JPS6330303A - 酢酸を塩素ガスで接触塩素化することによりクロル酢酸を製造する際に生じる塩化水素ガスの精製法 - Google Patents

酢酸を塩素ガスで接触塩素化することによりクロル酢酸を製造する際に生じる塩化水素ガスの精製法

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JPS6330303A JP61173991A JP17399186A JPS6330303A JP S6330303 A JPS6330303 A JP S6330303A JP 61173991 A JP61173991 A JP 61173991A JP 17399186 A JP17399186 A JP 17399186A JP S6330303 A JPS6330303 A JP S6330303A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、酢酸を塩素ガスで無水酢酸および製造する際
に副次生成物として得られる塩化水素ガスの精製法に関
する。
従来の技術 ウルマンス・エンチクロヘティーΦデルーテヒニツシエ
ン・ヒエミー(TnlmannsEncyklopae
die der Technischen Chemi
e )第3版、第5巻、690および691頁によれは
最低98チ濃度の酢酸を塩素で触媒としての無水酢酸お
よび/またはアセチルクロリドの添加下に85℃または
それ以上の温度で塩素化することによりクロル酢酸を連
続的に製造することが公知である。この場合副次生成物
として生じる塩化水素の利用が、有用な促進剤として有
利に酢酸塩素化中へ戻忌れる凝縮性成分の除去を必要と
する。この目的で、溜出するガスが、未便用生成物で向
流で洗浄され、および/または凝縮性成分を深冷するこ
とにより除去される。
クロル酢酸を製造するためのこのような操作方法が酉V
イツ国特許公開明細書第1919476号にも記載され
、その場合アセチルクロリドおよび場合により他のリア
クタ廃ガス生成物を回収するため、リアクタ廃ガスが最
低的゛20℃の温度に冷却されかつさらに向流で、酢酸
、無水酢酸および/またはアセチルクロリドより成る塩
素化すべき混合物で洗浄される。
さらに、前述の方法で精製された塩化水素ガスは、とく
にアセチルクロリドおよび場合により若干のクロルアセ
チルクロリドの形のカルボン酸クロ17 )F D、6
〜6容量チを含有する。経験によれば、このような不純
分を含有する粗製の塩化水素ガスは、殊にこのガスが凝
縮性成分を凝縮させるため圧縮された場合著るしく腐食
性である。従って従来より、このような粗製塩化水素ガ
スをこの方法で従来の装置中で、精製された塩化水素ガ
スが他の化学反応に使用されうる程度に精製することは
不可能であった。従つて、粗製塩化水素ガスを水ないし
は塩酸に吸収させることに甘んじた。この場合生じる塩
酸は酢酸で不純化されている。塩酸/酢酸混合物の蒸溜
による分離は、酢酸と塩化水素および水より成る共沸混
合物との沸点差がわずかであることにより難点を生じ、
かつさらに不経済である。
従ってしばしば、酢酸で不純化された塩酸が廃却されな
ければならなかった。
西Pイツ国特許明細書第2522286号には、酢酸を
塩素化することによりクロル酢酸を製造する際に生じる
塩化水素ガスをft製するに当り、未精製の塩化水素ガ
スが向流で、H2SO。
約20〜80重量%、酢酸約15〜60重量%五 および水約5〜50重友=り成る洗浄液で処理される方
法が記載されている。
この精製法の欠点は、この場合傭猿系で導かれる希硫酸
を生じ、このものが多量の酢酸を含有しかつさらに溶解
せる塩酸により極めて腐食性でありかつ従って取扱い困
難であることである。その結果、費用のかかる精製工程
により、酢酸が回収されることができたにすぎない。
発明が解決しようとする問題点 従って、課せられた課題は、酢酸を塩素化することによ
り酢酸を製造する際に生じる塩化水素ガスの経済的な精
製を、費用のかかる精製工程なしに再び使用されること
のできる物質だけの形成下に可能にする精製法を見出す
ことである。
問題点を解決するための手段 本発明による方法は、酢酸を塩素ガスで無水酢酸および
/またはアセチルクロリドの存在において接触塩素化す
ることによりクロル酢酸を製造する際に副次生成物とし
て生じ、前精製後にもなおアセチルクロリV約0.1〜
6容量チおよびクロルアセチルクロリド約0,1容量チ
以下を不純分として含有する塩化水素ガスを、連続的に
接続された、向流作動形の分割された2つの洗浄区間を
経て精製するに当り、第1の洗浄区間中で塩化水素ガス
が濃塩酸で洗浄され、かつ第2の洗浄工程中でこの前精
製された塩化水素ガスが濃硫酸で後精製されることを特
徴とする。
有利に、これら2つの洗浄区間がそれぞれ下部および上
部に分割されている。
有利に本発明による方法は、精製すべき塩化水素ガスが
、差当り第1の洗浄区間の下部で、酢酸15重量%以下
、有利に酢酸7〜10重量%以下を含有してもよい濃塩
酸で、10〜50℃、有利に15〜25℃の温度で処理
され、かつその後にこの塩化水素ガスが、第1の洗浄区
間の上部で濃塩酸で5〜40’C,有利に18〜20℃
の温度で洗浄されるように実施される。
有利であると判明したのは、第1の洗浄区間の下部に、
塩化水素ガス1m3(標準状態に換算)当り、濃塩酸お
よび場合により酢酸より成る洗浄液1〜57.有利に2
〜61が送入され、かつ第1の洗浄区間の上部に、塩化
水素ガス1m3(標準状態に換算)箔り一塩酸0.05
〜1l、有利に0.1lが送入された場合である。
この方法の有利な実施形態が得られるのは、第1の洗浄
区間の上部からの塩化水素ガスが、差当り第2の洗浄区
間の下部で、水15重量−以下、有利に10重量%以下
を含有する硫酸で10〜40℃、有利に15〜20℃の
温度で洗浄され、かつその後にこの塩化水素ガスが、第
2の洗浄区間の上部で濃硫酸で10〜60℃、有利に1
8〜20℃の温度で洗浄された場合である。
十分な精製が達せられるのは、第2の洗浄区間の下部に
、塩化水素ガス1m3(標準状態に換算)当り、水15
重量%以下、有利に10重量%以下を含有する硫酸2〜
101l有利に5〜6A’が送入された場合である。
有利なのが、第2の洗浄区間の上部に、塩化水素ガス1
m3(標準状態に換X)当り、濃硫酸0.01〜0.5
l、有利に0.02〜0.1jが送入された場合である
今や本発明の方法を使用し、塩素化によりクロル酢酸を
製造する際に生じるようt塩化水素ガスが、水10 p
pm以下および酢酸5 ppm以下を含有する塩化水素
ガスが得られるように精製されることができる。
第1の洗浄区間から生じる、酢酸15重量%以下を有す
る一塩酸は、定量的にモノクロル酢酸製造に返流され、
そこでこの塩酸が酸クロリドないしは一無水物の加水分
解に使用されることができる。
第2の洗浄区間から生じる、水15重量%以下を有する
硫酸は、酢酸0.5重量%以下および塩化水素0.1重
量%以下を含有する。空気で曝気することにより、硫酸
の塩化水素含有率かく10 ppm K低減され、かつ
この硫酸が例えば直接に燐鉱石の分解に使用されること
ができる。
実施例 以下に、本発明の方法を図面実施例につき詳説する。
モノクロル酢酸製造装置から、導管13を経て、アセチ
ルクロリド0.15容量チ、クロルアセチルクロリド0
.01容量チおよび酢酸0.1容量係を不純分として有
する塩化水素ガス1800Nm3/時間を第1の洗浄区
間1中へ導入する。
ボンデ1lを有する液体循環系14を経て、塩化水素3
9.8重量%および酢酸8.9重量%な含有する洗浄液
4m3/時間を第1の洗浄区間1の下部3中で循環させ
る。プライン冷却装置15を使用し、洗浄液を17”G
K調節する。第1の洗浄区間の下部は、内径700朋お
よび泡鐘段数10を有する塔内74路(Ko1onne
nschu7 )である。
導管17を経て、濃塩酸を貯槽8から第1の洗浄区間の
上部4中へ181/時間の量で20℃の温度で搬入する
。第1の洗浄区間の上部は、内径700mmおよび泡傭
段数10を有する塔内径路である。
導管16を経て、使用された洗浄液を貯槽7(モノクロ
ル酢威製造装り中へ排出する。
この前精製された塩化水素ガスを、導管18を、経て第
1の洗浄区間から流出させかつ第2の洗浄区間2へ入れ
る。第2の洗浄区間2の下部5中で、塩化水素ガスを、
ポンプ12を有する液体循環系19を経て、水7.9重
量%を含有する硫酸10m’/時間で洗浄する。第2の
洗浄区間の下部は、内径700 :nxおよび泡濾段数
10を有する塔内経路である。
液体循環系19を、プライン冷却装置21を使用し16
℃の温度に維持する。第2の洗浄区間2の上部6は、内
径700朋および泡鐘段数10を有する塔内径路であり
、かつ貯槽10から導管23を経て濃硫酸60j/時間
が送入される。精製された塩化水素ガスが、第2の洗浄
区間2から導管20を経て流出する。不純分として、塩
化水素ガスが水< 10 ppmおよび酢酸< 5 p
pmを含有する。
貯槽9中へ導管22を経て排出される、使用された硫酸
は、水7.9重量%のほかさらに酢酸<0.5重量%お
よび塩化水素0.09重量%を含有する。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の方法を実施する装置の1実施例を略示す
る系統図である。 1・・・第1の洗浄区間、2・・・第2の洗浄区間、3
・・・第1の、洗浄区間の下部、4・・・第1の洗浄区
間の上部、5・・・第2の洗浄区間の上部、6・・・第
2の洗浄区間の上部、7・・・使用された洗浄液の貯槽
、8・・・濃塩酸貯槽、9・・・使用された洗浄液の貯
槽、10・・・濃硫酸貯槽、13・・・塩化水素ガス導
入管、14・・・液体循環系、15・・・プライン冷却
装置、19・・・液体循環系、20・・・精製塩化水素
ブス導出管、21・・・プライン冷却装置1・・・第1
の洗浄区間 2・・・第2の洗浄区間 3・・・第1の洗浄区間の下部 4・・・第1の洗浄区間の上部 5・・・第2の洗浄区間の下部 6・・・第2の洗浄区間の上部

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、酢酸を塩素ガスで無水酢酸および/またはアセチル
    クロリドの存在において接触塩素化することによりクロ
    ル酢酸を製造する際に副次生成物として生じ、前精製後
    にもなおアセチルクロリド約0.1〜3容量%およびク
    ロルアセチルクロリド約0.1容量%以下を不純分とし
    て含有する塩化水素ガスを、連続的に接続された、向流
    作動形の分割された2つの洗浄区間(1、2)を経て精
    製するに当り、第1の洗浄区間(1)中で塩化水素ガス
    が濃塩酸で洗浄され、かつ第2の洗浄工程(2)中でこ
    の両精製された塩化水素ガスが濃硫酸で後精製されるこ
    とを特徴とする酢酸を塩素ガスで接触塩素化することに
    よりクロル酢酸を製造する際に生じる塩化水素ガスの精
    製法。 2、精製すべき塩化水素ガスが、第1の洗浄区間(1)
    の下部(3)で、酢酸15重量%以下を含有してもよい
    濃塩酸で10〜50℃の温度で処理され、かつその後に
    この塩化水素ガスが、第1の洗浄区間(1)の上部(4
    )で、濃塩酸で5〜40℃の温度で洗浄されることを特
    徴とする、特許請求の範囲第1項記載の塩化水素ガスの
    精製法。 3、第1の洗浄区間(1)の下部(3)に、塩化水素ガ
    ス1m^3(標準状態に換算)当り、濃塩酸および場合
    により酢酸より成る洗浄液1〜5lが送入されることを
    特徴とする、特許請求の範囲第2項記載の塩化水素ガス
    の精製法。 4、第1の洗浄区間(1)の上部(4)に、塩化水素ガ
    ス1m^3(標準状態に換算)当り濃塩酸0.05〜1
    lが送入されることを特徴とする、特許請求の範囲第2
    項記載の塩化水素ガスの精製法。 5、第1の洗浄区間(1)の上部(4)からの塩化水素
    ガスが、差当り第2の洗浄区間(2)の下部(5)で、
    水15重量%以下を含有する硫酸で10〜40℃の温度
    で洗浄され、かつその後にこの塩化水素、ガスが、第2
    の洗浄区間(2)の上部(6)で、濃硫酸で10〜30
    ℃の温度で洗浄されることを特徴とする、特許請求の範
    囲第2項記載の塩化水素ガスの精製法。 6、第2の洗浄区間(2)の下部(5)に、塩化水素ガ
    ス1m^3(標準状態に換算)当り、水15重量%以下
    を含有する硫酸2〜10lが送入されることを特徴とす
    る、特許請求の範囲第5項記載の塩化水素ガスの精製法
    。 7、第2の洗浄区間(2)の上部(6)に、塩化水素ガ
    ス1m^3(標準状態に換算)当り、濃硫酸0.01〜
    0.5lが送入されることを特徴とする、特許請求の範
    囲第5項記載の塩化水素ガスの精製法。
JP61173991A 1985-07-26 1986-07-25 酢酸を塩素ガスで接触塩素化することによりクロル酢酸を製造する際に生じる塩化水素ガスの精製法 Expired - Lifetime JPH0717362B2 (ja)

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