JPS6367337B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6367337B2 JPS6367337B2 JP58065181A JP6518183A JPS6367337B2 JP S6367337 B2 JPS6367337 B2 JP S6367337B2 JP 58065181 A JP58065181 A JP 58065181A JP 6518183 A JP6518183 A JP 6518183A JP S6367337 B2 JPS6367337 B2 JP S6367337B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- solder
- semiconductor chip
- lead frame
- solder clad
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/481—Leadframes for devices being provided for in groups H10D8/00 - H10D48/00
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07541—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature
- H10W72/07551—Controlling the environment, e.g. atmosphere composition or temperature characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
半導体装置用リードフレームに関するものであ
る。
る。
連結部から複数本のリードを導出させたリード
フレームを用いて半導体装置を組立てるには一般
的には半導体チツプの少くとも片面を所定のリー
ドに固着するか、又は半導体チツプを当該リード
と他のリードとの間に介挿固着した後、樹脂モー
ルドし、連結部を切り取るという方法によつてい
る。しかして、その固着方法としては、たとえば
第１図ａに示すように半導体チツプ３の片面又は
両面にあらかじめソルダー層４を固着しておき、
当該ソルダー層４を介してリード１，２に溶着す
る方法がある。この方法はソルダーの溶融時に生
ずる表面張力によりソルダー４の表面が凸状とな
り、リード１，２は銅製であつて何等かのウエイ
トを付加しない限りスプリンク効果の範囲が狭い
ため、接触が不安定となり、不良品の発生原因と
なる。第１図ｂに示す例は、半導体チツプ３をソ
ルダーシート５，６を介してリード１，２に溶着
するものであるが、この方法は部品数が多いた
め、それだけ組立工数が多く、生産効率が悪い。
第１図ｃに示すように半導体チツプ３の両面にソ
ルダークリーム７を塗布し、当該ソルダークリー
ム７を介してリード１，２に溶着する方法はソル
ダークリーム７の塗布量のコントロールがなかな
かむずかしく、塗布量が少ないと固着が不安定と
なり、塗布量が多いと半導体チツプ３の側面でソ
ルダーシヨートが発生する。
フレームを用いて半導体装置を組立てるには一般
的には半導体チツプの少くとも片面を所定のリー
ドに固着するか、又は半導体チツプを当該リード
と他のリードとの間に介挿固着した後、樹脂モー
ルドし、連結部を切り取るという方法によつてい
る。しかして、その固着方法としては、たとえば
第１図ａに示すように半導体チツプ３の片面又は
両面にあらかじめソルダー層４を固着しておき、
当該ソルダー層４を介してリード１，２に溶着す
る方法がある。この方法はソルダーの溶融時に生
ずる表面張力によりソルダー４の表面が凸状とな
り、リード１，２は銅製であつて何等かのウエイ
トを付加しない限りスプリンク効果の範囲が狭い
ため、接触が不安定となり、不良品の発生原因と
なる。第１図ｂに示す例は、半導体チツプ３をソ
ルダーシート５，６を介してリード１，２に溶着
するものであるが、この方法は部品数が多いた
め、それだけ組立工数が多く、生産効率が悪い。
第１図ｃに示すように半導体チツプ３の両面にソ
ルダークリーム７を塗布し、当該ソルダークリー
ム７を介してリード１，２に溶着する方法はソル
ダークリーム７の塗布量のコントロールがなかな
かむずかしく、塗布量が少ないと固着が不安定と
なり、塗布量が多いと半導体チツプ３の側面でソ
ルダーシヨートが発生する。
本発明は半導体装置の従来の組立方法に存する
上述のような問題点を解決するためになされたも
のである。
上述のような問題点を解決するためになされたも
のである。
本発明を第２図ａ〜第４図ｂに示す実施例に従
つて説明する。
つて説明する。
第２図ａにおいて銅条などの導電性金属条８の
上方の長手方向に亘つて、金属条８中に入り込む
ようにソルダークラツド９が形成される。本発明
者の実験例においては金属条８として厚さ0.5mm
の銅条を用い、当該銅条に厚さ0.1〜0.2mmのSn―
Pb系のソルダークラツド９を形成した。このよ
うにして得られたリードフレーム素材を加工して
リードフレームを製作する。１０は連結部、１１
は半導体チツプが載置されるリード部、１２，１
３は他のリード部である。第３図ａには当該リー
ドフレームが抜き出して描かれている。第３図ａ
から明らかなごとく、このリードフレームの、半
導体チツプが載置されるリード部１１には上方横
方向に亘つて、たとえば巾1.5mmのソルダークラ
ツド部９が形成されており、又リード部１２′，
１３′の上方部にもソルダークラツド９′が位置す
るように加工される。リード部１２′，１３′の先
端部をプレス加工等により裏返し部Ｒで内側へ裏
返すことによつてリード部１２′，１３′のソルダ
ークラツド部９′，９′がリード部１１のソルダー
クラツド部９と接触するように諸元が設定され
る。さらに、リード１２′，１３′のソルダークラ
ツド部９′，９′の中央部が突出するように加工し
ておけば、リード部１２′，１３′のスプリング効
果によつて、後述するように、リード部１１のソ
ルダークラツド部９とリード部１２′，１３′のソ
ルダークラツド部９′，９′との間に挿入される半
導体チツプを良好な接触状態で仮固定することが
できる。
上方の長手方向に亘つて、金属条８中に入り込む
ようにソルダークラツド９が形成される。本発明
者の実験例においては金属条８として厚さ0.5mm
の銅条を用い、当該銅条に厚さ0.1〜0.2mmのSn―
Pb系のソルダークラツド９を形成した。このよ
うにして得られたリードフレーム素材を加工して
リードフレームを製作する。１０は連結部、１１
は半導体チツプが載置されるリード部、１２，１
３は他のリード部である。第３図ａには当該リー
ドフレームが抜き出して描かれている。第３図ａ
から明らかなごとく、このリードフレームの、半
導体チツプが載置されるリード部１１には上方横
方向に亘つて、たとえば巾1.5mmのソルダークラ
ツド部９が形成されており、又リード部１２′，
１３′の上方部にもソルダークラツド９′が位置す
るように加工される。リード部１２′，１３′の先
端部をプレス加工等により裏返し部Ｒで内側へ裏
返すことによつてリード部１２′，１３′のソルダ
ークラツド部９′，９′がリード部１１のソルダー
クラツド部９と接触するように諸元が設定され
る。さらに、リード１２′，１３′のソルダークラ
ツド部９′，９′の中央部が突出するように加工し
ておけば、リード部１２′，１３′のスプリング効
果によつて、後述するように、リード部１１のソ
ルダークラツド部９とリード部１２′，１３′のソ
ルダークラツド部９′，９′との間に挿入される半
導体チツプを良好な接触状態で仮固定することが
できる。
第３図ａはトランジスタ、サイリスタ等用の、
又第３図ｂはダイオード用のリードフレームとし
て使用される。第３図ａに示すリードフレームを
用いて半導体装置を組立てるには第４図ａ，ｂに
示すごとくリード部１２′，１３′の上方部を裏返
し部Ｒ，Ｒで内側方向へ裏返すことによつて、当
該リード部１２′，１３′のソルダークラツド部
９′，９′をリード部１１のソルダークラツド部９
に接触させる。この状態で上記ソルダークラツド
部間に半導体チツプ１４を挿入することによつ
て、リード部１２′，１３′のソルダークラツド部
９，９′に形成された突起９１′の働きにより、半
導体チツプ１４はリード部１１と１２′，１３′の
スプリング効果によつて安定に仮固定される。し
かる後、加熱することによつて半導体チツプ１４
はソルダークラツド９，９′，９′のソルダーによ
つて固着される。第３図ｂに示すリードフレーム
を使用する場合も上述したと同様の理により半導
体装置を組立てることができる。
又第３図ｂはダイオード用のリードフレームとし
て使用される。第３図ａに示すリードフレームを
用いて半導体装置を組立てるには第４図ａ，ｂに
示すごとくリード部１２′，１３′の上方部を裏返
し部Ｒ，Ｒで内側方向へ裏返すことによつて、当
該リード部１２′，１３′のソルダークラツド部
９′，９′をリード部１１のソルダークラツド部９
に接触させる。この状態で上記ソルダークラツド
部間に半導体チツプ１４を挿入することによつ
て、リード部１２′，１３′のソルダークラツド部
９，９′に形成された突起９１′の働きにより、半
導体チツプ１４はリード部１１と１２′，１３′の
スプリング効果によつて安定に仮固定される。し
かる後、加熱することによつて半導体チツプ１４
はソルダークラツド９，９′，９′のソルダーによ
つて固着される。第３図ｂに示すリードフレーム
を使用する場合も上述したと同様の理により半導
体装置を組立てることができる。
本発明によれば、リードフレーム素材の金属条
の長手方向に連続してソルダークラツド部９を形
成し、当該ソルダークラツド部９が半導体チツプ
１４の載置されるリード部１１に位置するように
リードフレームが加工されるので、半導体チツプ
１４に予めソルダーを着けておく必要がないの
で、従来方式におけるごとく、溶着時にソルダー
の表面が凸状となることによる接触不安定は生ず
ることがなく、又ソルダーシートを半導体チツプ
とリード部との間に介在させる必要もなく、半導
体チツプをソルダークラツド間に安定に仮固定し
た後、ソルダークラツドのソルダーにより良好な
接触状態で半導体チツプをリード部間に介挿固着
できるので、半導体装置の組立に存する上述した
ごとき従来方式の問題点をほとんど解消できる。
の長手方向に連続してソルダークラツド部９を形
成し、当該ソルダークラツド部９が半導体チツプ
１４の載置されるリード部１１に位置するように
リードフレームが加工されるので、半導体チツプ
１４に予めソルダーを着けておく必要がないの
で、従来方式におけるごとく、溶着時にソルダー
の表面が凸状となることによる接触不安定は生ず
ることがなく、又ソルダーシートを半導体チツプ
とリード部との間に介在させる必要もなく、半導
体チツプをソルダークラツド間に安定に仮固定し
た後、ソルダークラツドのソルダーにより良好な
接触状態で半導体チツプをリード部間に介挿固着
できるので、半導体装置の組立に存する上述した
ごとき従来方式の問題点をほとんど解消できる。
第１図ａ〜ｃは半導体チツプとリード部との従
来の固結方法を示す、それぞれ平面図、第２図ａ
〜第４図ｂは本発明の実施例を示し、第２図ａは
リードフレーム素材からリードフレームを製造す
る過程を示す正面図、第２図ｂは第２図ａのＡ―
Ａ線断面図、第３図ａおよびｂは本発明にかゝる
リードフレームを示す、それぞれ正面図、第４図
ａは第３図ａに示すリードフレームを使用して半
導体装置を組立てる例を示す正面図、第４図ｂは
第４図ａの側面図である。 ８…導電性金属条、９…ソルダークラツド部、
９′…ソルダークラツド部、１１…半導体チツプ
が載置されるリード部、１２，１３，１２′，１
３′…他のリード部、１４…半導体チツプ。
来の固結方法を示す、それぞれ平面図、第２図ａ
〜第４図ｂは本発明の実施例を示し、第２図ａは
リードフレーム素材からリードフレームを製造す
る過程を示す正面図、第２図ｂは第２図ａのＡ―
Ａ線断面図、第３図ａおよびｂは本発明にかゝる
リードフレームを示す、それぞれ正面図、第４図
ａは第３図ａに示すリードフレームを使用して半
導体装置を組立てる例を示す正面図、第４図ｂは
第４図ａの側面図である。 ８…導電性金属条、９…ソルダークラツド部、
９′…ソルダークラツド部、１１…半導体チツプ
が載置されるリード部、１２，１３，１２′，１
３′…他のリード部、１４…半導体チツプ。
Claims (1)
- １ 長手方向に連続的に、所定巾のソルダークラ
ツド部を形成した導電性金属条から得られる、半
導体チツプが載置される一方のリード部と当該一
方のリード部に対向する他のリード部とからな
り、上記他のリード部は中途で裏返されて、当該
他のリード部のソルダークラツド部が上記一方の
リードのソルダークラツド部に対向するように構
成され、上記ソルダークラツド部間に半導体チツ
プを仮固定するようにしたことからなる半導体装
置用リードフレーム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58065181A JPS59191360A (ja) | 1983-04-15 | 1983-04-15 | 半導体装置用リードフレーム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58065181A JPS59191360A (ja) | 1983-04-15 | 1983-04-15 | 半導体装置用リードフレーム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59191360A JPS59191360A (ja) | 1984-10-30 |
| JPS6367337B2 true JPS6367337B2 (ja) | 1988-12-26 |
Family
ID=13279481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58065181A Granted JPS59191360A (ja) | 1983-04-15 | 1983-04-15 | 半導体装置用リードフレーム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59191360A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61206247A (ja) * | 1985-03-11 | 1986-09-12 | Toshiba Corp | 半導体装置用リ−ドフレ−ム |
| DE10258035A1 (de) * | 2002-12-12 | 2004-06-24 | Robert Bosch Gmbh | Einphasiges Stromrichtermodul |
| CN103023001A (zh) * | 2011-09-28 | 2013-04-03 | 江苏锦丰电子有限公司 | 浪涌保护器用条带 |
-
1983
- 1983-04-15 JP JP58065181A patent/JPS59191360A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59191360A (ja) | 1984-10-30 |
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