JPS63140950A - メツキ皮膜のx線測定装置 - Google Patents

メツキ皮膜のx線測定装置

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JPS63140950A
JPS63140950A JP28809786A JP28809786A JPS63140950A JP S63140950 A JPS63140950 A JP S63140950A JP 28809786 A JP28809786 A JP 28809786A JP 28809786 A JP28809786 A JP 28809786A JP S63140950 A JPS63140950 A JP S63140950A
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JP
Japan
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steel plate
plated steel
measurement
ray
plating film
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Pending
Application number
JP28809786A
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English (en)
Inventor
Yoshiro Matsumoto
松本 義朗
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication date
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  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電気メソ+鋼板、溶融メッキ鋼板などのメッ
キ鋼板のメッキ皮膜をメツキライン上で測定する!A置
に関する。
〔従来の技術〕
従来、鋼板表面に形成されたメッキ皮膜の厚さく付若量
)の測定及び組成の分析(以下単にメ・ツキ皮膜の測定
という)をメツキライン上で行なう装置として、蛍光X
線による分析装置が開発され、採用されている。
例えば本発明者は、特願昭Go−119267号でZn
、 Au を含有するメッキ皮佼側より鋼材へ向けて励
起放射線を照QJ して鋼材からのFcKa線及び/又
はFeKβ 線の強度を測定し、その測定値に基づきメ
ッキ皮膜の付t7fflを算出し、又メッキ皮膜からの
ZnKa a又はZnKa腺の強度を測定し、その測定
値と前記のメッキ皮膜の付萱葺とに基づきメッキ皮膜の
組成を算出する方法ならびに装置を提案した。該装置は
W対陰極のX、a告球、Cu対陰極のxIi!管球、又
は2”Amの同位体の少なくとも1つを有し、メッキ皮
瞑側より鋼材へ向けて励起放射線を照射する放01腺源
と、メッキ皮膜又は鋼材からの蛍光X線を弁別してその
強度を検出する検出器とを具備し、前記放射線源、検出
器夫々はメッキ皮膜に対して入射角、取出角を相対的に
設定変更できるようになしであることを特徴とするもの
である。
更に本発明者は、特印昭61−169336号で、前記
特願昭60−119267号の提案で示した測定原理に
基づき、メッキ皮膜の厚さすなわち付着量が広範囲に変
化しても、該メッキ皮膜の測定をオンラインにて精度よ
く行なうことができるように、鋼材からの蛍光X線の強
度を検出する第1検出器と、メッキ皮膜からの蛍光X線
の強度を検出する、メッキ皮Uの厚さに応じた種々の取
出角を有する複数個の第2検出器を具備する蛍光X線分
析装置を提案している。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記従来の蛍光X線分析g 1によりメ
ツキライン上で測定されるのは、鋼板が通過する速度と
X線の測定時間とから決まる比較的長い拒離にわたる測
定範囲に対する平均的な測定値である。例えば鋼板のラ
インスピードが100m/分、 X線の測定時間を4秒
とすると、鋼板のライ/方向6.7mの範囲の平均的な
測定がなされることになる。一方、メッキ鋼板のメッキ
皮膜の性状、特に厚さは、鋼板のライン方向及び幅方向
でばらつくが、このばらつきのVtaを従来の装置によ
る測定で上根することは不可能であった。
〔間2点を解決するための手1よ〕 本発明は上記従来の問題を解決し、メッキ皮膜の測定に
おける鋼板の長さ方向及び幅方向の分解能を向上させる
ための手段の提供を目的とするもので、メッキ鋼板のメ
ッキ皮膜のX線測定装置において、X線管球と検出器よ
りなるX線測定ヘッドをメツキライン上に配設し、前記
ヘッドの位ごを通過するメッキ鋼板を静動可能となす走
行車例えばループカーを設けてなるメッキ皮膜のX線測
定装置に関する。
以下、本発明を図に基づいて説明する。第1図および第
2図は本発明のXa測定装置の要部の一例の構成を示す
説明図で、第1図は要部の全体図、第2図は第1図の一
部の詳細図でてる。第1図において、溶融メッキポット
(1)でメッキを施され、プライドルロール(2)を通
過したメッキ鋼板(3)をはさんで上下にX線測定ヘッ
ド(4)、 (4)が配設され、二測定ヘッド(4)i
4)と前記プライドルロール(2)との間に、メッキg
ll 板(3)の進行方向に対しこれと平行に前後に移
動可能なループカー(5)が設けられる。
第2図は前J2 X線測定ヘッド(4)i4)の構成を
示した説明図で、メッキ鋼板(3)へ向けてxiを照射
するxi管球(6)とメッキ皮膜又は鋼材からの蛍光X
線を弁別してその強度を検出する検出器(2)とからな
る。同図に示した例ではXIi!管球(6)とメッキ鋼
板(3)の間に、照射されたX線が通過するための径の
異る複数個の孔ををする円盤状のコリメーター(8)が
設けられているが、通常のスリット板であってもよい。
尚、前記X線測定ヘッド(4) 、(4)はメフ+B板
(3)の幅方向に平行に移動可能である。
〔作   用〕
上記本発明のX線測定Haを用いてメツキライン上でメ
ッキ皮膜の測定を行なうには、ループカー〔5)をメッ
キ鋼板(3)の進行方向と反対の方向に必要な速度で移
動させ、X線測定ヘッド(4)、 (4)の間を通過す
るメッキ鋼板(3)を静止状態とすればよい。
すなわち、メツキラインスピードが100m/分である
とすると、X線測定ヘッド(4)、(41の間を通過す
るメッキ鋼板(3)の速度は当然ラインスピードに等し
いが、今ループカー(5)をメッキ鋼板(3)の進行方
向と反対の、^−の方向へ50m/分の速度で移動させ
た場合、X線測定ヘッド(4)、(4)の位置において
はメッキ鋼板(3)は静+h した状態となる。従って
この場合、X線測定時間を4秒とすれば、この間にルー
プカー(51をl1ll記速度で3.3m移動させれば
よいことになる。ループカーら)を停止させるとXr、
!測定ヘッド(4)、(4)の位置でメ・ツキ鋼板(3
)が進行するので、測定位置を変えることができる。
」−記の操作ハXIalT11定ヘ−/ )’(4)、
 (4)ヲl −/ 4m板(3)の幅方向の仕置の一
点で静止させた場合であるが、メッキ鋼板(3)を静止
させた状態でX線測定へ・ノド(41,(4)を前記鋼
板の幅方向に一端から他端へ移v1させ、幅方向に対す
るスキャン測定を行なうことも可能である。
メッキ鋼板(3)の前記長さ方向あるいは幅方向におけ
る所定の測定位置での測定が終ればループカー(5)を
メッキ鋼板(3)の進行方向と同一のBの方向へ移動さ
せて元の位置へ戻し、次の測定に備える。
メッキ皮膜の測定はX線管球(6)と検出器(7)とか
らなるX線測定ヘッド(4)、(41により、前記特願
昭GO−119267号及び特願昭01−169336
号に示した原理に基づいてなされる。
又、前記第2図に示したように円盤状のコリメーター(
8)が設けられている場合は、該コリメーター(8)を
回転させてX線の照射面積すなわち測定を行なう面積を
任意に変えることが可能である。
〔実 施 例〕
以下、実施例に基づいて説明する。
前記第1図及び第2図の構成を仔する本発明の装置を用
いて、溶融亜鉛メッキを行なった際のZn付行量を測定
した。X腺管球(6)の対陰極としてはタフゲステン(
W)を使用し、励起電圧・電流は50 KV −200
mA とした。検出器■にはアルゴン(Ar>ガス封入
型の比例計数管を使用した。
本実施例で用いたX線測定ヘッド(Φ、(Φには円盤状
ノコリメーター(8)が設けられている。第3図は前記
コリメーター(8)の拡大平面図で、4個の孔を存し、
各孔の径は、aが5mm、bが10□、Cが201、、
dが40婁暑である。 本実施例では孔径20−■を用
いた。ラインスピードは100m/分(1,67m/秒
)で、ループカー(5)をメッキ鋼板(3)の進行方向
と反対のへの方向へ4秒間に3.3m移動させ、その間
X線測定を行ない、次いで前記ループノJ −(5)を
2秒間停止させる、というサイクルを繰り返しオンライ
ンn1定を行なった。すなわち、測定位置をライン方向
に3.3mずつ移動させながら各位置で4秒間静止状聾
での測定を行なった。比較のため、本発明のX線測定に
’ ilにより測定を行なった各位置から直径20龍の
分析用サンプルを採取し、酸溶解後化学分析を行ない、
又メッキ鋼板(3)をライ/スピード100m/分で移
送しながら1回の測定時間4秒で連続的に測定する従来
の装置による測定も行なった。
測定結果を第4図に示す。同図において、横軸はメッキ
鋼板のライン方向における基準位置からの距離、縦軸は
メッキ皮膜の付行量で、(イ)図における実線は本発明
装置による測定値、破線は従来装置による測定値、仲)
図における一点鎖線は本発明装置で測定した各測定点か
らそれぞれ採取したサンプルの化学分析値である。第4
図から本光明装置により測定したメッキ皮膜の付着L1
は各測定点における化学分析値とよく一致しており、又
従来装置による測定値と比較してライン方向の分解能が
著しく向上することがわかる。
上記実施例は溶融Zn  メッキ鋼板についての測定結
果であるが、Zn−Al1溶融メッキのメッキ皮膜のD
1定、Ni −Zns  Fe−Zn合金などの電気メ
ッキのメッキ皮膜の測定にももちろん適用可能である。
又、上記のようなライン方向における測定のみならず幅
方向における測定も可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、メッキ皮膜のX線測定装置におい
て、X腺管球と検出器とからなるX線測定へソドをメツ
キライン上に配設し、かつ前記ヘッドの位置を通過する
メッキ鋼板を静動可能となずループh−を設けた本発明
の装置を用いることにより、オンライン測定であるにも
かかわらずメッキ鋼板が静止した状態で測定を行なうこ
とができる。その結果、メッキ皮膜の測定における鋼板
の長さ方向及び幅方向の分解能を著しく向上させること
か可能で、メッキ皮膜の性状のばらつきを正確に把握す
ることができ、品M 9理の向上を図る−にで極めて作
動である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の装置の要部の一例のもが成を示す説明
図、第2図は第1図の一部の詳細図、第3図は本発明の
装置の一部にウリ付けたコリメーターの拡大平面図、第
4図はメツキライン方向における基準位置からの距離と
メッキ皮膜の付着Ltとの関係を示す線図で、(イ)図
は本発明の装置及び従来の装置による測定値、(ロ)図
は化学分析値である。 l・・・溶融メッキボット 2・・・プライドルロール
3・・・メッキ鋼板    4・・・X線測定ヘッド5
・・・ループカー    6・・・X線管球7・・・検
出器      8・・・コリメーター$1図 第4図 (イ) (ロ)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. メッキ鋼板のメッキ皮膜のX線測定装置において、X線
    管球と検出器よりなるX線測定ヘッドをメッキライン上
    に配設し、前記ヘッドの位置を通過するメッキ鋼板を静
    動可能となす走行車を設けてなるメッキ皮膜のX線測定
    装置。
JP28809786A 1986-12-03 1986-12-03 メツキ皮膜のx線測定装置 Pending JPS63140950A (ja)

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JP28809786A JPS63140950A (ja) 1986-12-03 1986-12-03 メツキ皮膜のx線測定装置

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ID=17725754

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JP28809786A Pending JPS63140950A (ja) 1986-12-03 1986-12-03 メツキ皮膜のx線測定装置

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JP (1) JPS63140950A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5076383A (en) * 1988-06-17 1991-12-31 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Steering damper device
JP2008203245A (ja) * 2007-01-23 2008-09-04 Sii Nanotechnology Inc X線分析装置及びx線分析方法
JP2013221744A (ja) * 2012-04-12 2013-10-28 Horiba Ltd X線検出装置
JP2013221745A (ja) * 2012-04-12 2013-10-28 Horiba Ltd X線検出装置

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JP2008203245A (ja) * 2007-01-23 2008-09-04 Sii Nanotechnology Inc X線分析装置及びx線分析方法
JP2013221744A (ja) * 2012-04-12 2013-10-28 Horiba Ltd X線検出装置
JP2013221745A (ja) * 2012-04-12 2013-10-28 Horiba Ltd X線検出装置

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