JPS6389435A - 琺瑯組成物及び該組成物で被覆した基質 - Google Patents
琺瑯組成物及び該組成物で被覆した基質Info
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- JPS6389435A JPS6389435A JP62242852A JP24285287A JPS6389435A JP S6389435 A JPS6389435 A JP S6389435A JP 62242852 A JP62242852 A JP 62242852A JP 24285287 A JP24285287 A JP 24285287A JP S6389435 A JPS6389435 A JP S6389435A
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-
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は金属基質を被覆するのに有用な琺瑯組成物、被
覆された該金属基質及び該被覆された基質の製造法に関
する。
覆された該金属基質及び該被覆された基質の製造法に関
する。
基質の表面に直接配置される電子部品の製造においては
、金属粉末及びガラス粉末からつくられれな伝導性及び
抵抗性をもったインクを、絶縁材料で被覆された基質の
上に所望のパターンを描くように被覆する1次にこのよ
うにプリントされた部品を先ず高温で焼成してインク中
の材料を融合させ、所望の電子部品をつくる。必要な焼
成温度は一般に600〜900℃である。
、金属粉末及びガラス粉末からつくられれな伝導性及び
抵抗性をもったインクを、絶縁材料で被覆された基質の
上に所望のパターンを描くように被覆する1次にこのよ
うにプリントされた部品を先ず高温で焼成してインク中
の材料を融合させ、所望の電子部品をつくる。必要な焼
成温度は一般に600〜900℃である。
被覆された基質にかける温度については、電子部品の製
造に適した基質は物理的な変化を起すことなくこの高温
に耐えることができなければならない、使用される基質
は一般に鋼、銅またはアルミニウムのような金属である
。これらに基質に被覆する組成物は一般に琺瑯であるが
、これらエナメルの特定の組成は非常に多様である。
造に適した基質は物理的な変化を起すことなくこの高温
に耐えることができなければならない、使用される基質
は一般に鋼、銅またはアルミニウムのような金属である
。これらに基質に被覆する組成物は一般に琺瑯であるが
、これらエナメルの特定の組成は非常に多様である。
成る琺瑯被膜は焼成すると、琺瑯材料が均一な厚さに融
合−しないために不満足な結果を与えることが見出ださ
れている。このように均一性が欠けていると、被膜表面
に正確なプリント回路をつくることが困難になる。
合−しないために不満足な結果を与えることが見出ださ
れている。このように均一性が欠けていると、被膜表面
に正確なプリント回路をつくることが困難になる。
他の琺瑯は再焼成を行うと、再び軟化して流動し、その
結果プリント回路が歪んだりまた破壊されることもある
。
結果プリント回路が歪んだりまた破壊されることもある
。
琺瑯材料を被覆した金属基質において遭遇する他の主な
問題は、接着性が悪いことである。この接着性の問題は
主として金属基質と琺瑯被膜の熱膨張係数に者しい差が
存在することに起因している。
問題は、接着性が悪いことである。この接着性の問題は
主として金属基質と琺瑯被膜の熱膨張係数に者しい差が
存在することに起因している。
これらの問題を解決しようとする試みは未だ完全には成
功していない。
功していない。
特定の公知被覆組成物の例は米国特許第3,904゜4
23号及び同第4 、256 、7%号に記載されてい
る。
23号及び同第4 、256 、7%号に記載されてい
る。
本発明の目的は電子部品またはプリント回路板のvl造
に有用な新規琺瑯組成物を提供することである。
に有用な新規琺瑯組成物を提供することである。
また本発明の目的は融合−して均一な厚さの層になり、
再焼成の際に再び軟化することなく、また熱膨張係数が
被覆すべき金属の芯部材に近い琺瑯組成物を提供するこ
とである。
再焼成の際に再び軟化することなく、また熱膨張係数が
被覆すべき金属の芯部材に近い琺瑯組成物を提供するこ
とである。
本発明のさらに他の目的は均一な表面と良好な*ig・
琺瑯間接理性を有する琺瑯で被覆された金属基質並びに
該被覆された基質の製造法を提供することである。
琺瑯間接理性を有する琺瑯で被覆された金属基質並びに
該被覆された基質の製造法を提供することである。
上記目的及び当業界の専門家には明白な他の目的は、特
定の範囲内の量で存在する特定の酸化物を含むガラスを
熔融し、均一な熔融混合物をつくることによって達成さ
れる。この熔融混合物を急冷し、生成した7リツトを水
中で摩砕して細かい粒径にし琺瑯泥漿をつくる。この泥
漿で金属基質を被覆し、これを焼成するゆ 本発明の部分的に失透した琺瑯組成物は少なくとも3種
の必要な酸化物からつくられる。これらの必須酸化物は
(1)全組成物の20〜50重景%、重量しくは25〜
45重景%の重量バリウム、(2)全組酸物の30〜6
0瓜蛋%、好ましくは35〜50重量%のシリカ、及び
(3)全組成物の2〜20重量%、好ましくは4〜20
重景%重量酸化チタンである。酸化バリウム、シリカ及
び二酸化チタンは本発明の部分的に失透した琺瑯組成物
の結晶相をつくる。これら酸化物の特定の量は結晶部分
の量、7リツトの融点、熱膨張係数及び所望の結晶成長
速度に依存して必要な範囲内で選ばれる。
定の範囲内の量で存在する特定の酸化物を含むガラスを
熔融し、均一な熔融混合物をつくることによって達成さ
れる。この熔融混合物を急冷し、生成した7リツトを水
中で摩砕して細かい粒径にし琺瑯泥漿をつくる。この泥
漿で金属基質を被覆し、これを焼成するゆ 本発明の部分的に失透した琺瑯組成物は少なくとも3種
の必要な酸化物からつくられる。これらの必須酸化物は
(1)全組成物の20〜50重景%、重量しくは25〜
45重景%の重量バリウム、(2)全組酸物の30〜6
0瓜蛋%、好ましくは35〜50重量%のシリカ、及び
(3)全組成物の2〜20重量%、好ましくは4〜20
重景%重量酸化チタンである。酸化バリウム、シリカ及
び二酸化チタンは本発明の部分的に失透した琺瑯組成物
の結晶相をつくる。これら酸化物の特定の量は結晶部分
の量、7リツトの融点、熱膨張係数及び所望の結晶成長
速度に依存して必要な範囲内で選ばれる。
随時次の酸化物を含ませることが好適である。
(4)全組成物の0〜16重量%、好ましくは0〜12
重量%の酸化カリウム、(5)全組成物の0〜7重量%
、好ましくは0〜5重量%の酸化亜鉛、(6)全組成物
の0〜4重量%の酸化リチウム、(7)全組成物の0〜
10重量%、好ましくは2〜8重量%のアルミナ、(8
)全m放物の0〜10重量%、好ましくは0〜5重量%
の酸化マグネシウム、(9)全Jfl酸物の0〜10重
量%、好ましくは0〜5重景重量酸化カルシウム、(1
0)全組成物の0〜10重量%、好ましくは0〜5重景
重量酸化ストロンチウム、(11)全組成物の0〜10
重量%、好ましくは0〜5重量%の酸化ゾルコニウム、
及び(12)全1且戒物の0〜4重量%の酸化ナトリウ
ム。
重量%の酸化カリウム、(5)全組成物の0〜7重量%
、好ましくは0〜5重量%の酸化亜鉛、(6)全組成物
の0〜4重量%の酸化リチウム、(7)全組成物の0〜
10重量%、好ましくは2〜8重量%のアルミナ、(8
)全m放物の0〜10重量%、好ましくは0〜5重量%
の酸化マグネシウム、(9)全Jfl酸物の0〜10重
量%、好ましくは0〜5重景重量酸化カルシウム、(1
0)全組成物の0〜10重量%、好ましくは0〜5重景
重量酸化ストロンチウム、(11)全組成物の0〜10
重量%、好ましくは0〜5重量%の酸化ゾルコニウム、
及び(12)全1且戒物の0〜4重量%の酸化ナトリウ
ム。
組成物の失透性、焼成した表面、酸化状態または熱的特
性を変性するために含ませることができる他の酸化物と
しては次のものがあるaAs20s、n2o、、Ce
O2、F2、N206、PbO1Pb20s、5b2o
、、SnO□及びM o O*。しかしこれらの酸化物
はいずれも全組成物の3重量%より多く存在してはいけ
ない。
性を変性するために含ませることができる他の酸化物と
しては次のものがあるaAs20s、n2o、、Ce
O2、F2、N206、PbO1Pb20s、5b2o
、、SnO□及びM o O*。しかしこれらの酸化物
はいずれも全組成物の3重量%より多く存在してはいけ
ない。
酸化リチウム、酸化ナトリウム及び/又は酸化カリウム
は7リツトをつくるのに用いられる酸化物混合物の融点
を調節することができる。これらの酸化物はまた成程度
本発明の琺瑯の熱膨張係数を左右する。これらの酸化物
を組み合わせると、これらの酸化物のどれか1種だけを
含む組成物に比べて電気特性が良好になる。
は7リツトをつくるのに用いられる酸化物混合物の融点
を調節することができる。これらの酸化物はまた成程度
本発明の琺瑯の熱膨張係数を左右する。これらの酸化物
を組み合わせると、これらの酸化物のどれか1種だけを
含む組成物に比べて電気特性が良好になる。
上記の他の酸化物は結晶性、融点、ガラス粘度及び電気
的特性に影響を与えるのに十分な世で公知方法で使用す
ることができる。
的特性に影響を与えるのに十分な世で公知方法で使用す
ることができる。
上記酸化物、または加熱すると熔融して酸化物を生じる
他の材料(例えば炭酸マグネシウム、炭酸パリ9ム)は
、混合物の全重量%が100重量%になるような量で混
合される。この混合物を均一化する技術及び存在する水
分を除去する方法は当業界に公知であり、本発明の組成
物の製造の際有利に使用することができる。
他の材料(例えば炭酸マグネシウム、炭酸パリ9ム)は
、混合物の全重量%が100重量%になるような量で混
合される。この混合物を均一化する技術及び存在する水
分を除去する方法は当業界に公知であり、本発明の組成
物の製造の際有利に使用することができる。
酸化物及び/又はこれらの酸化物を生成する材料は通常
のガラス熔融法を使用して熔融する。該混合物を徐々に
1300〜1500°C1好ましくは1370〜147
0℃に加熱し、得られた熔融材料を均一な熔融物が得ら
れるまでこの温度に保つ。適切な熔融時間は使用する装
置、熔融する材料の量及び特定の7リツト組成物に依存
して20分〜数時間に互っている。
のガラス熔融法を使用して熔融する。該混合物を徐々に
1300〜1500°C1好ましくは1370〜147
0℃に加熱し、得られた熔融材料を均一な熔融物が得ら
れるまでこの温度に保つ。適切な熔融時間は使用する装
置、熔融する材料の量及び特定の7リツト組成物に依存
して20分〜数時間に互っている。
この均一化した熔融物を次に急冷してガラスのフリット
に変える。このような熔融物を急冷する方法は当業界に
公知である。その一つの方法においては、熔融したガラ
ス流を一組の間隔を置いて配置された反対方向に回転す
る水冷のローラの上に注ぎ、固化したガラスの薄いリボ
ンをつくる。
に変える。このような熔融物を急冷する方法は当業界に
公知である。その一つの方法においては、熔融したガラ
ス流を一組の間隔を置いて配置された反対方向に回転す
る水冷のローラの上に注ぎ、固化したガラスの薄いリボ
ンをつくる。
得られたガラスを破砕し、破砕されたガラス即ち7リツ
トを次に水、懸濁剤及び随時混練添加剤と共にボール・
ミルに加え、ガラスまたはフリッFを摩砕して均一な粒
径にする。5〜50、好ましくは5〜25μ鶴の粒径が
特に適している。適切な懸濁剤及び混線添加剤は当業界
の専門家には公知である。
トを次に水、懸濁剤及び随時混練添加剤と共にボール・
ミルに加え、ガラスまたはフリッFを摩砕して均一な粒
径にする。5〜50、好ましくは5〜25μ鶴の粒径が
特に適している。適切な懸濁剤及び混線添加剤は当業界
の専門家には公知である。
ボール・ミルから取り出した際、琺瑯の泥漿にさらに水
を加えることができる。泥漿を比重が1゜50〜1.8
0になるまで稀釈することが好ましい。金属基質を被覆
するのに用いるのはこの泥漿または稀釈した泥漿である
。
を加えることができる。泥漿を比重が1゜50〜1.8
0になるまで稀釈することが好ましい。金属基質を被覆
するのに用いるのはこの泥漿または稀釈した泥漿である
。
多くの種類の’kJA及び合金を琺瑯で被覆することが
できる。しかし低炭素鋼が最も頻繁に使用される基質で
ある。ステンレス鋼合金は特殊な用途に対して被覆する
ことができる。アルミニウムまたはアルミニウムをベー
スにした材料を被覆する場合には、被覆材料は低い融点
(!10ち550〜650’C)をもっていなければな
らない。
できる。しかし低炭素鋼が最も頻繁に使用される基質で
ある。ステンレス鋼合金は特殊な用途に対して被覆する
ことができる。アルミニウムまたはアルミニウムをベー
スにした材料を被覆する場合には、被覆材料は低い融点
(!10ち550〜650’C)をもっていなければな
らない。
低炭素鋼はいくつかの理由により本発明において最も頻
繁に使用される基質である。例えば−回の被覆で鋼に直
接に琺瑯のカバーを被覆する場合、超低炭素鋼(即ち炭
素含量が0.003重量%以下)は琺瑯被膜の欠陥(例
えば気泡または細孔)の原因になるガス状の二酸化炭素
を放出しない。低炭素鋼は典型的には熱膨張係数が約1
4X10〜’/’Cであって、これは本発明の琺瑯組I
&物の熱膨張係数とほぼ等しい。熱膨張係数が低炭素鋼
と実質的に異る他の種類の合金は、その特定の合金とほ
ぼ等しい熱膨張係数をもつ異った琺瑯被膜を必要とする
。
繁に使用される基質である。例えば−回の被覆で鋼に直
接に琺瑯のカバーを被覆する場合、超低炭素鋼(即ち炭
素含量が0.003重量%以下)は琺瑯被膜の欠陥(例
えば気泡または細孔)の原因になるガス状の二酸化炭素
を放出しない。低炭素鋼は典型的には熱膨張係数が約1
4X10〜’/’Cであって、これは本発明の琺瑯組I
&物の熱膨張係数とほぼ等しい。熱膨張係数が低炭素鋼
と実質的に異る他の種類の合金は、その特定の合金とほ
ぼ等しい熱膨張係数をもつ異った琺瑯被膜を必要とする
。
琺瑯の泥漿で被覆する前に、適当な金属基質を切断し、
所望の形状に成形する。
所望の形状に成形する。
基質に被覆する多(の方法が当業界に公知であるが、電
着が好適な方法である。この方法では琺瑯の泥漿を適当
な電解槽に入れる。陽極にはニッケルまたはステンレス
鋼の板を用い、被覆すべき金属基質を陰極の位置に置く
6通常の方法で琺瑯の泥漿に電流を流す、懸濁液中のガ
ラスの粒子は金属基質の表面に沈着する。被膜の厚さは
琺瑯泥漿中の粒子の濃度、電流密度及び電着時間に依存
する。−に属基貿上に所望の厚さの被膜が沈着したら、
被覆された基質を琺瑯の泥漿から取り出し、水切りをし
、短時間水洗し、高温(約100’C)で乾燥する。被
覆された基質は全表面に亙り均一な被膜を有している。
着が好適な方法である。この方法では琺瑯の泥漿を適当
な電解槽に入れる。陽極にはニッケルまたはステンレス
鋼の板を用い、被覆すべき金属基質を陰極の位置に置く
6通常の方法で琺瑯の泥漿に電流を流す、懸濁液中のガ
ラスの粒子は金属基質の表面に沈着する。被膜の厚さは
琺瑯泥漿中の粒子の濃度、電流密度及び電着時間に依存
する。−に属基貿上に所望の厚さの被膜が沈着したら、
被覆された基質を琺瑯の泥漿から取り出し、水切りをし
、短時間水洗し、高温(約100’C)で乾燥する。被
覆された基質は全表面に亙り均一な被膜を有している。
次に被覆した基質を800〜900’C,好ましくは約
900℃の温度に保った炉の中に直接入れる。焼成の初
期温度は十分に高く、被膜が熔融しほとんど同時に失透
が起らなければならない。一般に約800°Cの温度で
十分であるが、約900°Cの場合の方が失透が迅速に
起る。失透が実質的に完了するまで、被膜を焼成条件下
に置く。焼成時間は焼成温度及び特定の被膜の組成に依
存する。
900℃の温度に保った炉の中に直接入れる。焼成の初
期温度は十分に高く、被膜が熔融しほとんど同時に失透
が起らなければならない。一般に約800°Cの温度で
十分であるが、約900°Cの場合の方が失透が迅速に
起る。失透が実質的に完了するまで、被膜を焼成条件下
に置く。焼成時間は焼成温度及び特定の被膜の組成に依
存する。
被膜は焼成されると迅速に変化する。7リツトが熔融す
ると、再結晶が始まり、熔融物の粘度が急速に増加する
。焼成中失透が迅速に起り、次いで停止する。再焼成中
これ以上失透は起らない。
ると、再結晶が始まり、熔融物の粘度が急速に増加する
。焼成中失透が迅速に起り、次いで停止する。再焼成中
これ以上失透は起らない。
被膜は連続であって、滑らかな表面の外観を有し、はと
んど直ちに平らなマット状の外観を呈する。
んど直ちに平らなマット状の外観を呈する。
焼成して仕上げられた被覆基質は全表面に亙り均一な被
膜を有している。
膜を有している。
焼成した琺瑯は融点が900°Cより高く、2BaO2
・TiO□・2SiO□の結晶相を含んでいる。焼成さ
れた被膜は結晶性材料及びプラス質の両方を含んでいる
。結晶性材料対プラス質の割合は特定の7リツ)及び焼
成条件の両方に依存する。
・TiO□・2SiO□の結晶相を含んでいる。焼成さ
れた被膜は結晶性材料及びプラス質の両方を含んでいる
。結晶性材料対プラス質の割合は特定の7リツ)及び焼
成条件の両方に依存する。
焼成された琺瑯は高い熱膨張係数(即ち9〜15X 1
0〜’/ ’C)を有し、これによって熱膨張係数を琺
瑯被覆された基質に普通使用されるすべての鋼と同等に
することができる。この熱膨張係数の同等性によって、
繰返し焼成した際に被覆された基質が破断する傾向を除
去するかまたは実質的に減少させることができる。
0〜’/ ’C)を有し、これによって熱膨張係数を琺
瑯被覆された基質に普通使用されるすべての鋼と同等に
することができる。この熱膨張係数の同等性によって、
繰返し焼成した際に被覆された基質が破断する傾向を除
去するかまたは実質的に減少させることができる。
本発明の被覆された基質は回路の部品の製造に特に有用
である。これらの被覆された基Ti(即ち回路板)は平
らな表面を有し、そのため容易に且つ正確にプリントす
ることができる。プリント後温度600〜950℃、好
ましくは約900℃の温度で回路板を繰返し焼成し、プ
リント部分を融合して所望の操作に必要な電子部品にす
る。特定の焼成温度は使用する厚いフィルムになるイン
クの種類に依存する。当業界に普通使用される大部分の
インクは800〜850℃の温度において焼成される。
である。これらの被覆された基Ti(即ち回路板)は平
らな表面を有し、そのため容易に且つ正確にプリントす
ることができる。プリント後温度600〜950℃、好
ましくは約900℃の温度で回路板を繰返し焼成し、プ
リント部分を融合して所望の操作に必要な電子部品にす
る。特定の焼成温度は使用する厚いフィルムになるイン
クの種類に依存する。当業界に普通使用される大部分の
インクは800〜850℃の温度において焼成される。
しかし或様の銅インクは900〜950℃の温度を必要
とする。
とする。
被覆された基質の池の利点iこは、高い電気抵抗、低い
誘電損失及び水に対する低い溶解度が含まれる。
誘電損失及び水に対する低い溶解度が含まれる。
下記の実施例により本発明を例示するが、本発明の範囲
を限定するものではない。これらの実施例において特記
しない限りすべての割合は重量による。
を限定するものではない。これらの実施例において特記
しない限りすべての割合は重量による。
実施例1
下記酸化物の混合物からつくられた均一の熔融物を水で
急冷してガラス・7リントをつくった。
急冷してガラス・7リントをつくった。
K、0 13重重量
Ba0 33重重量
5i0237.6重量%
Na2O3,3重景%
^120. 6.0重量%
TiO77,0重量%
^s20り 0.1 重量
1%N2O51,25重量% 水及び粘土(懸濁剤)を存在させ、7リツトを摩砕して
平均粒径を25μ鋤にし、ガラス・7リツト組成物を約
66%含む琺瑯の泥漿をつくる。さらに水を加えてこの
泥漿を稀釈する。次に泥漿を予めきれいにした超低炭素
e4(炭素含量的0.003重景重量に被覆し、硫酸で
エツチングし、ニッケルを7ラツシングする。犬に被覆
した基質を温度900℃で15分間焼成する。焼成した
基質は厚さ5〜8ミルの均一な被膜を有する。この被膜
は2BaO□・TiO+・2SiO□の結晶相を実質的
な量で含んでおり、熱膨張係数は12,8X 10〜6
7 ’C(50〜450℃)であり、軟化点は925℃
より高い。
1%N2O51,25重量% 水及び粘土(懸濁剤)を存在させ、7リツトを摩砕して
平均粒径を25μ鋤にし、ガラス・7リツト組成物を約
66%含む琺瑯の泥漿をつくる。さらに水を加えてこの
泥漿を稀釈する。次に泥漿を予めきれいにした超低炭素
e4(炭素含量的0.003重景重量に被覆し、硫酸で
エツチングし、ニッケルを7ラツシングする。犬に被覆
した基質を温度900℃で15分間焼成する。焼成した
基質は厚さ5〜8ミルの均一な被膜を有する。この被膜
は2BaO□・TiO+・2SiO□の結晶相を実質的
な量で含んでおり、熱膨張係数は12,8X 10〜6
7 ’C(50〜450℃)であり、軟化点は925℃
より高い。
実施例2〜36
第1表記載の酸化物混合物を使用して実施例1の方法を
繰返した。酸化物の使用量は重量部で示されている。被
膜の性質及V第1表にまとめられた酸化物混合物からつ
くられた各7リツトでつくった被覆基質を第2表に掲げ
る。
繰返した。酸化物の使用量は重量部で示されている。被
膜の性質及V第1表にまとめられた酸化物混合物からつ
くられた各7リツトでつくった被覆基質を第2表に掲げ
る。
細かさは325メツシユの篩上で測定した細かさである
かまたは平均粒径である。測定された比重により粘度及
び泥漿中の粒子の沈降度が決定される。pH及び伝導度
(μモー)を測定し、最良の電気泳動による沈着が得ら
れるように調節した。不透明度は結晶化の目安である。
かまたは平均粒径である。測定された比重により粘度及
び泥漿中の粒子の沈降度が決定される。pH及び伝導度
(μモー)を測定し、最良の電気泳動による沈着が得ら
れるように調節した。不透明度は結晶化の目安である。
膨張は観察によって決定した。パネルの縁における被膜
の裂けまたは欠けは被膜の膨張が小さ過ぎることを示し
、被膜のひび割れは膨張が大き過ぎることを意味する。
の裂けまたは欠けは被膜の膨張が小さ過ぎることを示し
、被膜のひび割れは膨張が大き過ぎることを意味する。
軟化点はn察により決定した。
実施例番号 Sigh BaOTi1t Kt
OLIIONa2ON1 37.6 33.0
7.0 13,0 3.3 L2
38.0 38,8 16.2 1,5
3.3 1゜3 46.4 33.0
8.6 9,0 3.0 1゜4
36.0 30.0 7.0 11.0
3.0 1゜5 36.0 33,0
7.0 13.0 3.3 1゜6
4Q、0 34.8 18,2 1.5
3.3 1゜7 38.9 33.
0 7.0 16.0 1゜8
43.9 33,0 7,0 16.0
1゜9 38.9 33.0
7.0 15.0 1゜10
42.4 32.0 7,0 16.0
1゜11 37.0 50.
0 10.9 2.012 42.0
48.2 9.7 、 2.01.3
49.0 40.1 8.8 2.
014 43.0 42.9 9.0
2.01537゜0 46,2 9.7
2.016 44.0 42.9 11
.0 2.0+7 46.0 41.
1 10.8 2.018 41.0
41.1 10.8 2.0第1表 、05 As2O,Al2bi MgOZnOZ
r02B、0. P2O,Mob。
OLIIONa2ON1 37.6 33.0
7.0 13,0 3.3 L2
38.0 38,8 16.2 1,5
3.3 1゜3 46.4 33.0
8.6 9,0 3.0 1゜4
36.0 30.0 7.0 11.0
3.0 1゜5 36.0 33,0
7.0 13.0 3.3 1゜6
4Q、0 34.8 18,2 1.5
3.3 1゜7 38.9 33.
0 7.0 16.0 1゜8
43.9 33,0 7,0 16.0
1゜9 38.9 33.0
7.0 15.0 1゜10
42.4 32.0 7,0 16.0
1゜11 37.0 50.
0 10.9 2.012 42.0
48.2 9.7 、 2.01.3
49.0 40.1 8.8 2.
014 43.0 42.9 9.0
2.01537゜0 46,2 9.7
2.016 44.0 42.9 11
.0 2.0+7 46.0 41.
1 10.8 2.018 41.0
41.1 10.8 2.0第1表 、05 As2O,Al2bi MgOZnOZ
r02B、0. P2O,Mob。
25 0.1 6.0
25
2.225 8.0
5,025 0.1 7.6 25
2.225 0.1 5.0 25 0.1 25 0.1 5.0
1.025 0.1 2.5 0.1 0.1 0.1 0・13.0 O,15,0 0,1 0,1 0、15,0 19 45.5 42.5 8.9
3.020 47.0 24.9 7
.0 16.021 43.9 30.0
6,0 16,022 44.4 33,0
8,5 14.023 44.4 30
.0 B、5 14.024 40.0
23.9 15.0 16.025 43.
0 33.9 15,0 1,0 2.02
6 44.2 41.2 B、5 3
.0 3.027 45.0 28.9 1
0,0 16.028 44.0 17
,9 7.0 16.029 42.0
32+0 6.9 12.0 1.030
41.7 32.0 8.9 12.0
1.031 43.4 40.5 8
.3 4.7 3.032 40.0 3
3.0 6.9 15.033 41.5
33.0 6.9 +1.5 2.034
40.5 32.0 5.9 11+5
2.035 41.0 33.0 6.
9 11,5 Z、036 43.0 3
3,0 B、9 10,0 2,0寒と轟1
1ひ 0.1 1.25 0.1 5.0 1.25 0,1 4.0 1.25 0.1 1.25 0,1 3.0 1.25 0.1 5.0 1.15 0.1 5.0 0.1 1.25 0.1 1.25 0.1 5.01.25
0.1 2.7 3.01.25
0.1 2.7 3,0
0.30.1 1.25 0.1 2,5 2.51.2
5・ 0,1 2,5 2.51.25
0.1 2.5 2,5 3.01.25
0.1 2,5 2,5
0.51.25 0.
1 5.01 0.6%/325 1
.706 12.3/4850 CL−ELC30/
40 30’/900℃2 1.0%/325 1.
708 11.7/2350 P−PC20/40
30’/890℃3 1.0%/325 1.697
11.8/2550 P−ELC30/30 30
’/900℃4 1.5%/325 1,685 1
1.8/2700 P−PC25/40 30’/9
00℃5 1.2%/325 −1.700 12.0
/2970 P−1’C30/40 30’/900
℃6 1.2%/325 1.883 12.2/3
100 P−PC40/40 30’/890℃7
4.2%7325 〜1.700 12.0/2700
1”l’C25/40 15’/900℃8 −
噴霧のみ ELC−15’/900℃9
1.8%/325 1.680 11.7/270
0 1”PC20/40 15’/900°C1〇−噴
霧のみ ELC−15’/900℃中程度
高 7.7 0K 中
程度滑らか 高 7−8
低 高光沢 高 8−
30K 低粗い 高 7.
0 低 中程度粗い 高
7.0 0K 中程度粗い
高 5.5 低
高粗い 高 9.0OK
中程度−低 OK 粗い/裂け 高 7 0K
高−低 OK 高 高車高
高車高
高車高
高車高
高車高
高本19 12
μm 1.690 11.8/2480
P−ELC20/4021− 噴n(
1’)h ELC22−噴霧のみ
ELC 23−噴霧のみ ELC 2412μm 1.615 12.1/3
170 P−ELC30/402912μm
1.692 12.O/2160 P−PC201
50300,8%/325 1.752 12.0/
2100 P−CM−PC25150314%/32
5 1.717 11.4/2380 P−PC
20/4032 12μ鶴 1.619
12.1/3780 P−PC20/4033
0.8%/325 1.664 11.9/2010
P−CM−PC20〆5034 1%/325
1.680 12.3/3140 P−ELC2
0/65第2表(1&さ) 高 高車高
高木1
5’/900℃ 粗い/!li!け 高
6−7 僅かに低 高木寧 15’/900℃ 中程度
0K15’/900℃
低 低15’/90
0’C中程度 低15’/900’C
滑らか 中程度 6.2 低
中程度高 低
車高 低 本低 低 15’ 7900℃ 光沢/凹凸あり 高
6 高 中程度10’/900℃
中程度〜良好 高 6 高
中程度5/900℃ 光沢/粗い 中程
度 5.6 低 中程度10’79
00℃ 滑らか/裂け 高 6−7
0K 中程度10’/900℃ 欠陥
高 7 0K
中程度15’/900℃ 滑らか 中程度
6.5 0K 高35 1.
6%/325 1.693 12.0/2190
P−PC20/4036 0.7%/325 測定
せず11.9/2100 P−CM−PC20150
a) b)P
=酸洗い 低−〜8
25−875CO=きれいにしただけ
中程度−875−〜925CH=化学的混疎
高−〉925°CPC=プリ
ント回路 1:Lc=超低炭′A鋼 気1衣10σ 15’ 7900℃ 凹凸あり 、%i
7−8 0K 中程度15’
7900℃ 欠陥/粗い 高 6−8
(氏 中程度C本 融点は非常に高い ′C林完全には熔融しない組成物 以上本発明を例示のために詳細に説明したが、このよう
な詳細点は単に例示のためであり、特許請求の範囲記載
の事項以外、本発明の精神及び範囲を逸脱することなく
種々の変形を行い得ることは明らかである。
2.225 8.0
5,025 0.1 7.6 25
2.225 0.1 5.0 25 0.1 25 0.1 5.0
1.025 0.1 2.5 0.1 0.1 0.1 0・13.0 O,15,0 0,1 0,1 0、15,0 19 45.5 42.5 8.9
3.020 47.0 24.9 7
.0 16.021 43.9 30.0
6,0 16,022 44.4 33,0
8,5 14.023 44.4 30
.0 B、5 14.024 40.0
23.9 15.0 16.025 43.
0 33.9 15,0 1,0 2.02
6 44.2 41.2 B、5 3
.0 3.027 45.0 28.9 1
0,0 16.028 44.0 17
,9 7.0 16.029 42.0
32+0 6.9 12.0 1.030
41.7 32.0 8.9 12.0
1.031 43.4 40.5 8
.3 4.7 3.032 40.0 3
3.0 6.9 15.033 41.5
33.0 6.9 +1.5 2.034
40.5 32.0 5.9 11+5
2.035 41.0 33.0 6.
9 11,5 Z、036 43.0 3
3,0 B、9 10,0 2,0寒と轟1
1ひ 0.1 1.25 0.1 5.0 1.25 0,1 4.0 1.25 0.1 1.25 0,1 3.0 1.25 0.1 5.0 1.15 0.1 5.0 0.1 1.25 0.1 1.25 0.1 5.01.25
0.1 2.7 3.01.25
0.1 2.7 3,0
0.30.1 1.25 0.1 2,5 2.51.2
5・ 0,1 2,5 2.51.25
0.1 2.5 2,5 3.01.25
0.1 2,5 2,5
0.51.25 0.
1 5.01 0.6%/325 1
.706 12.3/4850 CL−ELC30/
40 30’/900℃2 1.0%/325 1.
708 11.7/2350 P−PC20/40
30’/890℃3 1.0%/325 1.697
11.8/2550 P−ELC30/30 30
’/900℃4 1.5%/325 1,685 1
1.8/2700 P−PC25/40 30’/9
00℃5 1.2%/325 −1.700 12.0
/2970 P−1’C30/40 30’/900
℃6 1.2%/325 1.883 12.2/3
100 P−PC40/40 30’/890℃7
4.2%7325 〜1.700 12.0/2700
1”l’C25/40 15’/900℃8 −
噴霧のみ ELC−15’/900℃9
1.8%/325 1.680 11.7/270
0 1”PC20/40 15’/900°C1〇−噴
霧のみ ELC−15’/900℃中程度
高 7.7 0K 中
程度滑らか 高 7−8
低 高光沢 高 8−
30K 低粗い 高 7.
0 低 中程度粗い 高
7.0 0K 中程度粗い
高 5.5 低
高粗い 高 9.0OK
中程度−低 OK 粗い/裂け 高 7 0K
高−低 OK 高 高車高
高車高
高車高
高車高
高車高
高本19 12
μm 1.690 11.8/2480
P−ELC20/4021− 噴n(
1’)h ELC22−噴霧のみ
ELC 23−噴霧のみ ELC 2412μm 1.615 12.1/3
170 P−ELC30/402912μm
1.692 12.O/2160 P−PC201
50300,8%/325 1.752 12.0/
2100 P−CM−PC25150314%/32
5 1.717 11.4/2380 P−PC
20/4032 12μ鶴 1.619
12.1/3780 P−PC20/4033
0.8%/325 1.664 11.9/2010
P−CM−PC20〆5034 1%/325
1.680 12.3/3140 P−ELC2
0/65第2表(1&さ) 高 高車高
高木1
5’/900℃ 粗い/!li!け 高
6−7 僅かに低 高木寧 15’/900℃ 中程度
0K15’/900℃
低 低15’/90
0’C中程度 低15’/900’C
滑らか 中程度 6.2 低
中程度高 低
車高 低 本低 低 15’ 7900℃ 光沢/凹凸あり 高
6 高 中程度10’/900℃
中程度〜良好 高 6 高
中程度5/900℃ 光沢/粗い 中程
度 5.6 低 中程度10’79
00℃ 滑らか/裂け 高 6−7
0K 中程度10’/900℃ 欠陥
高 7 0K
中程度15’/900℃ 滑らか 中程度
6.5 0K 高35 1.
6%/325 1.693 12.0/2190
P−PC20/4036 0.7%/325 測定
せず11.9/2100 P−CM−PC20150
a) b)P
=酸洗い 低−〜8
25−875CO=きれいにしただけ
中程度−875−〜925CH=化学的混疎
高−〉925°CPC=プリ
ント回路 1:Lc=超低炭′A鋼 気1衣10σ 15’ 7900℃ 凹凸あり 、%i
7−8 0K 中程度15’
7900℃ 欠陥/粗い 高 6−8
(氏 中程度C本 融点は非常に高い ′C林完全には熔融しない組成物 以上本発明を例示のために詳細に説明したが、このよう
な詳細点は単に例示のためであり、特許請求の範囲記載
の事項以外、本発明の精神及び範囲を逸脱することなく
種々の変形を行い得ることは明らかである。
特許量1ff人 モベイ・コーポレーション−\。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、熔融すると実質的に (a)BaO20〜50重量% (b)BiO_230〜60重量% (c)TiO_22〜20重量% (d)K_2O0〜16重量% (e)Na_2O0〜4重量% (f)Li_2O0〜4重量% (g)Al_2O_30〜10重量% (h)B_2O_30〜3重量% (i)As_2O_30〜3重量% (j)CaO0〜10重量% (k)CeO_20〜3重量% (l)MgO0〜10重量% (m)F_20〜3重量% (n)N_2O_50〜3重量% (o)PbO0〜3重量% (p)P_2O_50〜3重量% (q)Sb_2O_30〜3重量% (r)SnO_20〜3重量% (s)SrO0〜10重量% (t)ZnO0〜10重量% (u)ZrO_20〜10重量%及び (v)NoO_30〜3重量% から成り、全部でほぼ100重量%になる酸化物混合物
を生じる材料の混合物を熔融して均一な熔融物をつくり
、該熔融物を急冷してフリットをつくり、該フリットを
焼成してつくられることを特徴とする部分的に失透した
琺瑯組成物。 2、熔融混合物は (a)BaO25〜45重量% (b)SiO_235〜50重量% (c)TiO_24〜10重量% を含む特許請求の範囲第1項記載の組成物。 3、熔融混合物はさらに (d)にK_2O0〜12重量% (g)Al_2O_32〜8重量% (j)CaO0〜5重量% (l)MgO0〜5重量% (s)SrO0〜5重量% (t)ZnO0〜5重量%及び (w)ZrO_20〜5重量% を含む特許請求の範囲第2項記載の組成物。 4、Li_2O、Na_2O及びK_2Oから成る群か
ら選ばれた酸化物の少なくとも2種が熔融物中に存在す
る特許請求の範囲第1項記載の組成物。 5、熔融混合物は (a)BaO33重量% (b)SiO_237.6重量% (c)TiO_27.0重量% (d)K_2O13重量% (e)Na_2O3.3重量% (g)Al_2O_36.0重量% (i)As_2O_30.1重量%及び (n)N_2O_51.25重量% を含む特許請求の範囲第1項記載の組成物。 6、特許請求の範囲第1〜5項記載の部分的に脱ガラス
化された琺瑯のいずれかが金属基質に被覆されている電
子回路製造に適した被覆基質。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0240990A (ja) * | 1988-07-29 | 1990-02-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回路基板 |
JPH0446035A (ja) * | 1990-06-14 | 1992-02-17 | Ngk Spark Plug Co Ltd | グレーズ組成物 |
WO2014017610A1 (ja) * | 2012-07-27 | 2014-01-30 | 旭硝子株式会社 | 金属基板被覆用ガラスおよびガラス層付き金属基板 |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63181400A (ja) * | 1987-01-22 | 1988-07-26 | 松下電器産業株式会社 | セラミツク多層基板 |
US4997698A (en) * | 1987-05-04 | 1991-03-05 | Allied-Signal, Inc. | Ceramic coated metal substrates for electronic applications |
US5250360A (en) * | 1987-11-16 | 1993-10-05 | Corning Incorporated | Coated metal article |
US5047371A (en) * | 1988-09-02 | 1991-09-10 | Olin Corporation | Glass/ceramic sealing system |
EP0381242B1 (en) * | 1989-02-03 | 1992-05-27 | Mitsubishi Materials Corporation | Substrate used for fabrication of thick film circuit |
EP0414458A1 (en) * | 1989-08-21 | 1991-02-27 | Corning Incorporated | Glass-ceramic coatings for titanium aluminide surfaces |
US5348843A (en) * | 1992-06-12 | 1994-09-20 | Permar Systems, Inc. | Method for making porcelain tags and signs by selectively radiating a frit containing-emulsion coating applied thereto |
JP2906104B2 (ja) * | 1992-10-20 | 1999-06-14 | 東洋ガラス 株式会社 | 鉛を含まないクリスタルなガラス組成物 |
JPH10236891A (ja) * | 1997-02-28 | 1998-09-08 | Kawasaki Steel Corp | コークス炉炭化室コーティング剤及びその施工方法 |
US5998037A (en) | 1997-12-22 | 1999-12-07 | Ferro Corporation | Porcelain enamel composition for electronic applications |
ES2180091T3 (es) | 1998-04-17 | 2003-02-01 | Ferro France Sarl | Esmalte de porcelana para acero aluminiado. |
US6379805B1 (en) * | 1999-01-22 | 2002-04-30 | Ngk Insulators, Ltd. | Low temperature-fired porcelain articles and electronic parts including such porcelain articles |
US20060249245A1 (en) * | 2000-10-31 | 2006-11-09 | Bernard Balling | Ceramic and glass correction inks |
US6773496B2 (en) * | 2001-01-16 | 2004-08-10 | Carey Brothers Limited | Phase change ink composition |
JP3838541B2 (ja) * | 2001-03-09 | 2006-10-25 | 日本碍子株式会社 | 低温焼成磁器および電子部品 |
JP4248165B2 (ja) * | 2001-06-27 | 2009-04-02 | 日本碍子株式会社 | 低温焼成磁器および電子部品 |
JP3822805B2 (ja) * | 2001-07-05 | 2006-09-20 | 松下電工株式会社 | 釉薬組成物及び防汚陶磁器 |
CN101805126B (zh) * | 2010-04-13 | 2011-12-21 | 中南大学 | 一种钢基体表面热障涂层及制备方法 |
JP5482533B2 (ja) * | 2010-07-16 | 2014-05-07 | 新日鐵住金株式会社 | 酸化防止剤、酸化防止剤の製造方法及び金属材の製造方法 |
CN101935207B (zh) * | 2010-07-23 | 2013-08-21 | 广州中国科学院工业技术研究院 | 成膜材料、有机硅树脂乳液、及用于消声器的防护涂料 |
RU2458870C1 (ru) * | 2011-04-18 | 2012-08-20 | Юлия Алексеевна Щепочкина | Глазурь |
RU2526445C2 (ru) * | 2012-11-20 | 2014-08-20 | Общество с ограниченной ответственностью "Истра-Озон" | Электроизоляционная стеклоэмаль для изделий из нержавеющей стали |
WO2018090044A1 (en) | 2016-11-14 | 2018-05-17 | Medtronic Advanced Energy Llc | Colored vitreous enamel composition for electrosurgical tool |
CN113788615B (zh) * | 2021-08-23 | 2023-02-10 | 江阴硅普搪瓷股份有限公司 | 耐高温、耐磨、耐强冲击的防腐微晶釉的制备方法和设备 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB778355A (en) * | 1954-12-29 | 1957-07-03 | Pittsburgh Plate Glass Co | Glass compositions |
US3397076A (en) * | 1964-11-20 | 1968-08-13 | Ritter Pfaudler Corp | Semicrystallized ground coats and enameled articles manufactured therefrom |
US3445209A (en) * | 1965-10-20 | 1969-05-20 | Owens Illinois Inc | Method for initiating and controlling crystallization of glass |
US3840394A (en) * | 1971-01-20 | 1974-10-08 | Scm Corp | Composition and process for glazing ceramic ware |
GB1374605A (en) * | 1971-05-24 | 1974-11-20 | Pilkington Brothers Ltd | Method of manufacturing glass ceramic material |
SU420585A1 (ru) * | 1972-06-12 | 1974-03-25 | А. С. Фролов, В. В. Швагирева, Г. А. Бовыкина, М. Л. Гиршович | Стеклопокрытие для металлов |
US3904423A (en) * | 1973-04-16 | 1975-09-09 | Evans Prod Co | Alkali resistant glass |
JPS594390B2 (ja) * | 1977-01-27 | 1984-01-30 | 株式会社保谷硝子 | 光学ガラス |
SU667513A1 (en) * | 1977-11-09 | 1979-06-15 | Gruzinsk Polt Inst | Enamel for jewelry metals |
US4355114A (en) * | 1979-11-05 | 1982-10-19 | Rca Corporation | Partially devitrified porcelain containing BaO.2MgO.2SiO2 and 2MgO.B2 O3 crystalline phases obtained from alkali metal free divalent metal oxide borosilicate glass |
US4256796A (en) * | 1979-11-05 | 1981-03-17 | Rca Corporation | Partially devitrified porcelain composition and articles prepared with same |
US4355115A (en) * | 1979-11-05 | 1982-10-19 | Rca Corporation | Borosilicate glass frit with MgO and BaO |
DE3045249A1 (de) * | 1980-12-01 | 1982-07-01 | Eisenwerke Fried. Wilh. Düker GmbH & Co, 8782 Karlstadt | Verfahren zum aufbringen eines resistenten schutzemailueberzugs auf duktile gusskoerper |
-
1986
- 1986-10-02 US US06/914,222 patent/US4732794A/en not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-09-16 CA CA000547054A patent/CA1276947C/en not_active Expired - Fee Related
- 1987-09-23 EP EP87113866A patent/EP0262565A1/de not_active Withdrawn
- 1987-09-29 JP JP62242852A patent/JPS6389435A/ja active Pending
- 1987-09-30 KR KR870010884A patent/KR880005051A/ko not_active Application Discontinuation
- 1987-09-30 FI FI874278A patent/FI874278A/fi not_active Application Discontinuation
- 1987-10-02 MX MX008687A patent/MX165766B/es unknown
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0240990A (ja) * | 1988-07-29 | 1990-02-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 回路基板 |
JPH0446035A (ja) * | 1990-06-14 | 1992-02-17 | Ngk Spark Plug Co Ltd | グレーズ組成物 |
WO2014017610A1 (ja) * | 2012-07-27 | 2014-01-30 | 旭硝子株式会社 | 金属基板被覆用ガラスおよびガラス層付き金属基板 |
JPWO2014017610A1 (ja) * | 2012-07-27 | 2016-07-11 | 旭硝子株式会社 | 金属基板被覆用ガラスおよびガラス層付き金属基板 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR880005051A (ko) | 1988-06-27 |
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MX165766B (es) | 1992-12-03 |
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CA1276947C (en) | 1990-11-27 |
US4732794A (en) | 1988-03-22 |
FI874278A0 (fi) | 1987-09-30 |
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