JPH07105719A - 導電性ペーストと抵抗体素子 - Google Patents

導電性ペーストと抵抗体素子

Info

Publication number
JPH07105719A
JPH07105719A JP5267898A JP26789893A JPH07105719A JP H07105719 A JPH07105719 A JP H07105719A JP 5267898 A JP5267898 A JP 5267898A JP 26789893 A JP26789893 A JP 26789893A JP H07105719 A JPH07105719 A JP H07105719A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
weight
parts
conductive paste
powder
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5267898A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Murakami
俊昭 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiyo Yuden Co Ltd
Original Assignee
Taiyo Yuden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiyo Yuden Co Ltd filed Critical Taiyo Yuden Co Ltd
Priority to JP5267898A priority Critical patent/JPH07105719A/ja
Publication of JPH07105719A publication Critical patent/JPH07105719A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半田濡れ性が良く、電極強度が大きくかつ抵
抗体素子の電気的特性にバラツキを生じさせないオーミ
ック電極をできるだけ低コストで形成させることができ
る導電性ペーストと、そのようなオーミック電極を有す
る抵抗体素子を得ることを目的とする。 【構成】 導電性ペーストが、銀粉100重量部に対し
て、ガラスフリット0.2〜6.0重量部、有機ビヒク
ル10〜50重量部、金属チタン粉5〜45重量部及び
金属ホウ素粉0.5〜5.0重量部を含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、金属粉等に有機ビヒ
クルを加えてペースト状にした導電性ペーストと、この
導電性ペーストを用いて半導体磁器素体にオーミック電
極を形成してなる抵抗体素子に関するものである。
【0002】
【従来の技術】オーミック電極を形成した抵抗体素子と
しては、例えば、電圧非直線性抵抗素子(バリスタ素
子)や感温半導体素子(例えば、正特性サーミスタ素
子、負特性サーミスタ素子等)が知られている。
【0003】図1はバリスタ素子の一例の斜視図、図2
は図1のバリスタ素子の断面図である。バリスタ素子1
0は、一般に、これらの図に示すように、半導体磁器素
体12と、半導体磁器素体12を挟持している一対の電
極14,14と、一対の電極14,14に各々接続され
た一対のリード線16,16と、半導体磁器素体12及
び電極14,14を封止している樹脂18とからなる。
【0004】ここで、半導体磁器素体12としては、例
えばチタン酸バリウム(BaTiO3 )やチタン酸スト
ロンチウム(SrTiO3 )等を焼結したものが使用さ
れている。また、半導体磁器素体12を挟持している一
対の電極14,14は、例えば導電性ペーストを半導体
磁器素体12の表裏面に塗布し、これを大気中において
500〜600℃の温度で焼き付けること等により形成
されている。
【0005】ところで、導電性ペーストの導電成分とし
て金、銀又は銅などの金属粉が単独で使用されている場
合等においては、半導体磁器素体と電極との界面に電位
障壁が形成され易い。この電位障壁は高電場もしくは熱
等に対して不安定であり、例えば、抵抗体素子にパルス
電流やサージ電流が流れたり、また半田付けがなされた
りした場合等においては、その電気的特性が劣化し易
い。
【0006】そこで、銀粉を主成分とする導電性ペース
ト中にインジウム・ガリウム(In−Ga)等の合金粉
末、もしくは亜鉛(Zn)等の金属粉末を含有せしめた
導電性ペーストによって半導体磁器素体と電極との界面
に電位障壁を形成させない電極、すなわちオーミック電
極を形成する方法が提案されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記導電性ペ
ーストを半導体磁器素体に通常の焼き付け温度である5
00〜600℃で焼き付けてオーミック電極を形成させ
た場合、導電性ペースト中に含まれていたIn−Gaが
酸化され、このオーミック電極の表面にIn−Gaの酸
化物が形成され、半田濡れ性が非常に悪くなる。
【0008】そこで、1層目の電極はIn−Gaを含む
この導電性ペーストを低温で焼き付けて、電極と素体と
の間にオーミックコンタクトを確保させ、この1層目の
電極上にIn−Ga等を含まない一般のAgペーストを
焼き付け、半田濡れ性の良いオーミック電極を得る方法
が実用化されている。
【0009】しかし、この方法は、良好な半田濡れ性を
得ることができるものの、2層目の電極を形成する場合
に1層目の電極と位置ズレを生じ易く、外観上問題とな
るばかりでなく、電気的特性にバラツキを生ずることが
ある。
【0010】また、この方法は、2層印刷するので、そ
の分、手間がかかり、かつ1層目の電極材料に含まれる
高価なIn−Gaの使用とも相俟って、得られた抵抗体
素子が非常に高価なものになってしまう。
【0011】更に、この方法は、1層目の電極を低温で
焼付けなければならないので、半導体磁器素体に対する
電極の機械的な結合強度(電極強度)が弱いという問題
もある。
【0012】この発明は、半田濡れ性が良く、電極強度
が大きくかつ抵抗体素子の電気的特性にバラツキを生じ
させないオーミック電極をできるだけ低コストで形成さ
せることができる導電性ペーストと、そのようなオーミ
ック電極を有する抵抗体素子を得ることを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載された導
電性ペーストは、銀粉100重量部に対して、ガラスフ
リット0.2〜6.0重量部、有機ビヒクル10〜50
重量部、金属チタン5〜45重量部及び金属ホウ素0.
5〜5.0重量部を含むことにより上記課題を解決し
た。
【0014】また、請求項2に記載された抵抗体素子
は、半導体磁器素体にオーミック電極を形成してなる抵
抗体素子において、該オーミック電極を、銀粉100重
量部に対して、ガラスフリット0.2〜6.0重量部、
有機ビヒクル10〜50重量部、金属チタン5〜45重
量部及び金属ホウ素0.5〜5.0重量部を含む導電性
ペーストを大気中において600〜850℃で焼成して
形成することにより上記課題を解決した。
【0015】ここで、導電性ペースト中の銀粉の粒径
(最大粒径)は0.1μm以下が好ましい。銀粉の粒径
を0.1μm以下としたのは、銀粉の粒径が0.1μm
を越えて大きくなると、所望の電極強度が得られなくな
るからである。
【0016】ガラスフリットとしては、硼珪酸鉛を使用
することができる。ガラスフリットの含有量を0.2〜
6.0重量部としたのは、ガラスフリットの含有量が
0.2重量部未満の場合は所望の電極強度が得られなく
なり、また、ガラスフリットの含有量が6.0重量部を
越えた場合は半田濡れ性が悪くなるからである。
【0017】有機ビヒクルとしては、例えばエチルセル
ロース、α−ターピネオール、それらの混合物等を使用
することができる。有機ビヒクルの含有量を10〜50
重量部としたのは、有機ビヒクルの含有量が10重量部
未満の場合は銀粉が凝集し、ペースト流動性が低下し、
金属チタン粉及び金属ホウ素粉等の分散性が低下し、ま
た、有機ビヒクルの含有量が50重量部を越えた場合は
焼成時の銀の粒成長が阻害され、焼結性が不良となるか
らである。
【0018】また、金属チタン粉及び金属ホウ素粉の含
有量を、金属チタン粉5〜45重量部、金属ホウ素粉
0.5〜5重量部としたのは、金属チタン粉が5重量部
未満で金属ホウ素粉が0.5重量部未満の場合は安定し
た良好なオーミック性が得られなくなり、また、金属チ
タン粉が45重量部で金属ホウ素が5重量部を越えた場
合は半田濡れ性が悪くなるからである。
【0019】また、導電性ペーストの焼き付け温度を6
00〜850℃としたのは、焼き付け温度が600℃未
満の場合は所望の電極強度が得られなくなり、また、焼
き付け温度が850℃を越えた場合は電極の半田濡れ性
が悪くなるからである。
【0020】
【作用】請求項1または2記載の発明においては、導電
性ペースト中における金属チタン粉の含有割合が比較的
多く、金属ホウ素粉の含有割合が比較的少なくなってい
るので、金属チタン粉が主にオーミックコンタクトを生
じさせ、金属ホウ素粉が補強的にオーミックコンタクト
を生じさせる。
【0021】そして、請求項1または2記載の発明にお
いては、オーミックコンタクトを生じさせる成分の中
で、酸化性の特に強い成分、すなわち金属ホウ素粉の含
有割合が比較的少ないので、導電性ペーストを焼き付け
て形成したオーミック電極の表面における酸化物の生成
が少ない。
【0022】また、請求項1または2記載の発明におい
ては、導電性ペーストを焼き付けて形成したオーミック
電極の表面における酸化物の生成が少ないので、比較的
高い温度で導電性ペーストを焼き付けることができる。
そして、比較的高い温度で導電性ペーストを焼き付けた
場合、オーミック電極と素体とは良好に焼結する。
【0023】更に、請求項1または2記載の発明におい
ては、オーミックコンタクトを生じさせる成分として、
金属チタン粉及び金属ホウ素粉を上述したような割合で
導電性ペースト中に含有させたので、高価な金属成分
(例えば、In−Ga合金等)を含まないにもかかわら
ず、一回の焼き付けで所望のオーミック電極が形成され
る。
【0024】
【実施例】
実験例1 チタン酸ストロンチウム(SrTiO3 )を主成分とす
る焼結体であって、予め表面または結晶粒界を高抵抗化
した半導体磁器素体を準備した。
【0025】また、この半導体磁器素体とは別に、粒径
が0.1μm以下の銀粉100重量部、ガラスフリット
(硼珪酸鉛)3重量部、有機ビヒクル50重量部の組成
比からなる組成物に対して金属チタン粉及び金属ホウ素
粉を表1の試料番号1〜18の欄に示すような割合で添
加して導電性ペーストを準備した。
【0026】次に、半導体磁器素体の表面にこれらの導
電性ペーストを常法に従って5〜20μmの厚さで塗布
し、大気中において550℃で焼き付けて、バリスタ素
子を得た。
【0027】次に、得られた各バリスタ素子について、
10、電圧非直線係数α、耐パルス性、半田濡れ性及び
電極強度を測定したところ、表1の試料番号1〜18の
欄に示す通りとなった。
【0028】ここで、E10はバリスタ素子に10mAの
電流を流したときの電圧値である。また、電圧非直線係
数αは、α=1/log(E10/E1 )(E1 :バリス
タ素子に1mAの電流を流した時の電圧値)の式で現わ
される値である。更に、耐パルス性は、80Vのパルス
電圧を10サイクル印加した後のE10の値の変化率
(%)である。
【0029】また、半田濡れ性は、2.2mmφのリン
グ半田を電極部分へ載置し、温度250℃のホットプレ
ート上で7秒間静置し、冷却後の半田の延び(mm)を
測定して判断した。表1において、○印のものは半田延
びが2.5mm以上で、半田濡れ性が良好、△印のもの
は半田延びが2.0〜2.5mmで、半田濡れ性がやや
不良、×印のものは半田延びが2.0mm未満で、半田
濡れ性が不良であることを示す。
【0030】また、電極強度は0.5mmφ、長さ4c
mのリード線を先のリング半田を用いて電極中央重量部
へ半田付けし、引張加重機にて電極が剥離した時の引張
加重を測定した。表1において、○印のものは3kgf
以上で、電極強度が良好、△印のものは3kgf未満
で、電極強度がやや不良であることを示す。
【0031】比較として、前記半導体磁器の表面に従来
のIn−Ga合金含有のAg電極を塗布し、更に、その
上に一般のAg電極を印刷(2層電極)した後、大気中
で温度550℃で焼付処理を施して試料番号19の比較
素子を得た。
【0032】この比較素子の諸特性を実験例1と同一の
条件で測定したところ、表1の試料番号19の欄に示す
通りとなった。
【0033】
【表1】
【0034】表1に示された結果から明らかなように、
銀粉100重量部に対して、金属チタン粉の含有量が5
重量部以上でかつ金属ホウ素粉の含有量が0.5重量部
以上の場合は、耐パルス性も良好で、かつ電位障壁を持
たないオーミックなバリスタ特性が得られる。これは従
来のオーミック銀電極(Ag+In・Ga含有)のバリ
スタ特性と同等のレベルである。
【0035】更に、金属チタン粉が45重量部以下でか
つ金属ホウ素粉が5重量部以下では半田濡れ性も良好で
ある。
【0036】実験例2 表2の試料番号20〜22の欄に示すように、粒径の種
々異なる銀粉100重量部と、金属チタン粉15重量部
及び金属ホウ素粉2.5重量部、ガラスフリット(硼珪
酸鉛)1.5重量部、有機ビヒクル50重量部とから成
る導電性ペーストを準備した。
【0037】次に、実験例1と同様の半導体磁器素体を
用い、この半導体磁器素体に上記導電性ペーストを焼き
付けてバリスタ素子を得た。
【0038】次に、得られた各バリスタ素子の諸特性を
実験例1と同一の条件で測定したところ、表2の試料番
号20〜22の欄に示す通りとなった。
【0039】
【表2】
【0040】表2に示された結果から明らかなように、
銀粉の粒径が粗いものは、電極強度の低下が見られる。
これより、銀粉の粒径は0.1μm以下とすることで、
所望の電極強度を保持したバリスタ素子を得ることがで
きる。
【0041】実験例3 粒径が0.1μm以下の銀粉100重量部、金属チタン
粉15重量部、金属ホウ素粉2.5重量部、有機ヒビク
ル50重量部の組成比から成る組成物に対して、ガラス
フリット(硼珪酸鉛)の含有量が表3に示すように種々
異なる導電性ペーストを準備した。
【0042】次に、実験例1と同様の半導体磁器素体を
用い、この半導体磁器素体に上記導電性ペーストを焼き
付けてバリスタ素子を得た。
【0043】次に、得られた各バリスタ素子の諸特性を
実験例1と同一の条件で測定したところ、表3の試料番
号23〜27の欄に示す通りとなった。
【0044】
【表3】
【0045】表3に示された結果から明らかなように、
銀粉100重量部に対して、金属チタン粉15重量部
(この発明の範囲内)、金属ホウ素粉2.5重量部(こ
の発明の範囲内)であって、かつガラスフリットの含有
量が0.2重量部以上で所望の電極強度をもったバリス
タ素子が得られる。
【0046】更に、ガラスフリットの含有量が6.0重
量部以下では所望の電極強度が得られ、かつ半田濡れ性
の良好なバリスタ素子を得ることができる。
【0047】
【発明の効果】請求項1または2記載の発明によれば、
導電性ペーストを焼き付けて形成したオーミック電極の
表面における酸化物の生成が少ないので、オーミック電
極の半田濡れ性が良くなり、半田付け不良が解消され
る。
【0048】また、請求項1または2記載の発明によれ
ば、比較的高い温度で導電性ペーストを焼き付けること
ができるので、半導体磁器素体とオーミック電極とは良
好に焼結し、半導体磁器素体へのオーミック電極の機械
的な結合強度が大きくなり、電気的特性も安定する。
【0049】更に、請求項1または2記載の発明によれ
ば、導電性ペースト中に高価な金属成分を含まないにも
かかわらず、一回の焼き付けで所望のオーミック電極が
形成されるので、オーミック電極を低コストで形成させ
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はバリスタ素子の一例の斜視図である。
【図2】図2は図1のバリスタ素子の断面図である。
【符号の説明】
10 バリスタ素子 12 半導体磁器素体 14 電極 16 リード線 18 樹脂

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 銀粉100重量部に対して、ガラスフリ
    ット0.2〜6.0重量部、有機ビヒクル10〜50重
    量部、金属チタン粉5〜45重量部及び金属ホウ素粉
    0.5〜5.0重量部を含むことを特徴とする導電性ペ
    ースト。
  2. 【請求項2】 半導体磁器素体にオーミック電極を形成
    してなる抵抗体素子において、該オーミック電極が、銀
    粉100重量部に対して、ガラスフリット0.2〜6.
    0重量部、有機ビヒクル10〜50重量部、金属チタン
    粉5〜45重量部及び金属ホウ素粉0.5〜5.0重量
    部を含む導電性ペーストを大気中において600〜85
    0℃で焼成したものからなることを特徴とする抵抗体素
    子。
JP5267898A 1993-09-30 1993-09-30 導電性ペーストと抵抗体素子 Pending JPH07105719A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5267898A JPH07105719A (ja) 1993-09-30 1993-09-30 導電性ペーストと抵抗体素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5267898A JPH07105719A (ja) 1993-09-30 1993-09-30 導電性ペーストと抵抗体素子

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07105719A true JPH07105719A (ja) 1995-04-21

Family

ID=17451158

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5267898A Pending JPH07105719A (ja) 1993-09-30 1993-09-30 導電性ペーストと抵抗体素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07105719A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0761617A1 (en) * 1995-09-05 1997-03-12 Cookson Matthey Ceramics Plc Method and composition for forming electrically conducting silver tracks on glass
KR100369564B1 (ko) * 2000-09-04 2003-01-29 대주정밀화학 주식회사 칩 저항기 이차전극용 전도성 페이스트 조성물
US7300607B2 (en) * 2003-05-28 2007-11-27 Futaba Corporation Conductive sintered compact for fixing electrodes in electronic device envelope
US8009012B2 (en) 2007-07-24 2011-08-30 Tdk Corporation Stacked electronic part and method of manufacturing the same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0761617A1 (en) * 1995-09-05 1997-03-12 Cookson Matthey Ceramics Plc Method and composition for forming electrically conducting silver tracks on glass
KR100369564B1 (ko) * 2000-09-04 2003-01-29 대주정밀화학 주식회사 칩 저항기 이차전극용 전도성 페이스트 조성물
US7300607B2 (en) * 2003-05-28 2007-11-27 Futaba Corporation Conductive sintered compact for fixing electrodes in electronic device envelope
US8009012B2 (en) 2007-07-24 2011-08-30 Tdk Corporation Stacked electronic part and method of manufacturing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4122232A (en) Air firable base metal conductors
JP4244466B2 (ja) 導電性ペーストおよびそれを用いた半導体セラミック電子部品
CA1103013A (en) Silver compositions
US4660017A (en) Chip-type varistor
JPH0773731A (ja) 厚膜導電性ペースト組成物
JPH07105719A (ja) 導電性ペーストと抵抗体素子
TWI654624B (zh) 正溫度係數電阻器用組成物、正溫度係數電阻器用糊膏、正溫度係數電阻器暨正溫度係數電阻器之製造方法
KR100358302B1 (ko) 부온도 계수 써미스터
JP6331936B2 (ja) 銅−ニッケル厚膜抵抗器およびその製造方法
JP2631010B2 (ja) 厚膜銅ペースト
JPH05128910A (ja) 導体ペースト
JPS6322444B2 (ja)
JP2550630B2 (ja) 導電性被膜形成用銅ペースト
JP3371749B2 (ja) 電子部品の製造方法
JP3939634B2 (ja) オーミック電極形成用導体ペースト
JPH0950904A (ja) 導電性ペースト、およびこれを用いたntcサーミスタ
JP2503974B2 (ja) 導電性ペ−スト
JP2531023B2 (ja) 導電性ペ―スト
JP2649081B2 (ja) 厚膜銅ペースト
JP3016560B2 (ja) 電圧非直線抵抗体の製造方法
JP4254136B2 (ja) 導電性ペーストおよびセラミック電子部品
JPS6025294A (ja) 回路基板の製造方法
JPH0370361B2 (ja)
JP3178532B2 (ja) 半導体磁器電子部品
JPS60701A (ja) オ−ム性電極

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20020226