JPS63186376A - テ−ピングされた部品の検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 （産業上の利用分野） 本発明は、テーピングにより一列状態に整列保持された
多数個の部品の検査方法に関するものである。　７ （従来の技術） 各種部品の良否判定を行なうための手段として従来より
画像処理が利用されており、対象部品の画像取り込み、
取り込まれた画像の量子化、特徴抽出等の情報収集及び
処理後、基準データとの比較により対象部品の良否判定
が行われる。このような画像処理利用による検査方法で
は取り込まれた画像のうち不要部分を除去することが一
般的に行われており、そのために処理対象となる領域（
ウィンド）が設定される。このウィンド設定方式による
部品の検査方法が例えば特開昭６０−２７０８４号公報
に開示されており、部品の移送経路近傍に設置されたカ
メラにより取り込まれた部品の全体形状画像が予め設定
されたウィンドと重ね合わせられ、この重ね合わせ結果
と基準データとの比較により対象部品の良否が判定され
る。

（発明が解決しようとする問題点） 部品の検査項目が少なく、全体形状の画像取り出しのみ
にて部品の良否判定が行い得る場合には前記従来例のよ
うに１台のカメラで対象部品の全体形状を取り出せば事
足りる。しかしながら、例えばプリント基板へ電子部品
を自動挿入する装置への電子部品の装填では多数個の同
種の電子部品を゛テープで一列状態に整列保持して行わ
れるため、テープの存在及び電子部品自体の検査項目の
多さにより１台のカメラによる全体形状の取り込みのみ
では全ての検査項目に必要な画像を得ることができない
。そのため、複数台のカメラにより複数方向から対象部
品の画像取り出しを行わざるを得す、カメラの設置スペ
ース及びコストに関して問題が有る。

発明の構成 （問題点を解決するための手段） そこで本発明では保持テープにより一列状態に整列保持
された部品を対象とし、保持テープの走行により検査ス
テーションへ順次移送された部品に対する照射光の取り
出し経路を少なくとも２つ設定すると共に、これら取り
出し経路を介して単一の検査用画像を取り出し設定し、
各取り出し経路に対応して予め設定された画像処理用ウ
ィンドと取り出し設定された検査用画像との重ね合わせ
に基づいて良否判定のだめの情報収集及び処理を行なう
ようにした。

（作用） 即ち、検査ステーションへ移送された部品は背後照明、
斜め照明等の照射光を受け、これら照射光の透過光及び
反射光が互いに別の経路を経由して取り出され、単一の
検査用画像が取り出し設定される。前記反射光の経路は
対象部品からの直接反射経路以外にも例えば鏡使用によ
り設定可能であり、このような各種の経路設定により単
一の検査用画像の設定が可能である。従って、保持テー
プの存在に関係なく部品の各検査項目に関連する複数の
画像を難なく単一画像として取り出すことができ、安定
した検査及びコスト抑制を達成することができる。

（実施例） 以下、本発明を電解コンデンサの検査方法に具体化した
一実施例を図面に基づいて説明する。

第１，２図に示すように多数個の電解コンデンサ１の短
長一対の極性リード線２，３が帯状台紙４上にその長手
方向と直交してテープ５により貼着保持されており、電
解コンデンサ１の本体部６がテープ５の長手方向と直交
する側方へ延出して一列状態に整列保持されている。各
電解コンデンサ１は所定ピッチｐでもって離間保持され
ており、各電解コンデンサ１間にて帯状台紙４及びチー
１５には位置決め孔７が所定ピッチｐでもって各電解コ
ンデンサ１間にて透設されている。多数の電解コンデン
サ１を一列状態に整列保持する帯状台紙４及びテープ５
は隣合う一対の移送ローラ８゜９上を案内されるように
なっており、両ローラ８゜９の周面には位置決め孔７に
はまり込む位置決めビン８ａ、９ａがそれぞれピッチｐ
をもって形成されている。一方の移送ローラ８はピッチ
ｐの間欠送りを行なう駆動ローラであり、帯状台紙４及
びテープ５は位置決めピン８ａ、９ａと位置決め孔７と
の嵌め込みに基づいてピッチｐずつ間欠移送される。

両移送ローラ８，９間にて帯状台紙４の下方には第１の
ランプ１０が上方へ照射可能に設置されており、ランプ
１０の直上にはスリガラス１１が設けられている。ラン
プ１０の照射光はスリガラス１１を介して分散し、平行
光線に近似した照射光が得られる。電解コンデンサ１列
の側方には第２のランプ１２が本体部６の一方の極性６
　ａ　ｇ出端部に向けて照射可能に設置されており、同
ランプ１２とスリガラス１１との間には鏡１３が傾斜設
置されている。これにより本体部６の端部で反射された
ランプ１２の照射光が鏡１３により上方へ反射され、こ
の反射光が帯状台紙４の側方を通過する。

移送ローラ８例のテープ５上方には第３のランプ１４が
スリガラス１１上方のテープ５面上に向けて照射可能に
設置されており、短長両極性リード線２，３を貼着保持
するテープ５の凸状押さえ付は部５ａ、５ｂにおいてラ
ンプ１４の照射光が上方へ反射される。

そして、再移送ローラ８，９間の中央部上方には画像取
り出し用カメラ１５が第１のランプ１０と対向して設置
されており、再移送ローラ８，９間の中央部が電解コン
デンサ１の検査ステーションＳとして設定されている。

移送ローラ８の間欠送り駆動により検査ステーションＳ
に順次送りこまれる電解コンデンサ１は検査ステーショ
ンＳにおいて第１〜３のランプ１０．１２．１４からの
照射を受ける。

第１のランプ１０は電解コンデンサ１に対してカメラ１
５の背後照明となり、帯状台紙４及び電解コンデンサ１
の下方から見た全体形状がカメラ１５に投影される。即
ち、第１のランプ１０の照射光は第１図の矢印Ｘで代表
される経路に沿ってカメラ１５に入射し、下方から見た
帯状台紙４及び電解コンデンサ１全体の形状が暗部とし
てカメラ１５に捉えられる。

第２のランプ１２からの照射光は本体部６の極性６ａ露
出端部にて反射され、鏡１３方向への反射光は第１図の
矢印Ｙで代表する経路に沿ってカメラ１５に向けて反射
される。本体部６の極性６ａでの反射能はその露出端部
中の他部分よりも高く設定されており、極性６ａの形状
が明部としてカメラ１５に捉えられる。

第３のランプ１４からの照射光は帯状台紙４及びテープ
５上面にて反射され、テープ５の押さえ付は部５ａ、５
ｂでの反射光は第１図の矢印Ｚｌ。

Ｚ２で代表する経路に沿ってカメラ１５に入射する。従
って、押さえ付は部５ａ、５ｂは帯状台紙４の前記暗部
上に明部としてカメラ１５に捉えられる。

第３図はカメラ１５で捉えた第２図の鎖線領域の画像で
あり、領域Ｄ１は電解コンデンサ１の本体部６の投影暗
部、領域Ｄ２は一方の極性、リード線２の投影暗部、領
域Ｄ３は他方の極性リード線３の投影暗部、領域Ｄ４は
帯状台紙４の投影暗部を、それぞれ表し、領域Ｂ４内の
明領域Ｂ１．Ｂ２は押さえ付は部５ａ、５ｂを表す。な
お、領域Ｂ４内の円領域は位置決め孔７を表す。又、上
側角部の領域Ｄ５は鏡１３の投影暗部を表し、領域Ｂ５
内の明領域Ｂ３は本体部６の極性６ａを表す。

このように各経路Ｘ、Ｙ、Ｚ１、Ｚ２を介して取り出さ
れた単一の明暗画像に対応して形状認識のための画像処
理対象領域（ウィンド）が第３図に破線で示すように複
数設定される。ウィンドの設定には公知の手段、例えば
特開昭６０−２７０８４号公報に開示される設定方法等
が用いられる。

ウィンドは電解コンデンサ１の検査項目に応じて設定さ
れ、検査項目としては帯状台紙４及びテープ５に対する
傾き及び高さ、部品間のピッチずれ、極性リード線２．
３の成形異常、本体部６の極性６ａの位置異常、極性リ
ード線２．３の極性異常、帯状台紙４上での極性リード
線２．３の曲がり、品種判定、部品の有無等がある。傾
きはウィンドＷ１と領域Ｄ１との重ね合わせ、高さはウ
ィンドＷ２と領域Ｄ１との重ね合わせに基づいて判断さ
れる。ピンチずれはウィンドＷ１と領域ＤＩ、ウィンド
Ｗ３と領域Ｄ２．Ｄ３、ウィンドＷ４．６と領域Ｄ２及
びウィンドｗ５．Ｗ７と領域Ｄ３との各重ね合わせに基
づいて判断され、極性リード線２．３の成形異常はウィ
ンドＷ３と領域Ｄ２゜Ｂ３、ウィンドＷ４．Ｗ６と領域
Ｄ２及びウィンドＷ５．Ｗ７と領域Ｄ３との各市ね合わ
せに基づいて判断される。極性リード線２，３の極性異
常はウィンドＷ８．Ｗ９と領域Ｂ１、Ｂ２との重ね合わ
せに基づいて判断され、極性リード線２の曲がりはウィ
ンドＷ１０．Ｗｌｌと領域Ｂ１との重ね合わせ、極性リ
ード線３の曲がりはウィンドＷ１１、Ｗｌ２と領域Ｂ２
との重ね合わせに基づいて判断される。品種判定はウィ
ンドＷ１、Ｗ２と領域ＤＩ、ウィンドＷ３．Ｗ４と領域
Ｄ２、ウィンドＷ３．Ｗ４．Ｗ５と領域Ｄｉ及びウィン
ドＷ３、Ｗ５と領域Ｄ３との重ね合わせに基づいて行わ
れ、部品の有無はウィンドＷ１、Ｗ２と領域Ｄ１、ウィ
ンドＷ６と領域Ｄ２、ウィンドＷ７と領域Ｄ３及びウィ
ンドＷ９と領域Ｄ３との重ね合わせに基づいて行われる
。又、極性６ａの位置異常はウィンドＷ１３と領域Ｂ３
との市ね合わせに基づいて判断される。これらの判断は
重ね合わせにより得られた情報の画像処理系における処
理データと予め設定された基準データとの比較に基づい
て行われ、この比較を行なう制御系から検査対象部品に
対する良否判定結果が出力される。検査対象部品が良品
であれば取り出し経路Ｘ、Ｙ、Ｚｌ。

Ｚ２を介して得られる単一の検査用画像とウィンドＷ１
〜Ｗ１３との重ね合わせは第３図に示す関係となる。一
方、例えば極性リード線２が帯状台紙４上で許容以上に
湾曲しているといった極性リード線成形異常が発生して
いれば領域Ｂ１がウィンドＷＩＯ，Ｗｌｌと重なり合い
、長短両極性リード線２，３が入れ代わっていれば領域
Ｄ３がウィンドＷ８と重なり合う。

このような部品の良否判定を行なうためのウィンドＷ１
〜Ｗ１３のうちウィンドＷＩ　Ｏ，Ｗｌ　１゜Ｗｌ２．
Ｗｌ３は第２及び第３のランプ１２．１４からの照射光
の取り出し経路Ｙ、Ｚ１、Ｚ２に対応して設定されるも
のであり、取り出し経路Ｙは本体部６の極性６ａ露出端
部における反射及び鏡１３を利用して設定され、取り出
し経路Ｚｌ。

Ｚ２は凸状の押さえ付は部５ａ、５ｂにおける反射を利
用して設定される。第１のランプ１０の背後照明による
全体形状画像取り出し用透過経路Ｘとは異なる取り出し
経路Ｙ、Ｚ１、Ｚ２の設定により、透過経路Ｘのみでは
取り出し得ない極性６ａ露出端部及び押さえ付は部５．
ａ、５ｂを単一の検査用画像上に合成して取り出すこと
ができる。

従って、帯状台紙４及びテープ５の存在、並びに検査項
目の多さにも関わらず、検査対象部品の検査項目に必要
な各部位の画像取り出しを１台のカメラ１５により容易
に取り出して安定した検査を行なうことができ、複数台
のカメラの設置スペース及びコストといった従来の検査
方法における問題が解消される。

本発明は勿論前記実施例にのみ限定されるものではなく
、例えば前記実施例における本体部６の極性６ａ露出周
面の近傍に鏡を設置し、極性６ａ露出周面にて反射され
るランプ１０の照射光を前記鏡で上方へ反射させる等に
より経路を設定したり、反射鏡として凹面鏡を採用する
ことも可能である。凹面鏡の採用は検査に必要な特定部
位の拡大画像の設定を可能とし、検査精度を高めること
ができる。照射方式としては前記実施例のようにランプ
による直接照明以外にも光フアイバー経由によってもよ
く、１本あるいは多数本単位の光ファイバーの照射先端
口から照射される光線を検査対象部品の所定部位、例え
ば前記実施例ではテープ５の押さえ付は部５．ａ、５ｂ
に向けて照射するようにしてもよい。あるいは反射光の
取り出し経路を設定するために光ファイバーを採用する
ことも可能であり、これにより取り出し経路の設定が一
層容易となる。

又、電解コンデンサ以外の電子部品、さらには電子部品
以外の部品の検査に本発明を適用することも可能である
。

発明の効果 以上詳述したように本発明は、保持テープの走行により
検査ステーションへ順次移送された部品に対する照射光
の取り出し経路を少なくとも２つ設定すると共に、これ
ら取り出し経路を介して単一の検査用画像を取り出し設
定し、各取り出し経路に対応して予め設定されたウィン
ドと取り出し設定された検査用画像との重ね合わせに基
づいて良否判定のための情報収集及び処理を行なうよう
にしたので、保持テープの存在に関係な（部品の各検査
項目に関連する複数の画像を難なく単一画像として取り
出すことができ、安定した検査及びコスト抑制を達成す
ることができるという優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明を具体化した一実施例を示し、第１図は検
査ステーション付近を示す斜視図、第２図は同じく平面
図、第３図は取り出し設定された画像と設定ウィンドと
の重ね合わせ関係を示す領域図である。 テーピングされた部品としての電解コンデンサ１、部品
をテーピングするための帯状台紙４及びテープ５、ラン
プ１０，１２，１４、検査ステーションＳ、取り出し経
路Ｘ、Ｙ、Ｚ１、Ｚ２、ウィンドＷ１、　Ｗ２．　Ｗ３
．　Ｗ４．　Ｗ５．　Ｗ６．　Ｗ７、Ｗ８．Ｗ９．ＷＩ
　Ｏ，Ｗｌ　１．Ｗｌ　２．ＷＩ３゜

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　多数個の部品（１）を一列状態に整列保持する保持
   テープ（４、５）の走行経路上に検査ステーション（Ｓ
   ）を設定し、保持テープ（４．５）の走行により前記検
   査ステーション（Ｓ）へ順次移送された部品（１）に対
   する照射光の取り出し経路を少なくとも２つ設定すると
   共に、これら取り出し経路（Ｘ、Ｙ、Ｚ１、Ｚ２）を介
   して単一の検査用画像を取り出し設定し、各取り出し経
   路（Ｘ、Ｙ、Ｚ１、Ｚ２）に対応して予め設定された画
   像処理用ウインド（Ｗ１〜Ｗ１３）と取り出し設定され
   た検査用画像との重ね合わせに基づいて良否判定のため
   の情報収集及び処理を行なうことを特徴とするテーピン
   グされた部品の検査方法。 ２　前記部品（１）の全体形状画像取り出し用の背後照
   明の透過経路（Ｘ）と、前記部品（１）の特定部位の画
   像取り出し用照射光の反射経路（Ｙ、Ｚ１、Ｚ２）とを
   介して前記単一の検査用画像を取り出し設定し、この検
   査用画像と、前記透過経路（Ｘ）に対応するウインド（
   Ｗ１、Ｗ２、Ｗ３、Ｗ４、Ｗ５、Ｗ６、Ｗ７、Ｗ８、Ｗ
   ９）及び前記反射経路（Ｙ、Ｚ１、Ｚ２）に対応するウ
   インド（Ｗ１０、Ｗ１１、Ｗ１２、Ｗ１３）との重ね合
   わせに基づいて部品の外形に関する良否を判定する特許
   請求の範囲第１項に記載のテーピングされた部品の検査
   方法。