JPS6357776A - 堆積膜形成法 - Google Patents
堆積膜形成法Info
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
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- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08278—Depositing methods
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、機能性膜、殊に半導体デノくイスあるいは電
子写真用の感光デバイスや光起電力素子、例えば画像入
力用のラインセンサー、撮像デノくイスなどに用いるア
モルファス状あるいは多結晶状等の非単結晶状のシリコ
ン含有堆積膜を形成するのに好適な方法に関する。
子写真用の感光デバイスや光起電力素子、例えば画像入
力用のラインセンサー、撮像デノくイスなどに用いるア
モルファス状あるいは多結晶状等の非単結晶状のシリコ
ン含有堆積膜を形成するのに好適な方法に関する。
たとえば、アモルファスシリコン膜の形成には、真空蒸
着法、プラズマCVD法、、CVD法9法部反応性スパ
ッタリング法オンブレーティング法、光CVD法などが
試みられており、一般的には、プラズマCVD法が広く
用いられ企業化されている。
着法、プラズマCVD法、、CVD法9法部反応性スパ
ッタリング法オンブレーティング法、光CVD法などが
試みられており、一般的には、プラズマCVD法が広く
用いられ企業化されている。
しかしながら、アモルファスシリコンで構成される堆積
膜は、電気的、光学的特性及び繰返し使用での疲労特性
あるいは使用環境特性、さらには均一性、再現性を含め
た生産性、旦産性の点にお、いて、さらに総合的な特性
の向上を図る余地がある。
膜は、電気的、光学的特性及び繰返し使用での疲労特性
あるいは使用環境特性、さらには均一性、再現性を含め
た生産性、旦産性の点にお、いて、さらに総合的な特性
の向上を図る余地がある。
従来から一般化されているプラズマCVD法によるアモ
ルファスシリコン堆積膜の形成においての反応ブコセス
は、従来のCVD法に比較してかなり複雑であり、その
反応機構も不明な点が少なくなかった。
ルファスシリコン堆積膜の形成においての反応ブコセス
は、従来のCVD法に比較してかなり複雑であり、その
反応機構も不明な点が少なくなかった。
また、その堆積膜の形成パラメーターも多く(たとえば
、基体温度、導入ガスの流量と比、形成ni?の圧力、
高周波電力、電極構造、反応容器の構造、排気速度、プ
ラズマ発生方式など)、これらの多くのパラメータの組
み合せによるため時にはプラズマが不安定な状態になり
、形成された堆積膜に著しい悪影響を与えることが少な
くなかった。そのうえ、装置特有のパラメーター装置ご
とに選定しなければならず、したがって、製造条件を一
般化することがむずかしいというのが実状であった。
、基体温度、導入ガスの流量と比、形成ni?の圧力、
高周波電力、電極構造、反応容器の構造、排気速度、プ
ラズマ発生方式など)、これらの多くのパラメータの組
み合せによるため時にはプラズマが不安定な状態になり
、形成された堆積膜に著しい悪影響を与えることが少な
くなかった。そのうえ、装置特有のパラメーター装置ご
とに選定しなければならず、したがって、製造条件を一
般化することがむずかしいというのが実状であった。
一方、アモルファスシリコン膜として電気的、光学的特
性が各用途を十分に満足させ得るものを発現させるには
、現状ではプラズマCVD法によって形成することが最
良とされている。
性が各用途を十分に満足させ得るものを発現させるには
、現状ではプラズマCVD法によって形成することが最
良とされている。
しかしながら、堆積膜の応用用途によっては、大面積化
、膜圧の均一性、膜品質の均一性を十分に満足させて再
現性のある量産化を図らねばならないため、プラズマC
VD法によるアモルファスシリコン堆積膜の形成におい
ては、量産装置に多大な設備投資が必要となり、またそ
の量産のための管理項目も複雑になって、管理許容幅も
狭くなり、装置の調整も微妙であることから、これらの
ことが今後改善すべき問題点として指摘されている。
、膜圧の均一性、膜品質の均一性を十分に満足させて再
現性のある量産化を図らねばならないため、プラズマC
VD法によるアモルファスシリコン堆積膜の形成におい
ては、量産装置に多大な設備投資が必要となり、またそ
の量産のための管理項目も複雑になって、管理許容幅も
狭くなり、装置の調整も微妙であることから、これらの
ことが今後改善すべき問題点として指摘されている。
他方、通常のCVD法による従来の技術では、高温を必
要とし実用可能な特性を有する堆積膜が得られていなか
った。
要とし実用可能な特性を有する堆積膜が得られていなか
った。
上述の如く、アモルファスシリコン膜の形成において、
その実用可能な特性、均一性を維持させながら、低コス
トな装置で量産化できる形成方法を開発することが切望
されている。これ等のことは、他の機能性膜、たとえば
窒化シリコン膜、炭化シリコン膜、酸化シリコン膜にお
いても同様なことがいえる。
その実用可能な特性、均一性を維持させながら、低コス
トな装置で量産化できる形成方法を開発することが切望
されている。これ等のことは、他の機能性膜、たとえば
窒化シリコン膜、炭化シリコン膜、酸化シリコン膜にお
いても同様なことがいえる。
本発明の目的は、形成される膜の諸行性、成膜速度、再
現性の向上および膜品質の均一化を図りながら、膜の大
面積化に適し、膜の生産性の向」二および量産化を容易
に達成することのできる堆積膜形成法を提供することに
ある。
現性の向上および膜品質の均一化を図りながら、膜の大
面積化に適し、膜の生産性の向」二および量産化を容易
に達成することのできる堆積膜形成法を提供することに
ある。
特に二種以上の前駆体より作成される堆積膜において、
上記二種以上の前駆体間において、それを活性化するた
めに導入される活性種との反応速度が異なる時において
も、所望の組成の堆積膜を再現性よ(得ることのできる
堆積膜形成方法を提供することにある。
上記二種以上の前駆体間において、それを活性化するた
めに導入される活性種との反応速度が異なる時において
も、所望の組成の堆積膜を再現性よ(得ることのできる
堆積膜形成方法を提供することにある。
本発明の機能性堆積膜は、機能性の堆積膜の形成に利用
される二種以上の前駆体と、該前駆体と化学反応する活
性種とを成膜空間に導入するに際して、前記二種以上の
前駆体間の、前記活性種との反応速度が異なる場合にお
いて、前駆体と活性種との混合位置が活性種との反応速
度が低い方の前駆体が、反応速度が高い方の前駆体より
も、より」1流側でl混合されることを特徴とする。
される二種以上の前駆体と、該前駆体と化学反応する活
性種とを成膜空間に導入するに際して、前記二種以上の
前駆体間の、前記活性種との反応速度が異なる場合にお
いて、前駆体と活性種との混合位置が活性種との反応速
度が低い方の前駆体が、反応速度が高い方の前駆体より
も、より」1流側でl混合されることを特徴とする。
本発明の機能性堆積膜は、機能性の堆積膜の形成に利用
される二種以上の前駆体と、該前駆体と化学反応する活
性種とを成膜空間に導入するに際して、前記活性種は前
駆成膜空間に連絡する輸送空間(A)を通じ、前記二種
以上の前駆体は、前記輸送空間内に設けられ、前記成膜
空間に連絡するそれぞれ固有の輸送空間(J)、 (B
z)・・・・を通じてそれぞれ前記成膜空間に導入され
、かつ該二種以上の前駆体のうち、該活性種との反応速
度が低い方の前駆体が、高い方の前駆体よりも、より上
流側で活性種と混合することを特徴とする。
される二種以上の前駆体と、該前駆体と化学反応する活
性種とを成膜空間に導入するに際して、前記活性種は前
駆成膜空間に連絡する輸送空間(A)を通じ、前記二種
以上の前駆体は、前記輸送空間内に設けられ、前記成膜
空間に連絡するそれぞれ固有の輸送空間(J)、 (B
z)・・・・を通じてそれぞれ前記成膜空間に導入され
、かつ該二種以上の前駆体のうち、該活性種との反応速
度が低い方の前駆体が、高い方の前駆体よりも、より上
流側で活性種と混合することを特徴とする。
本発明の機能性膜の製造装置は機能性堆積膜の形成に利
用される二種以上の前駆体と該前駆体と化学反応する活
性種とを成膜室に導入して該成膜室内に配されている基
体上に機能性堆積膜を形成す機能性堆積膜の製造装置に
おいて、前記活性種を生成する活性化室と、該活性化室
の下流に設けた輸送路(A)と、前記二種以上の前駆体
をそれぞれ生成するそれぞれ固有の前駆体化室と、該前
駆体化室の下流であって、前記輸送路(A)の内部に設
けた輸送路(Bl)、 (B2)・・・・と、前記輸
送路(A)、(I31)、 (B2)・・・のそれぞ
れと連絡する成膜室とを有し、前記二種以上の前駆体間
において、前記活性種との反応速度が異なる場合におい
て、活性種との反応速度が低い方の前駆体を輸送する輸
送管が反応速度の高い方の前駆体を輸送する輸送管が、
より」二流で前記活性種を輸送する輸送管(A)と交わ
うことを特徴とする特本発明の方法では、所望の堆積膜
を形成する堆積空間(A)でプラズマを使用しないので
、堆積膜の形成パラメーターが導入する前駆体および活
性種の導入量、基体および堆積空間内の温度。
用される二種以上の前駆体と該前駆体と化学反応する活
性種とを成膜室に導入して該成膜室内に配されている基
体上に機能性堆積膜を形成す機能性堆積膜の製造装置に
おいて、前記活性種を生成する活性化室と、該活性化室
の下流に設けた輸送路(A)と、前記二種以上の前駆体
をそれぞれ生成するそれぞれ固有の前駆体化室と、該前
駆体化室の下流であって、前記輸送路(A)の内部に設
けた輸送路(Bl)、 (B2)・・・・と、前記輸
送路(A)、(I31)、 (B2)・・・のそれぞ
れと連絡する成膜室とを有し、前記二種以上の前駆体間
において、前記活性種との反応速度が異なる場合におい
て、活性種との反応速度が低い方の前駆体を輸送する輸
送管が反応速度の高い方の前駆体を輸送する輸送管が、
より」二流で前記活性種を輸送する輸送管(A)と交わ
うことを特徴とする特本発明の方法では、所望の堆積膜
を形成する堆積空間(A)でプラズマを使用しないので
、堆積膜の形成パラメーターが導入する前駆体および活
性種の導入量、基体および堆積空間内の温度。
堆積空間内の内圧となり、したがって堆積膜形成のコン
トロールが容易になり、再現性、量産性のある堆積膜を
形成させることができる。
トロールが容易になり、再現性、量産性のある堆積膜を
形成させることができる。
また、二種以上の前駆体と活性種とを反応させる際に、
反応速度の程度の異なる前駆体をそれぞれ反応速度の低
い前駆体の順に上流側よりの成膜空間につながっている
反応空間に導入するために、反応速度より低い前駆体が
反応空間により長い時間滞留し、活性種との反応する時
間を長くとることが出来るので成膜を直接行うことので
きる状態に変化した前駆体を効率良く生成することが出
来る。
反応速度の程度の異なる前駆体をそれぞれ反応速度の低
い前駆体の順に上流側よりの成膜空間につながっている
反応空間に導入するために、反応速度より低い前駆体が
反応空間により長い時間滞留し、活性種との反応する時
間を長くとることが出来るので成膜を直接行うことので
きる状態に変化した前駆体を効率良く生成することが出
来る。
なお、本発明での「前駆体」とは、形成される堆積膜の
原料には成り得るが、そのままのエネルギー状態では堆
積膜を形成することが全くまたは殆んど出来ないものを
云う。「活性種」とは、前記前駆体と化学的相互作用を
起して、たとえば前駆体にエネルギーを与えたり、前駆
体と化学的に反応したりして前駆体を堆積膜を形成する
ことが出来る状態にする役目をになうものを云う。した
がって、活性種としては形成される堆積膜を構成する構
成要素に成る構成要素を含んでいても良く、あるいはそ
の様な構成要素を含んでいなくとも良い。
原料には成り得るが、そのままのエネルギー状態では堆
積膜を形成することが全くまたは殆んど出来ないものを
云う。「活性種」とは、前記前駆体と化学的相互作用を
起して、たとえば前駆体にエネルギーを与えたり、前駆
体と化学的に反応したりして前駆体を堆積膜を形成する
ことが出来る状態にする役目をになうものを云う。した
がって、活性種としては形成される堆積膜を構成する構
成要素に成る構成要素を含んでいても良く、あるいはそ
の様な構成要素を含んでいなくとも良い。
本発明では、堆積空間(A)に導入される活性化空間(
B)からの前駆体は、その寿命が、好ましくは0.01
秒以上、より好ましくは0.1秒以上、最適には1秒以
上あるものが所望にしたがって選択されて使用され、こ
の前駆体の構成要素が堆積空間(A)で形成させる堆積
膜を構成する主成分を構成するものとなる。また、活性
化空間(C’)から導入される活性種は、堆積空間(A
)で堆積膜を形成する際、同時に活性化空間(B)から
堆積空間(A)に導入され、形成される堆積膜の主構成
成分となる構成要素を含む前記前駆体と化学的に相互作
用する。
B)からの前駆体は、その寿命が、好ましくは0.01
秒以上、より好ましくは0.1秒以上、最適には1秒以
上あるものが所望にしたがって選択されて使用され、こ
の前駆体の構成要素が堆積空間(A)で形成させる堆積
膜を構成する主成分を構成するものとなる。また、活性
化空間(C’)から導入される活性種は、堆積空間(A
)で堆積膜を形成する際、同時に活性化空間(B)から
堆積空間(A)に導入され、形成される堆積膜の主構成
成分となる構成要素を含む前記前駆体と化学的に相互作
用する。
その結果、所望の基体上に所望の堆積膜が容易に形成さ
れる。
れる。
本発明の方法によれば、堆積空間(A)内の基板表面上
でプラズマを生起させないで形成される堆積膜は、エツ
チング作用、あるいはその他のたとえば異常放電作用等
による悪影響を受けることは実質的にない。また、本発
明によれば堆積空間(A)の雰囲気温度、基体態度を所
望にしたがって任意に制御することにより、より安定し
たCVD法とすることができる。
でプラズマを生起させないで形成される堆積膜は、エツ
チング作用、あるいはその他のたとえば異常放電作用等
による悪影響を受けることは実質的にない。また、本発
明によれば堆積空間(A)の雰囲気温度、基体態度を所
望にしたがって任意に制御することにより、より安定し
たCVD法とすることができる。
本発明の方法が従来のCVD法と違う点の1つは、あら
かじめ堆積空間(A)とは異なる空間において活性化さ
れた活性種を使うことである。このことにより、従来の
CVD法により堆積速度を飛躍的に伸ばすことが出来、
加えて堆積膜形成の際の基体温度もより一層の低温化を
図ることが可能になり、膜品質の安定した堆積膜を工業
的に大量に、しかも低コストで提供出来る。
かじめ堆積空間(A)とは異なる空間において活性化さ
れた活性種を使うことである。このことにより、従来の
CVD法により堆積速度を飛躍的に伸ばすことが出来、
加えて堆積膜形成の際の基体温度もより一層の低温化を
図ることが可能になり、膜品質の安定した堆積膜を工業
的に大量に、しかも低コストで提供出来る。
本発明において活性化空間(Bl)、 (B2)・・
・で生成される前駆体および活性化空間(C)で生成さ
れる活性種は、放電、光、熱などのエネルギーで、ある
いはそれらの併用によって励起されるばかりではなく、
触媒などとの接触、あるいは添加により生成されてもよ
い。
・で生成される前駆体および活性化空間(C)で生成さ
れる活性種は、放電、光、熱などのエネルギーで、ある
いはそれらの併用によって励起されるばかりではなく、
触媒などとの接触、あるいは添加により生成されてもよ
い。
本発明において、活性化空間(B+)、(B2)・・・
・に導入される原材料としては、炭素原子あるいは硅素
原子あるいはゲルマニウム原子に電子吸引性の高い原子
または原子団、あるいは極性基が結合しているものが利
用される。そのようなものとしては、たとえば YnXzn+2 (n=1. 2. 3 ・・
・。
・に導入される原材料としては、炭素原子あるいは硅素
原子あるいはゲルマニウム原子に電子吸引性の高い原子
または原子団、あるいは極性基が結合しているものが利
用される。そのようなものとしては、たとえば YnXzn+2 (n=1. 2. 3 ・・
・。
X=F、C1,Br、I。
Y=C,Si、 Ge)。
(Y X 2 ) n (n≧3゜X=F、 C
12,Br、 1゜ Y=C,Si、 Ge) YnHX2n+1 (n=1. 2. 3 ”・・
。
12,Br、 1゜ Y=C,Si、 Ge) YnHX2n+1 (n=1. 2. 3 ”・・
。
X=F、C1,Br、1゜
Y=C,Si、 Ge)。
YnH2X2n (n”l、 2. 3 ・・・
X=F、CI、Br、I。
X=F、CI、Br、I。
Y=C,Si、 Ge)。
などが挙げられる。
具体的にはたとえば、CF4 、 C2Fa +
5IF4 。
5IF4 。
(SiFs+)s + (SiF2)a + (S
iFz)4+ SI2 Fs +SiHF3. Si
H2F2.5iCj! 4 (SiCI!2)3. S
iBr4゜(SiBr2)5.GeF4.Ge2 F6
などのガス状態のまたは容易にガス化し得るものが挙げ
られる。
iFz)4+ SI2 Fs +SiHF3. Si
H2F2.5iCj! 4 (SiCI!2)3. S
iBr4゜(SiBr2)5.GeF4.Ge2 F6
などのガス状態のまたは容易にガス化し得るものが挙げ
られる。
また、S I H2(C6H6) 2 、 S I
H2(CN ) 2なども形成される堆積膜の使用目的
によっては使用される。
H2(CN ) 2なども形成される堆積膜の使用目的
によっては使用される。
よ述したものに、活性化空間(Bl)、 (B2)・
・・で熱、光、放電などの分解エネルギーを加えること
により、また触媒との接触により前駆体が生成される。
・・で熱、光、放電などの分解エネルギーを加えること
により、また触媒との接触により前駆体が生成される。
この前駆体を堆積空間(A)へ導入する。
この際、前駆体の寿命が望ましくは0,01秒以上ある
ことが必要で、堆積効率および堆積速度の上昇を促進さ
せ、堆積空間(A)において、活性化空間(C)から導
入される活性種との活性化反応の効率を増し、その際、
必要であれば基板をプラズマ中におくことのない範囲で
プラズマなどの放電エネルギーを、あるいは堆積空間(
A)内あるいは基板上に熱、光などのエネルギーを与え
ることで所望の堆積膜の形成が達成される。
ことが必要で、堆積効率および堆積速度の上昇を促進さ
せ、堆積空間(A)において、活性化空間(C)から導
入される活性種との活性化反応の効率を増し、その際、
必要であれば基板をプラズマ中におくことのない範囲で
プラズマなどの放電エネルギーを、あるいは堆積空間(
A)内あるいは基板上に熱、光などのエネルギーを与え
ることで所望の堆積膜の形成が達成される。
本発明において、活性化空間(C)に導入され活性種を
生成される原料としては、B2 、 S+H4,SiH
3F、 SiH3C1!、 SiH3Br、 Si
H31などの他、He、Arなどの稀ガスが挙げられる
。
生成される原料としては、B2 、 S+H4,SiH
3F、 SiH3C1!、 SiH3Br、 Si
H31などの他、He、Arなどの稀ガスが挙げられる
。
本発明において、堆積空間(A)における活性化空間(
Bl)、(B2)・・・から導入される前駆体の量と活
性化空間(C)から導入される活性種との量の割合は、
堆積条件、活性種の種類などで適宜所望にしたがって決
められるが、好ましくは10:1〜1 : 10 (導
入流量比)が適当であり、より好ましくは8:2〜4:
6とされるのが望ましい。
Bl)、(B2)・・・から導入される前駆体の量と活
性化空間(C)から導入される活性種との量の割合は、
堆積条件、活性種の種類などで適宜所望にしたがって決
められるが、好ましくは10:1〜1 : 10 (導
入流量比)が適当であり、より好ましくは8:2〜4:
6とされるのが望ましい。
反応速度の大きさに応じて、反応空間に導入される二種
以上の前駆体の導入位置は決められるが、さらに前駆体
または活性種の寿命も考慮して決めるのが望ましい。
以上の前駆体の導入位置は決められるが、さらに前駆体
または活性種の寿命も考慮して決めるのが望ましい。
二種以上の前駆体の導入位置は、それぞれの前駆体の活
性種上の反応性によって決めるが、−般的には活性種と
の反応速度が低い前駆体は、より高い前駆体に比べ、よ
り上流位置より反応空間内に導入される。
性種上の反応性によって決めるが、−般的には活性種と
の反応速度が低い前駆体は、より高い前駆体に比べ、よ
り上流位置より反応空間内に導入される。
本発明において、前駆体の輸送管(Bl)、(B2)・
・・は活性種の輸送管(C)内にあるため、前駆体の輸
送管(Bl)、 (B2)・・・が切れた位置より前
駆体と活性種との反応が開始し、この位置より基板近傍
まで前駆体と活性種との反応空間と考えることができる
。
・・は活性種の輸送管(C)内にあるため、前駆体の輸
送管(Bl)、 (B2)・・・が切れた位置より前
駆体と活性種との反応が開始し、この位置より基板近傍
まで前駆体と活性種との反応空間と考えることができる
。
また、前駆体の原料ガスが輸送管にはいる前、および輸
送管中においても、外部エネルギーによって励起されず
に原料ガスのまま輸送され、輸送管(Bl)、 (B
2)・・・の出口において、活性種を生成するための励
起エネルギーが存在する状態、あるいは活性種が励起エ
ネルギーをもっている場合では、前駆体の原料ガスは輸
送管(B、)、 (B2)の出口近傍で励起され、輸
送管(Bl)、 (B2)・・・の出口近傍で前駆体
が生成され、その後前駆体と活性種との反応が起こる。
送管中においても、外部エネルギーによって励起されず
に原料ガスのまま輸送され、輸送管(Bl)、 (B
2)・・・の出口において、活性種を生成するための励
起エネルギーが存在する状態、あるいは活性種が励起エ
ネルギーをもっている場合では、前駆体の原料ガスは輸
送管(B、)、 (B2)の出口近傍で励起され、輸
送管(Bl)、 (B2)・・・の出口近傍で前駆体
が生成され、その後前駆体と活性種との反応が起こる。
、 この場合、前駆体の輸送管(Bl)、 (B2
)・・・の出口近傍は、前駆体の生成のための活性化空
間(Bl)、 (B2)・・・とみなせ、その後基板
近傍までを前駆体と活性種との反応空間とみなせる。
)・・・の出口近傍は、前駆体の生成のための活性化空
間(Bl)、 (B2)・・・とみなせ、その後基板
近傍までを前駆体と活性種との反応空間とみなせる。
この場合通常のプラズマCVDとは異なって、基板近傍
には、前駆体を生成できるような強い励起エネルギーは
存在しない。
には、前駆体を生成できるような強い励起エネルギーは
存在しない。
〈実施態様例)
次に本発明の堆積膜製造方法によって形成される光導電
部材の典型的な例を挙げて本発明を説明する。
部材の典型的な例を挙げて本発明を説明する。
第2図は、本発明によって得られる典型的な光導電部材
の構成例を説明するための図である。
の構成例を説明するための図である。
第2図に示す光導電部材200は、光導電部材用として
の支持体201の上に光導電層202とギャップ型電極
203とで構成される層構造を有している。
の支持体201の上に光導電層202とギャップ型電極
203とで構成される層構造を有している。
支持体201としては、電気絶縁性であることが必要で
ある。
ある。
たとえば支持体201としては、ポリエステル。
ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合
成樹脂のフィルムまたはシート、ガラス。
成樹脂のフィルムまたはシート、ガラス。
セラミックなどが通常使用される。光導電層102は、
光導電部材としての機能を十分に発揮することができる
ような光導電特性を持つようにシリコン原子およびゲル
マニウム原子を母体とし、ハロゲン(X)を含み、必要
に応じて水素原子(H)を含むアモルファスシリコンゲ
ルマニウムA−5iGeX(■])で構成される。
光導電部材としての機能を十分に発揮することができる
ような光導電特性を持つようにシリコン原子およびゲル
マニウム原子を母体とし、ハロゲン(X)を含み、必要
に応じて水素原子(H)を含むアモルファスシリコンゲ
ルマニウムA−5iGeX(■])で構成される。
第1図は、本発明の堆積膜を得るための装置の構成の1
例である。
例である。
以下光導電層203としてA−3iGe:FH膜を成膜
する場合について説明する。
する場合について説明する。
ガス導入管100より活性化空間(A)に、H2゜Su
H4、SiH3F、 GeH4、Si2 H6,
Ar、 He等の活性種生成用の原料ガスが導入さ
れ、活性化エネルギー源!02の作用により活性種が生
成され、輸送空間(A)103を介して反応空間112
に導入される。
H4、SiH3F、 GeH4、Si2 H6,
Ar、 He等の活性種生成用の原料ガスが導入さ
れ、活性化エネルギー源!02の作用により活性種が生
成され、輸送空間(A)103を介して反応空間112
に導入される。
一方、ガス導入管104より活性化空間(B、)105
にはシリコン原子を含む前駆体生成用の原料ガス、たと
えばSiF4. SiF2 H2,Si2 F6.5
iF3 Hなどの原料ガスが導入され、これらに活性化
エネルギー源106の作用により、シリコン原子を含む
前駆体(B1)が生成される。生成されたシリコン原子
を含む前駆体(B1)は、輸送空間(B、)107を介
して反応空間112に導入される。反応空間においては
、活性種と反応をおこし、堆積に寄与できる状態に変化
し基板上に堆積する。
にはシリコン原子を含む前駆体生成用の原料ガス、たと
えばSiF4. SiF2 H2,Si2 F6.5
iF3 Hなどの原料ガスが導入され、これらに活性化
エネルギー源106の作用により、シリコン原子を含む
前駆体(B1)が生成される。生成されたシリコン原子
を含む前駆体(B1)は、輸送空間(B、)107を介
して反応空間112に導入される。反応空間においては
、活性種と反応をおこし、堆積に寄与できる状態に変化
し基板上に堆積する。
また一方、ガス導入管108より活性化学゛間(B2)
109には、ゲルマニウム原子を含む前駆体生成用の原
料ガス、たとえばGeF、、、GeC7!4などの原料
ガスが導入され、これらに活性化エネルギー源110の
作用により、ゲルマニウム原子を含む前駆体(B2)が
生成される。生成されたゲルマニウム原子を含む前駆体
(B2)は輸送管(B2) 111を介して反応空間1
12に導入される。
109には、ゲルマニウム原子を含む前駆体生成用の原
料ガス、たとえばGeF、、、GeC7!4などの原料
ガスが導入され、これらに活性化エネルギー源110の
作用により、ゲルマニウム原子を含む前駆体(B2)が
生成される。生成されたゲルマニウム原子を含む前駆体
(B2)は輸送管(B2) 111を介して反応空間1
12に導入される。
シリコン原子を含む前駆体(B1)はゲルマニウム原子
を含む前駆体(B2)に比べ活性種との反応速度が小さ
いため、シリコン原子を含む前駆体の輸送管(B+)
107はゲルマニウム原子を含む前駆体の輸送管(B2
)111に比べ、上流で活性種と交わうように反応空間
112内に導入されている。
を含む前駆体(B2)に比べ活性種との反応速度が小さ
いため、シリコン原子を含む前駆体の輸送管(B+)
107はゲルマニウム原子を含む前駆体の輸送管(B2
)111に比べ、上流で活性種と交わうように反応空間
112内に導入されている。
また、シリコン原子を含む前駆体(B1)はゲルマニウ
ム原子を含む前駆体(B2)に比べ、活性種との反応速
度が小さいため、ゲルマニウム原子を含む前駆体(B2
)にシリコン原子を含む前駆体(B、)を含んでも、成
膜した膜の特性に大きな影響をおよぼさない。
ム原子を含む前駆体(B2)に比べ、活性種との反応速
度が小さいため、ゲルマニウム原子を含む前駆体(B2
)にシリコン原子を含む前駆体(B、)を含んでも、成
膜した膜の特性に大きな影響をおよぼさない。
反応空間112に導入されたシリコン原子を含む前駆体
(B、)およびゲルマニウム原子を含む前駆体(B2)
は、それぞれ活性種と反応し、より活性な堆積に直接寄
与できる前駆体に変化する。またこれらの活性な前駆体
相互の反応も期待される。
(B、)およびゲルマニウム原子を含む前駆体(B2)
は、それぞれ活性種と反応し、より活性な堆積に直接寄
与できる前駆体に変化する。またこれらの活性な前駆体
相互の反応も期待される。
このようにして、活性種との反応により活性化されたシ
リコン原子を含む前駆体およびゲルマニウム原子を含む
前駆体は堆積空間113に導入され、共にヒーター】1
5で所定の温度に加熱された基板ホルダー11ti上に
とりつけられた基板116上に堆積し成膜する。
リコン原子を含む前駆体およびゲルマニウム原子を含む
前駆体は堆積空間113に導入され、共にヒーター】1
5で所定の温度に加熱された基板ホルダー11ti上に
とりつけられた基板116上に堆積し成膜する。
堆積する過程において、活性種および基板からの熱エネ
ルギーがシリコン原子およびゲルマニウム原子の再配列
に大きく寄与することが期待できる。堆積空間113は
真空用排管117を介して真空排気装置118により所
望の圧力に保たれる。
ルギーがシリコン原子およびゲルマニウム原子の再配列
に大きく寄与することが期待できる。堆積空間113は
真空用排管117を介して真空排気装置118により所
望の圧力に保たれる。
その結果、所望の光導電層202が堆積される。
光導電層202の層厚としては、適用するものの目的に
適合させて所望にしたがって適宜決定される。
適合させて所望にしたがって適宜決定される。
第2図に示される光導電層202の層厚としては、適用
される半導体デバイスの目的の層によって適宜法められ
るものであるが、好ましくは0.05〜100μ、より
好適には0.1〜50μ、最適には0.5〜30μの範
囲とされるのが望ましい。
される半導体デバイスの目的の層によって適宜法められ
るものであるが、好ましくは0.05〜100μ、より
好適には0.1〜50μ、最適には0.5〜30μの範
囲とされるのが望ましい。
第2図に示す光導電部材の光導電層中に含有されるHの
量、またはHとXの量の和は(X−Fなどのハロゲン原
子)、好ましくは1〜40原子%、より好適には5〜3
0原子%とされるのが望ましい。
量、またはHとXの量の和は(X−Fなどのハロゲン原
子)、好ましくは1〜40原子%、より好適には5〜3
0原子%とされるのが望ましい。
X単独の量としては、その上限が10原子%、より好適
にはl原子%、最適には0.5原子%とされるのが望ま
しい。光導電層102を必要に応じてp型またはp型と
するには、層形成の際に、n型不純物またはn型不純物
、あるいは両不純物を形成される層中にその量を制御し
ながらドーピングしてやることによって成される。光導
電層中にドーピングされる不純物としては、n型不純物
として、周期律表第■族Aの元素、たとえばB、 Al
4. Ga、 In。
にはl原子%、最適には0.5原子%とされるのが望ま
しい。光導電層102を必要に応じてp型またはp型と
するには、層形成の際に、n型不純物またはn型不純物
、あるいは両不純物を形成される層中にその量を制御し
ながらドーピングしてやることによって成される。光導
電層中にドーピングされる不純物としては、n型不純物
として、周期律表第■族Aの元素、たとえばB、 Al
4. Ga、 In。
Tfなどが好適なものとして挙げられ、n型不純物とし
ては、周期律表第V族Aの元素、たとえばN。
ては、周期律表第V族Aの元素、たとえばN。
P、 As、 Sb、 Biなどが好適なものと
して挙げられるが、殊にB、 Ga、 P、 Sb
などが最適である。
して挙げられるが、殊にB、 Ga、 P、 Sb
などが最適である。
本発明において、所望の伝導型を有するために光導電層
102中にドーピングされる不純物の量は、所望される
電気的・光学的特性に応じて適宜決定されるが、周期律
表第■族Aの不純物の場合3X10−2原子%以下の量
範囲でドーピングしてやれば良く、周期律表第V族Aの
不純物の場合には5X10−3原子%以下の1範囲でド
ーピングしてやれば良い。
102中にドーピングされる不純物の量は、所望される
電気的・光学的特性に応じて適宜決定されるが、周期律
表第■族Aの不純物の場合3X10−2原子%以下の量
範囲でドーピングしてやれば良く、周期律表第V族Aの
不純物の場合には5X10−3原子%以下の1範囲でド
ーピングしてやれば良い。
光導電層102中に不純物をドーピングするには、層形
成の際に不純物導入用の原料物質をガス状態で活性化空
間(A )または前駆体生成用活性化空間(Bl)、(
B2)中に導入してやれば良い。その際には前駆体の原
料ガス、あるいは活性種の原料ガスのいずれかと共に導
入する。
成の際に不純物導入用の原料物質をガス状態で活性化空
間(A )または前駆体生成用活性化空間(Bl)、(
B2)中に導入してやれば良い。その際には前駆体の原
料ガス、あるいは活性種の原料ガスのいずれかと共に導
入する。
この様な不純物導入用の原料物質としては、常温常圧で
ガス状態の、または少なくとも層形成条件下で容易にガ
ス化し得るものが採用される。
ガス状態の、または少なくとも層形成条件下で容易にガ
ス化し得るものが採用される。
そのような不純物導入用の出発物質として、具体的には
PH3,P2H4,PF3.PF5.P(1!3゜As
H3、AsF3 、AsF5 、AsCA3 、SbH
3。
PH3,P2H4,PF3.PF5.P(1!3゜As
H3、AsF3 、AsF5 、AsCA3 、SbH
3。
SbF5.BF3.BCl3.BBr3.B2H6゜B
4 ’10 + 13s H9+ B5HII +
B6 Hlo + B6 HI2 。
4 ’10 + 13s H9+ B5HII +
B6 Hlo + B6 HI2 。
Af Cj!3等を挙げることが出来る。ギャップ電極
103は、光導電層102を形成したのち形成しても良
いし、逆に支持体101上にギャップ電極103を形成
した後、光導電層102を形成しても良い。
103は、光導電層102を形成したのち形成しても良
いし、逆に支持体101上にギャップ電極103を形成
した後、光導電層102を形成しても良い。
ギャップ103電極としては、すべての導電性の材料が
用いられるが、好ましくは光導電層102とオーミック
接触を行なうものが望ましい。
用いられるが、好ましくは光導電層102とオーミック
接触を行なうものが望ましい。
オーミック接触になる導電性材料としては、光導電層1
02にノンドープのA−5iX(H)膜を用いた場合、
A、l、Inなどの低い仕事関数の金属またはPあるい
はAs等のV族元素を多くドーピングした(通常110
0pp以上)、低抵抗化したA−3iX(H)膜などが
用いられる。
02にノンドープのA−5iX(H)膜を用いた場合、
A、l、Inなどの低い仕事関数の金属またはPあるい
はAs等のV族元素を多くドーピングした(通常110
0pp以上)、低抵抗化したA−3iX(H)膜などが
用いられる。
第3図に示す装置は、第1図の装置の変形例で、ガス導
入管300より活性化空間(A)を兼だ活性種輸送管3
01に活性種の原料ガスを導入する。活性化空間(A
)を兼だ活性種輸送管301では、活性化エネルギー源
302の作用により活性化され活性種が生成される。活
性化空間(A)301は活性種の輸送管および前駆体と
の反応空間を兼ており、成膜空間307に連絡している
。
入管300より活性化空間(A)を兼だ活性種輸送管3
01に活性種の原料ガスを導入する。活性化空間(A
)を兼だ活性種輸送管301では、活性化エネルギー源
302の作用により活性化され活性種が生成される。活
性化空間(A)301は活性種の輸送管および前駆体と
の反応空間を兼ており、成膜空間307に連絡している
。
一方、シリコン原子を含む前駆体(B、)の原料ガスは
、ガス導入管303を介してガス輸送管304に導入さ
れる。ガス輸送管304は、活性種輸送管301の内部
に位置しており、場合によっては活性化エネルギー源3
02の作用をうけ、前駆体をガス輸送管304中で生成
することもある。また、ガス輸送管304の材質あるい
は組構が活性化エネルギー源302からのエネルギーを
遮蔽するようになっている場合は、原料ガスのままガス
輸送管30・1中を運ばれ、活性種輸送管301内には
いる。
、ガス導入管303を介してガス輸送管304に導入さ
れる。ガス輸送管304は、活性種輸送管301の内部
に位置しており、場合によっては活性化エネルギー源3
02の作用をうけ、前駆体をガス輸送管304中で生成
することもある。また、ガス輸送管304の材質あるい
は組構が活性化エネルギー源302からのエネルギーを
遮蔽するようになっている場合は、原料ガスのままガス
輸送管30・1中を運ばれ、活性種輸送管301内には
いる。
活性種輸送管301に導入されたシリコン原子を含む前
駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源302の
作用により励起され、前駆体をガス輸送管304を出た
ところで生成される。
駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源302の
作用により励起され、前駆体をガス輸送管304を出た
ところで生成される。
ガス輸送管304中、あるいは出た近傍で生成されたシ
リコン原子を含む前駆体(B、)は、活性種輸送管30
1の出口近傍で活性種と混じり合い反応を起し、より活
性な前駆体に変化し、堆積空間307に導かれる。
リコン原子を含む前駆体(B、)は、活性種輸送管30
1の出口近傍で活性種と混じり合い反応を起し、より活
性な前駆体に変化し、堆積空間307に導かれる。
また一方、ゲルマニウム原子を含む前駆体(B2)の原
料ガスは、ガス導入管305を介してガス輸送管306
に導入される。ガス輸送管306は活性種輸送管301
およびガス輸送管304の内部に位置しており、場合に
よっては活性化エネルギー源302の作用をうけ、前駆
体をガス輸送管306中で生成することもある。また、
ガス輸送管304および306の材質あるいは組構が活
性化エネルギー源302からのエネルギーを遮蔽するよ
うになっている場合は、原料ガスのままガス輸送管30
6中を江ばれ、活性種輸送管301内にはいる。
料ガスは、ガス導入管305を介してガス輸送管306
に導入される。ガス輸送管306は活性種輸送管301
およびガス輸送管304の内部に位置しており、場合に
よっては活性化エネルギー源302の作用をうけ、前駆
体をガス輸送管306中で生成することもある。また、
ガス輸送管304および306の材質あるいは組構が活
性化エネルギー源302からのエネルギーを遮蔽するよ
うになっている場合は、原料ガスのままガス輸送管30
6中を江ばれ、活性種輸送管301内にはいる。
活性種輸送管301に導入されたゲルマニウム原子を含
む前駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源30
2の作用により励起され、前駆体をガス輸送管306を
出たところで生成される。
む前駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源30
2の作用により励起され、前駆体をガス輸送管306を
出たところで生成される。
ガス輸送管306中、あるいは出た近傍で生成されたゲ
ルマニウム原子を含む前駆体(B2)は、活性種輸送管
301の出口近傍で活性種と混じり合い反応を起し、よ
り活性な前駆体に変化し、堆積空間にはいる。
ルマニウム原子を含む前駆体(B2)は、活性種輸送管
301の出口近傍で活性種と混じり合い反応を起し、よ
り活性な前駆体に変化し、堆積空間にはいる。
ここで、シリコン原子を含む前駆体(B1)は、ゲルマ
ニウム原子を含む前駆体(B2)に比べ活性種(A)と
の反応速度が低いため、はやめに活性種(A)と混じ合
う構造になっている。また、前駆体の原料ガスが途中励
起されることなく活性種輸送管301内にはいって励起
され、前駆体が生成される場合には、前駆体の生成効率
が活性種(A)との反応速度に入ってきている。
ニウム原子を含む前駆体(B2)に比べ活性種(A)と
の反応速度が低いため、はやめに活性種(A)と混じ合
う構造になっている。また、前駆体の原料ガスが途中励
起されることなく活性種輸送管301内にはいって励起
され、前駆体が生成される場合には、前駆体の生成効率
が活性種(A)との反応速度に入ってきている。
活性種(A)と反応して活性化されたシリコン原子を含
む前駆体およびゲルマニウム原子を含む前駆体は、堆積
空間307に導入されヒーター309で所望の温度に加
熱した基板ホルダー308上にとりつけられた基板31
0上に堆積し、所望のA−3iGe膜をつくる。堆積空
間307は、所望の圧力になるように真空排管311を
介して真空排気装置312により排気されている。
む前駆体およびゲルマニウム原子を含む前駆体は、堆積
空間307に導入されヒーター309で所望の温度に加
熱した基板ホルダー308上にとりつけられた基板31
0上に堆積し、所望のA−3iGe膜をつくる。堆積空
間307は、所望の圧力になるように真空排管311を
介して真空排気装置312により排気されている。
第4図に示す装置は第1図の変形例で、シリコン原子を
含む前駆体と活性種との反応と、ゲルマニウム原子を含
む前駆体と活性種との反応を別々の反応空間で行なえる
ようになっている。
含む前駆体と活性種との反応と、ゲルマニウム原子を含
む前駆体と活性種との反応を別々の反応空間で行なえる
ようになっている。
ガス導入管401より活性種の原料ガスが活性化空間(
A、)402に導入され、活性化エネルギー源403の
作用により活性化され活性種がつくられる。
A、)402に導入され、活性化エネルギー源403の
作用により活性化され活性種がつくられる。
生成された活性種は活性種輸送管404を介して反応空
間409に導かれる。それと同時にガス導入管405よ
りシリコン原子を含む前駆体の原料ガスが活性化空間(
B、)406に導入され、活性化エネルギー源407の
作用により活性化されシリコン原子を含む前駆体(B1
)が作られる。生成された前駆体(B1)は、前駆体輸
送管(B、)408を介して反応空間409に導かれる
。その結果、反応空間409中ではシリコン原子を含む
前駆体(B、)と活性種は化学反応を起こし、堆積能力
のある、より活性な前駆体になって堆積空間418に導
かれる。。
間409に導かれる。それと同時にガス導入管405よ
りシリコン原子を含む前駆体の原料ガスが活性化空間(
B、)406に導入され、活性化エネルギー源407の
作用により活性化されシリコン原子を含む前駆体(B1
)が作られる。生成された前駆体(B1)は、前駆体輸
送管(B、)408を介して反応空間409に導かれる
。その結果、反応空間409中ではシリコン原子を含む
前駆体(B、)と活性種は化学反応を起こし、堆積能力
のある、より活性な前駆体になって堆積空間418に導
かれる。。
またこれと同時にガス導入管414より活性種の原料ガ
スが活性化空間(A2) 415に導入され、活性化エ
ネルギー源416の作用により活性化され活性種がつく
られる。生成された活性種は活性種輸送管416を介し
て反応空間417に導かれる。
スが活性化空間(A2) 415に導入され、活性化エ
ネルギー源416の作用により活性化され活性種がつく
られる。生成された活性種は活性種輸送管416を介し
て反応空間417に導かれる。
それと同時にガス導入管410より原子を含む前駆体の
原料ガスが活性化空間(B2)411に導入され、活性
化エネルギー源412の作用により活性化され、ゲルマ
ニウム原子を含む前駆体(B2)が作られる。
原料ガスが活性化空間(B2)411に導入され、活性
化エネルギー源412の作用により活性化され、ゲルマ
ニウム原子を含む前駆体(B2)が作られる。
生成されたゲルマニウム原子を含む前駆体(B2)は前
駆体輸送管(B2)413を介して反応空間417に導
かれる。その結果、反応空間417中ではゲルマニウム
原子を含む前駆体(B2)と活性種とは化学反応を起こ
し、堆積能力のある、より活性な前駆体になって堆積空
間418に導かれる。
駆体輸送管(B2)413を介して反応空間417に導
かれる。その結果、反応空間417中ではゲルマニウム
原子を含む前駆体(B2)と活性種とは化学反応を起こ
し、堆積能力のある、より活性な前駆体になって堆積空
間418に導かれる。
前駆体輸送管(B、)408により反応空間409に導
かれたシリコン原子を含む前駆体(B1)と、前駆体輸
送管(B2)413により反応空間417に導かれたゲ
ルマニウム原子を含む前駆体(B2)との活性種との反
応速度により、前駆体輸送管(Bl)および(B2)、
408および413のそれぞれの反応空間409および
417に導く長さが決定される。
かれたシリコン原子を含む前駆体(B1)と、前駆体輸
送管(B2)413により反応空間417に導かれたゲ
ルマニウム原子を含む前駆体(B2)との活性種との反
応速度により、前駆体輸送管(Bl)および(B2)、
408および413のそれぞれの反応空間409および
417に導く長さが決定される。
反応空間において、より活性化され堆積能力を有した前
駆体(B1)および(B2)は基板421上に堆積する
。419は基板ホルダー、420はヒーター、422は
真空排管、423は真空排気装置である。
駆体(B1)および(B2)は基板421上に堆積する
。419は基板ホルダー、420はヒーター、422は
真空排管、423は真空排気装置である。
第5図に示す装置は、第1図あるいは第3図の装置の変
形例で、ガス導入管501より活性化空間(A1)をか
ねた活性種輸送管(A、)502に活性種の原料ガスを
導入する。活性化空間(A、)をかねた活性種輸送管5
02では、活性化エネルギー源503の作用により活性
化され活性種が生成される。
形例で、ガス導入管501より活性化空間(A1)をか
ねた活性種輸送管(A、)502に活性種の原料ガスを
導入する。活性化空間(A、)をかねた活性種輸送管5
02では、活性化エネルギー源503の作用により活性
化され活性種が生成される。
活性化空間(A1)502は、活性種の輸送管および前
駆体との反応空間をかねており、成膜空間511に連絡
している。
駆体との反応空間をかねており、成膜空間511に連絡
している。
一方、シリコン原子を含む前駆体(B1)の原料ガスは
、ガス導入管504を介してガス輸送管505に導入さ
れる。ガス輸送管505は活性種輸送管502の内部に
位置しており、場合によっては活性化エネルギー源50
3の作用をうけ、前駆体をガス輸送管505中で生成す
ることもある。また、ガス輸送管505の材質あるいは
組構が活性化エネルギー源503からのエネルギーを遮
幣するようになっている場合は、原料ガスのままガス輸
送管505中を運ばれ、活性種輸送管502内にはいる
。
、ガス導入管504を介してガス輸送管505に導入さ
れる。ガス輸送管505は活性種輸送管502の内部に
位置しており、場合によっては活性化エネルギー源50
3の作用をうけ、前駆体をガス輸送管505中で生成す
ることもある。また、ガス輸送管505の材質あるいは
組構が活性化エネルギー源503からのエネルギーを遮
幣するようになっている場合は、原料ガスのままガス輸
送管505中を運ばれ、活性種輸送管502内にはいる
。
活性種輸送管505に導入されたシリコン原子を含む前
駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源503の
作用により励起され、前駆体をガス輸送管505をでた
ところで生成される。
駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源503の
作用により励起され、前駆体をガス輸送管505をでた
ところで生成される。
ガス輸送管505中、あるいは出た近傍で生成されたシ
リコン原子を含む前駆体(B1)は、活性種輸送管50
2の出口近傍で活性種と混じり合い反応をおこし、より
活性な前駆体に変化し堆積空間511に導かれる。
リコン原子を含む前駆体(B1)は、活性種輸送管50
2の出口近傍で活性種と混じり合い反応をおこし、より
活性な前駆体に変化し堆積空間511に導かれる。
同様に、ガス導入管506より活性化空間(A2)をか
ねた活性種輸送管507に活性種の原料ガスを導入する
。活性化空間(A2)をかねた活性種輸送管507では
活性化エネルギー源508の作用により活性化され活性
種が生成される。活性化空間(A2)507は、活性種
の輸送管および前駆体との反応空間をかねており、成膜
空間511に連絡している。
ねた活性種輸送管507に活性種の原料ガスを導入する
。活性化空間(A2)をかねた活性種輸送管507では
活性化エネルギー源508の作用により活性化され活性
種が生成される。活性化空間(A2)507は、活性種
の輸送管および前駆体との反応空間をかねており、成膜
空間511に連絡している。
一方、ゲルマニウム原子を含む前駆体(B2)の原料ガ
スは、ガス導入管509を介してガス輸送管510に導
入される。ガス輸送管5】0は、活性種輸送管507の
内部に位置しており、場合によっては活性化エネルギー
源508の作用をうけ、前駆体をガス輸送管510中で
生成することもある。また、ガス輸送管510の材質あ
るいは組構が活性化エネルギー源508からのエネルギ
ーを遮幣するようになっている場合は、原料ガスのまま
ガス輸送管510中を運ばれ、活性種輸送管507内に
はいる。
スは、ガス導入管509を介してガス輸送管510に導
入される。ガス輸送管5】0は、活性種輸送管507の
内部に位置しており、場合によっては活性化エネルギー
源508の作用をうけ、前駆体をガス輸送管510中で
生成することもある。また、ガス輸送管510の材質あ
るいは組構が活性化エネルギー源508からのエネルギ
ーを遮幣するようになっている場合は、原料ガスのまま
ガス輸送管510中を運ばれ、活性種輸送管507内に
はいる。
活性種輸送管507に導入されたゲルマニウム原子を含
む前駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源50
8の作用により励起され、前駆体をガス輸送管510を
出たところで生成される。
む前駆体生成用の原料ガスは、活性化エネルギー源50
8の作用により励起され、前駆体をガス輸送管510を
出たところで生成される。
ガス輸送管510中、あるいは出た近傍で生成されたゲ
ルマニウム原子を含む前駆体(B2)は、活性種輸送管
507の出口近傍で活性種と混じり合い反応を起し、よ
り活性な前駆体に変化し堆積空間511に導かれる。
ルマニウム原子を含む前駆体(B2)は、活性種輸送管
507の出口近傍で活性種と混じり合い反応を起し、よ
り活性な前駆体に変化し堆積空間511に導かれる。
堆積空間51.1に導かれた活性化され堆積能力を何す
るシリコン原子を含む前駆体(B1)およびゲルマニウ
ム原子を含む前駆体(B2)は堆積空間内におかれ、所
望の温度に加熱された基板514上に堆積し、SlとG
eよりなる膜を形成する。512は入(板ホルダー、5
13はヒーター、515は真空排管、516は真空排気
装置である。
るシリコン原子を含む前駆体(B1)およびゲルマニウ
ム原子を含む前駆体(B2)は堆積空間内におかれ、所
望の温度に加熱された基板514上に堆積し、SlとG
eよりなる膜を形成する。512は入(板ホルダー、5
13はヒーター、515は真空排管、516は真空排気
装置である。
以上A−3iGe : FH膜の形成方法について論じ
たが、これに限らず膜中にFとHあるいはハロ′fン元
素とHを含み、二元以上の元素よりなる膜、たとえばA
−3iC: FH,C−3iGe : FH,C−Ga
As :F 11. l\−GaAs : FH,C
−Zn5e : FHなどの膜の堆積に用いることがで
きる。
たが、これに限らず膜中にFとHあるいはハロ′fン元
素とHを含み、二元以上の元素よりなる膜、たとえばA
−3iC: FH,C−3iGe : FH,C−Ga
As :F 11. l\−GaAs : FH,C
−Zn5e : FHなどの膜の堆積に用いることがで
きる。
〈実施例1〉
第1図に示す装置を用い、ガラス基板上に第2図に示す
構成のFとI−Iを含む非晶質シリコン・ゲルマニウム
膜(A−3iGe:FH膜)を成膜した。
構成のFとI−Iを含む非晶質シリコン・ゲルマニウム
膜(A−3iGe:FH膜)を成膜した。
本実施例において、シリコン原子を含む前駆体の輸送管
(B、)107の吹き出し口は、反応空間112と成膜
空間113との境界より70mmの位置に、ゲルマニウ
ム原子を含む前駆体の輸送管(B2)111の吹き出し
口は、同じ(30mmの位置に設定した。
(B、)107の吹き出し口は、反応空間112と成膜
空間113との境界より70mmの位置に、ゲルマニウ
ム原子を含む前駆体の輸送管(B2)111の吹き出し
口は、同じ(30mmの位置に設定した。
成膜空間113にガラス基板116を入れ、排気バルブ
(不図示)を開け、成膜空間113および反応空間11
2を約10−、’Torrの真空度にした。次に加熱ヒ
ータ115によりガラス基板温度を約250°Cに保持
した。次に活性種生成用の原料ガスを活性化空間(A)
101に導入した。活性化空間(A)に活性種生成用の
原料ガスとしてI−■2ガス11005ccを導入した
。
(不図示)を開け、成膜空間113および反応空間11
2を約10−、’Torrの真空度にした。次に加熱ヒ
ータ115によりガラス基板温度を約250°Cに保持
した。次に活性種生成用の原料ガスを活性化空間(A)
101に導入した。活性化空間(A)に活性種生成用の
原料ガスとしてI−■2ガス11005ccを導入した
。
活性化空間(1’3.) 105にシリコン原子を含む
前駆体生成用の原料ガスとして5iF4(100%)を
150secM導入した。
前駆体生成用の原料ガスとして5iF4(100%)を
150secM導入した。
また活性化空間(B。)109にゲルマニウム原子を含
む前駆体生成用の原料ガスとしてGeF4(100%)
を1.55CCM導入した。’7M fnが安定してか
ら排気バルブを調節して成膜室(A)の内圧を約0.2
Torrとした。内圧が一定になってからマイクロ波電
源102、 106. 110をそれぞれ動作させ、活
性化空間101. 105. 109にそれぞれ160
W、80W。
む前駆体生成用の原料ガスとしてGeF4(100%)
を1.55CCM導入した。’7M fnが安定してか
ら排気バルブを調節して成膜室(A)の内圧を約0.2
Torrとした。内圧が一定になってからマイクロ波電
源102、 106. 110をそれぞれ動作させ、活
性化空間101. 105. 109にそれぞれ160
W、80W。
40Wの放電エネルギーを投入しな。
この状態で30分間保ち成膜空間113内のガラス基板
116上に約1.2μ厚のA−5iGe:FH膜を堆積
した。この様にして作成したA−3iGe:HF膜の組
成をXMAで測定したところ、Si / Ge = 1
/1の全面均一成膜であった。また光学吸収を測定し、
光学バンドギャップを測定したところ1,4evであっ
た。
116上に約1.2μ厚のA−5iGe:FH膜を堆積
した。この様にして作成したA−3iGe:HF膜の組
成をXMAで測定したところ、Si / Ge = 1
/1の全面均一成膜であった。また光学吸収を測定し、
光学バンドギャップを測定したところ1,4evであっ
た。
また、この膜の表面上に真空蒸着法で、くし型のAl電
極(ギャップ長2.5 cm 、ギャップ間隔Q、2m
m)を約500人つけ電圧を印加し、電流を測定したと
ころ、700mmの光照射時と暗時の電流の比は3X1
0”であった。
極(ギャップ長2.5 cm 、ギャップ間隔Q、2m
m)を約500人つけ電圧を印加し、電流を測定したと
ころ、700mmの光照射時と暗時の電流の比は3X1
0”であった。
〈比較例〉
実施例1において、ガス導入管108よりGeF4を流
す代りにガス導入管104よりS i F 4150
SCCM 。
す代りにガス導入管104よりS i F 4150
SCCM 。
GeF41.5SCCMの混合ガスを流し、同じ条件で
成膜したところ、得られた膜のSi/Geの組成はGe
が10%以下であった。
成膜したところ、得られた膜のSi/Geの組成はGe
が10%以下であった。
また作成した膜の特性は、700 m mの光照射時の
電流がほとんど暗時の電流に等しい特性の極めて悪いも
のであった。また反応空間112内にはGeの極めて多
量に含んだ膜が形成されていた。
電流がほとんど暗時の電流に等しい特性の極めて悪いも
のであった。また反応空間112内にはGeの極めて多
量に含んだ膜が形成されていた。
そこで前駆体輸送管107の位置を調整し、反応空間1
12と成膜空間113との境界より20mmの位置にお
き、またH2ガスの流量を2505CCMに増やし、活
性化空間102と活性化空間106にそれぞれ200W
、60Wのマイクロ波電力を印加し、120分間成膜し
たところ厚さ1.0μmのA−3iGe:FH膜を得た
。得られた膜のS i / G eの組成は7/3で、
光学バンドギャップは1,55evであった。また光照
射時と暗時の電流の比は700 m mの光では〜10
12程度、600 m mの光では〜101程度であっ
た。
12と成膜空間113との境界より20mmの位置にお
き、またH2ガスの流量を2505CCMに増やし、活
性化空間102と活性化空間106にそれぞれ200W
、60Wのマイクロ波電力を印加し、120分間成膜し
たところ厚さ1.0μmのA−3iGe:FH膜を得た
。得られた膜のS i / G eの組成は7/3で、
光学バンドギャップは1,55evであった。また光照
射時と暗時の電流の比は700 m mの光では〜10
12程度、600 m mの光では〜101程度であっ
た。
しかしながら、このようにSiF4ガスとGeF4ガス
を混合して流す方法では前駆体の吹き出し口の距離、ト
I2流量、マイクロ波バクー成膜条件1.55evより
小さくすると良好な特性の膜は得られなかった。すなわ
ちl 、55evより小さい光学バンドギャップの膜で
は、光照射時の光電流の小さい膜であった。
を混合して流す方法では前駆体の吹き出し口の距離、ト
I2流量、マイクロ波バクー成膜条件1.55evより
小さくすると良好な特性の膜は得られなかった。すなわ
ちl 、55evより小さい光学バンドギャップの膜で
は、光照射時の光電流の小さい膜であった。
〈実施例2〉
実施例1においてガス導入管108にGeF4(100
%)ガスを流す代りに、GeF4/SiF4 (10%
)、ガス、155 CCM )@流し、他は同じ条件で
成膜したところ、得られたA−3iGe:FH膜の組成
はほぼ1/1、光学バンドギャップ1.43evで70
0 m mの光照射′時と暗時の電流比は〜1045の
ほぼ特性の等しい膜が得られた。
%)ガスを流す代りに、GeF4/SiF4 (10%
)、ガス、155 CCM )@流し、他は同じ条件で
成膜したところ、得られたA−3iGe:FH膜の組成
はほぼ1/1、光学バンドギャップ1.43evで70
0 m mの光照射′時と暗時の電流比は〜1045の
ほぼ特性の等しい膜が得られた。
〈実施例3〉
第3図に示す装置を用い、A−5iGe:FH膜の堆積
を以下の手順で行なった。
を以下の手順で行なった。
ガス導入管300よりI]2ガス50SCCM、Arガ
ス250 SCCMを流し、またガス導入管303より
SiF4ガス60 S CCM 、ガス導入管305よ
りGeF4カス6SCCMを流した。ガス輸送管304
および306はステンレスでできており、内部にはマイ
クロ波の電界が印加されない。そのためガス輸送管30
4および306の内部での前駆体の生成はないと思われ
る。
ス250 SCCMを流し、またガス導入管303より
SiF4ガス60 S CCM 、ガス導入管305よ
りGeF4カス6SCCMを流した。ガス輸送管304
および306はステンレスでできており、内部にはマイ
クロ波の電界が印加されない。そのためガス輸送管30
4および306の内部での前駆体の生成はないと思われ
る。
活性化空間および反応空間をかねた活性種輸送管301
は。石英でできており、その外側にマイクロ波エネルギ
ー源302がとりつけられており、マイクロ波電界によ
りその内部にプラズマ放電ができる構造になっている。
は。石英でできており、その外側にマイクロ波エネルギ
ー源302がとりつけられており、マイクロ波電界によ
りその内部にプラズマ放電ができる構造になっている。
上記ガスを流し、成膜空間307および活性種輸送管3
01の圧力を0.4Torrに調整した状態でマイクロ
波エネルギー1302よりマイクロ波電界を印加し、活
性種輸送管301内にH2とA rのプラズマ放電をお
こさせた。マクロ波電界はステンレスの管304および
306を介しておよびI]2とArのプラズマにより広
がるため、前駆体用ガス輸送管306の約1cm先まで
プラズマ中にある。
01の圧力を0.4Torrに調整した状態でマイクロ
波エネルギー1302よりマイクロ波電界を印加し、活
性種輸送管301内にH2とA rのプラズマ放電をお
こさせた。マクロ波電界はステンレスの管304および
306を介しておよびI]2とArのプラズマにより広
がるため、前駆体用ガス輸送管306の約1cm先まで
プラズマ中にある。
従って、前駆体用ガス輸送管304および306より吹
き出した5IF4ガスおよびGeF4ガスは共にプラズ
マ中で励起され、それぞれ5iFn、 GeFn(n
=1〜3)の前駆体を形成する。
き出した5IF4ガスおよびGeF4ガスは共にプラズ
マ中で励起され、それぞれ5iFn、 GeFn(n
=1〜3)の前駆体を形成する。
なお本実施例では、前駆体用ガス輸送管304および3
06の吹き出し口の位置は成膜空間307と活性種輸送
管304との境界より、それぞれ4.0 m m 。
06の吹き出し口の位置は成膜空間307と活性種輸送
管304との境界より、それぞれ4.0 m m 。
60m mの位置に設定した。形成した5iFn、 G
eFnの前駆体は活性種輸送管304内でH活性種と化
学反応し、より活性な堆積能力を有する前駆体に変化し
、成膜空間307内に設置した約200°Cにヒーター
309により加熱したガラス基板」−に堆積する。
eFnの前駆体は活性種輸送管304内でH活性種と化
学反応し、より活性な堆積能力を有する前駆体に変化し
、成膜空間307内に設置した約200°Cにヒーター
309により加熱したガラス基板」−に堆積する。
この状態を30分保ったところガラス基板上に約1.1
μm厚のA−3iGe:FH膜が成膜した。XMAで組
成をしらべたところS i / G e = 1 /
1で、光学バンドギヤ゛ンブ]、4evであっjこ。ま
た700nmの光照射時と暗時の電流比は〜10’であ
った。
μm厚のA−3iGe:FH膜が成膜した。XMAで組
成をしらべたところS i / G e = 1 /
1で、光学バンドギヤ゛ンブ]、4evであっjこ。ま
た700nmの光照射時と暗時の電流比は〜10’であ
った。
〈実施例4〉
第4図に示す装置を用い、A 5iGc・FH膜の堆
積を以下の手順で行った。
積を以下の手順で行った。
ガス導入管401および414より、ぞれぞれII2ガ
ス50 S CCM 、 A rガス50 S CC
Mを流し、活性化空間(A、)402および(A2)4
15に導入した。
ス50 S CCM 、 A rガス50 S CC
Mを流し、活性化空間(A、)402および(A2)4
15に導入した。
活性化空間(A、)402および(A2)415におい
てマイクロ波電源403および416をそれぞれ200
W印加し、活性種を生成した。生成されたl(原子を主
体とする活性種は活性種輸送管404および416を介
して、それぞれ反応空間409および417に導入した
。
てマイクロ波電源403および416をそれぞれ200
W印加し、活性種を生成した。生成されたl(原子を主
体とする活性種は活性種輸送管404および416を介
して、それぞれ反応空間409および417に導入した
。
また同時にガス導入管405よりSiF4ガス1100
5CCを活性化空間(B、)406に導入した。活性化
空間(Bl)ではマイクロ波電源407を作用させ80
Wを印加し、5iFn活性種を生成した。生成された5
iFn活性種は前駆体輸送管408を介して反応空間4
09に導入した。反応空間409に導入された5iFn
およびH活性種は化学反応を起こし、活性化された堆積
能力を有する前駆体となって成膜空間418に導入され
た。
5CCを活性化空間(B、)406に導入した。活性化
空間(Bl)ではマイクロ波電源407を作用させ80
Wを印加し、5iFn活性種を生成した。生成された5
iFn活性種は前駆体輸送管408を介して反応空間4
09に導入した。反応空間409に導入された5iFn
およびH活性種は化学反応を起こし、活性化された堆積
能力を有する前駆体となって成膜空間418に導入され
た。
また同時にガス導入管410よりGeF4ガスIscc
Mを活性化空間(B2)411に導入した。活性化空間
(B2)ではマイクロ波電源412を作用させ、70
Wを印加し、GeFn活性種を生成した。生成されたG
eFn活性種は前駆体輸送管413を介して反応空間4
17に導入した。反応空間417に導入されたG c
F nおよびH活性種は化学反応を起こし、活性化され
た堆積能力を有する前駆体となって成膜空間418に導
入された。
Mを活性化空間(B2)411に導入した。活性化空間
(B2)ではマイクロ波電源412を作用させ、70
Wを印加し、GeFn活性種を生成した。生成されたG
eFn活性種は前駆体輸送管413を介して反応空間4
17に導入した。反応空間417に導入されたG c
F nおよびH活性種は化学反応を起こし、活性化され
た堆積能力を有する前駆体となって成膜空間418に導
入された。
反応空間409より成膜空間418に導入された活性化
され堆積能力を有するシリコン原子を含む前駆体と、反
応空間417より成膜空間418に導入された活性化さ
れ堆積能力を有するゲルマニウム原子を含む前駆体は、
ヒータ420により約250°Cに加熱されたガラス基
板421上に堆積し、A−3iGe:1−(F膜を成膜
する。
され堆積能力を有するシリコン原子を含む前駆体と、反
応空間417より成膜空間418に導入された活性化さ
れ堆積能力を有するゲルマニウム原子を含む前駆体は、
ヒータ420により約250°Cに加熱されたガラス基
板421上に堆積し、A−3iGe:1−(F膜を成膜
する。
このとき成膜空間418内および反応空間409および
417内の圧力は0.ITorrに調整した。
417内の圧力は0.ITorrに調整した。
S i Hn前駆体の輸送管408およびGeFn前駆
体の輸送管413の位置は5iFnとH活性種およびG
eFnと1−1活性種との反応速度の違いを考慮し、反
応空間409および・117と成膜空間418との境界
よりそれぞれ29mm、20mmになるように設定した
。
体の輸送管413の位置は5iFnとH活性種およびG
eFnと1−1活性種との反応速度の違いを考慮し、反
応空間409および・117と成膜空間418との境界
よりそれぞれ29mm、20mmになるように設定した
。
この状態を90分保持したところガラス基板421上に
約1.5μm厚のA−3iGe : FH膜が成膜した
。
約1.5μm厚のA−3iGe : FH膜が成膜した
。
得られた膜をX M Aで測定したところS i /
G eの比は1/1であった。また光学バンドギャップ
は1.40evであった。
G eの比は1/1であった。また光学バンドギャップ
は1.40evであった。
この試料に実施例1と同様のAfのくし形電極をつけ7
00nmの光を照射したところ、照射時の導電率と暗時
の導電率の比は105であった。なお第4図中419は
基板ホルダー、422は真空排気用の配管、423は真
空排気装置を表わしている。
00nmの光を照射したところ、照射時の導電率と暗時
の導電率の比は105であった。なお第4図中419は
基板ホルダー、422は真空排気用の配管、423は真
空排気装置を表わしている。
〈実施例5〉
第5図に示す装置を用い、A−3iGe:FH膜の堆積
を以下の手順で行った。
を以下の手順で行った。
ガス導入管501より活性種作成用の活性空間502に
H2ガス30SCCM、Arガス11005CCを流し
、またガス導入管504よりSiF4ガス60SCCM
を流した。
H2ガス30SCCM、Arガス11005CCを流し
、またガス導入管504よりSiF4ガス60SCCM
を流した。
活性空間502は活性種の輸送管および活性種と前駆体
との反応空間をかねる構造になっている。
との反応空間をかねる構造になっている。
活性空間502に導入されたH2ガスはマイクロ波電源
503より印加された200Wのマイクロ波により励起
され、H活性種を生成する。ガス輸送管505および活
性空間502は同心円上に配置した石英ガラス管よりで
きており、ガス輸送管505内に導入されたSiF4ガ
スはマイクロ波電界をうけるがマイクロ波の表効果によ
り印加されるマイクロ波の電界強度は小さい。したがっ
てプラズマはガス輸送管505中ではほとんど起きてい
ない。
503より印加された200Wのマイクロ波により励起
され、H活性種を生成する。ガス輸送管505および活
性空間502は同心円上に配置した石英ガラス管よりで
きており、ガス輸送管505内に導入されたSiF4ガ
スはマイクロ波電界をうけるがマイクロ波の表効果によ
り印加されるマイクロ波の電界強度は小さい。したがっ
てプラズマはガス輸送管505中ではほとんど起きてい
ない。
そのためガス輸送管505の出口を水素およびアルゴン
プラズマ中におき、ガス輸送管505を出たSiF4ガ
スはプラズマ中で励起され、5iFn前駆体が生成され
るようにした。
プラズマ中におき、ガス輸送管505を出たSiF4ガ
スはプラズマ中で励起され、5iFn前駆体が生成され
るようにした。
このときプラズマは、ガス輸送管505の出口より約1
0 m m先の位置にたつようにした。またガス導入管
505の位置は反応空間をかねた活性の活性化空間50
2と成膜空間511との境界より約20 m mの位置
においた。
0 m m先の位置にたつようにした。またガス導入管
505の位置は反応空間をかねた活性の活性化空間50
2と成膜空間511との境界より約20 m mの位置
においた。
生成された前駆体5iFnは、反応空間をかねた活性種
の活性化空間502の出口近傍でH活性種と化学反応を
起こし、より活性な堆積能を有するシリコン原子を含む
前駆体となって成膜空間511に導入される。
の活性化空間502の出口近傍でH活性種と化学反応を
起こし、より活性な堆積能を有するシリコン原子を含む
前駆体となって成膜空間511に導入される。
またガス導入管506より活性種作成用の活性空間50
7にトI2ガス30SCCM、Arガスl1003cc
を流し、またガス導入管509よりGeF4ガス60S
CCMを流した。
7にトI2ガス30SCCM、Arガスl1003cc
を流し、またガス導入管509よりGeF4ガス60S
CCMを流した。
活性空間507は活性種の輸送管および活性種と前駆体
との反応空間をかねる構造になっている。
との反応空間をかねる構造になっている。
活性空間507に導入されたH2ガスはマイクロ波電源
508より印加された200Wのマイクロ波により励起
されH活性種を生成する。ガス輸送管510および活性
空間507は同心円上に配置した石英ガラス管よりでき
ており、ガス輸送管510内に導入されたSiF4ガス
はマイクロ波電界をうけるがマイクロ波の表効果により
印加されるマイクロ波の電界強度は小さい。したがって
プラズマはガス輸送管510中ではほとんど起きていな
い。
508より印加された200Wのマイクロ波により励起
されH活性種を生成する。ガス輸送管510および活性
空間507は同心円上に配置した石英ガラス管よりでき
ており、ガス輸送管510内に導入されたSiF4ガス
はマイクロ波電界をうけるがマイクロ波の表効果により
印加されるマイクロ波の電界強度は小さい。したがって
プラズマはガス輸送管510中ではほとんど起きていな
い。
そのためガス輸送管510の出口を水素およびアルゴン
プラズマ中におき、ガス輸送管510を出たSiF4ガ
スはプラズマ中で励起され、GeFn前駆体が生成され
るようにした。
プラズマ中におき、ガス輸送管510を出たSiF4ガ
スはプラズマ中で励起され、GeFn前駆体が生成され
るようにした。
このときプラズマは、ガス輸送管510の出口より約3
mm先の位置にたつようにした。またガス輸送管510
の位置は反応空間をかねた活性の活性化空間507と成
膜空間511との境界より約12 m mの位置におい
た。
mm先の位置にたつようにした。またガス輸送管510
の位置は反応空間をかねた活性の活性化空間507と成
膜空間511との境界より約12 m mの位置におい
た。
生成された前駆体GeFnは、反応空間をかねた活性種
の活性化空間507の出口近傍でH活性種と化学反応を
起こし、より活性な堆積能を有するゲルマニウム原子を
含む前駆体となって成膜空間511に導入される。
の活性化空間507の出口近傍でH活性種と化学反応を
起こし、より活性な堆積能を有するゲルマニウム原子を
含む前駆体となって成膜空間511に導入される。
成膜空間511に導入された活性化され堆積能を有する
シリコン原子を含む前駆体およびゲルマニウム原子を含
む前駆体はヒータ513で250℃に加熱されたガラス
基板514上に堆積する。このとき成膜空間511およ
び反応空間502および507内は圧力が0.3Tor
rになるよう真空排気装置516で排気した。
シリコン原子を含む前駆体およびゲルマニウム原子を含
む前駆体はヒータ513で250℃に加熱されたガラス
基板514上に堆積する。このとき成膜空間511およ
び反応空間502および507内は圧力が0.3Tor
rになるよう真空排気装置516で排気した。
この状態を90分保持し、その後基板温度を室温におと
し、真空をやぶってガラス基板514をとりだしたとこ
ろ、A−3iGe : FH膜約1.6 p mを成膜
した。
し、真空をやぶってガラス基板514をとりだしたとこ
ろ、A−3iGe : FH膜約1.6 p mを成膜
した。
得られたA−3iGeHFH膜の組成をX M Aで分
析したところS i / G e = 1 / 1であ
った。また光学エネルギーギャップを測定したところ1
,42evであった。
析したところS i / G e = 1 / 1であ
った。また光学エネルギーギャップを測定したところ1
,42evであった。
実施例1と同様にA−3iGe:FH膜表面にAAの(
し形電極をつけ導電率を測定したところ700Jmの光
照射時と暗時との導電率の比は104Jあった。
し形電極をつけ導電率を測定したところ700Jmの光
照射時と暗時との導電率の比は104Jあった。
〈実施例6〉
第4図の装置を用い、ガス導入管401より■]2ガス
70 S CCM 、 A r 70 S CCMを
流し、マイクロ波電力200Wを印加しH活性種を生成
した。またガス導入管405よりSSiF4100SC
C流し、マイクロ波電力80Wを印加し、5iFn前駆
体を生成し、反応空間409で5iFn前駆体をH活性
種と反応させ、体積能を有する前駆体に変え成膜空間4
18に導入した。
70 S CCM 、 A r 70 S CCMを
流し、マイクロ波電力200Wを印加しH活性種を生成
した。またガス導入管405よりSSiF4100SC
C流し、マイクロ波電力80Wを印加し、5iFn前駆
体を生成し、反応空間409で5iFn前駆体をH活性
種と反応させ、体積能を有する前駆体に変え成膜空間4
18に導入した。
それと同時にガス導入管414よりFI2ガス70SC
CM。
CM。
Ar70SCCMを流し、マイクロ波電力200Wを印
加しH活性種を生成した。ガス導入管410よりC2F
680SCCMを流しマイクロ波電力を100W印加し
、CnFn前駆体を生成し、反応空間417てCn F
n前駆体をI(活性種と反応させ、体積能を有する前
駆体に変え成膜空間418に導入した。
加しH活性種を生成した。ガス導入管410よりC2F
680SCCMを流しマイクロ波電力を100W印加し
、CnFn前駆体を生成し、反応空間417てCn F
n前駆体をI(活性種と反応させ、体積能を有する前
駆体に変え成膜空間418に導入した。
成膜空間418に導入されたシリコン原子を含む前駆体
と炭素を含む前駆体は200°Cに加熱されたガラス基
板421上に堆積し、A−5iC:FH膜を生成する。
と炭素を含む前駆体は200°Cに加熱されたガラス基
板421上に堆積し、A−5iC:FH膜を生成する。
このとき成膜空間418および反応空間409および・
117の圧力は0.3Torrになるように保った。
117の圧力は0.3Torrになるように保った。
またシリコン原子を含む前駆体の輸送管408は反応空
間409と成膜空間418との境界より29mm。
間409と成膜空間418との境界より29mm。
炭素原子を含む前駆体の輸送管413は反応空間417
と成膜空間418との境界より35mmの位置に設定し
た。この状態を120分保ったところ、ガラス基板42
1上に厚さ0.6 μmのA−3iC:FH膜が成膜で
きた。得られた膜の組成をXMAで分析したところSi
とCとの比は3:2で、また光学バンドギャップは2.
1evであった。
と成膜空間418との境界より35mmの位置に設定し
た。この状態を120分保ったところ、ガラス基板42
1上に厚さ0.6 μmのA−3iC:FH膜が成膜で
きた。得られた膜の組成をXMAで分析したところSi
とCとの比は3:2で、また光学バンドギャップは2.
1evであった。
実施例1と同様に)\e電極をつけ、400nmの光を
照射し導電率を測定したところ、暗時の導電率に比べ1
0’の比がとれた。
照射し導電率を測定したところ、暗時の導電率に比べ1
0’の比がとれた。
〈実施例7〉
実施例5と同じに第5図の装置を用い、ガス導入管50
1よりH2流量を200 S CCM SA r流ff
i508cCM。
1よりH2流量を200 S CCM SA r流ff
i508cCM。
ガス導入管504よりSiF4流量30SCCMとしマ
イクロ波電源503よりマイクロ波出力200Wを印加
した。またガス導入管507よりH2流量を200SC
CM、Ar流量50SCCM、ガス導入管510よりG
eF4流量0.23CCMとし、マイクロ波電源508
よりマイクロ波出力180Wを印加した。成膜空間51
1および反応空間502および507の圧力を90mT
orrとし、300℃に加熱したガラス基板上に5iG
eの膜を堆積した。
イクロ波電源503よりマイクロ波出力200Wを印加
した。またガス導入管507よりH2流量を200SC
CM、Ar流量50SCCM、ガス導入管510よりG
eF4流量0.23CCMとし、マイクロ波電源508
よりマイクロ波出力180Wを印加した。成膜空間51
1および反応空間502および507の圧力を90mT
orrとし、300℃に加熱したガラス基板上に5iG
eの膜を堆積した。
約60分の堆積後、ガラス基板上に0.6μm厚の5i
Ge膜が成長しており、電子線回折の結果、粒径500
人程度に結晶化していた。
Ge膜が成長しており、電子線回折の結果、粒径500
人程度に結晶化していた。
以上説明したように、基板上に堆積膜を形成するための
成膜空間に活性化空間(B )に於て生成される堆積膜
形成用の原料となる二種以上の前駆体と、活性化空間(
A)において生成され、前記二種以上の前駆体と相互作
用をする活性種とを導入する事によって、前記基体上に
堆積膜を形成する堆積膜形成法に於いて、二種以上の前
駆体間の活性種との反応速度が異なる場合において、各
前駆体と活性種との混合位置が活性種との反応速度が高
い方の前駆体よりも反応速度の低い方がよりト流側にな
るようにすることによって、反応l・1)度の高い前駆
体が基板に到達する前に壁に付着するのを防ぐことがで
き、そのため基板上に均一な特性のよい二種以上の合金
膜を得ることができる5、また反応空間を著しく汚すこ
ともなく、再現性良く成膜が可能になる。
成膜空間に活性化空間(B )に於て生成される堆積膜
形成用の原料となる二種以上の前駆体と、活性化空間(
A)において生成され、前記二種以上の前駆体と相互作
用をする活性種とを導入する事によって、前記基体上に
堆積膜を形成する堆積膜形成法に於いて、二種以上の前
駆体間の活性種との反応速度が異なる場合において、各
前駆体と活性種との混合位置が活性種との反応速度が高
い方の前駆体よりも反応速度の低い方がよりト流側にな
るようにすることによって、反応l・1)度の高い前駆
体が基板に到達する前に壁に付着するのを防ぐことがで
き、そのため基板上に均一な特性のよい二種以上の合金
膜を得ることができる5、また反応空間を著しく汚すこ
ともなく、再現性良く成膜が可能になる。
第1図、第3図乃至第5図は、夫々本発明の堆積膜形成
法を具現化する為の装置の例を示す模式的説明図である
。 第2図は、本発明の方法を用いて作成される光導電部材
の1実施態様例を説明する為に層構造を示した模式図で
ある。 100.104,108,300゜
法を具現化する為の装置の例を示す模式的説明図である
。 第2図は、本発明の方法を用いて作成される光導電部材
の1実施態様例を説明する為に層構造を示した模式図で
ある。 100.104,108,300゜
Claims (1)
- 基体上に堆積膜を形成するための成膜空間に、活性化空
間(B)において生成される堆積膜形成用の原料となる
二種以上の前駆体と、活性化空間(A)において生成さ
れ、前記二種以上の前駆体と相互作用をする活性種とを
導入することによって、前記基体上に堆積膜を形成する
堆積膜形成法において、前記二種以上の前駆体間の前記
活性種との反応速度が異なる場合において、各前駆体と
活性種との混合位置が、活性種との反応速度が高い方の
前駆体よりも反応速度の低い方がより上流側になるよう
にすることを特徴とする堆積膜形成法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61202007A JP2547740B2 (ja) | 1986-08-28 | 1986-08-28 | 堆積膜形成法 |
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