JPS6340184A - コンタクト・フイルム - Google Patents

コンタクト・フイルム

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JPS6340184A
JPS6340184A JP61184796A JP18479686A JPS6340184A JP S6340184 A JPS6340184 A JP S6340184A JP 61184796 A JP61184796 A JP 61184796A JP 18479686 A JP18479686 A JP 18479686A JP S6340184 A JPS6340184 A JP S6340184A
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JP
Japan
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conductive
contact film
parts
contact
conductive parts
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Pending
Application number
JP61184796A
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English (en)
Inventor
河井 照明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hakuto Co Ltd
Original Assignee
Hakuto Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hakuto Co Ltd filed Critical Hakuto Co Ltd
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Publication of JPS6340184A publication Critical patent/JPS6340184A/ja
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  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野1 この発明は、たとえば液晶表示パネルのように多数の導
電部が高密度に配置された端子部を有Jる電子装置の検
査を行なうに際して測定装置との間に接続されるコンタ
クト・フィルムに関する。
[従来の技術〕 第2図に示すように、画像表示用の液晶表示バネル1は
、多数のう、り1部2,2・・・が高密度に配置された
端子部3,4.5.6を右する。導電部2゜2・・・は
、第3図に拡大して示1ように、等ピッチで多数形成さ
れて43す、通常100〜150μmビッヂと極めて高
密度に配置されている。導電部2.2・・・に接続され
ている内部の電極も同様のピッチで形成されている。よ
つ又、各導電部2.2・・・に接続される内部のライン
間や主桟間の短絡が生じやすいため、端子部3・・・6
に測定装置を接続して1品ごとに短絡の有無を検査しな
ければならない。しかしながら、端子部3・・・6の各
導電部2゜2(、末上述のように微細ピッチで形成され
ている!、:め、該導電部2.2・・・に測定装置を接
続づるのは゛8易ではない。
従来は、そのような測定装置との接続にあたり、第4図
に示づ探針型の接続装置を用いていた。すなわち、導電
部2.2・・・と等ピッチに形成された導電性材料より
なる針7,7・・・をイ1するコンタクト治具8を用い
、第4図の矢印2方向にコンタクト冶2,18を移動さ
せ、針7.7を導電部2.2に接触させ導電部2,2と
の電気的接続を果!こし、他方、コンタクト治具8を図
示しないよす定装置に電気的に接続していた。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、第4図に示した探針型の=】ンタク[・
治具8にあっては、多数の147.7・・・を120〜
150μm程度の間隔を隔てて高密度に配置しなければ
ならない。よって、検査治具にもかかわらずかなり高価
な′AA置となって1)よう。
また、検査にあたっては、第4図のZ方向に繰返し移動
され、導電部2,2との接触を繰返されるのに対し、針
7.7・・・は極めて細い導電材料から構成されるもの
であるため、破10することがあり、その場合補修に多
大の時間と多額の費用を要する。のみならず、針7.7
の先端が1 ?1部2に食込むため、導電部2に損傷を
−りえることがある。
その結果、検査を行なったがために、逆に短絡不良や導
通不良が生じることさえあった。
ざらに、たとえば第2図に示した液晶表示パネル1の端
子部3・・・6を検査するにあたっては、端子部3・・
・6のそれぞれに形成されている導電部2よりも多数の
針7.7をイ1するコンタクト治具8を用意するには、
極めて多数の釘7,7を設けなければならず、その場合
にはコンタクト治具8はより高いものにつく。逆に、各
端子部3・・・6の導電部2,2・・・よりら少数の針
7,7・・・を右するコンタクト治具8を用いる場合に
は、第4図の矢印Aに示すように、コンタクト治具8を
端子部に沿って間欠的に移動して検査を行なわなければ
ならない。したがって、コンタクト治具8のコストを低
くすることは可能であっても検査時間がかなり良くなる
という欠点がある。
上述のようなコンタクト治具8の欠点を解消するために
、たとえば端子n53・・・6の導電部2.2と同一ピ
ッチで形成された導電パターンを有する基板を端子部3
・・・6に圧接させて測定装置との間を接続し検査を行
なうことも考えられる。第5図は、この方法を説明する
ための断面図であり、ここでは液晶表示パネル1の導電
i!J52.2・・・の下方に、該導電i+2.2・・
・と小ね合わされた導電部9を有りる基板10が用いら
れている。なお、11゜12は導電部2と導電部10と
を圧接す゛るための押型を示し、13はシリコンゴム等
の弥性体よりなる緩衝材を示づ゛。このような積板10
を用いれば、導電部2,2に損傷を与えることはない。
のみならず、導電部2と測定装置とを接続づるための装
置に多額の費用がかかることらない。しかしながら、液
晶表示パネル1は非常に割れヤ〉りく、第5図に示した
装置において液晶表示パネル1と基板10や押型11と
の間にわずかな埃や微粒子が存在するだけでも簡単に破
損してしまう。よって、第5図に示したコンタクト装置
を用いた場合には、作業環境に多大の注意を払わねばな
らず、このような環境を作り上げるには高価な設備を必
要とlノ、またそのような設備を用意したとしても、液
晶表示パネル1の破損事攻をなくすことは現実には不可
能でもある。
よって、この発明の目的は、測定対象物である?1子)
!i置に損133を与えるおそれがなく、かつ迅速に該
電子装置を検査することを可能とする安価なコンタクト
治具を提供することにある。
[問題点を解決するための手段] この発明の二】ンタクト治具(、上、多数の導電部が高
密度に形成された端子部をイiする電子装置の該端子部
を測定装置との間に接続し、1七子装置の検査を行なう
のに用いられるコンクト・フィルムであって、 フレキシブルプリント基板よりなり、その少なくとも一
方面の一端に測定対象物である電子装置の端子部の導電
部に対応して多数の第1の導電部が形成されており、 上記第1の導電部と離れた位置に、第1の導電部より5
粗く配置覆されており、測定装置に接続するための第2
の導電部が多数形成されて43す、かつ 上記第1および第2の導電部間を接続fる接続導電部を
多数形成1)でなるコンタクト・フィルムである。
[作用および発明の効果] この発明では、少なくとも一方の面にπ1の導電部、第
2の導電部J3 、にび接続導電部が形成されたフレー
1シブルプリント1lliより二」ンタク1へ・フィル
ムが形成されているので、コンタクt” ’rb具を極
めて安価に構成することができる。
また、フレキシブルプリント基板を用いるしのであるた
め、第1の導電部を利用して測定対象物の導電部に接続
づるために測定対象物の端子部に圧接したとしても、形
状が自在に変化するので測定対象物の破損を引き起こさ
ない。
ざらに、第1の導電部を利用して測定対象物の導電部に
電気的に接続するしのであるため、繰返し測定対象物の
S主部に接触させたとしでも、該導電部に+ti傷を与
えない。のみならず、第1の導電部を測定対象物の導電
部に重ね合わけて圧接するだけで電気的接続を果たし得
るので、極めて簡単にかつ迅速に検査を行なうことが可
能となる。
[実施例の説明1 第1図は、この発明の一実施例の平面図であり、この=
]コンタクトフィルム20は、フレキシブルプリント基
板21と、フレキシブルプリント基板21の一方端に貼
付けられた接続条22とからなる。接続条22は、後述
づるようにコンタクト・フィルム20を測定装置に接続
づるために設けられているものであるが、この発明の必
須の構成ではないことを指摘しておく。
フレキシブルプリント基板21は、通常の電子装置に実
装されるフレキシブルプリント基板と同様に、たとえば
ポリイミドから構成することができ、25μm程度の厚
みとされている。フレキシブルプリント基板21を用い
るのは、測定装;Nとの接続を容易とするだけでなく、
測定対象物との巾ね合わせに際し測定対象物に損傷を与
えないためである。
フレキシブルプリント基板21の一方面には、一端に第
1の導電部23.23・・・が形成されており、他端に
第2の導電部24.24・・・が形成され℃いる1、第
1の導電部23.23と第2の導電部24.24は、接
続導電部25.25により相互に接続されている。なお
、第1図では省略して図示しているが、第1の導゛jυ
部23、第2の導電部24は、それぞれ等ピッチで形成
されており、また6第1の導電部23と対応の導電部2
4はすべて接続導電部25で相互に接続されている。第
1の導電部23.23+よ、測定対象物である電子装置
の端子部の導電部ど等ピッチで、したがって微粗なピッ
チで形成されている。これは、第1の導電部23.23
・・・を測定対象物の導電部に重り合わせて電気的接続
を果たすためである。
使方、)12の導電部24.24は測定装置に接続する
ために形成されているものであり、しIζがって第2の
導電部24.24・・・は、第1の導電部23.23に
比べて粗いピッチで形成されている。
このように、第2の導電部24.24を粗いピッチで配
置するために、接続導電部25.25間のピッチは、第
1の導電部23側から第2の導電部24側に至るにつれ
て順次粗くなるにうにされている。この実施例では、フ
レキシブルプリント基板21の全体形状を、磨ら外側に
位置する接続導電部25.25に沿う形状としているた
め、結果的にフレキシブルプリント基板21白休ら第1
のう電部23側から第2の導電部24側に至るにつれて
幅が広くなるように形成されている。もっとも、フレキ
シブルプリント基板21の外形については、これに限る
ものではなく、最も外側の接続導電部25.25に沿わ
せる必要はなく、第2の導電部24側の幅を有覆る長方
形の形としてもよいこと【よ占うまでらない。
第1の導電部23と第2の導電部24との間を接続する
接続導電部25.25の形成されている領域ぐは、該接
続導電部25.25を被覆づるように絶縁f126が形
成されている。絶縁層26は、測定対象物と測定装置と
の間に接続した場合に接続導電部25.25が他の憬器
やう電材と接触し、ぞの結果9nt/8等が生じること
を防止するために形成され一〇いるものである。
なお、第1の導電部24側には、側端縁に開口27.2
7・・・が形成されている。この間口27゜27・・・
は第1の476部23を測定対象物の導電部に位δ決め
するために形成されているものである。
また、第2め導電部24側にも、接続条22I3よびフ
レキシブルプリント基板21を貫通りる貞通孔29.2
9が形成されでいる。fI通孔29.29は、第2の導
電部2/1.24・・・を測定3A置の基板簀に接続づ
る際に接続条22を固定するために設けられているもの
である。
次に、第1図実施例の使用方法につき説明Jる。
使用に際しては、第7の導電部23に測定対象物の導電
部を「nね合わせる。づなわら、第6図に示ずように、
第1の導電部23.23・・・と測定対象物の導電部2
,2・・・とを重ね合わせ、両石の導通を図る。この場
合、第7図に示すように、押型31.32間に測定対象
物である液晶表示パネル1のう型部2,2と第1の導電
部23.23を重ね合わせるように液晶表示パネル1 
J3よびコンタクトフィルム20を重ね合わせ、たとえ
ばシリコンゴムよりなる弾性材33を介して第1の導電
部23および導電部2を圧接させる。弾性口33は、m
長い条になっており、第8図に第7図の右側から見た断
面図で示づように、押型32に形成された溝内に埋め込
まれている。しかも、上端に行くに従って幅が狭くされ
ているので、上方からコンタクト・フィルム20が圧接
されても、第8図の矢印方向に上端が動き得る。よって
、コンタクト・フィルム20が圧接に際し、ごみや微粒
子等によりわずかに移動しても、弾性材33の先端は、
該移動に円滑に追l1ii?lることが可能とされてい
る。
コンタクト・フィルム20はフレキシブルプリント基板
21よりなるため、液晶表示パネル1と=1ンタクト・
フィルム23との間に埃や細かなごみ等が存在したとし
ても、フレキシブルプリント基板21がその形状を自在
に変化させ得るので、液晶表示パネル1が圧接に伴なっ
てυjれるJ3それがない。また、第1の導電部23.
23・・・は液晶パネル1の導電部2.2・・・に対応
して、この実施例でtよ等ピッチに形成されているので
両者を出ね合わせるだけで両者の電気的接続を果たすこ
とができる。
なお、第1図実施例では、第1の導電部23゜23・・
・は、測定対象物である液晶表示パネルの端子部3・・
・6゛に形成されている導電部2と同数形成されている
。よって、検査に際しては、各端子部に1枚のコンタク
ト・フィルム20を用いるだけで、それぞれのコンタク
ト・フィルム20を端子部の方向に間欠移動づることな
く検査を終了づることができる。よって、第4図に示し
たような探針型のコンタクト治具を用いた1合のように
へ方向に沿って間欠移1IXllする必要がないため、
検査を極めて短時間に終了することができる。のみなら
ず、間欠移動のための大がかりな装置をも必要としない
なJ3、上記実施例では、第7の導電部23は、測定対
象物である液晶表示パネル1の各端子部3・・・6の導
電部2と同数形成されていたが、これに限らず、測定対
象物の導電部2の数よりら多数の第1の導電部23を形
成しておいてもよいことはもらろlνである。ざらに、
より大画面の液晶表示パネルのように端子部の長さが長
くなっており、その結果導電部の数がかなり多数にわた
る場合には、端子部の導電部より少数の第1の4電部2
3が形成されでいるコンタクト・フィルム20を用いて
6 、J: <、その場合にシ、上腹数枚の:コンタク
ト・フィルム20を1個の端子部に対して配置すればよ
い。この場合にら、コンタクト・フィルム20を端子部
に沿って移動する必要はないため、やはり大がかりな間
欠移動装置を殻することはない。
ざらに、測定対象物の導電部2と等ピッチに第1の導電
部23が形成される必要は必ずしらなく、測定対象物の
導電部の全数を接続して検査する必要がない場合には、
第1の導電部23はより粗いピッチで形成されていても
よい。
次に、第11・4実施例の接続条22について説明づる
。測定装置側では、第9図に示すように接続基板41が
形成されている場合がある1、この場合接vc!3板4
1上に、フレキシブルプリント基板21を、第1の導電
部が由なるように配置し、接続条22の貫通孔から、た
とえばボルト42を挿通さ牡、接続嚢板41の裏面側で
ナツトを用いてコンタクト・フィルム20を接続基板4
1に圧接・固定することができる。よって、第9図の状
態に接続条22°およびコンタクト・フィルム21を固
定した際に第1の導電部23がその位置に重なり合うよ
うに、接続基板41上の導電パターンを構成してお()
ば、接続条22を接続基板41に固定りるだけで、第2
の導電部24と接続基板41上の導電パターンを自動的
に接続することができる。
この発明のコンタクト・フィルムは、液晶表示パネルの
端子部のみならず、ハイブリッドICやグラフィック・
デイスプレィ装置の端子部など種々の電子装置の端子部
と測定装置との間に接続して検査を行なう用途一般に用
いることが可能であることを指摘しておく。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例の平面図である。 第2図は、測定対象物の一例としての液晶表示パネルを
示す斜視図であり、第3図はその端子部の拡大斜視図で
ある。第4図は、従来のコンタクト治具の一例を示す側
面図である。第5)図は、通常のプリント脇板を用いて
端子部との接続を図った場合の問題点を説明するための
断面図である。第6図は、第1図実施例を用いて第1の
導電部と液晶表示パネルの端子部とを黴ね合わせた状態
を示づ斜視図である。第7図は、第6図の使用状態を説
明するための断面図である。第8図は、第7図の右方か
ら見た状態を示寸断面図である。第9図は第1図実施例
の第2の容電部側の測定装置との接続例を説明するため
の斜視図である。 図において、20はコンタクト・フrルム、21はフレ
キシブルプリント基板、23は第1の導電部、24は第
2の導電部、25は接続導電部を承り。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)多数の導電部が高密度に形成された端子部を有す
    る電子装置の該端子部と測定装置との間に接続して電子
    装置の検査を行なうために用いられるコンタクト・フィ
    ルムであつて、 フレキシブルプリント基板よりなり、 前記フレキシブルプリント基板の少なくとも一方面の一
    端に測定対象物である電子装置の端子部の導電部に対応
    して多数の第1の導電部が形成されており、 前記第1の導電部と離れた位置に、第1の導電部より粗
    い密度で配置されている、測定装置に接続するための第
    2の導電部が多数形成されており、ざらに、前記第1お
    よび第2の導電部を接続する接続導電部が多数形成され
    ていることを特徴とする、コンタクト・フィルム。
  2. (2)前記第2の導電部は、前記フレキシブルプリント
    基板の他方端に形成されている、特許請求の範囲第1項
    記載のコンタクト・フィルム。
  3. (3)前記第1の導電部は、測定対象物である電子装置
    の端子部の導電部と等ピッチに形成されている、特許請
    求の範囲第1項または第2項記載のコンタクト・フィル
    ム。
  4. (4)前記第1の導電部は、電子装置の端子部の導電部
    よりも多く形成されている、特許請求の範囲第3項記載
    のコンタクト・フィルム。
  5. (5)前記接続導電部は、絶縁層で被覆されている、特
    許請求の範囲第1項〜第4項のいずれかに記載のコンタ
    クト・フィルム。
JP61184796A 1986-08-06 1986-08-06 コンタクト・フイルム Pending JPS6340184A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0228567A (ja) * 1988-07-19 1990-01-30 Tokyo Electron Ltd 検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0228567A (ja) * 1988-07-19 1990-01-30 Tokyo Electron Ltd 検査装置

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