JPS63102326A - クラツド材 - Google Patents

クラツド材

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JPS63102326A
JPS63102326A JP24930886A JP24930886A JPS63102326A JP S63102326 A JPS63102326 A JP S63102326A JP 24930886 A JP24930886 A JP 24930886A JP 24930886 A JP24930886 A JP 24930886A JP S63102326 A JPS63102326 A JP S63102326A
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JP
Japan
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solder
cladding material
copper
cic
clad material
Prior art date
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Pending
Application number
JP24930886A
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English (en)
Inventor
Masahiko Abe
雅彦 阿部
Zenichi Yoshida
善一 吉田
Fumio Horii
堀井 文夫
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、主に半導体デバイスにおける半導体チップ(
パワー素子)とアルミナ間の支持電極の材料として使用
されるクラッド材に関する。
〈従来の技術〉 近年パワー半専体デバイスの高集積化、大容量化に伴な
い、パワー素子の実装法はますます多岐にわたっている
このような状況に対応するパワー素子搭載用電極材料と
しては、(1)パワー素子の稼動時に発生する熱を速や
かに拡散させるために熱伝導性の良いこと、(2)発明
に伴なう電極材料と素子間の熱応力を抑えるように、熱
膨張係数が素子その他構成材料との間で整合かとれてい
ること、(3)寸法積度の高い加工が容易であること、
(4)更に素子の接合が容易であること、などの性質が
要求される。
そこで、通常パワー素子は電極材料としての鋼板と、そ
の上に熱膨張係数整合用のMo、Wを介してはんだ付け
さ九ることか多い。しかしMo、WはfT源的に稀少で
製造コストも高いため、かねてからその代替材料が望ま
れていた。
このような状況に鑑み、Mo、Wの役目を兼ね備えた電
極材料として、熱伝専の良好な無酸素鋼と熱膨張の少な
いインバー(Fe−約36.5%Ni合金)からなる銅
/インバー/銅3層クラッド材(以下、CICクラッド
材と略す)か提案されている。
このようなCICクラッド材を用いた半専体デバイスの
構成を第8図に示す。同図に示すように、半導体デバイ
ス1′はヒートシンクである銅板8上にアルミナ7、C
ICクラッド材2およびパワー素子(半導体チップ)9
が順次半田シート6′ を介して重ねられこれらを半田
付けした構成となっている。
このような半導体デバイス1′の製造(組立て)におい
ては、例えばCICクラッド材2上の半田付けする部分
にクリーム状半田を塗布し、あるいは所定形状に切断し
たシート状の半田6′を位置決めして載せ、その上にパ
ワー素子9を載せて半田付けを行っている。
しかるにこのような製造方法では、次のような欠点があ
る。
■ CICクラッド材と同一の形状または半田付けする
範囲に対応した形状に半田シート材を切断しなけわばな
らない。
■ 半田シート6′の位置決めに手間と時間がかかる。
■ 半田は、軟質のため取扱が難しく、半田シート6′
の曲り等の変形が生じ易いので半田付けの歩留りが低下
する。
■ 半田付けの個所が多いため、工程数が多くなる。
そこで、半導体デバイスの製造における半LEI付けの
合理化が望まねている。
〈発明が解決しようとする問題点〉 本発明の目的は、上述した従来技術の欠点を解消し、半
導体デバイスの製造(組立て)において簡易かつ確実に
半田付けをすることができるクラッド材を提供すること
にある。
く問題点を解決するための手段〉 このような目的は、以下の本発明によって達成される。
即ち、銅/インバー/銅なる3層構造のクラッド材の片
面または両面の所定部分に、厚さ20〜150μmの半
田層を形成してなることを特徴とするクラッド材を提供
するものである。
また、前記クラッド材は帯状長尺物であるのかよい。
以下、本発明のクラッド材を添付図面に示す好適実施例
について詳細に説明する。
第1図〜第6図は、本発明のクラッド材の構成例を示す
斜視図である。これらの図に示すように本発明のクラッ
ド材は、好ましくは帯状長尺物であって、基材としての
CICクラッド材2の片面または両面に半田層6を形成
、好ましくはクラッドした4層または5層構造のクラッ
ド材である。
クラッド材とは、異種金属を金属学的に接着一体化した
材料のことをいい、本発明では、基材として熱放散性に
優れかつ導電性に優れているCICクラッド材2、即ち
銅3/インバー4/′fi45なる3層構造のクラッド
材を用いる。
ここでインバー4はFe−約36.5%Ni合金であり
、熱膨張係数が低いという特性を有する。
また、銅3.4は熱伝導体の良好な無酸素銅を用いるの
が好ましいが、Sn入り鋼、Ag入り鋼等の銅系合金を
用いてもよい。
なお、CICクラッド材2の構成比は特に限定されない
が特に鋼3:インパー4:銅5=1 : 1 :1(イ
ンバーの体積率か33.3%)程度とするのが熱放散性
に優れる(Mo使用の場合と同程度)ので好ましい。
第1図に示す例えば、上述したCICクラッド材2の両
面全面に半田層6.6を形成(クラッド)した構成とな
っている。なお、半田層6は、CICクラッド材2の両
面形成、片面形成のいずれでもよい。
また、半田層6をCICクラッド材2の片面または両面
の全面にわたって形成(クラッド)する場合の他、CI
Cクラッド材2の必要部分(例えばパワー素子9を半田
付けする部分)にのみ形成(クラッド)することも可能
である。これをインレイクラッドというが、このインレ
イクランドは、機能的にも材料費の面からも有利である
このような半田層6をCICクラッド材2に対して部分
的に形成(クラッド)したパターンを第2図〜第6図に
例示する。
第2図はシングルオーバレイタイプ、第3図はダブルオ
ーバレイタイプ、第4図は2条インレイタイプ、第5図
はシングルエツジレイタイプ、第6図はダブルエツジレ
イタイプのクラッド材を示す。このような本発明のクラ
ッド材においては、半田層6がCICクラッド材2の銅
3.5に埋設されており、銅3.5の表面と半田層6の
表面が同一レベルにある。
なお、本発明のクラッド材における半田層6の形成パタ
ーンは、上述したものに限らず、上述した構成のものを
任意に組み合せたものまたはその他の構成のものでもよ
い。
このような半田層6の厚さは20〜150−とするのが
よい。その理由は、厚さが20−未満であると半田付の
接着強度が低下し、厚さが15〇−を超えると半導体チ
ップが半田中に埋没してしまうからである。なお、半田
層6の厚さが上記範囲内であれば、半田層6を形成する
各部分く例えばCICクラッド材2の表面と裏面)によ
ってその厚さが異なっていてもよい。
例えば、パワー素子(半導体チップ)9を半田付けする
側の半田層6の厚さを20〜70−1より好ましくは4
0〜50−とし、銅板(基板)8側の半田層6のノソさ
を70−〜150−1より好ましくは100−萌?&と
することができる。
また、単1[1層6を構成する半田は、pb−s%Sn
をはじめPb−60%Sn、Pb−5%5n−2,5%
Ag等、半導体チップの実装に用いることができるもの
であわばいかなるものでもよい。
なお、本発明のクラッド材の形態としては、取り扱い上
の点などを考慮して、帯状長尺物とするのが好ましいが
、これを適当な長さに切断して1ピース毎にしたもので
もよい。
本発明のクラッド材は例えば次のような方法により製造
される。
通常の方法により基材であるCICクラッド材2を製造
し、該CICクラッド材2の片面または両面に半田をロ
ール圧着する。
前記第2図〜第6図に示す半田インレイクラッド材を製
造する場合には、予め製造したCICクラッド材2にリ
ボン上の半田または半田線を位1δ合せしてロール圧着
する。製造工程中での材料の取り扱いがし易いという点
で半田線を用いるのが有利であるが、半田層6が比較的
広い幅を必要とする場合には、リボン状の半田を用いる
のがよい。
く作用〉 以下、本発明のクラッド材の作用を説明する。
第8図に示すように、半田層6が形成されていないCI
Cクラッド材2を用いて半導体デバイス1の組立てを行
う従来法では、銅板8上に■所定形状に切断した半田シ
ート6′を位置決めして載置しくまたはクリーム状半田
の塗布)、■その上にアルミナ7を載置し、■その上に
所定形状に切断した半田シート6′を位置決めして載置
しくまたはクリーム状半田の塗布)、■その上にCIC
クラッド材2を載置し、■該CICクラッド材2上のパ
ワー素子9を接着する部分に、所定形状に切断した半田
シート6′を位置決めして載置しくまたはクリーム状半
田の塗布)、■その上にパワー素子9を載置し、■これ
らを加熱して半田シート6′を溶融せしめ、半田付けを
行うものである。
これに対して、第7図に示すように、本発明のクラッド
材を用いて単導体デバイス1の組立てを行う場合には、
CICクラッド材2に予め中口I層6.6が形成されて
いるため、上記■、■の工程の後、アルミナ7上に本発
明のクラッド材を載置し、次いで上記■、■の工程を行
えばよい。
従って、本発明のクラッド材を用いて半導体デバイスの
組立てを行えば、上記■および■の半田シートの切断、
位置決めおよび載置(またはクリーム状半田の塗布)と
いっためんどうな作業が不要となり、半導体デバイスの
生産性が向トする。
〈発明の効果〉 本発明のクラッド材によれば、CICクラッド材の片面
または両面に予め半田層が形成されているので、これを
用いて単導体デバイスの製造(組立て)を行った場合に
は、従来の製造方法のように、半11シートの切断、位
置決めおよび載置(またはクリーム状半田の塗布)とい
っためんどうな作業が不要となる。その結果、製造工程
数の減少、製造時間の短縮か図られ、単導体デバイスの
生産性が向上するとともに、デバイス製造(組立て)の
自動化にも対応することが可能となる。
また、半田シートの挿入ミスや、半田シートの曲り等の
変形による半田付けの歩留り低下が生じないことにより
、デバイスの信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図、第4図、第5図および第6図
は、各々本発明のクラッド材の構成例を示す斜視図であ
る。 第7図は、本発明のクラッド材を用いて組立てた半導体
デバイスの正面図である。 第8図は、従来のCIGクラッド材を用いて組立てた半
導体デバイスの正面図である。 符合の説明 1.1′・・・半導体デバイス、 2・−C1(:クラッド材、 3.5−・・銅、 4・・−インバー、 6・・・半田層、 6′ ・−半田シート、 7・・・アルミナ、 8・・・銅板、 9−・・パワー素子(半導体チップ) FIG、1

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)銅/インバー/銅なる3層構造のクラッド材の片
    面または両面の所定部分に、厚さ20〜150μmの半
    田層を形成してなることを特徴とするクラッド材。
  2. (2)前記クラッド材は帯状長尺物である特許請求の範
    囲第1項に記載のクラッド材。
JP24930886A 1986-10-20 1986-10-20 クラツド材 Pending JPS63102326A (ja)

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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993024939A1 (en) * 1992-06-02 1993-12-09 Advanced Circuit Technology, Inc. Laminated conductive material, multiple conductor cables and methods of manufacturing such cables
US5939214A (en) * 1989-05-31 1999-08-17 Advanced Technology Interconnect, Incorporated Thermal performance package for integrated circuit chip
US5952719A (en) * 1995-07-14 1999-09-14 Advanced Interconnect Technologies, Inc. Metal ball grid electronic package having improved solder joint
US6693350B2 (en) 1999-11-24 2004-02-17 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure
US6703707B1 (en) 1999-11-24 2004-03-09 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6946730B2 (en) 2001-04-25 2005-09-20 Denso Corporation Semiconductor device having heat conducting plate
JP2010237172A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Toshiba Corp Fmcw信号生成回路
WO2016171122A1 (ja) * 2015-04-21 2016-10-27 三菱電機株式会社 半導体装置及びその製造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6016539B2 (ja) * 1978-04-11 1985-04-26 油谷重工株式会社 油圧シヨベルの4ポンプ回路
JPS61176485A (ja) * 1985-01-29 1986-08-08 Hitachi Cable Ltd 銅−半田インレイクラツド材の製造方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6016539B2 (ja) * 1978-04-11 1985-04-26 油谷重工株式会社 油圧シヨベルの4ポンプ回路
JPS61176485A (ja) * 1985-01-29 1986-08-08 Hitachi Cable Ltd 銅−半田インレイクラツド材の製造方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5939214A (en) * 1989-05-31 1999-08-17 Advanced Technology Interconnect, Incorporated Thermal performance package for integrated circuit chip
WO1993024939A1 (en) * 1992-06-02 1993-12-09 Advanced Circuit Technology, Inc. Laminated conductive material, multiple conductor cables and methods of manufacturing such cables
US5274195A (en) * 1992-06-02 1993-12-28 Advanced Circuit Technology, Inc. Laminated conductive material, multiple conductor cables and methods of manufacturing such cables
US5952719A (en) * 1995-07-14 1999-09-14 Advanced Interconnect Technologies, Inc. Metal ball grid electronic package having improved solder joint
US6992383B2 (en) 1999-11-24 2006-01-31 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6703707B1 (en) 1999-11-24 2004-03-09 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6798062B2 (en) 1999-11-24 2004-09-28 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6891265B2 (en) 1999-11-24 2005-05-10 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6960825B2 (en) 1999-11-24 2005-11-01 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6967404B2 (en) 1999-11-24 2005-11-22 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6693350B2 (en) 1999-11-24 2004-02-17 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure and method for manufacturing semiconductor device having radiation structure
US6998707B2 (en) 1999-11-24 2006-02-14 Denso Corporation Semiconductor device having radiation structure
US6946730B2 (en) 2001-04-25 2005-09-20 Denso Corporation Semiconductor device having heat conducting plate
US6963133B2 (en) 2001-04-25 2005-11-08 Denso Corporation Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device
JP2010237172A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Toshiba Corp Fmcw信号生成回路
WO2016171122A1 (ja) * 2015-04-21 2016-10-27 三菱電機株式会社 半導体装置及びその製造方法

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