JP2532433B2 - テ−ピングされた部品の検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 （産業上の利用分野） 本発明は、テーピングにより一列状態に整列保持され
た多数個の部品の検査方法に関するものである。

（従来の技術） 各種部品の良否判定を行なうための手段として従来よ
り画像処理が利用されており、対象部品の画像取り込
み、取り込まれた画像の量子化、特徴抽出等の情報収集
及び処理後、基準データとの比較により対象部品の良否
判定が行われる。このような画像処理利用による検査方
法では取り込まれた画像のうち不要部分を除去すること
が一般的に行われており、そのために処理対象となる領
域（ウインド）が設定される。このウインド設定方式に
よる部品の検査方法が例えば特開昭60−27084号公報に
開示されており、部品の移送経路近傍に設置されたカメ
ラにより取り込まれた部品の全体形状画像が予め設定さ
れたウインドと重ね合わせられ、この重ね合わせ結果と
基準データとの比較により対象部品の良否が判定され
る。

（発明が解決しようとする問題点） 部品の検査項目が少なく、全体形状の画像取り出しの
みにて部品の良否判定が行い得る場合には前記従来例の
ように１台のカメラで対象部品の全体形状を取り出せば
事足りる。しかしながら、例えばプリント基板へ電子部
品を自動挿入する装置への電子部品の装填では多数個の
同種の電子部品をテープで一列状態に整列保持して行わ
れるため、テープの存在及び電子部品自体の検査項目の
多さにより１台のカメラによる全体形状の取り込みのみ
では全ての検査項目に必要な画像を得ることができな
い。そのため、複数台のカメラにより複数方向から対象
部品の画像取り出しを行わざるを得ず、カメラの設置ス
ペース及びコストに関して問題が有る。

発明の構成 （問題点を解決するための手段） そこで本発明では保持テープにより一列状態に整列保
持された部品を対象とし、保持テープの走行により検査
ステーションへ順次移送された部品に対する照射光の取
り出し経路を複数設定すると共に、これら取り出し経路
を介して単一の検査用画像を取り出し設定し、各取り出
し経路に対応して予め設定された画像処理用ウインドと
取り出し設定された検査用画像との重ね合わせに基づい
て良否判定のための情報収集及び処理を行なうテーピン
グされた部品の検査方法であって、前記部品の全体形状
及び該部品近傍の保持テープの画像を暗部として取り出
すための背後照明の透過経路と、前記部品の特定部位の
画像を明部として取り出すための照射光の複数の反射経
路とを介して前記単一の検査用画像を取り出し設定し、
更に、前記複数の反射経路のうち少なくとも一部の反射
経路を介して得られる明部が前記透過通路を介して得ら
れる保持テープに基づく暗部領域内に含まれるように前
記少なくとも一部の反射経路を設定した。

（作用） 即ち、検査ステーションへ移送された部品は背後照
明、斜め照明等の照射光を受け、これら照射光の透過光
及び反射光が互いに別の経路を経由して取り出され、単
一の検査用画像が取り出し設定される。前記反射光の経
路は対象部品からの直接反射経路以外にも例えば鏡使用
により設定可能であり、このような各種の経路設定によ
り単一の検査用画像の設定が可能である。従って、保持
テープの存在に関係なく部品の各検査項目に関連する複
数の画像を難なく単一画像として取り出すことができ、
安定した検査及びコスト抑制を達成することができる。

又、保持テープにより部品を保持した状態で検査を行
なうものでは、保持テープは外形さえ判明すれば良い
が、透過光による保持テープの投影暗部が検査用画像領
域に占める割合が多くなってしまい、単一のカメラ等に
より一度に多くの情報を得ることができない。そこで、
本発明では、特に透過経路を介して得られる暗部のうち
保持テープに基づく暗部領域内に、反射経路を介して得
られる明部が含まれるように反射経路を設定している。
その結果、保持テープに基づく暗部領域を利用してその
他の反射光による明部の情報を当該暗部に重ねることが
でき、領域の限られた検査用画像領域内に従来よりも多
くの情報を一度に盛り込むことができる。従って、保持
テープの存在下での部品の検査を高精度でかつ効率良く
行なうことができる。

（実施例） 以下、本発明を電解コンデンサの検査方法に具体化し
た一実施例を図面に基づいて説明する。

第1,2図に示すように多数個の電解コンデンサ１の短
長一対の極性リード線2,3が帯状台紙４上にその長手方
向と直交してテープ５により貼着保持されており、電解
コンデンサ１の本体部６がテープ５の長手方向と直交す
る側方へ延出して一列状態に整列保持されている。各電
解コンデンサ１は所定ピッチｐでもって離間保持されて
おり、各電解コンデンサ１間にて帯状台紙４及びテープ
５には位置決め孔７が所定ピッチｐでもって各電解コン
デンサ１間にて透設されている。多数の電解コンデンサ
１を一列状態に整列保持する帯状台紙４及びテープ５は
隣合う一対の移送ローラ8,9上を案内されるようになっ
ており、両ローラ8,9の周面には位置決め孔７にはまり
込む位置決めピン8a,9aがそれぞれピッチｐをもって形
成されている。一方の移送ローラ８はピッチｐの間欠送
りを行なう駆動ローラであり、帯状台紙４及びテープ５
は位置決めピン8a,9aと位置決め孔７との嵌め込みに基
づいてピッチｐずつ間欠移送される。

両移送ローラ8,9間にて帯状台紙４の下方には第１の
ランプ10が上方へ照射可能に設置されており、ランプ10
の直上にはスリガラス11が設けられている。ランプ10の
照射光はスリガラス11を介して分散し、平行光線に近似
した照射光が得られる。電解コンデンサ１列の側方には
第２のランプ12が本体部６の一方の極性6a露出端部に向
けて照射可能に設置されており、同ランプ12とスリガラ
ス11との間には鏡13が傾斜設置されている。これにより
本体部６の端部で反射されたランプ12の照射光が鏡13に
より上方へ反射され、この反射光が帯状台紙４の側方を
通過する。

移送ローラ８側のテープ５上方には第３のランプ14が
スリガラス11上方のテープ５面上に向けて照射可能に設
置されており、短長両極性リード線2,3を貼着保持する
テープ５の凸状押さえ付け部5a,5bにおいてランプ14の
照射光が上方へ反射される。

そして、両移送ローラ8,9間の中央部上方には画像取
り出し用カメラ15が第１のランプ10と対向して設置され
ており、両移送ローラ8,9間の中央部が電解コンデンサ
１の検査ステーションＳとして設定されている。

移送ローラ８の間欠送り駆動により検査ステーション
Ｓに順次送りこまれる電解コンデンサ１は検査ステーシ
ョンＳにおいて第１〜３のランプ10,12,14からの照射を
受ける。

第１のランプ10は電解コンデンサ１に対してカメラ15
の背後照明となり、帯状台紙４及び電解コンデンサ１の
下方から見た全体形状がカメラ15に投影される。即ち、
第１のランプ10の照射光は第１図の矢印Ｘで代表される
経路に沿ってカメラ15に入射し、下方から見た帯状台紙
４及び電解コンデンサ１全体の形状が暗部としてカメラ
15に捉えられる。

第２のランプ12からの照射光は本体部６の極性6a露出
端部にて反射され、鏡13方向への反射光は第１図の矢印
Ｙで代表する経路に沿ってカメラ15に向けて反射され
る。本体部６の極性6aでの反射能はその露出端部中の他
部分よりも高く設定されており、極性6aの形状が明部と
してカメラ15に捉えられる。

第３のランプ14からの照射光は帯状台紙４及びテープ
５上面にて反射され、テープ５の押さえ付け部5a,5bで
の反射光は第１図の矢印Z1,Z2で代表する経路に沿って
カメラ15に入射する。従って、押さえ付け部5a,5bは帯
状台紙４の前記暗部上に明部としてカメラ15に捉えられ
る。

第３図はカメラ15で捉えた第２図の鎖線領域の画像で
あり、領域D1は電解コンデンサ１の本体部６の投影暗
部、領域D2は一方の極性リード線２の投影暗部、領域D3
は他方の極性リード線３の投影暗部、領域D4は帯状台紙
４の投影暗部をそれぞれ表し、領域D4内の明領域B1,B2
は押さえ付け部5a,5bを表す。なお、領域D4内の円領域
は位置決め孔７を表す。又、上側角部の領域D5は鏡13の
投影暗部を表し、領域D5内の明領域B3は本体部６の極性
6aを表す。このように各経路X,Y,Z1,Z2を介して取り出
された単一の明暗画像に対応して形状認識のための画像
処理対象領域（ウインド）が第３図に破線で示すように
複数設定される。ウインドの設定には公知の手段、例え
ば特開昭60−27084号公報に開示される設定方法等が用
いられる。ウインドは電解コンデンサ１の検査項目に応
じて設定され、検査項目としては帯状台紙４及びテープ
５に対する傾き及び高さ、部品間のピッチずれ、極性リ
ード線2,3の成形異常、本体部６の極性6aの位置異常、
極性リード線2,3の極性異常、帯状台紙４上での極性リ
ード線2,3の曲がり、品種判定、部品の有無等がある。
傾きはウインドW1と領域D1との重ね合わせ、高さはウイ
ンドW2と領域D1との重ね合わせに基づいて判断される。
ピッチずれはウインドW1と領域D1、ウインドW3と領域D
2,D3、ウインドW4,6と領域D2及びウインドW5,W7と領域D
3との各重ね合わせに基づいて判断され、極性リード線
2,3の成形異常はウインドW3と領域D2,D3、ウインドW4,W
6と領域D2及びウインドW5,W7と領域D3との各重ね合わせ
に基づいて判断される。極性リード線2,3の極性異常は
ウインドW8,W9と領域B1,B2との重ね合わせに基づいて判
断され、極性リード線２の曲がりはウインドW10,W11と
領域B1との重ね合わせ、極性リード線３の曲がりはウイ
ンドW11,W12と領域B2との重ね合わせに基づいて判断さ
れる。品種判定はウインドW1,W2と領域D1、ウインドW3,
W4と領域D2、ウインドW3,W4,W5と領域D1及びウインドW
3,W5と領域D3との重ね合わせに基づいて行われ、部品の
有無はウインドW1,W2と領域D1、ウインドW6と領域D2、
ウインドW7と領域D3及びウインドW9と領域D3との重ね合
わせに基づいて行われる。又、極性6aの位置異常はウイ
ンドW13と領域B3との重ね合わせに基づいて判断され
る。これらの判断は重ね合わせにより得られた情報の画
像処理系における処理データと予め設定された基準デー
タとの比較に基づいて行われ、この比較を行なう制御系
から検査対象部品に対する良否判定結果が出力される。
検査対象部品が良品であれば取り出し経路X,Y,Z1,Z2を
介して得られる単一の検査用画像とウインドW1〜W13と
の重ね合わせは第３図に示す関係となる。一方、例えば
極性リード線２が帯状台紙４上で許容以上に湾曲してい
るといった極性リード線成形異常が発生していれば領域
B1がウインドW10,W11と重なり合い、長短両極性リード
線2,3が入れ代わっていれば領域D3がウインドW8と重な
り合う。

このような部品の良否判定を行なうためのウインドW1
〜W13のうちウインドW10,W11,W12,W13は第２及び第３の
ランプ12,14からの照射光の取り出し経路Y,Z1,Z2に対応
して設定されるものであり、取り出し経路Ｙは本体部６
の極性6a露出端部における反射及び鏡13を利用して設定
され、取り出し経路Z1,Z2は凸状の押さえ付け部5a,5bに
おける反射を利用して設定される。第１のランプ10の背
後照明による全体形状画像取り出し用透過経路Ｘとは異
なる取り出し経路Y,Z1,Z2の設定により、透過経路Ｘの
みでは取り出し得ない極性6a露出端部及び押さえ付け部
5a,5bを単一の検査用画像上に合成して取り出すことが
できる。従って、帯状台紙４及びテープ５の存在、並び
に検査項目の多さにも関わらず、検査対象部品の検査項
目に必要な各部位の画像取り出しを１台のカメラ15によ
り容易に取り出して安定した検査を行なうことができ、
複数台のカメラの設置スペース及びコストといった従来
の検査方法における問題が解消される。

本発明は勿論前記実施例にのみ限定されるものではな
く、例えば前記実施例における本体部６の極性６露出周
面の近傍に鏡を設置し、極性6a露出周面にて反射される
ランプ10の照射光を前記鏡で上方へ反射させる等により
経路を設定したり、反射鏡として凹面鏡を採用すること
も可能である。凹面鏡の採用は検査に必要な特定部位の
拡大画像の設定を可能とし、検査精度を高めることがで
きる。照射方式としては前記実施例のようにランプによ
る直接照明以外にも光ファイバー経由によってもよく、
１本あるいは多数本単位の光ファイバーの照射先端口か
ら照射される光線を検査対象部品の所定部位、例えば前
記実施例ではテープ５の押さえ付け部5a,5bに向けて照
射するようにしてもよい。あるいは反射光の取り出し経
路を設定するために光ファイバーを採用することも可能
であり、これにより取り出し経路の設定が一層容易とな
る。

又、電解コンデンサ以外の電子部品、さらには電子部
品以外の部品の検査に本発明を適用することも可能であ
る。

発明の効果 以上詳述したように本発明は、保持テープにより部品
を保持した状態で検査を行なうものにおいて、保持テー
プに基づく画像領域を利用して部品の情報を得ることが
でき、領域の限られた検査用画像領域内に従来よりも多
くの情報を一度に盛り込むことができるため、保持テー
プの存在下での部品の検査を高精度でかつ効率良く、し
かも低コストで実現することができるという優れた効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明を具体化した一実施例を示し、第１図は検
査ステーション付近を示す斜視図、第２図は同じく平面
図、第３図は取り出し設定された画像と設定ウインドと
の重ね合わせ関係を示す領域図である。 テーピングされた部品としての電解コンデンサ１、部品
をテーピングするための帯状台紙４及びテープ５、ラン
プ10,12,14、検査ステーションＳ、取り出し経路X,Y,Z
1,Z2、ウインドW1,W2,W3,W4,W5,W6,W7,W8,W9,W10,W11,W
12,W13。

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】多数個の部品（１）を一列状態に整列保持
   する保持テープ（4,5）の走行経路上に検査ステーショ
   ン（Ｓ）を設定し、保持テープ（4,5）の走行により前
   記検査ステーション（Ｓ）へ順次移送された部品（１）
   に対する照射光の取り出し経路を複数設定すると共に、
   これら取り出し経路（X,Y,Z1,Z2）を介して単一の検査
   用画像を取り出し設定し、各取り出し経路（X,Y,Z1,Z
   2）に対応して予め設定された画像処理用ウインド（W1
   〜W13）と取り出し設定された検査用画像との重ね合わ
   せに基づいて良否判定のための情報収集及び処理を行な
   うテーピングされた部品の検査方法であって、 前記部品（１）の全体形状及び該部品（１）近傍の保持
   テープ（4,5）の画像を暗部として取り出すための背後
   照明の透過経路（Ｘ）と、前記部品（１）の特定部位の
   画像を明部として取り出すための照射光の複数の反射経
   路（Y,Z1,Z2）とを介して前記単一の検査用画像を取り
   出し設定し、更に、前記複数の反射経路（Y,Z1,Z2）の
   うち少なくとも一部の反射経路（Z1,Z2）を介して得ら
   れる明部が前記透過通路（Ｘ）を介して得られた保持テ
   ープ（4,5）に基づく暗部領域内に含まれるように前記
   少なくとも一部の反射経路（Z1,Z2）を設定したことを
   特徴とするテーピングされた部品の検査方法。