JPS5833104A - 組立精度測定方法 - Google Patents
組立精度測定方法Info
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- JPS5833104A JPS5833104A JP13100181A JP13100181A JPS5833104A JP S5833104 A JPS5833104 A JP S5833104A JP 13100181 A JP13100181 A JP 13100181A JP 13100181 A JP13100181 A JP 13100181A JP S5833104 A JPS5833104 A JP S5833104A
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- sensor
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- disk
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発５ａｔｉ回転体の馬方向に沿って取付けられる複
数の物体の取付は精度を測定する組立精度測定装置に関
する。
数の物体の取付は精度を測定する組立精度測定装置に関
する。
たとえばＶＴＲにおいては、回転体であるところのディ
スクに物体としての２つのヘッドが１８０度ずれて取付
けられていて、これらヘッドを磁気チーブ上に走行させ
ることによって画面信号を取り出すようになっている。
スクに物体としての２つのヘッドが１８０度ずれて取付
けられていて、これらヘッドを磁気チーブ上に走行させ
ることによって画面信号を取り出すようになっている。
したがって、ディスクに取付けられた２つのヘッドがこ
のディスクの周方向に精密に１８０度の角度で壜付けら
れていなければ、ＴＶ画面上の倫にずれが圭じてしまう
から、ＶＴＲの組立工程においては、そのディスクに対
するヘッドの組立精度の検査が極めて重要となる。
のディスクの周方向に精密に１８０度の角度で壜付けら
れていなければ、ＴＶ画面上の倫にずれが圭じてしまう
から、ＶＴＲの組立工程においては、そのディスクに対
するヘッドの組立精度の検査が極めて重要となる。
従来、ディスクに対するヘッドの組立精度を検査するに
は、一対の顕微鏡をディスクの回転軸に対して正確に１
８０度の対向角度で配置し、これら各顕微鏡で拡大され
る各ヘッドの端面に設けられたスリット部が各顕微鏡に
お叶る視野の中心に位置するか否かによって上記各ヘッ
ドがディスクに精密に１８０度の角度で組立てられてい
るかどうかを測定していた。
は、一対の顕微鏡をディスクの回転軸に対して正確に１
８０度の対向角度で配置し、これら各顕微鏡で拡大され
る各ヘッドの端面に設けられたスリット部が各顕微鏡に
お叶る視野の中心に位置するか否かによって上記各ヘッ
ドがディスクに精密に１８０度の角度で組立てられてい
るかどうかを測定していた。
しかしながら、このような測定手段によると、一対の顕
微鏡の光軸をディスクの回転軸の中心に正確に合せるこ
とや１８０度の対向角度で配置することに多大な労力を
要するばかりか誤差が牛じゃすく、′また測定に際して
はピント調整を行なったり、一対の顕微鏡をそれぞれ覗
かなければならないなどのことにより、作業性が極めて
悪かった。さらに、顕微鏡による測定は測定者が目で見
て判断するから、判断基準にばらつきが生じて測定精度
の向上に限界があった。
微鏡の光軸をディスクの回転軸の中心に正確に合せるこ
とや１８０度の対向角度で配置することに多大な労力を
要するばかりか誤差が牛じゃすく、′また測定に際して
はピント調整を行なったり、一対の顕微鏡をそれぞれ覗
かなければならないなどのことにより、作業性が極めて
悪かった。さらに、顕微鏡による測定は測定者が目で見
て判断するから、判断基準にばらつきが生じて測定精度
の向上に限界があった。
この発明は上記事情にもとづきなされたもので、その目
的とするところは、回転体に取付けられた複数の物体の
取付は角度を光電的に測定することによって、その測定
を容易かつ高精度に行なえるようにした組立精度測定装
置を提供することにある。
的とするところは、回転体に取付けられた複数の物体の
取付は角度を光電的に測定することによって、その測定
を容易かつ高精度に行なえるようにした組立精度測定装
置を提供することにある。
以下、この発明の一実施例を図面を参照して説明する。
図中１は円板状をなした回転体としてのＶＴＲのディス
クである。このディスク１の中心部には回転軸２が設け
られ、また上面周辺部には物体としての２つのヘッド３
，３がディスク１の周方向に１８０度の角度となるよう
に設けられている。このヘッドＳは第２図に示すように
一端面が湾曲したほぼかまげと形をなしていて、ディス
ク１の外周面から突出した湾曲面には厚さ方向に沿って
散乱部としてのスリット部４が設叶られている。
クである。このディスク１の中心部には回転軸２が設け
られ、また上面周辺部には物体としての２つのヘッド３
，３がディスク１の周方向に１８０度の角度となるよう
に設けられている。このヘッドＳは第２図に示すように
一端面が湾曲したほぼかまげと形をなしていて、ディス
ク１の外周面から突出した湾曲面には厚さ方向に沿って
散乱部としてのスリット部４が設叶られている。
このようにしてヘッド３．３が組付けられたディスク１
は、その回転軸２を図示しない支持体に支持されて一定
速度で回転駆動され、上記一対のヘラｙ３，３がディス
ク１０周方向に１８０度の角度で精密に設けられている
か否かが測定装置５によって測定される。この測定装置
５は、以下のごとく構成されている。すなわち、ディス
ク１とともに回転駆動されるヘッド３には、この湾曲面
にレーデ発振器ｄから出力されるレーデ光りが第１のレ
ンズ６１で集束されて所定の入射角度で照射される。ヘ
ラＰ３の湾曲面を照射し九レーデ光りは、通常この湾曲
面で正反射するが、スリット部４においては散乱する。
は、その回転軸２を図示しない支持体に支持されて一定
速度で回転駆動され、上記一対のヘラｙ３，３がディス
ク１０周方向に１８０度の角度で精密に設けられている
か否かが測定装置５によって測定される。この測定装置
５は、以下のごとく構成されている。すなわち、ディス
ク１とともに回転駆動されるヘッド３には、この湾曲面
にレーデ発振器ｄから出力されるレーデ光りが第１のレ
ンズ６１で集束されて所定の入射角度で照射される。ヘ
ラＰ３の湾曲面を照射し九レーデ光りは、通常この湾曲
面で正反射するが、スリット部４においては散乱する。
湾曲面からの正反射光り、Ｆｉこの反射方向に配置され
た遮光ＩＦ７に当って吸収され、散乱光り、はとの散乱
方向に配置された第２のレンズ８で集束されて空間フィ
ルタ９に向う。
た遮光ＩＦ７に当って吸収され、散乱光り、はとの散乱
方向に配置された第２のレンズ８で集束されて空間フィ
ルタ９に向う。
この空間フィルタ９には、上記スリット部４と直交する
方向に細長い透孔１ｏが穿設されている。し九がって、
散乱光り、だけが上記透孔１゜を通過するようになって
いる。透孔１ｏを通過した散乱光り、がスリット部４の
儂を形成する位置には、第１のセンサ１１と第２のセン
サ１２とがわずかに離間した状態で並設されている。
方向に細長い透孔１ｏが穿設されている。し九がって、
散乱光り、だけが上記透孔１゜を通過するようになって
いる。透孔１ｏを通過した散乱光り、がスリット部４の
儂を形成する位置には、第１のセンサ１１と第２のセン
サ１２とがわずかに離間した状態で並設されている。
し九がって、散乱光り、にょるスリット部４の儂は、デ
ィスク１とともにヘッド３，３が回転するととＫより第
１のセンサ１１で検知されてから第２のセンサ１２で検
知されるようになっている。第１のセンサ１１は差動ア
ンプ１３の非反転入力端子に接続され、第２のセンナ１
２は反転入力端子に接続されていて、との差動アンプ１
３によって第１のセンサ１１からの出力Ｅｌ と第２の
センサ１２がらの出力Ｅ、との差ΔＥが演算されるよう
になっている。そして、差動アンプ１３からの出力は信
号処理装置１４に入力され、ここで第１のセンサ１１が
らの出力Ｅ、と第２のセンサ１２の出力Ｅ、とのゼロク
ロス点の周期が演算される。
ィスク１とともにヘッド３，３が回転するととＫより第
１のセンサ１１で検知されてから第２のセンサ１２で検
知されるようになっている。第１のセンサ１１は差動ア
ンプ１３の非反転入力端子に接続され、第２のセンナ１
２は反転入力端子に接続されていて、との差動アンプ１
３によって第１のセンサ１１からの出力Ｅｌ と第２の
センサ１２がらの出力Ｅ、との差ΔＥが演算されるよう
になっている。そして、差動アンプ１３からの出力は信
号処理装置１４に入力され、ここで第１のセンサ１１が
らの出力Ｅ、と第２のセンサ１２の出力Ｅ、とのゼロク
ロス点の周期が演算される。
つぎに、上記構成の作用について説明する。
まず、ディスク１を一定速度で回転するとともにレーデ
発振器６を作動させてレーデ光りを出力すると、とのレ
ーデ光りはディスク１とともに回転する一対のヘッド３
．３の湾曲面を順次照射することＫなる。レーデ光りが
一方のヘッド３の湾曲面を照射したとき、とのレーデ光
りは上記湾曲面のスリット部４を除く個所では正反射す
るから、この正反射光り、は鐘光板７に当って吸収され
る。しかしながら、レーデ光りがスリット部４を照射し
たときＫは、このスリット部４で散乱するので、この散
乱光Ｌ！は第２のレンズ８で集束されて空間フィルタ９
の透孔１０を通過する。そして、スリット部４の儂を形
成し九散乱光り、は、ディスク１とともにヘラＰ３，３
が回転することにより、第３図に矢印で示すように第１
のセンサ１１がら［２のセンサ１２へと移行してこれら
センナ１１．１２により検知される。したがって、差動
アン！Ｉ３での演算信号である第１のセンナ１）の出力
ＥｉとｗＪ２のセンサ１２の出力Ｅ、との差ΔＥｔｉｌ
！４図に示すように正から負へと反転する。すなわち、
スリット部４の曹を形成する散乱光り。
発振器６を作動させてレーデ光りを出力すると、とのレ
ーデ光りはディスク１とともに回転する一対のヘッド３
．３の湾曲面を順次照射することＫなる。レーデ光りが
一方のヘッド３の湾曲面を照射したとき、とのレーデ光
りは上記湾曲面のスリット部４を除く個所では正反射す
るから、この正反射光り、は鐘光板７に当って吸収され
る。しかしながら、レーデ光りがスリット部４を照射し
たときＫは、このスリット部４で散乱するので、この散
乱光Ｌ！は第２のレンズ８で集束されて空間フィルタ９
の透孔１０を通過する。そして、スリット部４の儂を形
成し九散乱光り、は、ディスク１とともにヘラＰ３，３
が回転することにより、第３図に矢印で示すように第１
のセンサ１１がら［２のセンサ１２へと移行してこれら
センナ１１．１２により検知される。したがって、差動
アン！Ｉ３での演算信号である第１のセンナ１）の出力
ＥｉとｗＪ２のセンサ１２の出力Ｅ、との差ΔＥｔｉｌ
！４図に示すように正から負へと反転する。すなわち、
スリット部４の曹を形成する散乱光り。
が＠１のセンサ１１から第２０センサ１２１Ｃ移行する
瞬間がゼロクロス点２．となり、このゼロクロス点２．
が生じたときの時間が信号処理装置１４に記憶される。
瞬間がゼロクロス点２．となり、このゼロクロス点２．
が生じたときの時間が信号処理装置１４に記憶される。
ついで、ディスク１が回転することにより、他方のヘッ
ド３のスリット部４からの散乱光り。
ド３のスリット部４からの散乱光り。
が第１、第２のセ／す１１，１２によって検知畑れ、こ
のときのゼロクロス点２．が先程と同じまうに差動アン
プ１３で演算されるうそして、先程のゼロクロス点２．
が検知されてから今度のゼロクロス点２．が検知される
までの周期？。
のときのゼロクロス点２．が先程と同じまうに差動アン
プ１３で演算されるうそして、先程のゼロクロス点２．
が検知されてから今度のゼロクロス点２．が検知される
までの周期？。
が信号処理装Ｗ１４に記憶される。
さらに、ディスク１が回転することにより、栴び一方の
ヘッド３のスリット部４からの散乱光り、が箒１、第２
のセンサ１１，１２によって検知されて、このときのゼ
ロクロス点ｚ１が貴び差動アンプ１３で演算される。そ
して、他方のヘッド３のゼロクロス点２．が演算されて
からこのときのゼロクロス点２．が演算されるときまで
の周期Ｔ、が信号処理装置１４に記憶きれる。
ヘッド３のスリット部４からの散乱光り、が箒１、第２
のセンサ１１，１２によって検知されて、このときのゼ
ロクロス点ｚ１が貴び差動アンプ１３で演算される。そ
して、他方のヘッド３のゼロクロス点２．が演算されて
からこのときのゼロクロス点２．が演算されるときまで
の周期Ｔ、が信号処理装置１４に記憶きれる。
このようにして、最初のゼロクロス点２．が演算されて
から次のゼロクロス点ｚ冨が演算きれる管での周期丁、
と、さらに次のゼロクロス点２．が演算されるまでの周
期Ｔ、とが信号処理装置１４に記憶されると、この信号
処理装置１４によって周期〒、とＴ、とが比較演算され
る。ここで、ディスクＩＫ組立てられた一対のヘッド３
，３が正確に１８０度の角度で設けられているならば、
Ｔ、＝Ｔ、となるから、上記信号処理装置１４がＴ、と
Ｔ、とを比較演算することによって一対のヘッド３，３
の組立精度が求められることになる。
から次のゼロクロス点ｚ冨が演算きれる管での周期丁、
と、さらに次のゼロクロス点２．が演算されるまでの周
期Ｔ、とが信号処理装置１４に記憶されると、この信号
処理装置１４によって周期〒、とＴ、とが比較演算され
る。ここで、ディスクＩＫ組立てられた一対のヘッド３
，３が正確に１８０度の角度で設けられているならば、
Ｔ、＝Ｔ、となるから、上記信号処理装置１４がＴ、と
Ｔ、とを比較演算することによって一対のヘッド３，３
の組立精度が求められることになる。
また、このような測定手段によれば、散乱光り、が形成
するスリット部４の儂が多少ぼけていても、ゼロクロス
点が生じる時間が変化することはないから、ピントぼけ
が測定精度に影響を及ぼすことがない。
するスリット部４の儂が多少ぼけていても、ゼロクロス
点が生じる時間が変化することはないから、ピントぼけ
が測定精度に影響を及ぼすことがない。
なお、上記一実施例では回転体であるディスクに物体と
して２つのヘッドが組立てられた場合について述べたが
、回転体に組立てられる物体は２つに限定されず、３つ
あるいはそれ以上であっても、各物体によるゼロクロス
点の周期を比較演算することにより、各物体の回転体の
周方向における組立精度を上記一実施例同様高精度に測
定することができる。
して２つのヘッドが組立てられた場合について述べたが
、回転体に組立てられる物体は２つに限定されず、３つ
あるいはそれ以上であっても、各物体によるゼロクロス
点の周期を比較演算することにより、各物体の回転体の
周方向における組立精度を上記一実施例同様高精度に測
定することができる。
するレーデ光を並設された第１のセンサと第２のセンナ
とで検知し、このときに生じるぜロクロス点を差動アン
プで演算するとと本に、この差動アンプから出力される
ゼロクロス点の周期を信号処理装置で演算することによ
り、各一体の回転体の周方向における堆付は角度を求め
るようにし丸。したがって、従来の顕微鏡による測定手
段のように光軸を回転体の回転中心に正確に合せたり、
ピント調整を行なうなどのことをせずにすむから、測定
を能率よく高精度に行なえ、しかも作業者が直接肉眼に
よって測定す） ｔということをせずにすむから、このことに２つても測
定精度の向上が計れる。
とで検知し、このときに生じるぜロクロス点を差動アン
プで演算するとと本に、この差動アンプから出力される
ゼロクロス点の周期を信号処理装置で演算することによ
り、各一体の回転体の周方向における堆付は角度を求め
るようにし丸。したがって、従来の顕微鏡による測定手
段のように光軸を回転体の回転中心に正確に合せたり、
ピント調整を行なうなどのことをせずにすむから、測定
を能率よく高精度に行なえ、しかも作業者が直接肉眼に
よって測定す） ｔということをせずにすむから、このことに２つても測
定精度の向上が計れる。
図面はこの発明の一実施例を示し、第１図は全体の概略
的構成図、第２図は物体であるヘッドの斜視図、第３図
は第１、第２のセンサによって物体からのレーデ光が検
知される状態の説明図、第４図は差動アンプから出力さ
れる演算信号の説明図である。 １・・・ディスク（回転体）、３・・・ヘッド（物体）
４・・・スリット部（散乱部）、６・・・レーデ発振器
、１１・・・第１のセンナ、１２・・・第２のセンサ、
１３・・・差動アンプ、１４・・・信号処理装置、Ｌ・
・・レーデ光、Ｌ、・・・正反射光、Ｌ、・・・散乱光
。
的構成図、第２図は物体であるヘッドの斜視図、第３図
は第１、第２のセンサによって物体からのレーデ光が検
知される状態の説明図、第４図は差動アンプから出力さ
れる演算信号の説明図である。 １・・・ディスク（回転体）、３・・・ヘッド（物体）
４・・・スリット部（散乱部）、６・・・レーデ発振器
、１１・・・第１のセンナ、１２・・・第２のセンサ、
１３・・・差動アンプ、１４・・・信号処理装置、Ｌ・
・・レーデ光、Ｌ、・・・正反射光、Ｌ、・・・散乱光
。
Claims (1)
- 光を散乱する散乱部を有する複数の物体が周方向に沿っ
て取付けられ丸目転体゛と、この回転体とともに回転す
る上記物体にレーデ光を照射するレーデ発振器と、各物
体の散乱部で散乱したレーデ光を検知する並設され九第
１のセンサおよび第２のセンサと、これらセンサからの
信号が入力される差動アンプと、との差動アン！から出
力される信号のゼロクロス点の１期を検出しこの周期に
よって上記回転体に敗付けられた各物体の回転体の周方
向における取付は角度を演算する信号処理装置とを具備
し九ことを特徴とする組立精度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13100181A JPS5833104A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 組立精度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13100181A JPS5833104A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 組立精度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5833104A true JPS5833104A (ja) | 1983-02-26 |
| JPS6324243B2 JPS6324243B2 (ja) | 1988-05-19 |
Family
ID=15047623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13100181A Granted JPS5833104A (ja) | 1981-08-21 | 1981-08-21 | 組立精度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5833104A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109000589A (zh) * | 2018-07-11 | 2018-12-14 | 李成山 | 一种光电式角度测量装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02122045U (ja) * | 1989-03-14 | 1990-10-04 | ||
| GB2593763B (en) * | 2020-04-02 | 2022-08-24 | Jaguar Land Rover Ltd | Improvements in hydrocarbon selective catalytic reduction |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5014409A (ja) * | 1973-06-07 | 1975-02-15 | ||
| JPS51100753A (ja) * | 1975-03-03 | 1976-09-06 | Nippon Kogaku Kk |
-
1981
- 1981-08-21 JP JP13100181A patent/JPS5833104A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5014409A (ja) * | 1973-06-07 | 1975-02-15 | ||
| JPS51100753A (ja) * | 1975-03-03 | 1976-09-06 | Nippon Kogaku Kk |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109000589A (zh) * | 2018-07-11 | 2018-12-14 | 李成山 | 一种光电式角度测量装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6324243B2 (ja) | 1988-05-19 |
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