JPS6326117A - インバ−タ回路 - Google Patents

インバ−タ回路

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JPS6326117A
JPS6326117A JP61170214A JP17021486A JPS6326117A JP S6326117 A JPS6326117 A JP S6326117A JP 61170214 A JP61170214 A JP 61170214A JP 17021486 A JP17021486 A JP 17021486A JP S6326117 A JPS6326117 A JP S6326117A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
transistor
vih
vil
drain
Prior art date
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Application number
JP61170214A
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English (en)
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JPH0821851B2 (ja
Inventor
Toshio Komuro
小室 敏雄
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Publication of JPS6326117A publication Critical patent/JPS6326117A/ja
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • H03K19/0021Modifications of threshold
    • H03K19/0027Modifications of threshold in field effect transistor circuits

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はMO8集積回路で構成されるインバータ回路に
関する。
〔従来の技術〕
従来のインバータ回路の一例は、ソースを電源電位、ゲ
ートを入力信号、ドレインを出力信号とする第1の導電
型の第1のトランジスタ、ドレインを第1のトランジス
タのドレイン、ゲートを入力信号、ソースを内部接点と
する第2の導電型の第2のトランジスタ、ドレインを内
部接点、ゲートを入力信号、ソースを接地電位とする第
2の導電型の第3のトランジスタから構成されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このよう表従来構成においては、回路のしきい値が固定
されているため、入力信号が低レベル(VIL)にある
ときに接地電位の上昇に伴って高レベル(VIH)と判
定され出力信号が低レベル化したシ、また、入力信号が
VINからVIHK変化するときにVIHが低目である
場合には出力信号が反転しないことがあるため、VIL
の最大値およびVIHの最小値を厳しく規制しなければ
ならないという問題点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明回路は、ソースを電源電位、ゲートを入力信号、
ドレインを出力信号とする第1の導電型の第1のトラン
ジスタ、ドレインを第1のトランジスタのドレイン、ゲ
ートを入力信号、ソースを内部接点とする第2の導電型
の第2のトランジスタ、ドレインを内部接点、ゲートを
入力信号、ソースを接地電位とする第2の導電型の第3
のトランジスタからなる第1の回路と、 ソースを電源電位、ゲートを第1のクロックとする第1
の導電型の第4のトランジスタ、ソースを第4のトラン
ジスタのドレイン、ゲートを第2のクロック、ドレイン
を内部接点とする第1の導電型の第5のトランジスタ、
ドレインを第5のトランジスタのドレイン、ゲートを第
2のクロック。
ソースを接地電位とする第2の導電型の第6のトランジ
スタからなる第2の回路とを有している。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の実施例の回路図である。
第1図において、Ql、Q4.QsはPチャネルMOS
トランジスタ、Q2.Qs 、QsはNチャネルMO8
)ランジスタ、Nlは内部接点を示す。
第2図は本実施例の動作を示すタイミング図である。
以下、第2図を用いて第1図の回路の動作を説明する。
時刻t1において、Ql 、Q2およびQsから成る第
1の回路の入力信号MINがVIHからVILに変わシ
、出力VOUTが電源電位(以下■CCと記す)迄出力
される。このとき、Q4.QsおよびQ6から成る第2
の回路でクロ、りφ1はVCC、クロックφ2は接地電
位(以下GNPと記す)にあ!!11. Q4はオフ、
またQsはオン、Q6はオフであるため、第1の回路の
しきい値はQl 、Q2およびQsだけで決まるレベル
■1にある。
次に時刻t2において、クロックφ1がvCCからGN
Dに変化すると、第2の回路でQ4がオンすることによ
って、電源電圧からQ4 、Qsを通して内部接点N1
への電流パスが出来る為、第1の回路のしきい値はレベ
ルv1からv2へと上がる。
次に時刻t3において、クロ、りφ2がGNDからvC
Cへ変わると、Qsがオフ、Q6がオンすることによっ
て内部接点N1からQ6を通して接地電圧へ電流パスが
出来る為、第1の回路のしきい値はレベルV2から■1
よりさらに低いレベルv3に変わる。
時刻t4にVINがVILからVIHに戻シvOUTが
GNDとなるが、この時第1の回路のしきい値は■3の
ままである。
時刻t5においてクロックφ1がGNDからVCCへと
変わり、Q4がオフする。
時刻t6においてクロックφ2がVCCからGNDに変
わるとQsがオン、Q6がオフし、第1の回路のしきい
値は■1に戻る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、VINが低レベルにある
時刻t2からt3にかけては、第1の回路のしきい値が
Vlから■2へと上っているので、集積回路の動作中の
接地電位の上昇にともない、VILtl−VIHと判定
する誤動作は避けられるため、VILの最大値を、従来
のように第1の回路だけで構成されるときよシ大きくす
ることができ、又、VILからVIHへ変化する時刻t
3から14にかけては第1の回路のしきい値が■1より
低い■3にあるのでVIHの最小値を第1の回路だけで
構成されるときよシも小さくすることができるので、入
力のVIH及びVILに関してすぐれた特性を持つとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例、第2図は本実施例動作を示
すタイミング図である。 Ql 、Q4 、Q5・・・・・・PチャネルMO8ト
ランジスタ、Q2 、Q3 、Q6・・・・−・Nチャ
ネルMOSトランジスタ、φ1.φ2・・・・・−クロ
、り。 CCψl 第1 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ソースを電源電位、ゲート入力信号、ドレインを出力信
    号とする第1の導電型の第1のトランジスタ、ドレイン
    を前記第1のトランジスタのドレイン、ゲートを前記入
    力信号、ソースを内部接点とする第2の導電型の第2の
    トランジスタ、ドレインを前記内部接点、ゲートを前記
    入力信号、ソースを接地電位とする第2の導電型の第3
    のトランジスタからなる第1の回路と、 ソースを電源電位、ゲートを第1のクロックとする第1
    の導電型の第4のトランジスタ、ソースを前記第4のト
    ランジスタのドレイン、ゲートを第2のクロック、ドレ
    インを前記内部接点とする第1の導電型の第5のトラン
    ジスタ、ドレインを前記第5のトランジスタのドレイン
    、ゲートを前記第2のクロック、ソースを接地電位とす
    る第2の導電型の第6のトランジスタからなる第2の回
    路とを有するインバータ回路。
JP61170214A 1986-07-18 1986-07-18 インバータ回路 Expired - Lifetime JPH0821851B2 (ja)

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JP61170214A JPH0821851B2 (ja) 1986-07-18 1986-07-18 インバータ回路

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JPS6326117A true JPS6326117A (ja) 1988-02-03
JPH0821851B2 JPH0821851B2 (ja) 1996-03-04

Family

ID=15900785

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JP61170214A Expired - Lifetime JPH0821851B2 (ja) 1986-07-18 1986-07-18 インバータ回路

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JP (1) JPH0821851B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0444683A2 (en) * 1990-03-02 1991-09-04 Nec Corporation Semiconductor circuit device with input threshold value correction circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0444683A2 (en) * 1990-03-02 1991-09-04 Nec Corporation Semiconductor circuit device with input threshold value correction circuit

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