JPH0667772B2 - 金属基体被覆用ガラスセラミック - Google Patents

金属基体被覆用ガラスセラミック

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JPH0667772B2
JPH0667772B2 JP2498989A JP2498989A JPH0667772B2 JP H0667772 B2 JPH0667772 B2 JP H0667772B2 JP 2498989 A JP2498989 A JP 2498989A JP 2498989 A JP2498989 A JP 2498989A JP H0667772 B2 JPH0667772 B2 JP H0667772B2
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は金属基体上にガラスセラミックを被覆してなる
基板、特にその基板上に厚膜印刷法によって、微細配線
パターンを施した基板を提供することのできるガラスセ
ラミックに関する。
従来の技術 従来、厚膜ハイブリッドICやプリント回路基板には、
アルミナ基板やガラスエポキシ基板が用いられていた。
アルミナ基板の欠点は機械的強度が弱く、かつ大型の基
板の製造が困難である。他方、ガラスエポキシ基板は、
安価で大量生産に向いているが、耐熱性が悪く、回路形
成に用いられる材料(厚膜ペーストは焼成温度が800
〜900℃の材料が多い)が低温用に限られること、製
品の使用環境が400℃以下という制限があった。
これらの問題点を解決する方法として、金属基材にガラ
ス質層を被覆した、いわゆるほうろう絶縁基板が提案さ
れた。まず第一の提案は、アルカリ金属酸化物(Na
O,KO,LiO)の量が比較的少ない非晶質ガラ
スをほうろう絶縁層とした基板である。このタイプの絶
縁基板の欠点は(a)ほうろう絶縁層を繰り返し焼成す
ると、ほうろう絶縁層が再軟化すること、(b)アルミ
ナ基板に比べて、高温時の電気絶縁性に劣ること、
(c)高温中で長時間、電圧を印加すると、アルカリイ
オンのマイグレーションによって、回路網に悪影響を及
ぼす、(d)ペースト焼成時の疑集力によって、印刷回
路の寸法が焼成前後において収縮することなど; 絶縁層の再軟化性、電気絶縁性、信頼性、回路の精度に
問題があった。
これに対し、第二の提案は結晶化ガラスをほうろう絶縁
層とするという試みである。例えば、特開昭56-73643号
広報に開示されているように、6〜25モル%のBa
O、30〜60モル%の金属酸化物(MgO,ZnO,
CaOの群から選ばれる1または2以上の混合物)、1
3〜35モル%のB、10〜25モル%のSiO
の組成からなる結晶化ガラスを鋼板上に被覆したほう
ろう絶縁基板は800〜900℃でペーストを印刷し、
繰り返し焼成しても、ほうろう層の再軟化が起こらず、
また無アルカリガラスであるため、電気絶縁性、信頼性
に優れており、第一の提案を完全に越えるものであっ
た。
なお、第2の提案のモル%で表わされた範囲を完全に重
量%で変換することはできないが、実施例を参照して重
量%で概算すると、BaO=16〜50%,MgO=1
6〜42%,CaO=0〜11%,ZnO=0〜11
%,CaO+ZnO=0〜11%,B=12〜3
4%,SiO=10〜23%,ZrO=0〜5%,
Al=0〜5%,SnO=0〜5%,ZrO
+Al+SnO=0〜5%である。以下、成分
量は重量%で統一する。
発明が解決しようとする課題 第2の提案の問題点としては、(a)耐熱性に劣る、
(b)耐薬品性に劣る、(c)表面粗度が大きく、微細
配線用基板としては不適である、などがあげられる。
これらの欠点(a)、(b)については、特開昭58-104
042号広報及び特開昭60-172102号広報に開示してあるよ
うな、ガラス成分組成で改善しようとする試みもなされ
ているが、未だ実用には共されていない。その理由は、
第2の提案よりも極端に表面粗度が大きくなり、厚膜印
刷用回路基板としては使用できなかったからである。と
いうのは、このようなMgO−BaO−B−Si
系のガラスは800〜900℃で焼成すると、Ba
O・2MgO・2SiO、2MgO・Bの結晶
相が析出する性質があり、ガラス組成によっては、結晶
粒が著しく肥大化したり、析出量が異常に多くなったり
するために、基板の表面粗度が大きくなるためである。
第2図はその様子を示したものである。
近年、ICの高密度化、実装技術の進歩によって、基板
上への回路形成の要求は、ますます高密度化、高集積
化、微細化志向になってきている。たとえばサーマルヘ
ッドでは、電極幅が30μm以下、電極間隔も200μ
m以下の高密度微細パターンが要求されている。この要
求に対して、従来のガラスセラミックは表面粗度が大き
すぎて、対応ができず、基板をラップポリッシュするこ
とにより対応していた。これでは、ほうろう基板の特徴
の一つである低コスト化を満足することができなかっ
た。
本発明は、上記の問題点である耐熱性、耐薬品性および
表面平滑性に優れたほうろう絶縁基板を提供するガラス
セラミック材料に関するものである。
課題を解決するための手段 本発明の金属基体被覆用ガラスセラミックは、重量%
で、LaまたはCeO=3〜40%、MgO=
20〜50%,CaO=1〜20%,BaO=0〜15
%,B=10〜30%,SiO=8〜20%,
MO(MはTi、Zr,Snの少なくとも1種)=0
〜5%,P=0〜5%からなることを特徴とす
る。
作用 上記組成のガラスセラミックにすることにより、従来に
比べ、耐熱性、耐薬品性が向上するだけでなく、第1図
にしめすように、表面平滑性も著しく向上し、高密度微
細パターンを形成することのできる基板として適用する
ことが可能となる。
実施例 まず、本発明に用いられる各工程を簡単に説明する。
(1)ガラス原料の調合工程 所望の組成になるようにLa、CeO、MgC
,CaCO,BaCO,HBO,SiO
等を秤量し、ブレンダーで充分混合する。なおMgCO
は嵩比重が非常に高いので、原料に適当な水を添加
し、ペレッターなどでペレット化する方が、原料を粉体
状で供給するよりも、ガラスの均質性、溶融条件の安定
性の観点から好ましい。
(2)ガラスの溶融工程 本発明のガラスは基本的には、アルカリ成分を含んでい
ないため、その溶融温度は通常のガラスよりも高く1400
〜1500℃で溶融される。そのため使用する坩堝は白金坩
堝が基本であるが、ジルコン坩堝、黒鉛坩堝も使用可能
である。また生産量が増えれば、連続溶融炉を用いる方
が望ましい。
坩堝で溶融されたガラス溶融物の冷却方法としては、水
中急冷法、水冷ローラ急冷法のどちらでもよいが、ガラ
スの安定性の観点から、ローラ急冷法が好ましい。
(3)金属基本の種類と前処理工程 本発明に使用される金属基本はほうろう用鋼板、ステン
レス鋼板、ニッケル−クロム−鉄、ニッケル−鉄、コバ
ール、インバーなどの各種合金、Cuクラッド材などで
ある。
これら金属基本はガラスセラミックの密着性を向上させ
る目的で、表面脱脂された後、ニッケル、コバルト、ク
ロムなどの各種メッキを施したり、熱酸化処理によって
酸化被膜を形成したりする。
(4)ガラスセラミックの被覆工程 工程(2)で得られたガラスを工程(3)の金属基体上
に被覆する方法として、通常のスプレー法、粉体静電塗
装法、電気泳動電着法があるが、被膜の緻密さ等を考え
た場合、電着法が最も好ましかった。
この方法はガラスとアルコール及び少量の水を入れてボ
ールミル中で約20時間粉砕、混合し、ガラス平均粒径
を1〜5μm程度にする。得られたスラリーを電解槽に
いれ、スラリーを循環する。工程(3)で準備された金
属基体を、このスラリー中に浸漬し、100〜400V
で陰分極させることにより、金属基体表面上に、ガラス
粒子を析出させる。これを乾燥後、850〜900℃で
約10〜30分間焼成する。これらの工程によって、金
属基体上にカラスセラミックが被覆形成される。
次に具体的な実施例であるが、第1表は本発明および比
較例のガラスを溶融し、前述した工程にしたがって、S
US430基体(50mm×50mm×0.8mm)の
表面に、厚さ100μmのガラスセラミック層を電気泳
動電着し、900℃で10分間焼成したサンプルの表面
粗度、うねり性、耐熱性、耐酸性、印刷精度などについ
て調べた結果を示したものである。また第3表は本発明
の実施例につき同様に示した。
ここで表面粗度はタリサーフ表面粗さ計で測定し中心線
平均粗さRaで、うねり性は目安として最大高さRmax
で表わした。
耐熱性は基板を920℃の電気炉に10分入れ、取り出し
て30分室温に放置するサイクルを繰り返すスポーリン
グテストを行って、ガラスセラミック層のクラックや剥
離の発生を調べた。クラックは基板を赤インキ中に浸せ
き後、取り出して余分なインキをエアガンで除去して観
察した。表中の○△×は、○が10サイクル以上行なっ
てもクラックや剥離の発生がなかったもの、△が5〜9
サイクル耐えたもの、×が4サイクル以下で発生し たものを示す。
耐酸性は基板を、5%のクエン酸水溶液中に60℃、3
0分浸漬して調べ、○は10mg/cm2以下の減量を、
△が11〜20mg/cm2のそれを、×が20mg/cm2
以上のそれを示し、小さいものほど耐酸性がよいことを
示す。
また印刷精度の評価は、基板に厚膜印刷法、フォトレジ
スト法を用いて、30μm幅の金属極をちどり状に6本
/mmの割合で形成し、さらにその上に幅300μmの酸
化ルテニウム抵抗体を形成して、電極間の抵抗値を測定
した。そのときの電極間の抵抗ばらつきが10%以内の
ものを○、10〜20%のものを△、20%以上のもの
を×とした。
以上の評価に基づき総合評価を最下欄に、◎○△×で示
した。
第1表に於て、No.1〜7は他の成分を一定として、
SiO/Bを変化させたもの、No.8〜13
はSiO/Bをほぼ一定にし、MgO量を変化
させたもの、No.14〜18は同じくCaO量を変化
させたもの、No.19〜24は同じくLa量を
変化させたもの、No.25〜26はBaO量を変化さ
せたもの、No.27〜32はZrO,TiO,S
nO,Al、Pを添加したときの影響で
ある。なお比較例としてNo.33は特開昭56-73643号
広報、No.34は特開昭58-104042号広報、No.3
5は特開昭60-172102号広報に開示されたものの評価結
果を示した。
第1表から明らかなように、SiOを増加していけ
ば、耐熱性、耐酸性は向上するが、表面粗度が大きくな
り、微細印刷に不適となる。逆にBを増加してい
けば、たしかに表面平滑性は向上するが、耐酸性、耐熱
性は低下する。従って、SiOは8〜20%、B
は10〜30%が使用できるが、より望ましくはSi
が10〜20%、Bが15〜25%で、その
比SiO/Bが0.25〜1.0の範囲内が総合的に
好ましい。
MgOは結晶性と相関があり20%より少ないと結晶析
出が不十分で、耐熱性に劣る。また50%より多いと、
ガラス溶融時にも容易に結晶化し、均質なガラスを得る
ことが難しくなるとともに、表面粗度が大きくなり、か
つ微細パターンの印刷性も悪くなる。したがってより望
ましくは20〜40%が総合的に好ましい。
CaOはガラスの耐酸性を向上させ、かつ基板の表面平
滑性を向上させる働きをする。第3図はガラスに含まれ
るBaO/(BaO+CaO)を変化させたガラス(そ
の組成は表2のNo.36〜40に示した)を用いた基
板の、前述のクエン酸に対する耐酸性を調べたものであ
る。BaO/(BaO+CaO)が小さくなるにしたが
い減量が小さく、耐酸性に優れていることを意味する。
また第4図はNo.36と40のガラスを用いた基板
を、室温にて5%の王水に浸漬した時の減量を調べたも
のである。No.36のほうが減量が小さく、耐酸性に
優れていることを意味する。以上よりCaOはガラスの
耐酸性を向上させる働きを有し、BaOにはそのような
働きがないことがわかる。
また第5図はNo.36と40のガラスを用いた基板
の、焼成温度と、表面平滑性の尺度として中心線平均粗
さRaの関係を調べたもので、No.40の場合820
℃以上の焼成でRaが極端に大きくなる。市販の厚膜ペ
ーストの焼成温度は810〜850℃のものが多いの
で、一般に基板の焼成温度はこれ以上にしておく必要が
ある。例えば基板の焼成温度を900℃とすると、Ra
は0.35μmとなり、この上に厚膜ペーストを0.3μm
の厚さに印刷すると回路の断線を生じることになる。一
方No.36の場合は900℃で焼成してもRaは0.08
μmであり、この上に厚膜ペーストを印刷しても回路の
断線を生じにくい。この理由はNo.40ガラスでは2M
gO・B2O3、BaO・2MgO・2SiO2の2種の結晶が生成し、R
aを大きくするのに対し、No.36ガラスではBaO
を含まないために2MgO・B2O3しか生成せず、そのような
ことがないためである。以上よりCaOはガラスの耐酸
性を向上させ、かつ基板の表面平滑性を向上させる働き
を有するので、少なくとも1%以上含有することが望ま
しいが、20%を越えると耐熱性、印刷性が悪くなるの
で望ましくない。
Laは基板の表面平滑性を向上させ、かつ耐熱性
の向上に大きく寄与する。耐熱性が向上する原因は、基
板とほうろう層の密着性が向上するためと思われる。こ
こでアメリカほうろう協会が開発したPEI試験法によ
れば、機材としてニッケル処理したSUS430を用い
たとき、Laを含まないNo.41ガラスを用い
た基板の密着性は26%、Laを含むNo.36
のそれは100%であった。基板とほうろう層の密着性
が向上する理由は明確ではないがLaと基材に含
まれるFe,NiOとの相互反応のためと考えら
れる。なおこのことを直接支持するものではないが、Bi
nary Phase Diagrams Handbook3/81(1981 GE Co)にはL
aとFe,Niとが固溶体をつくることが記載されてい
るが、酸化物の場合にもなんらかの反応が起きているも
のと考えられる。以上の理由からLaは、少なく
とも3%以上含有することが望ましいが、40%を越え
ると耐酸性が悪くなるので望ましくない。さらにLa
は高価であり多量に含有することはガラスセラミッ
クのコスト高を招くので、より望ましくは3〜30%が
総合的に望ましい。
なお、以上の結果は第3表においてLaがCeO
に置き換わった場合でも、まったく同様であった。す
なわちCeOはLaと同様の働きをする。
BaOは本発明では必須成分ではないが、15wt%以
下であれば加えてもよい。その理由は前に述べたよう
に、耐酸性、表面平滑性を低下させるからである。
MOは耐酸性の向上に寄与するが、5%より多いと表
面粗度を大きくするので望ましくない。またMOのな
かで、耐酸性を向上させる度合いは、ZrO,TiO
,SnOの順であり、従ってZrOが最も望まし
い。
はガラスの結晶化に寄与するが、5%より多い
と表面粗度を大きくするので望ましくない。
なお上記の成分以外に膨張係数を変化させたり、着色さ
せたりするため、ガラスにアルカリ金属酸化物、鉄、マ
ンガン、ニッケル、コバルト、バナジウム、鉛、モリブ
デン、タングステン、ビスマス、カドミウム、ストロン
チウム、アルミニウム等の酸化物を加えることは可能で
あるが、アルカリ金属酸化物は電気絶縁性を考慮して2
%以下、その他の酸化物も5%以下であることが望まし
い。
本実施例には記載されていない成分でも、不純物程度混
入してもかまわない。
発明の効果 以上のように、本発明のガラスセラミックを用いた基板
は、従来に比べ、表面平滑性、耐熱性、耐酸性、微細印
刷精度に優れている。電気回路用基板以外に、表面平滑
性が要求される部品、たとえばスラスト軸受けやメカニ
カルシールなど、あるいは耐熱性、化学耐久性が要求さ
れる配管やタンクなどの化学用装置、エンジンカバーな
どの自動車部品、ほうろう鍋などの家庭器具にも用途が
考えられる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のガラスセラミックの表面粗
さを示す形状図、第2図は従来例のガラスセラミックの
表面粗さを示す形状図である。また第3図、第4図、第
5図は本発明の一実施例のガラスセラミックにつき、そ
れぞれクエン酸にたいする耐酸性試験、王水に対する耐
酸性試験の結果、および表面平滑性を示す特性図であ
る。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】主成分が少なくとも、重量%で、La
    またはCeO=3〜40%、MgO=20〜50
    %,CaO=1〜20%,BaO=0〜15%,B
    =10〜30%,SiO=8〜20%,MO(M
    はTi、Zr,Snの少なくとも1種)=0〜5%,P
    =0〜5%であることを特徴とする金属基体被覆
    用ガラスセラミック。
  2. 【請求項2】重量%で、少なくとも、Laまたは
    CeO=3〜30%、MgO=20〜40%,CaO
    =1〜20%,BaO=0〜15%,B=15〜
    25%,SiO=10〜20%,ZrO=0〜5
    %,P=0〜5%であることを特徴とする請求項
    1記載の金属基体被覆用ガラスセラミック。
  3. 【請求項3】重量%で、少なくとも、Laまたは
    CeO=3〜30%、MgO=20〜40%,CaO
    =1〜20%,B=15〜25%,SiO=1
    0〜20%,ZrO=0〜5%,P=0〜5%
    であることを特徴とする請求項2記載の金属基体被覆用
    ガラスセラミック。
  4. 【請求項4】SiO/Bが0.25〜1.0であるこ
    とを特徴とする請求項1、2または3記載の金属基体被
    覆用ガラスセラミック。
  5. 【請求項5】請求項1、2、3または4記載のガラスセ
    ラミックを被覆させた回路基板。
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