JP3282420B2 - 円筒形電子部品の外観検査装置 - Google Patents
円筒形電子部品の外観検査装置Info
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- JP3282420B2 JP3282420B2 JP32286094A JP32286094A JP3282420B2 JP 3282420 B2 JP3282420 B2 JP 3282420B2 JP 32286094 A JP32286094 A JP 32286094A JP 32286094 A JP32286094 A JP 32286094A JP 3282420 B2 JP3282420 B2 JP 3282420B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は円筒部を有する電子部品
の外観形状を検査する際に使用される円筒形電子部品の
外観検査装置に関するものである。
の外観形状を検査する際に使用される円筒形電子部品の
外観検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の円筒形電子部品の外観検
査装置について図面を用いて説明する。
査装置について図面を用いて説明する。
【０００３】図３は従来の円筒形電子部品の外観検査装
置の構成を示した要部斜視図であり、図中１は円筒形電
子部品、２は搬送治具、３は円筒形電子部品の形状画像
を取り込むためのカメラ、４はこのカメラ３と円筒形電
子部品１の間に配置され、円筒形電子部品１に光を照射
する光源である。また、上記搬送治具２は本出願人らが
特願平１−２４１２４４号にて先に出願した搬送治具を
示したものである。
置の構成を示した要部斜視図であり、図中１は円筒形電
子部品、２は搬送治具、３は円筒形電子部品の形状画像
を取り込むためのカメラ、４はこのカメラ３と円筒形電
子部品１の間に配置され、円筒形電子部品１に光を照射
する光源である。また、上記搬送治具２は本出願人らが
特願平１−２４１２４４号にて先に出願した搬送治具を
示したものである。
【０００４】このように構成された従来の円筒形電子部
品の外観検査装置は、搬送治具２に保持された円筒形電
子部品１の下面より光源４で光を照射し、この反射光を
カメラ３で取り込むことにより円筒形電子部品１の形状
画像から良否判定を行うように構成されたものであっ
た。
品の外観検査装置は、搬送治具２に保持された円筒形電
子部品１の下面より光源４で光を照射し、この反射光を
カメラ３で取り込むことにより円筒形電子部品１の形状
画像から良否判定を行うように構成されたものであっ
た。
【０００５】また、図４は従来の円筒形電子部品の外観
検査装置の他の構成を示した要部斜視図であり、図中１
は円筒形電子部品、２は搬送治具、３は円筒形電子部品
の形状画像を取り込むためのカメラ、４Ａはこのカメラ
３と反対側に配置され、円筒形電子部品１に光を照射す
る光源である。また、上記搬送治具２は本出願人らが同
じく特願平１−２４１２４４号にて先に出願した搬送治
具を示したものである。
検査装置の他の構成を示した要部斜視図であり、図中１
は円筒形電子部品、２は搬送治具、３は円筒形電子部品
の形状画像を取り込むためのカメラ、４Ａはこのカメラ
３と反対側に配置され、円筒形電子部品１に光を照射す
る光源である。また、上記搬送治具２は本出願人らが同
じく特願平１−２４１２４４号にて先に出願した搬送治
具を示したものである。
【０００６】このように構成された従来の円筒形電子部
品の外観検査装置は、搬送治具２に保持された円筒形電
子部品１の上面より光源４Ａで光を照射し、この透過光
をカメラ３で取り込むことにより円筒形電子部品１の形
状画像から良否判定を行うように構成されたものであっ
た。
品の外観検査装置は、搬送治具２に保持された円筒形電
子部品１の上面より光源４Ａで光を照射し、この透過光
をカメラ３で取り込むことにより円筒形電子部品１の形
状画像から良否判定を行うように構成されたものであっ
た。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記図３
に示したような従来の構成では、円筒形電子部品１の形
状画像をカメラ３に取り込むと図５に示すような反射光
の画像を取り込むことになり、円筒形電子部品１と搬送
治具２の画像とが同時に画像として撮像され、かつ、濃
淡差の少ない画像を捉えるため、処理すべき情報量の少
ない２値化画像で扱うことが困難となる。そのため、階
調画像で処理を行うことが多く、従って処理すべき情報
量が多くなり、高速処理が期待できず、高速な生産ライ
ンの場合にはスピードが足りず、複数台必要となり、高
コストとなる。
に示したような従来の構成では、円筒形電子部品１の形
状画像をカメラ３に取り込むと図５に示すような反射光
の画像を取り込むことになり、円筒形電子部品１と搬送
治具２の画像とが同時に画像として撮像され、かつ、濃
淡差の少ない画像を捉えるため、処理すべき情報量の少
ない２値化画像で扱うことが困難となる。そのため、階
調画像で処理を行うことが多く、従って処理すべき情報
量が多くなり、高速処理が期待できず、高速な生産ライ
ンの場合にはスピードが足りず、複数台必要となり、高
コストとなる。
【０００８】また、階調画像で処理を行う装置は、２値
化画像で処理を行う装置に比べて一般的に高価になり、
さらに高コストとなる。
化画像で処理を行う装置に比べて一般的に高価になり、
さらに高コストとなる。
【０００９】また、図５に示すように電子部品の部位１
Ｂに金属や表面が白色に近い色の材質の物体など光を反
射する材質がある場合でシルエット画像のみ正確に検査
したい形状画像が得られる場合、例えば、画像平面に対
し電子部品の部位１Ｂが３次元的に凹凸やＲ部分がある
場合、反射光のみでは検査したい形状が正確な形状を示
さず、検査が困難となる場合があるという課題を有して
いた。
Ｂに金属や表面が白色に近い色の材質の物体など光を反
射する材質がある場合でシルエット画像のみ正確に検査
したい形状画像が得られる場合、例えば、画像平面に対
し電子部品の部位１Ｂが３次元的に凹凸やＲ部分がある
場合、反射光のみでは検査したい形状が正確な形状を示
さず、検査が困難となる場合があるという課題を有して
いた。
【００１０】また、上記図４に示したような従来の構成
では、円筒形電子部品１の形状画像をカメラ３に取り込
むと図６に示すような透過光の画像を取り込むことにな
り、円筒形電子部品１と搬送治具２の画像とが同時に画
像として撮像され、かつ、円筒形電子部品１と搬送治具
２が共にシルエット画像となり、製品の形状が部分的に
しか出ないので形状外観検査が不可能となる。
では、円筒形電子部品１の形状画像をカメラ３に取り込
むと図６に示すような透過光の画像を取り込むことにな
り、円筒形電子部品１と搬送治具２の画像とが同時に画
像として撮像され、かつ、円筒形電子部品１と搬送治具
２が共にシルエット画像となり、製品の形状が部分的に
しか出ないので形状外観検査が不可能となる。
【００１１】このため図４に示すような構成に加え、搬
送治具２を光学的に拡散性を有した材質に変え、光源４
の光量を大きくすると円筒形電子部品１の画像と搬送治
具２の画像とは濃淡差は出るが、背景部の画像の光量が
大きすぎて光学的ハレーションが発生し、カメラ３で正
確な画像を捉えることが困難となるという課題を有して
いた。
送治具２を光学的に拡散性を有した材質に変え、光源４
の光量を大きくすると円筒形電子部品１の画像と搬送治
具２の画像とは濃淡差は出るが、背景部の画像の光量が
大きすぎて光学的ハレーションが発生し、カメラ３で正
確な画像を捉えることが困難となるという課題を有して
いた。
【００１２】本発明はこのような従来の課題を解決し、
容易に高精度な検査を行うことが可能な円筒形電子部品
の外観検査装置を提供することを目的とするものであ
る。
容易に高精度な検査を行うことが可能な円筒形電子部品
の外観検査装置を提供することを目的とするものであ
る。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明の円筒形電子部品の外観検査装置は、光学的に
拡散性を有した材料からなり、電子部品を保持する円弧
状の保持部を対向して備えてＵ字形に形成された搬送治
具と、この搬送治具に保持された電子部品に向かって光
を照射する第１の光源と、この第１の光源に隣接して配
置され、上記電子部品に斜め方向から光を照射する第２
の光源と、上記電子部品を挟んで第１、第２の光源の反
対側に配置され、第１、第２の光源より照射された電子
部品のシルエット画像を取り込むカメラと、このカメラ
に取り込まれたシルエット画像から電子部品の外観形状
の良否判定を行う判定部からなる構成としたものであ
る。
に本発明の円筒形電子部品の外観検査装置は、光学的に
拡散性を有した材料からなり、電子部品を保持する円弧
状の保持部を対向して備えてＵ字形に形成された搬送治
具と、この搬送治具に保持された電子部品に向かって光
を照射する第１の光源と、この第１の光源に隣接して配
置され、上記電子部品に斜め方向から光を照射する第２
の光源と、上記電子部品を挟んで第１、第２の光源の反
対側に配置され、第１、第２の光源より照射された電子
部品のシルエット画像を取り込むカメラと、このカメラ
に取り込まれたシルエット画像から電子部品の外観形状
の良否判定を行う判定部からなる構成としたものであ
る。
【００１４】
【作用】第２の光源による照明光により搬送治具が照射
され、この搬送治具のもつ光学的拡散性の効果により拡
散光が搬送治具を経由してカメラに入光し、搬送治具が
明るい物体画像としてカメラに取り込まれると共に、第
１の光源により背景も明るい画像としてカメラに取り込
まれ、円筒形電子部品のシルエット画像が他の画像とコ
ントラストよく得られる。
され、この搬送治具のもつ光学的拡散性の効果により拡
散光が搬送治具を経由してカメラに入光し、搬送治具が
明るい物体画像としてカメラに取り込まれると共に、第
１の光源により背景も明るい画像としてカメラに取り込
まれ、円筒形電子部品のシルエット画像が他の画像とコ
ントラストよく得られる。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を用い
て説明する。
て説明する。
【００１６】図１は同実施例による円筒形電子部品の外
観検査装置を示した概念図であり、図１において円筒形
電子部品１を保持する円弧状の保持部を対向して備えて
Ｕ字形に形成され、かつ、光学的に拡散性を有した材質
（本実施例では乳白色の樹脂を用いた）からなる搬送治
具５と、この搬送治具５に保持された円筒形電子部品１
に向かって光を照射する第１の光源６と、この第１の光
源６に隣接して配置され、円筒形電子部品１に斜め上方
向４５°程度の所から光を照射する第２の光源７と、上
記円筒形電子部品１を挟んで第１、第２の光源６，７の
反対側に配置され、第１、第２の光源６，７より照射さ
れた円筒形電子部品１のシルエット像を取り込むＴＶカ
メラ３と、このＴＶカメラ３により取り込んだシルエッ
ト像から円筒形電子部品１の外観形状の良否判定を行う
判定部８より構成されている。
観検査装置を示した概念図であり、図１において円筒形
電子部品１を保持する円弧状の保持部を対向して備えて
Ｕ字形に形成され、かつ、光学的に拡散性を有した材質
（本実施例では乳白色の樹脂を用いた）からなる搬送治
具５と、この搬送治具５に保持された円筒形電子部品１
に向かって光を照射する第１の光源６と、この第１の光
源６に隣接して配置され、円筒形電子部品１に斜め上方
向４５°程度の所から光を照射する第２の光源７と、上
記円筒形電子部品１を挟んで第１、第２の光源６，７の
反対側に配置され、第１、第２の光源６，７より照射さ
れた円筒形電子部品１のシルエット像を取り込むＴＶカ
メラ３と、このＴＶカメラ３により取り込んだシルエッ
ト像から円筒形電子部品１の外観形状の良否判定を行う
判定部８より構成されている。
【００１７】以上のように構成された、外観検査装置に
ついて以下にその動作を説明する。第２の光源７による
照射光により搬送治具５が照射され、この搬送治具５の
内部または表面の材質による光学的拡散性の効果によ
り、拡散光が搬送治具５を経由してＴＶカメラ３に入光
し、図２に示すように搬送治具５が明るい物体画像とし
てＴＶカメラ３に取り込まれ、また、第１の光源６によ
り、背景も明るい背景部の画像１０としてＴＶカメラ３
に取り込まれる。その際、第１の光源６の光量と第２の
光源７の光量とをバランスを取り、同じ明るさの画像と
してＴＶカメラ３に取り込まれるようにすることによ
り、円筒形電子部品１のシルエット画像１Ａと他の画
像、すなわち、搬送治具５の像５Ａおよび第１の光源６
により背景像１０とがコントラストのある画像としてＴ
Ｖカメラ３で得られ、判定部８へ送られる。
ついて以下にその動作を説明する。第２の光源７による
照射光により搬送治具５が照射され、この搬送治具５の
内部または表面の材質による光学的拡散性の効果によ
り、拡散光が搬送治具５を経由してＴＶカメラ３に入光
し、図２に示すように搬送治具５が明るい物体画像とし
てＴＶカメラ３に取り込まれ、また、第１の光源６によ
り、背景も明るい背景部の画像１０としてＴＶカメラ３
に取り込まれる。その際、第１の光源６の光量と第２の
光源７の光量とをバランスを取り、同じ明るさの画像と
してＴＶカメラ３に取り込まれるようにすることによ
り、円筒形電子部品１のシルエット画像１Ａと他の画
像、すなわち、搬送治具５の像５Ａおよび第１の光源６
により背景像１０とがコントラストのある画像としてＴ
Ｖカメラ３で得られ、判定部８へ送られる。
【００１８】判定部８の内部では、計測したい円筒形電
子部品１のシルエット画像１Ａがコントラストよく出て
きているので、２値化画像処理の簡単な判定処理、たと
えば、白画素から黒画素に変化するエッジから黒画素か
ら白画素へ変化するエッジまでの画素数をカウントする
寸法計測を実施したり、シルエット画像上のある基準位
置に形成した窓領域の黒または白画素をカウントする面
積計測を実施し、得られた計測結果と判定基準とを比較
し、良否判定結果を出力する判定処理を高速に実施し、
かつ、信頼性よく、判定結果９を出力する。
子部品１のシルエット画像１Ａがコントラストよく出て
きているので、２値化画像処理の簡単な判定処理、たと
えば、白画素から黒画素に変化するエッジから黒画素か
ら白画素へ変化するエッジまでの画素数をカウントする
寸法計測を実施したり、シルエット画像上のある基準位
置に形成した窓領域の黒または白画素をカウントする面
積計測を実施し、得られた計測結果と判定基準とを比較
し、良否判定結果を出力する判定処理を高速に実施し、
かつ、信頼性よく、判定結果９を出力する。
【００１９】このように円筒形電子部品１に対し、これ
ら一連の処理を行うことにより、たとえば円筒形電子部
品１の部位の加工寸法や割れ欠けの有無、およびリード
の曲がりなどの形状外観検査を容易に行うことができる
ものである。
ら一連の処理を行うことにより、たとえば円筒形電子部
品１の部位の加工寸法や割れ欠けの有無、およびリード
の曲がりなどの形状外観検査を容易に行うことができる
ものである。
【００２０】図２に取り込まれた円筒形電子部品１のシ
ルエット画像１Ａの例を示しているが、上述の第１、第
２の各光源６，７間のバランスを取った効果として、円
筒形電子部品１のシルエット像１Ａと搬送治具の画像５
Ａおよび背景部の画像１０とが、コントラストのある画
像として取り込まれているのがわかる。
ルエット画像１Ａの例を示しているが、上述の第１、第
２の各光源６，７間のバランスを取った効果として、円
筒形電子部品１のシルエット像１Ａと搬送治具の画像５
Ａおよび背景部の画像１０とが、コントラストのある画
像として取り込まれているのがわかる。
【００２１】なお、本実施例では図１に示した第２の光
源１の角度は４５°としているが、本発明はこれに限定
されるものではなく、ＴＶカメラ３で用いている光学レ
ンズの倍率および絞りに合わせた角度、すなわち、その
角度の光が直接ＴＶカメラ３に入射しない角度である１
５°〜８５°を選択すれば良い。
源１の角度は４５°としているが、本発明はこれに限定
されるものではなく、ＴＶカメラ３で用いている光学レ
ンズの倍率および絞りに合わせた角度、すなわち、その
角度の光が直接ＴＶカメラ３に入射しない角度である１
５°〜８５°を選択すれば良い。
【００２２】また、搬送治具５の凹凸形状に合わせ第２
の光源７を複数台の光源で構成し、搬送治具５の凹凸形
状の影が出ないようにすることも考えられる。
の光源７を複数台の光源で構成し、搬送治具５の凹凸形
状の影が出ないようにすることも考えられる。
【００２３】また、円筒形電子部品１を保持する搬送治
具５の材質は、本実施例では、乳白色の樹脂を使用した
が、光学的に拡散性を有した材質、例えば、半透明の樹
脂、透明樹脂の表面をすりガラス状に加工したもの、透
明ガラスの表面をすりガラスにしたもの、ガラス繊維、
透明樹脂・透明プラスティックや透明ガラスの中に他の
物質、例えば金属物や気体を混入させて作ったものでも
使用できる。
具５の材質は、本実施例では、乳白色の樹脂を使用した
が、光学的に拡散性を有した材質、例えば、半透明の樹
脂、透明樹脂の表面をすりガラス状に加工したもの、透
明ガラスの表面をすりガラスにしたもの、ガラス繊維、
透明樹脂・透明プラスティックや透明ガラスの中に他の
物質、例えば金属物や気体を混入させて作ったものでも
使用できる。
【００２４】また、円筒形電子部品１を保持する搬送治
具５の材質を蛍光物質を含んだ半透明の材質にし、第２
の光源７から紫外線を照射し、２次光として蛍光を発生
させてもよい。
具５の材質を蛍光物質を含んだ半透明の材質にし、第２
の光源７から紫外線を照射し、２次光として蛍光を発生
させてもよい。
【００２５】さらに本実施例では、ＴＶカメラ３を用い
た構成としたものであるが、光量を検出するセンサーや
１次元ラインセンサカメラであってもよい。
た構成としたものであるが、光量を検出するセンサーや
１次元ラインセンサカメラであってもよい。
【００２６】さらに、本実施例では、２値化画像処理に
よる判定部８の構成としたが、階調画像処理による判定
部であっても同様に処理簡略化による処理の高速化と高
精度測定が期待できる。
よる判定部８の構成としたが、階調画像処理による判定
部であっても同様に処理簡略化による処理の高速化と高
精度測定が期待できる。
【００２７】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、極めて短
時間で、しかも精度良く検査できるため、上流工程の高
速の組立・加工工程と搬送系を直結し、インラインでの
形状検査を行うための位置決め・搬送ができると同時
に、低コストで高速検査を実現できるものである。
時間で、しかも精度良く検査できるため、上流工程の高
速の組立・加工工程と搬送系を直結し、インラインでの
形状検査を行うための位置決め・搬送ができると同時
に、低コストで高速検査を実現できるものである。
【図１】本発明の一実施例による円筒形電子部品の外観
検査装置の全体構成を示す概念図
検査装置の全体構成を示す概念図
【図２】同実施例で得られる円筒形電子部品のシルエッ
ト画像
ト画像
【図３】従来の円筒形電子部品の外観検査装置の構成を
示した概念図
示した概念図
【図４】従来の円筒形電子部品の外観検査装置の他の例
を示した概念図
を示した概念図
【図５】図３の従来例により得られる円筒形電子部品の
画像を示した図
画像を示した図
【図６】図４の従来例により得られる円筒形電子部品の
画像を示した図
画像を示した図
１ 円筒形電子部品 １Ａ 円筒形電子部品のシルエット像 ３ カメラ ５ 搬送治具 ５Ａ 搬送治具の画像 ６ 第１の光源 ７ 第２の光源 ８ 判定部 ９ 判定結果 １０ 背景部の画像
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−104520（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−86797（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−112689（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−212999（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−175693（ＪＰ，Ａ) 特公 平６−23393（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 H05K 13/08 H05K 13/04
Claims (1)
- 【請求項１】 光学的に拡散性を有した材料からなり電
子部品を保持する円弧状の保持部を対向して備えてＵ字
形に形成された搬送治具と、この搬送治具に保持された
電子部品に向かって光を照射する第１の光源と、この第
１の光源に隣接して配置され、上記電子部品に斜め方向
から光を照射する第２の光源と、上記電子部品を挟ん
で、第１、第２の光源の反対側に配置され、第１、第２
の光源より照射された電子部品のシルエット画像を取り
込むカメラと、このカメラに取り込まれたシルエット画
像から電子部品の外観形状の良否判定を行う判定部より
なる円筒形電子部品の外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32286094A JP3282420B2 (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 円筒形電子部品の外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32286094A JP3282420B2 (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 円筒形電子部品の外観検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08178631A JPH08178631A (ja) | 1996-07-12 |
| JP3282420B2 true JP3282420B2 (ja) | 2002-05-13 |
Family
ID=18148421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32286094A Expired - Fee Related JP3282420B2 (ja) | 1994-12-26 | 1994-12-26 | 円筒形電子部品の外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3282420B2 (ja) |
-
1994
- 1994-12-26 JP JP32286094A patent/JP3282420B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08178631A (ja) | 1996-07-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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