JPS6357935B2 - - Google Patents
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- JPS6357935B2 JPS6357935B2 JP57107146A JP10714682A JPS6357935B2 JP S6357935 B2 JPS6357935 B2 JP S6357935B2 JP 57107146 A JP57107146 A JP 57107146A JP 10714682 A JP10714682 A JP 10714682A JP S6357935 B2 JPS6357935 B2 JP S6357935B2
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
Description
本発明は電解コンデンサに使用されるアルミニ
ウム箔のエツチング方法に関するものである。 電解コンデンサに使用されるアルミニウム箔の
表面積の増大化をはかるためにアルミニウム箔を
エツチング処理することは周知であり、当該エツ
チング方法として化学的処理方法と電気化学的処
理方法とがある。一方の電気化学的処理方法とし
ては、直流エツチング方法、交流エツチング方法
もしくは交流に直流を重畳したエツチング方法が
ある。 従来の交流エツチング方法においては、正弦波
による交流電源または方形波による交流電源を使
用している。そして、これらのエツチング電源波
形の正側および負側の波形は対称波形を用いるこ
とが多い。また、その電源周波数としては50[Hz]
または60[Hz]の商用周波数のほか、3〜30[Hz]
の低周波数(特公昭54−43177号公報参照)が利
用されている。この場合、高容量のエツチング箔
を得るためにエツチング電源周波数を10[Hz]前
後の極めて低い周波数にしなければならず、電源
のトランス効率が悪く、極めて大きなトランスを
必要とし設備の増大を招くことになる。さらに、
エツチング電源に関して、交流波形に直流成分を
重畳し、正の電気量と負の電気量の比が3乃至60
とした非対称交流電源を利用したもの(特公昭43
−29976号公報参照)、また10乃至100[Hz]のパル
ス波に直流成分を重畳したもの(特公昭44−
13458号公報参照)がある。 しかしながら、上述のいずれのエツチング電源
およびその他の電解も全てアルミニウム箔に印加
される電気量は、交流エツチング方法にあつては
正の電気量≧負の電気量の関係にある。つまり、
電源波形の正側印加時間≧負側印加時間となつて
いる。 ところで、本発明は従来方法とは逆にエツチン
グ電源について、正側印加時間<負側印加時間で
あり、かつ正の電気量<負の電気量とし、正電位
と負電位の絶対値の最大値を同一とした電源によ
りアルミニウム箔をエツチング処理する方法を提
供するもので、本方法によりさらに高容量のエツ
チング箔を得ることができるものである。 先ず、第1図a,bに本発明に関する電源の波
形を示すが、いずれも非対称波形であり、同図b
は方形波を示す。正電位+Eと負電位−Eの絶対
値の最大値は同一である。アルミニウム箔に印加
される電気量および印加時間については、正の電
気量<負の電気量であり、正側印加時間<負側印
加時間の関係にあり、その比率を1:2〜1:5
の範囲とすることにより高容量のエツチング箔を
得ることができる。また、電源周波数については
10〜60[Hz]について適用できるものである。 次に、従来例と本発明の実施例の比較を行う。
従来例1、2、3および本発明実施例ともに、箔
厚65[μm]で、純度99.98[%]のアルミニウム
箔を使用し、塩酸もしくはその塩類を主体とした
水溶液にアルミニウム箔表面の溶解を防止するた
めの酸もしくはその塩類を含む液温50[℃]の電
解液により、エツチング電流密度400[mA/cm2]、
電気量1400[mA/min/cm2]の条件でアルミニ
ウム箔をエツチングした後に、リン酸2.0[wt%]
で洗浄し、不要な塩素分を取り除き、次に液温80
[℃]の化成液にて化成電圧100[V]、化成時間は
所定化成電圧到達後30分間の条件で化成する。た
だ、エツチング電源の周波数、波形などはそれぞ
れ異なり、従来例1では電源周波数は50[Hz]で
正弦波を使用し、正電位と負電位の比率および正
側印加時間と負側印加時間の比率はそれぞれ1:
1である。従来例2では、電源周波数は60[Hz]
で、波形としてはパルス波に直流成分を重畳した
ものを使用し、正電位と負電位の比率は4:1で
正側印加時間と負側印加時間の比率は9:1であ
る。従来例3では、電源周波数は20[Hz]で正弦
波を使用し、正電位と負電位の比率および正側印
加時間と負側印加時間の比率はそれぞれ1:1で
ある。なお、本発明実施例では電源周波数は50
[Hz]で、波形としては第1図bに示した方形波
を使用し、正電位と負電位の比率は1:1で正側
印加時間と負側印加時間の比率は1:3である。
エツチング液は塩酸8.0[wt%]、塩化ナトリウム
1.0[wt%]、硫酸0.01[wt%]、リン酸0.5[wt%]、
蓚酸アンモン0.2[wt%]からなる。また、化成液
はリン酸0.1[wt%]、アンモニア0.15[wt%]から
なる。 第1表に本発明実施例および従来例1、2、3
により得られたエツチング箔の容量と箔強度の比
較を示す。
ウム箔のエツチング方法に関するものである。 電解コンデンサに使用されるアルミニウム箔の
表面積の増大化をはかるためにアルミニウム箔を
エツチング処理することは周知であり、当該エツ
チング方法として化学的処理方法と電気化学的処
理方法とがある。一方の電気化学的処理方法とし
ては、直流エツチング方法、交流エツチング方法
もしくは交流に直流を重畳したエツチング方法が
ある。 従来の交流エツチング方法においては、正弦波
による交流電源または方形波による交流電源を使
用している。そして、これらのエツチング電源波
形の正側および負側の波形は対称波形を用いるこ
とが多い。また、その電源周波数としては50[Hz]
または60[Hz]の商用周波数のほか、3〜30[Hz]
の低周波数(特公昭54−43177号公報参照)が利
用されている。この場合、高容量のエツチング箔
を得るためにエツチング電源周波数を10[Hz]前
後の極めて低い周波数にしなければならず、電源
のトランス効率が悪く、極めて大きなトランスを
必要とし設備の増大を招くことになる。さらに、
エツチング電源に関して、交流波形に直流成分を
重畳し、正の電気量と負の電気量の比が3乃至60
とした非対称交流電源を利用したもの(特公昭43
−29976号公報参照)、また10乃至100[Hz]のパル
ス波に直流成分を重畳したもの(特公昭44−
13458号公報参照)がある。 しかしながら、上述のいずれのエツチング電源
およびその他の電解も全てアルミニウム箔に印加
される電気量は、交流エツチング方法にあつては
正の電気量≧負の電気量の関係にある。つまり、
電源波形の正側印加時間≧負側印加時間となつて
いる。 ところで、本発明は従来方法とは逆にエツチン
グ電源について、正側印加時間<負側印加時間で
あり、かつ正の電気量<負の電気量とし、正電位
と負電位の絶対値の最大値を同一とした電源によ
りアルミニウム箔をエツチング処理する方法を提
供するもので、本方法によりさらに高容量のエツ
チング箔を得ることができるものである。 先ず、第1図a,bに本発明に関する電源の波
形を示すが、いずれも非対称波形であり、同図b
は方形波を示す。正電位+Eと負電位−Eの絶対
値の最大値は同一である。アルミニウム箔に印加
される電気量および印加時間については、正の電
気量<負の電気量であり、正側印加時間<負側印
加時間の関係にあり、その比率を1:2〜1:5
の範囲とすることにより高容量のエツチング箔を
得ることができる。また、電源周波数については
10〜60[Hz]について適用できるものである。 次に、従来例と本発明の実施例の比較を行う。
従来例1、2、3および本発明実施例ともに、箔
厚65[μm]で、純度99.98[%]のアルミニウム
箔を使用し、塩酸もしくはその塩類を主体とした
水溶液にアルミニウム箔表面の溶解を防止するた
めの酸もしくはその塩類を含む液温50[℃]の電
解液により、エツチング電流密度400[mA/cm2]、
電気量1400[mA/min/cm2]の条件でアルミニ
ウム箔をエツチングした後に、リン酸2.0[wt%]
で洗浄し、不要な塩素分を取り除き、次に液温80
[℃]の化成液にて化成電圧100[V]、化成時間は
所定化成電圧到達後30分間の条件で化成する。た
だ、エツチング電源の周波数、波形などはそれぞ
れ異なり、従来例1では電源周波数は50[Hz]で
正弦波を使用し、正電位と負電位の比率および正
側印加時間と負側印加時間の比率はそれぞれ1:
1である。従来例2では、電源周波数は60[Hz]
で、波形としてはパルス波に直流成分を重畳した
ものを使用し、正電位と負電位の比率は4:1で
正側印加時間と負側印加時間の比率は9:1であ
る。従来例3では、電源周波数は20[Hz]で正弦
波を使用し、正電位と負電位の比率および正側印
加時間と負側印加時間の比率はそれぞれ1:1で
ある。なお、本発明実施例では電源周波数は50
[Hz]で、波形としては第1図bに示した方形波
を使用し、正電位と負電位の比率は1:1で正側
印加時間と負側印加時間の比率は1:3である。
エツチング液は塩酸8.0[wt%]、塩化ナトリウム
1.0[wt%]、硫酸0.01[wt%]、リン酸0.5[wt%]、
蓚酸アンモン0.2[wt%]からなる。また、化成液
はリン酸0.1[wt%]、アンモニア0.15[wt%]から
なる。 第1表に本発明実施例および従来例1、2、3
により得られたエツチング箔の容量と箔強度の比
較を示す。
【表】
第1表から判るように、本発明実施例による
と、エツチング箔の折曲げ強度および引張強度を
損うことなく、箔容量を2.60[μF/cm2]と著しく
向上することができるものである。 次に、エツチング電源周波数10、30、50、60
[Hz]の各状態において、電源正側印加時間と負
側印加時間の比率1:1〜1:6により得られた
エツチング箔の容量の変化を第2図に示す。さら
に、エツチング電源の正側印加時間と負側印加時
間の比率1:2、1:3、1:5、1:6の各状
態において、電源周波数10〜70[Hz]により得ら
れたエツチング箔の容量の変化を第3図に示す。 第2図および第3図を参照して、本発明のエツ
チング方法においては、エツチング電源周波数の
範囲が30〜60[Hz]で、電源のアルミニウム箔に
対する印加時間を正側印加時間<負側印加時間の
関係とすることにより、特にその比率では1:2
〜1:5の範囲において高容量のエツチング箔を
得ることができるものである。また、電源周波数
を30〜60[Hz]と高くすることができるために電
源トランス効率の向上ができ、これによりトラン
スの小形化が可能となると共に設備価格の低減を
はかることができるものである。 なお、上述ではエツチング電源の波形として第
1図bに示したような方形波を使用した場合につ
いて説明したが、同図aに示すような非対称波で
も同様な効果を奏するものである。
と、エツチング箔の折曲げ強度および引張強度を
損うことなく、箔容量を2.60[μF/cm2]と著しく
向上することができるものである。 次に、エツチング電源周波数10、30、50、60
[Hz]の各状態において、電源正側印加時間と負
側印加時間の比率1:1〜1:6により得られた
エツチング箔の容量の変化を第2図に示す。さら
に、エツチング電源の正側印加時間と負側印加時
間の比率1:2、1:3、1:5、1:6の各状
態において、電源周波数10〜70[Hz]により得ら
れたエツチング箔の容量の変化を第3図に示す。 第2図および第3図を参照して、本発明のエツ
チング方法においては、エツチング電源周波数の
範囲が30〜60[Hz]で、電源のアルミニウム箔に
対する印加時間を正側印加時間<負側印加時間の
関係とすることにより、特にその比率では1:2
〜1:5の範囲において高容量のエツチング箔を
得ることができるものである。また、電源周波数
を30〜60[Hz]と高くすることができるために電
源トランス効率の向上ができ、これによりトラン
スの小形化が可能となると共に設備価格の低減を
はかることができるものである。 なお、上述ではエツチング電源の波形として第
1図bに示したような方形波を使用した場合につ
いて説明したが、同図aに示すような非対称波で
も同様な効果を奏するものである。
第1図a,bは本発明に係るエツチング電源の
波形図、第2図および第3図は本発明に係るエツ
チング方法により得られたエツチング箔の特性図
である。
波形図、第2図および第3図は本発明に係るエツ
チング方法により得られたエツチング箔の特性図
である。
Claims (1)
- 1 エツチング電源の周波数を30〜60[Hz]とし、
電源波形の正電位と負電位の絶対値の最大値を同
一値とし、電源のアルミニウム箔への正側印加時
間<負側印加時間とし、正側印加時間と負側印加
時間の比率を1:2〜1:5とし、かつ正の電気
量<負の電気量とした条件による方形波により電
解液中のアルミニウム箔をエツチングすることを
特徴とした電解コンデンサ用アルミニウム箔のエ
ツチング方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10714682A JPS58223311A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 電解コンデンサ用アルミニウム箔のエツチング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10714682A JPS58223311A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 電解コンデンサ用アルミニウム箔のエツチング方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58223311A JPS58223311A (ja) | 1983-12-24 |
JPS6357935B2 true JPS6357935B2 (ja) | 1988-11-14 |
Family
ID=14451674
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10714682A Granted JPS58223311A (ja) | 1982-06-22 | 1982-06-22 | 電解コンデンサ用アルミニウム箔のエツチング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58223311A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0321216U (ja) * | 1989-07-10 | 1991-03-01 | ||
JPH0372645U (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-23 | ||
JPH0511827U (ja) * | 1991-07-29 | 1993-02-19 | 忠隆 杉山 | 手掛け |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0665208B2 (ja) * | 1984-06-07 | 1994-08-22 | 松下電器産業株式会社 | アルミニウム電解コンデンサ |
JPH0760782B2 (ja) * | 1984-11-19 | 1995-06-28 | 松下電器産業株式会社 | アルミニウム電解コンデンサ用電極箔の製造方法 |
JPS6288315A (ja) * | 1985-10-15 | 1987-04-22 | 長井電子工業協同組合 | 電解コンデンサ用アルミ箔のエツチング方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5343640A (en) * | 1976-10-01 | 1978-04-19 | Hitachi Denkaihaku Kenkyusho | Electrolytic etching method for aluminum |
-
1982
- 1982-06-22 JP JP10714682A patent/JPS58223311A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5343640A (en) * | 1976-10-01 | 1978-04-19 | Hitachi Denkaihaku Kenkyusho | Electrolytic etching method for aluminum |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0321216U (ja) * | 1989-07-10 | 1991-03-01 | ||
JPH0372645U (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-23 | ||
JPH0511827U (ja) * | 1991-07-29 | 1993-02-19 | 忠隆 杉山 | 手掛け |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58223311A (ja) | 1983-12-24 |
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