JPS6324243B2 - - Google Patents
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- JPS6324243B2 JPS6324243B2 JP56131001A JP13100181A JPS6324243B2 JP S6324243 B2 JPS6324243 B2 JP S6324243B2 JP 56131001 A JP56131001 A JP 56131001A JP 13100181 A JP13100181 A JP 13100181A JP S6324243 B2 JPS6324243 B2 JP S6324243B2
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- JP
- Japan
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- hole
- light
- rotating body
- calculation step
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は回転体の周方向に沿つて取付けられ
る複数の物体の取付け精度を測定する組立精度測
定方法に関する。
る複数の物体の取付け精度を測定する組立精度測
定方法に関する。
たとえばVTRにおいては、回転体であるとこ
ろのデイスクに物体としての２つのヘツドが180
度ずれて取付けられていて、これらヘツドを磁気
テープ上に走行させることによつて画面信号を取
り出すようになつている。したがつて、デイスク
に取付けられた２つのヘツドがこのデイスクの周
方向に精密に180度の角度で取付けられていなけ
れば、TV画面上の像にずれが生じてしまうか
ら、VTRの組立工程においては、そのデイスク
に対するヘツドの組立精度の検査が極めて重要と
なる。
ろのデイスクに物体としての２つのヘツドが180
度ずれて取付けられていて、これらヘツドを磁気
テープ上に走行させることによつて画面信号を取
り出すようになつている。したがつて、デイスク
に取付けられた２つのヘツドがこのデイスクの周
方向に精密に180度の角度で取付けられていなけ
れば、TV画面上の像にずれが生じてしまうか
ら、VTRの組立工程においては、そのデイスク
に対するヘツドの組立精度の検査が極めて重要と
なる。
従来、デイスクに対するヘツドの組立精度を検
査するには、一対の顕微鏡をデイスクの回転軸に
対して正確に180度の対向角度で配置し、これら
各顕微鏡で拡大される各ヘツドの端面に設けられ
たスリツト部が各顕微鏡における視野の中心に位
置するか否かによつて上記各ヘツドがデイスクに
精密に180度の角度で組立てられているかどうか
を測定していた。
査するには、一対の顕微鏡をデイスクの回転軸に
対して正確に180度の対向角度で配置し、これら
各顕微鏡で拡大される各ヘツドの端面に設けられ
たスリツト部が各顕微鏡における視野の中心に位
置するか否かによつて上記各ヘツドがデイスクに
精密に180度の角度で組立てられているかどうか
を測定していた。
しかしながら、このような測定手段によると、
一対の顕微鏡の光軸をデイスクの回転軸の中心に
正確に合せることや180度の対向角度で配置する
ことに多大な労力を要するばかりか誤差が生じや
すく、また測定に際してはピント調整を行なつた
り、一対の顕微鏡をそれぞれ覗かなければならな
いなどのことにより、作業性が極めて悪かつた。
さらに、顕微鏡による測定は測定者が目で見て判
断するから、判断基準にばらつきが生じて測定精
度の向上に限界があつた。
一対の顕微鏡の光軸をデイスクの回転軸の中心に
正確に合せることや180度の対向角度で配置する
ことに多大な労力を要するばかりか誤差が生じや
すく、また測定に際してはピント調整を行なつた
り、一対の顕微鏡をそれぞれ覗かなければならな
いなどのことにより、作業性が極めて悪かつた。
さらに、顕微鏡による測定は測定者が目で見て判
断するから、判断基準にばらつきが生じて測定精
度の向上に限界があつた。
この発明は上記事情にもとづきなされたもの
で、その目的とするところは、回転体に取付けら
れた複数の物体の取付け角度を光電的に測定する
ことによつて、その測定を容易かつ高精度に行な
えるようにした組立精度測定方法を提供すること
にある。
で、その目的とするところは、回転体に取付けら
れた複数の物体の取付け角度を光電的に測定する
ことによつて、その測定を容易かつ高精度に行な
えるようにした組立精度測定方法を提供すること
にある。
以下、この発明の一実施例の組立精度測定方法
を図面を参照して説明する。図中１は円板状をな
した回転体としてのVTRのデイスクである。こ
のデイスク１の中心部には回転軸２が設けられ、
また上面周辺部には物体としての２つのヘツド
３，３がデイスク１の周方向に180度の角度とな
るように設けられている。このヘツド３は第２図
に示すように一端面は湾曲したほぼかまぼこ形を
なしていて、デイスク１の外周面から突出した湾
曲面には厚さ方向に沿つて散乱部としてのスリツ
ト部４が設けられている。
を図面を参照して説明する。図中１は円板状をな
した回転体としてのVTRのデイスクである。こ
のデイスク１の中心部には回転軸２が設けられ、
また上面周辺部には物体としての２つのヘツド
３，３がデイスク１の周方向に180度の角度とな
るように設けられている。このヘツド３は第２図
に示すように一端面は湾曲したほぼかまぼこ形を
なしていて、デイスク１の外周面から突出した湾
曲面には厚さ方向に沿つて散乱部としてのスリツ
ト部４が設けられている。
このようにしてヘツド３，３が組付けられたデ
イスク１は、その回転軸２を図示しない支持体に
支持されて一定速度で回転駆動され、上記一対の
ヘツド３，３がデイスク１の周方向に180度の角
度で精密に設けられているか否かが測定装置５に
よつて測定される。この測定装置５は、以下のご
とく構成されている。すなわち、デイスク１とと
もに回転駆動されるヘツド３には、この湾曲面に
レーザ発振器６から出力されるレーザ光Ｌが第１
のレンズ６ａで上記スリツト部４よりも大きな幅
寸法で集束されて所定の入射角度で照射される。
ヘツド３の湾曲面を照射したレーザ光Ｌは、通常
この湾曲面で正反射するが、スリツト部４におい
ては散乱する。湾曲面からの正反射光L1はこの
反射方向に配置された遮光板７に当つて吸収さ
れ、散乱光L2はこの散乱方向に配置された第２
のレンズ８で集束されて空間フイルタ９に向う。
この空間フイルタ９には、上記スリツト部４と直
交する方向つまりデイスク１の回転方向に沿うよ
うに細長い透孔１０が穿設されている。したがつ
て、散乱光L2だけが上記透孔１０を通過した散
乱光L2がスリツト部４の像を形成する位置には、
第１のセンサ１１と第２のセンサ１２とがわずか
に離間した状態でかつ透孔１０の長手方向に沿つ
て並設されている。したがつて、散乱光L2によ
るスリツト部４の像は、デイスク１とともにヘツ
ド３，３が回転することにより第１のセンサ１１
で検知されてから第２のセンサ１２で検知される
ようになつている。第１のセンサ１１は差動アン
プ１３の非反転入力端子に接続され、第２のセン
サ１２は反転入力端子に接続されていて、この差
動アンプ１３によつて第１のセンサ１１からの出
力E1と第２のセンサ１２からの出力E2との差ΔE
が演算されるようになつている。そして、差動ア
ンプ１３からの出力は信号処理装置１４に入力さ
れ、ここで第１のセンサ１１からの出力E1と第
２のセンサ１２の出力E2とのゼロクロス点の周
期が演算される。
イスク１は、その回転軸２を図示しない支持体に
支持されて一定速度で回転駆動され、上記一対の
ヘツド３，３がデイスク１の周方向に180度の角
度で精密に設けられているか否かが測定装置５に
よつて測定される。この測定装置５は、以下のご
とく構成されている。すなわち、デイスク１とと
もに回転駆動されるヘツド３には、この湾曲面に
レーザ発振器６から出力されるレーザ光Ｌが第１
のレンズ６ａで上記スリツト部４よりも大きな幅
寸法で集束されて所定の入射角度で照射される。
ヘツド３の湾曲面を照射したレーザ光Ｌは、通常
この湾曲面で正反射するが、スリツト部４におい
ては散乱する。湾曲面からの正反射光L1はこの
反射方向に配置された遮光板７に当つて吸収さ
れ、散乱光L2はこの散乱方向に配置された第２
のレンズ８で集束されて空間フイルタ９に向う。
この空間フイルタ９には、上記スリツト部４と直
交する方向つまりデイスク１の回転方向に沿うよ
うに細長い透孔１０が穿設されている。したがつ
て、散乱光L2だけが上記透孔１０を通過した散
乱光L2がスリツト部４の像を形成する位置には、
第１のセンサ１１と第２のセンサ１２とがわずか
に離間した状態でかつ透孔１０の長手方向に沿つ
て並設されている。したがつて、散乱光L2によ
るスリツト部４の像は、デイスク１とともにヘツ
ド３，３が回転することにより第１のセンサ１１
で検知されてから第２のセンサ１２で検知される
ようになつている。第１のセンサ１１は差動アン
プ１３の非反転入力端子に接続され、第２のセン
サ１２は反転入力端子に接続されていて、この差
動アンプ１３によつて第１のセンサ１１からの出
力E1と第２のセンサ１２からの出力E2との差ΔE
が演算されるようになつている。そして、差動ア
ンプ１３からの出力は信号処理装置１４に入力さ
れ、ここで第１のセンサ１１からの出力E1と第
２のセンサ１２の出力E2とのゼロクロス点の周
期が演算される。
つぎに、上記構成の組立精度測定装置を用いて
この実施例の組立精度測定方法について説明す
る。まず、デイスク１を一定速度で回転するとと
もにレーザ発振器６を作動させてレーザ光Ｌを出
力すると、このレーザ光Ｌはデイスク１とともに
回転する一対のヘツド３，３の湾曲面を順次照射
することになる。レーザ光Ｌが一方のヘツド３の
湾曲面を照射したとき、このレーザ光Ｌは上記湾
曲面のスリツト部４を除く個所では正反射するか
ら、この正反射光L1は遮光板７に当つて吸収さ
れる。しかしながら、レーザ光Ｌがスリツト部４
を照射したときには、このスリツト部４で散乱す
るので、この散乱光L2は第２のレンズ８で集束
されて空間フイルタ９の透孔１０を通過する。そ
して、スリツト部４の像を形成した散乱光L2は、
デイスク１とともにヘツド３，３が回転すること
により、第３図に矢印で示すように第１のセンサ
１１から第２のセンサ１２へと移行してこれらセ
ンサ１１，１２により検知される。したがつて、
差動アンプ１３での演算信号である第１のセンサ
１１の出力E1と第２のセンサ１２の出力E2との
差ΔEは第４図に示すように正から負へと反転す
る。すなわち、スリツト部４の像を形成する散乱
光L2が第１のセンサ１１から第２のセンサ１２
に移行する瞬間がゼロクロス点Z1となり、このゼ
ロクロス点Z1が生じたときの時間が信号処理装置
１４に記憶される。
この実施例の組立精度測定方法について説明す
る。まず、デイスク１を一定速度で回転するとと
もにレーザ発振器６を作動させてレーザ光Ｌを出
力すると、このレーザ光Ｌはデイスク１とともに
回転する一対のヘツド３，３の湾曲面を順次照射
することになる。レーザ光Ｌが一方のヘツド３の
湾曲面を照射したとき、このレーザ光Ｌは上記湾
曲面のスリツト部４を除く個所では正反射するか
ら、この正反射光L1は遮光板７に当つて吸収さ
れる。しかしながら、レーザ光Ｌがスリツト部４
を照射したときには、このスリツト部４で散乱す
るので、この散乱光L2は第２のレンズ８で集束
されて空間フイルタ９の透孔１０を通過する。そ
して、スリツト部４の像を形成した散乱光L2は、
デイスク１とともにヘツド３，３が回転すること
により、第３図に矢印で示すように第１のセンサ
１１から第２のセンサ１２へと移行してこれらセ
ンサ１１，１２により検知される。したがつて、
差動アンプ１３での演算信号である第１のセンサ
１１の出力E1と第２のセンサ１２の出力E2との
差ΔEは第４図に示すように正から負へと反転す
る。すなわち、スリツト部４の像を形成する散乱
光L2が第１のセンサ１１から第２のセンサ１２
に移行する瞬間がゼロクロス点Z1となり、このゼ
ロクロス点Z1が生じたときの時間が信号処理装置
１４に記憶される。
ついで、デイスク１が回転することにより、他
方のヘツド３のスリツト部４からの散乱光L2が
第１，第２のセンサ１１，１２によつて検知さ
れ、このときのゼロクロス点Z2が先程と同じよう
に差動アンプ１３で演算される。そして、先程の
ゼロクロス点Z1が検知されてから今度のゼロクロ
ス点Z2が検知されるまでの周期T1が信号処理装
置１４に記憶される。
方のヘツド３のスリツト部４からの散乱光L2が
第１，第２のセンサ１１，１２によつて検知さ
れ、このときのゼロクロス点Z2が先程と同じよう
に差動アンプ１３で演算される。そして、先程の
ゼロクロス点Z1が検知されてから今度のゼロクロ
ス点Z2が検知されるまでの周期T1が信号処理装
置１４に記憶される。
さらに、デイスク１が回転することにより、再
び一方のヘツド３のスリツト部４からの散乱光
L2が第１，第２のセンサ１１，１２によつて検
知されて、このときのゼロクロス点Z3が再び差動
アンプ１３で演算される。そして、他方のヘツド
３のゼロクロス点Z2が演算されてからこのときの
ゼロクロス点Z3が演算されるときまでの周期T2
が信号処理装置１４に記憶される。
び一方のヘツド３のスリツト部４からの散乱光
L2が第１，第２のセンサ１１，１２によつて検
知されて、このときのゼロクロス点Z3が再び差動
アンプ１３で演算される。そして、他方のヘツド
３のゼロクロス点Z2が演算されてからこのときの
ゼロクロス点Z3が演算されるときまでの周期T2
が信号処理装置１４に記憶される。
このようにして、最初のゼロクロス点Z1が演算
されてから次のゼロクロス点Z2が演算されるまで
の周期T1と、さらに次のゼロクロス点Z3が演算
されるまでの周期T2とが信号処理装置１４に記
憶されると、この信号処理装置１４によつて周期
T1とT2とが比較演算される。ここで、デイスク
１に組立てられた一対のヘツド３，３が正確に
180度の角度で設けられているならば、T1＝T2と
なるから、上記信号処理装置１４がT1とT2とを
比較演算することによつて一対のヘツド３，３の
組立精度が求められることになる。
されてから次のゼロクロス点Z2が演算されるまで
の周期T1と、さらに次のゼロクロス点Z3が演算
されるまでの周期T2とが信号処理装置１４に記
憶されると、この信号処理装置１４によつて周期
T1とT2とが比較演算される。ここで、デイスク
１に組立てられた一対のヘツド３，３が正確に
180度の角度で設けられているならば、T1＝T2と
なるから、上記信号処理装置１４がT1とT2とを
比較演算することによつて一対のヘツド３，３の
組立精度が求められることになる。
また、このような測定手段によれば、散乱光
L2が形成するスリツト部４の像が多少ぼけてい
ても、ゼロクロス点が生じる時間が変化すること
はないから、ピントぼけが測定精度に影響を及ぼ
すことがない。
L2が形成するスリツト部４の像が多少ぼけてい
ても、ゼロクロス点が生じる時間が変化すること
はないから、ピントぼけが測定精度に影響を及ぼ
すことがない。
なお、上記一実施例では回転体であるデイスク
に物体として２つのヘツドが組立てられた場合に
ついて述べたが、回転体に組立てられる物体は２
つに限定されず、３つあるいはそれ以上であつて
も、各物体によるゼロクロス点の周期を比較演算
することにより、各物体の回転体の周方向におけ
る組立精度を上記一実施例同様高精度に測定する
ことができる。
に物体として２つのヘツドが組立てられた場合に
ついて述べたが、回転体に組立てられる物体は２
つに限定されず、３つあるいはそれ以上であつて
も、各物体によるゼロクロス点の周期を比較演算
することにより、各物体の回転体の周方向におけ
る組立精度を上記一実施例同様高精度に測定する
ことができる。
以上述べたようにこの発明は、回転体の周方向
に沿つて取付けられた散乱部を有する複数の物体
の組立精度を測定する場合に、各物体にレーザ光
を照射してその散乱部から散乱するレーザ光を並
設された第１のセンサと第２のセンサとで検知
し、このときに生じるゼロクロス点を差動アンプ
で演算するとともに、この差動アンプから出力さ
れるゼロクロス点の周期を信号処理装置で演算す
ることにより、各物体の回転体の周方向における
取付け角度を求めるようにした。したがつて、従
来の顕微鏡による測定手段のように光軸を回転体
の回転中心に正確に合せたり、ピント調整を行な
うなどのことをせずにすむから、測定を能率よく
高精度に行なえ、しかも作業者が直接肉眼によつ
て測定するということをせずにすむから、このこ
とによつても測定精度の向上が計れる。さらに、
空間フイルタにより所要の散乱レーザ光のみセン
サに受光させるようにしているので、Ｓ／Ｎ比が
向上し、測定精度が顕著に向上する。
に沿つて取付けられた散乱部を有する複数の物体
の組立精度を測定する場合に、各物体にレーザ光
を照射してその散乱部から散乱するレーザ光を並
設された第１のセンサと第２のセンサとで検知
し、このときに生じるゼロクロス点を差動アンプ
で演算するとともに、この差動アンプから出力さ
れるゼロクロス点の周期を信号処理装置で演算す
ることにより、各物体の回転体の周方向における
取付け角度を求めるようにした。したがつて、従
来の顕微鏡による測定手段のように光軸を回転体
の回転中心に正確に合せたり、ピント調整を行な
うなどのことをせずにすむから、測定を能率よく
高精度に行なえ、しかも作業者が直接肉眼によつ
て測定するということをせずにすむから、このこ
とによつても測定精度の向上が計れる。さらに、
空間フイルタにより所要の散乱レーザ光のみセン
サに受光させるようにしているので、Ｓ／Ｎ比が
向上し、測定精度が顕著に向上する。
図面はこの発明の一実施例の組立精度測定方法
に用いられる組立精度測定装置を示し、第１図は
全体の概略的構成図、第２図は物体であるヘツド
の斜視図、第３図は第１，第２のセンサによつて
物体からのレーザ光が検知される状態の説明図、
第４図は差動アンプから出力される演算信号の説
明図である。 １……デイスク（回転体）、３……ヘツド（物
体）、４……スリツト部（散乱部）、６……レーザ
発振器、１１……第１のセンサ、１２……第２の
センサ、１３……差動アンプ、１４……信号処理
装置、Ｌ……レーザ光、L1……正反射光、L2…
…散乱光。
に用いられる組立精度測定装置を示し、第１図は
全体の概略的構成図、第２図は物体であるヘツド
の斜視図、第３図は第１，第２のセンサによつて
物体からのレーザ光が検知される状態の説明図、
第４図は差動アンプから出力される演算信号の説
明図である。 １……デイスク（回転体）、３……ヘツド（物
体）、４……スリツト部（散乱部）、６……レーザ
発振器、１１……第１のセンサ、１２……第２の
センサ、１３……差動アンプ、１４……信号処理
装置、Ｌ……レーザ光、L1……正反射光、L2…
…散乱光。
Claims (1)
- １ 回転軸のまわりに回転駆動される回転体及び
この回転体に上記回転軸のまわりに等配して取付
けられた物体からなり、且つ、上記物体の外周面
は光を散乱する散乱部及びこの散乱部を包囲し上
記光を正反射する正反射部からなつている被測定
物の組立精度を測定する組立精度測定方法におい
て、上記回転体とともに回転している上記物体の
外周面に上記回転軸にほぼ直交する平面に沿う斜
め方向からレーザ光を照射するレーザ照射工程
と、上記レーザ照射工程において上記物体の散乱
部で散乱した散乱レーザ光のみを長手方向が上記
回転体の回転方向に沿う位置に設けられた透孔に
通過させるフイルタリング工程と、適宜な結像手
段により上記透孔を介して上記物体を結像する位
置にて互に近接し且つ上記透孔の長手方向に沿つ
て一対のセンサを並設し上記フイルタリング工程
にて上記透孔を通過した散乱レーザ光を受光して
光電変換する光電変換工程と、上記光電変換工程
にて得られた上記一対のセンサからの電気信号の
出力差を演算する出力差演算工程と、この出力演
算工程にて得られた出力差を示す電気信号に基づ
いて上記各物体に対応する複数のゼロクロス点間
の周期を求めるとともに求められた複数の周期に
基づいて上記物体の上記回転体の周方向における
組立精度を演算する組立精度演算工程とを具備す
ることを特徴とする組立精度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13100181A JPS5833104A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 組立精度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13100181A JPS5833104A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 組立精度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5833104A JPS5833104A (ja) | 1983-02-26 |
| JPS6324243B2 true JPS6324243B2 (ja) | 1988-05-19 |
Family
ID=15047623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13100181A Granted JPS5833104A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 組立精度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5833104A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02122045U (ja) * | 1989-03-14 | 1990-10-04 | ||
| GB2593763A (en) * | 2020-04-02 | 2021-10-06 | Jaguar Land Rover Ltd | Improvements in hydrocarbon selective catalytic reduction |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109000589B (zh) * | 2018-07-11 | 2020-06-19 | 李成山 | 一种光电式角度测量装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5014409A (ja) * | 1973-06-07 | 1975-02-15 | ||
| JPS51100753A (ja) * | 1975-03-03 | 1976-09-06 | Nippon Kogaku Kk |
-
1981
- 1981-08-21 JP JP13100181A patent/JPS5833104A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5014409A (ja) * | 1973-06-07 | 1975-02-15 | ||
| JPS51100753A (ja) * | 1975-03-03 | 1976-09-06 | Nippon Kogaku Kk |
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| JPH02122045U (ja) * | 1989-03-14 | 1990-10-04 | ||
| GB2593763A (en) * | 2020-04-02 | 2021-10-06 | Jaguar Land Rover Ltd | Improvements in hydrocarbon selective catalytic reduction |
| GB2593763B (en) * | 2020-04-02 | 2022-08-24 | Jaguar Land Rover Ltd | Improvements in hydrocarbon selective catalytic reduction |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5833104A (ja) | 1983-02-26 |
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