若しくは12に記載の方法により製造された熱硬化性樹脂組成物を用いて、部品が基板に接着されて成ることを特徴とするものである。
本発明の請求項1に係る熱硬化性樹脂組成物によれば、高温に耐えられない部品を基板に実装するにあたって、金属フィラー成分として、BiとInの少なくとも一方を含有するものを用いることによって、従来よりも低い温度でリフローはんだ付けを行うことができるものであり、また、フラックス成分として、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方を用いることによって、従来よりも低いリフロー温度で、金属フィラー成分を構成する各はんだ粒子表面の酸化被膜を十分に除去して、金属フィラー成分の溶融一体化を促進することができるものであり、また、熱硬化性樹脂バインダーを用いることによって、溶融一体化した金属フィラー成分の周囲にこれを補強する強固な樹脂層を形成することができるものである。
請求項2に係る発明によれば、低融点化の効果を十分に得ることができるものである。
請求項3に係る発明によれば、低融点化の効果を十分に得ることができるものである。
請求項4に係る発明によれば、低融点化の効果を十分に得ることができるものである。
請求項5に係る発明によれば、金属フィラー成分にCuやAgが含有されていると、はんだ合金の機械的特性を向上させることができるものであり、また、Snを含有する金属フィラー成分にNiが含有されていると、Snの酸化を抑制することができるものである。
請求項6に係る発明によれば、効果的に金属フィラー成分の酸化被膜を除去することができるものである。
請求項7に係る発明によれば、一層効果的に金属フィラー成分の酸化被膜を除去することができるものである。
請求項8に係る発明によれば、他の樹脂を用いる場合に比べて、より低温で硬化させることができると共に、接着性を高く得ることができるものである。
請求項9に係る発明によれば、フラックス成分の作用を十分に発揮させることができると共に、熱硬化性樹脂組成物の硬化後における補強性を高く得ることができるものである。
請求項10に係る発明によれば、流動可能な熱硬化性樹脂組成物を得ることができ、また、溶融一体化した金属フィラー成分の周囲に、ボイドが存在しない熱硬化性樹脂バインダーの硬化物からなる樹脂層が形成され、この樹脂層によって十分な補強性を得ることができ、また、金属フィラー成分の溶融一体化が阻害されるのを防止することができ、また、十分に低い接続抵抗を得ることができるものである。
本発明の請求項11に係る熱硬化性樹脂組成物の製造方法によれば、次のような効果が得られる熱硬化性樹脂組成物を得ることができるものである。すなわち、フラックス成分が金属フィラー成分の表面でキレートとして吸着され、金属フィラー成分が溶融する温度でフラックス成分のカルボキシル基が金属酸化被膜と還元反応を起こすことにより、金属フィラー成分の一体化を助け、かつ、熱硬化性樹脂バインダー中において有効に作用しないフラックス成分の濃度を減少させ、一体化した金属フィラー成分の周囲に熱硬化性樹脂バインダーの硬化物からなる強固な樹脂層を形成することができるものである。しかも、前記製造方法においては、硬化剤を添加する前に、金属フィラー成分、フラックス成分、液状エポキシ樹脂の3成分を混合・混練しておくことで、金属フィラー成分及びフラックス成分によるキレートを効率よく形成することができるものであり、また、混練時においてはまだ硬化剤が添加されていないので、混練物の増粘を防止することができるものである。
本発明の請求項12に係る熱硬化性樹脂組成物の製造方法によれば、次のような効果が得られる熱硬化性樹脂組成物を得ることができるものである。すなわち、フラックス成分が金属フィラー成分の表面でキレートとして吸着され、金属フィラー成分が溶融する温度でフラックス成分のカルボキシル基が金属酸化被膜と還元反応を起こすことにより、金属フィラー成分の一体化を助け、かつ、熱硬化性樹脂バインダー中において有効に作用しないフラックス成分の濃度を減少させ、一体化した金属フィラー成分の周囲に熱硬化性樹脂バインダーの硬化物からなる強固な樹脂層を形成することができるものである。そして、液状エポキシ樹脂よりも溶剤の方が金属フィラー成分の表面の濡れ性を一層向上させることができ、これによってフラックス成分の馴染みがさらに良くなるので、上記のように、最初に、金属フィラー成分、フラックス成分、溶剤の3成分を混合・混練しておくと、金属フィラー成分及びフラックス成分によるキレートをさらに効率よく形成することができるものである。
本発明の請求項13に係る回路基板によれば、基板に対する部品の接着性を高く得ることができると共に、基板と部品との間の抵抗値を著しく低下させることができるものである。
本発明に係る回路基板の一例を示す断面図である。 従来の回路基板の一例を示すものであり、(a)(b)は断面図である。
符号の説明
1 金属フィラー成分
2 熱硬化性樹脂バインダー
3 部品
4 基板
以下、本発明の実施の形態を説明する。
本発明に係る熱硬化性樹脂組成物は、金属フィラー成分(はんだ粒子)、フラックス成分、熱硬化性樹脂バインダー(マトリックス樹脂)を必須成分として含有するものである。
金属フィラー成分としては、BiとInの少なくとも一方を含有するものを用いるものであるが、例えば、下記[表1]に示すような組成を持つ低融点はんだを用いることができる。
Figure 2008026588
ここで、金属フィラー成分全量に対して、Biの含有量は10〜70重量%であることが好ましく、50〜70重量%であることがより好ましい。Biの含有量が10重量%未満であると、低融点化の効果を十分に得ることができないおそれがあり、逆に、Biの含有量が70重量%を超えても、低融点化の効果を得ることができないおそれがある。
また、金属フィラー成分全量に対して、Inの含有量が10〜90重量%であることが好ましく、10〜24.5重量%であることがより好ましい。Inの含有量が10重量%未満であると、低融点化の効果を十分に得ることができないおそれがあり、逆に、Inの含有量が90重量%を超えても、低融点化の効果を得ることができないおそれがある。
また、金属フィラー成分は、Cu、Ag、Niの群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有するのが好ましい。金属フィラー成分にCuやAgが含有されていると、はんだ合金の機械的特性を向上させることができるものであり、また、Snを含有する金属フィラー成分にNiが含有されていると、Snの酸化を抑制することができるものである。
金属フィラー成分にCuを含有させる場合には、その含有量は、金属フィラー成分全量に対して、0.1〜1.0重量%であることが好ましく、0.5〜0.7重量%であることがより好ましい。Cuの含有量が0.1重量%未満であると、機械的特性を向上させる効果を十分に得ることができないおそれがあり、逆に、Cuの含有量が1.0重量%を超えると、はんだ合金が脆くなる傾向を示し、機械的特性が低下するおそれがある。
金属フィラー成分にAgを含有させる場合には、その含有量は、金属フィラー成分全量に対して、0.1〜5重量%であることが好ましい。Agの含有量が0.1重量%未満であると、機械的特性を向上させる効果を十分に得ることができないおそれがあり、逆に、Agの含有量が5重量%を超えると、はんだ合金が脆くなる傾向を示し、機械的特性が低下するおそれがある。
Snを含有する金属フィラー成分にさらにNiを含有させる場合には、その含有量は、金属フィラー成分全量に対して、0.001〜0.1重量%であることが好ましく、次に0.005〜0.1重量%であることが好ましく、次に0.01〜0.1重量%であることが好ましく、0.05〜0.1重量%であることが最も好ましい。Niの含有量が0.001重量%未満であると、Snの酸化を抑制する効果を十分に得ることができないおそれがあり、逆に、Niの含有量が0.1重量%を超えると、強固なNi酸化被膜が形成されて融点が上昇し、Snの酸化を抑制する効果が得られなくなるおそれがある。
フラックス成分としては、下記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方を用いる。
Figure 2008026588
これらの化合物は、末端にカルボキシル基を有しており、室温でのフラックス活性はさほど大きくないが、下記式(9)(10)に示すようなキレートを生成し、低温はんだ粒子表面に安定に局在化し、プロトンが完全に解離するような高温に晒さなくても、効果的に金属フィラー成分の表面の酸化被膜を除去する機能を持っている。なお、下記式(9)(10)中、MはBi、In、Sn等の金属を示し、また、R〜Rは省略している。
Figure 2008026588
ここで、上記構造式(1)又は(2)中のXとしては、窒素原子、酸素原子、硫黄原子等の孤立電子対を持ってキレート形成可能な基、カルボニル基、カルボキシル基、チオカルボニル基、イミノ基等の炭素/ヘテロ原子間二重結合π電子を持つ有機基、フェニル基、ピリジル基、イミダゾイル基等の芳香族基、さらには炭素−炭素二重結合を有するビニル基、共役二重結合を有する有機基などを例示することができる。
中でも、上記構造式(1)又は(2)中のXが、下記構造式(3)〜(8)で示される有機基の少なくともいずれかであることが好ましい。これにより、Xが他の有機基である場合に比べて、効果的に金属フィラー成分の酸化被膜を除去することができるものである。
Figure 2008026588
そして特に、上記構造式(1)又は(2)で示される化合物が、レブリン酸、グルタル酸、コハク酸、5−ケトヘキサン酸、3−ヒドロキシプロピオン酸、4−アミノ酪酸、3−メルカプトプロピオン酸、3−メルカプトイソブチル酸、3−メチルチオプロピオン酸、3−フェニルプロピオン酸、3−フェニルイソブチル酸、4−フェニル酪酸の群から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。これにより、構造式(1)又は(2)で示される化合物が他の化合物である場合に比べて、一層効果的に金属フィラー成分の酸化被膜を除去することができるものである。
なお、本発明においては、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方を用いると共に、一般に用いられている他のフラックス成分を併用しても差し支えない。
熱硬化性樹脂バインダーとしては、例えば、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、シアン酸エステル樹脂、ベンゾオキサジン樹脂、ポリエステル樹脂等を用いることができ、特に限定されるものではないが、従来のはんだリフローよりも低い温度で、部品を実装し、かつ補強性を持たせるためには、その温度で十分な硬化性を有している必要があり、低温硬化性及び接着性の観点から、エポキシ樹脂及び硬化剤を用いるのが好ましい。そしてエポキシ樹脂及び硬化剤を熱硬化性樹脂バインダーとして用いる場合には、エポキシ樹脂(通常は液状エポキシ樹脂)に硬化剤、さらに必要に応じて硬化剤の硬化補助成分である硬化促進剤を配合するものである。ここで、液状エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールF型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂等を用いることができ、また、固形のエポキシ樹脂を併用することで液状化されたものも有効である。固形のエポキシ樹脂としては、例えば、ビフェニル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリアジン骨格エポキシ樹脂等を用いることができる。また、硬化剤としては、酸無水物、フェノールノボラック、各種チオール化合物、各種アミン類、ジシアンジアミド、イミダゾール類、金属錯体及びそれらのアダクト化合物、例えば、ポリアミンのアダクト変性物等を用いることができる。また、硬化促進剤としては、例えば、各種イミダゾール類、各種アミン類、各種リン化合物、Feアセチルアセトナート等の金属錯体及びそれらのアダクト化合物等を用いることができる。
また、熱硬化性樹脂バインダーに対して、フラックス成分は3〜50PHR含有されているのが好ましい。フラックス成分の含有量が3PHR未満であると、濃度が薄すぎてフラックス成分として十分な作用を発揮させることができない場合があり、そのため金属フィラー成分の溶融一体化が阻害され、接続抵抗が高くなってしまうおそれがある。逆に、フラックス成分の含有量が50PHRを超えると、熱硬化性樹脂組成物の硬化後においてタック性が残ったり、補強性を十分に高く得ることができなくなったりするおそれがある。
また、熱硬化性樹脂組成物全量に対して、熱硬化性樹脂バインダー及びフラックス成分の合計量が5〜30重量%であることが好ましい。熱硬化性樹脂バインダー及びフラックス成分の合計量が5重量%未満であると、パテ状又は粉状となって、流動可能な熱硬化性樹脂組成物を得ることができないおそれがあり、また、金属フィラー成分が溶融一体化した後、この周囲には熱硬化性樹脂バインダーの硬化物からなる樹脂層が形成されるが、この樹脂層にはボイドが多く含まれることとなり、このような樹脂層によっては十分な補強性を得ることができなくなるおそれがある。逆に、前記合計量が30重量%を超えると、金属フィラー成分の割合が少なすぎて、これらの溶融一体化が阻害されたり、十分に低い接続抵抗を得ることができなくなったりするおそれがある。
なお、本発明に係る熱硬化性樹脂組成物には、上記必須成分のほか、通常用いられる改質剤、添加剤等が含有されていてもよい。また、熱硬化性樹脂組成物の粘度を低減し、流動性を付与する目的で、低沸点の溶剤や可塑剤を加えることもできる。さらに、印刷形状を保持するためのチクソ性付与剤として、硬化ヒマシ油やステアリン酸アミド等を添加することも有効である。
そして、熱硬化性樹脂組成物は、次のようにして製造することができる。すなわち、BiとInの少なくとも一方を含有する金属フィラー成分、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方からなるフラックス成分、液状エポキシ樹脂を混合・混練した後、硬化剤を添加することによって、熱硬化性樹脂組成物を得ることができる。
このように、金属フィラー成分、フラックス成分、液状エポキシ樹脂、硬化剤の4成分を一度に混合・混練するのではなく、硬化剤を添加する前に、金属フィラー成分、フラックス成分、液状エポキシ樹脂の3成分を混合・混練しておくことで、金属フィラー成分及びフラックス成分によるキレートを効率よく形成することができるものである。キレートの形成をより効率よく行わせるためには、硬化剤を添加する前に前記3成分の混練物を一昼夜放置して室温まで冷やしておくのが好ましい。また、金属フィラー成分の比率が高いと、混練時の摩擦熱で混練物の温度が上昇する場合があるが、この混練時においてはまだ硬化剤が添加されていないので、混練物の増粘を防止することができるものである。つまり、エポキシ樹脂との硬化反応を起こす硬化剤を最後に添加することで、製造工程中でのエポキシ樹脂の反応に伴う増粘を防止することができるものである。なお、最初に金属フィラー成分及びフラックス成分のほか、液状エポキシ樹脂も一緒に混合・混練しておくのは、この液状エポキシ樹脂で金属フィラー成分の表面の濡れ性を向上させるためである。
また、熱硬化性樹脂組成物は、次のようにして製造することもできる。すなわち、BiとInの少なくとも一方を含有する金属フィラー成分、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方からなるフラックス成分、メチルエチルケトン(MEK)等の溶剤を混合し、次にこの溶剤を乾燥除去した後、エポキシ樹脂及び硬化剤を添加することによって、熱硬化性樹脂組成物を得ることができる。液状エポキシ樹脂よりも溶剤の方が金属フィラー成分の表面の濡れ性を一層向上させることができ、これによってフラックス成分の馴染みがさらに良くなるので、上記のように、最初に、金属フィラー成分、フラックス成分、溶剤の3成分を混合・混練しておくと、金属フィラー成分及びフラックス成分によるキレートをさらに効率よく形成することができるものである。
これらの製造方法を使用すると、次のような効果が得られる熱硬化性樹脂組成物を得ることができるものである。すなわち、フラックス成分が金属フィラー成分の表面でキレートとして吸着され、金属フィラー成分が溶融する温度でフラックス成分のカルボキシル基が金属酸化被膜と還元反応を起こすことにより、金属フィラー成分の一体化を助け、かつ、エポキシ樹脂及び硬化剤からなる熱硬化性樹脂バインダー中において有効に作用しないフラックス成分の濃度を減少させ、一体化した金属フィラー成分の周囲に熱硬化性樹脂バインダーの硬化物からなる強固な樹脂層を形成することができるものである。
また、上記のようにして得られた熱硬化性樹脂組成物を用いて、部品3を基板4に接着することによって、図1に示すような回路基板を得ることができる。すなわち、例えば、部品3として表面実装用のチップ部品を用いると共に、基板4としてFR−4等のプリント配線板を用いる場合において、プリント配線板に設けたパッド5とチップ部品の端子6との間に上記熱硬化性樹脂組成物を介在させてリフローはんだ付けを行うことによって、チップ部品をプリント配線板に実装することができる。より具体的には、図1(a)に示す回路基板は、熱硬化性樹脂組成物を各パッド5に個別に塗布して部品3を実装したものであり、部品3と基板4との間に空気層9(空洞)が形成されている。また、図1(b)に示す回路基板は、上記空気層9を形成しないようにしたものであり、熱硬化性樹脂組成物を各パッド5に個別に塗布するのではなく、部品3が実装されるべき箇所の前面に熱硬化性樹脂組成物を塗布して部品3を実装したものである。このように、図1(b)に示す回路基板にあっては、空気層9が形成されていないので、後からアンダーフィル樹脂を充填する手間を省くことができると共に、基板4に対する部品3の接着性をさらに高く得ることができるものである。
一方、図2に従来の回路基板を示す。すなわち、図2(a)に示す回路基板は、熱硬化性樹脂バインダーを用いずにSn42/Bi58合金(融点139℃)等の金属フィラー成分1を用いて、部品3を基板4に接着したものである。また、図2(b)に示す回路基板は、上記構造式(1)と(2)で示されるフラックス成分をいずれも用いずにSn42/Bi58合金(融点139℃)等の金属フィラー成分1及び熱硬化性樹脂バインダー2を用いて、部品3を基板4に接着したものである。
図2(a)に示す回路基板においては、熱硬化性樹脂バインダー2が用いられていないので、金属フィラー成分1によるはんだ接続部だけで部品3を基板4に固定することとなり、部品3が基板4から欠落したり、温度サイクルや衝撃によりはんだ接続部7にクラックが発生しやすい。また、はんだ接続部7の金属フィラー成分1が再溶融する場合には、基板4に対して部品3の位置がずれるおそれもある。これに対して、図1に示す回路基板においては、金属フィラー成分1によるはんだ接続部7の周囲に熱硬化性樹脂バインダー2による強固な樹脂層8が形成されているので、部品3が基板4から欠落することがない上に、温度サイクルや衝撃によりはんだ接続部7にクラックが発生することもない。また、はんだ接続部7の金属フィラー成分1が再溶融しても、その周囲の樹脂層8は再溶融しないので、基板4に対して部品3の位置がずれることもない。
図2(b)に示す回路基板においては、熱硬化性樹脂バインダー2は用いられているものの、効果的なフラックス成分が用いられていないので、金属フィラー成分1を構成する各はんだ粒子表面の酸化被膜を十分に除去することができず、金属フィラー成分1の溶融一体化が阻害され、部品3と基板4との間の抵抗値が増大してしまうものである。これに対して、図1に示す回路基板においては、上記構造式(1)と(2)で示されるフラックス成分の少なくとも一方が用いられているので、金属フィラー成分1を構成する各はんだ粒子表面の酸化被膜を十分に除去することができ、金属フィラー成分1の溶融一体化が促進され、部品3と基板4との間の抵抗値を著しく低下させることができるものである。具体的には、前記抵抗値を15mΩ以下という非常に小さな値にすることができるものである。
以下、本発明を実施例によって具体的に説明する。
(実施例1)
金属フィラー成分として、Sn16/Bi56/In28(下記[表2]の金属フィラー成分No.23)を用いた。この金属フィラー成分を構成するはんだ粒子の平均粒径は15μmであり、融点は80℃である。
また、フラックス成分として、レブリン酸を用いた。
また、熱硬化性樹脂バインダーとして、液状エポキシ樹脂である東都化成(株)製「YD128」及び硬化剤である富士化成工業(株)製「フジキュアFXR−1080」を用いた。
そして、前記金属フィラー成分(85重量部)、フラックス成分(2重量部)、液状エポキシ樹脂(11重量部)、硬化剤(2重量部)をディスパーを用いて均一に混合・混練することによって、熱硬化性樹脂組成物を製造した。
次に、FR−4基板上のAuメッキされたパッドに前記熱硬化性樹脂組成物をスクリーン印刷で供給した。パッドに供給された熱硬化性樹脂組成物の厚みは約70μmであった。そして、この基板を100℃(金属フィラー成分No.23の融点80℃+20℃)のオーブンに入れて10分間処理した。
その後、オーブンから基板を取り出し、パッド上に形成された熱硬化性樹脂組成物の硬化物の外観を顕微鏡で観察した。
その結果、金属フィラー成分を構成する各はんだ粒子が溶融し、これらが一体化して金属の塊となっていると共に、その周囲をはんだ粒子を含まない熱硬化性樹脂バインダーが取り囲む完全な二層分離の状態が観察された。なお、溶融一体化して金属の塊となった金属フィラー成分の周囲を取り囲んでいる樹脂層は透明であり、タックフリーであった。
また、部品3として0Ωの1608型チップ抵抗を用いると共に、基板4としてFR−4基板を用い、前記部品3の端子6と基板4に設けたパッド5との間に上記熱硬化性樹脂組成物を介在させて、最高温度が100℃(金属フィラー成分No.23の融点80℃+20℃)のはんだリフロー条件で、リフロー炉加熱処理によるリフローはんだ付けを行うことによって、図1に示すような回路基板を製造した。
そして、このようにして得られた回路基板について、部品3と基板4との間の抵抗値(部品接続抵抗値)を測定すると2mΩであり、また、基板4に対する部品3の接着性(チップ部品シェア強度)を測定すると2.5kgfであった。
(実施例2)
フラックス成分として、グルタル酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例3)
フラックス成分として、コハク酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例4)
フラックス成分として、5−ケトヘキサン酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例5)
フラックス成分として、3−ヒドロキシプロピオン酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例6)
フラックス成分として、4−アミノ酪酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例7)
フラックス成分として、3−メルカプトプロピオン酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例8)
フラックス成分として、3−メルカプトイソブチル酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例9)
フラックス成分として、3−メチルチオプロピオン酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例10)
フラックス成分として、3−フェニルプロピオン酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例11)
フラックス成分として、3−フェニルイソブチル酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例12)
フラックス成分として、4−フェニル酪酸を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例13)
フラックス成分として、レブリン酸(1重量部)及び4−フェニル酪酸(1重量部)を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例14)
フラックス成分として、レブリン酸(0.5重量部)及びアビエチン酸(1重量部)を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例15)
フラックス成分として、レブリン酸(3重量部)及び4−フェニル酪酸(3重量部)を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例16)
熱硬化性樹脂バインダーとして、シアン酸エステル樹脂であるLonza製「L−10」(12重量部)及びFeアセチルアセトナート(0.1重量部)を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例17)
金属フィラー成分として、Sn16/Bi56/In28(下記[表2]の金属フィラー成分No.23)を用いた。この金属フィラー成分を構成するはんだ粒子の平均粒径は15μmであり、融点は80℃である。
また、フラックス成分として、レブリン酸を用いた。
また、熱硬化性樹脂バインダーとして、液状エポキシ樹脂である東都化成(株)製「YD128」及び硬化剤である富士化成工業(株)製「フジキュアFXR−1080」を用いた。
そして、前記金属フィラー成分(85重量部)、フラックス成分(1重量部)、液状エポキシ樹脂(6重量部)をディスパーを用いて均一に混合・混練し、この混練物を1昼夜放置した。一方、前記硬化剤(2重量部)及び液状エポキシ樹脂(5重量部)を混合して組成物を調製し、この組成物を前記混練物に添加してこれを均一に混合することによって、熱硬化性樹脂組成物を製造した。この熱硬化性樹脂組成物を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例18)
金属フィラー成分として、Sn16/Bi56/In28(下記[表2]の金属フィラー成分No.23)を用いた。この金属フィラー成分を構成するはんだ粒子の平均粒径は15μmであり、融点は80℃である。
また、フラックス成分として、レブリン酸を用いた。
また、熱硬化性樹脂バインダーとして、液状エポキシ樹脂である東都化成(株)製「YD128」及び硬化剤である富士化成工業(株)製「フジキュアFXR−1080」を用いた。
また、溶剤として、メチルエチルケトン(MEK)を用いた。
そして、前記金属フィラー成分(85重量部)、フラックス成分(1重量部)、溶剤(30重量部)を均一に混合し、次にこの溶剤を真空乾燥機を用いて乾燥除去した。その後、これに前記液状エポキシ樹脂(11重量部)及び硬化剤(2重量部)を添加してこれをディスパーを用いて均一に混合することによって、熱硬化性樹脂組成物を製造した。この熱硬化性樹脂組成物を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例19)
フラックス成分として、レブリン酸を8重量部用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(実施例20〜45)
金属フィラー成分として、下記[表2]の金属フィラー成分No.1〜No.22、No.24〜No.27を用い、オーブンの温度をそれぞれ下記[表2]に示す硬化温度(各金属フィラー成分の融点の温度+20℃)に設定すると共に、リフローはんだ付け時の最高温度もそれぞれ下記[表2]に示す硬化温度(各金属フィラー成分の融点の温度+20℃)に設定するようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。なお、金属フィラー成分No.1〜No.22、No.24〜No.27を構成する各はんだ粒子の平均粒径はいずれも15μmである。
(比較例1)
フラックス成分として、アビエチン酸(2重量部)を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(比較例2)
フラックス成分として、セバシン酸(2重量部)を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(比較例3)
フラックス成分を用いないようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(比較例4)
熱硬化性樹脂バインダーを用いないようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
(比較例5)
金属フィラー成分として、銀粒子(85重量部)を用いるようにした以外は、実施例1と同様にして熱硬化性樹脂組成物及び回路基板を製造し、その性能を評価した。
以上の結果を下記[表3]に示す。
Figure 2008026588
Figure 2008026588
なお、はんだ粒子一体化の良否については、次のような基準で判断した。
「◎」:すべてのはんだ粒子が一体化して球体となっており、この球体の周りの樹脂層にははんだ粒子が全く観察されない。
「○」:ほとんどのはんだ粒子が一体化して球体となっているが、この球体の周りの樹脂層に若干のはんだ粒子が観察される。
「△」:かなりのはんだ粒子が一体化して球体となっているが、この球体の周りの樹脂層に多くのはんだ粒子が観察される。
「×」:一体化したはんだ粒子が観察されない。
また、上記[表3]中、フラックス成分(PHR)は、{フラックス成分の重量部/(エポキシ樹脂の重量部+硬化剤の重量部)×100}によって算出した。

Claims (13)

  1. 金属フィラー成分、フラックス成分、熱硬化性樹脂バインダーを含有する熱硬化性樹脂組成物において、金属フィラー成分として、BiとInの少なくとも一方を含有するものを用いると共に、フラックス成分として、下記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方を用いて成ることを特徴とする熱硬化性樹脂組成物。
    Figure 2008026588
  2. 金属フィラー成分全量に対して、Biの含有量が10〜70重量%であることを特徴とする請求項1に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  3. 金属フィラー成分全量に対して、Inの含有量が10〜90重量%であることを特徴とする請求項1に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  4. 金属フィラー成分全量に対して、Biの含有量が10〜70重量%であると共に、Inの含有量が10〜90重量%であることを特徴とする請求項1に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  5. 金属フィラー成分が、Cu、Ag、Niの群から選ばれる少なくとも1種の金属を含有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  6. 上記構造式(1)又は(2)中のXが、下記構造式(3)〜(8)で示される有機基の少なくともいずれかであることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
    Figure 2008026588
  7. 上記構造式(1)又は(2)で示される化合物が、レブリン酸、グルタル酸、コハク酸、5−ケトヘキサン酸、3−ヒドロキシプロピオン酸、4−アミノ酪酸、3−メルカプトプロピオン酸、3−メルカプトイソブチル酸、3−メチルチオプロピオン酸、3−フェニルプロピオン酸、3−フェニルイソブチル酸、4−フェニル酪酸の群から選ばれる少なくとも1種であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  8. 熱硬化性樹脂バインダーとして、エポキシ樹脂及び硬化剤を用いて成ることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  9. 熱硬化性樹脂バインダーに対して、フラックス成分が3〜50PHR含有されて成ることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  10. 熱硬化性樹脂組成物全量に対して、熱硬化性樹脂バインダー及びフラックス成分の合計量が5〜30重量%であることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物。
  11. BiとInの少なくとも一方を含有する金属フィラー成分、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方からなるフラックス成分、液状エポキシ樹脂を混合・混練した後、硬化剤を添加することを特徴とする熱硬化性樹脂組成物の製造方法。
  12. BiとInの少なくとも一方を含有する金属フィラー成分、上記構造式(1)と(2)で示される化合物の少なくとも一方からなるフラックス成分、溶剤を混合し、次にこの溶剤を乾燥除去した後、エポキシ樹脂及び硬化剤を添加することを特徴とする熱硬化性樹脂組成物の製造方法。
  13. 請求項1乃至10のいずれか1項に記載の熱硬化性樹脂組成物又は請求項11若しくは12に記載の方法により製造された熱硬化性樹脂組成物を用いて、部品が基板に接着されて成ることを特徴とする回路基板。
JP2008532070A 2006-08-28 2007-08-28 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板 Active JP5411503B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008532070A JP5411503B2 (ja) 2006-08-28 2007-08-28 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006231303 2006-08-28
JP2006231303 2006-08-28
JP2008532070A JP5411503B2 (ja) 2006-08-28 2007-08-28 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板
PCT/JP2007/066665 WO2008026588A1 (fr) 2006-08-28 2007-08-28 Composition de résine thermodurcissable, son procédé de fabrication et carte de circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2008026588A1 true JPWO2008026588A1 (ja) 2010-01-21
JP5411503B2 JP5411503B2 (ja) 2014-02-12

Family

ID=39135871

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008532070A Active JP5411503B2 (ja) 2006-08-28 2007-08-28 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板

Country Status (4)

Country Link
US (2) US20100147567A1 (ja)
JP (1) JP5411503B2 (ja)
CN (1) CN101437900B (ja)
WO (1) WO2008026588A1 (ja)

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5200662B2 (ja) * 2008-05-27 2013-06-05 藤倉化成株式会社 導電性接着剤および電子部品
JP5475976B2 (ja) * 2008-09-25 2014-04-16 パナソニック株式会社 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板
JP5464463B2 (ja) * 2008-09-25 2014-04-09 パナソニック株式会社 熱硬化性樹脂組成物及び回路基板
KR101668279B1 (ko) 2008-09-26 2016-10-21 알파 메탈즈, 인코포레이티드 리드프리 전도성 조성물 및 그 사용 방법
JP5140038B2 (ja) * 2009-06-15 2013-02-06 パナソニック株式会社 熱硬化性樹脂組成物及び回路基板
JP5588287B2 (ja) * 2010-09-27 2014-09-10 パナソニック株式会社 熱硬化性樹脂組成物及び半導体部品実装基板
JP5756933B2 (ja) 2010-09-29 2015-07-29 株式会社弘輝 フラックス
KR20190043642A (ko) * 2011-08-02 2019-04-26 알파 어셈블리 솔루션스 인크. 고 충격 인성 땜납 합금
WO2013047137A1 (ja) * 2011-09-30 2013-04-04 株式会社村田製作所 電子装置、及び接合材料、並びに電子装置の製造方法
US9803111B2 (en) 2012-02-24 2017-10-31 Hitachi Chemical Company, Ltd. Adhesive for semiconductor, fluxing agent, manufacturing method for semiconductor device, and semiconductor device
WO2013125684A1 (ja) 2012-02-24 2013-08-29 日立化成株式会社 半導体装置及びその製造方法
WO2013125087A1 (ja) * 2012-02-24 2013-08-29 日立化成株式会社 半導体用接着剤、フラックス剤、半導体装置の製造方法及び半導体装置
JP5945480B2 (ja) * 2012-09-07 2016-07-05 ナミックス株式会社 銀ペースト組成物及びその製造方法
PT2987876T (pt) * 2013-04-18 2018-12-19 Senju Metal Industry Co Liga de soldadura sem chumbo
JP6370110B2 (ja) * 2014-05-27 2018-08-08 株式会社タムラ製作所 はんだ接合構造体の製造方法、はんだ接合構造体およびはんだ接合方法
JP5975407B2 (ja) * 2014-07-24 2016-08-23 パナソニックIpマネジメント株式会社 熱硬化性樹脂組成物及び半導体部品実装基板
US10468363B2 (en) 2015-08-10 2019-11-05 X-Celeprint Limited Chiplets with connection posts
US10103069B2 (en) 2016-04-01 2018-10-16 X-Celeprint Limited Pressure-activated electrical interconnection by micro-transfer printing
JP2017191685A (ja) * 2016-04-12 2017-10-19 積水化学工業株式会社 導電材料及び接続構造体
DE102016005340A1 (de) * 2016-05-02 2017-11-02 Axel Weinbrecht Schreibfähige bleifreie Legierung
US10222698B2 (en) 2016-07-28 2019-03-05 X-Celeprint Limited Chiplets with wicking posts
US11064609B2 (en) 2016-08-04 2021-07-13 X Display Company Technology Limited Printable 3D electronic structure
US11319465B2 (en) * 2017-02-06 2022-05-03 Kyung Sub Lee Method for manufacturing fine-pitch anisotropic conductive adhesive and fine-pitch anisotropic conductive adhesive manufactured by same method
US10796971B2 (en) 2018-08-13 2020-10-06 X Display Company Technology Limited Pressure-activated electrical interconnection with additive repair
MX2021004334A (es) * 2018-10-24 2021-06-23 Alpha Assembly Solutions Inc Soluciones de soldadura de baja temperatura para sustratos de polimeros, placas de circuito impreso y otras aplicaciones de union.
CN113817291B (zh) * 2021-09-30 2022-07-08 广东博汇新材料科技有限公司 碳纤维真空灌注环氧树脂

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5481146A (en) * 1977-05-16 1979-06-28 Western Electric Co Solder flux
JPH03184695A (ja) * 1989-12-12 1991-08-12 Yuho Chem Kk フラックス及びはんだペースト用添加剤
JPH04313491A (ja) * 1990-05-04 1992-11-05 Delco Electronics Corp 残留物の少ないハンダ付け用フラックス、該フラックスを用いて金属表面を熱ハンダ付けする方法、並びに該熱ハンダ付け方法によって得られるハンダ付けされた物品
JPH08503168A (ja) * 1992-11-19 1996-04-09 フライ’ズ メタルス,インク. 清浄不要のはんだ付用フラックス及びその使用方法
JP2001170797A (ja) * 1999-10-05 2001-06-26 Tdk Corp はんだ付け用フラックス、はんだぺ一スト、電子部品装置、電子回路モジュール、電子回路装置、及び、はんだ付け方法
JP2002239785A (ja) * 2000-12-04 2002-08-28 Fuji Electric Co Ltd 鉛フリーハンダ対応無洗浄用フラックスおよびこれを含有するハンダ組成物
JP2003010997A (ja) * 2001-06-29 2003-01-15 Fuji Electric Co Ltd ハンダ組成物
JP2004330269A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Jsr Corp 絶縁性樹脂組成物およびその硬化物、ならびにはんだ接合方法
JP2005530887A (ja) * 2002-06-25 2005-10-13 ダウ・コーニング・コーポレイション サーマルインターフェース材料、並びにその製造方法及び使用
JP2006199937A (ja) * 2004-12-15 2006-08-03 Tamura Kaken Co Ltd 導電性接着剤、これを用いた導電部及び電子部品モジュール

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07121468B2 (ja) * 1990-10-03 1995-12-25 メック株式会社 はんだ付け用フラックス
US5569433A (en) * 1994-11-08 1996-10-29 Lucent Technologies Inc. Lead-free low melting solder with improved mechanical properties
US20010002982A1 (en) * 1996-06-12 2001-06-07 Sarkhel Amit Kumar Lead-free, high tin ternary solder alloy of tin, silver, and bismuth
JP2002096191A (ja) * 2000-09-18 2002-04-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd はんだ材料およびこれを利用する電気・電子機器
US6796482B2 (en) * 2002-10-31 2004-09-28 Freescale Semiconductor, Inc. Phase separated system for fluxing
JP2004185884A (ja) 2002-12-02 2004-07-02 Tamura Kaken Co Ltd 導電性ペースト及び電子回路用品
WO2004080291A2 (en) * 2003-03-12 2004-09-23 Color Kinetics Incorporated Methods and systems for medical lighting
JP4535050B2 (ja) * 2005-09-27 2010-09-01 パナソニック電工株式会社 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5481146A (en) * 1977-05-16 1979-06-28 Western Electric Co Solder flux
JPH03184695A (ja) * 1989-12-12 1991-08-12 Yuho Chem Kk フラックス及びはんだペースト用添加剤
JPH04313491A (ja) * 1990-05-04 1992-11-05 Delco Electronics Corp 残留物の少ないハンダ付け用フラックス、該フラックスを用いて金属表面を熱ハンダ付けする方法、並びに該熱ハンダ付け方法によって得られるハンダ付けされた物品
JPH08503168A (ja) * 1992-11-19 1996-04-09 フライ’ズ メタルス,インク. 清浄不要のはんだ付用フラックス及びその使用方法
JP2001170797A (ja) * 1999-10-05 2001-06-26 Tdk Corp はんだ付け用フラックス、はんだぺ一スト、電子部品装置、電子回路モジュール、電子回路装置、及び、はんだ付け方法
JP2002239785A (ja) * 2000-12-04 2002-08-28 Fuji Electric Co Ltd 鉛フリーハンダ対応無洗浄用フラックスおよびこれを含有するハンダ組成物
JP2003010997A (ja) * 2001-06-29 2003-01-15 Fuji Electric Co Ltd ハンダ組成物
JP2005530887A (ja) * 2002-06-25 2005-10-13 ダウ・コーニング・コーポレイション サーマルインターフェース材料、並びにその製造方法及び使用
JP2004330269A (ja) * 2003-05-09 2004-11-25 Jsr Corp 絶縁性樹脂組成物およびその硬化物、ならびにはんだ接合方法
JP2006199937A (ja) * 2004-12-15 2006-08-03 Tamura Kaken Co Ltd 導電性接着剤、これを用いた導電部及び電子部品モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
WO2008026588A1 (fr) 2008-03-06
US20130237645A1 (en) 2013-09-12
US20100147567A1 (en) 2010-06-17
CN101437900A (zh) 2009-05-20
US8697237B2 (en) 2014-04-15
JP5411503B2 (ja) 2014-02-12
CN101437900B (zh) 2012-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5411503B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板
JP4535050B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法
JP5032938B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法
JP5069725B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及び回路基板
DE60225282T2 (de) Lotzusammensetzung
JP5464463B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及び回路基板
JP2002514973A (ja) エポキシ系voc非含有はんだ付け用フラックス
JP5144489B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物
JP2017119287A (ja) 樹脂フラックスはんだペースト及び実装構造体
JP5853146B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及び回路基板
JP4897697B2 (ja) 導電性接着剤
JP5140038B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及び回路基板
JP4893720B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法
WO2015146473A1 (ja) フラックス及びソルダペースト
JP5033047B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法
JP5475976B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法並びに回路基板
JP2021178336A (ja) 樹脂フラックスはんだペーストおよび実装構造体
JP2012115871A (ja) はんだペースト
JP2010232388A (ja) 半導体パッケージ及び半導体部品の実装構造
JP5560032B2 (ja) はんだ接合補強剤組成物、及びこれを用いた実装基板の製造方法
JP5033046B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物及びその製造方法
JP5351786B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物およびその製造方法
JP2020089897A (ja) はんだペーストおよび実装構造体
JP5492002B2 (ja) 熱硬化性樹脂組成物およびその製造方法
JP2022187759A (ja) 樹脂フラックスはんだペーストおよび実装構造体

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101108

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20120113

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120508

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120702

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120904

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121105

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130115

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130415

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20130423

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20130517

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131108

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5411503

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150