JPS6345114A - シリカゾルの製造方法 - Google Patents
シリカゾルの製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、シリカゾルの製造方法に関し、ざらに詳しく
は、透明性に優れるとともに低粘度であるシリカゾルの
製造法に関する。
は、透明性に優れるとともに低粘度であるシリカゾルの
製造法に関する。
発明の技術的背景ならびにその問題点
透明性に優れるとともに低粘度であるシリカゾルは、各
種バインダーとして、ざらにはプラスチックなどの透明
基材へのコート剤あるいは研磨剤などとしての用途が期
待されている。
種バインダーとして、ざらにはプラスチックなどの透明
基材へのコート剤あるいは研磨剤などとしての用途が期
待されている。
ところで、アルカリ性の低分子量シリカゾルをシード(
核)とし、これに酸性ケイ酸液を添り口して、シリカ粒
子を成長させて所定粒径のシリカ粒子を含むシリカゾル
を得る、いわゆるビルドアップ法によるシリカゾルの製
造法はよく知られてあり、既に各種の方法が提案されて
いる。
核)とし、これに酸性ケイ酸液を添り口して、シリカ粒
子を成長させて所定粒径のシリカ粒子を含むシリカゾル
を得る、いわゆるビルドアップ法によるシリカゾルの製
造法はよく知られてあり、既に各種の方法が提案されて
いる。
たとえば、米国特許第2574902号明細書には、ケ
イ酸アルカリ水溶液をイオン交換樹脂等で処理して(浮
たシリカゾルにアルカリを加えて、所定の3 i Q
2 / M 2Oい、・1はアルカリ金属)のモル比を
もつシード液(ヒールゾル)を調製し、このヒールゾル
に、シード液と同一組成および同一モル比のシリカゾル
を加熱下で添加することによってシリカゾルを製造する
方法が開示されている。
イ酸アルカリ水溶液をイオン交換樹脂等で処理して(浮
たシリカゾルにアルカリを加えて、所定の3 i Q
2 / M 2Oい、・1はアルカリ金属)のモル比を
もつシード液(ヒールゾル)を調製し、このヒールゾル
に、シード液と同一組成および同一モル比のシリカゾル
を加熱下で添加することによってシリカゾルを製造する
方法が開示されている。
また、同様に米国特許第2577484号明細書には、
前記と同様のヒールゾルにシリカゾルとアルカリ水溶液
を同時に添加するか、あるいはめらかしめヒールゾル中
に過剰のアルカリを加えた後、シリカゾルを添加するこ
とによってシリカゲルを製造する方法が開示されている
。
前記と同様のヒールゾルにシリカゾルとアルカリ水溶液
を同時に添加するか、あるいはめらかしめヒールゾル中
に過剰のアルカリを加えた後、シリカゾルを添加するこ
とによってシリカゲルを製造する方法が開示されている
。
しかしながら、上記明細書に開示された方法では、S!
02/NaO2のモル比を当初から60〜130あるい
は130〜500と高く維持しながら粒子成長を行わせ
るため、特に粒子が未成長の初期に反応系のDH変動が
起きやすく、添加するシリカゾルが確実にヒールゾル中
の核であるシリカ上に沈着するとは限らず、新たな核が
発生したり、あるいは極端な場合は、一部がゲル化して
しまうなどするため、粒度の揃ったシリカゾルを得るこ
とはできず、ブロードな粒度弁15を有するシリカゾル
しか得ることができないという問題点があった。また、
シリカゾルの製造に際して用いられるS!02/N80
2モル比の高いゾルは、非常に不安定であるため、利用
直前に新たに調製しなければならないなどの制約を受け
るという問題点があった。
02/NaO2のモル比を当初から60〜130あるい
は130〜500と高く維持しながら粒子成長を行わせ
るため、特に粒子が未成長の初期に反応系のDH変動が
起きやすく、添加するシリカゾルが確実にヒールゾル中
の核であるシリカ上に沈着するとは限らず、新たな核が
発生したり、あるいは極端な場合は、一部がゲル化して
しまうなどするため、粒度の揃ったシリカゾルを得るこ
とはできず、ブロードな粒度弁15を有するシリカゾル
しか得ることができないという問題点があった。また、
シリカゾルの製造に際して用いられるS!02/N80
2モル比の高いゾルは、非常に不安定であるため、利用
直前に新たに調製しなければならないなどの制約を受け
るという問題点があった。
発明の目的
本発明は、上記のような従来技術に伴なう問題点を解決
しようとするものであって、均一粒径のシリカ粒子が分
散媒中に分散してなる透明性に優れるとともに低粘度で
あり、しかも製造上の時間的制約のないシリカゲルの製
造方法を提供することを目的としている。
しようとするものであって、均一粒径のシリカ粒子が分
散媒中に分散してなる透明性に優れるとともに低粘度で
あり、しかも製造上の時間的制約のないシリカゲルの製
造方法を提供することを目的としている。
発明の概要
本発明に係るシリカゾルの製造方法は、ケイ酸ナトリウ
ムなどのケイ酸水溶液および/またはアルカリ水溶液と
、酸性ケイ酸液とを混合して、混合液のS i02 /
M2O (Mはアルカリ金属)を2.8〜10に調整し
たのち、得られた混合液を60℃以上の温度に加熱して
熟成を行い、シード液を調製し、次いで得られたシード
液に、酸性ケイ酸液を加熱下で下記に示す条件で添加し
て、シード液中のシリカ粒子を成長させることによって
所定の粒径をもったシリカ粒子が分散されてなるシリカ
ゾルを1与ることを特徴としている。
ムなどのケイ酸水溶液および/またはアルカリ水溶液と
、酸性ケイ酸液とを混合して、混合液のS i02 /
M2O (Mはアルカリ金属)を2.8〜10に調整し
たのち、得られた混合液を60℃以上の温度に加熱して
熟成を行い、シード液を調製し、次いで得られたシード
液に、酸性ケイ酸液を加熱下で下記に示す条件で添加し
て、シード液中のシリカ粒子を成長させることによって
所定の粒径をもったシリカ粒子が分散されてなるシリカ
ゾルを1与ることを特徴としている。
酸性ケイ酸液の添加速度をy[酸性ケイ酸液の5102
g数/分・シード液中の酸性ケイ酸液S!02g数コと
し、シード液の全3102/M2Oモル比をχとしたと
き、 log y≦2.3−3.610C] χを満足する
速度で酸性ケイ酸液をシード液に添加する。
g数/分・シード液中の酸性ケイ酸液S!02g数コと
し、シード液の全3102/M2Oモル比をχとしたと
き、 log y≦2.3−3.610C] χを満足する
速度で酸性ケイ酸液をシード液に添加する。
本発明に係るシリカゾルの製造方法によれば、上記のよ
うな条件下でシード液を調製した後、このシード液に特
定条件下で酸性ケイ酸液を添加することによってシリカ
ゾルを!!造しているので、得られるシリカゾルは、極
めて均一な粒径を有するシリカ粒子を含んでいるため、
透明性に優れるとともに低粘度でおる。このため、本発
明に係る製造方法により得られるシリカゲルは、各種バ
インダー、透明基材用コート剤、研磨材などとして極め
て有用である。
うな条件下でシード液を調製した後、このシード液に特
定条件下で酸性ケイ酸液を添加することによってシリカ
ゾルを!!造しているので、得られるシリカゾルは、極
めて均一な粒径を有するシリカ粒子を含んでいるため、
透明性に優れるとともに低粘度でおる。このため、本発
明に係る製造方法により得られるシリカゲルは、各種バ
インダー、透明基材用コート剤、研磨材などとして極め
て有用である。
発明の詳細な説明
以下、本発明に係るシリカゾルの製造方法は、(a)特
定条件下でシード液を調製する工程、および(b)この
シード液に酸性ケイ酸液を特定条件下で添加するピルド
アツプ工程から構成されているが、以下に、工程(a)
および(b)について具体的に説明する。
定条件下でシード液を調製する工程、および(b)この
シード液に酸性ケイ酸液を特定条件下で添加するピルド
アツプ工程から構成されているが、以下に、工程(a)
および(b)について具体的に説明する。
(a)シード液の調製
まず、酸性ケイ酸液にケイ酸ソーダなどのケイ酸アルカ
リ水溶液を混合して、混合液中の全S i 02 /M
2O (tvltよアルカリ金属)のモル比を2.8〜
10、好ましくは3.0〜8.5に調整する。このとき
ケイ酸アルカリ水溶液の代わりに水酸化ナトリウムなど
のアルカリ水溶液を用いても良く、場合によってはこの
両者を用いても良い。
リ水溶液を混合して、混合液中の全S i 02 /M
2O (tvltよアルカリ金属)のモル比を2.8〜
10、好ましくは3.0〜8.5に調整する。このとき
ケイ酸アルカリ水溶液の代わりに水酸化ナトリウムなど
のアルカリ水溶液を用いても良く、場合によってはこの
両者を用いても良い。
酸性ケイ酸液は、ケイ酸アルカリ水溶液を陽イオン交換
樹脂で処理することによってアルカリを除去するなど常
法に従って容易に(qることかできる、ケイ酸の低重合
物の溶液である。この酸性ケイ酸液は、通常そのpHが
4を越えると、またS + 02濃度が高くなると不安
定になり、増粘またはゲル化を起こすことが知られてい
る。
樹脂で処理することによってアルカリを除去するなど常
法に従って容易に(qることかできる、ケイ酸の低重合
物の溶液である。この酸性ケイ酸液は、通常そのpHが
4を越えると、またS + 02濃度が高くなると不安
定になり、増粘またはゲル化を起こすことが知られてい
る。
したがって、本発明で用いられる酸性ケイ酸液は、pH
は2〜4であり、s r 02濃度は約7重量%以下で
あることが好ましい。
は2〜4であり、s r 02濃度は約7重量%以下で
あることが好ましい。
また、仝SiO2/M2Oのモル比が上記範囲に調整さ
れた後のシード液中の全SiO2′a度は、7重量%以
下、好ましくは0.5〜5.0重量%の範囲であること
が好ましい。全3!02の濃度が0.5重量%未満であ
ると、最終的に得られるシリカゾル中のs 1o2a度
がうすくなり、濃縮操作などに多大のエネルギーを必要
とするので好ましくない。一方、7重量%を越えると、
均一な粒子の生成が困難になるため好ましくない。
れた後のシード液中の全SiO2′a度は、7重量%以
下、好ましくは0.5〜5.0重量%の範囲であること
が好ましい。全3!02の濃度が0.5重量%未満であ
ると、最終的に得られるシリカゾル中のs 1o2a度
がうすくなり、濃縮操作などに多大のエネルギーを必要
とするので好ましくない。一方、7重量%を越えると、
均一な粒子の生成が困難になるため好ましくない。
シード液のS i 02 /M2Oのモル比はまた、最
終的に得られるシリカゾルの品質に大きな影響を及ぼす
因子でおる。S!02/M2Oモル比が2.8未満であ
ると、後述するビルドアップ工程で添加する酸性ケイ鼠
液中のシリカが過飽和状態で溶液中に溶解し、これが析
出するとき、必ずしもシード上に沈着するとは限らず、
新しいシードを発生させたりして、最終的に(qられる
シリカゾルの粒度分布がブロードになるため好ましくな
い。
終的に得られるシリカゾルの品質に大きな影響を及ぼす
因子でおる。S!02/M2Oモル比が2.8未満であ
ると、後述するビルドアップ工程で添加する酸性ケイ鼠
液中のシリカが過飽和状態で溶液中に溶解し、これが析
出するとき、必ずしもシード上に沈着するとは限らず、
新しいシードを発生させたりして、最終的に(qられる
シリカゾルの粒度分布がブロードになるため好ましくな
い。
また、このモル比が10を越えると、シードの成長が充
分でなく、小さいシードが多数生成し、最終的に得られ
るシリカゾルの粒径も非常に小さいものになり、また、
ビルドアップ工程中に系のpHが低下し、増粘あるいは
ゲル化などの現象が起こるため好ましくない。
分でなく、小さいシードが多数生成し、最終的に得られ
るシリカゾルの粒径も非常に小さいものになり、また、
ビルドアップ工程中に系のpHが低下し、増粘あるいは
ゲル化などの現象が起こるため好ましくない。
上記のようにして酸性ケイ酸液とケイ酸アルカリとを混
合した後、得られた混合液を加熱し、シード液の熟成を
行う。この熟成を行なうことによって、シード液中のシ
リカ重合物が安定化される。
合した後、得られた混合液を加熱し、シード液の熟成を
行う。この熟成を行なうことによって、シード液中のシ
リカ重合物が安定化される。
熟成温度は、後)ホするビルドアップ温度と同一かある
いはそれ以下の温度であることが好ましく、この熟成温
度が60℃未満であると、混合物が安定な状態に達せず
、ビルドアップ初期のより高い温度での加熱により変化
を起こし、安定なシリカゾルを得ることが困難となるた
め好ましくない。
いはそれ以下の温度であることが好ましく、この熟成温
度が60℃未満であると、混合物が安定な状態に達せず
、ビルドアップ初期のより高い温度での加熱により変化
を起こし、安定なシリカゾルを得ることが困難となるた
め好ましくない。
一方、熟成温度が高すぎると、加えた酸性ケイ酸液中の
シワ力が急速に溶解し、酸性ケイ酸液を加えないケイ酸
アルカリ水溶液のみをシードとして用いたのと同一結果
となるので105℃以下が望ましい。シード液のS!0
2/M2Oモル比の低い場合に、その影響は大である。
シワ力が急速に溶解し、酸性ケイ酸液を加えないケイ酸
アルカリ水溶液のみをシードとして用いたのと同一結果
となるので105℃以下が望ましい。シード液のS!0
2/M2Oモル比の低い場合に、その影響は大である。
(b)ビルドアップ工程
上記のようにして調製されたシード液に、酸性ケイ酸液
を徐々に添加して、シリカ粒子を成長させる。添hOす
る酸性ケイ酸液は、シード液の調製時に用いられる酸性
ケイ酸液と同様の方法で得られたものが用いられる。そ
の5lo2s度は、特に制限はないが、酸性ケイ酸液の
安定度の点から、あまり高濃度では好ましくなく、約7
重量%以下のものが好ましい。
を徐々に添加して、シリカ粒子を成長させる。添hOす
る酸性ケイ酸液は、シード液の調製時に用いられる酸性
ケイ酸液と同様の方法で得られたものが用いられる。そ
の5lo2s度は、特に制限はないが、酸性ケイ酸液の
安定度の点から、あまり高濃度では好ましくなく、約7
重量%以下のものが好ましい。
酸性ケイ酸液を添加する場合、この酸性ケイ酸液中のシ
リカがシード液中の核粒子に確実に沈着して、新たな咳
を発生しないようにしなければならない。そのために、
本発明では、酸性ケイ酸液の添加を、次の式に示される
ような速度またはそれ以下で行なわなければならない。
リカがシード液中の核粒子に確実に沈着して、新たな咳
を発生しないようにしなければならない。そのために、
本発明では、酸性ケイ酸液の添加を、次の式に示される
ような速度またはそれ以下で行なわなければならない。
log y≦2.3−3.610C1χy:添加速度[
添加酸性ケイ酸液S!02SJvl/分・シード液中の
酸性ケイ酸液 5i02y数コ χ:シード液中の全S i 02 /M2.0モル比(
2,8≦χ≦コO) 酸性ケイ酸液の添加速度が、上記の式で示される値より
も大きい場合は、添加される酸性ケイ酸中のシリJJが
シード液中の核粒子上に確実には沈着せず、新たな核粒
子が発生するなどして均一な粒径のものが1qられす、
粒度分布が広く、しかも粘度の高いシリカゾルとなる。
添加酸性ケイ酸液S!02SJvl/分・シード液中の
酸性ケイ酸液 5i02y数コ χ:シード液中の全S i 02 /M2.0モル比(
2,8≦χ≦コO) 酸性ケイ酸液の添加速度が、上記の式で示される値より
も大きい場合は、添加される酸性ケイ酸中のシリJJが
シード液中の核粒子上に確実には沈着せず、新たな核粒
子が発生するなどして均一な粒径のものが1qられす、
粒度分布が広く、しかも粘度の高いシリカゾルとなる。
酸性ケイ酸液の添力0速度が前述の速度で示される(直
よりも著しく小さくなると、得られるシリカゾルの透明
度が次第に低下するようになるとともに、また、ヒルド
アツブの時間か長くなり、コスドアツブの要因ともなる
。このため、透明性に優れるとともに低粘度のシリカゾ
ルを1りるには、酸性ケイ酸液の添加速度は、少なくと
も0.01(3/分・9)以上で添加することが好まし
い。
よりも著しく小さくなると、得られるシリカゾルの透明
度が次第に低下するようになるとともに、また、ヒルド
アツブの時間か長くなり、コスドアツブの要因ともなる
。このため、透明性に優れるとともに低粘度のシリカゾ
ルを1りるには、酸性ケイ酸液の添加速度は、少なくと
も0.01(3/分・9)以上で添加することが好まし
い。
上記のような添加速度で酸性ケイ酸液を添加しながらの
ピルドアップ工程は、反応系を、約60℃以上の温度に
保持しながら行なうことが好ましい。
ピルドアップ工程は、反応系を、約60℃以上の温度に
保持しながら行なうことが好ましい。
ピルドアップ工程の温度が60℃未満では、添加された
酸性ケイ酸液中のケイ酸の溶解速度および溶解されたシ
リカの核粒子への沈着速度などが遅くなり、このため酸
性ケイ酸液の添加速度を遅くしなければならないことか
ら好ましくない。一方、ピルドアップ工程の温度を高く
すれば同一3 I O2/ 1V12Oモル比でも、酸
性ケイ酸液の添加速度を大きく覆ることができることか
ら、粒径の大きなシリカゾルを得たい場合は、温度を高
くすることが有利である。しかしながら、あまり高温に
すると、粒径の制御が困難になることから、ピルドアッ
プ工程は約140℃以下で行なわれることが好ましい。
酸性ケイ酸液中のケイ酸の溶解速度および溶解されたシ
リカの核粒子への沈着速度などが遅くなり、このため酸
性ケイ酸液の添加速度を遅くしなければならないことか
ら好ましくない。一方、ピルドアップ工程の温度を高く
すれば同一3 I O2/ 1V12Oモル比でも、酸
性ケイ酸液の添加速度を大きく覆ることができることか
ら、粒径の大きなシリカゾルを得たい場合は、温度を高
くすることが有利である。しかしながら、あまり高温に
すると、粒径の制御が困難になることから、ピルドアッ
プ工程は約140℃以下で行なわれることが好ましい。
このように本発明では、シード液のS i 02 /〜
12Oモル比および酸性ケイ酸液のシード液中への添加
速度を特定の範囲内で適宜選択することにより、生成す
るシリカ粒子の粒径を任意に制御lすることが可能にな
る。すなわち、大粒子径のシリカゾルを得ようとする場
合には、シード液のS!02/M2Oモル比を小さくす
るともに酸性ケイ@液の添加速度を大きくすればよい。
12Oモル比および酸性ケイ酸液のシード液中への添加
速度を特定の範囲内で適宜選択することにより、生成す
るシリカ粒子の粒径を任意に制御lすることが可能にな
る。すなわち、大粒子径のシリカゾルを得ようとする場
合には、シード液のS!02/M2Oモル比を小さくす
るともに酸性ケイ@液の添加速度を大きくすればよい。
逆に、小粒子径のシリカゾルを得ようとする場合には、
シード液のS!02/M2Oモル比を大きくするととも
に、酸性ケイ酸液の添加速度を小さくすればよい。
シード液のS!02/M2Oモル比を大きくするととも
に、酸性ケイ酸液の添加速度を小さくすればよい。
このような本発明に係るシリカゾルの製造方法によれば
、5〜30mμの範囲の均一な粒径のシリカ粒子が分散
媒中に分散した、透明性に優れるとともに低粘度のシリ
カゾルを得ることができる。
、5〜30mμの範囲の均一な粒径のシリカ粒子が分散
媒中に分散した、透明性に優れるとともに低粘度のシリ
カゾルを得ることができる。
前述のような方法で得られたシリカゾルは、通常は、こ
れを約2O〜50重量%にまで濃縮する。
れを約2O〜50重量%にまで濃縮する。
濃縮方法としては、加熱して水分を蒸発させる方法、ま
たは限外濾過により濃縮する方法などの従来公知の方法
が採用される。
たは限外濾過により濃縮する方法などの従来公知の方法
が採用される。
得られたシリカゾルの透明性は、シリカゾルの濁度を分
光光度計により測定することによって評価されるが、こ
の測定は、所定濃度に調製されたシリカゾルの500m
μの波長の光の透過率を測定し、これを標準試料として
の水の透過率と比較することにより求められる。また、
得られたシリカゾルの粘度は、所定濃度に調製されたシ
リカゾルをオストワルド粘度計で測定することによって
評(iifiされる。なお、シリカゾル中の分散粒子の
平均粒径は、NaOH滴定法により粒子の比表面積5(
Td/lを測定し、次式から平均粒径(D)を練土する
ことによって求められる。
光光度計により測定することによって評価されるが、こ
の測定は、所定濃度に調製されたシリカゾルの500m
μの波長の光の透過率を測定し、これを標準試料として
の水の透過率と比較することにより求められる。また、
得られたシリカゾルの粘度は、所定濃度に調製されたシ
リカゾルをオストワルド粘度計で測定することによって
評(iifiされる。なお、シリカゾル中の分散粒子の
平均粒径は、NaOH滴定法により粒子の比表面積5(
Td/lを測定し、次式から平均粒径(D)を練土する
ことによって求められる。
D <mtl’)=6,000/SXρ(ρニジリカの
密度=2.2’j/ctn3)本発明で得られるシリカ
ゾルは、S i 02 /M2Qモル比が約5Q〜12
Oの範囲にあり、平均粒径が約5〜30mμの均一なシ
リカ粒子が分散したシリカゾルである。そのため、従来
のシリカゾルに比較して、低濁度(透明性に優れている
)、低粘度のシリカゾルが得られる。
密度=2.2’j/ctn3)本発明で得られるシリカ
ゾルは、S i 02 /M2Qモル比が約5Q〜12
Oの範囲にあり、平均粒径が約5〜30mμの均一なシ
リカ粒子が分散したシリカゾルである。そのため、従来
のシリカゾルに比較して、低濁度(透明性に優れている
)、低粘度のシリカゾルが得られる。
一般に、シリカゾルの濁度および粘度は、同一5in2
濃度の場合には、分散シリカ粒子の粒径および粒度分布
に応じて決定される。ずなわら、シリカゾル中に含まれ
る大粒径粒子の割合が多くなれば濁度は高くなるととも
に粘度は低くなり、逆に小粒径粒子の割合が多くなれば
、濁度は低くなるとともに粘度は高くなる。また、平均
粒径が同じであっても、シリカゾル中に含まれる大粒径
粒子の割合が多いほど透明性が低下し、また小粒径粒子
の割合が多い程高粘度のシリカゾルとなる。
濃度の場合には、分散シリカ粒子の粒径および粒度分布
に応じて決定される。ずなわら、シリカゾル中に含まれ
る大粒径粒子の割合が多くなれば濁度は高くなるととも
に粘度は低くなり、逆に小粒径粒子の割合が多くなれば
、濁度は低くなるとともに粘度は高くなる。また、平均
粒径が同じであっても、シリカゾル中に含まれる大粒径
粒子の割合が多いほど透明性が低下し、また小粒径粒子
の割合が多い程高粘度のシリカゾルとなる。
このため同−S ! 028度でしかも同一の平均粒径
を有するシリカゾルの場合には、粒径分布がシャープな
シリカゾルはど透明性に優れるとともに低粘度となる。
を有するシリカゾルの場合には、粒径分布がシャープな
シリカゾルはど透明性に優れるとともに低粘度となる。
本発明の方法で得られるシリカゾルは、その分散粒子が
きわめて均一な粒子からなっていることから、平均粒径
が同じ従来のシリカゾルと比較した場合、透明性に優れ
るとともに低粘度である。
きわめて均一な粒子からなっていることから、平均粒径
が同じ従来のシリカゾルと比較した場合、透明性に優れ
るとともに低粘度である。
したがって、本発明に係る製造方法により得られるシリ
カゾルは、透明プラスチック、ガラスなどの透明な基材
のハードコート剤、あるいは透明プラスチックへの混和
剤などとして用いれば、透明性を失わず、強度、耐熱性
、耐摩耗性、耐候性を図ることが可能となる。また、レ
ンズやシリコンウェハーなどの研摩材としてもすぐれた
効果を発揮する。
カゾルは、透明プラスチック、ガラスなどの透明な基材
のハードコート剤、あるいは透明プラスチックへの混和
剤などとして用いれば、透明性を失わず、強度、耐熱性
、耐摩耗性、耐候性を図ることが可能となる。また、レ
ンズやシリコンウェハーなどの研摩材としてもすぐれた
効果を発揮する。
ざらに、本発明の方法によれば、目的の平均粒径をもっ
た均一な粒子が分散したシリカゾルが安定して得られる
。
た均一な粒子が分散したシリカゾルが安定して得られる
。
発明の効果
本発明に係るシリカゾルの製造方法によれば、特定条件
下でシード液を調製した後、このシード液に特定条件下
で酸性ケイ酸液を添加することによってシリカゾルを製
造しているので、1qられるシリカゾルは極めて均一な
粒径を有するシリカ粒子を含んでいるため、透明性に優
れるとともに低粘度である。このため、本発明に係る製
造方法によりシリカゾルは、各種バインダー、透明基材
用コート剤、研摩材などとして極めて有用である。
下でシード液を調製した後、このシード液に特定条件下
で酸性ケイ酸液を添加することによってシリカゾルを製
造しているので、1qられるシリカゾルは極めて均一な
粒径を有するシリカ粒子を含んでいるため、透明性に優
れるとともに低粘度である。このため、本発明に係る製
造方法によりシリカゾルは、各種バインダー、透明基材
用コート剤、研摩材などとして極めて有用である。
以下本発明を実施例によって説明するが、本発明はこれ
ら実施例に限定されるものではない。
ら実施例に限定されるものではない。
実施例 1
(酸性ケイ芯液の調製)
slo2=度24.0重量%、3 i 02 / N
82Oモル比3.1のケイ酸ソーダ溶液にイオン交換水
を混合し、SiO2濃度5.2重足%の希ケイ酸ソーダ
溶液を調製した。この溶液を、水素型陽イオン交換樹脂
層(三菱化成工業(株)製 ダイヤイオン5K−1B>
が充填されたカラムに通して酸性ケイ酸液を調製した。
82Oモル比3.1のケイ酸ソーダ溶液にイオン交換水
を混合し、SiO2濃度5.2重足%の希ケイ酸ソーダ
溶液を調製した。この溶液を、水素型陽イオン交換樹脂
層(三菱化成工業(株)製 ダイヤイオン5K−1B>
が充填されたカラムに通して酸性ケイ酸液を調製した。
1ワられたケイ酸液中のS i 02濃度は、5.0重
量%、DHは2.7であった。また、Na2O濃度は固
形分シリカ換痺で0.1重量%以下であった。
量%、DHは2.7であった。また、Na2O濃度は固
形分シリカ換痺で0.1重量%以下であった。
(シード液のFA′!A)
還流器、攪拌機、温度検出装置を備えた30gのステン
レス容器中で、163gの24重量%のケイ酸ソーダ溶
液(S ! O(2/ N a OOモル比3.1〉を
27609のイオン交換水で希釈した。
レス容器中で、163gの24重量%のケイ酸ソーダ溶
液(S ! O(2/ N a OOモル比3.1〉を
27609のイオン交換水で希釈した。
この液に、上記のようにして得られた酸性ケイ酸液66
0gを混合した後、80℃で30分加熱してシード液を
調製した。
0gを混合した後、80℃で30分加熱してシード液を
調製した。
このようにしてjqられたシード液中の仝SiQ2m度
は4.6重量%、仝5i02/Na2Oモル比は5.7
であった。
は4.6重量%、仝5i02/Na2Oモル比は5.7
であった。
(シリカゾルの調製)
上記のようにして得られたシード液の温度を80℃に維
持し、これに上記のようにして1qられた酸性ケイ酸液
を徐々に添加した。酸性ケイ酸液添加速度は、1分間に
339であり、合計で2O.400gの酸性ケイ酸液を
添加した。
持し、これに上記のようにして1qられた酸性ケイ酸液
を徐々に添加した。酸性ケイ酸液添加速度は、1分間に
339であり、合計で2O.400gの酸性ケイ酸液を
添加した。
酸性ケイ酸液の添加が終了した後、1qられた混合物を
80℃で10分間加熱し、次いで冷却して、希シリカゾ
ルを得た。
80℃で10分間加熱し、次いで冷却して、希シリカゾ
ルを得た。
得られた希シリカゾルを真空蒸発装置にて、減圧度60
0ayt1g、蒸発温度60℃の条件下で濃縮し、濃縮
シリカゾルを得た。1稈られたシリカゾルの性状を表1
に示す。
0ayt1g、蒸発温度60℃の条件下で濃縮し、濃縮
シリカゾルを得た。1稈られたシリカゾルの性状を表1
に示す。
実施例 2
(シード液の調製)
実施例1と同一反応器に、2号ケイ酸ソーダをイオン交
換水で希釈して冑だ液1.8709(SiO2濃度1.
4I!%、5i02/Na2Oモル比2.0)を入れ、
これを攪拌しながら実施例1と同じ酸性ケイ酸液235
gを混合し、80℃で30分間加熱して、シード液を調
製した。
換水で希釈して冑だ液1.8709(SiO2濃度1.
4I!%、5i02/Na2Oモル比2.0)を入れ、
これを攪拌しながら実施例1と同じ酸性ケイ酸液235
gを混合し、80℃で30分間加熱して、シード液を調
製した。
得られたシード液中の仝SiO2濃度は1.8重ff1
c″6、仝S i 02 /Na2Oモル比は2.9で
あった。
c″6、仝S i 02 /Na2Oモル比は2.9で
あった。
(シリカゾルの調製)
上記のようにして得られたシード液をよく攪拌しながら
、実施例1と同じ酸性ケイ酸液18.0109を1分間
に299の割合で添加した。
、実施例1と同じ酸性ケイ酸液18.0109を1分間
に299の割合で添加した。
得られたシリカゾルを、実施例1と同様にして1mし、
シリカゾルを得た。このシリカゾルの性状を表1に示す
。
シリカゾルを得た。このシリカゾルの性状を表1に示す
。
実施例 3〜10
実施例1と同じケイ酸ソーダ、酸性ケイ酸液を用いて、
シード液中の5107/N82Oモル比、添加速度およ
び加熱温度を変化させた以外は、実施例1と同様にして
シリカゾルを製造した。得られたシリカゾルの性状を表
1に示す。
シード液中の5107/N82Oモル比、添加速度およ
び加熱温度を変化させた以外は、実施例1と同様にして
シリカゾルを製造した。得られたシリカゾルの性状を表
1に示す。
なお、実施例6はオートゲレープを使用した。
比較例 1
実施例1と同じ5i02G度24重量%のケイ酸ソーダ
溶液163gを、2.7609イオン交換水で希釈して
溶液を調製した。これを80℃に昇温した後、この温度
を保持しながら酸性ケイ酸液(S i 02 s度5.
O重ffi%> 21 、1009を毎分353の速度
で添加し、希シリカゾルを1qだ。その後、実施例1と
同様にして減圧蒸留法にて濃縮して、シリカゾルを製造
した。1得られたシリカゾルの性状を表1に示す。
溶液163gを、2.7609イオン交換水で希釈して
溶液を調製した。これを80℃に昇温した後、この温度
を保持しながら酸性ケイ酸液(S i 02 s度5.
O重ffi%> 21 、1009を毎分353の速度
で添加し、希シリカゾルを1qだ。その後、実施例1と
同様にして減圧蒸留法にて濃縮して、シリカゾルを製造
した。1得られたシリカゾルの性状を表1に示す。
比較例 2
比較例1と同様の方法で、S!021度1.2重量%の
ケイ酸ソーダ溶液を調製した。これを95℃に昇温させ
、この温度を保持しながら、酸性ケイ酸液(SiO2濃
度3.1重量?6)31.0009を一定速度で12O
分間かけて添加した。
ケイ酸ソーダ溶液を調製した。これを95℃に昇温させ
、この温度を保持しながら、酸性ケイ酸液(SiO2濃
度3.1重量?6)31.0009を一定速度で12O
分間かけて添加した。
添加終了後、同一温度で60分保持した後、その一部を
直ちに実施例1と同じ条件で減圧濃縮したところ約14
重量%の点から粘度が上昇し、約18重量%に達した時
点でこれ以上の濃縮は不可能であった。残りのシリカゾ
ルをざらに温度を沸点まであげ、3840分間熟成した
。得られた希シリカゾルを実施例1と同様にして濃縮し
たところ表1に示すようなシリカゾルが得られた。
直ちに実施例1と同じ条件で減圧濃縮したところ約14
重量%の点から粘度が上昇し、約18重量%に達した時
点でこれ以上の濃縮は不可能であった。残りのシリカゾ
ルをざらに温度を沸点まであげ、3840分間熟成した
。得られた希シリカゾルを実施例1と同様にして濃縮し
たところ表1に示すようなシリカゾルが得られた。
比較例 3〜5
シード液のS i 02 /Na2Oモル比、酸性ケイ
酸液添加速度を表1に示すように変化させた以外は、実
施例1または実施例2と同様にしてシリカゾルを製造し
た。
酸液添加速度を表1に示すように変化させた以外は、実
施例1または実施例2と同様にしてシリカゾルを製造し
た。
シリカゾルの性状を表1に示す。
比較例 6
市販のシリカゾルCD社製、SiO2濃度30重量%)
について、その平均粒径、濁度および粘度を実施例1と
同様にして調べたところ、平均粒径は7.4mμであり
、濁度は0.050cm−1であり、粘度は7.7CI
)であった。
について、その平均粒径、濁度および粘度を実施例1と
同様にして調べたところ、平均粒径は7.4mμであり
、濁度は0.050cm−1であり、粘度は7.7CI
)であった。
比較例 7
市販のシリカゾル(N社性 SiO2濃度30重量%)
について、その平均粒径、濁度および粘度を実施例1と
同様にして調べたところ、平均粒径は13.6mμであ
り、濁度は0.237cm−1であり、粘度は4.2c
pであった。
について、その平均粒径、濁度および粘度を実施例1と
同様にして調べたところ、平均粒径は13.6mμであ
り、濁度は0.237cm−1であり、粘度は4.2c
pであった。
Claims (1)
- (1)下記(a)工程および(b)工程からなることを
特徴とするシリカゾルの製造方法: (a)ケイ酸アルカリ水溶液および/またはアルカリ水
溶液と、酸性ケイ酸液とを混合し、混合液のSiO_2
/M_2O(Mはアルカリ金属)のモル比を2.8〜1
0に調整したのち、60℃以上の温度で熟成して、シー
ド液を調製する工程、 (b)上記のようにして得られたシード液を60℃以上
に保持しながら、酸性ケイ酸液を下記の速度式以下の速
度で添加する工程、 logy≦2.3−3.6logχ y:添加速度[添加酸性ケイ酸液SiO_2g数/分・
シード液中の酸性ケイ酸液 SiO_2g数] χ:シード液の全SiO_2/M_2Oモル比。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61190075A JPS6345114A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | シリカゾルの製造方法 |
KR1019870008809A KR950010798B1 (ko) | 1986-08-13 | 1987-08-11 | 실리카졸 및 그의 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61190075A JPS6345114A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | シリカゾルの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6345114A true JPS6345114A (ja) | 1988-02-26 |
JPH0455125B2 JPH0455125B2 (ja) | 1992-09-02 |
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ID=16251944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61190075A Granted JPS6345114A (ja) | 1986-08-13 | 1986-08-13 | シリカゾルの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6345114A (ja) |
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-
1986
- 1986-08-13 JP JP61190075A patent/JPS6345114A/ja active Granted
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Also Published As
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---|---|
JPH0455125B2 (ja) | 1992-09-02 |
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