JPS63102326A - クラツド材 - Google Patents
クラツド材Info
- Publication number
- JPS63102326A JPS63102326A JP24930886A JP24930886A JPS63102326A JP S63102326 A JPS63102326 A JP S63102326A JP 24930886 A JP24930886 A JP 24930886A JP 24930886 A JP24930886 A JP 24930886A JP S63102326 A JPS63102326 A JP S63102326A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- solder
- cladding material
- copper
- cic
- clad material
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 76
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 51
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims abstract description 20
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims abstract description 20
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 18
- 229910001374 Invar Inorganic materials 0.000 claims abstract description 9
- 238000005253 cladding Methods 0.000 claims description 56
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 12
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 abstract description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 24
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 5
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 5
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- -1 that is Substances 0.000 description 1
- 239000002470 thermal conductor Substances 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、主に半導体デバイスにおける半導体チップ(
パワー素子)とアルミナ間の支持電極の材料として使用
されるクラッド材に関する。
パワー素子)とアルミナ間の支持電極の材料として使用
されるクラッド材に関する。
〈従来の技術〉
近年パワー半専体デバイスの高集積化、大容量化に伴な
い、パワー素子の実装法はますます多岐にわたっている
。
い、パワー素子の実装法はますます多岐にわたっている
。
このような状況に対応するパワー素子搭載用電極材料と
しては、(1)パワー素子の稼動時に発生する熱を速や
かに拡散させるために熱伝導性の良いこと、(2)発明
に伴なう電極材料と素子間の熱応力を抑えるように、熱
膨張係数が素子その他構成材料との間で整合かとれてい
ること、(3)寸法積度の高い加工が容易であること、
(4)更に素子の接合が容易であること、などの性質が
要求される。
しては、(1)パワー素子の稼動時に発生する熱を速や
かに拡散させるために熱伝導性の良いこと、(2)発明
に伴なう電極材料と素子間の熱応力を抑えるように、熱
膨張係数が素子その他構成材料との間で整合かとれてい
ること、(3)寸法積度の高い加工が容易であること、
(4)更に素子の接合が容易であること、などの性質が
要求される。
そこで、通常パワー素子は電極材料としての鋼板と、そ
の上に熱膨張係数整合用のMo、Wを介してはんだ付け
さ九ることか多い。しかしMo、WはfT源的に稀少で
製造コストも高いため、かねてからその代替材料が望ま
れていた。
の上に熱膨張係数整合用のMo、Wを介してはんだ付け
さ九ることか多い。しかしMo、WはfT源的に稀少で
製造コストも高いため、かねてからその代替材料が望ま
れていた。
このような状況に鑑み、Mo、Wの役目を兼ね備えた電
極材料として、熱伝専の良好な無酸素鋼と熱膨張の少な
いインバー(Fe−約36.5%Ni合金)からなる銅
/インバー/銅3層クラッド材(以下、CICクラッド
材と略す)か提案されている。
極材料として、熱伝専の良好な無酸素鋼と熱膨張の少な
いインバー(Fe−約36.5%Ni合金)からなる銅
/インバー/銅3層クラッド材(以下、CICクラッド
材と略す)か提案されている。
このようなCICクラッド材を用いた半専体デバイスの
構成を第8図に示す。同図に示すように、半導体デバイ
ス1′はヒートシンクである銅板8上にアルミナ7、C
ICクラッド材2およびパワー素子(半導体チップ)9
が順次半田シート6′ を介して重ねられこれらを半田
付けした構成となっている。
構成を第8図に示す。同図に示すように、半導体デバイ
ス1′はヒートシンクである銅板8上にアルミナ7、C
ICクラッド材2およびパワー素子(半導体チップ)9
が順次半田シート6′ を介して重ねられこれらを半田
付けした構成となっている。
このような半導体デバイス1′の製造(組立て)におい
ては、例えばCICクラッド材2上の半田付けする部分
にクリーム状半田を塗布し、あるいは所定形状に切断し
たシート状の半田6′を位置決めして載せ、その上にパ
ワー素子9を載せて半田付けを行っている。
ては、例えばCICクラッド材2上の半田付けする部分
にクリーム状半田を塗布し、あるいは所定形状に切断し
たシート状の半田6′を位置決めして載せ、その上にパ
ワー素子9を載せて半田付けを行っている。
しかるにこのような製造方法では、次のような欠点があ
る。
る。
■ CICクラッド材と同一の形状または半田付けする
範囲に対応した形状に半田シート材を切断しなけわばな
らない。
範囲に対応した形状に半田シート材を切断しなけわばな
らない。
■ 半田シート6′の位置決めに手間と時間がかかる。
■ 半田は、軟質のため取扱が難しく、半田シート6′
の曲り等の変形が生じ易いので半田付けの歩留りが低下
する。
の曲り等の変形が生じ易いので半田付けの歩留りが低下
する。
■ 半田付けの個所が多いため、工程数が多くなる。
そこで、半導体デバイスの製造における半LEI付けの
合理化が望まねている。
合理化が望まねている。
〈発明が解決しようとする問題点〉
本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を解消し、半
導体デバイスの製造(組立て)において簡易かつ確実に
半田付けをすることができるクラッド材を提供すること
にある。
導体デバイスの製造(組立て)において簡易かつ確実に
半田付けをすることができるクラッド材を提供すること
にある。
く問題点を解決するための手段〉
このような目的は、以下の本発明によって達成される。
即ち、銅/インバー/銅なる3層構造のクラッド材の片
面または両面の所定部分に、厚さ20〜150μmの半
田層を形成してなることを特徴とするクラッド材を提供
するものである。
面または両面の所定部分に、厚さ20〜150μmの半
田層を形成してなることを特徴とするクラッド材を提供
するものである。
また、前記クラッド材は帯状長尺物であるのかよい。
以下、本発明のクラッド材を添付図面に示す好適実施例
について詳細に説明する。
について詳細に説明する。
第1図〜第6図は、本発明のクラッド材の構成例を示す
斜視図である。これらの図に示すように本発明のクラッ
ド材は、好ましくは帯状長尺物であって、基材としての
CICクラッド材2の片面または両面に半田層6を形成
、好ましくはクラッドした4層または5層構造のクラッ
ド材である。
斜視図である。これらの図に示すように本発明のクラッ
ド材は、好ましくは帯状長尺物であって、基材としての
CICクラッド材2の片面または両面に半田層6を形成
、好ましくはクラッドした4層または5層構造のクラッ
ド材である。
クラッド材とは、異種金属を金属学的に接着一体化した
材料のことをいい、本発明では、基材として熱放散性に
優れかつ導電性に優れているCICクラッド材2、即ち
銅3/インバー4/′fi45なる3層構造のクラッド
材を用いる。
材料のことをいい、本発明では、基材として熱放散性に
優れかつ導電性に優れているCICクラッド材2、即ち
銅3/インバー4/′fi45なる3層構造のクラッド
材を用いる。
ここでインバー4はFe−約36.5%Ni合金であり
、熱膨張係数が低いという特性を有する。
、熱膨張係数が低いという特性を有する。
また、銅3.4は熱伝導体の良好な無酸素銅を用いるの
が好ましいが、Sn入り鋼、Ag入り鋼等の銅系合金を
用いてもよい。
が好ましいが、Sn入り鋼、Ag入り鋼等の銅系合金を
用いてもよい。
なお、CICクラッド材2の構成比は特に限定されない
が特に鋼3:インパー4:銅5=1 : 1 :1(イ
ンバーの体積率か33.3%)程度とするのが熱放散性
に優れる(Mo使用の場合と同程度)ので好ましい。
が特に鋼3:インパー4:銅5=1 : 1 :1(イ
ンバーの体積率か33.3%)程度とするのが熱放散性
に優れる(Mo使用の場合と同程度)ので好ましい。
第1図に示す例えば、上述したCICクラッド材2の両
面全面に半田層6.6を形成(クラッド)した構成とな
っている。なお、半田層6は、CICクラッド材2の両
面形成、片面形成のいずれでもよい。
面全面に半田層6.6を形成(クラッド)した構成とな
っている。なお、半田層6は、CICクラッド材2の両
面形成、片面形成のいずれでもよい。
また、半田層6をCICクラッド材2の片面または両面
の全面にわたって形成(クラッド)する場合の他、CI
Cクラッド材2の必要部分(例えばパワー素子9を半田
付けする部分)にのみ形成(クラッド)することも可能
である。これをインレイクラッドというが、このインレ
イクランドは、機能的にも材料費の面からも有利である
。
の全面にわたって形成(クラッド)する場合の他、CI
Cクラッド材2の必要部分(例えばパワー素子9を半田
付けする部分)にのみ形成(クラッド)することも可能
である。これをインレイクラッドというが、このインレ
イクランドは、機能的にも材料費の面からも有利である
。
このような半田層6をCICクラッド材2に対して部分
的に形成(クラッド)したパターンを第2図〜第6図に
例示する。
的に形成(クラッド)したパターンを第2図〜第6図に
例示する。
第2図はシングルオーバレイタイプ、第3図はダブルオ
ーバレイタイプ、第4図は2条インレイタイプ、第5図
はシングルエツジレイタイプ、第6図はダブルエツジレ
イタイプのクラッド材を示す。このような本発明のクラ
ッド材においては、半田層6がCICクラッド材2の銅
3.5に埋設されており、銅3.5の表面と半田層6の
表面が同一レベルにある。
ーバレイタイプ、第4図は2条インレイタイプ、第5図
はシングルエツジレイタイプ、第6図はダブルエツジレ
イタイプのクラッド材を示す。このような本発明のクラ
ッド材においては、半田層6がCICクラッド材2の銅
3.5に埋設されており、銅3.5の表面と半田層6の
表面が同一レベルにある。
なお、本発明のクラッド材における半田層6の形成パタ
ーンは、上述したものに限らず、上述した構成のものを
任意に組み合せたものまたはその他の構成のものでもよ
い。
ーンは、上述したものに限らず、上述した構成のものを
任意に組み合せたものまたはその他の構成のものでもよ
い。
このような半田層6の厚さは20〜150−とするのが
よい。その理由は、厚さが20−未満であると半田付の
接着強度が低下し、厚さが15〇−を超えると半導体チ
ップが半田中に埋没してしまうからである。なお、半田
層6の厚さが上記範囲内であれば、半田層6を形成する
各部分く例えばCICクラッド材2の表面と裏面)によ
ってその厚さが異なっていてもよい。
よい。その理由は、厚さが20−未満であると半田付の
接着強度が低下し、厚さが15〇−を超えると半導体チ
ップが半田中に埋没してしまうからである。なお、半田
層6の厚さが上記範囲内であれば、半田層6を形成する
各部分く例えばCICクラッド材2の表面と裏面)によ
ってその厚さが異なっていてもよい。
例えば、パワー素子(半導体チップ)9を半田付けする
側の半田層6の厚さを20〜70−1より好ましくは4
0〜50−とし、銅板(基板)8側の半田層6のノソさ
を70−〜150−1より好ましくは100−萌?&と
することができる。
側の半田層6の厚さを20〜70−1より好ましくは4
0〜50−とし、銅板(基板)8側の半田層6のノソさ
を70−〜150−1より好ましくは100−萌?&と
することができる。
また、単1[1層6を構成する半田は、pb−s%Sn
をはじめPb−60%Sn、Pb−5%5n−2,5%
Ag等、半導体チップの実装に用いることができるもの
であわばいかなるものでもよい。
をはじめPb−60%Sn、Pb−5%5n−2,5%
Ag等、半導体チップの実装に用いることができるもの
であわばいかなるものでもよい。
なお、本発明のクラッド材の形態としては、取り扱い上
の点などを考慮して、帯状長尺物とするのが好ましいが
、これを適当な長さに切断して1ピース毎にしたもので
もよい。
の点などを考慮して、帯状長尺物とするのが好ましいが
、これを適当な長さに切断して1ピース毎にしたもので
もよい。
本発明のクラッド材は例えば次のような方法により製造
される。
される。
通常の方法により基材であるCICクラッド材2を製造
し、該CICクラッド材2の片面または両面に半田をロ
ール圧着する。
し、該CICクラッド材2の片面または両面に半田をロ
ール圧着する。
前記第2図〜第6図に示す半田インレイクラッド材を製
造する場合には、予め製造したCICクラッド材2にリ
ボン上の半田または半田線を位1δ合せしてロール圧着
する。製造工程中での材料の取り扱いがし易いという点
で半田線を用いるのが有利であるが、半田層6が比較的
広い幅を必要とする場合には、リボン状の半田を用いる
のがよい。
造する場合には、予め製造したCICクラッド材2にリ
ボン上の半田または半田線を位1δ合せしてロール圧着
する。製造工程中での材料の取り扱いがし易いという点
で半田線を用いるのが有利であるが、半田層6が比較的
広い幅を必要とする場合には、リボン状の半田を用いる
のがよい。
く作用〉
以下、本発明のクラッド材の作用を説明する。
第8図に示すように、半田層6が形成されていないCI
Cクラッド材2を用いて半導体デバイス1の組立てを行
う従来法では、銅板8上に■所定形状に切断した半田シ
ート6′を位置決めして載置しくまたはクリーム状半田
の塗布)、■その上にアルミナ7を載置し、■その上に
所定形状に切断した半田シート6′を位置決めして載置
しくまたはクリーム状半田の塗布)、■その上にCIC
クラッド材2を載置し、■該CICクラッド材2上のパ
ワー素子9を接着する部分に、所定形状に切断した半田
シート6′を位置決めして載置しくまたはクリーム状半
田の塗布)、■その上にパワー素子9を載置し、■これ
らを加熱して半田シート6′を溶融せしめ、半田付けを
行うものである。
Cクラッド材2を用いて半導体デバイス1の組立てを行
う従来法では、銅板8上に■所定形状に切断した半田シ
ート6′を位置決めして載置しくまたはクリーム状半田
の塗布)、■その上にアルミナ7を載置し、■その上に
所定形状に切断した半田シート6′を位置決めして載置
しくまたはクリーム状半田の塗布)、■その上にCIC
クラッド材2を載置し、■該CICクラッド材2上のパ
ワー素子9を接着する部分に、所定形状に切断した半田
シート6′を位置決めして載置しくまたはクリーム状半
田の塗布)、■その上にパワー素子9を載置し、■これ
らを加熱して半田シート6′を溶融せしめ、半田付けを
行うものである。
これに対して、第7図に示すように、本発明のクラッド
材を用いて単導体デバイス1の組立てを行う場合には、
CICクラッド材2に予め中口I層6.6が形成されて
いるため、上記■、■の工程の後、アルミナ7上に本発
明のクラッド材を載置し、次いで上記■、■の工程を行
えばよい。
材を用いて単導体デバイス1の組立てを行う場合には、
CICクラッド材2に予め中口I層6.6が形成されて
いるため、上記■、■の工程の後、アルミナ7上に本発
明のクラッド材を載置し、次いで上記■、■の工程を行
えばよい。
従って、本発明のクラッド材を用いて半導体デバイスの
組立てを行えば、上記■および■の半田シートの切断、
位置決めおよび載置(またはクリーム状半田の塗布)と
いっためんどうな作業が不要となり、半導体デバイスの
生産性が向トする。
組立てを行えば、上記■および■の半田シートの切断、
位置決めおよび載置(またはクリーム状半田の塗布)と
いっためんどうな作業が不要となり、半導体デバイスの
生産性が向トする。
〈発明の効果〉
本発明のクラッド材によれば、CICクラッド材の片面
または両面に予め半田層が形成されているので、これを
用いて単導体デバイスの製造(組立て)を行った場合に
は、従来の製造方法のように、半11シートの切断、位
置決めおよび載置(またはクリーム状半田の塗布)とい
っためんどうな作業が不要となる。その結果、製造工程
数の減少、製造時間の短縮か図られ、単導体デバイスの
生産性が向上するとともに、デバイス製造(組立て)の
自動化にも対応することが可能となる。
または両面に予め半田層が形成されているので、これを
用いて単導体デバイスの製造(組立て)を行った場合に
は、従来の製造方法のように、半11シートの切断、位
置決めおよび載置(またはクリーム状半田の塗布)とい
っためんどうな作業が不要となる。その結果、製造工程
数の減少、製造時間の短縮か図られ、単導体デバイスの
生産性が向上するとともに、デバイス製造(組立て)の
自動化にも対応することが可能となる。
また、半田シートの挿入ミスや、半田シートの曲り等の
変形による半田付けの歩留り低下が生じないことにより
、デバイスの信頼性が向上する。
変形による半田付けの歩留り低下が生じないことにより
、デバイスの信頼性が向上する。
第1図、第2図、第3図、第4図、第5図および第6図
は、各々本発明のクラッド材の構成例を示す斜視図であ
る。 第7図は、本発明のクラッド材を用いて組立てた半導体
デバイスの正面図である。 第8図は、従来のCIGクラッド材を用いて組立てた半
導体デバイスの正面図である。 符合の説明 1.1′・・・半導体デバイス、 2・−C1(:クラッド材、 3.5−・・銅、 4・・−インバー、 6・・・半田層、 6′ ・−半田シート、 7・・・アルミナ、 8・・・銅板、 9−・・パワー素子(半導体チップ) FIG、1
は、各々本発明のクラッド材の構成例を示す斜視図であ
る。 第7図は、本発明のクラッド材を用いて組立てた半導体
デバイスの正面図である。 第8図は、従来のCIGクラッド材を用いて組立てた半
導体デバイスの正面図である。 符合の説明 1.1′・・・半導体デバイス、 2・−C1(:クラッド材、 3.5−・・銅、 4・・−インバー、 6・・・半田層、 6′ ・−半田シート、 7・・・アルミナ、 8・・・銅板、 9−・・パワー素子(半導体チップ) FIG、1
Claims (2)
- (1)銅/インバー/銅なる3層構造のクラッド材の片
面または両面の所定部分に、厚さ20〜150μmの半
田層を形成してなることを特徴とするクラッド材。 - (2)前記クラッド材は帯状長尺物である特許請求の範
囲第1項に記載のクラッド材。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24930886A JPS63102326A (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | クラツド材 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24930886A JPS63102326A (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | クラツド材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63102326A true JPS63102326A (ja) | 1988-05-07 |
Family
ID=17191053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24930886A Pending JPS63102326A (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | クラツド材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63102326A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1993024939A1 (en) * | 1992-06-02 | 1993-12-09 | Advanced Circuit Technology, Inc. | Laminated conductive material, multiple conductor cables and methods of manufacturing such cables |
US5939214A (en) * | 1989-05-31 | 1999-08-17 | Advanced Technology Interconnect, Incorporated | Thermal performance package for integrated circuit chip |
US5952719A (en) * | 1995-07-14 | 1999-09-14 | Advanced Interconnect Technologies, Inc. | Metal ball grid electronic package having improved solder joint |
US6693350B2 (en) | 1999-11-24 | 2004-02-17 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure |
US6703707B1 (en) | 1999-11-24 | 2004-03-09 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6946730B2 (en) | 2001-04-25 | 2005-09-20 | Denso Corporation | Semiconductor device having heat conducting plate |
JP2010237172A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Toshiba Corp | Fmcw信号生成回路 |
WO2016171122A1 (ja) * | 2015-04-21 | 2016-10-27 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6016539B2 (ja) * | 1978-04-11 | 1985-04-26 | 油谷重工株式会社 | 油圧シヨベルの4ポンプ回路 |
JPS61176485A (ja) * | 1985-01-29 | 1986-08-08 | Hitachi Cable Ltd | 銅−半田インレイクラツド材の製造方法 |
-
1986
- 1986-10-20 JP JP24930886A patent/JPS63102326A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6016539B2 (ja) * | 1978-04-11 | 1985-04-26 | 油谷重工株式会社 | 油圧シヨベルの4ポンプ回路 |
JPS61176485A (ja) * | 1985-01-29 | 1986-08-08 | Hitachi Cable Ltd | 銅−半田インレイクラツド材の製造方法 |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5939214A (en) * | 1989-05-31 | 1999-08-17 | Advanced Technology Interconnect, Incorporated | Thermal performance package for integrated circuit chip |
WO1993024939A1 (en) * | 1992-06-02 | 1993-12-09 | Advanced Circuit Technology, Inc. | Laminated conductive material, multiple conductor cables and methods of manufacturing such cables |
US5274195A (en) * | 1992-06-02 | 1993-12-28 | Advanced Circuit Technology, Inc. | Laminated conductive material, multiple conductor cables and methods of manufacturing such cables |
US5952719A (en) * | 1995-07-14 | 1999-09-14 | Advanced Interconnect Technologies, Inc. | Metal ball grid electronic package having improved solder joint |
US6992383B2 (en) | 1999-11-24 | 2006-01-31 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6703707B1 (en) | 1999-11-24 | 2004-03-09 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6798062B2 (en) | 1999-11-24 | 2004-09-28 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6891265B2 (en) | 1999-11-24 | 2005-05-10 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6960825B2 (en) | 1999-11-24 | 2005-11-01 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6967404B2 (en) | 1999-11-24 | 2005-11-22 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6693350B2 (en) | 1999-11-24 | 2004-02-17 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure |
US6998707B2 (en) | 1999-11-24 | 2006-02-14 | Denso Corporation | Semiconductor device having radiation structure |
US6946730B2 (en) | 2001-04-25 | 2005-09-20 | Denso Corporation | Semiconductor device having heat conducting plate |
US6963133B2 (en) | 2001-04-25 | 2005-11-08 | Denso Corporation | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device |
JP2010237172A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Toshiba Corp | Fmcw信号生成回路 |
WO2016171122A1 (ja) * | 2015-04-21 | 2016-10-27 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0313331A (ja) | 熱膨張係数及び熱伝導率可変複合材料 | |
JP2000174399A (ja) | 立体配線基板とその製造方法および基板用絶縁材料 | |
US5531860A (en) | Structure and method for providing a lead frame with enhanced solder wetting leads | |
JPS63102326A (ja) | クラツド材 | |
JP2797958B2 (ja) | 光半導体素子接合構造と接合方法 | |
JPS62166090A (ja) | 金属部品の接合方法 | |
JPS60242653A (ja) | リ−ドフレ−ム用複合材 | |
JPH02231751A (ja) | リードフレーム用材料 | |
JP4910789B2 (ja) | パワー素子搭載用基板およびパワー素子搭載用基板の製造方法並びにパワーモジュール | |
JPH05109947A (ja) | 熱伝導材料とその製造方法 | |
KR940010910B1 (ko) | 반도체 패키지 | |
JPH10193168A (ja) | 銅合金ブレージングシート | |
JPS6320189A (ja) | アルミニウム−鉄・ニツケル合金−半田クラツド材およびこれを用いたic装置の製造方法 | |
JPS61150253A (ja) | 半導体リ−ドフレ−ム | |
JPH01220494A (ja) | 多層配線基板 | |
JP2602161B2 (ja) | 高放熱性集積回路パッケージ | |
JP2536582B2 (ja) | 半導体装置組立用Au−Ag複合ろう材 | |
US5355017A (en) | Lead frame having a die pad with metal foil layers attached to the surfaces | |
JPH04230063A (ja) | 多層ヒートシンク | |
JP2000349351A (ja) | 熱電モジュール | |
JPS60130132A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JPS5844597Y2 (ja) | Icパツケ−ジ用リ−ド構造 | |
JPH03290957A (ja) | プラスチックスパッケージ用リードフレーム材料 | |
JPH03290956A (ja) | プラスチックスパッケージ用リードフレーム材料 | |
JPH056949A (ja) | ヒ−トシンク |