JPS63118845A - 論理シミユレ−シヨン方式 - Google Patents

論理シミユレ−シヨン方式

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JPS63118845A
JPS63118845A JP61264456A JP26445686A JPS63118845A JP S63118845 A JPS63118845 A JP S63118845A JP 61264456 A JP61264456 A JP 61264456A JP 26445686 A JP26445686 A JP 26445686A JP S63118845 A JPS63118845 A JP S63118845A
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JP
Japan
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write
signal
gate
read
data signal
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JP61264456A
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Atsuo Tachikawa
立川 篤夫
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、各種の論理装置やLSIに含まれる諸種の
論理素子に対して所要の論理検証を行うための論理シミ
ュレーション方式に関するものである。
〔従来の技術〕
第3図は、従来の論理シミュレーション方式の中で、記
憶素子がレベルイネーブルタイプ及びエツジイネーブル
タイプの2種類の論理モデルを予め階層的に構築し、ア
ドレス変化検出のみを可能とした場合の論理モデル図で
ある。すなわち、この論理シミュレーション方式により
取扱うことのできる記憶素子としては、前述されたよう
に、レベルイネーブルタイプのものとエツジイネーブル
タイプのものがあるが、この違いによる別異の論理モデ
ルを論理シミュレーションの実行の度毎に個別に定義し
直す必要をなくすために、記憶素子としてレベルイネー
ブルタイプのものとエッジイネーブルタイプのものの論
理モデルを階層的に構築しておく。
第3図において、(1)はレベルイネーブルタイプの記
憶素子A、(2)はエツジイネーブルタイプの記憶素子
Bであり、各記憶素子A (1) 。
B(2)が階層的に構築されて記憶部50が構成されて
いる。(3)はライトデータ信号WDo、(4)はライ
トデータ信号WDn、 (5)はリードデータ信号RD
o、(6)はリードデータ信号RDn、(7)は上記各
データ信号のり−ド/ライト動作を設定するり一ド/ラ
イト制御回路、(8)はそのアドレスを設定するアドレ
ス制御回路、 (9)はり一ド/ライト制御回路(7)
から出力されるリード/ライト信号A、(11)はアド
レス制御回路(8)から出力されるアドレス信号Ao、
(12)は同じくアドレス信号Anであり、上記ライト
データ信号WDo  (3)、WDn(4)とり−ド/
ライト信号A(9)及びアドレス信号Ao (11) 
、 An (12)は記憶部50を構成する各記憶素子
A (1) 、 B (2)の夫々へ入力され、リード
データ信号RDo (5)。
RDn (6)は夫々から出力されるようになっている
。ここで、上記レベルイネーブルタイプの記憶素子A(
1)は、人力されるアドレス信号A。
(11) 、  An (12)の変化に追従してリー
ドデータ信号RDo (5)、RDn (6)が変化す
るが、エツジイネーブルタイプの記憶素子B(2)は変
化しないためアドレス変化検出回路(13)が設けられ
ている。すなわち、このアドレス変化検出回路(13)
はアドレス信号Ao(11)。
An(12)を入力してその変化を検出し、エツジイネ
ーブルタイプの記憶素子B(2)のメモリイネーブル端
子MEにイネーブル信号を供給するもので、これにより
レベルイネーブルタイプの記憶素子A(1)と同様、ア
ドレス信号Ao(11)。
An(12)に追従してリードデータ信号RD。
(5)、RDn (6)が変化するようになる。
第4図は、この方式のタイミング図を示すものであり、
(23)は前に読み出していたデータ、(24)はリー
ド動作時の時間、(25)はライト動作時の時間である
次に、上記された従来例の動作について説明する。第3
図において、論理シミュレーション方式の記憶素子のタ
イプがレベルイネーブルタイプの場合には、リード/ラ
イト制御回路(7)、アドレス制御回路(8)及びレベ
ルイネーブルタイプの記憶素子A(1)によって所定の
論理シミュレーションを実行する。これに対して、論理
シミュレーション方式の記憶素子のタイプがエツジイネ
ーブルタイプの場合には、論理モデルとしてレベルイネ
ーブルタイプの記憶素子A(1)の階層を展開すること
により、リード/ライト制御回路(7)、アドレス制御
回路(8)、エツジイネーブルタイプの記憶素子B(2
)及びアドレス変化検出回路(13)によって所定の論
理シミュレーションを実行する。
次に第4図の動作タイミング図により、上記従来例の動
作について説明する。リード/ライト信号A(9)がリ
ード動作(24)の信号値からライト動作(25)の信
号値に変化した時点のライトデータ信号WDo(3)と
ライトデータ信号WDn(4)の;−タ、すなわちここ
では“1”と“0”を記憶素子B(2)に書き込み、リ
ード/ライト信号A(9)がライト動作(25)の信号
値からリード動作(24)の信号値に変化した時点で記
憶素子B(2)に書き込まれているデータをリードデー
タ信号RDo (5)とり−ドデータ信号RDn (6
)として出力する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記された従来の論理シミュレーション
方式においては、記憶素子がエツジイネーブルタイプで
ある論理モデルが用いられる場合には、記憶素子へ書き
込み動作中に第4図に示すようにライトデータ信号V/
Dn(4)が変化しても、変化後のライトデータ信号“
1”ではなく変化前のライトデータ信号“O”が記憶素
子に書き込まれるという問題点があった。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、エフシイネーブルタイプである論理モデル
が用いられている場合で記憶素子への書き込み動作中に
ライトデータ信号が変化した場合、変化後のライトデー
タ信号を記憶素子に書き込み可能となる論理シミュレー
ション方式を得ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係る論理シミュレーション方式は、ライトデ
ータ信号の変化を検出しエツジイネーブルタイプの記憶
素子に対するライト信号として出力するデータ変化検出
回路を備えたものである。
〔作用〕
この発明においては、記憶素子への書き込み動作中にラ
イトデータ信号が変化した場合、この変化がデータ変化
検出回路によって検出され、エツジイネーブルタイプの
記憶素子にライト信号が供給される。従って、変化後の
ライトデータ信号がこの記憶素子に書き込まれる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図は実施例の構成を示す論理モデル図であり、第3図従
来例と同一符号は同−又は相当部分を示しており、その
説明は省略する。
図において、(14)はライトデータ信号WDo (3
)を入力し所定量の遅延を与えるゲート1、(15)は
上記ライトデータ信号WD。
(3)と上記ゲート1 (14)の出力とを入力とする
排他的OR機能のゲート2、(16)は上記ゲート2(
15)の出力を入力し所定量の遅延を与えるN07機能
のゲート3、(17)は上記ゲート2(15)の出力と
ゲート3(16)の出力とを入力とするNOR機能のゲ
ート4、(18)はライトデータ信号WDn(4)を入
力し所定量の遅延を与えるゲート5、(19)は上記ラ
イトデータ信号WDn(4)と上記ゲー)5(18)の
出力とを入力とする排他的OR機能のゲート6、(20
)は上記ゲート6 (19)の出力を入力し所定量の遅
延を与えるN07機能のゲート7、(21)は上記ゲー
ト6(19)の出力とゲート7(20)の出力とを入力
とするNOR機能のゲート8、(22)は上記ゲート4
(17)の出力とゲート8(21)の出力及びリード/
ライト制御回路(7)の出力であるリード/ライト信号
A(9)とを入力とするOR機能のゲート9であり、こ
れら各ゲート1(14)〜9(22)により本願のデー
タ変化検出回路33が構成されており、上記ゲート9(
22)の出力がエツジイネーブルタイプの記憶素子B(
2)のり一ド/ライト信号B(io)として供給される
。なお、各ライトデータ信号WDo (3)、WDn 
(4)毎に対応するゲート1(14)とゲート5(1B
)及びゲート3(16)とゲート?(20)の遅延時間
は夫々同一の値に設定されるが、ゲート3(16)とゲ
ート7(20)の遅延時間はゲート1(14)とゲート
5(18)の遅延時間より小さい値に設定されている。
第2図はこの実施例方式のタイミング図を示すものであ
り、ここで、(24)はリード動作時の時間、(25)
はライト動作時の時間、(26)はゲート1(14)の
ディレータイム、(27)はゲート3(16)のディレ
ータイム、(28)はゲート5(1B)のディレータイ
ム、(29)はゲート?  (20)のディレータイム
、(30)はゲート4(17)の出力に発生するパルス
、(31)はゲート8(21)の出力に発生するパルス
、 (32)はり−ド/ライト信号B(10)に発生す
るパルスである。
次に上記されたこの発明の実施例方式の動作について説
明する。第1図において、論理シミュレーション方式の
記憶素子がレベルイネーブルタイプの場合と、記憶素子
がエツジイネーブルタイプで且つ記憶素子のデータ読み
出しの場合は、従来方式の場合と同様な動作をする。
これに対し、記憶素子がエツジイネーブルタイプで且つ
記憶素子のデータ書き込みの場合には、ライトデータ信
号WDo  (3)・はデータ変化検出回路(33)内
のゲート1(14)とゲート2(15)に転送され、こ
のライトデータ信号WIDo(3)の変化点からゲート
1(14)の遅延時間分の微分信号がゲー1−2(15
)の出力として発生する。同様にして、ライトデータ信
号WDn(4)はゲート5(18)とゲート6(19)
に転送され、このライトデータ信号WDn (4)の変
化点からゲー)5(18)の遅延時間分の微分信号がゲ
ート6(19)の出力として発生する。ゲート2(15
)の出力として発生したライトデータ信号WDo(3)
の微分信号は、ゲート3(16)とゲー1−4(17)
に転送され、この微分信号の立下リエソジがゲート3(
16)の遅延時間分の微分信号としてゲート4(17)
の出力部に発生する。
同様にして、ゲート6(19)の出力として発生したラ
イトデータ信号WDn(4)の微分信号は、ゲート7(
20)とゲート8(21)に転送され、この微分信号の
立下りエツジがゲート7(20)の遅延時間分の微分信
号としてゲート8(21)の出力部に発生する。これら
のゲート4(17)及びゲート8(21)の出力部に発
生した微分信号はゲート9  (22)に転送される。
一方、リード/ライト制御回路(7)からはり−ド/ラ
イト信号A(9)が出力されており、このリード/ライ
ト信号A(9)もゲート9(22)に転送される。これ
により、ゲート4(12)及びゲート8(21)の出力
部に発生した微分信号は、リード/ライト信号A(9)
が記憶素子書き込み動作の信号値の時、リード/ライト
信号B(10)に出力される。
すなわち、リード/ライト信号A(9)が記憶素子読み
出し動作の信号値から書き込み動作の信号値に変化した
時、同様にリード/ライト信号B(10)も記憶素子読
み出し動作の信号値から書き込み動作の信号値に変化し
、その時のライトデータ信号WDo (3)とライトデ
ータ信号WDn(4)の内容が記憶素子B(2)に書き
込まれる。
また、リード/ライト信号A(9)が記憶素子書き込み
動作の信号値から読み出し動作の信号値に変化した時、
リード/ライト信号B(10)も記憶素子書き込み動作
の信号値から読み出し動作の信号値に変化し、その時に
記憶素子B(2)に記憶されているデータがリードデー
タ信号RD。
(5)及びリードデータ信号RDn (6)として出力
される。また、ゲート4(17)及びゲート8(21)
の出力部に発生した微分信号は、り一ド/ライト信号A
(9)が書き込み動作の信号値の時にのみリード/ライ
ト信号B(10)に伝播し、リード/ライト信号B(1
0)に伝播した微分信号の立上り時に記憶素子B(2)
に記憶されているデータがリードデータ信号RDo (
5)及びリードデータ信号RDn (5)として出力さ
れる。また、同様にしてリード/ライト信号B(10)
に伝播した微分信号の立下り時のライトデータ信号WD
o(3)とライトデータ信号WDn (4)の内容が記
憶素子B(2)に書き込まれる。
次に、第2図の動作タイミング図により微分パルス生成
タイミングについて説明する。ライトデータ信号WDo
  (3)及びライトデータ信号WDn (4)の変化
点から、夫々、ディレー1(26)及びディレー3(2
8)の時間幅をもった微分信号がゲート2(15)とゲ
ー)6(19)の出力部に発生する。これらの微分信号
は夫々、ゲート3(16)を介してゲート4(17)及
びゲート7(20)を介してゲー)8(21)に入力さ
れ、夫々、ゲート3 (16)の時間幅をもったパルス
1(30)及びゲート7(20)の時間幅をもったパル
ス2(31)がゲート4(17)とゲート8 (21)
の出力部に発生する。リード/ライト信号A(9)と上
記パルス1(30)及びパルス2(31)はゲート9(
22)に入力され、リード/ライト信号A(9)がライ
ト動作(25)の時は上記パルス1(30)またはパル
ス2(31)がゲート9(22)の出力に伝播され、リ
ード/ライト信号B(10)にパルス3(32)が発生
する。また、リード/ライト信号A(9)がリード動作
(24)のときは、上記パルス1(30)またはパルス
2(31)はゲート9(22)の出力には伝播されない
。すなわち、リード/ライト信号A (9)がライト動
作(25)の間、ライトデータ信号が変化するとリード
/ライト信号B(10)にパルス3(32)が発生し、
パルス3(32)の立下りエツジがエツジイネーブルタ
イプの記憶素子B(2)に対する書き込み信号となる。
なお、上記実施例においては、ライトデータ信号線が2
本である場合について説明したが、これに限らず、任意
の本数であってもそれに対応してゲートを増設すればよ
く、上記実施例の場合と同様の効果を奏する。
また、上記実施例においては、データ変化検出回路(3
3)をゲート1(14)〜ゲート9(22)で構成した
場合について説明したが、ライトデータ信号の変化を検
出できればこれらは他の組合せでも良く、また、レジス
タや比較回路を用いて構成することも可能である。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、ライトデータ
信号の変化を検出しエツジイネーブルタイプの記憶素子
に対するライト信号として出力するデータ変化検出回路
を備えたので、書き込み動作中に、ライトデータ信号が
変化した場合に正しく記憶素子にデータを書き込むこと
ができ、諸種の論理素子に対する所要の論理検証を正確
に行うことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による論理シミュレーショ
ン方式を示す論理モデル図、第2図は上記実施例方式の
動作タイミング図、第3図は従来の論理シミュレーショ
ン方式を示す論理モデル図、第4図は上記従来方式の動
作タイミング図である。 (1)はレベルイネーブルタイプの記憶素子A1(2)
はエツジイネーブルタイプの記憶素子B、(3)はライ
トデータ信号WDo、(4)はライトデータ信号WDn
、(5)はリードデータ信号RDo、(6)はリードデ
ータ信号RDn、(7)はリード/ライト制御回路、(
8)はアドレス制御回路、 (9)はリード/ライト信
号A、 (10)はリード/ライト信号B、(11)は
アドレス信号Ao、(12)はアドレス信号An、 (
13)はアドレス変化検出回路、(14)〜(22)は
ゲート、(23)は前に読み出されていたデータ、(2
4)はリード動作時間、(25)はライト動作時間、(
26)〜(29)はディレータイム、(30)〜(32
)はパルス波形、(33)はデータ変化検出回路、50
は記憶部である。 なお、各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人  大  岩  増  雄(ほか2名)第2図 手続補正書(自発 23発明の名称 論理シミニレ−シラン方式 3o補正をする者 代表者志岐守哉 4、代理人 住 所    東京都千代田区丸の内二丁目2番3号三
菱電機株式会社内 5、補正の対象 発明の詳細な説明、図面の簡単な説明の欄。 6、補正の内容 (1)  明細書第3頁第6行目、第19行目「記憶部
50」とあるのを「記憶部(50)Jと補正する。 (2)  同書第9頁第4行目「データ変化検出回路3
3」とあるのを[データ変化検出回路(33)Jと補正
する。 (3)  同書第17頁第2行目「50は記憶部」とあ
るのをr(50)は記憶部」と補正する。 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レベルイネーブルタイプの記憶素子及びエッジイネーブ
    ルタイプの記憶素子を階層的に構築した記憶部と、この
    記憶部に入力されるライトデータ信号又はこの記憶部か
    ら出力されるリードデータ信号のリード/ライト動作及
    びそのアドレスを設定するリード/ライト制御回路及び
    アドレス制御回路と、上記アドレス制御回路から出力さ
    れるアドレス信号の変化を検出しエッジイネーブルタイ
    プの記憶素子に対するメモリイネーブル信号として出力
    するアドレス変化検出回路とを備え、記憶素子のタイプ
    によって論理モデルを定義し直すことなく論理シミュレ
    ーションを行えるようにした論理シミュレーション方式
    であって、上記ライトデータ信号の変化を検出しエッジ
    イネーブルタイプの記憶素子に対するライト信号として
    出力するデータ変化検出回路を備えたことを特徴とする
    論理シミュレーション方式。
JP61264456A 1986-11-06 1986-11-06 論理シミユレ−シヨン方式 Pending JPS63118845A (ja)

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