JPS63106909A - 薄膜磁気ヘツドの製造方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘツドの製造方法Info
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- JPS63106909A JPS63106909A JP25340286A JP25340286A JPS63106909A JP S63106909 A JPS63106909 A JP S63106909A JP 25340286 A JP25340286 A JP 25340286A JP 25340286 A JP25340286 A JP 25340286A JP S63106909 A JPS63106909 A JP S63106909A
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- Japan
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- layer
- stop layer
- etching stop
- thin film
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 16
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 65
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 abstract description 7
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/31—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
- G11B5/3163—Fabrication methods or processes specially adapted for a particular head structure, e.g. using base layers for electroplating, using functional layers for masking, using energy or particle beams for shaping the structure or modifying the properties of the basic layers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、薄膜磁気ヘッドの製造方法、更に詳しくは
ウェットエツチングによって薄膜パターンを形成しなが
ら作られる薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するものであ
る。
ウェットエツチングによって薄膜パターンを形成しなが
ら作られる薄膜磁気ヘッドの製造方法に関するものであ
る。
[従来の技術]
アルカリや酸の溶液中に浸漬してエツチングを行なうウ
ェットエツチングによって薄膜パターンを形成する際に
は、エツチングの物質による選択性を持たせることが重
要である。
ェットエツチングによって薄膜パターンを形成する際に
は、エツチングの物質による選択性を持たせることが重
要である。
薄膜ヘッドの場合、初期工程で形成した下磁極性膜の磁
気特性およびヘッド特性を左右するギャップ層厚を、後
の工程で変化させないようなパターン加工上のエツチン
グ選択性が必要であり重要である。
気特性およびヘッド特性を左右するギャップ層厚を、後
の工程で変化させないようなパターン加工上のエツチン
グ選択性が必要であり重要である。
そのために第3図に示すように従来のものでは、下磁極
2の上に5i02.Af1203等からなるギャップ層
3とエツチング停止層4とを形成し、エツチング停止層
4によって下磁極2とギャップ層3を保護している。な
お、符号1は基板、5は下絶縁層、6はコイル導体、7
は上絶縁層、8は上磁極である。そして、このように構
成したヘッドでは、ギャップ長gはギャップ層3とエツ
チング停止層4の合計厚で決定される。
2の上に5i02.Af1203等からなるギャップ層
3とエツチング停止層4とを形成し、エツチング停止層
4によって下磁極2とギャップ層3を保護している。な
お、符号1は基板、5は下絶縁層、6はコイル導体、7
は上絶縁層、8は上磁極である。そして、このように構
成したヘッドでは、ギャップ長gはギャップ層3とエツ
チング停止層4の合計厚で決定される。
また、ギャップ長gをギャップ層のみで形成すると共に
、エツチング停止層にCr等の不動態化し品い金属を用
いたときに発生する他の金属膜のエツチング時の異常エ
ツチングを防止するために、エツチング停止層を必要部
分のみ残してエツチング除去する薄膜磁気ヘッドの製造
方法を、本出願人は先に提供(特願昭60−23901
7号)している。
、エツチング停止層にCr等の不動態化し品い金属を用
いたときに発生する他の金属膜のエツチング時の異常エ
ツチングを防止するために、エツチング停止層を必要部
分のみ残してエツチング除去する薄膜磁気ヘッドの製造
方法を、本出願人は先に提供(特願昭60−23901
7号)している。
この製造方法は、第4図(A) (B)に示すように基
板1上に下磁極2.ギャップ層3.エツチング停止層4
を順次形成し、形成後、エツチング停止層4を前轡後ギ
ャップ部9.10のみを残してパターンエツチングし、
残るエツチング停止層4およびギャップ層3上に下絶縁
層5を形成した後、この下絶縁層5を上記エツチング停
止層4が露出するようエツチングし、しかる後、下絶縁
層5をマスクとして前記前・後ギャップ部9,10のエ
ツチング停止層4をエツチングで除去し、その後、導体
コイル6、上絶縁層7.上磁極8を順次に形成するよう
にしたものである。
板1上に下磁極2.ギャップ層3.エツチング停止層4
を順次形成し、形成後、エツチング停止層4を前轡後ギ
ャップ部9.10のみを残してパターンエツチングし、
残るエツチング停止層4およびギャップ層3上に下絶縁
層5を形成した後、この下絶縁層5を上記エツチング停
止層4が露出するようエツチングし、しかる後、下絶縁
層5をマスクとして前記前・後ギャップ部9,10のエ
ツチング停止層4をエツチングで除去し、その後、導体
コイル6、上絶縁層7.上磁極8を順次に形成するよう
にしたものである。
[発明が解決しようとする問題点コ
ところで、前記第3図のようにヘッドを構成すると、エ
ツチング停止層4とギャップ層3とによりギャップ長が
決定され、記録媒体(l!!L気媒体気色体触する前部
ギャップ部が二層膜(エツチング停止層4とギャップ層
3)で形成される。こうした二層膜は、異種材料の摩耗
性の違いにより偏摩耗が発生して、磁気媒体接触面にお
いて段差が発生しやすくなる。このため、偏摩耗を要因
としてヘッド出力が低下してしまうという問題があった
。
ツチング停止層4とギャップ層3とによりギャップ長が
決定され、記録媒体(l!!L気媒体気色体触する前部
ギャップ部が二層膜(エツチング停止層4とギャップ層
3)で形成される。こうした二層膜は、異種材料の摩耗
性の違いにより偏摩耗が発生して、磁気媒体接触面にお
いて段差が発生しやすくなる。このため、偏摩耗を要因
としてヘッド出力が低下してしまうという問題があった
。
しかも、エツチング停止層4はこうした問題だけでなく
、先のようなOrなどの不動態化し易い金属で形成され
たときでは、上磁極8.導体コイル6等の金属が接触し
た場合、エツチング時、エツチング液が電解液となる局
部電池が形成されて、エツチング不良が発生しアンダー
カットが増す不具合を発生し、パターン寸法が変わって
しまうという問題もあった。
、先のようなOrなどの不動態化し易い金属で形成され
たときでは、上磁極8.導体コイル6等の金属が接触し
た場合、エツチング時、エツチング液が電解液となる局
部電池が形成されて、エツチング不良が発生しアンダー
カットが増す不具合を発生し、パターン寸法が変わって
しまうという問題もあった。
また、本出願人が先に提案した製造方法によって薄膜磁
気ヘッドを構成しても、第3図のヘッドで述べたCrの
性質が同様に問題となる。しかもこの製造方法ではエツ
チング停止層4を除去する工程を独立して2回行なわね
ばならず、製造工程が増すという欠点も伴っている。
気ヘッドを構成しても、第3図のヘッドで述べたCrの
性質が同様に問題となる。しかもこの製造方法ではエツ
チング停止層4を除去する工程を独立して2回行なわね
ばならず、製造工程が増すという欠点も伴っている。
従って、本発明の目的は上記従来の欠点を除去し、ギャ
ップ長がギャップ層のみで形成される薄膜磁気ヘッドの
製造方法を提供するにある。
ップ長がギャップ層のみで形成される薄膜磁気ヘッドの
製造方法を提供するにある。
[問題点を解決するための手段および作用コ本発明では
、上記問題点を解決するために、基板−ヒに、下磁極、
ギャップ層、エツチング停止層、コイル導体、絶縁体、
上磁極を形成するプロセスを含む薄膜磁気ヘッドの製造
方法において、上記エツチング停止層をコイル導体と同
一の材料で形成した後、これを前・後ギャップ部を残し
てエツチング除去する工程と、 最後にパターン加工するコイル導体のエツチングと同時
に、上記前後部に残留するエツチング停止層をエツチン
グ除去する工程と、 を含むことを特徴とする。
、上記問題点を解決するために、基板−ヒに、下磁極、
ギャップ層、エツチング停止層、コイル導体、絶縁体、
上磁極を形成するプロセスを含む薄膜磁気ヘッドの製造
方法において、上記エツチング停止層をコイル導体と同
一の材料で形成した後、これを前・後ギャップ部を残し
てエツチング除去する工程と、 最後にパターン加工するコイル導体のエツチングと同時
に、上記前後部に残留するエツチング停止層をエツチン
グ除去する工程と、 を含むことを特徴とする。
[実 施 例]
以下、本発明による製造方法を第1図に示す一実施例よ
って説明する。第1図(A)〜(P)は本発明による薄
膜磁気ヘッドの作製プロセスを順に追って示したもので
ある。
って説明する。第1図(A)〜(P)は本発明による薄
膜磁気ヘッドの作製プロセスを順に追って示したもので
ある。
先ず、第1図(A)に示すように基板11上に、下磁極
12.所定厚gのギャップ層13.A、9゜Cu等の後
述するコイル導体と同一の材質の導体で形成したエツチ
ング停止層14を順次、スパッタリングまたは蒸着メッ
キ等で成膜形成する。この際、エツチング停止層14は
0.1〜1μm厚が望ましい。次いで前嗜後ギャップ部
19.20のエツチング停止層14を残して他の部分を
エツチングして除去する。このとき、下磁極12はギャ
ップ層13がエツチング停止層となってエツチングされ
ない。
12.所定厚gのギャップ層13.A、9゜Cu等の後
述するコイル導体と同一の材質の導体で形成したエツチ
ング停止層14を順次、スパッタリングまたは蒸着メッ
キ等で成膜形成する。この際、エツチング停止層14は
0.1〜1μm厚が望ましい。次いで前嗜後ギャップ部
19.20のエツチング停止層14を残して他の部分を
エツチングして除去する。このとき、下磁極12はギャ
ップ層13がエツチング停止層となってエツチングされ
ない。
また、本発明においてはエツチング停止層14にCr等
の不動態化し易い金属を用いていないので、下磁極12
との局部電池によりエツチング停止層14のエツチング
が進行しないという問題は発生しない。
の不動態化し易い金属を用いていないので、下磁極12
との局部電池によりエツチング停止層14のエツチング
が進行しないという問題は発生しない。
次に、第1図(B)に示すように下絶縁層15を設け、
その上にAρ、Cu等の導電体を2〜3μm厚で成膜し
、レジスト塗布後、パターン描画マスクでレジストに描
画、レジスト現象後、エツチングによりAfl、Cuの
不要部分を除去し第2図に示すように、コイル導体16
をパターン化して形成する。次でその上に、上記絶縁層
17を形成する。
その上にAρ、Cu等の導電体を2〜3μm厚で成膜し
、レジスト塗布後、パターン描画マスクでレジストに描
画、レジスト現象後、エツチングによりAfl、Cuの
不要部分を除去し第2図に示すように、コイル導体16
をパターン化して形成する。次でその上に、上記絶縁層
17を形成する。
そして次に、第1図<C>に示す如く、前・後ギャップ
部19.20の下絶縁層15と上絶縁層17とを同時に
エツチングして除去する。この処理は後述する上磁極1
8(第1図(F)参照)と下磁極12との距離を近づけ
るためで磁束伝達効率をアップさせるものである。
部19.20の下絶縁層15と上絶縁層17とを同時に
エツチングして除去する。この処理は後述する上磁極1
8(第1図(F)参照)と下磁極12との距離を近づけ
るためで磁束伝達効率をアップさせるものである。
また、このときエツチング停止層14によって上下絶縁
層15.17のエツチングは停止するので、ギャップ層
13がエツチングされることはなく、ヘッド特性上、重
要なギャップ厚gが弯化することはない。
層15.17のエツチングは停止するので、ギャップ層
13がエツチングされることはなく、ヘッド特性上、重
要なギャップ厚gが弯化することはない。
次で、上述のようにして螺旋状に形成したコイル導体1
6の内端への電気的接続リードを形成するために、第1
図(D)に示すように上記エツチング停止層14および
コイル導体16と同じ物質の導電層16Aを上面に成膜
する。
6の内端への電気的接続リードを形成するために、第1
図(D)に示すように上記エツチング停止層14および
コイル導体16と同じ物質の導電層16Aを上面に成膜
する。
次に、第1図(E)に示す如く、この導電層16Aを電
気接続リード部16Aa(第2図参照)を残してエツチ
ングにより除去する。このとき、エツチング停止層14
は同じ物質であるから電気接続リード部16Aaをパタ
ーンエツチングする際に同時に除去される。しかし、下
磁極12はこのとき、ギャップ層13がエツチング停止
層となるのでエツチングされることはない。
気接続リード部16Aa(第2図参照)を残してエツチ
ングにより除去する。このとき、エツチング停止層14
は同じ物質であるから電気接続リード部16Aaをパタ
ーンエツチングする際に同時に除去される。しかし、下
磁極12はこのとき、ギャップ層13がエツチング停止
層となるのでエツチングされることはない。
そして、次で第1図(F)に示すように、」−磁極18
を成膜し、これを必要部分のみを残してパターンエツチ
ングして薄膜へラドウェハーが完成する。
を成膜し、これを必要部分のみを残してパターンエツチ
ングして薄膜へラドウェハーが完成する。
なお、上記実施例においてはコイルは一層であるが、二
層以上の場合も最後にパターン加工するコイル導体のエ
ツチングと同時に行なうことは言うまでもない。
層以上の場合も最後にパターン加工するコイル導体のエ
ツチングと同時に行なうことは言うまでもない。
[発明の効果コ
以上述べたように本発明によれば、
1)従来のもののように、エツチング停止層にCr等の
不動態化する金属を用いず、コイル導体と同一の材質で
エツチング停止層を形成するようにしたので、局部電池
による異常エツチングは発生しない。
不動態化する金属を用いず、コイル導体と同一の材質で
エツチング停止層を形成するようにしたので、局部電池
による異常エツチングは発生しない。
2)エツチング停止層を上下絶縁層をマスクとしてコイ
ルエツチングと同時にエツチング除去するので、プロセ
スが簡略化される。
ルエツチングと同時にエツチング除去するので、プロセ
スが簡略化される。
等の顕著な効果を発揮し、従来の問題点を兄事に除去し
た薄膜磁気ヘッドの製造方法を提供することができる。
た薄膜磁気ヘッドの製造方法を提供することができる。
第1図(A)〜(P)は、本発明による薄膜磁気ヘッド
の製造方法の工程を順に示す要部拡大断面図、第2図は
、薄膜磁気ヘッドにおけるコイル導体を示す平面図、 第3図は、従来の薄膜磁気ヘッドの構成の一例を示す要
部拡大断面図、 第4図(A) (B)は、従来の薄膜磁気ヘッドの製造
工程の一例を示す要部拡大断面図である。
の製造方法の工程を順に示す要部拡大断面図、第2図は
、薄膜磁気ヘッドにおけるコイル導体を示す平面図、 第3図は、従来の薄膜磁気ヘッドの構成の一例を示す要
部拡大断面図、 第4図(A) (B)は、従来の薄膜磁気ヘッドの製造
工程の一例を示す要部拡大断面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板上に、下磁極、ギャップ層、エッチング停止層、コ
イル導体、絶縁体、上磁極を形成するプロセスを含む薄
膜磁気ヘッドの製造方法において、上記エッチング停止
層をコイル導体と同一の材料で形成した後、これを前・
後ギャップ部を残してエッチング除去する工程と、 最後にパターン加工するコイル導体のエッチングと同時
に、上記前後部に残留するエッチング停止層をエッチン
グ除去する工程と、 を含むことを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25340286A JPS63106909A (ja) | 1986-10-23 | 1986-10-23 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25340286A JPS63106909A (ja) | 1986-10-23 | 1986-10-23 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63106909A true JPS63106909A (ja) | 1988-05-12 |
Family
ID=17250878
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25340286A Pending JPS63106909A (ja) | 1986-10-23 | 1986-10-23 | 薄膜磁気ヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63106909A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0391108A (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-16 | Victor Co Of Japan Ltd | 薄膜磁気ヘッド |
| JP2007229039A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Tenryu Kagaku Kogyo Kk | 額縁 |
| US7839603B2 (en) | 2006-02-27 | 2010-11-23 | Sony Corporation | Magnetic head device and magnetic recording/reproducing apparatus |
-
1986
- 1986-10-23 JP JP25340286A patent/JPS63106909A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0391108A (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-16 | Victor Co Of Japan Ltd | 薄膜磁気ヘッド |
| US7839603B2 (en) | 2006-02-27 | 2010-11-23 | Sony Corporation | Magnetic head device and magnetic recording/reproducing apparatus |
| JP2007229039A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Tenryu Kagaku Kogyo Kk | 額縁 |
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