JP2001094299A - 電子部品実装装置における電子部品認識装置 - Google Patents

電子部品実装装置における電子部品認識装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の光源が配置された場合においても照明
光の干渉が生じず認識精度を向上させることができる電
子部品実装装置における電子部品認識装置を提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】 ノズル11に保持された電子部品Pを光
源部23によって照明し、カメラ21によって撮像して
電子部品の画像認識を行う電子部品認識装置8におい
て、光源部23に反射照明用の第1の光源24、透過照
明用の第2の光源25、および側方照明用の第3の光源
26を備え、光源部23と照明対象との間に各光源から
照射される照明光が所定照射対象部位以外の部位に照射
されるのを防止する遮光板27を配置した。これにより
照明光相互の干渉を防止することができ、正しい照明条
件を実現して認識精度を向上させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品の実装に
際して電子部品を画像認識する電子部品実装装置におけ
る電子部品認識装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品を基板に実装する電子部品実装
装置では、実装位置精度を向上させるため、画像認識に
より電子部品の位置ずれを補正する方法が多用されてい
る。この方法は移載ヘッドがパーツフィーダから電子部
品をピックアップして保持した状態で、カメラにより電
子部品を撮像し、この撮像結果を画像処理して位置ずれ
を検出するものである。そして電子部品の基板への搭載
に際しては、前述の位置ずれが補正され、電子部品は正
しい位置に精度良く位置決めされ実装される。
【0003】カメラによって電子部品を撮像する際の照
明方法として、従来電子部品に対して下方から照明光を
照射し、電子部品からの反射光をカメラで受光する方法
や、または電子部品の背後に設けられた反射板に対して
照明光を照射しこの反射光をカメラで受光する透過照明
による方法、さらにはCSP(Chip SizePa
ckage)など薄型基板にバンプが形成された電子部
品でバンプの認識を必要とする場合に用いられる側方照
明など、各種の照明方法が用いられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年電子部
品実装装置には汎用性が求められるようになり、同一の
実装装置で多種類の実装を行うようになったいる。この
ため、電子部品の撮像に際しての照明にも上述の各種方
法を同一の装置で実現できるようにする必要がある。し
かしながら、種類の異なる照明方法のための光源を同一
認識装置に配置すると、各光源から照射される照明光が
本来の照射対象部位以外の部位、例えば透過認識を行う
際には電子部品を暗像として認識するため電子部品の下
面に照明光が照射されることは認識精度上好ましくな
い。しかしながら、限られたスペースの撮像ステーショ
ンに複数の光源を配置しようとすれば照明光の相互干渉
が避けられず、照明不良による認識精度の向上を阻害す
るという問題点があった。
【0005】そこで本発明は、複数の光源が配置された
場合においても照明光の干渉が生じず認識精度を向上さ
せることができる電子部品実装装置における電子部品認
識装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の電子部品
実装装置における電子部品認識装置は、ノズルに保持さ
れた電子部品を照明手段によって照明し、撮像手段によ
って撮像して前記電子部品の画像認識を行う電子部品実
装装置における電子部品認識装置であって、前記照明手
段は異なる位置に配置された複数の光源を有し、これら
の光源から照射される照明光が所定照射対象部位以外の
部位に照射されるのを防止する遮光手段を備えた。
【0007】請求項2記載の電子部品実装装置における
電子部品認識装置は、請求項1記載の電子部品実装装置
における電子部品認識装置であって、前記遮光手段は板
状の遮光部材である。
【0008】本発明によれば、複数の光源から照射され
る照明光が所定照射対象部位以外の部位に照射されるの
を防止する遮光手段を備えることにより、正しい照明条
件を実現して認識精度を向上させることができる。
【0009】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子
部品認識装置の平面図、図2、図3は同電子部品認識装
置の断面図、図4は同電子部品認識装置の画像図であ
る。
【0010】まず、図1を参照して電子部品実装装置の
全体構造を説明する。図1において、基台1の中央部に
はX方向に搬送路2が配設されている。搬送路2は基板
3を搬送し位置決めする。したがって搬送路2は基板3
の位置決め部となっている。搬送路2の両側には多数の
パーツフィーダ4が並設されている。パーツフィーダ4
は電子部品Pを収納し供給する。
【0011】X軸テーブル6上には電子部品Pの移載ヘ
ッド7が装着されている。X軸テーブル6は、左右両側
に並設された2つのY軸テーブル5に架設されている。
したがってX軸テーブル6及びY軸テーブル5を駆動す
ることにより、移載ヘッド7は水平方向に移動し、パー
ツフィーダ4から電子部品Pをピックアップし、基板3
上に搭載する。また移載ヘッド7の移動経路には、電子
部品Pを認識する電子部品認識装置8が配設されてい
る。電子部品Pを保持した状態の移載ヘッド7が電子部
品認識装置8の上方をX方向に移動する際に、電子部品
Pは電子部品認識装置8によって撮像され、電子部品の
形状や位置が認識される。
【0012】次に図2を参照して移載ヘッド7および電
子部品認識装置8について説明する。図2において、移
載ヘッド7には電子部品Pを真空吸着する吸着ノズル1
1が装着されている。吸着ノズル11には鍔状の反射板
12が一体に設けられている。吸着ノズル11の下端部
の吸着孔に電子部品を保持した状態では、反射板12は
電子部品の上方に位置し、下方からの照明光を反射して
電子部品を背後から照明する。
【0013】電子部品認識装置8にはレンズ20および
カメラ21が配設されている。カメラ21は画像処理部
22に接続されており、画像処理部22はカメラ21に
よって認識された電子部品Pの画像データを処理し、電
子部品Pの位置ずれを検出する。レンズ20の周囲に
は、照明対象の移載ヘッド7を斜め下方から囲むように
照明手段としての光源部23が配設されている。
【0014】光源部23は異なる位置に配置された3種
類の光源、すなわちLEDよりなる第1の光源24、第
2の光源25および第3の光源26を有している。これ
らの3種類の光源と照明対象の中間には、遮光板27が
配設されている。遮光板27は不透光性の薄い板状部材
であり、所定位置に所定角度で配置されて、各光源から
照射される照明光が所定照射対象部位以外であって照明
条件を阻害するような部位に照射されるのを防止する。
【0015】次に、光源部23の機能について図3、図
4を参照して説明する。まず図3(a)に示すように、
吸着ノズル11にチップ部品Paを保持させた状態で第
1の光源24を点灯すると、照明光はチップ部品Paの
下面で反射される。この反射光をカメラ21で受光する
ことにより、図4(a)に示すようにチップ部品Paの
下面を撮像することができる。すなわち第1の光源24
は認識対象を反射認識する場合に用いられる。
【0016】このとき第1の光源24からの照明光の所
定照射対象部位であるチップ部品Paの下面以外への入
射、特に反射板12への入射が遮光板27により制限さ
れる。これにより、チップ部品Paの下面以外からの余
分な反射光がカメラ21に入射するのが制限され、認識
精度が向上する。
【0017】次に図3(b)に示すように、吸着ノズル
11にリード部品Pbを保持させた状態で第2の光源2
5を点灯すると、照明光は吸着ノズル11の上方に配設
された反射板12によって下方に反射される。この反射
光をカメラ21で受光することにより、図4(b)に示
すように、反射光が透過した背景画像部分が明像でリー
ド部品Pbにより反射光が遮断された範囲を暗像とする
画像が得られ、この画像によりリード部品Pbの外形を
認識することができる。すなわち、第2の光源25は、
認識対象を透過認識する場合に用いられる。
【0018】このとき第2の光源25からの照明光の所
定照射対象部位である反射板12以外への入射、特にリ
ード部品Pbの下面への入射が遮光板27により制限さ
れる。これにより、反射板12からの透過反射光以外の
余分な反射光がカメラ21に入射するのが制限され、認
識精度が向上する。
【0019】次に図3(c)に示すように、吸着ノズル
11にバンプ付部品Pcを保持させた状態で第3の光源
26を点灯すると、照射された照明光はバンプ付部品P
cの側面に入射する。これにより、照明光はバンプ付部
品Pcの下面の光沢面に入射することなく、バンプBの
側面にのみ入射する。周囲を囲んで配設された複数の光
源部23から満遍なくバンプBの側面を照明された状態
で、バンプ付部品Pcを下方からカメラ21によって撮
像することにより、図4(c)に示すようにバンプ付部
品PcのバンプB以外を背景画像の暗像とし、バンプB
のみを明像とする画像を得ることができる。すなわち光
源26は、バンプ付部品など側方から照射する必要があ
る場合に用いられる。
【0020】このとき第3の光源26からの照明光の所
定照明対象部位であるバンプ付部品Pcの側面以外への
入射、特にバンプ付部品Pcの下面への入射が遮光板2
7により制限される。これにより、バンプ付部品Pcの
下面のバンプB以外の光沢面からの余分な反射光がカメ
ラ21に入射するのが制限され、認識精度が向上する。
【0021】このように、反射認識用の第1の光源、透
過認識用の第2の光源およびノズルに保持された状態の
電子部品に対して側方の特定方向から入射する第3の光
源を一体的に備えた電子部品認識装置において、光源部
と照明対象との間に遮光手段を設けることにより、異な
る種類の照明光が相互に干渉することを防止して、認識
精度を向上させることができる。
【0022】なお本実施の形態では、遮光手段としての
遮光板27を固定配置した例を示したが、遮光板27の
光源部23や照明対象に対する位置・配置角度を調整自
在に設けるようにしても良い。これにより、個々の照明
対象に対して更に良好な遮光効果を得ることができる。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、複数の光源から照射さ
れる照明光が所定照明対象部位以外の部位に照射される
のを防止する遮光手段を備えたので、異なる照明光相互
の干渉を防止することができ、これにより正しい照明条
件を実現して認識精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の電子部品認識装置の平
面図
【図2】本発明の一実施の形態の電子部品認識装置の断
面図
【図3】本発明の一実施の形態の電子部品認識装置の断
面図
【図4】本発明の一実施の形態の電子部品認識装置の画
像図
【符号の説明】
7 移載ヘッド 8 電子部品認識装置 11 吸着ノズル 12 反射板 21 カメラ 22 画像処理部 23 光源部 24 第1の光源 25 第2の光源 26 第3の光源 27 遮光板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 3F059 AA03 AA14 DA02 DB00 DB06 FB12 FB16 5B057 BA02 CC01 DA02 DA07 5E313 DD41 EE03 EE22 FF05

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ノズルに保持された電子部品を照明手段に
    よって照明し、撮像手段によって撮像して前記電子部品
    の画像認識を行う電子部品実装装置における電子部品認
    識装置であって、前記照明手段は異なる位置に配置され
    た複数の光源を有し、これらの光源から照射される照明
    光が所定照射部位以外の部位に照射されるのを制限する
    遮光手段を備えたことを特徴とする電子部品実装装置に
    おける電子部品認識装置。
  2. 【請求項2】前記遮光手段は、板状の遮光部材であるこ
    とを特徴とする請求項1記載の電子部品実装装置におけ
    る電子部品認識装置。
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