JPS6355928B2 - - Google Patents
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- JPS6355928B2 JPS6355928B2 JP59002644A JP264484A JPS6355928B2 JP S6355928 B2 JPS6355928 B2 JP S6355928B2 JP 59002644 A JP59002644 A JP 59002644A JP 264484 A JP264484 A JP 264484A JP S6355928 B2 JPS6355928 B2 JP S6355928B2
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/117—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for examining the anterior chamber or the anterior chamber angle, e.g. gonioscopes
- A61B3/1173—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for examining the anterior chamber or the anterior chamber angle, e.g. gonioscopes for examining the eye lens
- A61B3/1176—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for examining the anterior chamber or the anterior chamber angle, e.g. gonioscopes for examining the eye lens for determining lens opacity, e.g. cataract
-
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はレーザー光を利用した眼科測定装置に
係り、さらに詳しくは、レーザー光を光学系を通
して眼球内の一部分、例えば水晶体の一部分に照
射し、その部分からの反射光を、２方向に分割す
るビームスプリツターに入射させて、その分割さ
れた一方は観察光学系により観察し得る如く、又
他方は別の光学系を通して検知器により電気信号
に変換して増幅し、前記反射光の強度の演算計測
を行うためのレーザー光を利用した眼科測定装置
に関するものである。
係り、さらに詳しくは、レーザー光を光学系を通
して眼球内の一部分、例えば水晶体の一部分に照
射し、その部分からの反射光を、２方向に分割す
るビームスプリツターに入射させて、その分割さ
れた一方は観察光学系により観察し得る如く、又
他方は別の光学系を通して検知器により電気信号
に変換して増幅し、前記反射光の強度の演算計測
を行うためのレーザー光を利用した眼科測定装置
に関するものである。
眼疾患のうちの１つである白内障は、水晶体蛋
白粒子の大きさが増し、水晶体が混濁する現象で
あり、その発生を早期に発見して、適切な治療あ
るいは予防対策を実施する上から、蛋白粒子の大
きさ即ち直径を測定する必要がある。
白粒子の大きさが増し、水晶体が混濁する現象で
あり、その発生を早期に発見して、適切な治療あ
るいは予防対策を実施する上から、蛋白粒子の大
きさ即ち直径を測定する必要がある。
眼球には、角膜、水晶体、硝子体等の透明体が
あるが、これら透明体内には微小な蛋白粒子が浮
遊してブラウン運動をしている。この蛋白粒子
は、正常眼の場合には小さな直径の粒子の分布が
多いが、混濁が生じている場合には、正常眼の場
合よりも大きな直径の粒子の分布が多くなる。
あるが、これら透明体内には微小な蛋白粒子が浮
遊してブラウン運動をしている。この蛋白粒子
は、正常眼の場合には小さな直径の粒子の分布が
多いが、混濁が生じている場合には、正常眼の場
合よりも大きな直径の粒子の分布が多くなる。
この直径を測定する方法として、つぎに述べる
ような方法が公知であり、すでに実施されてい
る。
ような方法が公知であり、すでに実施されてい
る。
それは水晶体内の１点にレーザー光線を集光さ
せ、ブラウン運動をする蛋白粒子がその点を通過
するときに、その蛋白粒子によつて散乱される散
乱光の強度を検出し、この散乱光強度が時間とと
もにどうゆらぐかの相関関数を、相関関数計によ
り求め、その求められた結果から散乱光強度のゆ
らぎの緩和時間を計算して、これにより蛋白粒子
の拡散係数を求めて、その粒子の直径を得ようと
するものである。
せ、ブラウン運動をする蛋白粒子がその点を通過
するときに、その蛋白粒子によつて散乱される散
乱光の強度を検出し、この散乱光強度が時間とと
もにどうゆらぐかの相関関数を、相関関数計によ
り求め、その求められた結果から散乱光強度のゆ
らぎの緩和時間を計算して、これにより蛋白粒子
の拡散係数を求めて、その粒子の直径を得ようと
するものである。
従来のこの種の装置は、第１図に示すように、
レーザー管１、エキスパンダー２および投光レン
ズ３が一体となつたレーザー光線投光装置４と、
光電子増倍管１１が一体となつた顕微鏡部１２
と、光電子増倍管１１と接続される時間相関計１
３と、この時間相関計１３に接続されるアナライ
ザー１４とから構成され、測定の際には、被検者
の眼前にレーザー光線投光装置４と、顕微鏡部１
２が配置される。
レーザー管１、エキスパンダー２および投光レン
ズ３が一体となつたレーザー光線投光装置４と、
光電子増倍管１１が一体となつた顕微鏡部１２
と、光電子増倍管１１と接続される時間相関計１
３と、この時間相関計１３に接続されるアナライ
ザー１４とから構成され、測定の際には、被検者
の眼前にレーザー光線投光装置４と、顕微鏡部１
２が配置される。
レーザー管１から発したレーザー光Ｌは、エキ
スパンダー２を通過して投光レンズ３に入射し、
被検眼Ｅの角膜５を通り、水晶体６の計測点であ
る１点Ｐに集光される。
スパンダー２を通過して投光レンズ３に入射し、
被検眼Ｅの角膜５を通り、水晶体６の計測点であ
る１点Ｐに集光される。
この１点Ｐを、ブラウン運動をしている蛋白粒
子が通過すると、その粒子によつてレーザー光が
反射し散乱光となつて、顕微鏡部１２の対物レン
ズ７に一部が入射する。入射した光はハーフミラ
ー８によつて二分され、その一方はハーフミラー
８を透過して接眼レンズ９を通して観察され、も
う一方はハーフミラー８によつて反射され絞り１
０を経て光電子増倍管１１に到達し、電気信号に
変換される。
子が通過すると、その粒子によつてレーザー光が
反射し散乱光となつて、顕微鏡部１２の対物レン
ズ７に一部が入射する。入射した光はハーフミラ
ー８によつて二分され、その一方はハーフミラー
８を透過して接眼レンズ９を通して観察され、も
う一方はハーフミラー８によつて反射され絞り１
０を経て光電子増倍管１１に到達し、電気信号に
変換される。
その電気信号は、時間相関計１３に入力され、
演算処理された出力が、アナライザー１４への入
力となつて解析され、その結果が表出される。
演算処理された出力が、アナライザー１４への入
力となつて解析され、その結果が表出される。
この場合において、レーザー光が集光する１点
Ｐは、顕微鏡部１２の対物レンズ７の光軸と合致
した状態で観察及び測定がなされるが、顕微鏡視
野内であつても、レーザー光が集光する１点Ｐか
ら外れたその周囲には、光が照射されていないの
で、測定部位を変更しようとしてもその位置の確
認が容易ではなく、別の要測定部位に顕微鏡の光
軸及びレーザー光の集光する１点Ｐを合わせるこ
とは、時間を要することとなつて、被検者に苦痛
を与えると云う欠点を伴うものであつた。
Ｐは、顕微鏡部１２の対物レンズ７の光軸と合致
した状態で観察及び測定がなされるが、顕微鏡視
野内であつても、レーザー光が集光する１点Ｐか
ら外れたその周囲には、光が照射されていないの
で、測定部位を変更しようとしてもその位置の確
認が容易ではなく、別の要測定部位に顕微鏡の光
軸及びレーザー光の集光する１点Ｐを合わせるこ
とは、時間を要することとなつて、被検者に苦痛
を与えると云う欠点を伴うものであつた。
本発明は上述したような、従来における欠点を
排除した、計測部の位置確認が容易に出来るレー
ザー光を利用した眼科測定装置を提供することを
目的としている。
排除した、計測部の位置確認が容易に出来るレー
ザー光を利用した眼科測定装置を提供することを
目的としている。
以下図面に従つて本発明の詳細を説明する。
第２図は、本発明の第１実施例を説明するもの
で、光軸Ｘ１上には、コンデンサーレンズ２０、
コリメーテイングレンズ２１、少し離れて投光レ
ンズ２２が配設されており、その延長上に被検眼
Ｅの角膜２３、水晶体２４が合致するようになつ
ている。
で、光軸Ｘ１上には、コンデンサーレンズ２０、
コリメーテイングレンズ２１、少し離れて投光レ
ンズ２２が配設されており、その延長上に被検眼
Ｅの角膜２３、水晶体２４が合致するようになつ
ている。
又、ランプ２５、レンズ２６、スリツト２７が
同一軸上に配列され、ランプ２５から発した光
が、レンズ２６によつてスリツト２７のスリツト
部に集光するように構成されており、スリツト２
７を通過した光は、ミラー２８によつて方向を変
え、光軸Ｘ２に沿つて別のコリメーテイングレン
ズ２９へ入射し、前述したコリメーテイングレン
ズ２１と投光レンズ２２の間に設置された可動ミ
ラー３０へ到達して、光軸Ｘ１に沿つて投光レン
ズ２２により被検眼Ｅの角膜２３、水晶体２４に
達するように配置、構成されている。
同一軸上に配列され、ランプ２５から発した光
が、レンズ２６によつてスリツト２７のスリツト
部に集光するように構成されており、スリツト２
７を通過した光は、ミラー２８によつて方向を変
え、光軸Ｘ２に沿つて別のコリメーテイングレン
ズ２９へ入射し、前述したコリメーテイングレン
ズ２１と投光レンズ２２の間に設置された可動ミ
ラー３０へ到達して、光軸Ｘ１に沿つて投光レン
ズ２２により被検眼Ｅの角膜２３、水晶体２４に
達するように配置、構成されている。
被検眼Ｅの角膜２３における計測点Ｐにおいて
反射した散乱光の一部は、ビームスプリツター３
４に達し、透過して観察系の光軸Ｘ３上に配設さ
れた対物レンズ３５、結像レンズ３６により標板
３７上に結像し、アイピース３８を通してその拡
大像が観察されるように構成される。
反射した散乱光の一部は、ビームスプリツター３
４に達し、透過して観察系の光軸Ｘ３上に配設さ
れた対物レンズ３５、結像レンズ３６により標板
３７上に結像し、アイピース３８を通してその拡
大像が観察されるように構成される。
又ビームスプリツター３４に達した光の一部
は、ハーフミラーあるいは部分反射鏡である反射
面３４ａにより反射して、集光レンズ３９を通
り、ミラー４０で反射して計測系の光軸Ｘ４に沿
つて進み、絞り４１を通過して光電子増幅管４２
に集光する如く構成されている。
は、ハーフミラーあるいは部分反射鏡である反射
面３４ａにより反射して、集光レンズ３９を通
り、ミラー４０で反射して計測系の光軸Ｘ４に沿
つて進み、絞り４１を通過して光電子増幅管４２
に集光する如く構成されている。
前述したランプ２５とは別に、ランプ３１が設
けてあり、そのランプ３１から発した光がピンホ
ール３２を通り、ハーフミラー３３によつて光軸
Ｘ２方向に反射して、コリメーテイングレンズ２
９へ入射し、可動ミラー３０で反射し、光軸Ｘ１
に沿つて投光レンズ２２により被検眼Ｅの角膜２
３、水晶体２４に達するように配置・構成されて
いる。
けてあり、そのランプ３１から発した光がピンホ
ール３２を通り、ハーフミラー３３によつて光軸
Ｘ２方向に反射して、コリメーテイングレンズ２
９へ入射し、可動ミラー３０で反射し、光軸Ｘ１
に沿つて投光レンズ２２により被検眼Ｅの角膜２
３、水晶体２４に達するように配置・構成されて
いる。
スリツト２７と計測点Ｐは、投光レンズ２２及
びコリメーテイングレンズ２９によつて構成され
る光学系に関して共役関係にあり、又ピンホール
３２と計測点Ｐも同様に、投光レンズ２２及びコ
リメーテイングレンズ２９によつて構成される光
学系に関して共役関係となつている。
びコリメーテイングレンズ２９によつて構成され
る光学系に関して共役関係にあり、又ピンホール
３２と計測点Ｐも同様に、投光レンズ２２及びコ
リメーテイングレンズ２９によつて構成される光
学系に関して共役関係となつている。
測定に際しては、先ずランプ２５を点灯する
と、それから発した光がレンズ２６によつてスリ
ツト２７のスリツト部に集光され、通過してから
ミラー２８で反射し、ハーフミラー３３を透過し
てレンズ２９へ入射し、可動ミラー３０で反射し
て光軸Ｘ１に沿い、レンズ２２によつて計測点Ｐ
を含む部分に、スリツト像を結ぶ。
と、それから発した光がレンズ２６によつてスリ
ツト２７のスリツト部に集光され、通過してから
ミラー２８で反射し、ハーフミラー３３を透過し
てレンズ２９へ入射し、可動ミラー３０で反射し
て光軸Ｘ１に沿い、レンズ２２によつて計測点Ｐ
を含む部分に、スリツト像を結ぶ。
又ランプ３１を点灯すると、その光はピンホー
ル３２を照射し、前述した共役関係にある計測点
Ｐに、スポツト像（ピンホール像）を結ぶ。
ル３２を照射し、前述した共役関係にある計測点
Ｐに、スポツト像（ピンホール像）を結ぶ。
上述の光軸Ｘ１に対し、所定角度隔てた観察系
光軸Ｘ３上のアイピース３８を通して、前述した
スリツト像あるいはスポツト像を観察しながら、
計測点Ｐが最も良い状態で観察ならびに計測し得
るように、被検眼Ｅに対する照射角度即ち光軸Ｘ
１と、それに対する最適観察角度即ち光軸Ｘ３の
方向を調節する。
光軸Ｘ３上のアイピース３８を通して、前述した
スリツト像あるいはスポツト像を観察しながら、
計測点Ｐが最も良い状態で観察ならびに計測し得
るように、被検眼Ｅに対する照射角度即ち光軸Ｘ
１と、それに対する最適観察角度即ち光軸Ｘ３の
方向を調節する。
続いて可動ミラー３０を、矢印Ａ方向に移動し
て光軸Ｘ１の光路から退避させ、不図示のレーザ
ー装置を作動させて、レーザー光Ｌを発光させ
る。
て光軸Ｘ１の光路から退避させ、不図示のレーザ
ー装置を作動させて、レーザー光Ｌを発光させ
る。
レーザー光Ｌは、コンデンサーレンズ２０によ
り一端集光されてから発散し、コリメーテングレ
ンズ２１へ入射し、該レンズ２１の有効径までそ
の断面積を拡大された光束がほヾ平行光となつて
投光レンズ２２に達し、集光されて計測点Ｐに到
達する。
り一端集光されてから発散し、コリメーテングレ
ンズ２１へ入射し、該レンズ２１の有効径までそ
の断面積を拡大された光束がほヾ平行光となつて
投光レンズ２２に達し、集光されて計測点Ｐに到
達する。
計測点Ｐで反射され散乱光となつた光は、その
一部がビームスプリツター３４を透過し、対物レ
ンズ３５、結像レンズ３６を経てアイピース３８
によつて観察されると同時に、ビームスプリツタ
ー３４の反射面３４ａで反射された一部の光が、
光電子増幅管４２へ入射して、不図示の計測機に
よりその強度が計測される。
一部がビームスプリツター３４を透過し、対物レ
ンズ３５、結像レンズ３６を経てアイピース３８
によつて観察されると同時に、ビームスプリツタ
ー３４の反射面３４ａで反射された一部の光が、
光電子増幅管４２へ入射して、不図示の計測機に
よりその強度が計測される。
第３図に示したのは、本発明の第２実施例を説
明するもので、第１実施例における可動ミラー３
０の代わりに、コリメーテイングレンズ２１と投
光レンズ２２の間に、ハーフミラー又は波長分割
フイルター４３を固設し、さらに第１実施例では
設けてあつたランプ３１、ピンホール３２、ハー
フミラー３３が除外してある。
明するもので、第１実施例における可動ミラー３
０の代わりに、コリメーテイングレンズ２１と投
光レンズ２２の間に、ハーフミラー又は波長分割
フイルター４３を固設し、さらに第１実施例では
設けてあつたランプ３１、ピンホール３２、ハー
フミラー３３が除外してある。
測定に際しては、ランプ２５を点灯して被検眼
にスリツト像を投影することは、第１実施例の場
合とほヾ同様であるが、スポツト照明は、レーザ
ー装置を作動させてレーザー光Ｌを発光させ、レ
ンズ２０および２１を経て該レンズ２１の有効径
までその断面積を拡大されほヾ平行光となつた光
束が、ハーフミラー４３を照射するが、透過して
投光レンズ２２へ到達する光量は、ハーフミラー
又は波長分割フイルター４３として予め設定した
値の透過率によつて決まる分量（例えば透過率50
％に設定しておくと半分の光量）だけとなり、計
測点Ｐに到達する光量が減小し、予め最適観察角
度の調節をする場合に適したスポツト照明の明る
さであるようにその透過率を設定し、又前述した
スリツト照明のための波長分割フイルター４３に
おける反射率が、ランプ２５の照明光の波長を最
も良く反射し、且つレーザー光を前述した所定量
透過するように設定する。
にスリツト像を投影することは、第１実施例の場
合とほヾ同様であるが、スポツト照明は、レーザ
ー装置を作動させてレーザー光Ｌを発光させ、レ
ンズ２０および２１を経て該レンズ２１の有効径
までその断面積を拡大されほヾ平行光となつた光
束が、ハーフミラー４３を照射するが、透過して
投光レンズ２２へ到達する光量は、ハーフミラー
又は波長分割フイルター４３として予め設定した
値の透過率によつて決まる分量（例えば透過率50
％に設定しておくと半分の光量）だけとなり、計
測点Ｐに到達する光量が減小し、予め最適観察角
度の調節をする場合に適したスポツト照明の明る
さであるようにその透過率を設定し、又前述した
スリツト照明のための波長分割フイルター４３に
おける反射率が、ランプ２５の照明光の波長を最
も良く反射し、且つレーザー光を前述した所定量
透過するように設定する。
最適観察角度の調節が済んで、続いて行う計測
時には、そのまゝのレーザー光Ｌの出力で計測す
るには、計測のための反射光量が不足している場
合には、不図示のレーザー装置の出力が増すよう
に切り換えて、計測点Ｐに到達する光量を増加さ
せ、計測点Ｐからの反射光々量を増加させる。
時には、そのまゝのレーザー光Ｌの出力で計測す
るには、計測のための反射光量が不足している場
合には、不図示のレーザー装置の出力が増すよう
に切り換えて、計測点Ｐに到達する光量を増加さ
せ、計測点Ｐからの反射光々量を増加させる。
本発明における第３実施例を、第４図および第
５図により説明する。
５図により説明する。
符号４４で示したのは可動ミラーであり、レン
ズ２１および２２の間で、該レンズ２１，２２の
有効径までその断面積を拡大され、ほヾ平行光と
なつたレーザー光束Ｄの両側のすきま４５，４６
より内側に設置される幅の寸法となつている。又
の可動ミラー４４は、不図示の操作部を操作する
ことにより、レーザー光束Ｄから外側へ退避させ
て、レーザー光束Ｄの全光量を計測点Ｐへ照射す
ることが可能である。
ズ２１および２２の間で、該レンズ２１，２２の
有効径までその断面積を拡大され、ほヾ平行光と
なつたレーザー光束Ｄの両側のすきま４５，４６
より内側に設置される幅の寸法となつている。又
の可動ミラー４４は、不図示の操作部を操作する
ことにより、レーザー光束Ｄから外側へ退避させ
て、レーザー光束Ｄの全光量を計測点Ｐへ照射す
ることが可能である。
測定時の始めに観察角度の調節等を行うには、
前述した第１、第２実施例の場合と同様に、ラン
プ２５を点灯し、その光を可動ミラー４４で反射
させてから計測点Ｐへ照射し、又レーザー光Ｌを
投光し、光束Ｄにおける両側のすきま４５および
４６を通過した部分の光束のみによつて、計測点
Ｐのスポツト照明を行うが、すきま４５および４
６のみによる少ない光量であるが、調節を行うた
めの観察には充分な光量として、すきま４５およ
び４６の面積が決められてある。
前述した第１、第２実施例の場合と同様に、ラン
プ２５を点灯し、その光を可動ミラー４４で反射
させてから計測点Ｐへ照射し、又レーザー光Ｌを
投光し、光束Ｄにおける両側のすきま４５および
４６を通過した部分の光束のみによつて、計測点
Ｐのスポツト照明を行うが、すきま４５および４
６のみによる少ない光量であるが、調節を行うた
めの観察には充分な光量として、すきま４５およ
び４６の面積が決められてある。
続いて計測を行う直前に、可動ミラー４４を光
束Ｄから退避させ、光束Ｄの全光量を計測点Ｐに
照射して計測を行う。
束Ｄから退避させ、光束Ｄの全光量を計測点Ｐに
照射して計測を行う。
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、レーザー光を眼球内に照射するための光学系
を少なくとも２つのレンズ系によつて構成してそ
の間を通るほぼ平行光となつた光束の断面積を拡
大し、該レンズ系の間に反射鏡を配置し別に設け
たスリツト照明系またはスポツト照明系によるス
リツト像またはスポツト像が該反射鏡によつて反
射された後、前記眼球内の一部分に前記レーザー
光と同軸的に投影されるように構成したので、予
め測定部位の観察や調節が容易であり、且つその
操作が早くできるので、被検者の負担を軽減する
ことが出来る。
ば、レーザー光を眼球内に照射するための光学系
を少なくとも２つのレンズ系によつて構成してそ
の間を通るほぼ平行光となつた光束の断面積を拡
大し、該レンズ系の間に反射鏡を配置し別に設け
たスリツト照明系またはスポツト照明系によるス
リツト像またはスポツト像が該反射鏡によつて反
射された後、前記眼球内の一部分に前記レーザー
光と同軸的に投影されるように構成したので、予
め測定部位の観察や調節が容易であり、且つその
操作が早くできるので、被検者の負担を軽減する
ことが出来る。
第１図は従来例における光路および配置説明
図、第２図は本発明の第１実施例の光路図、第３
図は本発明の第２実施例の光路図、第４図は本発
明の第３実施例の光路図、第５図は第４図Ｂ−Ｂ
矢視図である。 １……レーザー管、２……エキスパンダー、３
……投光レンズ、７……対物レンズ、８……ハー
フミラー、９……接眼レンズ、１１，４２……光
電子増倍管、２０……コンデンサーレンズ、２１
……コリメーテイングレンズ、２２……投光レン
ズ、２３……角膜、２４……水晶体、２５……ラ
ンプ、２６……レンズ、２７……スリツト、２８
……ミラー、２９……コリメーテイングレンズ、
３０，４４……可動ミラー、３１……ランプ、３
２……ピンホール、３３……ハーフミラー、３４
……ビームスプリツター、３５……対物レンズ、
３６……結像レンズ、３８……アイピース、３９
……集光レンズ、４３……ハーフミラー、４５，
４６……すきま、Ｅ……被検眼、Ｌ……レーザー
光、Ｐ……計測点。
図、第２図は本発明の第１実施例の光路図、第３
図は本発明の第２実施例の光路図、第４図は本発
明の第３実施例の光路図、第５図は第４図Ｂ−Ｂ
矢視図である。 １……レーザー管、２……エキスパンダー、３
……投光レンズ、７……対物レンズ、８……ハー
フミラー、９……接眼レンズ、１１，４２……光
電子増倍管、２０……コンデンサーレンズ、２１
……コリメーテイングレンズ、２２……投光レン
ズ、２３……角膜、２４……水晶体、２５……ラ
ンプ、２６……レンズ、２７……スリツト、２８
……ミラー、２９……コリメーテイングレンズ、
３０，４４……可動ミラー、３１……ランプ、３
２……ピンホール、３３……ハーフミラー、３４
……ビームスプリツター、３５……対物レンズ、
３６……結像レンズ、３８……アイピース、３９
……集光レンズ、４３……ハーフミラー、４５，
４６……すきま、Ｅ……被検眼、Ｌ……レーザー
光、Ｐ……計測点。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ レーザー光を光学系を通して眼球内の一部分
に照射し、該部分からの反射光を受け２方向に分
割するビームスプリツターにより分割された反射
光の一方は観察光学系により観察し得る如く、又
他方は別の光学系を通して検知器により電気信号
に変換して増幅し前記反射光の強度を演算計測す
る測定装置において、レーザー光を眼球内に照射
するための光学系を少なくとも２つのレンズ系に
よつて構成してその間を通るほぼ平行光となつた
光束の断面積を拡大し該レンズ系の間に反射鏡を
配置し別に設けたスリツト照明系またはスポツト
照明系によるスリツト像またはスポツト像が該反
射鏡によつて反射された後前記眼球内の一部分に
前記レーザー光と同軸的に投影されるように構成
したことを特徴とするレーザー光を利用した眼科
測定装置。 ２ 前記レンズ系の間に配置した反射鏡は該レン
ズ系の光路中から光路外へ退避し得る如く可動手
段に保持されていることを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載のレーザー光を利用した眼科測定
装置。 ３ 前記レンズ系の間に配置した反射鏡は半透明
鏡または波長分割フイルタから成る特許請求の範
囲第１項記載のレーザー光を利用した眼科測定装
置。 ４ 前記レンズ系の間に配置した反射鏡は該レン
ズ系の間を通過するレーザー光光束断面より小さ
い面積内に可動的に配置されたことを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載のレーザー光を利用し
た眼科測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59002644A JPS60148537A (ja) | 1984-01-12 | 1984-01-12 | レ−ザ−光を利用した眼科測定装置 |
| EP85304244A EP0205688B1 (en) | 1984-01-12 | 1985-06-14 | Apparatus for detecting ophthalmic disease |
| US07/098,497 US4776687A (en) | 1984-01-12 | 1987-09-18 | Apparatus for detecting ophthalmic disease |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59002644A JPS60148537A (ja) | 1984-01-12 | 1984-01-12 | レ−ザ−光を利用した眼科測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60148537A JPS60148537A (ja) | 1985-08-05 |
| JPS6355928B2 true JPS6355928B2 (ja) | 1988-11-04 |
Family
ID=11535072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59002644A Granted JPS60148537A (ja) | 1984-01-12 | 1984-01-12 | レ−ザ−光を利用した眼科測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4776687A (ja) |
| EP (1) | EP0205688B1 (ja) |
| JP (1) | JPS60148537A (ja) |
Families Citing this family (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2520418B2 (ja) * | 1987-04-09 | 1996-07-31 | 興和株式会社 | 眼科測定装置 |
| JP2516631B2 (ja) * | 1987-06-18 | 1996-07-24 | 興和株式会社 | 眼科測定装置 |
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| US8617146B2 (en) | 2009-07-24 | 2013-12-31 | Lensar, Inc. | Laser system and method for correction of induced astigmatism |
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- 1984-01-12 JP JP59002644A patent/JPS60148537A/ja active Granted
-
1985
- 1985-06-14 EP EP85304244A patent/EP0205688B1/en not_active Expired
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1987
- 1987-09-18 US US07/098,497 patent/US4776687A/en not_active Expired - Lifetime
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