JPS63236785A - セラミツク電子部品の電極形成方法 - Google Patents

セラミツク電子部品の電極形成方法

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JPS63236785A
JPS63236785A JP62072412A JP7241287A JPS63236785A JP S63236785 A JPS63236785 A JP S63236785A JP 62072412 A JP62072412 A JP 62072412A JP 7241287 A JP7241287 A JP 7241287A JP S63236785 A JPS63236785 A JP S63236785A
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JP
Japan
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electrode
electrode layer
zinc
ceramic electronic
copper
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JP62072412A
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English (en)
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谷 紀広
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、磁器コンデンサ、バリスタ、サーミスタ、圧
電体などのセラミック電子部品に電極を形成するセラミ
ック電子部品の電極形成方法に関するものである。
従来の技術 近年、セラミック電子部品に電極を形成する方法として
は、銀粉末、パラジウム粉末あるいは銀−パラジウム粉
末と、ガラスフリット粉末と、有機ビヒクルからなる導
電性ペーストが主として用いられているが、これらは貴
金属で高価であり、また銀ペーストは金属マイグレーシ
ョンを起し易く、信頼性に問題があることなどから、亜
鉛粉末を主体としたペーストが用いられるようになって
きている。
以下図面を参照しながら、上述したような従来の亜鉛粉
末を主体としたペーストを用いてなるセラミック電子部
品の電極形成方法について説明する。
第2図および第3図は、従来の形成方法による亜鉛粉末
を主体としたペーストを用いて構成されたセラミック電
子部品を示すものである。
第2図、第3図において、1はセラミック電子部品素子
、2は第1電極層として亜鉛粉末とガラスフリット粉末
と有機ビヒクルから形成された亜鉛電極、3は銅、ニッ
ケル、半田などのメッキ電極あるいは銅粉末とガラスフ
リット粉末と有機ビヒクルから形成された銅電極のいづ
れかから形成された第2電極層、4はリード線、6はリ
ード線4を第1電極層の亜鉛電極2または第2電極層3
に固着するだめの半田である。
ここで、第1電極層である亜鉛電極2は、第2図に示し
たようにこの亜鉛電極2のみで使用される場合と、第3
図に示したようにその上に銅、半田、ニッケルなどから
なるメッキ電極あるいは銅粉末とガラスフリット粉末と
有機ビヒクルよシ形成された銅電極よシなる第2電極層
3を設けて使用される場合とがあり、第1電極層である
亜鉛電極2の形成時の焼付温度としては419.5°C
(亜鉛の融点)から907°C(亜鉛の沸点)が用いら
れ(特開昭57−180112号公報)、第2電極層3
として銅粉末、ガラスフリット粉末、有機ビヒクルから
なる銅電極を形成するときの焼成時の雰囲気には中性ま
たは還元性が用いられる(特開昭60−121712号
公報)。
以上のようにして構成されたセラミック電子部品の動作
について説明する。まず、所定の電圧をリード線から印
加すると、第2電極層、第1電極層を通してセラミック
電子部品素体へ電圧が印加されて、セラミック電子部品
が所定の動作をするものである。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記のような電極形成方法では次のよう
な欠点を有している。
(1)電極が亜鉛で一層の場合 第一に、焼付温度が419.5°Cから930℃である
ため、低温側では亜鉛粉末同志の接触が不十分になるた
め抵抗値が大きく、高温側では亜鉛が酸化亜鉛になるた
め低温側と同じく抵抗値が高くなり、良好なオーミック
コンタクトが得られず、セラミック電子部品素子の特性
低下を招く。
第二に、亜鉛電極上にリード線を固着するための半田付
けは一般に用いられている半田ゴテによる加熱方式では
非常に難しく、特殊な半田作業を必要とするため、量産
化に適さない。
第三に、リードレスタイプのチップ部品になると半田付
作業はさらに難しくなる。
(2)第1電極層が亜鉛、第2電極層がメッキによる場
合 第一に、第2電極層がメッキによる形成方法は、亜鉛電
極一層の場合よりも半田付作業は容易となるが、スクリ
ーン印刷、乾燥、焼付して形成する方法と比較して工法
が煩雑である。
第二に、例えば無電解ニッケルメッキ方法では、まずフ
ッ化アンモニウム溶液による表面処理、次に塩化第二ス
ズおよび塩化パラジウム溶液による処理の後、無電解ニ
ッケルメッキを行うため、これら処理溶液によるセラミ
ック電子部品素子の特性への影響およびこれら処理溶液
の残留により信頼性の低下を招く。
(3)第1電極層が亜鉛、第2電極層が鍋焼付電極の場
合 銅電極を形成するときの焼付時の雰囲気が中性または還
元性であるため、適用できるセラミック電子部品素子が
限定される。即ち、これらの雰囲気中で焼付すると焼結
体内の酸素が奪われるため特性が低下する。
本発明は上記のような欠点に鑑み、特性が安定でしかも
その形成方法が容易なセラミック電子部品の電極形成方
法を提供することを目的とするものである。
問題点を解決するための手段 この目的を達成するための本発明のセラミック電子部品
の電極形成方法は、第1電極層として亜鉛粉末とガラス
フリット粉末と有機ビヒクルからなるペーストを塗布し
てから乾燥し、500 ℃から700°Cの温度範囲で
焼付形成し、第2電極層は銅粉末とガラスフリフト粉末
と有機ビヒクルからなるペーストを第1電極層上に塗布
してから乾燥して、この第2電極層は第1電極層と同時
および個別のいづれかで焼付して電極を形成するもので
、この場合の焼付時の雰囲気は第1電極層、第2電極層
とも大気中で行う方法である。
作用 この形成方法により電極が形成されたセラミック電子部
品は、 (1)第1電極層である亜鉛電極の形成時の焼付温度を
低温側は500°C以上とすることにより、亜鉛粉末同
志の接触がよくなり低抵抗の電極が得られ、高温側は7
00℃以下とすることにより、亜鉛の酸化を防ぎ低抵抗
の電極が得られ、セラミック電子部品素子とのオーミッ
クコンタクトもよくなる。
(2)第2電極層を銅粉末とガラスフリット粉末と有機
ビヒクルからなる銅ペーストとし、その焼付温度を第1
電極層である亜鉛電極の焼付温度と同等もしくはそれよ
シも低くすることによシ、亜鉛電極への熱的影響(亜鉛
の酸化による抵抗値の上昇など)を小さくする。
(3)第2電極層である銅ペーストを大気中で焼付する
ことにより、セラミック電子部品素子への適用が限定さ
れなくなる。なお、大気中で焼付が可能でしかも半田付
作業のできる銅ペーストは比較的容易に市場から入手す
ることができる。
(4)第1電極層である亜鉛電極、第2電極層である銅
電極を、塗布、乾燥、焼付という方法で形成することに
より、その作業は容易でしかもメッキ工法で形成したと
きの各種処理液によるセラミック電子部品素子への影響
もなく、特性の安定したものが得られる。
実施例 以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
第1図は本発明の電極形成方法によシ得られたセラミッ
ク電子部品の構成を示す断面図である。
第1図において、6はセラミック電子部品素子であり、
例えばBaTiO3系の25°Cにおける抵抗値が10
Ωの正特性サーミスタ素子、7は亜鉛電極であシ、亜鉛
粉末とガラスフリット粉末と有機ビヒクルからなる亜鉛
ペーストをスクリーン法でセラミック電子部品素子6の
両生面上に塗布し、16゜°Cで16分間乾燥した後、
大気中でかつ500°Cから700℃の温度範囲で焼付
形成して形成された第1電極層、8は銅電極であり、市
販の銅粉末とガラスフリット粉末と有機ビヒクルからな
る銅ペースト(8産フェロ−,0XIF5514)をス
クリーン印刷、150℃で20分乾燥後、450℃から
700 ℃の範囲で焼付形成した第2電極層、4はリー
ド線、6はリード線4を第2電極層3に固着するための
半田である。
ここで、本発明の効果を明らかにするため、上記と同一
の正特性サーミスタ素子を用い、第1電極層である亜鉛
電極の焼付温度と第2電極層である銅電極の焼付温度を
かえて、さらに比較のだめに第2電極層として無電解銅
メッキ電極を弗化水素と塩酸の混合液で表面処理したの
ち塩化第2スズ溶液および塩化パラジウム溶液で処理し
、次に硫酸鋼、酒石酸ナトリウム−カリウム、水酸化ナ
トリウム、ホルマリンからなるメッキ浴で銅電極を形成
した各種試料に、リード線を半田付して完成品とし、そ
れぞれのオーミックコンタクト(完成品の26℃におけ
る素子抵抗値とこれら各種電極を除去し、インジウム・
ガリウム電極を設けたときの26℃における素子抵抗値
との差で表示。)と信頼性(85°C高温放置試験、4
0℃90〜96チ湿中放置特性)を比較した結果を第1
表に示した。
(以下余白) 第1表 なお、第1表において試料&1〜煮12は第1電極層と
第2電極層を別々に焼付(個別焼付)したもの、A16
〜&18は同時に焼付したものであり、信頼性試験にお
ける評価は、七硬れ2o00時間後の試料の26°Cに
おける抵抗値変化が初期に比較して±10%以内のもの
は0、±10%以上のものはΔで表示した。
試料点1および試料A11 、412は試料点2から黒
10に比較するとオーミックコンタクトが悪い。これは
第1電極層である亜鉛電極の焼付温度はSOOoCから
700 ℃の範囲が良好なことを示すものである。
試料点2と黒3と黒4および試料点6と黒6とA7およ
び試料&8と黒9と& 10とを比較するといづれの場
合にも第1電極層である亜鉛電極の焼付温度よりも第2
電極層である銅電極の焼付温度が高くなるとオーミック
コンタクトは大きくなっている。このことよシ第2電極
層の焼付温度は第1電極層の焼付温度と同温度もしくは
低い温度とすることがよい。
試料/13 、 A5 、 & 9と試料&16 、 
A17 。
A18とを比較するといづれの場合にも特性はほぼ同等
で差異がみられないことから第1電極層と第2電極層の
焼付は個別でも同時でもよい。
試料&13からA16の特性はオーミックコンタクトは
比較的良好であるが、信頼性が悪く、第2電極層の変色
も認められた。このことから、第2電極層としてはCu
ペーストが良好でその形成方法もメッキ法に比較すると
簡単であった。
以上の結果から、第1電極層は亜鉛電極でその焼付温度
は500℃から700℃、第2電極層は銅電極でその焼
付温度は第1電極層と同等もしくは低い温度で大気中で
焼付することにより特性の安定な正特性サーミスタ素子
を容易に得ることができた。
さらに、上記の条件をバリスタ素子、磁器コンデンサ素
子、負特性サーミスタ素子圧電体にも適用したが、その
結果は正特性サーミスタ素子と同様に良好な結果が得ら
れた。
本発明において、このような効果が得られたのは、第1
電極層を亜鉛電極(亜鉛ペースト)として、その焼付温
度範囲を規定することによシ、亜鉛粉末同志の接触状態
の改善と亜鉛粉末の酸化を防止して安定した電極とし、
さらに第2電極層を銅電極(銅ペースト)として、その
焼付温度を第1電極層と同等もしくはそれ以下とするこ
とによシ第2電極焼付時の第1電極への熱的影響(亜鉛
電極の酸化)を極力少なくすることにより特性の安定化
が得られ、その形成方法も印刷、乾燥、焼付(大気中)
とすることにより容易におこなうことができるものであ
る。実施例において、セラミック電子部品にはリード線
を設けたが、リード線を必要としないセラミック電子部
品でも同様な効果が得られることは勿論である。
発明の効果 以上のように本発明は、セラミック電子部品の素子に、
第1電極層として亜鉛電極、第2電極層として銅電極を
それぞれペーストの形で塗布、乾燥、大気中焼成し、こ
のときの第1電極層の焼付温度は500°Cから700
℃,第2電極層は第1電極層と同温度かもしくは低い温
度で同時又は個別焼付することにより、特性の安定した
セラミック電子部品が容易に得られるもので、その工業
的価値は大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるセラミック電子部品の
構成を示す断面図、第2図、第3図は従来のセラミック
電子部品の構成を示す断面図である。 1・・・・・・セラミック電子部品素体、2・・・・・
・亜鉛電極、3・・・・・・銅電極、4・・・・・・リ
ード線、6・・・・・・半田。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名6−
eラミー、7t3唯良還xNシ アー!全腎覧也 第1図      Fl−)till覧奄第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  セラミック素子の表裏の所要部に、第1電極層として
    亜鉛粉末とガラス粉末と有機ビヒクルからなるペースト
    を塗布してから乾燥し、大気中で、500℃から700
    ℃の温度範囲で焼付して形成し、この上に第2電極層と
    して銅粉末とガラス粉末と有機ビヒクルからなるペース
    トを塗布してから乾燥し、この第2電極層は第1電極層
    の焼付温度と同温度かそれよりも低い温度でその第1電
    極層と同時および個別のいづれかで大気中で焼付形成し
    てなるセラミック電子部品の電極形成方法。
JP62072412A 1987-03-26 1987-03-26 セラミツク電子部品の電極形成方法 Pending JPS63236785A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02304909A (ja) * 1989-05-19 1990-12-18 Tdk Corp 半導体磁器電子部品
JPH0415862U (ja) * 1990-05-31 1992-02-07
US6777109B2 (en) 2001-09-14 2004-08-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Ceramic capacitor

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02304909A (ja) * 1989-05-19 1990-12-18 Tdk Corp 半導体磁器電子部品
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